JP2018098249A - 検査装置及び検査方法 - Google Patents
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Abstract
Description
2 合焦度分布演算手段
3 高さ情報取得手段
4 高さ画像作成手段
5 全焦点画像作成手段
6、34、46 ワイヤ領域特定手段
7 高さ情報再構成手段
13 ワイヤ
15 被検査部
30 接続面領域特定手段
31 分離手段
44 縦断面合焦度分布形成手段
Claims (13)
- ボンディングされたワイヤよりも下方に位置する被検査部を検査する検査装置において、
前記ワイヤ及び被検査部を、被検査部からワイヤまで段階的に合焦するように撮像して高さ方向に焦点の異なる画像を取得する撮像手段と、
画像の画素毎に合焦度を演算する合焦度分布演算手段と、
各画像における合焦度の分布情報に基づいて、画素毎の合焦度のピークの高さ位置情報を取得する高さ情報取得手段と、
ワイヤが存在する画素領域を特定するワイヤ領域特定手段と、
前記ワイヤ領域特定手段にて特定した画素領域において、合焦度のピークの高さ位置情報から、ワイヤによるピークを消去して、画素毎の合焦度のピークの高さ位置情報を再構成する高さ情報再構成手段とを備え、
再構成された合焦度のピークの高さ位置情報に基づいて被検査部を検査することを特徴とする検査装置。 - 前記高さ情報再構成手段は、高さ方向の最上位のピークをワイヤによるピークとして消去することを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
- 前記撮像手段は、被検査部に合焦させたときにワイヤが結像しない被写界深度で画像を取得することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の検査装置。
- 高さ方向に焦点の異なる複数の画像から全焦点画像を作成する全焦点画像作成手段を備えるとともに、合焦度のピークの高さ位置情報から高さ画像を作成する高さ画像作成手段を備え、前記高さ情報再構成手段により再構成された合焦度のピークの高さ位置情報に基づいて全焦点画像及び高さ画像を作成することを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記全焦点画像作成手段は、ワイヤを含む全焦点画像を作成するとともに、前記高さ画像作成手段は、ワイヤを含む高さ画像を作成することを特徴とする請求項4に記載の検査装置。
- 前記全焦点画像から、ワイヤが接続されている接続面領域を特定する接続面領域特定手段と、前記高さ画像の高さ情報から、ワイヤ領域と、ワイヤ以外の領域とを分離する分離手段とを備え、前記ワイヤ領域特定手段は、前記全焦点画像のワイヤ領域のうち、検出対象となるワイヤの、一方の接続面領域と他方の接続面領域とを繋ぐワイヤ領域を特定することを特徴とする請求項5に記載の検査装置。
- 前記撮像手段により取得した夫々の画像の合焦度分布を元に、ワイヤが接続されている接続面に対して直交する方向の断面における合焦度分布の表現がされた縦断面合焦度分布を形成する縦断面合焦度分布形成手段を備え、前記ワイヤ領域特定手段は、1本のワイヤの範囲内で所定間隔に離間する位置において、夫々の位置に対応する縦断面合焦度分布に基づいて、合焦度の高い箇所を追跡することにより、1本のワイヤの軌跡を追跡することを特徴とする請求項5に記載の検査装置。
- ボンディングされたワイヤよりも下方に位置する被検査部を検査する検査方法において、
前記ワイヤ及び被検査部を、被検査部からワイヤまで段階的に合焦するように撮像して高さ方向に焦点の異なる画像を取得し、
画像の画素毎に合焦度を演算し、
各画像における合焦度の分布情報に基づいて、画素毎の合焦度のピークの高さ位置情報を取得し、
ワイヤが存在する画素領域を特定し、
ワイヤが存在する画素領域において、合焦度のピークの高さ位置情報から、ワイヤによるピークを消去して、画素毎の合焦度のピークの高さ位置情報を再構成し、
再構成された合焦度のピークの高さ位置情報に基づいて被検査部を検査することを特徴とする検査方法。 - 被検査部に合焦させたときにワイヤが結像しない被写界深度で画像を取得することを特徴とする請求項8に記載の検査方法。
- 再構成された合焦度のピークの高さ位置情報に基づいて全焦点画像及び高さ画像を作成することを特徴とする請求項8又は請求項9に記載の検査方法。
- ワイヤを含む全焦点画像を作成するとともに、ワイヤを含む高さ画像を作成することを特徴とする請求項8〜請求項10のいずれか1項に記載の検査方法。
- 前記全焦点画像から、ワイヤが接続されている接続面領域を特定し、前記高さ画像の高さ情報から、ワイヤ領域と、ワイヤ以外の領域とを分離し、前記全焦点画像のワイヤ領域のうち、検出対象となるワイヤの、一方の接続面領域と他方の接続面領域とを繋ぐワイヤ領域を抽出し、このワイヤ領域を検出対象のワイヤとして特定することを特徴とする請求項11に記載の検査方法。
- 前記撮像手段により取得した夫々の画像の合焦度分布を元に、ワイヤが接続されている接続面に対して直交する方向の断面における合焦度分布の表現がされた縦断面合焦度分布を形成し、1本のワイヤの範囲内で所定間隔に離間する位置において、夫々の位置に対応する縦断面合焦度分布に基づいて、合焦度の高い箇所を追跡することにより、1本のワイヤの軌跡を追跡することを特徴とする請求項11に記載の検査方法。
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