JP5113893B2 - 保守システム及び保守方法 - Google Patents

Description

本発明の実施形態は、保守システム及び保守方法に関する。

機器を保守する際には、機器の状態を把握するために実施するテストスケジュールに沿った診断を行う必要がある。しかし、この診断自体が機器に与える負荷により機器を劣化させてしまう等の理由から、効率的な診断を可能とするテストスケジュールを作成する必要がある。

特開平１０−４０１２４号公報

診断自体が機器に与える負荷を考慮した、効率的なテストスケジュールを作成することが可能となる保守システム及び保守方法を提供する。

実施形態の保守システムは、複数の被測定部と、測定部とを備える。前記測定部は、定期的に前記被測定部の使用状況を測定するとともに、任意のタイミングにはテストスケジュールに沿って前記被測定部の各々に対して実施されるテスト項目を測定してテスト結果を得る。また、前記被測定部の使用状況とテスト結果とを記憶する第一の記憶部と、前記使用状況と前記テスト結果とを統計的に関係付けるための統計情報を記憶する第二の記憶部とを備える。さらに、確率算出部は、前記使用状況を基に、前記被測定部の負荷を評価する、直近の評価値と過去の評価値とを算出し、前記統計情報と直近の評価値と過去のテスト時の評価値とから前記テスト項目毎に不合格確率を算出する。そして、テストスケジュール作成部は、前記不合格確率を基に新たなテストスケジュールを作成する。

また、実施形態の保守方法は、演算処理部を有する保守システムによる保守方法であって、前記演算処理部が、使用状況と、テスト結果とから統計情報を作成するステップと、前記演算処理部が、前記使用状況を基に、直近の評価値と、過去の評価値とを算出するステップと、前記演算処理部が、前記統計情報と、前記直近の評価値と、前記過去のテスト時の評価値とからテスト項目毎に不合格確率を算出するステップと、前記演算処理部が、前記不合格確率を基に、テストスケジュールを作成するステップとを有する。

第一の実施形態に係る保守システムの構成図。 第一の実施形態に係る保守システムの主要部のブロックダイアグラム。 第一の実施形態に係るテストスケジュール決定部のブロックダイアグラム。 テスト結果が二値の場合の不合格確率算出のフローチャート。 テスト結果が二値の場合の統計曲線。 テスト結果が多値の場合の不合格確率算出のフローチャート。 テスト結果が多値の場合の統計曲線。 テストスケジュール作成のフローチャート。 第二の実施形態に係る保守システムの構成図。 第二の実施形態に係る保守システムのサーバーのブロックダイアグラム。 使用状況・テスト結果データ。 テスト結果が二値で出力される場合の統計情報作成のフローチャート。 テスト結果が多値で出力される場合の統計情報作成のフローチャート。 第二の実施形態に係る保守システムの機器のブロックダイアグラム。 第三の実施形態に係る保守システムの構成図。

以下、実施形態について説明する。

（第一の実施形態）
図１は本実施形態に係る保守システムの構成図である。本実施形態は、自己診断機能を有する電子機器（例えば計算機）であって、電子機器に設けられている演算装置が自身の構成要素（例えば電池）を診断することで保守を行う。ここでの診断は、診断対象が電池の場合には例えば電池容量を測定することにより行う。ここでは、診断の内容をテスト項目と呼び、テスト項目の組み合わせをテストスケジュールと呼ぶことにする。

図１の保守システムは、診断対象となる電池などの被測定部１、この被測定部１から測定データ（使用状況及びテスト結果）を測定する測定部２、テストプログラムや測定データを記憶するための記憶部、およびこれらを制御するための演算処理部を有する。

本実施形態において、記憶部は、統計情報記憶部３、テストプログラム記憶部４、テスト結果・使用状況記憶部５を有する。これらは例えばメモリやＨＤＤ等の記憶装置において実現できる。

演算処理部は、確率算出部６、テストスケジュール作成部７、テスト実施部８を有する。これらは例えばプログラムモジュールとしてＣＰＵなどの演算処理により対応する機能が実現できる。

また、この電子機器は、必要に応じてディスプレイ装置などの表示部９を有する。

以下、図２乃至図８を参照して説明を行う。図２は本実施形態に係る保守システムの主要部のブロックダイアグラムである。

被測定部１は、機器を構成する各要素（例えば電池、冷却ファン、ＨＤＤなど）のことであり、ここでは上記のCPUやメモリなども含まれてもよい。本実施形態においては、これら被測定部１が診断の対象となる。

測定部２は、機器の診断時とは別に、定期的に被測定部１の使用状況を測定する。ここで、使用状況とは表１の使用状況データに示すように、CPU稼動時間や累積電源ＯＮ時間など、測定部２が測定する被測定部１の使用量や使用頻度、累積使用量などの測定項目であり、機器の使用に伴い測定値が増加する項目を予め与えている。上記のように測定部２が測定し得られる使用状況は、すべて時系列順にテスト結果・使用状況記憶部５に使用状況データ（表１）として記憶される。この使用状況データは、測定部２が新たに使用状況を測定する際には随時更新される。

また、任意のタイミング（ユーザーが指定するタイミング、あるいは定期的）に、機器の診断を行う際には、測定部２は、後述のテスト実施部８に制御されることで、テストスケジュールに沿ってテスト項目の測定を行う。ここでのテスト項目とは表２のテスト結果データに示すように、ＣＰＵチップテストやメモリ速度などの被測定部１の動作テストのことであり、テスト項目ごとに番号づけされている。テスト結果としては、OKかNGの二値で出力されるものと、多値で出力されるものがある。上記のように測定部２が測定し得られるテスト結果は、すべて時系列順にテスト結果・使用状況記憶部５にテスト結果データ（表２）として記憶される。そして、このテスト結果データは、測定部２が新たにテスト項目を測定する際には随時更新される。

統計情報記憶部３は、テスト項目毎の統計情報を記憶している。統計情報とは、使用状況とテスト結果との関係を統計的に処理するための情報、及び処理することで得られる情報のことである。ここでは、具体的には上記の使用状況のうち各テスト項目に影響を与え得るものをパラメータとして、そのパラメータの結合による単調関数で与えられる評価値の定義と、評価値からテスト結果を推測するための統計曲線とを有するものを統計情報と呼ぶ。上記のパラメータには係数を乗算することで適宜重み付けを行うこともできる。また、評価値の定義としては、上記に限らず各テスト項目に関する被計測部１の負荷や、その負荷により生じる被測定部１の劣化を評価するものであればよい。

ここでは、前述の通り使用状況の測定値として機器の使用に対して増加していく項目を定義しているが、減少していく項目を定義することも可能である。
ここで、パラメータの例としては、ＣＰＵが正常に動作しているかどうかをテストするＣＰＵチップテストの場合には、表１の使用状況の中で累積電源ＯＮ時間及びＣＰＵ稼動量が上記テスト項目に影響を与え得ると考えることで、これらの使用状況をパラメータとすることができる。

統計情報は、テスト結果が多値の場合には、後述の測定値の差分と不合格確率との対応関係を示す対応表（表３）をさらに有する。なお、本実施形態においては、複数の機器からデータを収集することで得られた統計情報を予め統計情報記憶部３に記憶していることを想定しているが、機器内部において上記のテスト結果・使用状況記憶部５に記憶される使用状況データとテスト結果データから統計情報を作成した後、統計情報記憶部３に記憶するものであってもよい。

ここでは例として、ＣＰＵチップテストの場合には、累積電源ＯＮ時間及びＣＰＵ稼動量をパラメータとすることで、例えば以下のような評価値の定義が得られる。ここで、各使用状況に乗算している係数０．７及び１．２は、重み付けのためのものである。

（評価値）＝0.7×（累積電源ＯＮ時間）＋1.2×（CPU稼動時間） （式１）
テストスケジュール作成部７は、統計情報記憶部３が記憶する統計情報と、テスト結果・使用状況記憶部５が記憶する使用状況データ及びテスト結果データとから新たなテストスケジュールを作成する。テストスケジュール作成部７の具体的な動作を説明する。図３はテストスケジュール作成部７を含むテストスケジュール決定部１００のブロックダイアグラムである。

まず、確率算出部６は、上記統計情報と使用状況とテスト結果とからテスト項目毎に不合格確率を算出する。このとき、テスト結果が二値で出力される場合と、多値で出力される場合とでプロセスが異なるため、以下それぞれの場合についてフローチャートを参照して説明する。

図４はテスト結果が二値で出力される場合の不合格確率算出のフローチャートである。Ｓ４０１においてテスト番号の順にテスト項目を選択すると、そのテスト項目に対応する統計情報を参照して評価値の定義を得る。ここでは、ＣＰＵチップテストを選択し、式１の評価値の定義を得た場合を考える。

Ｓ４０２では、上記で得られた評価値の定義により、直近の使用状況データを用いて直近の評価値を算出する。ここで言う直近の使用状況データとは、表１で表されるような時系列順の使用状況データの中で、テスト項目が実施されていない最も新しい日（表１では２０１０/３/１２）のデータのことである。累積電源ＯＮ時間は５５．５６（時間）、ＣＰＵ稼動量は５．５（時間）であるので、これらを式１に代入することで、直近の評価値は４５．４９２と算出できる。

Ｓ４０３では、時系列順のテスト結果が記憶されている表２を参照して、対象とするテスト項目が前回実施された日付を抽出し、その日付に対応する使用状況データを用いてテスト項目の前回の実施時（以下、テスト時）における評価値を算出する。表２のテスト結果データより、ＣＰＵチップテストが前回実施されたのは２０１０/３/９とわかるので、表１の使用状況データ中で２０１０/３/９の累積電源ＯＮ時間とＣＰＵ稼動量を参照する。累積電源ＯＮ時間は５１．０１（時間）、ＣＰＵ稼動量は５．１（時間）であるので、これらを式１に代入することで、前回テスト時の評価値は４１．８２７と算出できる。

このとき、前回テスト項目が実施された日の使用状況データが存在しない場合には、前回テスト項目が実施された日前あるいは日後の最も近い日の使用状況を用いることで前回テスト時の評価値を算出することができる。また、テスト項目を実施する日には必ず使用状況を測定する、あるいは毎日測定することにより、上記のような前回テスト項目が実施された日に対応する使用状況データが存在しないというような状況を防ぐこともできる。

なお、ここでは前回テスト時の評価値を算出するとしたが、直近の評価値と比較する目的であるので過去のテスト時の評価値を算出してもよい。

Ｓ４０４では、統計情報の持つ統計曲線（図５）と、上記直近の評価値と、前回テスト時の評価値を用いて不合格確率を算出する。具体的には図５において、前回テスト時の評価値に対応する生存確率０．７９９と、直近の評価値に対応する生存確率０．７８３の差である０．０１６が現時点での不合格確率として算出される。なお、ここでの生存確率とは、ある評価値に対してテストが合格する確率を表す。すなわち、評価値が増加する際の生存確率の減少分が不合格確率として定義される。全てのテスト項目の不合格確率の算出が完了すれば終了となる（Ｓ４０５）。

図６はテスト結果が多値で出力される場合の不合格確率算出のフローチャートである。Ｓ６０１においてテスト番号の順にテスト項目を選択すると、Ｓ６０２及びＳ６０３では、テスト結果が二値で出力される場合と同様に、選択したテスト項目に対応する評価値の定義に従い、直近の評価値及び前回テスト時の評価値を算出する（前回テスト時は過去のテスト時であってもよい）。

ここでは、例としてメモリ速度が選択された場合を考える。表１の使用状況の中で、累積高温時間とデータ書き込み量が上記テストに影響を与え得るパラメータであると考えることで、例えば以下のような評価値の定義が得られる。

（評価値）＝0.9×（累積高温時間）＋1.5×（データ書き込み量） （式２）
表１より、直近の日付における累積高温時間は９．９（時間）、データ書き込み量は３６（ＧＢ）であるので、これらを式２に代入することで、直近の評価値は６２．９１と算出できる。また、表２より前回メモリ速度が実施されたのは２０１０/３/０９であることがわかる。したがって、その日の累積高温時間９．８（時間）、及びデータ書き込み量３２．２（ＧＢ）を式２に代入することで、前回テスト時の評価値は６２．８２と算出できる。

Ｓ６０４では、統計曲線（図７）と、上記直近の評価値と、前回テスト時の評価値を用いて、テスト結果の数値（以下、測定値）の差分を算出する。ここでは、直近の評価値が６２．９１、前回テスト時の評価値が６２．８２と算出されているので、図７から測定値の差分は４であることがわかる。

Ｓ６０５において、測定値の差分と不合格確率の対応表（表３）を基に不合格確率を算出する。今回の場合、表３から評価値４に対応する不合格確率は０．０１と算出することができる。全てのテスト項目の不合格確率の算出が完了すれば終了となる（Ｓ６０６）。ここでは、日付を基準に評価値の算出を行ったが、使用状況及びテスト結果の測定が１日に複数回行われるような場合には時刻を基準として評価値の算出を行ってもよい。

コスト記憶部１０は、テスト項目を１回実施するにあたり被測定部１に対して与えるコストと、機器の許容コストを記憶している。ここで、コストとはテストが機器に与える物理的な負荷、テストに要する時間、テストを行う際のCPUやメモリなどのリソースの占有率などを考慮して、数値としてテスト項目毎に予め与えている。また、許容コストとは、機器に対して与えうるコストの上限を意味し、例えば計算機の場合には、ＣＰＵやメモリなどのスペックを考慮して予め数値として与えることができる。

確率・コストデータ作成部１１は、このようにして確率算出部６が算出する不合格確率と、コスト記憶部１０が記憶するコストとを基に、テスト番号と不合格確率とコストとをテスト項目毎に対応づけ、全てのテスト項目についての確率・コストデータ（表４）を作成し、確率・コストデータ記憶部１２に記憶する。

テストスケジュール作成部７は、上記の確率・コストデータとコスト記憶部１０が記憶する許容コストから、今回実施するテストスケジュールを作成する。ここで、テストスケジュールとは前述の通り、実施するテスト項目の組み合わせを意味する。

以下、図８のフローチャートを参照してテストスケジュール作成のプロセスを説明する。Ｓ８０１では、全てのテスト項目の組み合わせのパターンを作成する。Ｓ８０２では、上記の全パターンの組み合わせの中から１つの組み合わせを選択する。

Ｓ８０３では、その組み合わせに含まれているテスト項目のそれぞれのコストを合計する。Ｓ８０４では、Ｓ８０３において算出したコストの合計が許容コスト以内であるかどうかを判定する。

その結果、許容コストを超えている場合には、再度新たな組み合わせを選択する。許容コスト以内である場合には、Ｓ８０４において、その組み合わせに含まれているテスト項目のそれぞれの不合格確率を合計する。

Ｓ８０６では、Ｓ８０１で作成された全てのパターンを評価したかどうかを判定し、評価してない場合には再度新たな組み合わせを選択する。Ｓ８０７では、不合格確率の合計が最も大きい組み合わせを今回実施するテストスケジュールとして選択する。

このとき、Ｓ８０１では全てのテスト項目を対象にしているが、予め定められた所定の不合格確率以上のテスト項目のみを対象にして、テスト項目の組み合わせのパターンを作成してもよい。また、Ｓ８０５において仮に不合格確率の合計が等しい複数の組み合わせのパターンが存在する場合には、その組み合わせのパターンの中でコストの合計が最小のものをテストスケジュールとすることができる。

上記のようにテストスケジュールが決定されると、テスト実施部８は、テストプログラム記憶部４が予め記憶している各テスト項目を実施する際のテストプログラムに基づいて、それぞれの被測定部１に対してテストスケジュールに沿ったテスト項目を実施（以下、テストスケジュール実施）する。また、同時にテスト実施部８は、実施するテスト項目を測定するよう測定部２を制御する。テストスケジュール実施に伴い、測定部２が測定することにより得られるテスト結果はテスト結果・使用状況記憶部５に記憶される。このとき、テスト結果は表示部９に表示することができる。

なお、本実施形態においては、確率算出部６は不合格確率を算出することとしたが、合格確率を算出し、テストスケジュール作成部７は、その合格確率を基にテストスケジュールを作成してもよい。

（第二の実施形態）
図９は本実施形態に係る保守システムの構成図である。第一の実施形態と異なるのは、本システムが端末側の機器とサーバーとに分かれて実現されている点である。本実施形態の保守システムにおいて、サーバーは、統計情報作成部２１、機器情報記憶部２２、サーバー通信部２３を有する。また、機器は、第一の実施形態の電子機器の構成に加え、機器通信部２４をさらに有する。

以下、本実施形態の保守システムにおけるサーバーのブロックダイアグラム（図１０）を参照してサーバーの動作について説明する。

サーバー通信部２３は、複数の機器からの使用状況データとテスト結果データとを受信する。

機器情報記憶部２２は、複数の機器から送られてくる上記の全ての使用状況データとテスト結果データを、それぞれ機器番号と対応付けして時系列順に記憶する（図１１）。

統計情報作成部２１では、機器情報記憶部２２に格納されているデータから統計情報を作成する。以下では、統計情報作成部２１が、統計情報を作成する流れについて説明する。

統計情報とは、評価値の定義と、評価値からテスト結果を推測するための統計曲線とを有し、テスト結果が多値の場合には、測定値の差分と不合格確率との対応関係を示す対応表をさらに有することは前述した通りである。

本実施形態では、複数の機器からのデータを基に統計情報を作成する。なお、統計情報のうち評価値の定義および対応表は、テスト毎に予め定められている。このとき、テスト結果が二値で出力される場合と多値で出力される場合とでプロセスが異なるため、以下それぞれの場合についてフローチャートを参照して説明する。

図１２は、テスト結果が二値で出力される場合の統計情報作成のフローチャートである。まず、Ｓ１２１において、統計情報を作成したいテスト項目を選択する。Ｓ１２２では、テスト項目のテスト結果の中でＮＧが存在するかどうかを判定する。ＮＧが存在する場合には、Ｓ１２３において、選択したテスト項目のテスト結果がＮＧである日付に対応する評価値を算出する。なお、ＮＧが複数存在する場合には、その最初の日付に対応する評価値を算出する。

ここでは、例としてＣＰＵチップテストの統計情報を作成する場合を考える。表５のテスト結果データを参照することで、ＣＰＵチップテストに関しては、２０１０/３/９のテスト結果がＮＧであることがわかる。そこで、次に表１の使用状況データのうちテスト結果がＮＧである日付、すなわち２０１０/３/９のデータを参照して、評価値を算出するにあたり必要なパラメータの値を得る。今回、ＣＰＵチップテストの場合には評価値の定義は式１で与えられているものと仮定しているため、２０１０/３/９における累積電源ＯＮ時間５１．０１（時間）、ＣＰＵ稼動量５．１（時間）をそれぞれ代入することで、テスト結果がＮＧである日付に対応する評価値は４１．８２７と算出できる。

テスト結果にＮＧが存在しない場合には、Ｓ１２４において、直近の評価値を算出する。直近の評価値の算出方法については第一の実施形態において説明したので、ここでは省略する。Ｓ１２５において、評価値の算出を全ての機器のデータを基に行った段階で表６のようなデータが完成する。Ｓ１２６では、上記のように得られるデータを例えばワイブル分布などの分布関数を用いてフィッティングすることで統計曲線（図５）を作成する。

図１３は、テスト結果が多値で出力される場合の統計情報作成のフローチャートである。上記と同様Ｓ１３１においてテスト項目を選択した後、Ｓ１３２では直近の日付に対応する評価値を算出する。Ｓ１３３において、評価値の算出を全ての機器のデータを基に行った段階で表７のようなデータが完成する。Ｓ１３４では、上記のデータを例えばノンパラメトリック回帰などの統計手段を用いて統計曲線（図７）を作成する。

このようにして得られる統計曲線を用いることで、評価値に対するテスト結果の推定を行うことができる。また、実際にはこの統計曲線に相当する情報は、評価値とテスト結果推定値との点列を表形式として、サーバー側に用意する統計情報記憶部２７bに記憶することができる。

そして、上記のように統計情報作成部２１が作成し、統計情報記憶部２７bに記憶される統計情報は、サーバー通信部２３により機器へ送信される。

以下、本実施形態の保守システムにおける機器のブロックダイアグラム（図１４）を参照して機器の動作について説明する。機器通信部２４は、サーバーから送信される統計情報を受信し、統計情報記憶部２７aに記憶する。そして、テストスケジュール決定部１００は、第一の実施形態と同様に、統計情報、使用状況データ、テスト結果データ、確率・コストデータ、許容コストを基にテストスケジュールを決定する。

上記のように、テストスケジュール決定部１００がテストスケジュールを決定すると、テスト実施部３２は、テストプログラム記憶部２８が予め記憶している各テスト項目を実施する際のテストプログラムに基づいて、それぞれの被測定部１に対してテストスケジュールを実施し、同時に測定部２を制御する。そして、テストスケジュール実施に伴い、測定部２６が測定することにより得られるテスト結果はテスト結果・使用状況記憶部２９に記憶される。このとき、テスト結果は表示部３３に表示することができる。また、使用状況及びテスト結果は、機器通信部２４によりサーバーへ送信される。

なお、ここではサーバー通信部２３及び機器通信部２４は、それぞれ単体で受信及び送信の機能を有するものとして扱っているが、これらはそれぞれ送信部及び受信部から構成されるものであってもよい。

（第三の実施形態）
本実施形態の保守システムの特徴は、第一の実施形態の構成に加えて、図１５に示すようにコントロール情報を作成するコントロール情報作成部４１と、その情報を記憶するコントロール情報記憶部４２と、機器の保証期間を記憶する保証期間記憶部４３とをさらに備えている点にある。機器の状況によっては、第一、第二の実施形態のように、統計情報を基にテストスケジュール作成部５０が作成するテストスケジュールではなく、状況に応じて作成されるテストスケジュールに沿ってテスト項目を実施する方が有効である場合がある。

そこで、本実施形態では、テスト実施部５１に対して機器の状況に応じたテストスケジュールを指定するためのコントロール情報を用いたテストスケジュール実施を可能とする。コントロール情報とは、表８に示すテストスケジュール内容を意味するパラメータ値と、必要に応じてテストスケジュールに含むテスト番号とを対応付けした情報である。そして、コントロール情報のパラメータ値が０（指定なし）以外の場合には、テスト実施部５１は、テストスケジュール作成部５０が作成するテストスケジュールではなく、コントロール情報を優先させたテストスケジュール実施を行う。

以下、本実施形態の動作について説明する。

保証期間記憶部４３は、機器の保証期間を記憶している。

本実施形態では、コントロール情報作成部４１は、保証期間記憶部４３の記憶する保証期間（保証情報）に基づき、保証期間最終日の所定の日数前（例えば１週間前）になるとコントロール情報のパラメータ値を１（全テスト実施）にセットして、コントロール情報記憶部４２に格納する。なお、ここでは保証期間記憶部４３は保証期間を記憶するとしたが、保証期限を記憶することも可能である。

テストスケジュール決定部１００は上記のコントロール情報記憶部４２からコントロール情報を受け取り、指定されているテストスケジュールを決定する。

上記のようにテストスケジュールが決定されると、第一、第二の実施形態と同様に、テスト実施部５１は、テストプログラム記憶部４７が予め記憶している各テスト項目を実施する際のテストプログラムに基づいて、それぞれの被測定部１に対してテストスケジュールを実施し、同時に測定部２を制御する。そして、テストスケジュール実施に伴い、測定部４５が測定することにより得られるテスト結果はテスト結果・使用状況記憶部４８に記憶される。このとき、テスト結果は表示部５２に表示することができる。さらに、コントロール情報作成部４１は、コントロール情報記憶部４２のパラメータ値を１から０に変更する。

また、保証期間最終日が近づいた場合以外にも、機器の運用開始から所定の期間が経過した際には、パラメータ値２にセットすることで異常発生率の高いテスト項目に絞った実施を行うことも可能である。さらに、パラメータ値を３にセットすることで、例えば電池などの特定の被測定部を対象としたテスト項目を実施することも可能である。

本実施形態では第一の実施形態に沿って説明を行ったが、第二の実施形態のようにサーバーと機器が分かれている保守システムにおいても適用することができる。そして、その際には、全ての機器の保証期間情報を記憶する保証期間記憶部をサーバー側に備え、その保証期間情報に基づいて、サーバー通信部はそれぞれの機器に対応するコントロール情報をそれぞれの機器に対して送信することができる。

以上説明した少なくとも１つの実施形態の保守システムによれば、診断自体が機器に与える負荷を考慮した、効率的なテスト項目の実施を可能とするテストスケジュールを作成することが可能となる。

これら実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、様々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同時に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１、２５、４４・・・被測定部
２、２６、４５・・・測定部
３、２７a、２７b、４６・・・統計情報記憶部
４、２８、４７・・・テストプログラム記憶部
５、２９、４８・・・テスト結果・使用状況記憶部
６、３０、４９・・・確率算出部
７、３１、５０・・・テストスケジュール作成部
８、３２、５１・・・テスト実施部
９、３３、５２・・・表示部
１０、３４・・・コスト記憶部
１１・・・確率・コストデータ作成部
１２・・・確率・コストデータ記憶部
２１・・・統計情報作成部
２２・・・機器情報記憶部
２３・・・サーバー通信部
２４・・・機器通信部
４１・・・コントロール情報作成部
４２・・・コントロール情報記憶部
４３・・・保証期間記憶部
１００・・・テストスケジュール決定部

Claims (11)

1. 複数の被測定部と、
   定期的に前記被測定部の使用状況を測定するとともに、任意のタイミングに所定のテストスケジュールに沿って前記被測定部の各々に対して実施されるテスト項目を測定してテスト結果を得る測定部と、
   前記使用状況と、前記テスト結果とを記憶する第一の記憶部と、
   前記使用状況と、前記テスト結果とを統計的に関係付ける統計情報を記憶する第二の記憶部と、
   前記第一の記憶部が記憶する前記使用状況を基に、前記被測定部の負荷を評価する、直近の評価値と、過去のテスト時の評価値とを算出し、前記第二の記憶部が記憶する前記統計情報と、前記直近の評価値と、前記過去のテスト時の評価値とから前記テスト項目毎に不合格確率を算出する確率算出部と、
   前記不合格確率を基に、新たなテストスケジュールを作成するテストスケジュール作成部と、
   を備える保守システム。
2. 前記テスト項目毎のコスト及び機器の許容コストを記憶する第三の記憶部をさらに備え、前記テストスケジュール作成部は、前記コストの合計が前記許容コスト以内となる前記テスト項目の組み合わせの中から、前記不合格確率の合計が最大となる組み合わせを選択し、テストスケジュールを作成する請求項１記載の保守システム。
3. 前記テスト項目毎のコスト及び機器の許容コストを記憶する第三の記憶部をさらに備え、前記テストスケジュール作成部は、前記不合格確率が所定の閾値以上であるテスト項目を対象にして、前記コストの合計が前記許容コスト以内となる前記テスト項目の組み合わせの中から、前記不合格確率の合計が最大となる組み合わせを選択し、テストスケジュールを作成する請求項１記載の保守システム。
4. 前記テストスケジュール作成部が作成するテストスケジュールに沿ってテスト項目を実施するテスト実施部をさらに備える請求項１乃至３いずれか１項に記載の保守システム。
5. 前記テスト実施部が実施するテスト項目毎のテスト結果を表示する表示部をさらに備える請求項４記載の保守システム。
6. 前記テスト実施部に対して所定のテストスケジュールを指定するためのコントロール情報を記憶する第四の記憶部をさらに備え、前記テスト実施部は、前記コントロール情報が指定するテストスケジュールを実施する請求項４または５記載の保守システム。
7. 前記コントロール情報は、全テスト項目を実施する、あるいは前記不合格確率が所定の閾値以上の全テスト項目を実施することを指定する請求項６記載の保守システム。
8. 機器の保証情報を記憶する第五の記憶部をさらに備え、前記保証期間最終日の所定の期間内になったとき、前記テスト実施部は、前記コントロール情報が指定するテストスケジュールを実施する請求項６または７記載の保守システム。
9. サーバーから前記統計情報を受信する第一の通信部と、サーバーへ前記使用状況と、前記テスト結果とを送信する第二の通信部とをさらに備え、前記第二の記憶部は前記第一の通信部が受信する統計情報を記憶する請求項１乃至８いずれか１項に記載の保守システム。
10. 各々が複数の被測定部を有する複数の機器から、使用状況と、前記被測定部の各々に対して実施されるテスト項目のテスト結果とを受信する第一の通信部と、
    前記第一の通信部が受信する前記使用状況と、前記テスト結果とを記憶する機器情報記憶部と、
    前記機器情報記憶部が記憶する前記使用状況と、前記テスト結果とから統計情報を作成する統計情報作成部と、
    前記複数の機器へ前記統計情報を送信する第二の通信部と、
    を備える保守システム。
11. 演算処理部を有する保守システムによる保守方法であって、
    前記演算処理部が、使用状況と、テスト結果とから統計情報を作成するステップと、
    前記演算処理部が、前記使用状況を基に、直近の評価値と、過去の評価値とを算出するステップと、
    前記演算処理部が、前記統計情報と、前記直近の評価値と、前記過去の評価値とからテスト項目毎に不合格確率を算出するステップと、
    前記演算処理部が、前記不合格確率を基にテストスケジュールを作成するステップと、
    を有する保守方法。

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