JP5080501B2 - 試験装置および試験方法 - Google Patents
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Description
1.特願2007−036361 出願日 2007年02月16日
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
70 試験装置
75 ALPG
100 被試験メモリ
200 アドレス発生部
210 比較部
220 バッドブロックメモリ
230 セレクタ
240 ユニバーサルバッファメモリ
700 アドレス発生部
705 コマンド発生部
710 ユニバーサルバッファメモリ
730 比較部
740 バッドブロック記憶制御部
750 無効化処理部
755 セレクタ
760 バッファ部
765 記憶処理部
770 アドレス制御部
790 変換部
以上の処理を繰り返すことにより、バッドブロックメモリ220には、被試験メモリ100中の全ブロックについて、そのブロックに不良が発生したか否かを示す論理値データが記録される。
このように生成されたビットマップ状の論理値データは、従来の試験装置においても様々な用途で用いられている。たとえば、不良の発生が判明したブロックを除外して、その他のブロックに対して所定の試験をしようとする場合には、アドレス発生部200が発生させたアドレスによってバッドブロックメモリ220をアクセスすることにより、そのアドレスのブロックが不良であって試験の対象から除外するべきかどうかを容易に判断できる。このように、バッドブロックメモリ220を用いれば、このような正常ブロックのみに対する試験などを実現したい場合であっても、アドレス発生部200と被試験メモリ100間の回路構成を簡略化して試験装置20の設計を容易化できる。
その他の構成および無効化コマンド送信時の処理は、図7から図9を参照して説明した実施例と略同一であるから説明を省略する。
以上、この第1変形例によっても、複数の被試験メモリ100を並行しつつも、各被試験メモリ100に生じた不良ブロックのアドレスを別個に管理して、その後の無効化処理を効率化できる。また、バッファ部760が不要なので、試験装置70内の他の回路構成その他の事情に応じて、実施例およびこの第1変形例を使い分けることができる。
各ブロックの良否判断および試験結果の取り込み処理に関し、その他の事項は図7から図9を参照して説明した実施例と略同一であるから説明を省略する。
以上、第2変形例によっても、不良ブロックの情報は被試験メモリ100毎に管理して、なおかつ、試験完了後は無効化の処理を直ちに開始して試験全体の所要時間を短縮することができる。
Claims (7)
- ブロック単位でデータを記憶する複数の被試験メモリを試験する試験装置であって、
前記複数の被試験メモリに対して共通に設けられ、前記被試験メモリにおける試験対象のアドレスを順次発生するアドレス発生部と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する前記被試験メモリに個別に供給すべきアドレスを記憶する複数のバッファメモリと、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する前記被試験メモリに対して前記アドレス発生部が発生したアドレスおよび対応する前記バッファメモリから出力されたアドレスのいずれかを選択する複数の選択部と、
前記アドレス発生部が発生したそれぞれの前記アドレスについて、当該アドレスに記憶されたブロックデータを読み出す読出コマンドを前記複数の被試験メモリのそれぞれに対して出力する読出部と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して設けられ、前記アドレス発生部が発生したそれぞれの前記アドレスについて、前記読出コマンドに応じて前記被試験メモリが出力するブロックデータと当該ブロックデータの期待値とを比較する複数の比較部と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して設けられ、前記比較部により不一致が検出されたことに応じて、前記アドレス発生部が当該ブロックデータを読み出すために発生させた前記アドレスを、前記被試験メモリに対応して設けられた前記バッファメモリに順次記憶していく複数のバッドブロック記憶制御部と、
前記アドレス発生部が発生したアドレスに代えて前記バッファメモリから出力される前記アドレスを前記複数の選択部により選択させて、前記複数の被試験メモリのそれぞれに対して並列に、前記バッファメモリに記憶された前記アドレスを個別のアドレスとして含み、当該アドレスに対応するブロックを無効化する無効化データの書き込みを行う無効化コマンドを出力する無効化処理部と
を備える試験装置。 - 前記アドレス発生部が発生したアドレスをバッファし、前記アドレス発生部の発生するアドレスが変更される毎にバッファしている前記アドレスを順次更新するバッファ部をさらに備え、
前記アドレス発生部は、一の読出コマンドが出力されてから次の読出コマンドが出力されるまでの間、前記一の読出コマンドに対応するアドレスを前記バッファ部に対し供給しており、
前記複数のバッドブロック記憶制御部のそれぞれは、前記比較部により不一致が検出されたことに応じて、前記バッファ部から前記アドレスを読み出して、対応する被試験メモリに対応して設けられた前記バッファメモリに順次記憶していく
請求項1に記載の試験装置。 - ブロック単位でデータを記憶する複数の被試験メモリを試験する試験装置であって、
前記複数の被試験メモリに対して共通に設けられ、前記被試験メモリにおける試験対象のアドレスを順次発生するアドレス発生部と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する前記被試験メモリに個別に供給すべきアドレスを記憶する複数のバッファメモリと、
前記アドレス発生部が発生したそれぞれの前記アドレスについて、当該アドレスに記憶されたブロックデータを読み出す読出コマンドを前記複数の被試験メモリのそれぞれに対して出力する読出部と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して設けられ、前記アドレス発生部が発生したそれぞれの前記アドレスについて、前記読出コマンドに応じて前記被試験メモリが出力するブロックデータと当該ブロックデータの期待値とを比較する複数の比較部と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して設けられ、前記比較部により不一致が検出されたことに応じて、前記アドレス発生部が当該ブロックデータを読み出すために発生させた前記アドレスを、前記被試験メモリに対応して設けられた前記バッファメモリに順次記憶していく複数のバッドブロック記憶制御部と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対して並列に、前記バッファメモリに記憶された前記アドレスを個別のアドレスとして含み、当該アドレスに対応するブロックを無効化する無効化データの書き込みを行う無効化コマンドを出力する無効化処理部と
を備え、
前記複数のバッドブロック記憶制御部のそれぞれは、
前記読出コマンドの出力に応じて、前記アドレス発生部が発生させた前記アドレスを前記バッファメモリに順次記憶させる記憶処理部と、
前記記憶処理部が前記アドレスを記憶するべき前記バッファメモリのアドレスを示すアドレスポインタを記憶しており、前記比較部により不一致が検出されたことに応じて、記憶している前記アドレスポインタの値をインクリメントするアドレス制御部と
を有する試験装置。 - ブロック単位でデータを記憶する複数の被試験メモリを試験する試験装置であって、
前記複数の被試験メモリに対して共通に設けられ、前記被試験メモリにおける試験対象のアドレスを順次発生するアドレス発生部と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する前記被試験メモリに個別に供給すべきアドレスを記憶する複数のバッファメモリと、
前記アドレス発生部が発生したそれぞれの前記アドレスについて、当該アドレスに記憶されたブロックデータを読み出す読出コマンドを前記複数の被試験メモリのそれぞれに対して出力する読出部と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して設けられ、前記アドレス発生部が発生したそれぞれの前記アドレスについて、前記読出コマンドに応じて前記被試験メモリが出力するブロックデータと当該ブロックデータの期待値とを比較する複数の比較部と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して設けられ、前記比較部により不一致が検出されたことに応じて、前記アドレス発生部が当該ブロックデータを読み出すために発生させた前記アドレスを、前記被試験メモリに対応して設けられた前記バッファメモリに順次記憶していく複数のバッドブロック記憶制御部と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対して並列に、前記バッファメモリに記憶された前記アドレスを個別のアドレスとして含み、当該アドレスに対応するブロックを無効化する無効化データの書き込みを行う無効化コマンドを出力する無効化処理部と
を備え、
前記被試験メモリに入力されるアドレスは、前記アドレス発生部が発生させた前記アドレスを前記被試験メモリに対する入力形式に変換したものであり、
前記バッドブロック記憶制御部のそれぞれは、前記比較部により不一致が検出されたことに応じて、前記アドレス発生部が発生させた前記アドレスを、前記被試験メモリに対する入力形式に変換する変換前の形式で、前記バッファメモリに順次記憶してゆき、
前記バッファメモリに記憶された前記アドレスを読み出して、当該アドレスを前記被試験メモリに対する入力形式に変換する変換部を更に備え、
前記無効化処理部は、前記変換部に指示してアドレスを変換させ、変換した当該アドレスを個別のアドレスとして含み当該アドレスに対応するブロックを無効化する無効化データの書き込みを行う無効化コマンドを出力する
試験装置。 - ブロック単位でデータを記憶する複数の被試験メモリを試験装置により試験する試験方法であって、
前記試験装置は、
前記複数の被試験メモリに対して共通に設けられ、前記被試験メモリにおける試験対象のアドレスを順次発生するアドレス発生部と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する前記被試験メモリに個別に供給すべきアドレスを記憶する複数のバッファメモリと、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する前記被試験メモリに対して前記アドレス発生部が発生したアドレスおよび対応する前記バッファメモリから出力されたアドレスのいずれかを選択する複数の選択部と、
を有し、
前記アドレス発生部が発生したそれぞれの前記アドレスについて、当該アドレスに記憶されたブロックデータを読み出す読出コマンドを前記複数の被試験メモリのそれぞれに対して出力する読出段階と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して処理され、前記アドレス発生部が発生したそれぞれの前記アドレスについて、前記読出コマンドに応じて前記被試験メモリが出力するブロックデータと当該ブロックデータの期待値とを比較する複数の比較段階と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して処理され、前記比較段階における比較により不一致が検出されたことに応じて、前記アドレス発生部が当該ブロックデータを読み出すために発生させた前記アドレスを、前記被試験メモリに対応して設けられた前記バッファメモリに順次記憶していく複数のバッドブロック記憶段階と、
前記アドレス発生部が発生したアドレスに代えて前記バッファメモリから出力される前記アドレスを前記複数の選択部により選択させて、前記複数の被試験メモリのそれぞれに対して並列に、前記バッファメモリに記憶された前記アドレスを個別のアドレスとして含み、当該アドレスに対応するブロックを無効化する無効化データの書き込みを行う無効化コマンドを出力する無効化処理段階と
を備える試験方法。 - ブロック単位でデータを記憶する複数の被試験メモリを試験装置により試験する試験方法であって、
前記試験装置は、
前記複数の被試験メモリに対して共通に設けられ、前記被試験メモリにおける試験対象のアドレスを順次発生するアドレス発生部と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する前記被試験メモリに個別に供給すべきアドレスを記憶する複数のバッファメモリと、
を有し、
前記アドレス発生部が発生したそれぞれの前記アドレスについて、当該アドレスに記憶されたブロックデータを読み出す読出コマンドを前記複数の被試験メモリのそれぞれに対して出力する読出段階と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して処理され、前記アドレス発生部が発生したそれぞれの前記アドレスについて、前記読出コマンドに応じて前記被試験メモリが出力するブロックデータと当該ブロックデータの期待値とを比較する複数の比較段階と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して処理され、前記比較段階における比較により不一致が検出されたことに応じて、前記アドレス発生部が当該ブロックデータを読み出すために発生させた前記アドレスを、前記被試験メモリに対応して設けられた前記バッファメモリに順次記憶していく複数のバッドブロック記憶段階と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対して並列に、前記バッファメモリに記憶された前記アドレスを個別のアドレスとして含み、当該アドレスに対応するブロックを無効化する無効化データの書き込みを行う無効化コマンドを出力する無効化処理段階と
を備え、
前記複数のバッドブロック記憶段階のそれぞれは、
前記読出コマンドの出力に応じて、前記アドレス発生部が発生させた前記アドレスを前記バッファメモリに順次記憶させる記憶処理段階と、
前記記憶処理段階において前記アドレスを記憶するべき前記バッファメモリのアドレスを示すアドレスポインタを記憶し、前記比較段階により不一致が検出されたことに応じて、記憶している前記アドレスポインタの値をインクリメントするアドレス制御段階と
を含む試験方法。 - ブロック単位でデータを記憶する複数の被試験メモリを試験装置により試験する試験方法であって、
前記試験装置は、
前記複数の被試験メモリに対して共通に設けられ、前記被試験メモリにおける試験対象のアドレスを順次発生するアドレス発生部と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して設けられ、それぞれが対応する前記被試験メモリに個別に供給すべきアドレスを記憶する複数のバッファメモリと、
を有し、
前記アドレス発生部が発生したそれぞれの前記アドレスについて、当該アドレスに記憶されたブロックデータを読み出す読出コマンドを前記複数の被試験メモリのそれぞれに対して出力する読出段階と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して処理され、前記アドレス発生部が発生したそれぞれの前記アドレスについて、前記読出コマンドに応じて前記被試験メモリが出力するブロックデータと当該ブロックデータの期待値とを比較する複数の比較段階と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対応して処理され、前記比較段階における比較により不一致が検出されたことに応じて、前記アドレス発生部が当該ブロックデータを読み出すために発生させた前記アドレスを、前記被試験メモリに対応して設けられた前記バッファメモリに順次記憶していく複数のバッドブロック記憶段階と、
前記複数の被試験メモリのそれぞれに対して並列に、前記バッファメモリに記憶された前記アドレスを個別のアドレスとして含み、当該アドレスに対応するブロックを無効化する無効化データの書き込みを行う無効化コマンドを出力する無効化処理段階と
を備え、
前記被試験メモリに入力されるアドレスは、前記アドレス発生部が発生させた前記アドレスを前記被試験メモリに対する入力形式に変換したものであり、
前記バッドブロック記憶段階のそれぞれは、前記比較段階により不一致が検出されたことに応じて、前記アドレス発生部が発生させた前記アドレスを、前記被試験メモリに対する入力形式に変換する変換前の形式で、前記バッファメモリに順次記憶してゆき、
前記バッファメモリに記憶された前記アドレスを読み出して、当該アドレスを前記被試験メモリに対する入力形式に変換する変換段階を更に備え、
前記無効化処理段階は、前記変換段階によりアドレスを変換させ、変換した当該アドレスを個別のアドレスとして含み当該アドレスに対応するブロックを無効化する無効化データの書き込みを行う無効化コマンドを出力する
試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008558108A JP5080501B2 (ja) | 2007-02-16 | 2008-02-13 | 試験装置および試験方法 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007036361 | 2007-02-16 | ||
JP2007036361 | 2007-02-16 | ||
JP2008558108A JP5080501B2 (ja) | 2007-02-16 | 2008-02-13 | 試験装置および試験方法 |
PCT/JP2008/052377 WO2008099861A1 (ja) | 2007-02-16 | 2008-02-13 | 試験装置および試験方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2008099861A1 JPWO2008099861A1 (ja) | 2010-05-27 |
JP5080501B2 true JP5080501B2 (ja) | 2012-11-21 |
Family
ID=39690088
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008558108A Expired - Fee Related JP5080501B2 (ja) | 2007-02-16 | 2008-02-13 | 試験装置および試験方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8020054B2 (ja) |
JP (1) | JP5080501B2 (ja) |
DE (1) | DE112008000429T5 (ja) |
WO (1) | WO2008099861A1 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8176406B2 (en) * | 2008-03-19 | 2012-05-08 | International Business Machines Corporation | Hard error detection |
CN103093829A (zh) * | 2011-10-27 | 2013-05-08 | 迈实电子(上海)有限公司 | 存储器测试系统及存储器测试方法 |
EP2587489A1 (en) * | 2011-10-27 | 2013-05-01 | Maishi Electronic (Shanghai) Ltd. | Systems and methods for testing memories |
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JP4737396B2 (ja) | 2005-07-22 | 2011-07-27 | 日本電気株式会社 | 無線マルチホップネットワークの形成方法及び無線通信装置 |
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-
2008
- 2008-02-13 JP JP2008558108A patent/JP5080501B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2008-02-13 WO PCT/JP2008/052377 patent/WO2008099861A1/ja active Application Filing
- 2008-02-13 DE DE112008000429T patent/DE112008000429T5/de not_active Withdrawn
-
2009
- 2009-08-13 US US12/540,990 patent/US8020054B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8020054B2 (en) | 2011-09-13 |
DE112008000429T5 (de) | 2009-12-03 |
WO2008099861A1 (ja) | 2008-08-21 |
JPWO2008099861A1 (ja) | 2010-05-27 |
US20100042880A1 (en) | 2010-02-18 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20101201 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120522 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120713 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120814 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120830 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150907 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |