JP5001562B2 - メチルエチルケトンの重質分生成防止方法 - Google Patents
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Description
原料である2−ブタノール(図中、SBAと示す)は、脱水素反応塔10にて脱水素反応を起こしメチルエチルケトン(図中、MEKと示す)となる。次に、原料とメチルエチルケトンを分離するためMEK分留塔20に送られる。分留塔20では、塔頂からメチルエチルケトンが、塔底から2−ブタノールが取り出される。回収された2−ブタノールは原料として再利用される。分留後のメチルエチルケトンは、副生成物である水を少量含むため、脱水塔30にて脱水される。その後、さらに精製塔40に送られ、メチルエチルケトンの二量化等により生成した重質成分を取り除くことにより、製品となる純度のメチルエチルケトンが製造され、貯蔵設備50に保管される。
1.貯蔵設備での保管中に重質成分が増え、製品規格を満たさなくなる場合があった。
2.精製塔での分離操作により、精製後のメチルエチルケトンには重質成分はほとんど含まれないはずであるが、精製後でも微量ながら重質成分が残留していた。
化学工学 第50巻 第8号(1986)565頁
しかしながら、炭素鋼が酸化した場合、酸化鉄が触媒となりメチルエチルケトンを二量化することが確認された。そこで、メチルエチルケトンと接する設備に適切な材料を使用することによって、メチルエチルケトンの二量化を防止できることを見出し、本発明を完成させた。
1.精製設備又は貯蔵設備の、少なくともメチルエチルケトンとの接触面に、二量化防止材料を使用するメチルエチルケトンの重質分生成防止方法。
2.前記二量化防止材料が、亜鉛、アルミニウム、亜鉛アルミニウム合金、錫、ステンレス鋼、フッ素系樹脂又はポリオレフィン樹脂である1記載のメチルエチルケトンの重質分生成防止方法。
3.前記精製設備に使用する二量化防止材料がステンレス鋼である2記載のメチルエチルケトンの重質分生成防止方法。
4.前記精製設備がメチルエチルケトンを冷却するコンデンサー及び/又は一時的に受け取るレシーバーである3記載のメチルエチルケトンの重質分生成防止方法。
5.前記貯蔵設備に使用する二量化防止材料が、亜鉛、アルミニウム、亜鉛アルミニウム合金又は錫である2記載のメチルエチルケトンの重質分生成防止方法。
6.少なくともメチルエチルケトンとの接触面が二量化防止材料からなる、メチルエチルケトン用精製設備又は貯蔵設備。
図2は、メチルエチルケトンの精製工程を示す概略フロー図である。図2は、図1に示した脱水塔30により脱水されたメチルエチルケトンの精製工程を示している。
脱水されたメチルエチルケトンは、精製塔40により蒸留され、塔頂から気体で回収される。気体のメチルエチルケトンはコンデンサー42により冷却され液化し、レシーバー44に受け止められる。レシーバー44に溜まったメチルエチルケトンは、必要により再度精製塔40に送られ、製品規格を満たすまで重質分が除去される。一方、規格を満たす場合は、クーラー46により常温まで冷却して貯蔵設備50に保管される。尚、メチルエチルケトンはポンプPにより輸送される。
二量化防止材料としては、亜鉛、錫、ステンレス鋼、アルミニウム、亜鉛アルミニウム合金等の金属材料や、ポリテトラフルオロエチレン等のフッ素系樹脂、ポリオレフィン樹脂等の樹脂材料等が使用できる。また、シリカコートや、亜鉛又はアルミニウム等を水で処理してこれらの水酸化物からなる皮膜を形成したもの(封孔処理)も使用できる。
尚、少なくともメチルエチルケトンと設備の接触面に二量化防止材料を使用すればよいので、例えば、設備全体を二量化防止材料で形成してもよく、また、接触面にメッキ又は溶射等を施して二量化防止材料からなる膜を形成してもよい。
本発明のメチルエチルケトン用精製設備又は貯蔵設備を用いることにより、メチルエチルケトンの二量化を防止できる。
各試料をメチルエチルケトン(MEK)とともにガラス製容器に入れ、一定温度に保った恒温槽に漬け、経過時間毎にガスクロマトグラフで重質分の測定を行った。また、各試験毎にブランク(MEKのみ)についても重質分の測定を行った。
炭素鋼からなる開放タンクから採取した鉄錆、及び錆のない炭素鋼の削りクズの鉄粉を、それぞれ1g採取した。これらを別々にガラス容器に入れ、MEK(出光興産株式会社製)を50mlに浸漬させた。浸漬温度を15℃〜50℃としたときの重質分の生成量を測定した。測定結果を表1に示す。
この結果から、鉄さび(酸化鉄)がMEKの二量化を促進することが確認できる。
亜鉛溶射した炭素鋼板(30mm×30mm×3mm厚、亜鉛層の厚さ80μm:試料A)、及び試料AにSi封孔処理を施したもの(試料B)を、各々2枚ずつ作製した。これら試料をMEK50mlに浸漬し、浸漬温度を30℃又は50℃としたときの重質分の生成量を測定した。測定結果を表2に示す。いずれの試料でも評価例1と比べて重質分の生成が抑制されている。
下記の各試料(60mm×50mm×6mm厚)をMEK200mlに浸漬させ、浸漬温度を35℃としたときの重質分の生成量を測定した。測定結果を表3に示す。いずれの試料でも評価例1と比べて重質分の生成が抑制されている。
試料C:炭素鋼に亜鉛溶射(亜鉛厚さ80μm)したもの
試料D:試料CにZn(OH)2封孔処理(亜鉛溶射後に水洗乾燥したもので、水洗によりZn(OH)2で封孔処理)したもの
試料E:試料Cにエポキシ樹脂封孔処理(亜鉛溶射後に二液性常温硬化エポキシ樹脂で封孔処理)したもの
試料F:炭素鋼に亜鉛アルミニウム合金を溶射したもの(合金の厚さ80μm)
試料G:試料FにZn(OH)2、Al(OH)3封孔処理(亜鉛アルミニウム合金溶射後に水洗乾燥したもので、水洗によりZn(OH)2、Al(OH)3で封孔処理)したもの
試料H:試料Fに試料Bと同じSi封孔処理したもの
試料I:白ガス管(亜鉛メッキ鋼管)
下記の試料(60mm×50mm×3mm厚)をMEK200mlに浸漬し、浸漬温度を35℃としたときの重質分の生成量を測定した。測定結果を表4に示す。
試料J:タンク鉄板(炭素鋼)
試料K:炭素鋼に亜鉛リッチペイント(関西ペイント(株)社製、商品名:SDジンク1500A)にて皮膜を形成したもの
試料L:エポキシ樹脂(関西ペイント(株)社製、商品名:ミリオンクリヤー)でコーティングしたもの
20 MEK分留塔
30 脱水塔
40 精製塔
42 コンデンサー
44 レシーバー
46 クーラー
50 貯蔵設備
P ポンプ
Claims (5)
- 精製設備又は貯蔵設備の、少なくともメチルエチルケトンとの接触面に、二量化防止材料を使用するメチルエチルケトンの重質分生成防止方法であって、前記二量化防止材料が、亜鉛、アルミニウム、亜鉛アルミニウム合金、錫、ステンレス鋼、フッ素系樹脂又はポリオレフィン樹脂であるメチルエチルケトンの重質分生成防止方法。
- 前記精製設備に使用する二量化防止材料がステンレス鋼である請求項1記載のメチルエチルケトンの重質分生成防止方法。
- 前記精製設備がメチルエチルケトンを冷却するコンデンサー及び/又は一時的に受け取るレシーバーである請求項2記載のメチルエチルケトンの重質分生成防止方法。
- 前記貯蔵設備に使用する二量化防止材料が、亜鉛、アルミニウム、亜鉛アルミニウム合金又は錫である請求項1記載のメチルエチルケトンの重質分生成防止方法。
- 少なくともメチルエチルケトンとの接触面が二量化防止材料からなる、メチルエチルケトン用精製設備又は貯蔵設備であって、前記二量化防止材料が、亜鉛、錫、ステンレス鋼、アルミニウム、亜鉛アルミニウム合金、フッ素系樹脂又はポリオレフィン樹脂であるメチルエチルケトン用精製設備又は貯蔵設備。
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