JP5106116B2 - 粒子および電磁放射線の検出、測定および制御 - Google Patents
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Description
粒子または放射線のための経路を規定する変形可能なアパーチャを含む変形可能な弾性材料を用意することと、
変形可能な空洞によって提供された経路のパラメータの少なくとも1つを監視し、監視したパラメータを提示するフィードバックを提供することと、
変形可能な弾性材料を変形させることによって、フィードバックに応じて変形可能なアパーチャを調整し、変形可能なアパーチャによって規定された経路のパラメータの少なくとも1つを変化させることと、
検出、測定または制御される粒子または放射線を、変形可能なアパーチャに入れることとを含む。
変形可能なアパーチャのサイズ及び/又は幾何を、監視し、制御するためのフィードバック機構とを含む。
Claims (33)
- 粒子または放射線のための経路を提供する変形可能なアパーチャを含む変形可能な弾性材料と、変形可能な弾性材料を変形させて、変形可能なアパーチャによって提供された経路のパラメータの少なくとも1つを変化させるための調整手段と、変形可能な空洞によって提供された経路のパラメータの少なくとも1つを監視し、監視したパラメータを調整手段に提示するフィードバックを提供するための監視手段とを組み込んだ、粒子感受性または放射線感受性のデバイス。
- 調整手段は、変形可能なアパーチャの幾何形状及び/又はサイズを変化させて、変形可能なアパーチャの直径及び/又は経路長を、増加及び/又は減少させるようにした請求項1記載のデバイス。
- 変形可能なアパーチャは、3mm2未満の最小断面積を有する請求項1または2記載のデバイス。
- 粒子を計数するための粒子カウンタである請求項1〜3のいずれかに記載のデバイス。
- 粒子の構造を特徴付けるための粒子キャラクタライザである請求項1〜3のいずれかに記載のデバイス。
- 粒子への変形可能なアパーチャの閉鎖により、粒子を保持するための粒子クランプである請求項1〜3のいずれかに記載のデバイス。
- 粒子経路を横切る粒子の流量を制御するための粒子ゲートである請求項1〜3のいずれかに記載のデバイス。
- 変形可能なアパーチャは、無機粒子、有機粒子、磁気粒子、シリカ粒子、セファロース粒子、スチレン粒子、金属粒子、コロイド粒子、分子と共役した粒子、生体分子と共役した粒子、免疫グロブリンと共役した粒子、核酸と共役した粒子、生体粒子、生体細胞、血液細胞、精子、卵母細胞、微生物細胞、バクテリア細胞、真菌細胞、ウイルス、細胞内のオルガネラ、ミトコンドリア、細胞核、葉緑体、リソソーム、リボソーム、原子粒子、イオン粒子、分子粒子、そして、ポリマー、核酸およびその化学修飾、デオキシリボース核酸およびその化学修飾、リボース核酸およびその化学修飾、蛋白質ポリマーおよびその化学修飾、炭水化物ポリマーおよびその化学修飾である粒子を備えるグループから選択される粒子とともに使用するようにした請求項1〜7のいずれかに記載のデバイス。
- 粒子及び/又は電磁放射線の検出、測定または制御の方法であって、
粒子または放射線のための経路を規定する変形可能なアパーチャを含む変形可能な弾性材料を用意することと、
変形可能な空洞によって提供された経路のパラメータの少なくとも1つを監視し、監視したパラメータを提示するフィードバックを提供することと、
変形可能な弾性材料を変形させることによって、フィードバックに応じて変形可能なアパーチャを調整し、変形可能なアパーチャによって規定された経路のパラメータの少なくとも1つを変化させることと、
検出、測定または制御される粒子または放射線を、変形可能なアパーチャに入れることとを含む方法。 - 変形可能なアパーチャの幾何形状及び/又はサイズを監視して、こうした監視に応じて、変形可能なアパーチャの幾何形状及び/又はサイズの調整を制御するステップをさらに含む請求項9記載の方法。
- 粒子または放射線を変形可能なアパーチャに入れるステップは、ブラウン運動、拡散、空気圧、油圧、浸透圧、電気浸透、電気泳動または電界誘導、磁界誘導、重力、強い核力、弱い核力または放射性崩壊を利用するようにした請求項9または10記載の方法。
- 粒子を計数するために、変形可能なアパーチャに入る各粒子が検出され、検出した粒子数についての増加する計数が維持されるようにした請求項9、10または11記載の方法。
- 粒子を特徴付けるために、粒子が変形可能なアパーチャを横切るのに要する時間、及び/又は粒子の検知での変化、及び/又は変形可能な弾性材料及び/又は変形可能なアパーチャの測定したパラメータでの変化は、粒子の構造に関する情報を提供するものである請求項9、10または11記載の方法。
- 粒子を固定するために、粒子は、変形可能なアパーチャの幾何形状及び/又はサイズでの変化に応じて、粒子への変形可能なアパーチャの閉鎖によって固定されるようにした請求項9、10または11記載の方法。
- 粒子をゲート制御するために、変形可能なアパーチャの幾何形状を調整することによって、粒子の流量が変化するようにした請求項9、10または11記載の方法。
- 変形可能なアパーチャの調整は、予め定めたアルゴリズムに従って予め定めた設定ポイントに設定された、変形可能なアパーチャの監視パラメータを提示する制御信号を印加して、監視パラメータを予め定めた設定ポイントに維持するように制御されるようにした請求項9〜15のいずれかに記載の方法。
- 変形可能なアパーチャの調整は、予め定めたアルゴリズムに従って、変形可能なアパーチャの少なくとも1つのパラメータを設定することによって制御されるようにした請求項9〜15のいずれかに記載の方法。
- 変形可能なアパーチャの調整は、変形可能なアパーチャを横切る粒子の流量、変形可能なアパーチャを横切る溶液中のイオン粒子の流量、変形可能なアパーチャを横切る電流量、変形可能なアパーチャを横切るトンネル電流量、または変形可能なアパーチャを横切る電磁放射線の流量に従って制御されるようにした請求項9〜17のいずれかに記載の方法。
- 粒子は、変形可能なアパーチャを連続的に通過するイオン溶液の中にあり、粒子は、変形可能なアパーチャを通るイオン流の流れを妨げて、粒子の通過を検知、監視または制御するためにイオン流が監視されるようにした請求項9〜18のいずれかに記載の方法。
- 変形可能なアパーチャを通る粒子の通過の方向およびレートは、変形可能なアパーチャを横切って印加される電位差によって制御されるようにした請求項9〜18のいずれかに記載の方法。
- 変形可能なアパーチャを、所望の幾何形状及び/又はサイズに調整することと、
所望の大きさおよび極性のイオン流を、変形可能なアパーチャを通じて確立することと、
監視するイオン流での変化を用いて、変形可能なアパーチャを横切る粒子の存在を検出することとを含む請求項9〜20のいずれかに記載の方法。 - 変形可能なアパーチャを、所望の初期の幾何形状及び/又はサイズに調整することと、
設定ポイントのイオン流を、変形可能なアパーチャを通じて確立することと、
変形可能なアパーチャが、粒子によって部分的または完全に塞がったとき、監視するイオン流に応じて、変形可能なアパーチャを調整することと、
変形可能なアパーチャの幾何形状及び/又はサイズでの変化を監視することによって、変形可能なアパーチャを横切る粒子の存在を検出することとを含む請求項9〜20のいずれかに記載の方法。 - 粒子を特徴付けるために、変形可能なアパーチャを、所望の幾何形状及び/又はサイズに調整することと、
所望の大きさおよび極性のイオン流を、変形可能なアパーチャを通じて確立することと、
監視するイオン流での変化を用いて、変形可能なアパーチャを横切る粒子を特徴付けることとを含む請求項9〜20のいずれかに記載の方法。 - 粒子を特徴付けるために、変形可能なアパーチャを、所望の初期の幾何形状及び/又はサイズに調整することと、
所望の大きさおよび極性の設定ポイントのイオン流を、変形可能なアパーチャを通じて確立することと、
変形可能なアパーチャが、粒子によって部分的または完全に塞がったとき、変形可能なアパーチャの幾何形状及び/又はサイズを調整して、監視するイオン流を、所望の設定ポイントの流れに維持することと、
変形可能なアパーチャの幾何形状及び/又はサイズでの変化を監視することによって、変形可能なアパーチャを横切る粒子を特徴付けることとを含む請求項9〜20のいずれかに記載の方法。 - 粒子を固定するために、変形可能なアパーチャを、所望の初期の幾何形状及び/又はサイズに調整することと、
所望の大きさおよび極性のイオン流を、変形可能なアパーチャを通じて確立することと、
イオン流での変化を用いて、変形可能なアパーチャを横切る粒子の存在を検出することと、
変形可能なアパーチャの幾何形状及び/又はサイズ、及び/又は変形可能なアパーチャを通るイオン流の大きさおよび極性を調整して、粒子への変形可能なアパーチャの閉鎖を行って、粒子を固定することとを含む請求項9〜20のいずれかに記載の方法。 - 粒子を固定するために、変形可能なアパーチャを、所望の初期の幾何形状及び/又はサイズに調整することと、
所望の大きさおよび極性のイオン流を、変形可能なアパーチャを通じて確立することと、
イオン流での変化を用いて、変形可能なアパーチャを横切る粒子の存在を検出することと、
変形可能なアパーチャが、粒子によって部分的または完全に塞がったとき、変形可能なアパーチャの幾何形状及び/又はサイズを調整して、監視するイオン流を所望の設定ポイントの流れに維持することと、
変形可能なアパーチャの幾何形状及び/又はサイズ、及び/又は変形可能なアパーチャを通るイオン流の大きさおよび極性を調整して、粒子への変形可能なアパーチャの閉鎖を行って、粒子を固定することとを含む請求項9〜20のいずれかに記載の方法。 - 粒子の流量を変化させるために、変形可能なアパーチャを、所望の初期の幾何形状及び/又はサイズに調整することと、
所望の大きさおよび極性のイオン流を、変形可能なアパーチャを通じて確立することと、
イオン流での変化を用いて、変形可能なアパーチャを横切る粒子の存在を検出することと、
変形可能なアパーチャの幾何形状及び/又はサイズ、及び/又は変形可能なアパーチャを通るイオン流の大きさおよび極性を調整して、変形可能なアパーチャを通る粒子の流量を制御することとを含む請求項9〜20のいずれかに記載の方法。 - 粒子の流量を変化させるために、変形可能なアパーチャを、所望の初期の幾何形状及び/又はサイズに調整することと、
所望の大きさおよび極性のイオン流を、変形可能なアパーチャを通じて確立することと、
イオン流での変化を用いて、変形可能なアパーチャを横切る粒子の存在を検出することと、
変形可能なアパーチャが、粒子によって部分的または完全に塞がったとき、変形可能なアパーチャの幾何形状及び/又はサイズを調整して、監視するイオン流を所望の設定ポイントの流れに維持することと、
変形可能なアパーチャの幾何形状及び/又はサイズ、及び/又は変形可能なアパーチャを通るイオン流の大きさおよび極性を調整して、変形可能なアパーチャを通る粒子の流量を制御することとを含む請求項9〜20のいずれかに記載の方法。 - 変形可能な弾性材料中に、変形可能なアパーチャを製作する方法であって、
変形可能な弾性材料に侵入して、変形可能な弾性材料の中にアパーチャを形成し、連続した経路が変形可能な弾性材料の一方の面から変形可能な弾性材料の他方の面へ延びるようにし、
変形可能な弾性材料は、変形可能な弾性材料に対して等方性または異方性の形態で変形を印加する変形機構によって、変形可能なアパーチャの製造前または製造中に故意に変形されるようにした方法。 - 変形機構は、変形可能な弾性材料の一部を固定するためのクランプ配置を備え、
クランプ配置は、好ましくは、変形可能な弾性材料の侵入の際、変形可能な弾性材料の固定部分に印加されたクランプ力を横外側へ変化させるように、調整可能である請求項29記載の方法。 - 変形可能な弾性材料は、プローブによって侵入され、プローブは、変形可能な弾性材料を通過し、必要に応じて、変形可能な弾性材料の他方の面から出て、続いて、変形可能な弾性材料からのプローブの部分的または完全な引き上げが行われるようにした請求項29または30記載の方法。
- プローブによる変形可能な弾性材料の侵入の程度を監視し、こうした監視に応じて、プローブによる変形可能な弾性材料の侵入の程度の調整を制御するステップをさらに含む請求項31記載の方法。
- 変形可能な弾性材料中に、変形可能なアパーチャを製作する装置であって、
変形可能な弾性材料に侵入して、変形可能な弾性材料の中にアパーチャを形成し、連続した経路が変形可能な弾性材料の一方の面から変形可能な弾性材料の他方の面へ延びるようにするための侵入装置と、
変形可能な弾性材料に対して等方性または異方性の形態で変形を印加し、変形可能なアパーチャの製造前または製造中に、変形可能な弾性材料を故意に変形するための変形機構とを備える装置。
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