JP5112600B2 - 版の表面上の投影点間の距離を求める方法 - Google Patents

版の表面上の投影点間の距離を求める方法 Download PDF

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Description

本発明は、第1の画像付けビームの投影点と、測定装置の測定点はいずれも版の表面に対して相対的に動くことができ、版の表面に対する画像付けビームの位置と測定点の、固定点に対する相対的位置を求めることができる、版の表面上の、測定装置の測定点から、版の表面上の、画像付け装置の第1の画像付けビームの投影点までの距離を求める方法に関する。さらに、本発明は、版の表面上の、第2の画像付け装置の第2の画像付けビームの第2の投影点から、版の表面上の、第1の画像付け装置の第1の画像付けビームの第1の投影点までの距離を求める方法に関する。
版露光器においてであれ、ダイレクト製版印刷ユニット(Direktbebilderungsdruckwerk)においてであれ、画像付けビーム、特にレーザ光線を使って版に画像付けするには、画像付けビームの投影点の位置に所望の大きさの印刷点を生成するために、画像付けビームの然るべき画像付けパラメータが設定されるように、画像付け装置の画像付けビーム光源と、版の表面との距離が十分な精度でわかっていなければならない。1つの重要な方策は、測定装置を用いて、画像付け装置と版の表面との距離を直接求めることである。このようにして得られた測定値は、一方では、たとえば結像光学系のためのオートフォーカスシステムで、画像付け装置から表面までの光学経路を変えるために処理することができ、また他方では、画像付け装置の制御ユニットで、たとえば画像付け光の所要の強度といった光源の特定のパラメータを選択するために処理することができる。このときの測定装置の測定点は、一般に、測定をする時点で必ずしも画像付けビームの投影点の位置にあるわけではなく、むしろ、画像付け装置が版の表面に対して相対的に(通常は一様に)運動した後の時点で初めて、投影点が測定点の位置に達する。投影点が、測定の時点における測定点の位置に達した時点で、画像付けビームの作動が実際に正確に行われるようにするために、相対速度が既知である(一様である)とき、測定の時点における測定点から投影点までの距離を正確に知ることが必要である。版が回転体の外面に均等に載っていない(たとえばいわゆるプレートバブル)、特に版胴である回転体の上の版の表面の区域では、画像付けの結果が、正確な作動時点からの誤差によって特別に敏感に影響をうける。
版の表面に完全な画像付けをする時間を短くするために、複数の画像付けビームが、時間的および空間的に並行して印刷点を書き込むために用いられることが多い。これらの画像付けビームは個別に、またはグループごとに、1つまたは複数の画像付け装置に配置されていてよい。あたかもただ1つの画像付けビームで生成されたかのように、印刷点が互いに同一の位置を有している印刷画像を複数の画像付けビームによって生成するためには、それぞれの画像付けビームの投影点の距離がある時点で正確にわかっていなければならず、そうすれば、速度が既知である(一様である)とき、場合によっては画像付けビームを遅らせて作動させたり優先して作動させることによって、印刷点の位置を変えることができる。それにより、作動が一定不変である場合に発生する、印刷画像中のずれ、欠落、重なり合い等を補償することができる。
上述した問題に対処する、あるいは全面的に回避する、1つの明白な方法は、特に画像付け装置に組み込まれる画像付け装置と距離測定装置の組立または製造のとき、測定装置の測定時における画像付けビームの投影点の距離、または複数の画像付けビームの複数の投影点の複数の距離を、較正測定ですでに求めておくことである。同様に、複数の画像付け装置を、多くの場合共通のリニアアクチュエータ技術によって1つの画像付けユニットに組み立てるときに、較正を行うことができる。精密測定と、これに続く電子的(作動時点)または機械的(位置変更)な修正は、オプティカルベンチ(optischen Bank)とビーム測定機器を使って行うことができる。その欠点は、このような手法は比較的高いコストがかかり、一般に、特に顧客のもとで、印刷ユニットに内蔵されている画像付け装置を調節するのには用いることができないことであり、すなわち、オプティカルベンチとは条件が異なる状況では用いることができない。しかも、納品前に1回だけ行われる調整は、運転時間が経過していくうちに初めて発生する老化、温度等の考えられる影響要因を考慮することができない。
顧客のもとでの考えられる適用を可能にする一連の解決策が、すでに公知となっている。たとえば、ドイツ特許出願番号10203694.2には、第1および第2の画像付け装置の互いの相対位置を求める方法が記載されており、この方法では、両画像付け装置によって画像付けされる一連の組合せパターンの絵柄面積率(Flaechendeckung)が、一方の画像付け装置によって画像付けされる参照パターンの絵柄面積率と比較される。この比較は、印刷された被印刷体で行うのが好ましい。参照パターンと同じ絵柄面積率をもつ同定された組合せパターンが、目標距離からの誤差に一義的に割り当てられる。
たとえば特許文献1より、レーザビームの偏向の制御部の較正を次のようにして行えることが公知である。すなわち、レーザビームによって、テスト画像を生成するための感光性媒体を照射し、次いで、このテスト画像から、CNC制御カメラで撮影されたデジタル化された画像断片を作成する。レーザビームの偏向を制御するための修正データの計算は、所定の目標位置と、画像断片の撮影によって測定されたレーザビームの実際位置との比較を土台として行われる。このような方法を採用する場合、他の理由に加えて、コストがかかる、カメラの精密なCNC制御を利用する必要があることが欠点となる。
特許文献2には、所定のマーキングがある表面が、走査されるビームによってマーキングが検出されたときに検出装置が信号を生成できるように走査される、ビーム走査装置を較正する装置と方法が記載されている。検出器信号と相応の目標位置との比較によって、ビーム偏向の修正信号を生成することができる。
インクジェットプリンタのカートリッジを自動的に位置揃えする装置および方法も、これと関連している。たとえば、特許文献3には、4クワドラントダイオード(Vierquadrantendiode)を備える光学センサを、インクジェットプリンタのキャリッジに取り付けることができることが記載されている。この光学センサによって、テスト手順のときにインクジェットで印刷される水平方向と垂直方向のテストラインの位置を求めることができ、それにより、目標位置に対する修正を、特にカートリッジの位置修正として機械で行うことができる。
ドイツ特許出願公開明細書4437284A1 ドイツ特許出願公開明細書19732668A1 欧州特許出願公開明細書0540244A2
前述したそれぞれの手法は、その技術的教示をそのまま用いることによっては、印刷ユニットで版の画像付けをする装置に用いることはできない。
本発明の目的は、特に印刷機の印刷ユニットに取り付けられている版の表面での、距離センサの位置に対して相対的な、または他の画像付け位置に対して相対的な、画像付け位置の位置を、簡単なやり方で求めることができ、それにより、画像付け装置の制御ユニットによって自動的な位置補正を行うことができる方法を提供することである。
この目的は、本発明によれば、請求項1に記載の特徴を備える、版の表面上の測定点から投影点までの距離を求める方法によって達成される。本発明の有利な発展例は、従属請求項および他の独立請求項に記載されている。
本発明の根底にある思想は、特に、特に投影点の位置補正を行えるようにするために、画像付け装置と版の表面との間の距離測定に必要な測定装置を、版の表面の投影点の距離を求めるためにも利用するという点にある。版の表面の画像付けされている領域の反射能は、表面の画像付けされていない領域の反射能と異なっているという事実が利用される。
本発明によれば、第1の画像付けビームの投影点と、測定装置の測定点はいずれも、特に印刷機の印刷ユニットに取り付けられた版の表面に対して相対的に動くことができ、版の表面に対する画像付けビームの位置と測定点の位置を、たとえば制御されるアクチュエータのゼロ点または座標系の原点である固定点に対して相対的に求めることができる、版の表面における、測定装置の測定点から、版の表面における、画像付け装置の第1の画像付けビームまでの投影点の距離を求める方法は次の各ステップを含んでいる。すなわち、
第1のパターンが第1の画像付けビームによって、版上の、第1の画像付けビームの第1の投影点の座標系位置に、版の表面上に広がる方向の少なくとも1つの方向に画像付けされる。第1のパターンの少なくとも一部を照明する光の反射された強度が測定ビームによって、測定装置の測定点の座標系位置で測定される。前記の測定された、反射された光の強度に関する情報を利用して、測定点の、前記座標系における位置が求められる。測定装置の測定点の少なくとも1つの座標系位置と、2番目のステップで第1のパターンの測定される一部が書き込まれたときに第1の画像付けビームが存在していた、第1の画像付けビームの第1の投影点の座標系位置との差が求められる。本発明の関連において、測定点は測定ビームの投影点であり、そのように呼ぶこともできることはすぐにわかる。
換言すれば、距離を求めることは、固定点に対する、版の表面を通って広がる方向での少なくとも1つの座標の差の測定に基づいて行われる。パターンの特定の部分、特に特定の画点が、第1の画像付けビームによって、画像付け装置が第1の位置座標にある位置に付けられる。パターンのこの特定の部分が、画像付け装置が第2の位置座標にあるときに、測定ビームによって検出される。これらの位置座標の差が、求める距離を表している。
本発明の関連で着目する距離には正負記号が付いており、すなわち正でも負でもあり得ることは、当業者ならばすぐにわかる。換言すると、各々の方向にそれぞれ向きも付け加わるので、距離は、その方向と同一方向(正)に向いている場合と、反対方向(負)に向いている場合とがある。ある種の状況では、距離の値だけを問題にすればよいが、画像付けビームの位置と測定装置の位置との間の区間が特定の方向に走査され、その結果、向きすなわち正負記号が定義されることが多い。
本発明の関連で使われるパターンに関して付言しておくと、パターンには、まず位相情報(topologische Information)が含まれている。パターンは位相を有している。換言すると、パターンの幾何学的な実施形態、すなわちたとえばパターンの長さ(並進および/または回転)、パターンのスケーリング、相似変換によるパターンの歪み、たとえばずれや準同形などには関わりなく、パターンの各々の点は、パターンの隣接する点と関連しており、各々の点には、周囲の隣接する点が割り当てられる。パターンは、空間的に(版の表面で)異なる強度分布によって表される。パターンの表現は、画像付けビームの位置によって決まる。幾何学情報は、画像付けビームの位置に応じて、または画像付けビームの位置の関数で、パターンの点の位置に含まれている。パターンは、特に、線形パターン、符号化された線形パターン、格子パターン、符号化された格子パターン等であってよい。
1つまたは複数の画像付け装置によって、版の二次元の表面に画像付けするために、適切なアクチュエータ装置により、表面と1つまたは複数の画像付け装置との相対運動が生成されることによって、面を通って延びる2つの一次の独立した座標方向に表面が走査される。通常、走査は、いわゆる高速の走査方向(たとえば回転体に張り渡された版の外周面向)と、いわゆる低速の走査方向(たとえば回転体の軸と実質的に平行な方向)とに、1つまたは複数の画像付け装置が、厳密には複数の画像付けビームが、表面の画像付けされるべきすべての点を通過する(ueberstreichen)ように行われる。この場合、画像付けビームは、赤外スペクトル領域、可視スペクトル領域、紫外スペクトル領域のいずれであるかを問わない光線、特にレーザ光線、熱パルス、噴出ガス、化学物質の液滴などであってよい。画像付けモジュールとも呼ばれる画像付け装置は、1つまたは複数の画像付けビームを有していることができる。ここでいう版とは、印刷版、いわゆる版前駆体(Druckformvorlaeufer)、フィルムなども意味している。グラフィック産業で画像付け媒体を画像付けするには、版露光器での印刷前段階(Druckvorstufe)においてであれ、印刷機での印刷段階においてであれ(オンプレス製版またはダイレクト製版印刷ユニット)、画像付け装置の直線状のレーザ光源、特に赤外線レーザ光源が特に広く普及している。レーザ光源はしばしばダイオードレーザまたは固体レーザであり、特にダイオードレーザポンピングされる、たとえばTi:サファイアやNd:YLFからなる増幅媒体を備えるレーザである。複数のレーザ光源は、画像付け装置の内部の、1つまたは複数の組み合わされたダイオードレーザバーに設けられていてよい。それぞれの画像付けビームは個別に制御可能であるのが好ましい。
画像付け装置は、1つの画像付けビーム、または1グループの画像付けビームを含んでいることができる。複数の画像付け装置は1つのブロックに統合されていてよい。版の表面に画像付けまたは文字付けするために、画像付けビームがオン・オフされる(時間的な作動)。本発明の関連で、時間的な作動(Ausloesung)または作動時点という言葉を用いるときは、これに匹敵する時点、たとえばスイッチオンの時点を意味している。選択された画像付け方法に応じて、少なくとも1つの画像付けビームがオンになっている間に、投影点と表面との間の相対運動が行われたり、行われなかったりする。画像付けまたは文字付けされた版を使って、画像を被印刷体に転移することができる。通常の被印刷体は、シートであるかウェブであるかを問わず、紙、板紙、有機ポリマーフィルム等である。
測定点から投影点までの距離を求める本発明の方法の有利な実施態様では、追加のステップとして、光の反射が測定される前に、画像付けされた版に印刷インキが着色される。印刷インキにより、表面に画像付けされている領域と、画像付けされていない領域とのコントラストを向上させることができるという利点がある。
本発明による方法の論理上必然な構成では、第1のパターンでの画像付けを、版の表面を通って広がる一次独立の、特に直交する2つの方向に行うことができる。つまり第1のパターンは、2つの一次独立の方向に延びるように作成されていてよい。したがって、パターンは面状に作成されていてよい。距離を求めることは、両方の一次独立の方向で行うことができる。換言すると、両方の一次独立の、特に直交する方向へ投影された距離を求めることができる。
本発明による方法の有利な実施態様では、測定装置は三角測量センサである。三角測量センサはレーザ光源、特にレーザダイオードと、結像光学系と、面状またはライン状の画像センサ(面状またはライン状に配置された複数の画像センサでもよい)とを含んでいる。面状またはライン状の画像センサの有利な実施形態は、CCD検出器(特に、たとえば2D−CCDアレイやCCDライン)、PSD検出器、CMOS検出器等である。有利な三角測量センサは、反射されたビームの位置変位を検出するだけでなく、全体として面状またはライン状の画像センサに入射する光出力の大きさも検出する電子装置を具体化する。このような情報は、信号強度が得られる状態に保たれるように、レーザ光源の出力を調節するのに用いることができる。たとえば、それによってレーザ光源の劣化を発見し、出力を高めることを通じて、特に電気的なポンプ出力(Pumpleistung)を高めることによって、こうした劣化を補償することができる。それにより、検出されるべき表面での反射の変化も同じく補償される。
版の表面が回転体の外套の少なくとも一部を形成し、特に、版が版胴に載っており、あるいは版胴の表面を形成している、測定点から投影点までの距離を求める本発明の方法を適用するときは、円周方向に位置決めをするには角度エンコーダを用い、特に版胴である回転体の軸と実質的に平行な並進方向に位置決めをするには距離測定システムを用いるのが好ましい。並進のためのアクチュエータが、1つまたは複数の(それぞれ回転子の部分を備える)ステップモータによって具体化されているときは、距離測定システムは、ステップモータに対する制御信号に基づいて働くように構成されていてよい。換言すると、1つまたは複数のステップモータの制御信号の対応関係を基にして、1つまたは複数の回転子部分の位置が推定される。場合により存在しているシステム上のエラーを考慮または除去できるようにするために、場合によっては、1つの方向について、距離の第1の向きでの測定と第2の向きでの測定を(往復の経路で)両方とも実行するのがステップモータにとって有意義である。これに代えて、アクチュエータの実施形態に関わりなく、センサによる光学的な位置検出が意図されていてもよい。
本発明の方法では、測定の感度を向上させる一連の方策を講じることができる。1つの実施態様では、反射された強度を測定ラスタで測定することができ、この場合、測定ラスタの軸方向は、画像付けパターンの少なくとも1つの方向に対して一次独立である。換言すると、画像付けパターンと測定ラスタは互いに角度をなして、または互いに回転した状態で、または互いに傾いた状態で位置している。これに加えて、またはこれに代えて、反射された強度の測定は、画像付けパターンよりも目の細かい測定ラスタで行うことができる。この方策は、特に、所望の精度に比べて広がりが広い測定点について有意義である。多数の測定値を記録し、引き続いて、広い測定点を特徴とする窓関数(Fensterfunktion)で展開をすれば、画像付けパターンの細かい推移を求めることができる。これに加えて、またはこれに代えて、画像付けパターンは少なくとも1つの方向に周期性を有していてよい。周期性により、画像付けパターンが比較可能な多数の点を含むことになるので、これらの比較可能な点について測定結果の平均をとったり、統計的評価を行うことができる。
本発明による方法の有利な発展態様は、版の表面における、第2の画像付け装置の第2の画像付けビームの第2の投影点から、版の表面における、第1の画像付け装置の第1の画像付けビームの第1の投影点までの距離を測定装置の測定点を用いて求める方法であって、次の各ステップを備えている方法に通じる。すなわち、第1のパターンが、第1の画像付けビームの位置の関数で、または第1の画像付けビームの位置に応じて、第1の画像付けビームによって、版の表面を通って広がる少なくとも1つの方向に版上に画像付けされる。第2のパターンが、第2の画像付けビームの位置の関数で、または第2の画像付けビームの位置に応じて、第2の画像付けビームにより、版の表面を通って広がる少なくとも1つの方向に版上に画像付けされる。第1のパターンの少なくとも一部を照明する光の反射された強度が、測定装置の位置の関数で、または測定装置の位置に応じて、測定される。第2のパターンの少なくとも一部を照明する光の反射された強度が、測定装置の位置の関数で測定される。最後に、第2のパターンにおける測定点に関する測定装置の少なくとも1つの位置と、第1のパターンにおける測定点に関する測定装置の相関づけられた位置との差を求める。このとき、第1および第2の画像付けビームの同じ作動時点で書き込まれた、第1および第2のパターンの各投影点の位置が相関関係にある。本発明によるこの方法では、絶対的な測定地点、すなわち測定点の絶対的な座標を知る必要がないという利点がある。換言すれば、これは直接的な距離測定である。
これに代えて、本発明による方法の有利な発展態様は、版の表面における、第2の画像付け装置の第2の画像付けビームの第2の投影点から、版の表面における、第1の画像付け装置の第1の画像付けビームの第1の投影点までの距離を求める方法であって、次の各ステップを備えている方法に通じる。すなわち、版の表面における測定装置の測定点から、版の表面における第1の画像付け装置の第1の画像付けビームの第1の投影点までの距離が、本明細書で説明した本発明の方法によって求める。版の表面における、測定装置の測定点から、版の表面における、第2の画像付け装置の第2の画像付けビームの第2の投影点までの距離も、本明細書で説明した本発明の方法によって求められる。最後に、測定装置の少なくとも1つの位置と第1の画像付けビームの位置の差と、測定装置の少なくとも1つの位置と第2の画像付けビームの位置の差との合計を求め、この合計が、求めるべき距離を表している。
換言すると、固定点に対する、スパン方向の少なくとも1つの座標の2つの差測定に基づいて、距離が求められる。測定点から投影点までの距離の正負記号のついた差が、求める距離を表している。
第1の画像付け装置と第2の画像付け装置が同一である場合に、第2の投影点から第1の投影点までの距離を求める本発明の方法を適用することができるという状況も、本発明と関連するものである。換言すると、上述した各ステップは、1つの画像付け装置の第1および第2の画像付けビームにも適用可能である。
第2の投影点から第1の投影点までの距離を求める本発明の方法の有利な実施態様では、第1の画像付けビームで画像付けされる第1のパターンと、第2の画像付けビームで画像付けされる第2のパターンとが、少なくとも部分的に交差し、もしくは互いに重なっている。第1および第2のパターンをこのように互いに配置することは、特に、たとえば直線状の単純な経路に沿った測定トラックによって、両方のパターンの測定点を記録することができるという利点がある。距離の簡単な相対測定が可能である。
論理上必然な発展態様では、本発明は、第1の作動時点から第2の作動時点まで、版の表面に第1の投影点を生成可能である第1の画像付け装置の第1の画像付けビームの時間的な作動を修正する方法であって、次の各ステップを備えている方法を可能にする。すなわち、測定点まで、または第2の投影点までの第1の投影点の距離が、本明細書で説明した本発明の方法によって求められ、このとき、画像付けビームは第1の作動時点で活性化される。求められた距離と目標距離との差が求められる。最後に、第2の作動時点が、第1の作動時点と、前記距離の向きにおける第1の画像付けビームと版の表面の相対速度を考慮したうえで前記差を第1の投影点で覆うのに必要な時間との合計として求められる。
これと対称をなす論理上必然な発展態様として、本発明は、第1の作動時点から第2の作動時点まで、版の表面に測定点を生成可能である測定装置の測定ビームの時間的な作動を修正する方法であって、次の各ステップを備えている方法を可能にする。すなわち、第1の投影点までの測定点の距離が、本明細書で説明した本発明の方法によって判定され、このとき、測定点は第1の作動時点で活性化される。求められた距離と目標距離との差が求められる。最後に、第2の作動時点が、第1の作動時点と、距離の向きにおける測定ビームと版の表面の相対速度を考慮したうえで前記差を第1の投影点で覆うのに必要な時間との合計として求められる。
ここであらためて強調しておくと、本発明の方法により、印刷機の印刷ユニットに取り付けられている版の表面での、距離センサの位置に対して相対的な、または他の画像付け位置に対して相対的な、画像付け位置の位置を求めることを、印刷機の納品後でも顧客のもとで行うことを簡単なやり方で可能にする技術的な教示が与えられる。求められた値は、制御ユニットに記憶しておくことができる。画像付け装置の制御ユニットによって自動的な位置補正を行えるので、画像付け装置に対する影響要因を運転中に補正することができる。
本発明による方法および/またはその発展態様は、1つまたは複数の画像付け装置の制御ユニットで、固定メモリまたは揮発性メモリにコンピュータプログラムの形態で実現されていてよい。本発明の方法および/またはその発展態様を実行できるプログラムステップを含むコンピュータプログラムは、携帯可能な記憶媒体、特にフロッピーに保存されていてもよい。少なくとも1つの第1の画像付け装置と、測定装置と、少なくとも1つの制御ユニットとを備える本発明の印刷ユニット、特に直接式または間接式の平版印刷ユニット、フレキソ印刷ユニット、またはオフセット印刷ユニットは、制御ユニットが、本明細書で説明した方法で距離を求めるため、または本明細書で説明した方法で時間的な作動を修正するためのコンピュータプログラムが格納された記憶装置を備える電子装置を含んでいることを特徴としている。本発明による印刷機は、本発明の印刷ユニットを少なくとも1つ有している。この印刷機は枚葉紙を処理する機械、またはウェブを処理する機械であってよい。
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
図1は、印刷機17の印刷ユニット16において版胴14の上に取り付けられた版12の表面10に画像付けするための、第1の画像付け装置20と第2の画像付け装置32の配置を、一例として示している。画像付け装置20,32は、本発明の方法および/またはその発展例の1つをコンピュータプログラムとして、またはコンピュータプログラムのセクションとして、内部に格納できるように構成された制御ユニット48と接続されている。
版胴14は、その回転軸18を中心として回転方向Rへ回転可能なように、印刷ユニット16に支持されている。第1の画像付け装置20と第2の画像付け装置32、特に個別に制御可能なダイオードレーザバーは、リニアアクチュエータ42によって、版胴14の回転軸18と実質的に平行に並進方向Tへと動くことができる。版の表面10は、互いに一次独立である、特に直交する第1の方向38(軸方向)と第2の方向40(円周方向)を有している。回転Rと並進Tの連動により、画像付け装置20,32の画像付けビーム22,36は、版12の表面10を完全に走査し、密接した印刷点で覆うことができる。第1の画像付け装置20は、版12の表面10に第1の投影点24で当る第1の画像付けビーム22を放出する。第1の画像付け装置20には、有利な実施形態では三角測量センサである測定装置26が組込まれてる。測定装置26は、版12の表面10に測定点28で当る測定ビーム27を放出する。第2の画像付け装置32は、版12の表面10に第2の投影点36で当る第2の画像付けビーム34を放出する。説明を簡略にするために、ここでは、関与する画像付けビーム22,34および測定光線27の時間的な作動(オンとオフ)については立ち入らず、幾何学形態についての説明を行う。
回転Rと並進Tの連動により、投影点の経路30は、版胴14の周囲をつる巻線状または螺旋状に延びる。第1の投影点24と測定点28の間に正確な目標距離があるときには、測定ビーム27は、第1の画像付けビーム22の投影点24が後の時点で初めて到達する版12の表面の地点で、測定時点で測定点28に当る。画像付け装置20と32の間に正確な目標距離があるとき、第2の投影点36は、第1の投影点24の経路30上に位置している。
版胴14の角度位置、およびこれに伴う、第2の方向40(外周方向)における版12の表面10の座標位置は、角度エンコーダ46によって求めることができる。版12の表面10における画像付けビームまたは画像付け装置の軸区域位置、並進方向Tにおける位置、およびこれに伴う、方向38(軸方向)における座標位置は、リニアアクチュエータ42の距離測定システム44によって求めることができる。角度位置も軸区域位置(Achsabschnittsposition)も制御ユニット48に転送することができる。本発明による方法を実施するときは、測定された座標位置が制御ユニット48に転送され、その結果、測定値の座標位置と、画像付けパターンの座標位置との相関づけを行うことができる。
図2は、版胴14の軸18と実質的に平行な方向38における、測定点28から、または第2の投影点36から、第1の投影点24までの距離を求める本発明の方法の実施形態を説明するための概略図である。第1の画像付け装置20は、版の表面10に第1の投影点24で当る第1の画像付けビーム22を放出する。第1の画像付け装置20に組込まれれている測定装置26は、表面に測定点28で当る測定光線27を放出する。第1の方向38では、第1の投影点24と測定点28は距離50を有している。第2の画像付け装置32は、表面10に第2の投影点36で当る第2の画像付けビーム34を放出する。第1の方向38では、測定点28と第2の投影点36は距離52を有している。したがって、第1と第2の投影点24,36の間の距離54は、距離50と距離52の(正負記号の付いた)合計に等しい。
全体として反射される光強度に関する情報を利用して、すでに画像付けされている版の上の地点の位置を測定することができる。一方では、第1の投影点24までの測定点28の距離50、もしくは、第2の投影点36までの測定点28の距離52を求めることができ、また他方では、第2の投影点36までの第1の投影点24の距離54を求めることができる。本発明の方法の実施形態を、測定点28の第1の投影点24までの第1の方向38の距離50を求めることについて、簡略に説明する。適切なパターン、すなわち画像付けされている区域と画像付けされていない区域とを有するパターンが、第1の画像付けビーム22により、方向38に沿って表面10に画像付けされる。方向38の座標位置の関数のパターンは、制御ユニット48(図1参照)で処理することができる。すでに述べたように、コントラストを高めるために表面に印刷インキを任意に着色することができる。その後に測定プロセスが続く。距離値(測定装置26の主な利用目的)ではなく、測定された全明度値、すなわち測定された、反射された強度が、座標位置とともに記憶される。そして制御ユニット48では、適当なアルゴリズムによって比較を行うことができ、厳密に言えば、画像付け座標位置と測定座標位置との相関づけが行われ、その結果、1つまたは複数の差から距離50を求めることができる。
図3は、画像付けパターン84よりも細かい測定ラスタ56で、反射された強度の測定が行われる本発明の方法の実施形態を説明するためのグラフである
には、測定トラック88の内部に周期性90を備えている有利な第1および第2のパターン84,86の概略図が示されている。第1の画像付けビーム22で画像付けされる第1のパターン84と、第2の画像付けビーム34で画像付けされる第2のパターン86は、測定トラック88が第1のパターン84の領域と第2のパターン86の領域を交互に覆うように互いに組み合わされた櫛形の構造をそれぞれ有している。パターン84,86の櫛形の突起部は、周期性90を有している。換言すると、パターン84,86は規則的であり、測定トラック88に沿って反復されている。通常の版12には、このような種類の周期性を数百個含むパターン84,86を生成することができる。各周期で位相が同じ点を、平均値を求めるために利用することができる。
に示す有利な第1および第2のパターン84,86は、有利な直線パターンの考えられる1つの実施形態にすぎない。本発明による思想の論理上必然な発展例では、測定点の広がりの展開に特別に良く適したパターンを画像付けすることができる。換言すると、簡単な展開をするのにフーリエ変換が目的に適っているパターンを使うことができる。
要約すると、上述した特性を備える1つまたは複数のパターンによって、画像付けビームの投影点の位置を、高速の走査方向でも低速の走査方向でも、高い精度で求めることができると言うことができる。高速の走査方向では角度エンコーダを通じて既知となり、低速の走査方向では距離測定システムを通じて既知となる、測定された座標位置を所望の座標位置と比較することができ、この差を変位値(オフセット)として制御ユニットに保存して、画像付けのときに考慮することができる。本発明の方法および/またはその発展例は、画像付け装置の制御ユニットによって完全自動化して進めることができる。自動手順進行は、たとえば印刷ユニットに版を入れた後に開始することができる較正シーケンスの形態で進めることができる。
印刷機の印刷ユニットの胴に取り付けられている版の画像付けをする2つの画像付け装置の構成を示す概略図である。 版胴の軸と実質的に平行な方向の、測定点から、または第2の投影点から、第1の投影点までの距離を求める本発明の方法の実施形態を説明するための略図である。 画像付けパターンよりも細かい走査ラスタで、反射された強度の測定が行われる 本発明の方法の実施形態を説明するためのグラフである 測定トラックの内部に周期性を備えている有利な第1および第2のパターンを示 す概略図である。
符号の説明
10 表面
12 版
14 版胴
16 印刷ユニット
17 印刷機
18 回転軸
20 第1の画像付け装置
22 第1の画像付けビーム
24 第1の投影点
26 測定装置
27 測定光線
28 測定点
30 経路
32 第2の画像付け装置
34 第2の画像付けビーム
36 第2の画像付けビーム
38 第1の方向
40 第2の方向
42 リニアアクチュエータ
44 距離測定システム
46 角度エンコーダ
48 制御ユニット
50 距離
52 距離
54 距離
64 軸
66 軸
84 画像付けパターン
86 画像付けパターン
88 測定トラック
90 周期性

Claims (16)

  1. 版(12)の表面(10)上の、測定装置(26)の測定点(28)から、画像付け装置(20)の第1の画像付けビーム(22)の第1の投影点(24)までの距離(50)を求める方法であって、前記第1の画像付けビーム(22)の前記第1の投影点(24)と、前記測定装置(26)の前記測定点(28)はいずれも前記版(12)の前記表面(10)に対して相対的に動くことができ、前記版(12)の前記表面(10)における前記第1の投影点(24)の位置および前記測定点(28)の位置の、固定点、すなわち制御されるリニアアクチュエータ(42)の座標系のゼロ点に対する相対的な位置を求めることができる、測定点から投影点までの距離を求める方法において、
    第1のパターン(84)を前記第1の画像付けビーム(22)によって、前記版(12)上の、前記第1の画像付けビーム(22)の前記第1の投影点(24)の、前記座標系における位置に、前記版(12)の前記表面(10)上に広がる方向(38,40)の少なくとも1つの方向に画像付けするステップaと
    前記第1のパターン(84)の少なくとも一部を照明する光の反射された強度を測定ビーム(27)によって、前記測定装置(26)の前記測定点(28)の、前記座標系における位置で測定するステップbと、
    前記の測定された、反射された光の強度に関する情報を利用して、前記測定点(28)の、前記座標系における位置を求めるステップdと、
    前記測定装置(26)の前記測定点(28)の少なくとも1つの、前記座標系における位置と、前記ステップaにおいて前記第1のパターン(84)の測定される一部が書き込まれたときに前記第1の画像付けビーム(22)が存在していた、前記第1の画像付けビーム(22)の前記第1の投影点(24)の、前記座標系における位置との差を求めるステップcと、
    を有することを特徴とする、測定点から投影点までの距離を求める方法。
  2. 光の反射が測定される前に、前記の画像付けされた版(12)に印刷インキを着色する、請求項1に記載の測定点から投影点までの距離を求める方法。
  3. 前記第1のパターン(84)での画像付けを、前記版(12)の前記表面(10)を広がる2つの一次の独立した方向(38,40)に行ない、前記の距離を求めることを両方の一次の独立した方向(38,40)に行なう、請求項1または2に記載の測定点から投影点までの距離を求める方法。
  4. 前記測定装置(26)が三角測量センサである、請求項1から3までのいずれか1項に記載の測定点から投影点までの距離を求める方法。
  5. 前記版(12)の前記表面(10)が回転体の外套の少なくとも一部を形成している、請求項1から4までのいずれか1項に記載の測定点から投影点までの距離を求める方法において、
    円周方向に位置を求めるために角度エンコーダ(46)を用い、前記回転体の軸(18)と実質的に平行な並進方向に位置を求めるために距離測定システム(44)を用いる、測定点から投影点までの距離を求める方法。
  6. 前記の反射された強度の測定を測定ラスタ(56)で行ない、前記測定ラスタ(56)の軸方向(58,60)は前記画像付けパターン(84)の少なくとも1つの方向に対して一次独立である、請求項1から5までのいずれか1項に記載の測定点から投影点までの距離を求める方法。
  7. 前記の反射された強度の測定を、前記画像付けパターン(84)よりも目の細かい測定ラスタ(56)で行なう、請求項1から6までのいずれか1項に記載の測定点から投影点までの距離を求める方法。
  8. 前記画像付けパターン(84)が少なくとも1つの方向(38,40)に周期性(90)を有している、請求項1から7までのいずれか1項に記載の測定点から投影点までの距離を求める方法。
  9. 測定装置(26)の測定点(28)を用いて、版(12)の表面(10)における、第2の画像付け装置(32)の第2の画像付けビーム(34)の第2の投影点(36)から、第1の画像付け装置(20)の第1の画像付けビーム(22)の第1の投影点(24)までの距離(54)を求める方法であって、前記第1および前記第2の投影点(24、36)の位置と、前記版(12)の前記表面(10)における測定点(28)の、固定点、すなわち制御されるリニアアクチュエータ(40)の座標系のゼロ点に対する相対的な位置を求めることができる、第2の投影点から第1の投影点までの距離を求める方法において、
    第1のパターン(84)を前記第1の画像付けビーム(22)によって、前記版(12)上の、前記第1の画像付けビーム(22)の前記第1の投影点(24)の、前記座標系の位置に、前記版(12)の前記表面(10)上に広がる方向(38,40)の少なくとも1つの方向に画像付けし、
    第2のパターン(86)を前記第2の画像付けビーム(34)によって、前記版(12)上の、前記第2の画像付けビーム(34)の前記第2の投影点(36)の、前記座標系の位置に、前記版(12)の前記表面(10)上に広がる、少なくとも1つの方向(38,40)に画像付けし、
    前記第1のパターン(84)の少なくとも一部を照明する光の反射された強度を測定ビーム(27)によって、前記測定装置(26)の前記測定点(28)の、前記座標系の位置で測定し、
    前記第2のパターン(86)の少なくとも一部を照明する光の反射された強度を測定ビーム(27)によって、前記測定装置(26)の前記測定点(28)の、前記座標系の位置で測定し、
    前記の測定された、前記第1のパターン(84)で反射された光の強度に関する情報を利用して、前記測定点(28)の、前記座標系における位置を求め、
    前記の測定された、前記第2のパターン(86)で反射された光の強度に関する情報を利用して、前記測定点(28)の、前記座標系における位置を求め、
    前記第2のパターン(86)における前記測定装置(26)の前記測定点(28)の少なくとも1つの、前記座標系の位置と、前記第1のパターン(84)における前記測定装置(26)の前記測定点(28)の、前記座標系の相関づけられた位置との差を求める、
    ことを特徴とする、第2の投影点から第1の投影点までの距離を求める方法。
  10. 版(12)の表面(10)における、第2の画像付け装置(32)の第2の画像付けビーム(34)の第2の投影点(36)から、第1の画像付け装置(20)の第1の画像付けビーム(22)の第1の投影点(24)までの距離(54)を求める方法において、
    前記版(12)の前記表面(10)上の、測定装置(26)の測定点(28)から、前記第1の画像付けビーム(22)の前記第1の投影点(24)までの距離(50)を、請求項1から8のいずれか1項に記載の方法によって求め、
    前記版(12)の前記表面(10)上の、前記測定装置(26)の測定点(28)から、前記第2の画像付けビーム(34)の前記第2の投影点(36)までの距離(52)を、請求項1から8において、画像付け装置(20)、第1の画像付けビーム(22)、第1の投影点(24)、距離(50)、第1のパターン(84)をそれぞれ画像付け装置(32)、第2の画像付けビーム(34)、第2の投影点(36)、距離(52)、第2のパターン(86)に置き換えることによって、請求項1から8のいずれか1項に記載の方法によって求め、
    前記測定装置(26)の少なくとも1つの位置と前記第1の画像付けビーム(22)の位置の差と、前記測定装置(26)の少なくとも1つの位置と前記第2の画像付けビーム(34)の位置の差との合計を求める
    ことを特徴とする、第2の投影点から第1の投影点までの距離を求める方法。
  11. 前記第1の画像付け装置(20)と前記第2の画像付け装置(32)が同一である、請求項9に記載の第2の投影点から第1の投影点までの距離を求める方法。
  12. 前記第1の画像付けビーム(22)によって画像付けされた前記第1のパターン(84)と、前記第2の画像付けビーム(34)によって画像付けされた前記第2のパターン(86)が、少なくとも部分的に互いに重なり、もしくは互いに交差している、請求項9または10に記載の第2の投影点から第1の投影点までの距離を求める方法。
  13. 第1の作動時点から第2の作動時点まで、版(12)の表面(10)に第1の投影点(24)を生成可能である第1の画像付け装置(20)の第1の画像付けビーム(22)の時間的な作動を修正する方法において、
    第1の投影点(24)の、測定点(28)まで、または第2の投影点(36)までの距離(50,54)を、請求項1から12のいずれか1項に記載の方法によって求め、このとき、前記画像付けビーム(22)は画像付けのために前記第1の作動時点で発せられ、
    請求項1から12のいずれか1項に記載の方法によって求められた距離と目標距離との差を求め、
    前記第1の作動時点と、前記の、請求項1から12のいずれか1項に記載の方法によって求められた距離の向きにおける前記第1の画像付けビーム(22)の前記第1の投影点と前記版(12)の前記表面(10)の相対速度を考慮したうえで、前記の求められた差を前記版(12)の前記表面(10)上の第1の投影点(24)が移動するのに必要な時間との合計として、前記第2の作動時点を求める
    ことを特徴とする、画像付けビームの時間的な作動を修正する方法。
  14. 第1の作動時点から第2の作動時点まで、版(12)の表面(10)に測定点(28)を生成可能である測定装置(26)の測定ビーム(27)の時間的な作動を修正する方法において、
    第1の投影点(24)までの前記測定点(28)の距離(50)を、請求項1からのいずれか1項に記載の方法によって求め、このとき、前記測定点(28)で前記第1の作動時点に測定が行われ、
    前記の、請求項1からのいずれか1項に記載の方法によって求められた距離と目標距離との差を求め、
    前記第1の作動時点と、前記の、請求項1からのいずれか1項に記載の方法によって求められた距離の向きにおける前記測定ビーム(27)の前記測定点(28)と前記版(12)の前記表面(10)の相対速度を考慮したうえで、前記の求められた差を前記第1の投影点(24)が移動するのに必要な時間との合計として、前記第2の作動時点を求める
    ことを特徴とする、測定ビームの時間的な作動を修正する方法。
  15. 少なくとも1つの第1の画像付け装置(20)と、測定装置(26)と、少なくとも1つの制御ユニット(48)とを備える印刷ユニットにおいて、
    前記制御ユニット(48)が、請求項1から12までのいずれか1項に記載の方法で距離を求めるための、または請求項13または14に記載の方法で時間的な作動を修正するためのコンピュータプログラムが格納された記憶装置を備える電子装置を含んでいることを特徴とする印刷ユニット。
  16. 印刷機(17)において、
    請求項15に記載の印刷ユニット(16)を少なくとも1つ備えていることを特徴とする印刷機。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8154572B2 (en) * 2007-05-31 2012-04-10 Eastman Kodak Company Adjusting the calibration of an imaging system
TWI349884B (en) * 2007-11-14 2011-10-01 Pixart Imaging Inc Data encryption method implemented on a pattern displaying medium with at least two types of ink
US8305648B2 (en) * 2009-05-29 2012-11-06 Eastman Kodak Company Adjusting the calibration of an imaging system
US8154808B2 (en) * 2010-05-11 2012-04-10 Eastman Kodak Company Autofocus imaging apparatus
JP6657257B2 (ja) * 2015-12-25 2020-03-04 株式会社小松製作所 作業機械の管理システム、作業機械及び作業機械の管理装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5289208A (en) 1991-10-31 1994-02-22 Hewlett-Packard Company Automatic print cartridge alignment sensor system
US5671063A (en) * 1993-02-25 1997-09-23 Ohio Electronic Engravers, Inc. Error tolerant method and system for measuring features of engraved areas
DE4437284A1 (de) 1994-10-18 1996-04-25 Eos Electro Optical Syst Verfahren zum Kalibrieren einer Steuerung zur Ablenkung eines Laserstrahls
JPH10157051A (ja) * 1996-11-28 1998-06-16 Dainippon Screen Mfg Co Ltd ビームの位置決め装置および位置決め方法
DE19732668C2 (de) 1997-07-29 1999-10-28 Scaps Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Kalibrierung von Strahlabtastvorrichtungen
DE19835303B4 (de) 1998-08-05 2004-07-01 Hell Gravure Systems Gmbh Verfahren zur Erzeugung und Auswertung einer Probegravur
DE19841602A1 (de) * 1998-09-11 2000-03-16 Heidelberger Druckmasch Ag Verfahren zur Gravur von Druckzylindern
JP3738178B2 (ja) * 2000-09-21 2006-01-25 パナソニック コミュニケーションズ株式会社 画像記録方法
DE10144198A1 (de) 2001-09-08 2003-04-03 Hell Gravure Systems Gmbh Verfahren zur Positionierung von Gravierorganen
US6836740B2 (en) 2002-01-31 2004-12-28 Heidelberger Druckmaschinen Ag Method for determining the relative position of first and second imaging devices, method of correcting a position of a point of projection of the devices, printing form exposer, printing unit, printing unit group and printing press
DE10259493A1 (de) * 2002-01-31 2003-08-14 Heidelberger Druckmasch Ag Verfahren zur Bestimmung der relativen Position einer ersten und einer zweiten Bebilderungseinrichtung zueinander
DE10305595A1 (de) * 2002-03-07 2003-09-18 Heidelberger Druckmasch Ag Druckformerkennende Bebilderungseinrichtung

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