JP5040757B2 - 荷電粒子線走査装置 - Google Patents
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前記偏向コイルに駆動電流を供給する駆動回路が1段の電圧増幅を用いた電流負帰還型の構成で、且つその電流負帰還ループに含まれる前記偏向コイルに並列に抵抗器が接続されており、前記駆動回路は、
a)制御目標電圧に応じた目標電流と前記偏向コイルに流れる駆動電流との差に対応する誤差電流を抽出する誤差電流検出部と、
b)高いインピーダンス状態を有する後記電流増幅部の入力段を挟むように正極性側と負極性側とにそれぞれ設けられ、該電流増幅部の入力段に前記誤差電流を転写するカレントミラー部と、
c)該カレントミラー部により転写された誤差電流を所定の駆動電流レベルまで増幅する電流増幅部と、
を含むことを特徴としている。
10…入力バッファ部
12…カレントミラー部
14…電流増幅部
16…磁気回路部
R6…ダンピング抵抗器
R7…電流検出用抵抗器
Claims (1)
- 試料に照射する荷電粒子線を、偏向コイルにより形成される偏向磁場を利用して1次元的又は2次元的に走査する荷電粒子線走査装置において、
前記偏向コイルに駆動電流を供給する駆動回路が1段の電圧増幅を用いた電流負帰還型の構成で、且つその電流負帰還ループに含まれる前記偏向コイルに並列に抵抗器が接続されており、前記駆動回路は、
a)制御目標電圧に応じた目標電流と前記偏向コイルに流れる駆動電流との差に対応する誤差電流を抽出する誤差電流検出部と、
b)高いインピーダンス状態を有する後記電流増幅部の入力段を挟むように正極性側と負極性側とにそれぞれ設けられ、該電流増幅部の入力段に前記誤差電流を転写するカレントミラー部と、
c)該カレントミラー部により転写された誤差電流を所定の駆動電流レベルまで増幅する電流増幅部と、
を含むことを特徴とする荷電粒子線走査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008070595A JP5040757B2 (ja) | 2008-03-19 | 2008-03-19 | 荷電粒子線走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008070595A JP5040757B2 (ja) | 2008-03-19 | 2008-03-19 | 荷電粒子線走査装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009224292A JP2009224292A (ja) | 2009-10-01 |
JP2009224292A5 JP2009224292A5 (ja) | 2010-08-05 |
JP5040757B2 true JP5040757B2 (ja) | 2012-10-03 |
Family
ID=41240840
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2008070595A Active JP5040757B2 (ja) | 2008-03-19 | 2008-03-19 | 荷電粒子線走査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP5040757B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP5515484B2 (ja) * | 2009-07-28 | 2014-06-11 | 株式会社島津製作所 | 電流帰還型電源及び荷電粒子線装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3776129B2 (ja) * | 1996-10-14 | 2006-05-17 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | ダンピングインピーダンス補償付き偏向回路 |
WO1998017055A2 (en) * | 1996-10-14 | 1998-04-23 | Philips Electronics N.V. | Deflection with low offset |
JP4428174B2 (ja) * | 2004-09-13 | 2010-03-10 | 株式会社島津製作所 | 走査電子顕微装置 |
JP4581824B2 (ja) * | 2005-05-06 | 2010-11-17 | 株式会社島津製作所 | 粒子線顕微鏡、及び真空分析装置用部材移動機構 |
JP2007150380A (ja) * | 2005-11-24 | 2007-06-14 | Hitachi High-Technologies Corp | 演算増幅器及びそれを用いた走査電子顕微鏡 |
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2008
- 2008-03-19 JP JP2008070595A patent/JP5040757B2/ja active Active
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JP2009224292A (ja) | 2009-10-01 |
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