JP5112600B2 - 版の表面上の投影点間の距離を求める方法 - Google Patents
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Description
第1のパターンが第1の画像付けビームによって、版上の、第1の画像付けビームの第1の投影点の座標系位置に、版の表面上に広がる方向の少なくとも1つの方向に画像付けされる。第1のパターンの少なくとも一部を照明する光の反射された強度が測定ビームによって、測定装置の測定点の座標系位置で測定される。前記の測定された、反射された光の強度に関する情報を利用して、測定点の、前記座標系における位置が求められる。測定装置の測定点の少なくとも1つの座標系位置と、2番目のステップで第1のパターンの測定される一部が書き込まれたときに第1の画像付けビームが存在していた、第1の画像付けビームの第1の投影点の座標系位置との差が求められる。本発明の関連において、測定点は測定ビームの投影点であり、そのように呼ぶこともできることはすぐにわかる。
12 版
14 版胴
16 印刷ユニット
17 印刷機
18 回転軸
20 第1の画像付け装置
22 第1の画像付けビーム
24 第1の投影点
26 測定装置
27 測定光線
28 測定点
30 経路
32 第2の画像付け装置
34 第2の画像付けビーム
36 第2の画像付けビーム
38 第1の方向
40 第2の方向
42 リニアアクチュエータ
44 距離測定システム
46 角度エンコーダ
48 制御ユニット
50 距離
52 距離
54 距離
64 軸
66 軸
84 画像付けパターン
86 画像付けパターン
88 測定トラック
90 周期性
Claims (16)
- 版(12)の表面(10)上の、測定装置(26)の測定点(28)から、画像付け装置(20)の第1の画像付けビーム(22)の第1の投影点(24)までの距離(50)を求める方法であって、前記第1の画像付けビーム(22)の前記第1の投影点(24)と、前記測定装置(26)の前記測定点(28)はいずれも前記版(12)の前記表面(10)に対して相対的に動くことができ、前記版(12)の前記表面(10)における前記第1の投影点(24)の位置および前記測定点(28)の位置の、固定点、すなわち制御されるリニアアクチュエータ(42)の座標系のゼロ点に対する相対的な位置を求めることができる、測定点から投影点までの距離を求める方法において、
第1のパターン(84)を前記第1の画像付けビーム(22)によって、前記版(12)上の、前記第1の画像付けビーム(22)の前記第1の投影点(24)の、前記座標系における位置に、前記版(12)の前記表面(10)上に広がる方向(38,40)の少なくとも1つの方向に画像付けするステップaと、
前記第1のパターン(84)の少なくとも一部を照明する光の反射された強度を測定ビーム(27)によって、前記測定装置(26)の前記測定点(28)の、前記座標系における位置で測定するステップbと、
前記の測定された、反射された光の強度に関する情報を利用して、前記測定点(28)の、前記座標系における位置を求めるステップdと、
前記測定装置(26)の前記測定点(28)の少なくとも1つの、前記座標系における位置と、前記ステップaにおいて前記第1のパターン(84)の測定される一部が書き込まれたときに前記第1の画像付けビーム(22)が存在していた、前記第1の画像付けビーム(22)の前記第1の投影点(24)の、前記座標系における位置との差を求めるステップcと、
を有することを特徴とする、測定点から投影点までの距離を求める方法。 - 光の反射が測定される前に、前記の画像付けされた版(12)に印刷インキを着色する、請求項1に記載の測定点から投影点までの距離を求める方法。
- 前記第1のパターン(84)での画像付けを、前記版(12)の前記表面(10)を広がる2つの一次の独立した方向(38,40)に行ない、前記の距離を求めることを両方の一次の独立した方向(38,40)に行なう、請求項1または2に記載の測定点から投影点までの距離を求める方法。
- 前記測定装置(26)が三角測量センサである、請求項1から3までのいずれか1項に記載の測定点から投影点までの距離を求める方法。
- 前記版(12)の前記表面(10)が回転体の外套の少なくとも一部を形成している、請求項1から4までのいずれか1項に記載の測定点から投影点までの距離を求める方法において、
円周方向に位置を求めるために角度エンコーダ(46)を用い、前記回転体の軸(18)と実質的に平行な並進方向に位置を求めるために距離測定システム(44)を用いる、測定点から投影点までの距離を求める方法。 - 前記の反射された強度の測定を測定ラスタ(56)で行ない、前記測定ラスタ(56)の軸方向(58,60)は前記画像付けパターン(84)の少なくとも1つの方向に対して一次独立である、請求項1から5までのいずれか1項に記載の測定点から投影点までの距離を求める方法。
- 前記の反射された強度の測定を、前記画像付けパターン(84)よりも目の細かい測定ラスタ(56)で行なう、請求項1から6までのいずれか1項に記載の測定点から投影点までの距離を求める方法。
- 前記画像付けパターン(84)が少なくとも1つの方向(38,40)に周期性(90)を有している、請求項1から7までのいずれか1項に記載の測定点から投影点までの距離を求める方法。
- 測定装置(26)の測定点(28)を用いて、版(12)の表面(10)における、第2の画像付け装置(32)の第2の画像付けビーム(34)の第2の投影点(36)から、第1の画像付け装置(20)の第1の画像付けビーム(22)の第1の投影点(24)までの距離(54)を求める方法であって、前記第1および前記第2の投影点(24、36)の位置と、前記版(12)の前記表面(10)における測定点(28)の、固定点、すなわち制御されるリニアアクチュエータ(40)の座標系のゼロ点に対する相対的な位置を求めることができる、第2の投影点から第1の投影点までの距離を求める方法において、
第1のパターン(84)を前記第1の画像付けビーム(22)によって、前記版(12)上の、前記第1の画像付けビーム(22)の前記第1の投影点(24)の、前記座標系の位置に、前記版(12)の前記表面(10)上に広がる方向(38,40)の少なくとも1つの方向に画像付けし、
第2のパターン(86)を前記第2の画像付けビーム(34)によって、前記版(12)上の、前記第2の画像付けビーム(34)の前記第2の投影点(36)の、前記座標系の位置に、前記版(12)の前記表面(10)上に広がる、少なくとも1つの方向(38,40)に画像付けし、
前記第1のパターン(84)の少なくとも一部を照明する光の反射された強度を測定ビーム(27)によって、前記測定装置(26)の前記測定点(28)の、前記座標系の位置で測定し、
前記第2のパターン(86)の少なくとも一部を照明する光の反射された強度を測定ビーム(27)によって、前記測定装置(26)の前記測定点(28)の、前記座標系の位置で測定し、
前記の測定された、前記第1のパターン(84)で反射された光の強度に関する情報を利用して、前記測定点(28)の、前記座標系における位置を求め、
前記の測定された、前記第2のパターン(86)で反射された光の強度に関する情報を利用して、前記測定点(28)の、前記座標系における位置を求め、
前記第2のパターン(86)における前記測定装置(26)の前記測定点(28)の少なくとも1つの、前記座標系の位置と、前記第1のパターン(84)における前記測定装置(26)の前記測定点(28)の、前記座標系の相関づけられた位置との差を求める、
ことを特徴とする、第2の投影点から第1の投影点までの距離を求める方法。 - 版(12)の表面(10)における、第2の画像付け装置(32)の第2の画像付けビーム(34)の第2の投影点(36)から、第1の画像付け装置(20)の第1の画像付けビーム(22)の第1の投影点(24)までの距離(54)を求める方法において、
前記版(12)の前記表面(10)上の、測定装置(26)の測定点(28)から、前記第1の画像付けビーム(22)の前記第1の投影点(24)までの距離(50)を、請求項1から8のいずれか1項に記載の方法によって求め、
前記版(12)の前記表面(10)上の、前記測定装置(26)の測定点(28)から、前記第2の画像付けビーム(34)の前記第2の投影点(36)までの距離(52)を、請求項1から8において、画像付け装置(20)、第1の画像付けビーム(22)、第1の投影点(24)、距離(50)、第1のパターン(84)をそれぞれ画像付け装置(32)、第2の画像付けビーム(34)、第2の投影点(36)、距離(52)、第2のパターン(86)に置き換えることによって、請求項1から8のいずれか1項に記載の方法によって求め、
前記測定装置(26)の少なくとも1つの位置と前記第1の画像付けビーム(22)の位置の差と、前記測定装置(26)の少なくとも1つの位置と前記第2の画像付けビーム(34)の位置の差との合計を求める
ことを特徴とする、第2の投影点から第1の投影点までの距離を求める方法。 - 前記第1の画像付け装置(20)と前記第2の画像付け装置(32)が同一である、請求項9に記載の第2の投影点から第1の投影点までの距離を求める方法。
- 前記第1の画像付けビーム(22)によって画像付けされた前記第1のパターン(84)と、前記第2の画像付けビーム(34)によって画像付けされた前記第2のパターン(86)が、少なくとも部分的に互いに重なり、もしくは互いに交差している、請求項9または10に記載の第2の投影点から第1の投影点までの距離を求める方法。
- 第1の作動時点から第2の作動時点まで、版(12)の表面(10)に第1の投影点(24)を生成可能である第1の画像付け装置(20)の第1の画像付けビーム(22)の時間的な作動を修正する方法において、
第1の投影点(24)の、測定点(28)まで、または第2の投影点(36)までの距離(50,54)を、請求項1から12のいずれか1項に記載の方法によって求め、このとき、前記画像付けビーム(22)は画像付けのために前記第1の作動時点で発せられ、
請求項1から12のいずれか1項に記載の方法によって求められた距離と目標距離との差を求め、
前記第1の作動時点と、前記の、請求項1から12のいずれか1項に記載の方法によって求められた距離の向きにおける前記第1の画像付けビーム(22)の前記第1の投影点と前記版(12)の前記表面(10)の相対速度を考慮したうえで、前記の求められた差を前記版(12)の前記表面(10)上の第1の投影点(24)が移動するのに必要な時間との合計として、前記第2の作動時点を求める
ことを特徴とする、画像付けビームの時間的な作動を修正する方法。 - 第1の作動時点から第2の作動時点まで、版(12)の表面(10)に測定点(28)を生成可能である測定装置(26)の測定ビーム(27)の時間的な作動を修正する方法において、
第1の投影点(24)までの前記測定点(28)の距離(50)を、請求項1から8のいずれか1項に記載の方法によって求め、このとき、前記測定点(28)で前記第1の作動時点に測定が行われ、
前記の、請求項1から8のいずれか1項に記載の方法によって求められた距離と目標距離との差を求め、
前記第1の作動時点と、前記の、請求項1から8のいずれか1項に記載の方法によって求められた距離の向きにおける前記測定ビーム(27)の前記測定点(28)と前記版(12)の前記表面(10)の相対速度を考慮したうえで、前記の求められた差を前記第1の投影点(24)が移動するのに必要な時間との合計として、前記第2の作動時点を求める
ことを特徴とする、測定ビームの時間的な作動を修正する方法。 - 少なくとも1つの第1の画像付け装置(20)と、測定装置(26)と、少なくとも1つの制御ユニット(48)とを備える印刷ユニットにおいて、
前記制御ユニット(48)が、請求項1から12までのいずれか1項に記載の方法で距離を求めるための、または請求項13または14に記載の方法で時間的な作動を修正するためのコンピュータプログラムが格納された記憶装置を備える電子装置を含んでいることを特徴とする印刷ユニット。 - 印刷機(17)において、
請求項15に記載の印刷ユニット(16)を少なくとも1つ備えていることを特徴とする印刷機。
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