JP5147547B2 - 半田接合部の基準位置特定方法および基準位置特定装置 - Google Patents
半田接合部の基準位置特定方法および基準位置特定装置 Download PDFInfo
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Description
上記特許文献1には、透過画像を加算若しくは空間微分してリードの基部(バックフィレット)に生じるピーク値を検出し、検出した位置を基にリード先端の候補領域に生じる別のピーク値を検出することにより、半田付け部の位置を検出することが提案されている。
しかし、上記の提案は、QFP(Quad Flat Package)やSOP(Small Outline Package)などの電子部品のリードやチップ部品やミニモールドなどの端子の半田付け部分にボイド(気泡)が含まれている場合には、ボイドの影響によって、上記リードの基部や先端部のフィレットによるピークとは異なる位置にもピークが出現してしまい、基準位置となる本来のピークを検出できないといった問題があった。
そして、今日の鉛フリー半田の普及によって、上記半田付け部にはボイドが一層発生し易くなっており、半田付け部の基準位置を特定することが一層困難になっている。
1.基板に実装された電子部品の半田接合部に放射線を照射して該半田接合部を透過した放射線を検出する透過放射線検出工程と、
上記検出した透過放射線の2次元強度分布からボイドと判定される領域の特徴情報を取得するボイド情報取得工程と、
上記2次元強度分布の強度変化に関する特徴情報を取得する2次元強度分布特徴情報取得工程と、
上記ボイド情報に基づいて上記2次元強度分布特徴情報から上記ボイド情報を除去した2次元強度分布補正特徴情報を取得する2次元強度分布補正特徴情報取得工程と、
上記2次元強度分布補正特徴情報から所定の特徴を示す情報を基準位置情報として抽出し、該基準位置情報に基づいて上記半田接合部の基準位置を特定する基準位置特定工程と、を備えることを特徴とする半田接合部の基準位置特定方法。
2.上記1.の半田接合部の基準位置特定方法において、上記基準位置は、上記電子部品の半田付けされたリード先端部であることを特徴とする。
3.上記1.または2.の半田接合部の基準位置特定方法において、上記2次元強度分布特徴情報は、上記2次元強度分布を空間微分処理することにより得られた空間微分画像であり、上記2次元強度分布補正特徴情報は、該空間微分画像から上記ボイドに相当する画像成分を除去する補正が行われた補正空間微分画像であることを特徴とする。
4.上記3の半田接合部の基準位置特定方法において、上記基準位置情報は、上記補正空間微分画像の輝度値を所定方向に投影加算したプロファイルの所定の基準を満たす極大値又は極小値の位置であることを特徴とする。
5.基板に実装された電子部品の半田接合部に放射線を照射して該半田接合部を透過した放射線を検出する透過放射線検出手段と、
上記検出した透過放射線の2次元強度分布からボイドと判定される領域の特徴情報を取得するボイド情報取得手段と、
上記2次元強度分布の強度変化に関する特徴情報を取得する2次元強度分布特徴情報取得手段と、
上記ボイド情報に基づいて上記2次元強度分布特徴情報から上記ボイド情報を除去した2次元強度分布補正特徴情報を取得する2次元強度分布補正特徴情報取得手段と、
上記2次元強度分布補正特徴情報から所定の特徴を示す情報を基準位置情報として抽出し、該基準位置情報に基づいて上記半田接合部の基準位置を特定する基準位置特定手段と、を備えることを特徴とする半田接合部の基準位置特定装置。
以上のような半田接合部の基準位置特定装置は、単独で実現される場合もあるし、ある方法に適用され、あるいは同方法が他の機器に組み込まれた状態で利用されることも可能である。
(1)本実施形態の構成:
(2)基準位置特定処理(基準位置特定方法):
図1は本発明にかかる半田接合部の基準位置特定方法によって実現された半田接合部の基準位置特定装置(以下、基準位置特定装置と略記する。)1の概略ブロック図である。同図1に示すように、基準位置特定装置1は、撮像部10と制御部20を備えている。
ステージ制御機構22はX−Yステージ12と接続されており、上記特定用データ25cに基づいて同X−Yステージ12を制御する。
ステージ制御部24bは、上記特定用データ25cを取得し、基準位置特定の対象となる電子部品aの半田接合部が放射線検出器13の視野内に含まれるように、制御信号をステージ制御機構22に供給する。この結果、ステージ制御機構22は、電子部品aが放射線検出器13の視野内に配置されるようにX−Yステージ12を移動させる。
画像取得部24cは、画像取得機構23に指示を行い、放射線検出器13が出力する検出値に基づいた放射線透過画像を取得し、放射線画像データ25dとしてメモリ25に記録する。
エッジ画像生成部24eは、放射線画像データ25dを空間微分処理することにより、2次元強度分布における周囲との強度の差の大きな箇所、すなわち、放射線透過画像における濃淡の変化の大きな箇所がエッジとして強調された空間微分画像(エッジ画像)を生成し、これを透過放射線の2次元強度分布の特徴を表すエッジ画像データ25fとして取得する。このエッジ画像は、微分値の大きさを濃淡で表している。
補正エッジ画像投影処理部24gは、上記補正エッジ画像において濃淡で表されている微分値を所定方向に投影加算したプロファイルを生成し、このプロファイルにおいて所定の基準を満たすピーク(極大値または極小値)の位置を基準位置情報として取得し、補正エッジ画像投影データ25hとしてメモリ25に記録する。
特定処理部24hは、補正エッジ画像投影データ25hに基づいて、それに対応する半田接合部の位置を基準位置として特定し、特定結果データ25iとしてメモリ25に記録する。
本実施形態においては、上述の構成において図2および3に示すフローチャートに従って半田接合部の基準位置の特定を行う。なお、本実施形態においては、図4(a)に示すように、電子部品aとしてQFPが基板Sに実装されており、その半田付けされた各リードLの先端部を基準位置として特定する場合を説明する。
そして、上記特定された基準位置は、この対象範囲Rにおける半田接合部の特定結果データ25iとしてメモリ25に記録される。
また、放射線検出器13に関しても、本実施形態のフラットパネルセンサに代えてイメージインテンシファイアーを採用してもよい。
さらに、上述の実施形態では、基板Sに実装された電子部品aとしてQFPの場合を説明したが、これに限定されず、SOPなど、半田付けされたリードLを有する電子部品全般の半田接合部の基準位置を特定するようにしてもよい。
さらに、上述の実施形態においては、エッジ画像の補正として、ボイドと判定された範囲全ての微分値を"0"に置き換えることにより補正するようにしたが、これに限定されず、例えば、ボイドと判定された範囲において基準位置の特定に影響を及ぼす所定の値以上の微分値についてのみ"0"に置き換えるように補正してもよい。
また、上述の実施形態においては、半田接合部の基準位置を特定するために、ボイドを抽出してその影響を除去する方法を説明したが、スルーホールのように、放射線透過画像においてボイドと同じ円形状を示す対象に対しても、同様の方法でその影響を除去することが可能である。
Claims (5)
- 基板に実装された電子部品の半田接合部に放射線を照射して該半田接合部を透過した放射線を検出する透過放射線検出工程と、
上記検出した透過放射線の2次元強度分布からボイドと判定される領域の特徴情報を取得するボイド情報取得工程と、
上記2次元強度分布の強度変化に関する特徴情報を取得する2次元強度分布特徴情報取得工程と、
上記ボイド情報に基づいて上記2次元強度分布特徴情報から上記ボイド情報を除去した2次元強度分布補正特徴情報を取得する2次元強度分布補正特徴情報取得工程と、
上記2次元強度分布補正特徴情報から所定の特徴を示す情報を基準位置情報として抽出し、該基準位置情報に基づいて上記半田接合部の基準位置を特定する基準位置特定工程と、を備えることを特徴とする半田接合部の基準位置特定方法。 - 上記基準位置は、上記電子部品の半田付けされたリード先端部である請求項1記載の半田接合部の基準位置特定方法。
- 上記2次元強度分布特徴情報は、上記2次元強度分布を空間微分処理することにより得られた空間微分画像であり、上記2次元強度分布補正特徴情報は、該空間微分画像から上記ボイドに相当する画像成分を除去する補正が行われた補正空間微分画像である請求項1または2項に記載の半田接合部の基準位置特定方法。
- 上記基準位置情報は、上記補正空間微分画像の輝度値を所定方向に投影加算したプロファイルの所定の基準を満たす極大値又は極小値の位置である請求項3に記載の半田接合部の基準位置特定方法。
- 基板に実装された電子部品の半田接合部に放射線を照射して該半田接合部を透過した放射線を検出する透過放射線検出手段と、
上記検出した透過放射線の2次元強度分布からボイドと判定される領域の特徴情報を取得するボイド情報取得手段と、
上記2次元強度分布の強度変化に関する特徴情報を取得する2次元強度分布特徴情報取得手段と、
上記ボイド情報に基づいて上記2次元強度分布特徴情報から上記ボイド情報を除去した2次元強度分布補正特徴情報を取得する2次元強度分布補正特徴情報取得手段と、
上記2次元強度分布補正特徴情報から所定の特徴を示す情報を基準位置情報として抽出し、該基準位置情報に基づいて上記半田接合部の基準位置を特定する基準位置特定手段と、を備えることを特徴とする半田接合部の基準位置特定装置。
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