JP5175924B2 - 試験装置、復調装置、試験方法、復調方法および電子デバイス - Google Patents
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Description
本発明は、試験装置、復調装置、試験方法、復調方法および電子デバイスに関する。特に本発明は、振幅位相変調信号を出力信号として出力する被試験デバイスを試験する試験装置、試験方法および電子デバイス、並びに、振幅位相変調信号を復調する復調装置および復調方法に関する。下記の日本出願に関連し、下記の日本出願からの優先権を主張する出願である。文献の参照による組み込みが認められる指定国については、下記の出願に記載された内容を参照により本出願に組み込み、本出願の一部とする。
1.特願2008−073170 出願日 2008年3月21日
1.特願2008−073170 出願日 2008年3月21日
半導体の回路密度および動作速度の増加に伴い、半導体内部におけるデータ伝送量は、飛躍的に増加している。これに対し、半導体外部におけるデータ伝送量は、ピン数、形状、配線等の制約により、半導体内部におけるデータ伝送量の増加量ほど、増加していない。このため、半導体内部および半導体外部のデータ伝送量のギャップが大きくなり、問題となっていた。
このような問題を解決することを目的として、伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を用いて、半導体間におけるデータ伝送を行うことが提案されている(例えば非特許文献1参照。)。このような振幅位相変調信号によれば、1周期に多数ビットのデータを伝送することができるので、半導体内部および半導体外部のデータ伝送量のギャップを小さくすることができる。
Sunil Jain、"GHz Interconnects - Electrical Aspects"、International Test Conference NOTES Tutorial 3、(米国)、 2006年10月22日、p27
ところで、試験装置は、伝送データに応じてHまたはL論理レベルに変化する2値信号を被試験デバイスから取り込み、当該2値信号の論理値と期待値と比較する。すなわち、試験装置は、所定周期毎に、指定された1タイミングにおいてH論理の閾値レベルより高いかまたはL論理の閾値レベルより低いかを検出し、検出結果を期待値と比較する。しかしながら、このような試験装置は、周期毎に位相およびレベルが変化する振幅位相変調信号を検出することができないので、振幅位相変調信号を出力する被試験デバイスを試験することができなかった。
そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる試験装置、復調装置、試験方法、復調方法および電子デバイスを提供することを目的とする。この目的は請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
本発明の第1の態様においては、伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を、出力信号として出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、試験信号を被試験デバイスに出力する試験信号出力部と、試験信号に応じて被試験デバイスから出力されるべき出力信号のレベルの期待値である期待レベルおよび出力信号の変化点の位相の期待値である期待位相を発生するパターン発生部と、期待位相より前において期待レベルより小さい第1比較レベルと出力信号とを比較し、期待位相より後において期待レベルより大きい第2比較レベルおよび期待レベルより小さい第3比較レベルと出力信号とを比較する比較部と、出力信号が、期待位相より前において第1比較レベル以下であり、期待位相より後において第2比較レベル以下かつ第3比較レベル以上であることを条件として、当該出力信号が期待値と一致していると判定する判定部とを備える試験装置を提供する。
本発明の第2の態様においては、伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を、出力信号として出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、試験信号を被試験デバイスに出力する試験信号出力部と、試験信号に応じて被試験デバイスから出力されるべき出力信号のレベルの期待値である期待レベルおよび出力信号の変化点の位相の期待値である期待位相を発生するパターン発生部と、期待位相より前において期待レベルより大きい第5比較レベルおよび期待レベルより小さい第6比較レベルと出力信号とを比較し、期待位相より後において期待レベルより小さい第4比較レベルと出力信号とを比較する比較部と、出力信号が、期待位相より前において第5比較レベル以下かつ第6比較レベル以上であり、期待位相より後において第4比較レベル以下であることを条件として、当該出力信号が期待値と一致していると判定する判定部とを備える試験装置を提供する。
本発明の第3の態様においては、伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を復調する復調装置であって、振幅位相変調信号が取り得る複数のレベルのそれぞれにおける対応するレベルより小さい第1比較レベルおよび対応するレベルより大きい第2比較レベルのそれぞれと、入力された振幅位相変調信号とを比較した複数のレベル比較結果を出力するレベル比較回路と、振幅位相変調信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける対応する位相より前の第1比較タイミングおよび対応する位相より後の第2比較タイミングのそれぞれにおいて、レベル比較回路により比較された複数のレベル比較結果を取り込む取込部と、第1比較タイミングにおいて振幅位相変調信号が第1比較レベル以下となり、第2比較タイミングにおいて振幅位相変調信号が第2比較レベル以下かつ第1比較レベル以上となるレベルおよび変化点の位相を、取込部により取り込まれた複数のレベル比較結果に基づき検出する検出部と、検出部により検出されたレベルおよび変化点の位相に応じたデータを出力するデータ出力部とを備える復調装置を提供する。
本発明の第4の態様においては、伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を復調する復調装置であって、振幅位相変調信号が取り得る複数のレベルのそれぞれにおける対応するレベルより小さい第4比較レベルおよび対応するレベルより大きい第5比較レベルのそれぞれと、入力された振幅位相変調信号とを比較した複数のレベル比較結果を出力するレベル比較回路と、振幅位相変調信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける対応する位相より後の第4比較タイミングおよび対応する位相より前の第5比較タイミングのそれぞれにおいて、レベル比較回路により比較された複数のレベル比較結果を取り込む取込部と、第4比較タイミングにおいて振幅位相変調信号が第4比較レベル以下となり、第5比較タイミングにおいて振幅位相変調信号が第5比較レベル以下かつ第4比較レベル以上となるレベルおよび変化点の位相を、取込部により取り込まれた複数のレベル比較結果に基づき検出する検出部と、検出部により検出されたレベルおよび変化点の位相に応じたデータを出力するデータ出力部とを備える復調装置を提供する。
本発明の第5の態様においては、伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を、出力信号として出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、試験信号を被試験デバイスに出力し、試験信号に応じて被試験デバイスから出力されるべき出力信号のレベルの期待値である期待レベルおよび出力信号の変化点の位相の期待値である期待位相を発生し、期待位相より前において期待レベルより小さい第1比較レベルと出力信号とを比較し、期待位相より後において期待レベルより大きい第2比較レベルおよび期待レベルより小さい第3比較レベルと出力信号とを比較し、出力信号が、期待位相より前において第1比較レベル以下であり、期待位相より後において第2比較レベル以下かつ第3比較レベル以上であることを条件として、当該出力信号が期待値と一致していると判定する試験方法を提供する。
本発明の第6の態様においては、伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を、出力信号として出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、試験信号を被試験デバイスに出力し、試験信号に応じて被試験デバイスから出力されるべき出力信号のレベルの期待値である期待レベルおよび出力信号の変化点の位相の期待値である期待位相を発生し、期待位相より後において期待レベルより小さい第4比較レベルと出力信号とを比較し、期待位相より前において期待レベルより大きい第5比較レベルおよび期待レベルより小さい第6比較レベルと出力信号とを比較し、出力信号が、期待位相より後において第4比較レベル以下であり、期待位相より前において第5比較レベル以下かつ第6比較レベル以上であることを条件として、当該出力信号が期待値と一致していると判定する試験方法を提供する。
本発明の第7の態様においては、伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を復調する復調方法であって、振幅位相変調信号が取り得る複数のレベルのそれぞれにおける対応するレベルより小さい第1比較レベルおよび対応するレベルより大きい第2比較レベルのそれぞれと、入力された振幅位相変調信号とを比較した複数のレベル比較結果を出力し、振幅位相変調信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける対応する位相より前の第1比較タイミングおよび対応する位相より後の第2比較タイミングのそれぞれにおいて、複数のレベル比較結果を取り込み、第1比較タイミングにおいて振幅位相変調信号が第1比較レベル以下となり、第2比較タイミングにおいて振幅位相変調信号が第2比較レベル以下かつ第1比較レベル以上となるレベルおよび変化点の位相を、取り込まれた複数のレベル比較結果に基づき検出し、検出されたレベルおよび変化点の位相に応じたデータを出力する復調方法を提供する。
本発明の第8の態様においては、伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を復調する復調方法であって、振幅位相変調信号が取り得る複数のレベルのそれぞれにおける対応するレベルより小さい第4比較レベルおよび対応するレベルより大きい第5比較レベルのそれぞれと、入力された振幅位相変調信号とを比較した複数のレベル比較結果を出力し、振幅位相変調信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける対応する位相より後の第4比較タイミングおよび対応する位相より前の第5比較タイミングのそれぞれにおいて、複数のレベル比較結果を取り込み、第4比較タイミングにおいて振幅位相変調信号が第4比較レベル以下となり、第5比較タイミングにおいて振幅位相変調信号が第5比較レベル以下かつ第4比較レベル以上となるレベルおよび変化点の位相を、取り込まれた複数のレベル比較結果に基づき検出し、検出されたレベルおよび変化点の位相に応じたデータを出力する復調方法を提供する。
本発明の第9の態様においては、電子デバイスであって、伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を、出力信号として出力する被試験回路と、被試験回路を試験する試験回路とを備え、試験回路は、試験信号を被試験回路に出力する試験信号出力部と、試験信号に応じて被試験回路から出力されるべき出力信号のレベルの期待値である期待レベルおよび出力信号の変化点の位相の期待値である期待位相を発生するパターン発生部と、期待位相より前において期待レベルより小さい第1比較レベルと出力信号とを比較し、期待位相より後において期待レベルより大きい第2比較レベルおよび期待レベルより小さい第3比較レベルと出力信号とを比較する比較部と、出力信号が、期待位相より前において第1比較レベル以下であり、期待位相より後において第2比較レベル以下かつ第3比較レベル以上であることを条件として、当該出力信号が期待値と一致していると判定する判定部とを有する電子デバイスを提供する。
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
10 試験装置、12 基準信号発生部、14 パターン発生部、16 試験信号出力部、18 比較部、20 判定部、32 タイミング信号出力部、34 レベル比較回路、36 取込回路、38 検出部、42 コンパレータ、45 基準遅延部、46 第1可変遅延部、48 第2可変遅延部、50 第3可変遅延部、51 基準遅延量発生部、52 遅延量制御部、54 遅延量出力部、56 第1加算部、57 第2加算部、58 第3加算部、60 取込部、70 ラッチ群、100 被試験デバイス、200 復調装置、210 データ出力部
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図1は、本実施形態に係る試験装置10の構成を被試験デバイス100とともに示す。試験装置10は、被試験デバイス100を試験する。
試験装置10は、基準信号発生部12と、パターン発生部14と、試験信号出力部16と、比較部18と、判定部20とを備える。基準信号発生部12は、試験サイクルに応じた周期の基準信号を発生する。
パターン発生部14は、被試験デバイス100に対して出力する試験信号のパターンを指定する試験パターンを発生する。さらに、パターン発生部14は、試験信号に応じて被試験デバイス100から出力されるべき出力信号の期待値を発生する。
試験信号出力部16は、試験パターンおよび基準信号に応じて試験信号を生成し、生成した試験信号を被試験デバイス100に出力する。比較部18は、試験信号に応じて被試験デバイス100から出力された出力信号を入力し、入力した出力信号を期待値と比較する。判定部20は、比較部18による比較結果に基づき、出力信号が期待値と一致しているか否かを判定する。そして、判定部20は、判定結果を出力する。
図2は、本実施形態に係る振幅位相変調信号の一例を示す。被試験デバイス100は、伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を、出力信号として出力する。
被試験デバイス100は、一例として、所定周期に同期したパルス信号であって、パルスレベルおよびパルスエッジの位相が伝送データに応じて変化する振幅位相変調信号を出力してよい。すなわち、被試験デバイス100は、一例として、各周期において、パルスレベルを、予め定められた複数のレベルのうち伝送データに応じて選択されたレベルとした振幅位相変調信号を出力してよい。さらに、被試験デバイス100は、一例として、各周期において、パルス前縁の変化点(リーディングエッジ)およびパルス後縁の変化点(トレーディングエッジ)のうちの少なくとも一方の変化点の位相を、当該周期中における予め定められた複数の位相のうち伝送データに応じて選択された位相とした振幅位相変調信号を出力してよい。
被試験デバイス100は、一例として、各周期において、パルスのレベルとしてn1個(n1は2以上の整数)のレベル(V1、V2、V3、…、Vn1)を取り得ることができる振幅位相変調信号を出力してよい。また、被試験デバイス100は、一例として、各周期において、パルスのリーディングエッジの位相として、n2個(n2は2以上の整数)の位相(FL1、FL2、FL3、…、FLn2)を取り得ることができる振幅位相変調信号を出力してよい。また、被試験デバイス100は、一例として、各周期において、パルスのトレーディングエッジの位相として、n3個(n3は2以上の整数)の位相(FT1、FT2、FT3、…、FTn3)を取り得ることができる振幅位相変調信号を出力してよい。
以上のような振幅位相変調信号によれば、所定周期毎に多値のデータを伝送することができる。例えば、n1個のレベル、n2個のリーディングエッジの位相、n3個のトレーディングエッジの位相を取り得る振幅位相変調信号によれば、1周期中に(n1×n2×n3)値のデータを伝送することができる。
図3は、期待される出力信号のリーディングエッジ波形の一例、および、出力信号(リーディングエッジ)と期待値とを比較するための比較タイミングおよび比較レベルの一例を示す。パターン発生部14は、出力信号(振幅位相変調信号)の期待値を発生する。より詳しくは、パターン発生部14は、試験信号に応じて被試験デバイス100から出力されるべき出力信号のレベルの期待値である期待レベルおよび出力信号の変化点の位相の期待値である期待位相を発生する。パターン発生部14は、一例として、所定周期毎に発生される各パルスについての、期待レベル、リーディングエッジの期待位相およびトレーディングエッジの期待位相を発生する。
比較部18は、パターン発生部14から発生された期待値と、被試験デバイス100から試験信号に応じて出力された出力信号とを、周期毎に比較する。より詳しくは、比較部18は、図3に示すように出力信号のリーディングエッジの位相にデータが変調されている場合、各周期において、期待位相より前において期待レベルより小さい第1比較レベルと出力信号とを比較し、期待位相より後において期待レベルより大きい第2比較レベルおよび期待レベルより小さい第3比較レベルと出力信号とを比較する。
ここで、比較部18は、期待位相より前において第1比較レベルと出力信号とを比較するので、出力信号が期待位相より前において期待レベルより小さいことを検出することができる。さらに、比較部18は、期待位相より後において第3比較レベルと出力信号とを比較するので、出力信号が期待位相より後において期待レベル以上であることを検出することができる。従って、比較部18は、出力信号のリーディングエッジの位相が、第1比較レベルの比較タイミング以後且つ第3比較レベルの比較タイミング以前の位相である期待位相に略一致していることを検出することができる。
また、比較部18は、期待位相より後において第2比較レベルと出力信号とを比較するとともに、期待位相より後において第3比較レベルと出力信号とを比較するので、出力信号のレベルが、第2比較レベル以下且つ第3比較レベル以上のレベルである期待レベルに略一致していることを検出することができる。そして、判定部20は、比較部18による比較結果に基づき、出力信号が期待値(期待レベルおよび期待位相)と一致しているか否かを判定する。より詳しくは、判定部20は、各周期において、比較部18による比較結果に基づき、出力信号のリーディングエッジが、期待位相より前において第1比較レベル以下であり、期待位相より後において第2比較レベル以下且つ第3比較レベル以上であることを条件として、当該出力信号が期待値と一致していると判定する。
なお、第1比較レベルおよび第3比較レベルは、期待レベルより小さく、且つ、出力信号が取り得る複数のレベルのうちの期待レベルより1つ下のレベルより、大きいことが好ましい。また、第1比較レベルの比較タイミングは、リーディングエッジの期待位相より前、且つ、リーディングエッジが取り得る複数の位相のうちの期待位相の直前の位相より、後であることが好ましい。比較部18は、一例として、期待位相より後において、第1比較レベルと略同一である第3比較レベルと、出力信号とを比較してよい。これにより、比較部18は、比較回路を共通化することができる。
また、第2比較レベルは、期待レベルより大きく、且つ、出力信号が取り得る複数のレベルのうちの期待レベルより1つ上のレベルより、小さいことが好ましい。また、第2比較レベルおよび第3比較レベルの比較タイミングは、リーディングエッジの期待位相より後、且つ、リーディングエッジが取り得る複数の位相のうちの期待位相の直後の位相より、前であることが好ましい。比較部18は、一例として、期待位相より後の略同一タイミングにおいて、第2比較レベルおよび第3比較レベルと出力信号とを比較してよい。これにより、比較部18は、比較タイミング回路を共通化することができる。
なお、本実施形態において、第1レベルが第2レベル以上(またはより大きい)と表した場合、基準レベル(例えばグランド)と第1レベルとの差の絶対値が、基準レベルと第2レベルとの差の絶対値以上(またはより大きい)であることを意味する。従って、出力信号が比較レベル以上であると表した場合、基準レベルと出力信号との差の絶対値が、基準レベルと比較レベルとの差の絶対値以上であることを意味する。同様に、第1レベルが第2レベル以下(またはより小さい)と表した場合、基準レベルと第1レベルとの差の絶対値が、基準レベルと第2レベルとの差の絶対値以下(またはより小さい)であることを意味する。
図4は、期待される出力信号のトレーディングエッジ波形の一例、および、出力信号(トレーディングエッジ)と期待値とを比較するための比較タイミングおよび比較レベルの一例を示す。図4に示すように出力信号のトレーディングエッジの位相にデータが変調されている場合、比較部18は、各周期において、期待位相より後において期待レベルより小さい第4比較レベルと出力信号とを比較し、期待位相より前において期待レベルより大きい第5比較レベルおよび期待レベルより小さい第6比較レベルと出力信号とを比較する。
ここで、比較部18は、期待位相より後において第4比較レベルと出力信号とを比較するので、出力信号が期待位相より後において期待レベルより小さいことを検出することができる。さらに、比較部18は、期待位相より前において第6比較レベルと出力信号とを比較するので、出力信号が期待位相より前において期待レベル以上であることを検出することができる。従って、比較部18は、出力信号のトレーディングエッジの位相が、第6比較レベルの比較タイミング以前且つ第4比較レベルの比較タイミング以後の位相である期待位相に略一致していることを検出することができる。
また、比較部18は、期待位相より前において第5比較レベルと出力信号とを比較するとともに、期待位相より前において第6比較レベルと出力信号とを比較するので、出力信号のレベルが、第5比較レベル以下且つ第6比較レベル以上のレベルである期待レベルに略一致していることを検出することができる。そして、判定部20は、各周期において、比較部18による比較結果に基づき、出力信号のトレーディングエッジが、期待位相より後において第4比較レベル以下であり、期待位相より前において第5比較レベル以下且つ第6比較レベル以上であることを条件として、当該出力信号が期待値と一致していると判定する。
なお、比較部18は、リーディングエッジにおいて出力信号と第2比較レベルと比較する場合、トレーディングエッジにおいて第5比較レベルと出力信号とを比較しなくてもよい。また、比較部18は、トレーディングエッジにおいて第5比較レベルと出力信号とを比較する場合、リーディングエッジにおいて出力信号と第2比較レベルと比較しなくてもよい。
また、第4比較レベルおよび第6比較レベルは、期待レベルより小さく、且つ、出力信号が取り得る複数のレベルのうちの期待レベルより1つ下のレベルより、大きいことが好ましい。また、第4比較レベルの比較タイミングは、トレーディングエッジの期待位相より後、且つ、トレーディングエッジが取り得る複数の位相のうちの期待位相の直後の位相より、前であることが好ましい。比較部18は、一例として、期待位相より前において、第4比較レベルと略同一である第6比較レベルと、出力信号とを比較してよい。これにより、比較部18は、比較回路を共通化することができる。
また、第5比較レベルは、期待レベルより大きく、且つ、出力信号が取り得る複数のレベルのうちの期待レベルより1つ上のレベルより、小さいことが好ましい。また、第5比較レベルおよび第6比較レベルの比較タイミングは、トレーディングエッジの期待位相より前、且つ、トレーディングエッジが取り得る複数の位相のうちの期待位相の直前の位相より、後であることが好ましい。比較部18は、一例として、期待位相より前の略同一タイミングにおいて、第5比較レベルおよび第6比較レベルと出力信号とを比較してよい。これにより、比較部18は、比較タイミング回路を共通化することができる。
以上のような構成の試験装置10によれば、振幅位相変調信号を出力する被試験デバイス100を精度良く試験することができる。試験装置10によれば、一例として、パルスのレベル、パルスのリーディングエッジの位相、および、パルスのトレーディングエッジの位相が所定周期毎に変化する振幅位相変調信号を出力する被試験デバイス100を、試験することができる。
図5は、振幅位相変調信号が取り得るレベルおよび変化点の位相のそれぞれの組み合わせ毎に対応する、比較レベルおよび比較タイミングの一例を示す。比較部18は、一例として、出力信号が取り得るレベルおよび変化点(リーディングエッジおよびトレーディングエッジ)の位相のそれぞれの組み合わせ毎に、第1〜第3比較レベル(第4〜第6比較レベル)および比較タイミングが予め設定されていてよい。
比較部18は、一例として、変化点の位相が同一であって異なるレベルに対応する複数の第1比較レベル(または第4比較レベル)の比較タイミングが、略同一の位相に設定されていてよい。比較部18は、一例として、変化点の位相が同一であって異なるレベルに対応する複数の第2比較レベル(または第5比較レベル)の比較タイミングが、略同一の位相に設定されていてよい。比較部18は、一例として、変化点の位相が同一であって異なるレベルに対応する複数の第3比較レベル(または第6比較レベル)の比較タイミングが、略同一の位相に設定されていてよい。
また、比較部18は、一例として、レベルが同一であって異なる位相に対応する複数の第1比較レベル(または第4比較レベル)が、略同一のレベルに設定されていてよい。比較部18は、一例として、レベルが同一であって異なる位相に対応する複数の第2比較レベル(または第5比較レベル)が、略同一のレベルに設定されていてよい。比較部18は、一例として、レベルが同一であって異なる位相に対応する複数の第3比較レベル(または第6比較レベル)が、略同一のレベルに設定されていてよい。このような比較部18によれば、レベルの比較回路および比較タイミングの制御回路を共通化することができる。
図6は、隣接するレベルおよび隣接する変化点の位相同士で共通化した場合における、比較レベルおよび比較タイミングの一例を示す。比較部18は、一例として、変化点の位相が同一であって上下に隣接する2つのレベルのうちの、上側のレベルに対応する第2比較レベル(または第5比較レベル)と、下側のレベルに対応する第3比較レベル(または第6比較レベル)とが、略同一のレベルに設定されていてよい。
また、比較部18は、一例として、レベルが同一であって前後に隣接する2つの位相のうちの、前側の位相に対応する第3比較レベル(または第4比較レベル)の比較タイミングと、後側の位相に対応する第1比較レベル(第6比較レベル)の比較タイミングとが、略同一の位相に設定されていてよい。これにより、比較部18によれば、更に回路を共通化することができる。
図7は、期待されるリーディングエッジの遅延を含む波形、および、出力信号(リーディングエッジ)と期待値とを比較するための比較タイミングおよび比較レベルの一例を示す。図8は、期待されるトレーディングエッジの遅延を含む波形、および、出力信号(トレーディングエッジ)と期待値とを比較するための比較タイミングおよび比較レベルの一例を示す。
図7に示すように出力信号のリーディングエッジの位相にデータが変調されている場合、比較部18は、一例として、期待位相より後において、第1比較レベルより大きい第3比較レベルと出力信号とを比較してよい。さらに、比較部18は、第3比較レベルと出力信号とを比較した後において、第2比較レベルと出力信号とを比較してよい。これにより、比較部18によれば、リーディングエッジの立ち上がり(または立ち下がり)速度が遅いことにより出力信号波形が鈍る場合であっても、当該出力信号波形に応じた比較レベルを用いて出力信号を比較することができるので、精度の良い比較結果を得ることができる。
また、図8に示すように出力信号のトレーディングエッジの位相にデータが変調されている場合、比較部18は、一例として、期待位相より前において、第4比較レベルより大きい第6比較レベルと出力信号とを比較してよい。さらに、比較部18は、第6比較レベルと出力信号とを比較する前において、第5比較レベルと出力信号とを比較してよい。これにより、比較部18によれば、トレーディングエッジの立ち下がり(または立ち上がり)速度が遅いことにより出力信号波形が鈍る場合であっても、当該出力信号波形に応じた比較レベルを用いて出力信号を比較することができるので、精度の良い比較結果を得ることができる。
図9は、本実施形態に係る比較部18の構成の第1例を示す。第1例に係る比較部18は、タイミング信号出力部32と、第1〜第3のレベル比較回路34−1〜34−3と、第1〜第3の取込回路36−1〜36−3と、検出部38とを有する。
タイミング信号出力部32は、試験サイクルに応じた周期の基準信号、および、期待位相を入力する。タイミング信号出力部32は、出力信号に同期したクロック信号を基準信号として入力してもよい。
タイミング信号出力部32は、期待位相に対応する第1比較レベルと出力信号とを比較する第1比較タイミングを指定する第1タイミング信号を出力する。また、タイミング信号出力部32は、期待位相に対応する第2比較レベルと出力信号とを比較する第2比較タイミングを指定する第2タイミング信号を出力する。更に、タイミング信号出力部32は、期待位相に対応する第3比較レベルと出力信号とを比較する第3比較タイミングを指定する第3タイミング信号を出力する。タイミング信号出力部32は、基準位相に基づき、第1〜第3タイミング信号を生成する。タイミング信号出力部32は、一例として、基準信号を遅延素子により遅延して、第1〜第3タイミング信号を生成してよい。
第1のレベル比較回路34−1は、出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれに対応する複数の第1比較レベルのそれぞれと、出力信号とを比較する。第1のレベル比較回路34−1は、一例として、複数のレベルのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する第1比較レベルと出力信号とを比較する複数の第1のコンパレータ42−1−1〜42−1−nを含んでよい(nは2以上の整数。)。
第2のレベル比較回路34−2は、出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれに対応する複数の第2比較レベルのそれぞれと、出力信号とを比較する。第2のレベル比較回路34−2は、一例として、複数のレベルのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する第2比較レベルと出力信号とを比較する複数の第2のコンパレータ42−2−1〜42−2−nを含んでよい。
第3のレベル比較回路34−3は、出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれに対応する複数の第3比較レベルのそれぞれと、出力信号とを比較する。第3のレベル比較回路34−3は、一例として、複数のレベルのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する第3比較レベルと出力信号とを比較する複数の第3のコンパレータ42−3−1〜42−3−nを含んでよい。
第1の取込回路36−1は、第1のレベル比較回路34−1による複数の比較結果を、第1タイミング信号により指定された第1比較タイミングにおいて取り込む。第1の取込回路36−1は、一例として、複数の第1のコンパレータ42−1−1〜42−1−nのそれぞれに対応して設けられた複数の第1のラッチ44−1−1〜44−1−nを含んでよい。複数の第1のラッチ44−1−1〜44−1−nのそれぞれは、対応する第1のコンパレータ42−1−1〜42−1−nによる比較結果を、第1タイミング信号により指定されたタイミングにおいて取り込む。
第2の取込回路36−2は、第2のレベル比較回路34−2による複数の比較結果を、第2タイミング信号により指定された第2比較タイミングにおいて取り込む。第2の取込回路36−2は、一例として、複数の第2のコンパレータ42−2−1〜42−2−nのそれぞれに対応して設けられた複数の第2のラッチ44−2−1〜44−2−nを含んでよい。複数の第2のラッチ44−2−1〜44−2−nのそれぞれは、対応する第2のコンパレータ42−2−1〜42−2−nによる比較結果を、第2タイミング信号により指定されたタイミングにおいて取り込む。
第3の取込回路36−3は、第3のレベル比較回路34−3による複数の比較結果を、第3タイミング信号により指定された第3比較タイミングにおいて取り込む。第3の取込回路36−3は、一例として、複数の第3のコンパレータ42−3−1〜42−3−nのそれぞれに対応して設けられた複数の第3のラッチ44−3−1〜44−3−nを含んでよい。複数の第3のラッチ44−3−1〜44−3−nのそれぞれは、対応する第3のコンパレータ42−3−1〜42−3−nによる比較結果を、第3タイミング信号により指定されたタイミングにおいて取り込む。
検出部38は、第1〜第3の取込回路36−1〜36−3による複数の比較結果と、期待レベルとを入力し、出力信号のレベルおよび変化点の位相と、期待レベルおよび期待レベルとを比較した結果を出力する。検出部38は、一例として、第1の取込回路36−1により取り込まれた複数の比較結果のうちの期待レベルに対応した第1比較レベルと出力信号とを比較した比較結果が、出力信号が第1比較レベルより小さいと示していることを検出する。更に、検出部38は、第2の取込回路36−2により取り込まれた複数の比較結果のうちの期待レベルに対応した第2比較レベルと出力信号との比較結果が、出力信号が第2比較レベルより小さいと示していることを検出する。更に、検出部38は、第3の取込回路36−3により取り込まれた複数の比較結果のうちの期待レベルに対応した第3比較レベルと出力信号とを比較した全ての比較結果が、出力信号が第3比較レベルより大きいと示していることを検出する。
そして、判定部20は、第1タイミング信号により指定されたタイミングにおいて出力信号が期待レベルより小さい第1比較レベル以下、第2タイミング信号により指定されたタイミングにおいて出力信号が期待レベルより小さい第2比較レベル以上、第3タイミング信号により指定されたタイミングにおいて出力信号が期待レベルより大きい第3比較レベル以下であることを条件として、当該出力信号が期待値と一致していると判定する。以上のような構成の第1例に係る比較部18によれば、被試験デバイス100から出力された振幅位相変調信号のレベルおよびリーディングエッジの位相と、期待値と比較することができる。
以上に代えて、タイミング信号出力部32は、第1タイミング信号に代えて、期待位相に対応する第4比較レベルと出力信号とを比較する第4比較タイミングを指定する第4タイミング信号を出力してよい。また、タイミング信号出力部32は、第2タイミング信号に代えて、期待位相に対応する第5比較レベルと出力信号とを比較する第5比較タイミングを指定する第4タイミング信号を出力してよい。また、タイミング信号出力部32は、第6タイミング信号に代えて、期待位相に対応する第6比較レベルと出力信号とを比較する第6比較タイミングを指定する第6タイミング信号を出力してよい。
この場合において、第1のレベル比較回路34−1は、第1比較レベルに代えて、第4比較レベルと出力信号とを比較する。第2のレベル比較回路34−2は、第2比較レベルに代えて、第5比較レベルと出力信号とを比較する。第3のレベル比較回路34−3は、第3比較レベルに代えて、第6比較レベルと出力信号とを比較する。
さらに、この場合において、第1の取込回路36−1は、第1のレベル比較回路34−1による複数の比較結果を、第4タイミング信号により指定された第4比較タイミングにおいて取り込む。また、第2の取込回路36−2は、第2のレベル比較回路34−2による複数の比較結果を、第5タイミング信号により指定された第5比較タイミングにおいて取り込む。また、第3の取込回路36−3は、第3のレベル比較回路34−3による複数の比較結果を、第6タイミング信号により指定された第6比較タイミングにおいて取り込む。
そして、この場合において、判定部20は、第4タイミング信号により指定されたタイミングにおいて出力信号が期待レベルより小さい第4比較レベル以下、第5タイミング信号により指定されたタイミングにおいて出力信号が期待レベルより小さい第5比較レベル以上、第6タイミング信号により指定されたタイミングにおいて出力信号が期待レベルより大きい第6比較レベル以下であることを条件として、当該出力信号が期待値と一致していると判定する。以上のような構成の第1例に係る比較部18によれば、被試験デバイス100から出力された振幅位相変調信号のレベルおよびトレーディングエッジの位相と、期待値と比較することができる。
図10は、第1例に係るタイミング信号出力部32の構成の一例を示す。タイミング信号出力部32は、一例として、基準遅延部45と、第1可変遅延部46と、第2可変遅延部48と、第3可変遅延部50と、基準遅延量発生部51と、遅延量制御部52とを含んでよい。
基準遅延部45は、与えられた基準遅延量に応じて基準信号発生部から出力された基準信号を遅延する。基準遅延部45は、一例として、外部から遅延量が設定可能であって、例えば基準信号発生部12から出力された基準信号を遅延する可変遅延素子であってよい。
第1可変遅延部46は、設定された遅延量に応じて基準信号を遅延した信号を、第1比較レベルと出力信号とを比較するタイミングを指定する第1タイミング信号として出力する。第2可変遅延部48は、設定された遅延量に応じて基準信号を遅延した信号を、第2比較レベルと出力信号とを比較するタイミングを指定する第2タイミング信号として出力する。第3可変遅延部50は、設定された遅延量に応じて基準信号を遅延した信号を、第3比較レベルと出力信号とを比較するタイミングを指定する第3タイミング信号として出力する。これら第1可変遅延部46、第2可変遅延部48および第3可変遅延部50のそれぞれは、一例として、外部から遅延量が設定可能であって、基準遅延部45により遅延された基準信号発生部12から出力された基準信号を、更に遅延する可変遅延素子であってよい。
基準遅延量発生部51は、パターン発生部14により与えられた試験サイクル毎に、基準信号発生部12により発生された基準信号の発生タイミングから、当該試験サイクルにおける基準位相までの遅延量を表す基準遅延量を出力する。遅延量制御部52は、第1可変遅延部46、第2可変遅延部48および第3可変遅延部50の遅延量を、パターン発生部14から出力された期待位相に応じて設定する。より具体的には、遅延量制御部52は、基準位相から第1比較レベルの比較タイミングまでの遅延量を第1可変遅延部46に設定し、基準位相から第2比較レベルの比較タイミングまでの遅延量を第2可変遅延部48に設定し、基準位相から第3比較レベルの比較タイミングまでの遅延量を第3可変遅延部50に設定する。以上のような構成のタイミング信号出力部32によれば、出力信号と、第1比較レベル、第2比較レベルおよび第3比較レベルのそれぞれと比較するタイミングを、簡易な回路により発生することができる。
図11は、第1例に係るタイミング信号出力部32の構成の他の一例を示す。なお、図11に示すタイミング信号出力部32は、図10に示したタイミング信号出力部32と略同一の構成および機能を採るので、以下相違点を除き説明を省略する。
タイミング信号出力部32は、一例として、第1可変遅延部46と、第2可変遅延部48と、第3可変遅延部50と、基準遅延量発生部51と、遅延量制御部52とを含んでよい。第1可変遅延部46、第2可変遅延部48および第3可変遅延部50は、基準信号発生部12から出力された基準信号を遅延する。
基準遅延量発生部51は、パターン発生部14により与えられた試験サイクル毎に、基準信号発生部12により発生された基準信号の発生タイミングから、当該試験サイクルにおける基準位相までの遅延量を表す基準遅延量を出力する。基準遅延量発生部51は、一例として、デジタルデータで表された基準遅延量を出力する。
遅延量制御部52は、遅延量出力部54と、第1加算部56と、第2加算部57と、第3加算部58とを含む。遅延量出力部54は、基準位相から第1比較レベルの比較タイミングまでの遅延量、基準位相から第2比較レベルの比較タイミングまでの遅延量、および、基準位相から第3比較レベルの比較タイミングまでの遅延量を出力する。遅延量制御部52は、一例として、デジタルデータで表された遅延量を出力する。
第1加算部56は、遅延量出力部54から出力された基準位相から第1比較レベルの比較タイミングまでの遅延量と、基準遅延量発生部51により出力された基準遅延量とを
加算する。そして、第1加算部56は、加算した結果得られる遅延量を第1可変遅延部46に設定する。
加算する。そして、第1加算部56は、加算した結果得られる遅延量を第1可変遅延部46に設定する。
第2加算部57は、遅延量出力部54から出力された基準位相から第2比較レベルの比較タイミングまでの遅延量と、基準遅延量発生部51により出力された基準遅延量とを加算する。そして、第1加算部56は、加算した結果得られる遅延量を第2可変遅延部48に設定する。
第3加算部58は、遅延量出力部54から出力された基準位相から第3比較レベルの比較タイミングまでの遅延量と、基準遅延量発生部51により出力された基準遅延量とを加算する。そして、第1加算部56は、加算した結果得られる遅延量を第3可変遅延部50に設定する。以上のような構成のタイミング信号出力部32によれば、出力信号と、第1比較レベル、第2比較レベルおよび第3比較レベルのそれぞれと比較するタイミングを、更に簡易な回路により発生することができる。
図12は、本実施形態に係る比較部18の構成の第2例を判定部20とともに示す。図13は、第2例に係る第1のタイミング信号出力部32−1の構成の一例およびラッチ群70の構成の一例を示す。
本例に係る比較部18は、図9に示した比較部18と略同一の構成および機能を採るので、図9に示した部材と略同一の構成および機能を採る部材については同一の符号を付け、以下相違点を除き説明を省略する。また、本例においては、パターン発生部14は、期待レベルおよび期待位相を、比較部18に代えて、判定部20に供給する。比較部18は、第1〜第3のタイミング信号出力部32−1〜32−3と、第1〜第3のレベル比較回路34−1〜34−3と、第1〜第3の取込回路36−1〜36−3と、検出部38とを有する。
第1のタイミング信号出力部32−1は、出力信号が取り得る複数の位相のそれぞれを期待位相とした場合における、第1比較レベルと出力信号とを比較するタイミングを指定する複数の第1タイミング信号を出力する。第1のタイミング信号出力部32−1は、一例として、図13に示すように、基準遅延量発生部51と、遅延量制御部52と、基準遅延部45と、複数の遅延素子72−1〜72−mとを含んでよい。
複数の遅延素子72−1〜72−mは、出力信号が取り得る複数の位相に対応して設けられる。複数の遅延素子72−1〜72−mは、一例として、基準遅延部45により遅延された基準信号を、設定された遅延量に応じて更に遅延する。複数の遅延素子72−1〜72−mのそれぞれは、遅延した基準信号を、出力信号の対応する位相における第1比較レベルと出力信号とを比較するタイミングを指定する第1タイミング信号として出力する。
遅延量制御部52は、複数の遅延素子72−1〜72−mの遅延量を設定する。遅延量制御部52は、パターン発生部14から出力された試験サイクル等に応じて、遅延量を設定する。より具体的には、遅延量制御部52は、複数の遅延素子72−1〜72−mに対して、基準位相から、対応する位相における第1比較レベルの比較タイミングまでの遅延量を設定する。
第2のタイミング信号出力部32−2は、出力信号が取り得る複数の位相のそれぞれを期待位相とした場合における、第2比較レベルと出力信号とを比較するタイミングを指定する複数の第2タイミング信号を出力する。第2のタイミング信号出力部32−2は、一例として、図13に示す第1のタイミング信号出力部32−1と同様の構成であってよい。
第3のタイミング信号出力部32−3は、出力信号が取り得る複数の位相のそれぞれを期待位相とした場合における、第3比較レベルと出力信号とを比較するタイミングを指定する複数の第3タイミング信号を出力する。第3のタイミング信号出力部32−3は、一例として、図13に示す第1のタイミング信号出力部32−1と同様の構成であってよい。
第1の取込回路36−1は、第1のレベル比較回路34−1内の複数のコンパレータ42−1−1〜42−1−nに対応して設けられた複数のラッチ群70−1−1〜70−1−nを含む。複数のラッチ群70−1−1〜70−1−nのそれぞれは、対応するコンパレータ42−1による比較結果を、第1のタイミング信号出力部32−1から出力された複数の第1タイミング信号により指定された複数のタイミングのそれぞれにおいて取り込む。
複数のラッチ群70−1−1〜70−1−nのそれぞれは、図13に示すように、一例として、出力信号が取り得る複数の位相に対応して設けられた複数のラッチ74−1〜74−mを含んでよい。複数のラッチ74−1〜74−mのそれぞれは、対応するコンパレータ42−1による比較結果を、タイミング信号出力部32から出力された複数の第1タイミング信号のうち対応する第1タイミング信号により指定されたタイミングにおいて取り込む。そして、複数のラッチ74−1〜74−mのそれぞれは、取り込んだ比較結果を検出部38に出力する。
第2の取込回路36−2は、第2のレベル比較回路34−2内の複数のコンパレータ42−2−1〜42−2−nに対応して設けられた複数のラッチ群70−2−1〜70−2−nを含む。複数のラッチ群70−2−1〜70−2−nのそれぞれは、対応するコンパレータ42−2による比較結果を、第2のタイミング信号出力部32−2から出力された複数の第2タイミング信号により指定された複数のタイミングのそれぞれにおいて取り込む。複数のラッチ群70−2−1〜70−2−nのそれぞれは、一例として、図13に示した複数のラッチ群70−1と同様の構成であってよい。
第3の取込回路36−3は、第3のレベル比較回路34−3内の複数のコンパレータ42−3−1〜42−3−nに対応して設けられた複数のラッチ群70−3−1〜70−3−nを含む。複数のラッチ群70−3−1〜70−3−nのそれぞれは、対応するコンパレータ42−3による比較結果を、第3のタイミング信号出力部32−3から出力された複数の第3タイミング信号により指定された複数のタイミングのそれぞれにおいて取り込む。複数のラッチ群70−3−1〜70−3−nのそれぞれは、一例として、図13に示した複数のラッチ群70−1と同様の構成であってよい。
検出部38は、第1比較タイミングにおいて出力信号が第1比較レベル以下となり、第2比較タイミングにおいて出力信号が第2比較レベル以下且つ第3比較レベル以上となるレベルおよび変化点の位相を、第1の取込回路36−1、第2の取込回路36−2および第3の取込回路36−3により取り込まれた複数のレベル比較結果に基づき検出する。すなわち、検出部38は、入力された出力信号が有するレベル、および、入力された出力信号の変化点が有する位相を検出する。
そして、判定部20は、比較部18により検出されたレベルおよび変化点の位相が、パターン発生部14から出力された期待レベルおよび期待位相と一致しているか否かを判定する。以上のような構成の第2例に係る比較部18によれば、入力された出力信号が有するレベルおよびリーディングエッジの位相を検出し、検出したレベルおよびリーディングエッジの位相と期待値とを比較することができる。
図14は、本実施形態に係る比較部18の構成の第3例を判定部20とともに示す。図15は、図14におけるタイミング信号出力部32および取込回路36の詳細な構成を示す。
本例に係る比較部18は、図9に示した比較部18と略同一の構成および機能を採るので、図9に示した部材と略同一の構成および機能を採る部材については同一の符号を付け、以下相違点を除き説明を省略する。また、本例においては、パターン発生部14は、期待レベルおよび期待位相を、比較部18に代えて、判定部20に供給する。
また、本例に係る比較部18は、レベルが同一であって異なる複数の位相に対応する第1比較レベルおよび第3比較レベルが互いに同一のレベルに設定されている。さらに、比較部18は、レベルが同一であって異なる複数の位相に対応する第2比較レベルが、同一のレベルに設定されている。
比較部18は、レベル比較回路34と、取込部60と、検出部38とを有する。レベル比較回路34は、出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれにおける対応するレベルより小さい第1比較レベルおよび対応するレベルより大きい第2比較レベルのそれぞれと、試験信号に応じて被試験デバイス100から出力された出力信号とを比較する。そして、レベル比較回路34は、出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれに対応する第1比較レベルおよび第2比較レベルのそれぞれと、出力信号との複数のレベル比較結果を出力する。
レベル比較回路34は、一例として、出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれにおける第1比較レベルおよび第2比較レベルのそれぞれに対応して設けられた複数のコンパレータ42−1〜42−mを含んでよい(mは、2以上の整数。)。複数のコンパレータ42−1〜42−mは、それぞれが対応する第1比較レベルまたは第2比較レベルと出力信号とを比較する。
取込部60は、出力信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける対応する位相より前の第1比較タイミングおよび対応する位相より後の第2比較タイミングのそれぞれにおいて、レベル比較回路34により比較された複数のレベル比較結果を取り込む。取込部60は、一例として、複数の取込回路36−1〜36−mと、複数のタイミング信号出力部32−1〜32−mとを含んでよい。
複数の取込回路36−1〜36−mは、複数のコンパレータ42−1〜42−mと一対一に対応して設けられる。複数の取込回路36−1〜36−mは、それぞれが対応するコンパレータ42−1〜42−mによるレベル比較結果を取り込む複数のラッチ44−1〜44−xを含む(xは2以上の整数。)。
複数のタイミング信号出力部32−1〜32−mは、複数の取込回路36−1〜36−mと一対一に対応して設けられる。複数のタイミング信号出力部32−1〜32−mは、それぞれが基準信号を順次に遅延する複数の遅延素子62−1〜62−xを含む。
各タイミング信号出力部32の複数の遅延素子62−1〜62−xは、直列に接続され、予め設定された遅延量により基準信号を順次に遅延する。そして、各タイミング信号出力部32の複数の遅延素子62−1〜62−xは、出力信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける第1比較タイミングおよび第2比較タイミングのそれぞれを指定する複数のタイミング信号を出力する。
さらに、各取込回路36に含まれる複数のラッチ44−1〜44−xのそれぞれは、対応するタイミング信号により指定されたタイミングにおいて、対応するコンパレータ42によるレベル比較結果を取り込む。そして、各取込回路36は、ラッチ44−1〜44−xのそれぞれにより取り込んだレベル比較結果を、検出部38に出力する。
検出部38は、第1比較タイミングにおいて出力信号が第1比較レベル以下となり、第2比較タイミングにおいて出力信号が第2比較レベル以下且つ第1比較レベル以上となるレベルおよび変化点の位相を、取込部60により取り込まれた複数のレベル比較結果に基づき検出する。すなわち、検出部38は、入力された出力信号が有するレベル、および、入力された出力信号の変化点が有する位相を検出する。
さらに、検出部38は、一例として、出力信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける第1比較タイミングおよび第2比較タイミングのそれぞれにおいて、被試験デバイス100から出力された出力信号が、当該出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれにおける第2比較レベル以下且つ第1比較レベル以上の範囲に含まれないことを条件として、出力信号のレベルおよび変化点の位相が不定値であると検出してよい。これにより、検出部38は、複数レベルのいずれにも出力信号のレベルが対応しない場合、および、複数位相のいずれにも出力信号の変化点の位相が対応しない場合、出力信号に変調された値が不定値であるとすることができる。
そして、判定部20は、比較部18により検出されたレベルおよび変化点の位相が、パターン発生部14から出力された期待レベルおよび期待位相と一致しているか否かを判定する。以上のような構成の第3例に係る比較部18によれば、入力された出力信号が有するレベルおよびリーディングエッジの位相を検出し、検出したレベルおよびリーディングエッジの位相と期待値とを比較することができる。
なお、複数のタイミング信号出力部32−1〜32−mのうちの第1タイミング信号出力部32−1および第2タイミング信号出力部32−2は、一例として、複数の遅延素子62−1〜62−xの少なくとも初段の遅延量が互いに異なっていてよい。複数のタイミング信号出力部32−1〜32−mは、一例として、対応するコンパレータ42の比較レベルが大きいほど、複数の遅延素子62−1〜62−xにおける初段の遅延量が大きく設定されていてよい。これにより、複数のタイミング信号出力部32−1〜32−mは、変化点の立ち上がり(または立ち下がり)速度が遅いために波形が鈍る場合であっても、精度良く比較結果を取り込むことができる。
また、取込部60は、複数のタイミング信号出力部32−1〜32−mに代えて、複数の取込回路36−1〜36−mに対して共通化された1つのタイミング信号出力部32を含んでよい。共通化された1つのタイミング信号出力部32は、出力信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける第1比較タイミングおよび第2比較タイミングを指定する複数のタイミング信号のそれぞれを、複数の取込回路36−1〜取込回路36−mに出力する。
以上に代えて、レベル比較回路34は、出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれにおける対応するレベルより小さい第4比較レベルおよび対応するレベルより大きい第5比較レベルのそれぞれと、試験信号に応じて被試験デバイス100から出力された出力信号とを比較した複数のレベル比較結果を出力してよい。この場合において、取込部60は、第1比較タイミングおよび第2比較タイミングに代えて、出力信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける対応する位相より前の第5比較タイミングおよび対応する位相より後の第4比較タイミングのそれぞれにおいて、レベル比較回路34により比較された複数のレベル比較結果を取り込む。
また、この場合において、検出部38は、第4比較タイミングにおいて出力信号が第4比較レベル以下となり、第5比較タイミングにおいて出力信号が5比較レベル以下且つ第4比較レベル以上となるレベルおよび変化点の位相を、取込部60により取り込まれた複数のレベル比較結果に基づき検出する。以上のような構成の第3例に係る比較部18によれば、入力された出力信号が有するレベルおよびトレーディングエッジの位相を検出し、検出したレベルおよびトレーディングエッジの位相と期待値とを比較することができる。
また、試験装置10は、試験対象となる被試験回路と共に同一の電子デバイスに設けられた試験回路であってもよい。当該試験回路は、電子デバイスのBIST回路等として実現され、被試験回路を試験することにより電子デバイスの診断等を行う。これにより、当該試験回路は、被試験回路となる回路が、電子デバイスが本来目的とする通常動作を行うことができるかどうかをチェックすることができる。
また、試験装置10は、試験対象となる被試験回路と同一のボード又は同一の装置内に設けられた試験回路であってもよい。このような試験回路も、上述したように被試験回路が本来目的とする通常動作を行うことができるかどうかをチェックすることができる。
図16は、本実施形態に係る復調装置200の構成を示す。本実施形態に係る復調装置200において、図1〜図15に示した部材と略同一の構成および機能を採る部材については、同一の符号を付け、相違点を除き説明を省略する。
復調装置200は、振幅位相変調信号を復調する装置であって、例えば、電子デバイス、モジュール、電子デバイス内の回路等である。また、復調装置200は、一例として、半導体デバイスに実装されてよい。
復調装置200は、基準信号発生部12と、レベル比較回路34と、取込部60と、検出部38と、データ出力部210とを備える。基準信号発生部12は、出力信号のクロック信号を基準信号として出力する。基準信号発生部12は、一例として、PLL等により振幅位相変調信号からクロック信号を再生してもよい。
レベル比較回路34は、振幅位相変調信号を入力する。レベル比較回路34は、図14に示したレベル比較回路34と略同一の構成および機能を取る。また、取込部60および検出部38は、それぞれ図14に示した取込部60および検出部38と略同一の構成および機能を取る。
データ出力部210は、検出部38により検出されたレベルおよび変化点の位相に応じたデータを出力する。すなわち、データ出力部210は、振幅位相変調信号から復調された伝送データを出力する。以上のような構成の復調装置200によれば、入力された振幅位相変調信号が有するレベルおよび位相を検出し、検出したレベルおよび位相に応じたデータを伝送データとして出力することができる。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載から明らかである。
Claims (24)
- 伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を、出力信号として出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、
試験信号を前記被試験デバイスに出力する試験信号出力部と、
前記試験信号に応じて前記被試験デバイスから出力されるべき前記出力信号のレベルの期待値である期待レベルおよび前記出力信号の変化点の位相の期待値である期待位相を発生するパターン発生部と、
前記期待位相より前において前記期待レベルより小さい第1比較レベルと前記出力信号とを比較し、前記期待位相より後において前記期待レベルより大きい第2比較レベルおよび前記期待レベルより小さい第3比較レベルと前記出力信号とを比較する比較部と、
前記出力信号が、前記期待位相より前において前記第1比較レベル以下であり、前記期待位相より後において前記第2比較レベル以下かつ前記第3比較レベル以上であることを条件として、当該出力信号が期待値と一致していると判定する判定部と
を備える試験装置。 - 前記比較部は、前記期待位相より後において、前記第1比較レベルと略同一である前記第3比較レベルと、前記出力信号とを比較する
請求項1に記載の試験装置。 - 前記比較部は、前記期待位相より後の略同一タイミングにおいて、前記第2比較レベルおよび前記第3比較レベルと前記出力信号とを比較する
請求項1または2に記載の試験装置。 - 前記比較部は、前記期待位相より後において、前記第1比較レベルより大きい前記第3比較レベルと前記出力信号とを比較する
請求項1に記載の試験装置。 - 前記比較部は、前記第3比較レベルと前記出力信号とを比較した後において、前記第2比較レベルと前記出力信号とを比較する
請求項4に記載の試験装置。 - 試験サイクルに応じた周期の基準信号を発生する基準信号発生部を更に備え、
前記比較部は、
設定された遅延量に応じて前記基準信号を遅延した信号を、前記第1比較レベルと前記出力信号とを比較するタイミングを指定する第1タイミング信号として出力する第1可変遅延部と、
設定された遅延量に応じて前記基準信号を遅延した信号を、前記第2比較レベルと前記出力信号とを比較するタイミングを指定する第2タイミング信号として出力する第2可変遅延部と、
設定された遅延量に応じて前記基準信号を遅延した信号を、前記第3比較レベルと前記出力信号とを比較するタイミングを指定する第3タイミング信号として出力する第3可変遅延部と、
前記第1可変遅延部、前記第2可変遅延部および前記第3可変遅延部の遅延量を、前記期待位相に応じて設定する遅延量制御部と
を有する
請求項1から5の何れか一項に記載の試験装置。 - 前記比較部は、
試験サイクル毎に、前記基準信号発生部の基準信号の発生タイミングから基準位相までの遅延量を表す基準遅延量を出力する基準遅延量発生部と、
前記基準遅延量に応じて前記基準信号発生部から出力された前記基準信号を遅延する基準遅延部と
を更に有し、
前記第1可変遅延部、前記第2可変遅延部および前記第3可変遅延部は、前記基準遅延部により遅延された前記基準信号を遅延し、
前記遅延量制御部は、前記基準位相から第1比較レベルの比較タイミングまでの遅延量を前記第1可変遅延部に設定し、前記基準位相から第2比較レベルの比較タイミングまでの遅延量を前記第2可変遅延部に設定し、前記基準位相から第3比較レベルの比較タイミングまでの遅延量を前記第3可変遅延部に設定する
請求項6に記載の試験装置。 - 前記比較部は、
前記出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する第1比較レベルと出力信号とを比較する複数の第1のコンパレータと、
前記複数の第1のコンパレータのそれぞれに対応して設けられ、対応する第1のコンパレータによる比較結果を、前記第1タイミング信号により指定されたタイミングにおいて取り込む複数の第1のラッチと、
前記出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する第2比較レベルと出力信号とを比較する複数の第2のコンパレータと、
前記複数の第2のコンパレータのそれぞれに対応して設けられ、対応する第2のコンパレータによる比較結果を、前記第2タイミング信号により指定されたタイミングにおいて取り込む複数の第2のラッチと、
前記出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する第3比較レベルと出力信号とを比較する複数の第3のコンパレータと、
前記複数の第3のコンパレータのそれぞれに対応して設けられ、対応する第3のコンパレータによる比較結果を、前記第3タイミング信号により指定されたタイミングにおいて取り込む複数の第3のラッチと
を更に有する
請求項7に記載の試験装置。 - 前記基準位相から第1比較レベルの比較タイミングまでの遅延量、前記基準位相から第2比較レベルの比較タイミングまでの遅延量、および、前記基準位相から第3比較レベルの比較タイミングまでの遅延量を出力する遅延量出力部と、
前記基準位相から第1比較レベルの比較タイミングまでの遅延量と前記基準遅延量とを加算した遅延量を前記第1可変遅延部に設定する第1加算部と、
前記基準位相から第2比較レベルの比較タイミングまでの遅延量と前記基準遅延量とを加算した遅延量を前記第2可変遅延部に設定する第2加算部と、
前記基準位相から第3比較レベルの比較タイミングまでの遅延量と前記基準遅延量とを加算した遅延量を前記第3可変遅延部に設定する第3加算部と
を含む
請求項7に記載の試験装置。 - 前記比較部は、
前記出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する第1比較レベルと出力信号とを比較する複数の第1のコンパレータと、
前記複数の第1のコンパレータのそれぞれに対応して設けられ、対応する第1のコンパレータによる比較結果を、前記第1タイミング信号により指定されたタイミングにおいて取り込む複数の第1のラッチと、
前記出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する第2比較レベルと出力信号とを比較する複数の第2のコンパレータと、
前記複数の第2のコンパレータのそれぞれに対応して設けられ、対応する第2のコンパレータによる比較結果を、前記第2タイミング信号により指定されたタイミングにおいて取り込む複数の第2のラッチと、
前記出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する第3比較レベルと出力信号とを比較する複数の第3のコンパレータと、
前記複数の第3のコンパレータのそれぞれに対応して設けられ、対応する第3のコンパレータによる比較結果を、前記第3タイミング信号により指定されたタイミングにおいて取り込む複数の第3のラッチと
を更に有する
請求項9に記載の試験装置。 - 試験サイクルに応じた周期の基準信号を発生する基準信号発生部を更に備え、
前記比較部は、
前記基準信号を遅延素子により遅延して、前記出力信号が取り得る複数の位相のそれぞれを期待位相とした場合における、前記第1比較レベルと前記出力信号とを比較するタイミングを指定する複数の第1タイミング信号を出力する第1のタイミング信号出力部と、
前記基準信号を遅延素子により遅延して、前記出力信号が取り得る複数の位相のそれぞれを期待位相とした場合における、前記第2比較レベルと前記出力信号とを比較するタイミングを指定する複数の第2タイミング信号を出力する第2のタイミング信号出力部と、
前記基準信号を遅延素子により遅延して、前記出力信号が取り得る複数の位相のそれぞれを期待位相とした場合における、前記第3比較レベルと前記出力信号とを比較するタイミングを指定する複数の第3タイミング信号を出力する第3のタイミング信号出力部と、
第1比較タイミングにおいて前記出力信号が前記第1比較レベル以下となり、第2比較タイミングにおいて前記出力信号が前記第2比較レベル以下かつ前記第3比較レベル以上となるレベルおよび前記変化点の位相を検出する検出部と
を更に有し、
前記判定部は、前記検出部により検出された前記レベルおよび前記変化点の位相が、前記期待レベルおよび前記期待位相と一致しているか否かを判定する
請求項1に記載の試験装置。 - 前記比較部は、
前記出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する第1比較レベルと出力信号とを比較する複数の第1のコンパレータと、
前記複数の第1のコンパレータのそれぞれに対応して設けられ、対応する第1のコンパレータによる比較結果を前記複数の第1タイミング信号により指定された複数のタイミングのそれぞれにおいて取り込む複数のラッチ群を含む第1の取込回路と、
前記出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する第2比較レベルと出力信号とを比較する複数の第2のコンパレータと、
前記複数の第2のコンパレータのそれぞれに対応して設けられ、対応する第2のコンパレータによる比較結果を前記複数の第2タイミング信号により指定された複数のタイミングのそれぞれにおいて取り込む複数のラッチ群を含む第2の取込回路と、
前記出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する第3比較レベルと出力信号とを比較する複数の第3のコンパレータと、
前記複数の第3のコンパレータのそれぞれに対応して設けられ、対応する第3のコンパレータによる比較結果を前記複数の第3タイミング信号により指定された複数のタイミングのそれぞれにおいて取り込む複数のラッチ群を含む第3の取込回路と
を更に有する
請求項11に記載の試験装置。 - 前記比較部は、
前記出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれにおける対応するレベルより小さい前記第1比較レベルおよび対応するレベルより大きい前記第2比較レベルのそれぞれと、前記試験信号に応じて前記被試験デバイスから出力された前記出力信号とを比較した複数のレベル比較結果を出力するレベル比較回路と、
前記出力信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける対応する位相より前の第1比較タイミングおよび対応する位相より後の第2比較タイミングのそれぞれにおいて、前記レベル比較回路により比較された前記複数のレベル比較結果を取り込む取込部と、
前記第1比較タイミングにおいて前記出力信号が前記第1比較レベル以下となり、前記第2比較タイミングにおいて前記出力信号が前記第2比較レベル以下かつ前記第1比較レベル以上となるレベルおよび前記変化点の位相を、前記取込部により取り込まれた前記複数のレベル比較結果に基づき検出する検出部と
を有し、
前記判定部は、前記検出部により検出された前記レベルおよび前記変化点の位相が、前記期待レベルおよび前記期待位相と一致しているか否かを判定する
請求項1から5の何れか一項に記載の試験装置。 - 試験サイクルに応じた周期の基準信号を発生する基準信号発生部を更に備え、
前記レベル比較回路は、前記出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれにおける前記第1比較レベルおよび前記第2比較レベルのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する前記第1比較レベルまたは前記第2比較レベルと前記出力信号とを比較する複数のコンパレータを含み、
前記取込部は、
前記複数のコンパレータと一対一に対応して設けられ、それぞれが対応するコンパレータによるレベル比較結果を取り込む複数のラッチを含む複数の取込回路と、
前記複数の取込回路と一対一に対応して設けられ、それぞれが前記基準信号を順次に遅延する複数の遅延素子を含む複数のタイミング信号出力部と
を含み、
各タイミング信号出力部の前記複数の遅延素子は、前記出力信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける前記第1比較タイミングおよび前記第2比較タイミングのそれぞれを指定する複数のタイミング信号を出力し、
各取込回路に含まれる前記複数のラッチのそれぞれは、対応するタイミング信号により指定されたタイミングにおいて、対応する前記コンパレータによるレベル比較結果を取り込む
請求項13に記載の試験装置。 - 前記複数のタイミング信号出力部のうちの第1タイミング信号出力部および第2タイミング信号出力部は、前記複数の遅延素子の少なくとも初段の遅延量が互いに異なる
請求項14に記載の試験装置。 - 前記検出部は、
前記出力信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける前記第1比較タイミングおよび前記第2比較タイミングのそれぞれにおいて、前記被試験デバイスから出力された前記出力信号が、当該出力信号が取り得る複数のレベルのそれぞれにおける前記第2比較レベル以下かつ前記第1比較レベル以上の範囲に含まれないことを条件として、前記出力信号のレベルおよび変化点の位相が不定値であると検出する
請求項13から15のいずれか一項に記載の試験装置。 - 伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を、出力信号として出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、
試験信号を前記被試験デバイスに出力する試験信号出力部と、
前記試験信号に応じて前記被試験デバイスから出力されるべき前記出力信号のレベルの期待値である期待レベルおよび前記出力信号の変化点の位相の期待値である期待位相を発生するパターン発生部と、
前記期待位相より前において前記期待レベルより大きい第5比較レベルおよび前記期待レベルより小さい第6比較レベルと前記出力信号とを比較し、前記期待位相より後において前記期待レベルより小さい第4比較レベルと前記出力信号とを比較する比較部と、
前記出力信号が、前記期待位相より前において前記第5比較レベル以下かつ前記第6比較レベル以上であり、前記期待位相より後において前記第4比較レベル以下であることを条件として、当該出力信号が期待値と一致していると判定する判定部と
を備える試験装置。 - 伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を復調する復調装置であって、
前記振幅位相変調信号が取り得る複数のレベルのそれぞれにおける対応するレベルより小さい第1比較レベルおよび対応するレベルより大きい第2比較レベルのそれぞれと、入力された前記振幅位相変調信号とを比較した複数のレベル比較結果を出力するレベル比較回路と、
前記振幅位相変調信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける対応する位相より前の第1比較タイミングおよび対応する位相より後の第2比較タイミングのそれぞれにおいて、前記レベル比較回路により比較された前記複数のレベル比較結果を取り込む取込部と、
前記第1比較タイミングにおいて前記振幅位相変調信号が前記第1比較レベル以下となり、前記第2比較タイミングにおいて前記振幅位相変調信号が前記第2比較レベル以下かつ前記第1比較レベル以上となるレベルおよび変化点の位相を、前記取込部により取り込まれた前記複数のレベル比較結果に基づき検出する検出部と、
前記検出部により検出された前記レベルおよび変化点の位相に応じたデータを出力するデータ出力部と
を備える復調装置。 - 伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を復調する復調装置であって、
前記振幅位相変調信号が取り得る複数のレベルのそれぞれにおける対応するレベルより小さい第4比較レベルおよび対応するレベルより大きい第5比較レベルのそれぞれと、入力された前記振幅位相変調信号とを比較した複数のレベル比較結果を出力するレベル比較回路と、
前記振幅位相変調信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける対応する位相より後の第4比較タイミングおよび対応する位相より前の第5比較タイミングのそれぞれにおいて、前記レベル比較回路により比較された前記複数のレベル比較結果を取り込む取込部と、
前記第4比較タイミングにおいて前記振幅位相変調信号が前記第4比較レベル以下となり、前記第5比較タイミングにおいて前記振幅位相変調信号が前記第5比較レベル以下かつ前記第4比較レベル以上となるレベルおよび変化点の位相を、前記取込部により取り込まれた前記複数のレベル比較結果に基づき検出する検出部と、
前記検出部により検出された前記レベルおよび変化点の位相に応じたデータを出力するデータ出力部と
を備える復調装置。 - 伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を、出力信号として出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、
試験信号を前記被試験デバイスに出力し、
前記試験信号に応じて前記被試験デバイスから出力されるべき前記出力信号のレベルの期待値である期待レベルおよび前記出力信号の変化点の位相の期待値である期待位相を発生し、
前記期待位相より前において前記期待レベルより小さい第1比較レベルと前記出力信号とを比較し、前記期待位相より後において前記期待レベルより大きい第2比較レベルおよび前記期待レベルより小さい第3比較レベルと前記出力信号とを比較し、
前記出力信号が、前記期待位相より前において前記第1比較レベル以下であり、前記期待位相より後において前記第2比較レベル以下かつ前記第3比較レベル以上であることを条件として、当該出力信号が期待値と一致していると判定する
試験方法。 - 伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を、出力信号として出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、
試験信号を前記被試験デバイスに出力し、
前記試験信号に応じて前記被試験デバイスから出力されるべき前記出力信号のレベルの期待値である期待レベルおよび前記出力信号の変化点の位相の期待値である期待位相を発生し、
前記期待位相より後において前記期待レベルより小さい第4比較レベルと前記出力信号とを比較し、前記期待位相より前において前記期待レベルより大きい第5比較レベルおよび前記期待レベルより小さい第6比較レベルと前記出力信号とを比較し、
前記出力信号が、前記期待位相より後において前記第4比較レベル以下であり、前記期待位相より前において前記第5比較レベル以下かつ前記第6比較レベル以上であることを条件として、当該出力信号が期待値と一致していると判定する
試験方法。 - 伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を復調する復調方法であって、
前記振幅位相変調信号が取り得る複数のレベルのそれぞれにおける対応するレベルより小さい第1比較レベルおよび対応するレベルより大きい第2比較レベルのそれぞれと、入力された前記振幅位相変調信号とを比較した複数のレベル比較結果を出力し、
前記振幅位相変調信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける対応する位相より前の第1比較タイミングおよび対応する位相より後の第2比較タイミングのそれぞれにおいて、前記複数のレベル比較結果を取り込み、
前記第1比較タイミングにおいて前記振幅位相変調信号が前記第1比較レベル以下となり、前記第2比較タイミングにおいて前記振幅位相変調信号が前記第2比較レベル以下かつ前記第1比較レベル以上となるレベルおよび変化点の位相を、取り込まれた前記複数のレベル比較結果に基づき検出し、
検出された前記レベルおよび変化点の位相に応じたデータを出力する
復調方法。 - 伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を復調する復調方法であって、
前記振幅位相変調信号が取り得る複数のレベルのそれぞれにおける対応するレベルより小さい第4比較レベルおよび対応するレベルより大きい第5比較レベルのそれぞれと、入力された前記振幅位相変調信号とを比較した複数のレベル比較結果を出力し、
前記振幅位相変調信号が取り得る複数の位相のそれぞれにおける対応する位相より後の第4比較タイミングおよび対応する位相より前の第5比較タイミングのそれぞれにおいて、前記複数のレベル比較結果を取り込み、
前記第4比較タイミングにおいて前記振幅位相変調信号が前記第4比較レベル以下となり、前記第5比較タイミングにおいて前記振幅位相変調信号が前記第5比較レベル以下かつ前記第4比較レベル以上となるレベルおよび変化点の位相を、取り込まれた前記複数のレベル比較結果に基づき検出し、
検出された前記レベルおよび変化点の位相に応じたデータを出力する
復調方法。 - 電子デバイスであって、
伝送データに応じて複数レベル及び複数位相から選択されたレベルおよび変化点の位相を有する振幅位相変調信号を、出力信号として出力する被試験回路と、
前記被試験回路を試験する試験回路とを備え、
前記試験回路は、
試験信号を前記被試験回路に出力する試験信号出力部と、
前記試験信号に応じて前記被試験回路から出力されるべき前記出力信号のレベルの期待値である期待レベルおよび前記出力信号の変化点の位相の期待値である期待位相を発生するパターン発生部と、
前記期待位相より前において前記期待レベルより小さい第1比較レベルと前記出力信号とを比較し、前記期待位相より後において前記期待レベルより大きい第2比較レベルおよび前記期待レベルより小さい第3比較レベルと前記出力信号とを比較する比較部と、
前記出力信号が、前記期待位相より前において前記第1比較レベル以下であり、前記期待位相より後において前記第2比較レベル以下かつ前記第3比較レベル以上であることを条件として、当該出力信号が期待値と一致していると判定する判定部と
を有する電子デバイス。
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