JP5037062B2 - 光走査装置及び光走査装置を備えた画像形成装置 - Google Patents
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また、請求項2の発明は、請求項1の光走査装置において、複数の光ビームを同時に発射したときの各光ビームの前記主走査線偏向手段に入射する入射角度が異なるように、光ビーム発射手段および/または光ビーム発射手段から前記主走査線偏向手段までの光ビームの光路上に設けられた光学素子を配置したことを特徴とするものである。
また、請求項3の発明は、請求項1または2の光走査装置において、前記主走査線偏向手段によって偏向せしめられた後の各走査ビームを、同一の折り返しミラーに反射させて、前記ビーム検知センサに入射させることを特徴とするものである。
また、請求項4の発明は、請求項1乃至3いずれかの光走査装置において、前記光学素子保持部材を、金属で構成したことを特徴とするものである。
また、請求項5の発明は、請求項1乃至4いずれかの光走査装置において、前記ビーム検知センサは、走査ビームの副走査線方向の位置に応じて、異なる信号を生じさせる信号発生手段を備えたことを特徴とするものである。
また、請求項6の発明は、請求項5の光走査装置において、前記ビーム検知センサは、受光素子を備え、走査ビームの副走査線方向の位置に応じて、前記受光素子の走査ビーム検知時間を異ならせたことを特徴とするものである。
また、請求項7の発明は、請求項5の光走査装置において、前記ビーム検知センサは、主走査線方向に少なくとも2つ以上の受光素子を配置し、一つ目の受光素子が走査ビームを検知してから、次の受光素子が走査ビームを検知するまでの時間を走査ビームの副走査線方向の位置に応じて、異ならせたことを特徴とするものである。
また、請求項8の発明は、請求項6または7の光走査装置において、前記ビーム検知センサは、前記受光素子に入射する前の走査ビームを副走査線方向に屈折せしめる光学素子を有することを特徴とするものである。
また、請求項9の発明は、請求項8の光走査装置において、前記ビーム検知センサが有する光学素子は、集光レンズであって、前記受光素子の配置位置と前記集光レンズの集光位置とを異ならせたことを特徴とするものである。
また、請求項10の発明は、請求項8または9の光走査装置において、前記ビーム検知センサは、前記受光素子と前記光学素子とを保持する同期素子保持部材を有することを特徴とするものである。
また、請求項11の発明は、請求項10の光走査装置において、前記同期素子保持部材の線膨張係数を前記筐体の線膨張係数よりも低くしたことを特徴とするものである。
また、請求項12の発明は、請求項1乃至11いずれかの光走査装置において、走査レンズ通過後の走査ビームが前記ビーム検知センサへ入射するように構成したことを特徴とするものである。
また、請求項13の発明は、請求項1乃至12いずれかの光走査装置において、走査ビームの走査開始位置を検知する走査開始用のビーム検知センサと、走査ビームの走査終了位置を検知する走査終了用のビーム検知センサとを備えたことを特徴とするものである。
また、請求項14の発明は、請求項1乃至13いずれかの光走査装置を備えたことを特徴とするものである。
また、請求項15の発明は、請求項14の画像形成装置において、前記ビーム検知センサの検知結果に基づいて、副走査線方向の位置ずれ量を算出する算出手段と、この算出された位置ずれ量に基づいて、副走査線方向の位置ずれを補正する副走査線補正手段を備えたことを特徴とするものである。
また、請求項16の発明は、請求項15の画像形成装置において、前記副走査線補正手段は、副走査線方向1走査を単位として位置ずれ補正することを特徴とするものである。
また、請求項17の発明は、請求項15または16の画像形成装置において、複数回前記ビーム検知センサで走査ビームの副走査線方向の位置を検知して、各検知結果に基づいてそれぞれ位置ずれ量を算出し、これら算出した位置ずれ量の平均値に基づいて位置ずれ補正を行うことを特徴とするものである。
図1は、潜像担持体としての複数、4つのドラム状をした感光体10Y、10C、10M、10Kをタンデム配列したフルカラー画像形成装置の例であり、これら感光体は画像形成手段たる各作像装置7Y、7C、7M、7Kの一部として構成されている。これら作像装置7Y、7C、7M、7Kは順に、イエロー、シアン、マゼンタ、ブラックの各色に対応し、これらの色の画像をつくる。
尚、中間転写ベルト14は、黒画像1色形成モードに適合させるために、感光体10Kについては一次転写ローラ16により常時接触させる構成であり、他の感光体については、可動のテンションローラの機能により中間転写ベルト14が接離する構成としている。中間転写ベルト14上の残トナーを除去するためのクリーニング装置17がローラ15b部に設けられている。
例えば、作像装置7Yの現像装置12については、イエローの現像剤が収納されていて、潜像をイエロー画像で可視像化する。他の作像装置についても、それぞれの色の現像剤が収納されていて、その収納されている現像剤の色で潜像を可視像化する。
感光体10Y上のイエロートナー像は、一次転写ローラ16により中間転写ベルト14に転写される。中間転写ベルト14上の、このイエロートナー画像は、作像装置7Cでシアントナー画像、作像装置7Mでマゼンタトナー画像、作像装置7Bでブラックトナー画像と順次重ね転写される。これにより、フルトナー画像が形成される。
本例の画像形成装置では、各感光体上のトナー画像を一旦中間転写ベルト14上に重ね転写して、この重ねトナー画像をシート状媒体に一括転写する方式であるが、かかる中間転写ベルトに代えて表面移動部材たる記録紙搬送ベルトを設け、この記録紙搬送ベルトにより記録材を載せて搬送し、この搬送の過程で、各感光体から順次カラートナー像を記録材上に重ね転写することにより、フルカラー画像を合成する方式のカラー画像形成装置も知られている。本発明は、これら何れの方式の画像形成装置に対しても、適用可能である。
図2は、光走査装置20の構成を示す概略断面図である。
図3は、光走査装置20を下から見たときの概略図である。
図に示す光走査装置20はタンデム式の書込光学系であり、走査レンズ方式を採用しているが、走査レンズ、走査ミラー方式のいずれにも対応可能である。
光走査装置20は、主走査線偏向手段たるポリゴンスキャナ130、各種の反射ミラー、各種のレンズ等の光学素子を備えている。ポリゴンスキャナ130は、光走査装置20の略中央に配置されている。そして、図示しないポリゴンモータのモータ回転軸に固定された上段ポリゴンミラー26と下段ポリゴンミラー27とを有している。かかる構成のポリゴンスキャナ130は、その周囲が防音ガラス120によって囲まれている。
入力された画像データに基づいて発光した光ビームLkは、上述同様、結像レンズ24Kなどを通過して、上段ポリゴンミラー27に走査されて、走査レンズ28aに入射する。走査レンズ28aに入射した走査ビームLkは、図2に示すように、長尺レンズ30Kを通過した後、第1〜第3ミラー31K、32K、33Kを介して感光体10Kに照射される。
ビーム検知ユニット300は、図4に示すように、受光素子たるフォトダイオードPDと同期光学素子300bとを有し、これらフォトダイオードPDと同期光学素子300bと、図示しない信号発生回路基板が、同期素子保持部材300cに保持されている。
同期光学素子300bは、フォトダイオードPDに入射するビームスポット径が小さくなるように、ビーム検知ユニット300に入射した走査ビームを副走査線方向に集光させるものである。このように、フォトダイオードPDに入射するビームスポット径を小さくすることで、受光素子を小さくすることができる。同期光学素子を、図4に示すように、折り返しミラーを用いて構成して、走査ビームを集光させてもよい。また、図5に示すように、プリズムを用いて、走査ビームを集光させてもよい。また、図6に示すように、集光レンズを用いて走査ビームを集光させてもよい。ただし、同期光学素子として、集光レンズを用いた場合、集光レンズの集光位置に受光素子PDを配置すると、副走査線方向の検知ができなくなる。よって、集光レンズの集光位置と受光素子PDの配置位置とが異なるように、配置する。
図に示すようにビーム検知ユニット300(301)は、第1受光素子たるフォトダイオードPD1(PD1’)の受光面は走査ビームに直交し、第2受光素子たるフォトダイオードPD2(PD2’)の受光面はフォトダイオードPD1(PD1’)の受光面に対して傾いている。この傾き角をα1とする。1対のフォトダイオード間、すなわちフォトダイオードPD1とPD2との間、或いは、フォトダイオードPD1’とPD2’との間を走査ビームL1が通過する時間T1と、走査ビームL1からΔZ副走査線方向にずれた走査ビームL2が通過する時間T2とが異なる。すなわち、走査ビームの副走査線方向の位置に応じて、フォトダイオードPD1(PD1’)が走査ビームを検知して検知信号を出力してから、フォトダイオードPD2(PD2’)が走査ビームを検知して検知信号を出力するまでの時間を異ならせたのである。そして、時間T1、T2の時間差(T2−T1)を求めることにより、走査ビームL2の走査ビームL1に対する副走査方向の相対的な位置ずれを算出することができる。すなわち、副走査方向の相対的なドット位置ずれΔZは、PD1とPD2との各受光面間のなす角度α1と、時間差T2−T1が既知であるので、計算により容易に求めることができる。
この場合、フォトダイオードがPD1とPD3との間、或いは、フォトダイオードPD1’とPD3’との間を走査ビームL1、L2が通過する時間T3、T3’を計測する。PD1とPD3との距離は副走査線方向の位置が異なっても等しいので、T3とT3’との比が走査ビームL1の走査速度と走査ビームL2の走査速度との速度比となる。このT3とT3’の比で、フォトダイオードPD1(PD1’)とPD2(PD2’)との間を走査ビームL2が通過する時間T2を補正する。これにより、PD1とPD2との各受光面間のなす角度α1と、T3とT3’との比で補正されたT2とT1との時間差から、走査速度Vが明確でなくても副走査方向の位置ずれ量ΔZを算出することができる。なお、PD1、PD2、PD3の間隔が走査速度に対し非常に小さいので、PD1、PD2、PD3間を通過する走査速度はほぼ一定とできる。よって、走査ビームの走査速度が等速でなくても、精度のよい副走査方向補正量ΔZを算出することができる。また、T3とT3’との比で補正されたT2とT1との時間差には、微小な走査速度変化は大よそ相殺されることになる。
この場合は、走査ビームL1がフォトダイオードPD1を通過する時間Taと、走査ビームL1から副走査線方向にΔZずれた走査ビームL2がフォトダイオードPD2を通過する時間Tbとが異なる。すなわち、走査ビームの副走査線方向の位置に応じて、フォトダイオードPD1が走査ビームを検知する検知時間を異ならせたのである。
そして、時間Ta、Tbの時間差(Tb−Ta)を求めることにより、走査ビームL2の走査ビームL1に対する副走査方向の相対的な位置ずれを算出することができる。すなわち、副走査方向の相対的なドット位置ずれΔZは、PD1の斜辺の角度α2と、時間差Tb−Taが既知であるので、計算により容易に求めることができる。
また、先端ビーム検知ユニット300のフォトダイオードPD1と後端ビーム検知ユニット301のフォトダイオード間PD1’との間を走査ビームが通過するに要する時間T0の変動を検知することにより、主走査方向の倍率変動をモニターすることも可能である。
副走査線方向の色ずれ補正実施時に、K、M、C、Yの光源ユニット21から、同時に光ビームLk、Lm、Lc、Lyが発射される。光ビームLkと、光ビームLmは、異なる角度で反射ミラー23aに入射させ、ポリゴンミラー26、27へそれぞれ異なる角度で入射する。これによって、ポリゴンミラー26、27によってそれぞれ走査されたK色の走査ビームLk、走査ビームLmのうち、いずれか一方が走査レンズ28aを通過し、最初に折り返しミラー302MKに入射する。そして、先端ビーム検知ユニット300MKに入射して、副走査線方向の位置が検知される。次に、他方の走査ビームが、遅れて走査レンズ28aを通過し折り返しミラー302MKに入射する。そして、先端ビーム検知ユニット300MKに入射して、副走査線方向の位置が検知される。これにより、走査ビームLk、Lmの先端ビーム検知ユニット300MKに入射するタイミングが異なり、ひとつのビーム検知ユニットで、2つの走査ビームLk、Lmの副走査線方向の位置ずれを検知することができる。
光学素子保持部材101の図中手前側および奥側の左右には、筐体100との位置決め部たる位置決め凹部102a(図示せず)、102b(図示せず)、102c、102dと、位置決め孔部103a、103b、103c、103dが設けられている。
上記位置決め凹部102a〜102dが、筐体100の位置決め凸部(図示せず)と係合することで、光学素子保持部材101の副走査線方向の位置決めがなされる。また、位置決め孔部103a〜103dが、筐体100の位置決めピンに挿入されることで、主走査線方向の位置決めがなされる。
図に示すように、シャッター400の一端には、歯400aが設けられている。歯400aには、ギア400bが噛み合っており、このギア400bには図示しない駆動手段が接続されている。
光走査装置内のポリゴンモータの発熱や、環境温度の変化により各光学素子間の位置及び角度等微妙に変化することで、感光体への副走査方向の走査位置が変化し色ずれが発生してしまう。このように、温度によって色間のレジストの変化(各色の単色画像の間における相対的なずれ(相対ずれ))は大きく変化し、画像の劣化を招いている。
図15において、検出モード時に色ずれ検知用センサ330からの検知信号、ビーム検知ユニット301、302から検知信号がインターフェイスI/F340を介してCPU341に入力され、その信号から得られた色ずれ補正値(副走査線方向の位置ずれ量ΔZ)がメモリ手段であるメモリ342に格納される。そして、CPU341は、メモリ342に格納された情報や各検知センサの検知信号に基づいて、色ずれ補正量を算出し、算出した色ずれ補正量に基づいて、インターフェイスI/F340を介してLDの発光タイミングを制御したり、副走査線方向偏向素子を制御したりする。
図16に、設定値を算出手順の一例を示す。
色ずれ検出パタ−ン動作開始時に、各ビームの主走査同期を検出した後(S14)、副走査方向のビーム位置をビーム検知ユニット300もしくはビーム検知ユニット300,301で測定する(S15)。測定回数は、ポリゴンミラー1回転内でミラーの面倒れが異なるので、正確には1面ごとに微小に変化し、センサの読取り誤差等によるばらつきがある。よって、ポリゴンミラー面数(1回転)×n(整数倍)とすることで正確に副走査方向のビーム位置を測定できる。
まず、実施例1の色ずれ補正手順について、説明する。
実施例1の色ずれ補正は、通常のプリント動作スタート時に行うものである。
図17は、通常のプリント動作時の補正手順を示す図である。
図に示すように、プリント動作がスタートし、ポリゴンモータに駆動電圧を印加したら(ポリゴンスタート)(S21)、レーザ発光素子LDを発光させて(S22)、各ビームの副走査位置を検出する(S23)。具体的には、先端ビーム検知ユニット300MKおよび後端ビーム検知ユニット301MKでK色の走査ビームLkの副走査線方向の位置と、M色の走査ビームLmの副走査線方向の位置とを検出する。また、これと同時に、先端ビーム検知ユニット300CYおよび後端ビーム検知ユニット301CYでC色の走査ビームLcの副走査線方向の位置と、Y色の走査ビームLyの副走査線方向の位置とを検出する。そして、前述のメモリに格納した副走査ビーム位置設定値と、測定値とから、色ずれ補正量ΔZを算出し、副走査ビーム位置を補正する(S24)。色ずれ補正をしたら、シャッター400を開いて(S25)、感光体に照射可能にする。そして、前述のメモリに格納した副走査ビーム位置設定値と比較し、後述する副走査線方向偏向手段により副走査ビーム位置を設定値の位置に合うよう色ずれ補正する(S24)。色ずれ補正をしたら、シャッター400を開いて(S25)、感光体に照射可能にする。
一方、ビーム検知ユニット300、301でそれぞれ算出された色ずれ補正量ΔZの平均値に基づいて色ずれ補正を行った場合は、走査ビームの中央が設定位置に合う。そして、開始位置および終了位置は、それぞれ同じ量分設定位置からずれるが、ビーム検知ユニット300、301のいずれかで検知された結果をもとに算出した色ずれ補正量ΔZに基づいて補正した場合に比べて走査ビームの開始位置および終了位置いずれも設定位置から大幅にずれることがない。これにより、ビーム検知ユニット300、301のいずれかで検知された結果をもとに算出した色ずれ補正量ΔZに基づいて補正した場合に比べて、傾きによる色ずれを抑制することができる。
次に、実施例2の色ずれ補正手順について説明する。
実施例2の色ずれ補正手段は、プリント動作終了時に行うものである。
図18は、実施例2の色ずれ補正手順を示す図である。
プリント動作が終了すると、ポリゴンモータへの駆動電圧をOFFにする(S29)にし、シャッター400を閉じる(S30)。ポリゴンモータへの駆動電圧がOFFになると、ポリゴンミラー26、27は惰性で回転を続け徐徐に速度を落とし停止する。実施例2の色ずれ補正は、ポリゴンミラー26、27が惰性で回転して停止するまでの期間を利用して、色ずれ補正を行うものである。すなわち、図に示すようにポリゴンモータへの駆動電圧がOFFになり(S29)、シャッター400が閉じたら(S30)、レーザ発光素子LDを発光する(S31)。各ビームの副走査位置を測定して(S32)、前述のメモリに格納した副走査ビーム位置設定値と、測定値とから色ずれ補正量ΔZを算出する。そして、色ずれ補正量ΔZに基づいて色ずれ補正する(S33)。色ずれ補正が終了したら、レーザ発光素子LDを消灯する(S34)。
次に、実施例3の色ずれ補正手順について説明する。
実施例4の色ずれ補正は、装置の電源投入時、省エネモードからの復帰時、前回色ずれ補正を実施して所定時間経過したときに色ずれ補正を行うものである。
図19は、実施例3の色ずれ補正手順を示す図である。
装置の電源投入時、省エネモードからの復帰時、前回色ずれ補正を実施して所定時間経過したときなど、所定のタイミングとなったら、色ずれ補正をスタートさせる。色ずれ補正がスタートしたら、ポリゴンモータに駆動電圧を印加にして(S52)、ポリゴンミラー26、27の回転を開始する。ポリゴンミラーの回転速度が徐徐に加速して、ポリゴンモータが設定された回転速度で等速回転したら、ポリゴンモータを制御しているモータ制御部からロック信号が送信される。この送信されたロック信号を検知(ポリゴンロック)したら(S53)、レーザ発光素子LDを発光する(S54)。
以下に副走査線方向偏向手段について、実施例A〜Cに基づいて説明する。
まず、実施例Aの副走査線方向偏向手段について説明する。
図20〜図23に、実施例Aの副走査線方向偏向手段の構成例を示す。
実施例1の副走査線方向偏向手段は、液晶からなる液晶光学素子140と液晶光学素子140に電圧を印加する制御回路141との組合せ(図20)からなっている。液晶光学素子140は、光ビームを射出する光源と主走査線偏向手段(ポリゴンスキャナ130)との間、またはポリゴンスキャナ130と走査レンズ28a、28bとの間に液晶光学素子140を配置する。例えば、図21に示すように、光走査装置20内の構成物の一部(光源たるLD、コリメートレンズ21a、偏向手段たるポリゴンミラー26、液晶光学素子140、制御回路141、走査レンズ28の配置関係を示している。液晶光学素子140は偏向手段たるポリゴンミラー26と走査レンズ28との間に配置されている。ポリゴンミラー26により偏向走査される光ビームは液晶光学素子140により図中D方向(副走査方向)にビーム位置の補正が可能である。
次に、実施例Bの副走査線方向偏向手段について説明する。
図24〜図27に、実施例Bの副走査線方向偏向手段の構成例を示す。
実施例Bは特開2004−4191号公報に開示されている副走査線方向偏向手段を利用するものである。すなわち、光ビームを透過し、主走査方向の軸と平行な軸で回転可能に設置された平行平板150を使用する。光ビームを射出する光源LDとポリゴンミラー26との間、またはポリゴンミラー26と走査レンズ28との間に平行平板150を配置する。回転により傾いた平行平板150に光ビームを入射させることにより、副走査方向のビーム位置の補正が可能である(図24)。
実施例Bの副走査線方向偏向手段は、偏芯カム151、ステッピングモータ等のアクチュエータ152、平行平板突き当て面153、板ばね154、回転軸159、平行平板150から構成されている。
次に、実施例Cの副走査線方向偏向手段について説明する。
図29〜図32に、実施例Cの副走査線方向偏向手段の構成例を示す。
実施例Cは特開2003−330243号公報に開示されている副走査線方向偏向手段を利用するものである。すなわち、図29に示すように、レーザ発光素子LDは、LDユニット(光学素子ユニット)21として、カップリング光学系であるコリメートレンズ21aとともに保持部材21bに保持されている。レーザ発光素子LDから出射された光ビームBは、コリメートレンズ21a及びポリゴンミラー26との間に配設されているアパーチャ21cとシリンダレンズ24を通して、ポリゴンミラー26に照射される。このLDユニット21は、ポリゴンミラー26及び感光体10に光ビームBを照射させる他の光学素子を保持して光学ユニットを構成する筐体100に対して、回転可能に取り付けられている。また、LDユニット21の回転中心軸OSと光ビームBの光軸が、主に主走査方向に所定のずれを有する状態で取り付けられている。さらに、ポリゴンミラー26の偏向位置でLDユニット21の回転中心軸OSとビーム光軸を略一致させている。
ついで、LDユニット21が回転中心軸OSを中心として回転する。すると、図31に示すように、レーザ発光素子LDとカップリング光学系を保持する保持部材21bからなるLDユニット21が副走査方向に変位する。これにより、レーザ照射位置が移動する。
その結果、図32に示すように、レーザ発光素子LDから出射された光ビームBが、感光体10上では、回転中心を中心にして、副走査方向に移動して、ビーム照射位置が変位する。
このように、LDユニット21を回転中心軸OSを中心に回転させることで、繰り返し安定性を向上させることができ、色ずれを高精度に補正することが可能となる。
各色の単色画像における走査線傾きは、装置全体の設置状態や環境温度等により変動し副走査方向の色ずれとなってしまう。
従来の補正方法としては、前述の色ずれの検出パターンを中間転写ベルト上に複数列(最低2列)作成し、その位置に対応した複数の位置ずれパターン検知センサ330により各色間の傾きによる色ずれを測定する。ついで基準色に対しての傾き量を算出し、この量に基づいて副走査線方向偏向手段によりビームの傾きを補正していた。詳しくは、各々の色毎にこの傾き量を補正する量とし、この量に基づいて偏向素子への印加電圧を求める。しかし、この電圧波形は、図33のように一ライン走査中に変化する電圧であり、主走査の同期検知信号をトリガーにして偏向素子に繰返し供給することでビームの傾きを補正していた。
これらは特開2004−287380号公報に開示されている傾き調整手段を利用するものである。ここでは、図34に示すように、光走査装置20に、長尺レンズ30を副走査方向Bに矯正してビームによる感光体10上における走査線の曲がりを補正する走査線曲がり補正手段71と、長尺レンズ30の全体を傾けてビームによる感光体10上における走査線の傾きを補正する走査線傾き補正手段72とを有した構成を示している。
等により、基準面65上において支持部材63に固定されている。
走査線曲がり補正手段71については、説明を省略する。
9 二次転写ローラ
11 帯電ローラ
12 現像装置
14 中間転写ベルト
19 排紙トレイ
20 光走査装置
21 光源ユニット
100 筐体
101 光学素子保持部材
120 防音ガラス
130 ポリゴンスキャナ
300,301 ビーム検知ユニット
Claims (17)
- 複数の光ビーム発射手段と、これら光ビーム発射手段から発射された各光ビームを主走査線方向に偏向する主走査線偏向手段と、前記主走査線偏向手段によってそれぞれ偏向せしめられた後の走査ビームを検知するビーム検知センサとを備えた光走査装置において、
前記ビーム検知センサは、光ビームの副走査線方向の位置を検知する機能を備え、前記主走査線偏向手段によって偏向せしめられた後の複数の走査ビームを、同一のビーム検知センサに入射させるように構成し、
前記光ビーム発射手段と、前記主走査線偏向走査手段と、前記ビーム検知センサと、前記光ビーム発射手段から被照射体までの光ビームの光路上に設けられた光学素子とを収納する筐体と、前記光ビーム発射手段から前記ビーム検知センサまでの光ビームの光路上以外に配置された光学素子を保持する光学素子保持部材とを備え、前記光学保持部材の線膨張係数を、前記筐体よりも低くし、
前記被照射体との位置決めを行う位置決め部を前記筐体に備え、前記光学素子保持部材を、前記筐体の前記位置決め部近傍に位置決めすることを特徴とする光走査装置。 - 請求項1の光走査装置において、
複数の光ビームを同時に発射したときの各光ビームの前記主走査線偏向手段に入射する入射角度が異なるように、光ビーム発射手段および/または光ビーム発射手段から前記主走査線偏向手段までの光ビームの光路上に設けられた光学素子を配置したことを特徴とする光走査装置。 - 請求項1または2の光走査装置において、
前記主走査線偏向手段によって偏向せしめられた後の各走査ビームを、同一の折り返しミラーに反射させて、前記ビーム検知センサに入射させることを特徴とする光走査装置。 - 請求項1乃至3いずれかの光走査装置において、
前記光学素子保持部材を、金属で構成したことを特徴とする光走査装置。 - 請求項1乃至4いずれかの光走査装置において、
前記ビーム検知センサは、走査ビームの副走査線方向の位置に応じて、異なる信号を生じさせる信号発生手段を備えたことを特徴とする光走査装置。 - 請求項5の光走査装置において、
前記ビーム検知センサは、受光素子を備え、走査ビームの副走査線方向の位置に応じて、前記受光素子の走査ビーム検知時間を異ならせたことを特徴とする光走査装置。 - 請求項5の光走査装置において、
前記ビーム検知センサは、主走査線方向に少なくとも2つ以上の受光素子を配置し、一つ目の受光素子が走査ビームを検知してから、次の受光素子が走査ビームを検知するまでの時間を走査ビームの副走査線方向の位置に応じて、異ならせたことを特徴とする光走査装置。 - 請求項6または7の光走査装置において、
前記ビーム検知センサは、前記受光素子に入射する前の走査ビームを副走査線方向に屈折せしめる光学素子を有することを特徴とする光走査装置。 - 請求項8の光走査装置において、
前記ビーム検知センサが有する光学素子は、集光レンズであって、前記受光素子の配置位置と前記集光レンズの集光位置とを異ならせたことを特徴とする光走査装置。 - 請求項8または9の光走査装置において、
前記ビーム検知センサは、前記受光素子と前記光学素子とを保持する同期素子保持部材を有することを特徴とする光走査装置。 - 請求項10の光走査装置において、
前記同期素子保持部材の線膨張係数を前記筐体の線膨張係数よりも低くしたことを特徴とする光走査装置。 - 請求項1乃至11いずれかの光走査装置において、
走査レンズ通過後の走査ビームが前記ビーム検知センサへ入射するように構成したことを特徴とする光走査装置。 - 請求項1乃至12いずれかの光走査装置において、
走査ビームの走査開始位置を検知する走査開始用のビーム検知センサと、走査ビームの走査終了位置を検知する走査終了用のビーム検知センサとを備えたことを特徴とする光走査装置。 - 請求項1乃至13いずれかの光走査装置を備えたことを特徴とする画像形成装置。
- 請求項14の画像形成装置において、
前記ビーム検知センサの検知結果に基づいて、副走査線方向の位置ずれ量を算出する算出手段と、この算出された位置ずれ量に基づいて、副走査線方向の位置ずれを補正する副走査線補正手段を備えたことを特徴とする画像形成装置。 - 請求項15の画像形成装置において、
前記副走査線補正手段は、副走査線方向1走査を単位として位置ずれ補正することを特徴とする画像形成装置。 - 請求項15または16の画像形成装置において、
複数回前記ビーム検知センサで走査ビームの副走査線方向の位置を検知して、各検知結果に基づいてそれぞれ位置ずれ量を算出し、これら算出した位置ずれ量の平均値に基づいて位置ずれ補正を行うことを特徴とする画像形成装置。
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