JP5188632B2 - ブリルアン散乱測定装置 - Google Patents
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Description
図5は、本発明のブリルアン散乱測定装置の実施例を示す図である。
本発明のブリルアン散乱測定装置は、プローブ光(a0〜a3)とポンプ光(b0〜b3)とを生成する測定用光生成手段と、該測定用光生成手段で生成されたプローブ光とポンプ光とを、偏波面が異なる状態で合成する偏波合成手段40と、該偏波合成手段からの合成光が一端に入射される被測定用光ファイバ41と、該被測定用光ファイバの他端側に配置され、合成光の偏波面を回転すると共に、合成光中の少なくともプローブ光を反射させて該被測定用光ファイバの他端に再入射させる回転反射手段42と、該被測定用光ファイバの一端側に配置され、該回転反射手段により反射したプローブ光(a3)を検出するプローブ光検出手段とを有することを特徴とする。
また、プローブ光a0及びポンプ光b0は、各々偏波面が被測定ファイバ41に対し直交するように予め調整されることが好ましく、そのためには、図1乃至3で生成された光波L1,L2を偏光子などを介して偏波面を調整する方法や、半導体レーザ1(20)と光分岐器3(23)との間、又は光分岐器3(23)から被測定用光ファイバ6(25)までの間などに偏光子やファラデーローテータなどを配置し、最終的に生成されるプローブ光L1(a0)とポンプ光L2(b0)とが、互いに偏波面が直交するよう調整することも可能である。
被測定用光ファイバ41を、偏波保持ファイバ(PMF)で構成することにより、プローブ光a1とポンプ光b1が互いに偏波面を維持しながら伝搬するため、より一層、両者が干渉するのを避けることが可能となり、例えば、図5に示したように、プローブ光a1とポンプ光(反射光)b2との干渉、プローブ光(反射光)a2とポンプ光b1との干渉のみが発生し、より高精度にブリルアン散乱を測定することが可能となる。
回転反射手段42は、合成光の偏波面を回転すると共に、合成光中の少なくともプローブ光を反射させて該被測定用光ファイバの他端に再入射させる機能を有する。具体的には、調整反射手段42においては、プローブ光a1は必ず反射されるが、ポンプ光b1は必要に応じて反射されることとなる。
2,21 信号発生器
3,23 光分岐器
4 マイクロ波発生器
5 光強度変調器
6,25 被測定用光ファイバ
7 光遅延器
8,26 光路変換器(導出手段)
9 光波長フィルタ
10,27 光検出器
11 パルス変調器
12 タイミング調整器
22 パルス変換器
24 周波数変換器
30,33,34 測定手段
31 対象物
32 光ファイバ
35 電気ケーブル
40 偏波合成器
41 偏波保持ファイバ
42 回転反射手段
43 ファラデーローテータ
44 反射ミラー
45 偏光子
Claims (5)
- プローブ光とポンプ光とを生成する測定用光生成手段と、
該測定用光生成手段で生成されたプローブ光とポンプ光とを、偏波面が異なる状態で合成する偏波合成手段と、
該偏波合成手段からの合成光が一端に入射される被測定用光ファイバと、
該被測定用光ファイバの他端側に配置され、合成光の偏波面を回転すると共に、合成光中のプローブ光のみを反射させて該被測定用光ファイバの他端に再入射させる回転反射手段と、
該被測定用光ファイバの一端側に配置され、該回転反射手段により反射したプローブ光を検出するプローブ光検出手段とを有することを特徴とするブリルアン散乱測定装置。 - 請求項1に記載のブリルアン散乱測定装置において、該被測定用光ファイバは偏波保持ファイバであることを特徴とするブリルアン散乱測定装置。
- 請求項1又は2に記載のブリルアン散乱測定装置において、前記合成光の偏波面の回転は、偏波面を90°回転させることを特徴とするブリルアン散乱測定装置。
- 請求項1乃至3のいずれかに記載のブリルアン散乱測定装置において、該ブリルアン散乱測定装置は、該被測定用光ファイバが配置された対象物の歪を測定するための歪測定装置であることを特徴とするブリルアン散乱測定装置。
- 請求項1乃至3のいずれかに記載のブリルアン散乱測定装置において、該ブリルアン散乱測定装置は、該被測定用光ファイバが配置された対象物の温度分布を測定するための温度分布測定装置であることを特徴とするブリルアン散乱測定装置。
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