JP5110333B2 - 減衰器 - Google Patents

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Description

本発明は、例えば高周波伝送回路の終端部に用いられ、入力信号の減衰を行うための減衰器に関する。
従来より、例えば高周波回路の信号線の末端において、信号の不要な反射を抑制する目的および入力信号を減衰させて出力する目的で抵抗体を備えた減衰器が用いられている。そのような減衰器には、小型かつ簡素な構成であること、信号線との接続が容易であること、電力を負荷した際の放熱特性に優れ、熱による特性劣化が小さいこと(耐電力特性に優れること)、所定の周波数帯域において一定の特性インピーダンスが得られること、所定の周波数帯域において反射損失が小さく、かつ安定していること(高周波特性に優れること)などが要求される。
例えば特許文献1には、定格電力値に比例して抵抗体の面積を大きくすることなく、必要な耐電力特性を得ることのできる高周波用電力抵抗器が開示されている。
特開平11−55008号公報
しかしながら最近では、減衰器を設置するスペースが縮小化されていることから、減衰器自体の小型化がより強く求められている。ところが、既存の減衰器ではその要求に十分に応えることが難しくなっている。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、コンパクトな構成でありながら、所定の周波数帯域において、より安定した減衰特性を示す減衰器を提供することにある。
本発明の減衰器は、絶縁基板上に、入力電極と、出力電極と、これらの入力電極および出力電極を挟んで対向配置された第1および第2の接地電極と、入力電極と出力電極とを接続すると共に屈折部分もしくは曲線部分を含む平面形状を有する一の第1の抵抗と、入力電極および出力電極と一対の接地電極とをそれぞれ接続する一対の第2の抵抗とを備えるようにしたものである。
本発明の減衰器では、入力電極と出力電極とを接続する第1の抵抗が、屈折部分もしくは曲線部分を含む平面形状を有するようにしたので、全体の寸法の増大を招くことなく、減衰特性の高周波特性が改善される。
本発明の減衰器では、第1の抵抗の平面形状が、複数の屈折部分を含み、または複数の曲線部分を含むようにするとよい。その場合、第1の抵抗の平面形状は、蛇行部分を含むようにするとよい。また、屈折部分もしくは曲線部分が、入力電極よりも出力電極の近くに位置するようにするとよい。これらの構成により、減衰特性の周波数依存性がいっそう改善されるからである。
また、本発明の減衰器では、入力電極と第1の接地電極との間の抵抗値が出力電極と第2の接地電極との間の抵抗値よりも大きく、入力電極が第1の接地電極よりも第2の接地電極の近くに位置するとよい。絶縁基板上のスペースが効率的に利用され、全体構成のコンパクト化に有利となるからである。
本発明の減衰器によれば、絶縁基板上に入力電極と出力電極と繋ぐ第1の抵抗を設け、その第1の抵抗の平面形状を屈折部分もしくは曲線部分を含むものとしたので、全体構成の小型化を図りつつ、所定の周波数帯域において安定した減衰特性を発揮することができる。
本発明の一実施の形態に係る減衰器の全体構成を表す斜視図である。 図1に示した減衰器の分解斜視図である。 図1に示した減衰器の平面図である。 図1に示した減衰器の回路図である。 第1の変形例としての減衰器の全体構成を表す平面図である。 第2の変形例としての減衰器の全体構成を表す平面図である。 第3の変形例としての減衰器の全体構成を表す平面図である。 第4の変形例としての減衰器の全体構成を表す平面図である。 第5の変形例としての減衰器の全体構成を表す平面図である。 第6の変形例としての減衰器の全体構成を表す平面図である。 第7の変形例としての減衰器の全体構成を表す平面図である。 第8の変形例としての減衰器の全体構成を表す平面図である。 第9の変形例としての減衰器の全体構成を表す平面図である。 第10の変形例としての減衰器の全体構成を表す平面図である。 比較例としての減衰器の全体構成を表す平面図である。 実施例1における減衰量の周波数依存性を表す特性図である。 実施例2における減衰量の周波数依存性を表す特性図である。 実施例3における減衰量の周波数依存性を表す特性図である。 実施例4における減衰量の周波数依存性を表す特性図である。 実施例5における減衰量の周波数依存性を表す特性図である。 実施例6における減衰量の周波数依存性を表す特性図である。 実施例7における減衰量の周波数依存性を表す特性図である。 実施例8における減衰量の周波数依存性を表す特性図である。 実施例9における減衰量の周波数依存性を表す特性図である。 実施例10における減衰量の周波数依存性を表す特性図である。 実施例11における減衰量の周波数依存性を表す特性図である。 比較例における減衰量の周波数依存性を表す特性図である。
以下、本発明を実施するための形態(以下、実施の形態という。)について、図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本発明の一実施の形態としての減衰器1の全体構成を表す斜視図であり、図2は、それを分解して表すものである。さらに、図3は、図1に示した矢印IIIの方向から眺めた減衰器1の平面図である。また、図4は、減衰器1の回路構成を表している。
減衰器1は、所定の周波数帯域に含まれる入力信号を適切な信号レベルに減衰させる電子デバイスである。この減衰器1は、例えば高周波無線通信を行う中継基地において、信号の送受信を行うアンテナと接続され、アンテナより反射された信号を適切な信号レベルに減衰する際に用いられる。
図1〜図4に示したように、減衰器1は、XY平面に延在する平板状の絶縁基板10上に、入力電極20と、出力電極30と、一対の接地電極40A,40Bと、入力電極20と出力電極30とを接続する一の減衰抵抗部分51(第1の抵抗)と、入力電極20および出力電極30と一対の接地電極40B,40Aとをそれぞれ接続する一対の抵抗部分53,52(第2の抵抗)とを備えたものである。
絶縁基板10は、例えば窒化アルミニウム(AlN)や酸化アルミニウム(AlOx)、酸化ベリリウム(BeO)あるいはアルティック(Al2 3 ・TiC)などの絶縁性材料によって構成されている。基体10の構成材料は、熱伝導性が良く、加工性に優れていることが好ましい。
入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bは、いずれも略矩形の平面形状を有する導体からなる。一対の接地電極40A,40Bは、いずれもX軸方向に延在し、入力電極20および出力電極30を挟んで対向配置されている。これらの入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bは、例えば銅(Cu)のほか、アルミニウム(Al),金(Au),銀(Ag),タンタル(Ta),ルテニウム(Ru),ロジウム(Rh)などの高導電性材料によって構成されている。入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bは、全て同一の材料によって構成されているとよい。
入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bは、絶縁基板10の上に、減衰抵抗部分51および抵抗部分52,53を含む抵抗膜パターン50(図2)を介して設けられている。また、入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bは、互いに同一の階層に設けられているとよい。ここでいう「同一の階層に設けられている」とは、入力電極20における絶縁基板10の表面(XY平面)を基準とした高さ位置(Z軸方向の位置)が、出力電極30および接地電極40A,40Bの高さ位置と部分的または全体的に一致することを意味する。すなわち、XY平面に沿って投影したときに、入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bの各々の射影が、互いに一部または全部が重なり合う関係にあることを意味する。その場合、入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bの各々の厚みが全て等しく、かつ、各々のZ方向の上端および下端の位置が相互に一致していることが望ましい。Z軸方向における全体の寸法がより小さくなるからである。但し、それらの厚みや上端および下端の位置は互いに異なっていてもよい。
また、入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bの上には、ニッケル(Ni)および錫(Sn)の少なくとも一方などからなるめっき膜を設けておくことが望ましい。はんだ付けによって外部へのリード線を入力電極20に接続する際、はんだの拡散を防止するバリア層として機能させると共に、はんだの良好な塗れ性を確保するためである。また、接地電極40A,40Bは、それらの端面と接すると共に絶縁基板10の側面および裏面を取り巻くように設けられた接地部60によって互いに導通されている。接地部60は、例えば、スパッタリングなどによって形成された下地層(図示せず)と、その下地層の上にめっき法によって形成されたニッケルもしくは錫などからなるめっき層とを有するものである。
抵抗膜パターン50は、例えば、減衰抵抗部分51と、抵抗部分52,53と、入力電極20,出力電極30および接地電極40A,40Bと積層方向にそれぞれ重なり合う重複部分54〜57とが全て同一材料からなり、かつ同一階層に設けられて一体化されたものである。ここで、重複部分54の上面は入力電極20の下面と接し、重複部分55の上面は出力電極30の下面と接し、重複部分56,57の上面は接地電極40A,40Bの下面と接している。また、抵抗膜パターン50の構成材料としては、例えば窒化タンタル(TaN)やニッケルクロム合金(NiCr)系合金などが好適である。これらの材料を用いれば、小さな平面積であっても発熱量が高く、効率的に入力信号が減衰するため、全体構成のコンパクト化に有利である。
減衰抵抗部分51は、その平面形状が一の屈折部分70(図3)を含むものであり、入力電極20からの入力信号を所定の振幅まで減衰させる機能を有する。すなわち、減衰抵抗部分51は、入力電極20からの入力信号が出力電極30から出力される際にどの程度の信号レベルまで減衰されるかを決定する重要な因子となる。減衰抵抗部分51における屈折部分70は、入力電極20よりも出力電極30の近くに位置するとよい。減衰抵抗部分51は、屈折部分70を含む自らの平面形状に応じたインダクタンス成分を有する。
入力電極20と接地電極40Bとの間の抵抗値(抵抗部分53のY軸方向における抵抗値)は、出力電極30と接地電極40Aとの間の抵抗値(抵抗部分52のY軸方向における抵抗値)よりも大きく、入力電極20は、接地電極40Bよりも接地電極40Aの近くに位置するとよい。抵抗部分52,53は、減衰器1における回路定数を決定する抵抗体である。
さらに、減衰器1には、入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40B以外の部分、すなわち、減衰抵抗部分51と、抵抗部分52,53と、露出した絶縁基板10とを覆うように絶縁性の保護膜(図示せず)が設けられている。この保護膜の構成材料としては、エポキシ系樹脂、ポリイミド樹脂あるいはガラスが好ましい。また、酸化アルミニウムによって保護膜を形成してもよい。なお、図1では、入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bの各々の一部をも覆うように保護膜が設けられていでもよい。
続いて、減衰器1の製造方法について説明する。
まず、絶縁基板10を用意し、基体10の表面全体に亘って、のちに抵抗膜パターン50となる抵抗膜と、のちに入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bとなる電極膜とをそれぞれ上述の材料を用いて順に積層する。これら抵抗膜および電極膜は、スパッタリング等の気相法などにより形成することができる。次に、フォトリソグラフィ法により電極膜のパターニングを行い、所定の位置に所定形状の入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bを形成する。続いて、やはりフォトリソグラフィ法により抵抗膜のパターニングを行い、所定形状の減衰抵抗部分51、抵抗部分52,53、および重複部分54〜57からなる抵抗膜パターン50を所定の位置に形成する。最後に、減衰抵抗部分51および抵抗部分52,53などを覆うように保護膜を選択的に形成すると共に絶縁基板10を所定の形状で切り出し、接地部60を形成するなどして、減衰器1を完成させる。接地部60については、絶縁基板10の短辺側に対応する接地電極40A,40Bの端面、抵抗膜パターン50(のうちの重複部分56,57)の両端面、ならびに絶縁基板10の両側面および下面を覆うように下地層(図示せず)をスパッタリング法などにより形成したのち、その下地層を覆うようにめっき層を形成するようにする。
このように、本実施の形態では、入力電極20と出力電極30とを接続する減衰抵抗部分51が、屈折部分70を含む平面形状を有し、その平面形状に起因したインダクタンス成分を有するようにしたので、全体の寸法の増大を招くことなく、減衰特性の高周波特性が改善される。すなわち、全体構成の小型化を図りつつ、所定の周波数帯域において減衰特性の安定化を図ることができる。特に、その屈折部分70を、入力電極20よりも出力電極30の近くに配置するようにすれば、減衰特性の周波数依存性がいっそう改善される。
また、本実施の形態では、入力電極20と接地電極40Bとの間の抵抗値が出力電極30と接地電極40Aとの間の抵抗値よりも大きく、入力電極20が接地電極40Bよりも接地電極40Aの近くに位置するようにした。こうすることにより、絶縁基板10上のスペースを効率的に利用することができ、全体構成のさらなるコンパクト化を図ることができる。
さらに、本実施の形態では、抵抗膜パターン50を、全て同一材料からなり、かつ同一階層に設けられて一体化された減衰抵抗部分51、抵抗部分52,53、および重複部分54〜57によって構成し、入力電極20,出力電極30および接地電極40A,40Bを、抵抗膜パターン50の上面と接するように積層した。こうすることで、入力電極20,出力電極30および接地電極40A,40Bと重複部分54〜57との接続を、煩雑な製造プロセスを必要とすることなく、比較的容易に、かつ、より確実に行うことができる。
(変形例)
次に、図5〜14を参照して、本実施の形態における第1〜第10の変形例について説明する。上記実施の形態の減衰器1は、減衰抵抗部分51の平面形状が一の屈折部分70を有するものである。これに対し、図5に示した第1の変形例としての減衰器1Aは、合計3箇所の屈折部分を含む平面形状の減衰抵抗部分51Aを備えるものである。図6に示した第2の変形例としての減衰器1Bは、合計5箇所の屈折部分を含む平面形状の減衰抵抗部分51Bを備える。図7に示した第3の変形例としての減衰器1Cは、合計7箇所の屈折部分を含む平面形状の減衰抵抗部分51Cを備える。図8に示した第4の変形例としての減衰器1Dは、X軸方向へ連なる合計7箇所の屈折部分を含む平面形状の減衰抵抗部分51Dを備える。図9に示した第5の変形例としての減衰器1Eは、X軸方向へ連なる合計5箇所の屈折部分を含む平面形状の減衰抵抗部分51Eを備える。図10に示した第6の変形例としての減衰器1Fは、一の湾曲部分を含む平面形状の減衰抵抗部分51Fを備える。図11に示した第7の変形例としての減衰器1Gは、一の湾曲部分と一の屈折部分とを含む平面形状の減衰抵抗部分51Gを備える。図12に示した第8の変形例としての減衰器1Hは、2つの屈折部分を含む平面形状の減衰抵抗部分51Hを備える。図13に示した第9の変形例としての減衰器1Jは、X軸およびY軸に対して斜めに延在する2つの直線部分によって形成された一の屈折部分を含む平面形状の減衰抵抗部分51Jを備える。図14に示した第10の変形例としての減衰器1Kは、複数の湾曲部を含む蛇行した平面形状の減衰抵抗部分51Kを備える。これら第1〜第10の変形例においても、減衰抵抗部分の平面形状を直線状とした場合と比較して、全体構成の小型化と、所定の周波数帯域における減衰特性の安定化との両立を図ることができる。
続いて、本発明の具体的な実施例について詳細に説明する。
(実施例1〜11)
上記実施の形態で説明した製造方法に従って、図3,5〜14の減衰器1,1A〜1Kを作製した。抵抗膜パターン50は、スパッタリング法によりニッケルクロム合金(NiCr)系合金を用いて形成した。入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bとしては、抵抗膜パターン50の上にスパッタリング法により銅(Cu)層を形成した。なお、入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bの上には、さらにニッケル層と錫層との2層構造をめっき法により形成した。また、各構成要素の寸法(μm)は次の通りである(図3参照)。
・絶縁基板10;x=3000, y=7700
・入力電極20;x=1000, y=1100
・出力電極30;x=1600, y=1800
・接地電極40;x=3000, y=200
・減衰抵抗部分51(Y軸方向に延在する部分);x=150, y=1900(実施例1)
・減衰抵抗部分51(X軸方向に延在する部分);x=350, y=150(実施例1)
・抵抗部分52;x=1400. y=1550
・抵抗部分53;x=2750, y=2800
(比較例)
さらに、上記実施例1〜11と同様にして、図15に示した平面形状の減衰器101Aを作製した。但し、減衰器101Aでは、減衰抵抗部分151Aの平面形状が直線状となっている。
上記の各実施例および比較例について、減衰量の周波数依存性を調べた。図16〜図27にその結果を示す。図16〜図27では、縦軸が入出力信号量の比である減衰量(単位デシベル:dB)を表し、横軸が入力信号の周波数(単位ギガヘルツ:GHz)を表す。実施例1〜11では、0.1〜3GHzの周波数帯において設計基準値であるおよそ−30dB付近の安定した減衰量を示した。これに対し、比較例では、3GHz以下の帯域において、実用上の許容範囲(設計基準値±0.5dB)を大きく超えるような、減衰量の大幅な変化が生じてしまった。また、減衰抵抗部分の平面形状が屈折部分および曲線部分を複数含む場合に、より安定した減衰量を示す傾向が確認できた。特に、減衰抵抗部分の平面形状の一部または全部が蛇行部分を形成する場合に、よりいっそう優れた減衰特性を示すことがわかった。
以上、実施の形態、変形例および実施例を挙げて本発明を説明したが、本発明はこれらの実施の形態等に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば、図1〜図3に示した減衰器1では、絶縁基板10の側から抵抗膜パターン50と、入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bとを順に積層するようにしたが、積層順序を反対にしてもよい。例えば、ニッケルクロム系合金の材料を用いて抵抗膜パターン50を形成した場合には、抵抗膜パターン50の上に強固な酸化膜が速やかに形成されやすく、その上に入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bを形成することが困難である。したがって、その場合には絶縁基板10の上に入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40Bと抵抗膜パターン50とを順に積層した構造を採用することが望ましい。
また、入力電極20、出力電極30および接地電極40A,40B、抵抗膜パターン50の平面形状は、図示したものに限定されるものではない。すなわち、本明細書に添付した図面は例示にすぎず、本発明の範囲を限定するものではない。図面は、必ずしも一定の縮尺(比率)で描かれているものではなく、また、実際のデバイスのサイズと必ずしも一致するものでもない。
1…減衰器、10…絶縁基板、20…入力電極、30…出力電極、40(40A,40B)…接地電極、50…抵抗膜パターン、51…減衰抵抗部分、52,53…抵抗部分、60…接地部。

Claims (6)

  1. 絶縁基板上に、
    入力電極と、
    出力電極と、
    前記入力電極および出力電極を挟んで対向配置された第1および第2の接地電極と、
    前記入力電極と前記出力電極とを接続すると共に屈折部分および曲線部分の少なくとも一方を含む平面形状を有する一の第1の抵抗と、
    前記入力電極および出力電極と、前記一対の接地電極とをそれぞれ接続する一対の第2の抵抗と
    を備えた減衰器。
  2. 前記第1の抵抗の平面形状は、複数の屈折部分を含む
    請求項1記載の減衰器。
  3. 前記第1の抵抗の平面形状は、複数の曲線部分を含む
    請求項1記載の減衰器。
  4. 前記第1の抵抗の平面形状は、蛇行部分を含む
    請求項2または請求項3に記載の減衰器。
  5. 前記屈折部分および曲線部分は、前記入力電極よりも前記出力電極の近くに位置する
    請求項1から請求項のいずれか1項に記載の減衰器。
  6. 前記入力電極と前記第1の接地電極との間の抵抗値は、前記出力電極と前記第2の接地電極との間の抵抗値よりも大きく、
    前記入力電極は、前記第1の接地電極よりも前記第2の接地電極の近くに位置する
    請求項1から請求項のいずれか1項に記載の減衰器。
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