JP5020645B2 - 感光性樹脂組成物、及びこれを用いたパターン形成方法 - Google Patents

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本発明は、感光性樹脂組成物、及びこれを用いたパターン形成方法に関し、特に、高膜厚、高アスペクト比の微細なレジストパターンを形成できる高感度、高解像性の感光性樹脂組成物、及びこれを用いたパターン形成方法に関する。
近年、半導体製造技術を利用して微細部品を同一チップ内に集積させ、高性能且つ高集積度を実現した大量生産性システムとして注目されているMEMS(Micro Electro Mechanical System)は、情報通信分野から自動車、民生機器、医療、バイオ分野へと様々な分野に展開が期待されている。これら各分野におけるダウンサイジング化の要請は、ますます高まる傾向にあり、高膜厚、高アスペクト比の微細なレジストパターンを形成できる感光性樹脂組成物の開発が求められている。
しかしながら、ノボラック樹脂と光酸発生剤のジアゾナフトキノンとを含む従来の感光性樹脂組成物は、高膜厚下では、高アスペクト比を有するプロファイルを得ることはできなかった。ジアゾナフトキノン型の光酸発生剤は、露光に用いられる近紫外光に対して高い吸収を示し、厚膜の上部と底部で露光強度が大きく異なる結果、得られる樹脂パターンのプロファイルがテーパー状になったり歪曲したりするためである。
これに対して、高アスペクト比の微細なレジストパターンを形成できる感光性樹脂組成物として、エポキシ樹脂と酸発生剤とを含有する感光性樹脂組成物が提案されている。具体的には、エポキシ官能性ノボラック樹脂、トリアリールスルホニウム塩等の酸発生剤、及びエポキシ反応基と反応可能な希釈剤からなる感光性樹脂組成物が開示されている(例えば、特許文献1参照)。また、多官能性ビスフェノールAホルムアルデヒド−ノボラック樹脂、酸発生剤のトリフェニルスルフォニウムヘキサフルオロアンチモネート、及びシクロペンタノン溶剤からなり、厚膜形成が可能な感光性樹脂組成物が開示されている(例えば、特許文献2参照)。
一方、ジアゾナフトキノン型の光酸発生剤以外にも、高感度、高解像性の感光性樹脂組成物が提案されている。例えば、芳香族スルホニウムカチオン重合開始剤を用いた感光性樹脂組成物が開示されている(特許文献3及び4参照)。また、360nm以上の露光光に吸収を有するカチオン重合開始剤を含有する永久膜レジスト組成物が開示されている(特許文献5参照)。
上述した光カチオン重合開始剤は、通常、カチオン成分とアニオン成分とから構成される。アニオン成分としては、SbF 、AsF 、PF 、BF 等が挙げられ、感度の序列はSbF >AsF >PF >BF であることが知られている。このため、高感度であるアンチモン(Sb)系、ヒ素(As)系のカチオン重合開始剤が広く用いられている。
ところが、アンチモンは劇物であり、ヒ素は毒物であるため、安全上の観点からその使用は好ましいものとは言えない。そこで、アンチモンやヒ素を含有しないカチオン重合開始剤として、オニウムフッ素化アルキルフルオロリン酸塩が開示されている(特許文献6参照)。
特公平7−78628号公報 米国特許第6391523号公報 特開平9−268205号公報 特開2005−055865号公報 特開平10−097068号公報 国際公開第2005/116038号公報
しかしながら、上記オニウムフッ素化アルキルフルオロリン酸塩を感光性樹脂組成物中に単に配合するのみでは、感度の向上はある程度見込めるものの、良好なパターン形状は得られない。即ち、上記オニウムフッ素化アルキルフルオロリン酸塩を感光性樹脂組成物中に配合するに際しては、さらなる感度の向上、良好なパターン形状の確保の観点から改善が必要であり、高膜厚、高アスペクト比の微細なレジストパターンを形成できる高感度、高解像性の感光性樹脂組成物の開発が望まれていた。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、安全性が高く、且つ高膜厚、高アスペクト比の微細なレジストパターンを形成できる高感度、高解像性の感光性樹脂組成物を提供することにある。
本発明者らは、鋭意研究を重ねた結果、ある特定の構造を有するカチオン重合開始剤と、ジヒドロキシナフタレン構造を有する増感剤を含有する感光性樹脂組成物によれば、上記課題を解決できることを見出し、本発明を完成するに至った。
即ち、本発明は、(a)多官能エポキシ樹脂、(b)カチオン重合開始剤、及び(c)増感剤を含有してなる感光性樹脂組成物であって、前記(b)成分が、下記一般式(1):
Figure 0005020645
(式(1)中、Aは原子価mの硫黄原子又はヨウ素原子を表し、mは1又は2である。nは括弧内の構造の繰り返し単位数を表し、0〜3の整数である。RはAに結合している有機基であり、炭素数6〜30のアリール基、炭素数4〜30の複素環基、炭素数1〜30のアルキル基、炭素数2〜30のアルケニル基、又は炭素数2〜30のアルキニル基を表し、Rはアルキル、ヒドロキシ、アルコシキ、アルキルカルボニル、アリールカルボニル、アルコシキカルボニル、アリールオキシカルボニル、アリールチオカルボニル、アシロキシ、アリールチオ、アルキルチオ、アリール、複素環、アリールオキシ、アルキルスルフィニル、アリールスルフィニル、アルキルスルホニル、アリールスルホニル、アミノ、シアノ、ニトロの各基、及びハロゲンからなる群より選ばれる少なくとも1種で置換されていてもよい。Rの個数はm+n(m−1)+1であり、Rはそれぞれ互いに同じであっても異なっていてもよい。また、2個以上のRが互いに直接、又は−O−、−S−、−SO−、−SO−、−NH−、−NR’−、−CO−、−COO−、−CONH−、炭素数1〜3のアルキレン基若しくはフェニレン基を介して結合し、Aを含む環構造を形成してもよい。R’は炭素数1〜5のアルキル基又は炭素数6〜10のアリール基である。
Dは下記一般式(2)で表される構造であり、
Figure 0005020645
式(2)中、Eは炭素数1〜8のアルキレン基、炭素数6〜20のアリーレン基、又は炭素数8〜20の複素環化合物の2価の基を表し、Eは炭素数1〜8のアルキル、炭素数1〜8のアルコキシ、炭素数6〜10のアリール、ヒドロキシ、シアノ、ニトロの各基、及びハロゲンからなる群より選ばれる少なくとも1種で置換されていてもよい。Gは−O−、−S−、−SO−、−SO−、−NH−、−NR’−、−CO−、−COO−、−CONH−、炭素数1〜3のアルキレン基、又はフェニレン基を表す。aは0〜5の整数である。a+1個のE及びa個のGはそれぞれ同一であっても異なっていてもよい。R’は前記のものと同じである。
はオニウムの対イオンである。その個数は1分子当たりn+1であり、そのうち少なくとも1個は下記一般式(3)で表されるフッ素化アルキルフルオロリン酸アニオンであって、
Figure 0005020645
残りは他のアニオンであってもよい。
式(3)中、Rfは水素原子の80%以上がフッ素原子で置換されたアルキル基を表す。bはその個数を示し、1〜5の整数である。b個のRfはそれぞれ同一であっても異なっていてもよい。)
で表されるオニウムフッ素化アルキルフルオロリン酸塩であり、
前記(c)成分が、2,3−ジヒドロキシナフタレン、1,5−ジヒドロキシナフタレン、及び2,6−ジヒドロキシナフタレンからなる群より選ばれる少なくとも1種であることを特徴とする感光性樹脂組成物を提供する。
本発明によれば、安全性が高く、且つ高膜厚、高アスペクト比の微細なレジストパターンを形成できる高感度、高解像性の感光性樹脂組成物を提供できる。
以下、本発明の実施形態について詳細に説明する。
本発明に係る感光性樹脂組成物は、後述するような(a)多官能エポキシ樹脂、(b)カチオン重合開始剤、及び(c)増感剤を含有することを特徴とする。
<(a)多官能エポキシ樹脂>
本発明に係る感光性樹脂組成物に用いられる(a)多官能エポキシ樹脂としては、厚膜のパターンを形成するのに十分なエポキシ基を1分子中に有するエポキシ樹脂であれば、特に限定されない。このような多官能エポキシ樹脂としては、多官能フェノール・ノボラック型エポキシ樹脂、多官能オルソクレゾールノボラック型エポキシ樹脂、多官能トリフェニル型ノボラック型エポキシ樹脂、多官能ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂等が挙げられる。これらのうち、多官能ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂が好ましく用いられる。その官能性は5官能以上が好ましく、例えば、ジャパンエポキシレジン社製の「エピコート157S70」や、大日本インキ化学工業株式会社製の「エピクロンN−865」が市販品として入手でき、特に好ましく用いられる。
上記の多官能ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂は、下記一般式(5)で表される。
Figure 0005020645
上記一般式(5)のビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂は、ビスフェノールA型エポキシ樹脂又はビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂と、エポキシ基含有成分との重合体であってもよい。式(5)中、R〜Rは、H又はCHである。nは、0又は整数である。
上記多官能エポキシ樹脂の軟化点は、常温で固形であれば特に限定されないが、通常は、約50℃〜約100℃であることが好ましく、約60℃〜約80℃であることがより好ましい。
感光性樹脂組成物中における上記多官能エポキシ樹脂の含有量は、全固形分中、80質量%〜99.9質量%であることが好ましく、92質量%〜99.4質量%であることがより好ましい。これにより、基板上にコーティングした際に、高感度で適当な硬度のレジスト膜が得られる。
<(b)カチオン重合開始剤>
本発明に係る感光性樹脂組成物に用いられる(b)カチオン重合開始剤は、紫外線、遠紫外線、KrF、ArF等のエキシマレーザー、X線、又は電子線等の照射を受けてカチオン成分を生じるものであり、そのカチオン成分が重合開始剤となり得る化合物である。
具体的には、本発明に係る感光性樹脂組成物で用いられる(b)カチオン重合開始剤は、下記一般式(1):
Figure 0005020645
(式(1)中、Aは原子価mの硫黄原子又はヨウ素原子を表し、mは1又は2である。nは括弧内の構造の繰り返し単位数を表し、0〜3の整数である。RはAに結合している有機基であり、炭素数6〜30のアリール基、炭素数4〜30の複素環基、炭素数1〜30のアルキル基、炭素数2〜30のアルケニル基、又は炭素数2〜30のアルキニル基を表し、Rはアルキル、ヒドロキシ、アルコシキ、アルキルカルボニル、アリールカルボニル、アルコシキカルボニル、アリールオキシカルボニル、アリールチオカルボニル、アシロキシ、アリールチオ、アルキルチオ、アリール、複素環、アリールオキシ、アルキルスルフィニル、アリールスルフィニル、アルキルスルホニル、アリールスルホニル、アミノ、シアノ、ニトロの各基、及びハロゲンからなる群より選ばれる少なくとも1種の置換基で置換されていてもよい。Rの個数はm+n(m−1)+1であり、Rはそれぞれ互いに同じであっても異なっていてもよいが、Rの少なくとも1つ、更に好ましくはRの全てが、前記置換基を有してもよい炭素数6〜30のアリール基又は炭素数4〜30の複素環基である。また、2個以上のRが互いに直接、又は−O−、−S−、−SO−、−SO−、−NH−、−NR’−、−CO−、−COO−、−CONH−、炭素数1〜3のアルキレン基若しくはフェニレン基を介して結合し、Aを含む環構造を形成してもよい。R’は炭素数1〜5のアルキル基又は炭素数6〜10のアリール基である。
Dは下記一般式(2)で表される構造であり、
Figure 0005020645
式(2)中、Eは炭素数1〜8のアルキレン基、炭素数6〜20のアリーレン基、又は炭素数8〜20の複素環化合物の2価の基を表し、Eは炭素数1〜8のアルキル、炭素数1〜8のアルコキシ、炭素数6〜10のアリール、ヒドロキシ、シアノ、ニトロの各基、及びハロゲンからなる群より選ばれる少なくとも1種で置換されていてもよい。ここで、複素環化合物の2価の基とは、複素環化合物の異なる2個の環炭素原子から、各々1個の水素原子を除いてできる2価の基をいう。Gは−O−、−S−、−SO−、−SO−、−NH−、−NR’−、−CO−、−COO−、−CONH−、炭素数1〜3のアルキレン基、又はフェニレン基を表す。aは0〜5の整数である。a+1個のE及びa個のGはそれぞれ同一であっても異なっていてもよい。R’は前記のものと同じである。
はオニウムの対イオンである。その個数は1分子当たりn+1であり、そのうち少なくとも1個は下記一般式(3)で表されるフッ素化アルキルフルオロリン酸アニオンであって、
Figure 0005020645
残りは他のアニオンであってもよい。
式(3)中、Rfは水素原子の80%以上がフッ素原子で置換されたアルキル基を表す。bはその個数を示し、1〜5の整数である。b個のRfはそれぞれ同一であっても異なっていてもよい。)
で表されるオニウムフッ素化アルキルフルオロリン酸塩である。
上記一般式(1)のオニウムイオンの好ましい具体例としては、トリフェニルスルホニウム、トリ−p−トリルスルホニウム、4−(フェニルチオ)フェニルジフェニルスルホニウム、ビス[4−(ジフェニルスルホニオ)フェニル]スルフィド、ビス〔4−{ビス[4−(2−ヒドロキシエトキシ)フェニル]スルホニオ}フェニル〕スルフィド、ビス{4−[ビス(4−フルオロフェニル)スルホニオ]フェニル}スルフィド、4−(4−ベンゾイル−2−クロロフェニルチオ)フェニルビス(4−フルオロフェニル)スルホニウム、4−(4−ベンゾイルフェニルチオ)フェニルジフェニルスルホニウム、7−イソプロピル−9−オキソ−10−チア−9,10−ジヒドロアントラセン−2−イルジ−p−トリルスルホニウム、7−イソプロピル−9−オキソ−10−チア−9,10−ジヒドロアントラセン−2−イルジフェニルスルホニウム、2−[(ジフェニル)スルホニオ]チオキサントン、4−[4−(4−tert−ブチルベンゾイル)フェニルチオ]フェニルジ−p−トリルスルホニウム、4−(4−ベンゾイルフェニルチオ)フェニルジフェニルスルホニウム、ジフェニルフェナシルスルホニウム、4−ヒドロキシフェニルメチルベンジルスルホニウム、2−ナフチルメチル(1−エトキシカルボニル)エチルスルホニウム、4−ヒドロキシフェニルメチルフェナシルスルホニウム、オクタデシルメチルフェナシルスルホニウム、ジフェニルヨードニウム、ジ−p−トリルヨードニウム、ビス(4−ドデシルフェニル)ヨードニウム、ビス(4−メトキシフェニル)ヨードニウム、(4−オクチルオキシフェニル)フェニルヨードニウム、ビス(4−デシルオキシ)フェニルヨードニウム、4−(2−ヒドロキシテトラデシルオキシ)フェニルフェニルヨードニウム、4−イソプロピルフェニル(p−トリル)ヨードニウム、又は4−イソブチルフェニル(p−トリル)ヨードニウムが挙げられる。
本発明で用いられるカチオン重合開始剤を構成するアニオン成分は、上記一般式(3)で表されるフッ素化アルキルフルオロリン酸アニオンを少なくとも1個有する。即ち、残りのアニオン成分は他のアニオンであってよい。他のアニオンとしては、特に限定されず、従来公知のアニオンを用いることができる。例えば、F、Cr、Br、I等のハロゲンイオン;OH;ClO ;FSO 、ClSO 、CHSO 、CSO 、CFSO 等のスルホン酸イオン類;HSO 、SO 2−等の硫酸イオン類;HCO 、CO 2−等の炭酸イオン類;HPO 、HPO 2−、PO 3−等のリン酸イオン類;PF 、PFOH等のフルオロリン酸イオン類;BF 、B(C 、B(CCF 等のホウ酸イオン類;AlCl ;BiF 等が挙げられる。その他、SbF 、SbFOH等のフルオロアンチモン酸イオン類、あるいはA 、AsFOH等のフルオロヒ素酸イオン類が挙げられるが、これらは毒性の元素を含むため好ましくない。
上記一般式(3)で表されるフッ素化アルキルフルオロリン酸アニオンにおいて、Rfはフッ素原子で置換されたアルキル基を表し、好ましい炭素数は1〜8、さらに好ましい炭素数は1〜4である。アルキル基の具体例としては、メチル、エチル、プロピル、ブチル、ペンチル、オクチル等の直鎖アルキル基;イソプロピル、イソブチル、sec−ブチル、tert−ブチル等の分岐アルキル基;さらにシクロプロピル、シクロブチル、シクロペンチル、シクヘキシル等のシクロアルキル基等が挙げられ、アルキル基の水素原子がフッ素原子に置換された割合は、通常、80%以上、好ましくは90%以上、さらに好ましくは100%である。フッ素原子の置換率が80%未満である場合には、上記一般式(1)で表されるオニウムフッ素化アルキルフルオロリン酸塩のカチオン重合開始能が低下する。
特に好ましいRfは、炭素数が1〜4、且つフッ素原子の置換率が100%の直鎖又は分岐のパーフルオロアルキル基であり、具体例としては、CF、CFCF、(CFCF、CFCFCF、CFCFCFCF、(CFCFCF、CFCF(CF)CF、(CFCが挙げられる。Rfの個数bは、1〜5の整数であり、好ましくは2〜4、特に好ましくは2又は3である。
好ましいフッ素化アルキルフルオロリン酸アニオンの具体例としては、[(CFCFPF、[(CFCFPF、[((CFCF)PF、[((CFCF)PF、[(CFCFCFPF、[(CFCFCFPF、[((CFCFCFPF、[((CFCFCFPF、[(CFCFCFCFPF、又は[(CFCFCFPFが挙げられ、これらのうち、[(CFCFPF、[(CFCFCFPF、[((CFCF)PF、[((CFCF)PF、[((CFCFCFPF、又は[((CFCFCFPFが特に好ましい。
上記一般式(1)で表されるオニウムフッ素化アルキルフルオロリン酸塩のうち、下記の一般式(4)で表されるジフェニル[4−(フェニルチオ)フェニル]スルホニウムトリフルオロトリスフルオロアルキルホスファートが特に好ましく用いられる。
Figure 0005020645
(式(4)におけるnは、1〜10の整数であり、より好ましくは、1〜5である。)
本発明に係る感光性樹脂組成物では、上記一般式(1)で表されるオニウムフッ素化アルキルフルオロリン酸塩を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。また、従来公知の他のカチオン重合開始剤と併用してもよい。2種以上を併用する場合の割合は任意であり、特に制限されない。他のカチオン重合開始剤を併用する場合の使用割合も任意でよいが、通常、上記一般式(1)で表されるオニウムフッ素化アルキルフルオロリン酸塩100質量部に対し、他のカチオン重合開始剤は10〜900質量部、好ましくは25〜400質量部である。
上記(b)カチオン重合開始剤の含有量は、上記(a)多官能エポキシ樹脂100質量部に対し、0.5〜20質量部であることが好ましい。(b)カチオン重合開始剤の含有量が0.5質量部未満である場合には、十分な感度を得ることができない。一方、20質量部を超える場合には、永久膜特性が低下する。具体的には、吸水率、熱分解温度特性が低下する。
従来のリン系(PF )やホウ素系(BF )カチオン重合開始剤では、高感度なアンチモン系(SbF )カチオン重合開始剤と同等の永久膜特性を得るためには、アンチモン系(SbF )と比べて10倍以上の露光量が必要であった。これに対して、上記一般式(1)〜(3)で表されるカチオン重合開始剤によれば、アンチモン系と同等の感度で永久膜レジストパターンを形成することができる。また、上記一般式(1)〜(3)で表されるカチオン重合開始剤は、アンチモンやヒ素等の毒性のある元素を含有しないため、人体に対する安全性が高い。さらには、感光性樹脂組成物に対する溶解性に優れ、良好な貯蔵安定性を有する。
<(c)増感剤>
本発明に係る感光性樹脂組成物は、(c)増感剤として、上記(a)多官能エポキシ樹脂と架橋形成可能な水酸基を2つ有するジヒドロキシナフタレン構造の増感剤を含有する。このような増感剤の増感機能により、感光性樹脂組成物をさらに高感度化できる。また、2つの架橋形成可能な水酸基を有するため、多官能エポキシ樹脂の架橋密度を向上させ、感光性樹脂層からなる膜自体を高密度化でき、感光性樹脂層を高硬度化、低吸水率化できる。さらには、複数の芳香環を有することから、感光性樹脂層を高Tg化、高硬度化、低熱膨張率化できる。
具体的には、本発明で用いられる増感剤は、2,3−ジヒドロキシナフタレン、1,5−ジヒドロキシナフタレン、2,6−ジヒドロキシナフタレンのいずれかである。これらの増感剤を単独使用あるいは併用することにより、より高感度化できる。これら(c)増感剤の含有量は、上記(a)多官能エポキシ樹脂100質量部に対して、1〜50質量部である。このような組成比とすることにより、レジストパターン形状を悪化させることなく、所望の効果が得られる。
上述した通り、本発明は、高膜厚、高アスペクト比の微細なレジストパターンを形成できる高感度、高解像性の感光性樹脂組成物を提供すべく、高感度なアンチモン系(SbF )と同等の永久膜特性が得られるカチオン重合開始剤として、上記一般式(1)〜(3)で表されるオニウムフッ素化アルキルフルオロリン酸塩を用いたものである。従って、上記の増感剤を併用することにより、さらに高感度、高解像性の感光性樹脂組成物を提供できる。
<(d)溶剤>
本発明に係る感光性樹脂組成物に用いられる(d)溶剤は、特に限定されず、従来公知の溶剤を用いることができる。例えば、γ−ブチロラクトン、炭酸プロピレン、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、メチルイソブチルケトン、酢酸ブチル、メチルアミルケトン、2−ヘプタノン、酢酸エチル、メチルエチルケトン等が挙げられる。
上記溶剤のうち、液状レジストの場合には、反応してレジスト膜中に取り込まれる観点から、γ−ブチロラクトン、炭酸プロピレンが好ましく、ドライフィルムの場合には、基材フィルムとの濡れ性及び表面張力の観点から、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、メチルイソブチルケトン、酢酸ブチル、メチルアミルケトンが好ましく用いられる。
<(e)高分子直鎖2官能エポキシ樹脂>
本発明に係る感光性樹脂組成物は、成膜性改善のために(e)高分子直鎖2官能エポキシ樹脂を含有してもよい。具体的には、ビスフェノールA型エポキシ又はビスフェノールF型エポキシが重合したものであり、平均分子量2,000〜7,000であることが好ましく、より好ましくは3,000〜5,000である。平均分子量が2,000未満では成膜性が改善されず、7,000を超えると上記(a)多官能エポキシ樹脂と相溶しなくなる。例えば、ジャパンエポキシレジン社製の「エピコート1009」(平均分子量3750)が好ましく用いられる。
<その他成分>
本発明に係る感光性樹脂組成物は、感光性樹脂組成物の硬化後の物性を低下させずに、硬化前の感光性樹脂組成物の柔軟性を向上させる観点から、オキセタン誘導体やエポキシ誘導体を含有させてもよい。さらには、所望により、混和性のある添加剤、例えば、パターン性能を改良するための付加的樹脂、可塑剤、安定剤、着色剤、界面活性剤、カップリング剤等の従来公知のものを適宜含有させることができる。例えば、上記(a)多官能エポキシ樹100質量部に対して、エポキシ系シランカップリング剤を0.5〜30質量部、レベリング剤を0.01〜0.1質量部含有させることができる。
本発明に係る感光性樹脂組成物の使用形態としては、支持体上に塗布して用いてもよいし、両面を保護膜で保護してドライフィルムとし、これを支持体上に貼り付けてもよい。ドライフィルムとして供給する場合には、保護膜としては、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリプロピレンフィルム、及びポリエチレンフィルムのいずれかのポリマー状フィルムを用いることが好ましい。ドライフィルムとして供給すれば、支持体上への塗布、及び乾燥工程を省略することができ、より簡便に本発明の感光性樹脂組成物を用いたパターン形成が可能となる。
即ち、本発明に係る感光性樹脂組成物を、支持体、例えばシリコンウエハ等の基板にスピンコーター等により塗布して乾燥した後、パターン露光して現像液で現像処理することにより、使用する支持体に依存することなく、マスクパターンに忠実で良好な樹脂パターンを形成できる。また、上述したドライフィルムを支持体上に貼り付け、保護膜を除去した後、パターン露光して現像液で現像処理することによっても、マスクパターンに忠実で良好な樹脂パターンを形成できる。さらには、上述したドライフィルムを支持体上に貼り付けてパターン露光した後、保護膜を除去し、現像液で現像処理することによっても、マスクパターンに忠実で良好な樹脂パターンを形成できる。従って、例えば、MEMS等の電子デバイスの成形において、レジストパターン上にドライフィルムを設けて、さらにレジストパターニングが必要な場合であっても、ドライフィルムが撓みを生じることなく、良好な微小樹脂成形を実現できる。
以下、本発明の実施例について説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。
<実施例1〜6、比較例1>
表1に記載の配合(単位は質量部)に従って、多官能エポキシ樹脂、カチオン重合開始剤、溶剤、及びその他の成分を配合した感光性樹脂組成物を得た。
これら感光性樹脂組成物を、シリコンウエハ上にスピンコーターで塗布した後、乾燥して30μmの膜厚を有する感光性樹脂組成物層を得た。この感光性樹脂組成物層をホットプレートにより60℃で5分、90℃で10分プリベークした。プリベーク後、PLA−501F(コンタクトアライナー:キャノン社製)を用いてパターン露光(ソフトコンタクト、GHI線)を行い、ホットプレートにより90℃で5分の露光後加熱(PEB)を行った。その後、PGMEAを用いた浸漬法により、8分の現像処理を行った。次いで、現像後の樹脂パターンを基板ごと、オーブンを用いて200℃で1時間のホストベークを行い、基板上に硬化した樹脂パターンを得た。
<評価>
細線密着性の評価として、現像後、必要露光量により形成されたレジストパターンにおいて、最も密着して細かいパターン幅を測定し、評価した。評価結果を表1に示す。
Figure 0005020645
(A−1):多官能ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂:JER157S70(ジャパンエポキシレジン社製 商品名)
(A−2):多官能ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂:エピクロンN−865(大日本インキ化学工業社製 商品名)
(B):カチオン重合開始剤:ジフェニル〔4−(フェニルチオ)フェニル〕スルホニウムトリフルオロトリスペンタフルオロエチルホスファート
(C):2官能エポキシ樹脂:JER1004(ジャパンエポキシレジン社製 商品名)
(D−1):2,3―ジヒドロキシナフタレン
(D−2):1,5―ジヒドロキシナフタレン
(E):γ−ブチロラクトン
(F):オキセタン誘導体:1,4−ビス{〔(3−エチル−3−オキセタニル)メトキシ〕メチル}ベンゼン
(G):レベリング剤:ペインダットM(ダウコーニング社製 商品名)
以上のように、本発明に係る感光性樹脂組成物は、高膜厚、高アスペクト比の微細なレジストパターンの形成に有用であり、特に、感度が高く、微細サイズの電子デバイス等における寸法安定性の高い樹脂成形に適している。

Claims (10)

  1. (a)多官能エポキシ樹脂、(b)カチオン重合開始剤、及び(c)増感剤を含有してなる感光性樹脂組成物であって、
    前記(b)成分が、下記一般式(1):
    Figure 0005020645
    (式(1)中、Aは原子価mの硫黄原子又はヨウ素原子を表し、mは1又は2である。nは括弧内の構造の繰り返し単位数を表し、0〜3の整数である。RはAに結合している有機基であり、炭素数6〜30のアリール基、炭素数4〜30の複素環基、炭素数1〜30のアルキル基、炭素数2〜30のアルケニル基、又は炭素数2〜30のアルキニル基を表し、Rはアルキル、ヒドロキシ、アルコシキ、アルキルカルボニル、アリールカルボニル、アルコシキカルボニル、アリールオキシカルボニル、アリールチオカルボニル、アシロキシ、アリールチオ、アルキルチオ、アリール、複素環、アリールオキシ、アルキルスルフィニル、アリールスルフィニル、アルキルスルホニル、アリールスルホニル、アミノ、シアノ、ニトロの各基、及びハロゲンからなる群より選ばれる少なくとも1種で置換されていてもよい。Rの個数はm+n(m−1)+1であり、Rはそれぞれ互いに同じであっても異なっていてもよい。また、2個以上のRが互いに直接、又は−O−、−S−、−SO−、−SO−、−NH−、−NR’−、−CO−、−COO−、−CONH−、炭素数1〜3のアルキレン基若しくはフェニレン基を介して結合し、Aを含む環構造を形成してもよい。R’は炭素数1〜5のアルキル基又は炭素数6〜10のアリール基である。
    Dは下記一般式(2)で表される構造であり、
    Figure 0005020645
    式(2)中、Eは炭素数1〜8のアルキレン基、炭素数6〜20のアリーレン基、又は炭素数8〜20の複素環化合物の2価の基を表し、Eは炭素数1〜8のアルキル、炭素数1〜8のアルコキシ、炭素数6〜10のアリール、ヒドロキシ、シアノ、ニトロの各基、及びハロゲンからなる群より選ばれる少なくとも1種で置換されていてもよい。Gは−O−、−S−、−SO−、−SO−、−NH−、−NR’−、−CO−、−COO−、−CONH−、炭素数1〜3のアルキレン基、又はフェニレン基を表す。aは0〜5の整数である。a+1個のE及びa個のGはそれぞれ同一であっても異なっていてもよい。R’は前記のものと同じである。
    はオニウムの対イオンである。その個数は1分子当たりn+1であり、そのうち少なくとも1個は下記一般式(3)で表されるフッ素化アルキルフルオロリン酸アニオンであって、
    Figure 0005020645
    残りは他のアニオンであってもよい。
    式(3)中、Rfは水素原子の80%以上がフッ素原子で置換されたアルキル基を表す。bはその個数を示し、1〜5の整数である。b個のRfはそれぞれ同一であっても異なっていてもよい。)
    で表されるオニウムフッ素化アルキルフルオロリン酸塩であり、
    前記(c)成分が、2,3−ジヒドロキシナフタレン、1,5−ジヒドロキシナフタレン、及び2,6−ジヒドロキシナフタレンからなる群より選ばれる少なくとも1種であることを特徴とする感光性樹脂組成物。
  2. 前記(b)成分が、ジフェニル[4−(フェニルチオ)フェニル]スルホニウムトリフルオロトリスフルオロアルキルホスファートであることを特徴とする請求項1記載の感光性樹脂組成物。
  3. 前記(a)成分が、多官能ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂であることを特徴とする請求項1又は2記載の感光性樹脂組成物。
  4. 前記(a)成分100質量部に対して、前記(b)成分を0.5質量部〜20質量部の割合で含有することを特徴とする請求項1から3いずれか記載の感光性樹脂組成物。
  5. さらに、(d)溶剤を含有することを特徴とする請求項1から4いずれか記載の感光性樹脂組成物。
  6. さらに、(e)高分子直鎖2官能エポキシ樹脂を含有することを特徴とする請求項1から5いずれか記載の感光性樹脂組成物。
  7. 請求項1から6いずれか記載の感光性樹脂組成物から形成される層の両面に保護膜を形成してなることを特徴とするドライフィルム。
  8. 請求項1から6いずれか記載の感光性樹脂組成物を支持体上に塗布し、乾燥してから所定のパターンに露光した後、現像して得られた樹脂パターンを加熱処理して、所定形状の硬化樹脂パターンを得ることを特徴とするレジストパターンの製造方法。
  9. 請求項7記載のドライフィルムの保護膜を除去し、これを支持体上に貼り付けて所定のパターンに露光した後、現像して得られた樹脂パターンを加熱処理して、所定形状の硬化樹脂パターンを得ることを特徴とするレジストパターンの製造方法。
  10. 請求項7記載のドライフィルムを支持体上に貼り付けて所定のパターンに露光した後、前記ドライフィルムの保護膜を除去してから現像し、得られた樹脂パターンを加熱処理して、所定形状の硬化樹脂パターンを得ることを特徴とするレジストパターンの製造方法。
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