JP4983621B2 - 塗工方法、及び塗工装置 - Google Patents

Description

この発明は、帯状シートの表面に、塗工ダイによりペースト材料を所定の塗工膜幅、所定の塗工膜厚さに塗工する塗工方法、及び塗工装置に関するものである。

帯状のシートの表面にペースト材料を連続的に塗工し、乾燥させた後、シートを巻いて電池を製造することが行われている。このとき、塗工されたペーストのシートに対する位置ズレ、塗工されたペーストの塗工膜幅のバラツキ、塗工されたペーストの塗工膜厚のバラツキが電池の性能に悪影響を与えるため、製造工程で管理されている。
ここで、長い帯状シートに対して、ペーストが連続的に塗工され、長い帯状シートを多重に巻いて電池を構成するため、ペーストの塗工膜幅のバラツキやペーストの塗工膜厚のバラツキは積算されることとなる。このため、塗工されたペーストの塗工膜幅や塗工膜厚の公差は極めて小さな値で管理されている。
しかし、これらのズレやバラツキを、インラインで無くすことは困難であった。
例えば、特許文献１には、透過エックス線量に基づいて塗工領域を判定し、ペーストフィーダ（塗工ダイ）を塗工膜幅方向に駆動することにより、帯状シートに対する塗工境界位置のズレを補正する技術が開示されている。

特許第3680984号公報

しかしながら、特許文献１に開示された発明では、次のような問題があった。
すなわち、塗工されたペーストの、帯状シートに対する位置ズレに対応することはできるが、塗工されたペーストの塗工膜幅のバラツキ自体を補正することはできなかった。また、ペーストの塗工膜厚のバラツキ、特に塗工膜の両端部における膜厚のバラツキを補正することもできなかった。

この発明は上記問題点を解決するためのものであって、インラインで塗工膜幅、または塗工膜厚を制御し、管理することのできる塗工方法、及び塗工装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明の塗工方法、又は塗工装置は、次の構成を有している。
（１）帯状シートの表面に、塗工ダイによりペースト材料を所定の塗工膜幅、所定の塗工膜厚さに塗工する塗工方法において、前記塗工膜幅または前記塗工膜厚を計測する計測工程と、前記帯状シートと塗工ダイとの距離と、前記塗工膜幅とのリニアな関係から前記計測工程で計測した前記塗工膜幅に基づいて、前記塗工ダイと前記塗工面との距離を変化させるフィードバック工程とを有する。
（２）帯状シートの表面に、塗工ダイによりペースト材料を所定の塗工膜幅、所定の塗工膜厚さに塗工する塗工方法において、前記塗工膜幅または前記塗工膜厚を計測する計測工程と、前記計測工程で計測した前記塗工膜厚に基づいて、前記塗工ダイの前記塗工面に対する傾きを変化させるフィードバック工程とを有する。

（３）（１）又は（２）に記載する塗工方法において、複数の塗工ダイにより複数条の塗工面を同時に形成すること、前記帯状シート端面からの前記塗工膜の位置を計測し、その計測値に基づいて、前記複数の塗工ダイを個別に前記塗工膜幅方向に移動させることを特徴とする。
（４）（１）乃至（３）に記載する塗工方法のいずれか１つにおいて、前記塗工膜幅方向に走査して、前記塗工膜厚の分布を計測することにより、前記塗工膜幅または前記塗工膜厚、及び前記塗工膜位置を計測することを特徴とする。

（５）帯状シートの表面に、塗工ダイによりペースト材料を所定の塗工膜幅、所定の塗工膜厚さに塗工する塗工装置において、前記塗工膜幅または前記塗工膜厚を計測する計測手段と、前記塗工ダイを前記帯状シートに対して、塗工面とは異なる方向に移動させる塗工ダイ移動手段と、前記帯状シートと塗工ダイとの距離と、前記塗工膜幅とのリニアな関係から前記計測手段が計測した前記塗工膜幅に基づいて、前記塗工ダイ移動手段が前記塗工ダイと前記塗工面との距離を変化させるように制御する制御手段とを有する。

（６）帯状シートの表面に、塗工ダイによりペースト材料を所定の塗工膜幅、所定の塗工膜厚さに塗工する塗工装置において、前記塗工膜幅または前記塗工膜厚を計測する計測手段と、前記塗工ダイを前記帯状シートに対して、塗工面とは異なる方向に移動させる塗工ダイ移動手段と、前記計測手段で計測した前記塗工膜厚に基づいて、前記塗工ダイ移動手段が前記塗工ダイの前記塗工面に対する傾きを変化させるように制御する制御手段とを有する。
（７）請求項５又は請求項６に記載する塗工装置において、複数条の塗工面を同時に形成する複数の塗工ダイと、前記帯状シート端面からの前記塗工膜の位置を計測し、その計測値に基づいて、前記複数の塗工ダイを個別に前記塗工膜幅方向に移動させる制御手段を有する。

次に、上記構成を有する本発明の塗工方法、塗工装置の作用・効果について説明する。
本発明の計測手段として、例えば、レーザ変位計を用いて、塗工面の幅方向に走査すれば、０．１μｍ〜１μｍの分解能で、塗工膜幅及び塗工膜厚を計測することができる。ここで、塗工膜厚は実際の製造工程においてほとんど変化しないが、塗工膜幅は、実際の製造工程において、ペーストのロットが変わって固形分率が変化することにより、簡単に変化してしまう。ペーストの固形分率をプラスマイナス１％以内で管理したとしても、塗工膜幅は０．２％程度変化してしまう。
長い帯状シートに対して、ペーストが連続的に塗工され、長い帯状シートを多重に巻いて電池を製造するため、ペーストの塗工膜幅のバラツキが０．２％もあると、塗工膜幅の端部において、塗工膜のある位置と塗工膜のない位置が存在するため、バラツキが積算され、巻き取られたシートの全体の厚みにバラツキができ、電池の性能に悪影響を及ぼす恐れがある。

ペーストの塗工は、ロールを自動交換しながら、連続的に行われる。したがって、ロールへの塗工位置と無関係に、ペーストのロットが変更されるため、ペーストのロットが変更された時点から、ペーストの固形分率が変わり、塗工膜幅が変化してしまい、電池の性能に悪影響を与える恐れがある。そして、連続的に塗工しているため、塗工工程を中断して、塗工膜幅を調整することができない。
一方、本発明者は、塗工ダイと帯状シートとの距離と、塗工膜幅とが、ほぼリニアな関係で変化することを発見した。それも、塗工ダイと帯状シートとの距離を０．１μｍのレベルで変化させることにより、塗工面の幅を０．０１〜０．１ｍｍのレベルで制御できることを発見した。

本発明の計測手段（例えば、レーザ変位計）は、例えば、帯状シートを幅方向に走査しており、ペーストのロットが変わったときに、塗工膜幅と塗工膜厚との変化を迅速かつ正確に測定し、その計測値に基づいて、塗工ダイと帯状シートとの距離を変化させることにより、塗工膜の幅を所定値に制御している。
これにより、ペーストのロットが変わって、ペーストの固形分率が変化して、塗工膜幅が変化しても、計測手段が、塗工膜幅を迅速かつ正確に計測して、塗工ダイと帯状シートとの距離を変化させているので、インラインで塗工面の塗工膜幅を精確に制御することができ、電池の性能を高めることができる。

以上説明した作用効果は、塗工膜の両端における塗工膜厚にバラツキが発生した場合にも、同様に適用可能である。すなわち、レーザ変位計で測定した塗工膜の両端における塗工膜厚にバラツキ傾きが発生した場合には、塗工ダイを帯状シートの塗工面に対して、塗工膜厚のバラツキと逆向きに傾斜させることにより、塗工膜厚のバラツキを修正することができる。塗工ダイを塗工面に対して傾斜させるとは、塗工ダイと塗工面との距離を塗工ダイの両端で違えることを意味する。

また、レーザ変位計による計測は、帯状シートの端面も計測しており、帯状シートの端面から塗工膜の開始位置までの距離も計測している。この計測値により、帯状シートに対する塗工膜の幅方向の位置を計測し、塗工ダイを幅方向に移動させることにより、塗工膜の位置を制御することができる。
本発明では、生産効率をあげるために、１本の帯状シートに対して、３台の塗工ダイを用いて、同時に３条の塗工膜を塗工している。そして、塗工された後の帯状シートを２箇所で切断して、３本の塗工シートを作り、巻き取りを行い電池を製造しているので、第２条目及び第３条目の塗工膜開始位置の、切断前の帯状シート端面からの位置精度を高くすることが必要となる。その位置精度を維持するために、帯状シートに対する塗工膜の位置制御が重要となる。
本発明によれば、帯状シートの端面から第１条塗工膜の開始位置、第２条塗工膜の開始位置、及び第３条塗工膜の開始位置を、各々別々の塗工ダイにより、制御しているので、帯状シート端面からの各条塗工膜の開始位置を正確に制御することができる。

以下、本発明における塗工方法、及び塗工装置を具体化した一実施形態について図面を参照して詳細に説明する。
図２に、塗工・乾燥工程の全体構成を示し、図１に塗工装置の正面図を示す。帯状シート２０が巻かれた供給ローラ２１から供給される帯状シート２０は、バックアップローラ２２を巻回して、測定用ローラ２３を巻回して、乾燥炉２５内に入る。バックアップローラ２２の下面には、帯状シート２０に対してペースト材料を塗工する塗工ダイ１１が設置されている。測定用ローラ２３の対向する位置には、計測手段であるレーザ変位計２４が設置されている。
乾燥炉２５を出た帯状シート２０は、ローラ２６、ローラ２７を巻回した後、巻き取りローラ２８に巻き取られる。

帯状シート２０の表面には、図１に示すように、塗工ダイ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃにより、ペーストが塗布された３条の塗工膜１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃが形成される。図３に模式的に１台の塗工ダイ１１により、帯状シート２０に対して、塗工膜１０を塗工している図を示す。また、図４に図３の側面断面図を示す。塗工ダイ１１内の供給部１１ｂ内のペースト材が、供給流路１１ａを通って、帯状シート２０に塗工される。塗工ダイ１１と帯状シート表面（塗工面）との距離をＧとする。図３に示すように、塗工ダイ１１は、帯状シート２０に対して、近づく方向（Ｇを小さくする方向）、または遠ざかる方向（Ｇ大きくする方向）に移動可能である。また、図中左右方向にも移動可能である。
塗布された塗工膜１０は、乾燥炉２５内を通過することにより乾燥される。そして、巻き取りローラ２８に巻き取られて次の工程に搬送される。
ここで、塗工工程、乾燥工程は連続的に行われている。そして、供給ローラ２１及び巻き取りローラ２８は、順次新しいものと交換される。供給ローラ２１や巻き取りローラ２８を交換する時にも、塗工工程と乾燥工程を連続して稼動するために、図示しないバッファが、供給ローラ２１とバックアップローラ２２との間、及び巻き取りローラ２８とローラ２７の間に設置されている。

次に、本発明の塗工装置について詳しく説明する。図１に示すように、バックアップローラ２２に巻回された帯状シート２０の直下に３台の塗工ダイ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃが各々独立して設置されている。塗工ダイ１１をバックアップローラ２２に巻回された帯状シート２０に対して移動する機構を図５に示す。
塗工ダイ１１が固定して戴置された上下ベース１２の右端には、位置決めピン１２ａが直立し、左端には、位置決めピン１２ｂが直立している。位置決めピン１２ａに対向する位置に位置決め駒１５が図中矢印Ｂ方向に摺動可能に付設されている。位置決め駒１５の下面は、僅かな角度の傾斜面１５ａを形成している。図５では、見やすくするために、傾斜面１５ａを大きな傾斜角度を備えるように記載しているが、実際の傾斜面１５ａは、長さ１ｍｍに対して高さが０．１μｍ程度変化するだけの極めて小さな角度の傾斜面である。位置決め駒１５は、図示しないモータにより矢印Ｂ方向に移動される。

位置決めピン１２ｂに対向する位置に位置決め駒１４が図中矢印Ａ方向に摺動可能に付設されている。位置決め駒１４の下面は、僅かな角度の傾斜面１４ａを形成している。図５では、見やすくするために、傾斜面１４ａを大きな傾斜角度を備えるように記載しているが、実際の傾斜面１４ａは、長さ１ｍｍに対して高さが０．１μｍ程度変化するだけの極めて小さな角度の傾斜面である。位置決め駒１４は、図示しないモータにより矢印Ａ方向に移動される。位置決め駒１５を摺動させるモータと、位置決め駒１４を摺動させるモータとは、別のモータであり、個別に制御される。
上下ベース１２は、左右ベース１３に上下方向に摺動可能に保持されている。また、上下ベース１２は、左右ベース１３に固定された右空気圧シリンダ１７、及び左空気圧シリンダ１６により、上向きに付勢されている。
上下ベース１２が２つの空気圧シリンダ１６、１７により上向きに付勢されているため、位置決めピン１２ａは位置決め駒１５の傾斜面１５ａに当接し、位置決めピン１２ｂは位置決め駒１４の傾斜面１４ａに当接している。

上下ベース１２と、それを保持する左右ベース１３との間には、μｍレベルでは当然ガタが存在する。上下ベース１２と塗工ダイ１１とは、剛性が強く高さ方向の製作精度も高いので、塗工ダイ１１の左上端での高さ、すなわち帯状シート２０との距離は、位置決め駒１４の傾斜面１４ａの位置により一義的に決定される。また、塗工ダイ１１の右上端での高さ、すなわち帯状シート２０との距離は、位置決め駒１５の傾斜面１５ａの位置により一義的に決定される。
例えば、位置決め駒１４が左方向にわずかに移動して、傾斜面１４ａが位置決めピン１２ｂと当接する位置が、０．１μｍだけ帯状シート２０側に近づいたとすると、塗工ダイ１１の左上端と帯状シート２０との距離は、０．１μｍだけ近づくこととなる。

位置決め駒１４と位置決め駒１５とを共に外側方向に同じ距離移動させれば、その傾斜分に相当する距離分、０．１μｍレベルで、塗工ダイ１１と帯状シート２０との距離を近づけることができる。また、位置決め駒１４と位置決め駒１５とを共に内側方向に同じ距離移動させれば、その傾斜分に相当する距離、０．１μｍレベルで、塗工ダイ１１と帯状シート２０との距離を遠ざけることができる。
また、０．１μｍから数μｍのレベルであれば、位置決め駒１４、１５のうち一方のみ移動させた場合に、ガイド装置のガタ分により、塗工ダイ１１が帯状シート２０に対して、その分だけ傾斜した状態となる。

左右ベース１３は、ガイドレール１８に左右方向に移動可能に保持されている。また、左右ベース１３は、図示しないボールネジと連結されており、ボールネジの回転により、塗工ダイ１１を帯状シート２０に対して、塗工膜１０の幅方向に移動可能である。塗工ダイ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃは、各々上下ベース１２Ａ、１２Ｂ、１２Ｃ、左右ベース１３Ａ、１３Ｂ、１３Ｃ等を備えており、各塗工ダイ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃは、他の塗工ダイと関係なく独立して、帯状シート２０との距離関係、傾斜関係、幅方向位置関係を変化させることができる。

次に、レーザ変位計２４による計測について説明する。図１に示すように、レーザ変位計２４は、計測用ローラ２３に巻回された帯状シート２０に対して、塗工面の１０の幅方向に沿って移動可能にレール２９上に保持されている。レーザ変位計２４は、レーザ光を発信し、対称面からの反射光を受信することにより、対象面までの距離を０．１μｍの分解能で計測する。レーザ変位計２４は、図示しないボールネジにより、レール２９上を図１の実線で示す位置から、仮想線で示す位置まで走査する。１回の走査に要する時間は、２０秒程度である。帯状シート２０の速度は、４０ｍ／分なので、１０ｍから２０ｍおきに計測していることとなる。
ここで、レーザ変位計２４は、計測ローラ２３の回転ムラも計測してしまう。本実施例では、予め計測ローラ２３の回転ムラを計測しておき、それを補正しているので、塗工面の膜厚を正確に計測することができる。

レーザ変位計２４で計測した実測値のデータを図６に示す。横軸は、帯状シートの幅方向における位置を示し、縦軸は膜厚を示す。Ｈ１は、帯状シート２０の無い計測用ローラ２３の表面高さを示している。Ｈ２は、帯状シート２０の厚みを示している。ＨＡ、ＨＢ、ＨＣは、塗工膜１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃの塗布されたペーストの膜厚を示している。塗工膜１０の膜厚は、乾燥前のウエットの状態では、５０〜１００μｍであり、乾燥後のドライ状態では、２０〜４０μｍである。また、ＷＡ、ＷＢ、ＷＣは、塗工膜１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃの塗工膜幅の長さを示している。
本実施例では、ペーストの固形分率の変化に伴う塗工膜１０の塗工膜幅Ｗ、及び膜厚Ｈの変化を計測することを目的としているため、ウエット状態の塗工膜１０の膜厚を計測している。

次に、本発明の塗工方法について説明する。
図８に、ペーストの固形分率と塗工膜１０の塗工膜幅との関係を示す。横軸がペーストの固形分率（単位％）を示し、縦軸が塗工膜幅Ｗ（単位ｍｍ）を示している。図中Ｍで示す点線は、固形分率の変化と塗工膜幅Ｗの変化との関係を示している。
ペーストの固形分率が３８％から４０％に変化すると、塗工膜幅Ｗは約０．３ｍｍ減少する。固形分率が変化した場合、それと相関してペーストの粘度が変化することを本発明者は確認した。すなわち、固形分率が３８％では、粘度が７００ｍＰａ・秒 at １rpmであり、固形分率が４０％では、粘度が１５００ｍＰａ・秒 at １rpmに変化する。粘度が高くなることにより、ペーストの流動性が悪くなるため、塗工膜幅Ｗが減少するものと考えられる。

本実施例では、レーザ変位計２４により、帯状シート２０に対して１０〜２０ｍ間隔で、塗工膜幅Ｗを計測しているので、ペーストのロットが変わって固形分率が変化して、塗工膜１０の塗工膜幅が変化した場合には、速やかに位置決め駒１４及び位置決め駒１５を左右に移動させて、塗工ダイ１１と帯状シート２０との距離を、０．１μｍのレベルで変化させているため、塗工膜幅Ｗをインラインで正確に制御することができる。すなわち、ペーストの固形分率が上昇して、塗工膜幅Ｗが短くなった場合には、位置決め駒１４、１５をモータにより外側方向に僅かに移動させる。これにより、傾斜面１４ａ、１５ａの位置決めピン１２ｂ、１２ａの当接する位置が、帯状シート２０側に０．１μｍのレベルで移動し、塗工ダイ１１が帯状シート２０に対して、０．１μｍのレベルで近づく。

塗工ダイ１１と帯状シート２０との距離であるギャップＧと塗工膜１０の塗工膜幅Ｗとの関係を図７に示す。横軸がギャップＧ（単位μｍ、１マスが１μｍ）を示し、縦軸が塗工膜１０の塗工膜幅Ｗ（単位ｍｍ、１マスが１ｍｍ）を示している。
塗工ダイ１１と帯状シート２０とのギャップＧと塗工膜１０の塗工膜幅Ｗとは、リニアな関係を示している。ギャップＧを減少させれば、塗工膜幅Ｗは長くなる。ここで、塗工膜幅Ｗを約１ｍｍ長くさせるには、ギャップＧを約２μｍ変化させる必要がある。本発明が問題としている塗工膜幅Ｗのバラツキは、０．３ｍｍ程度のものであるので、ギャップＧとしては、０．１μｍレベルで制御する必要がある。
塗工ダイ１１を帯状シート２０に対して近づけることにより、塗工膜幅Ｗを０．１ｍｍのレベルで長くすることができる。

一方、ペーストの固形分率が減少して、塗工膜幅Ｗが長くなった場合には、位置決め駒１４、１５をモータにより内側に僅かに移動させる。これにより、傾斜面１４ａ、１５ａの位置決めピン１２ｂ、１２ａの当接する位置が、帯状シート２０から遠ざかる方向に０．１μｍのレベルで移動し、塗工ダイ１１が帯状シート２０に対して、０．１μｍのレベルで遠ざかる。
塗工ダイ１１を帯状シート２０に対して遠ざけることにより、塗工膜幅Ｗを０．１ｍｍのレベルで短くすることができる。

図８に、ペーストの固形分率と塗工膜１０の塗工膜幅との関係を示す。横軸がペーストの固形分率（単位％）を示し、縦軸が塗工膜幅Ｗ（単位ｍｍ）を示している。図中Ｍで示す点線は、固形分率の変化と塗工膜幅Ｗの変化との関係を示している。ペーストの固形分率が３８％から４０％に変化すると、塗工膜１０の塗工膜幅Ｗは約０．３ｍｍ減少する。これは、従来技術である。
図中Ｎで示す実線は、本実施例の塗工方法・塗工装置により、レーザ変位計２４で計測した塗工膜幅に応じて、塗工ダイ１１と帯状シート２０との距離をフィードバック制御により変化させた場合のデータである。本実施例によれば、ペーストの固形分率が、３８％から４０％に変化しても、塗工膜幅Ｗは、ほとんど変化していないことがわかる。
３台の塗工ダイ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃにより、３条同時塗工している各々の塗工膜１０Ａ、１０Ｂ、１１Ｃの塗工膜幅ＷＡ、ＷＢ、ＷＣを個別に制御できるため、同時に塗工していても、各々の塗工膜幅ＷＡ、ＷＢ、ＷＣを各別に正確に制御することができる。

次に、塗工膜１０の塗工膜厚の制御について説明する。
レーザ変位計２４は、塗工膜幅Ｗと同時に塗工膜１０の膜厚を計測している。塗工膜１０の膜厚が幅方向でバラツキがある場合には、塗工ダイ１１を帯状シート２０に対して、僅かに傾斜させることにより、膜厚のバラツキをなくすことができる。
すなわち、塗工膜１０の膜厚が、例えば、右端の膜厚が左端の膜厚より１μｍ程度厚かった場合には、位置決め駒１５のみを僅かに外側に移動することにより、塗工ダイ１１の右端のみを０．１μｍレベルで帯状シート２０から遠ざける。塗工ダイ１１は、帯状シート２０に対して、０．１μｍレベルで傾くことになる。
これにより、塗工膜１０の右端における膜厚が減少して、塗工膜１０の右端における膜厚と左端における膜厚とを均一化することができる。
今の例では、右端の膜厚を薄くしたが、膜厚の絶対値を考慮して、左端の膜厚を増加する制御を行っても良い。

次に、塗工膜１０の帯状シートの一端からの位置制御について説明する。本実施例では、帯状シート２０に対して、３台の塗工ダイ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃにより、３条の塗工膜１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃを同時に塗工している。そして、乾燥工程が終了した後工程において、帯状シート２０の左端部から所定の距離で帯状シートを２箇所で切断している。そのため、左端から数えて２条目の塗工膜１０Ｂ、３条目の塗工膜１０Ｃの左端からの位置を、正確に維持する必要度が高い。
本実施例では、帯状シート２０の左端からの塗工膜１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃの各々の開始位置を、レーザ変位計２４により計測し、開始位置にずれがある場合には、左右ベース１３Ａ、１３Ｂ、１３Ｃを個別にガイドレール１８上を移動させずれをなくすように制御しているため、塗工膜１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃの各々の開始位置を、帯状シート２０の左端から所定の距離に正確に維持することができる。

以上、詳細に説明したように、本実施例の塗工方法、塗工装置によれば、帯状シート２０の表面に、塗工ダイ１１によりペースト材料を所定の塗工膜幅、所定の塗工膜厚さに塗工する塗工方法であって、塗工膜幅Ｗを計測する計測工程と、計測工程の計測値に基づいて、塗工ダイ１１を帯状シート２０に対して、塗工膜１０との距離を０．１μｍのレベルで変化させているので、塗工するペーストの固形分率が変化して、塗工膜１０の塗工膜幅Ｗが０．１ｍｍのレベルで変化した場合に、その僅かな変化に対応して、塗工膜幅Ｗを正確に制御することを、インラインで行うことができる。
また、計測工程で計測した塗工膜厚に基づいて、塗工ダイ１１の塗工膜１０に対する傾きを変化させている。すなわち、塗工膜厚が塗工膜１０の右端と左端とで僅かに相違した場合でも、塗工ダイ１１の帯状シート２０の塗工面に対する距離を、塗工ダイ１１の右端のみ、または左端のみを、１μｍのレベルで変化させることができる。これにより、塗工膜１０の膜厚の幅向でのバラツキをなくすことができる。

また、複数の塗工ダイ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃにより複数条の塗工膜１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃを同時に形成すること、帯状シート２０の端面からの塗工膜１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃの位置を計測し、その計測値に基づいて、複数の塗工ダイ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃを個別に塗工膜幅方向に移動させているので、後工程で帯状シート２０の一端を基準として、複数個所で切断する場合に、基準端から塗工膜１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃの開始位置の精度が正確に制御されているため、切断面から塗工膜１０Ｂ、１０Ｃの位置を正確に維持することができる。
また、レーザ変位計２４を塗工膜１０の幅方向に走査して、塗工膜厚の分布を計測することにより、塗工膜幅または塗工膜厚、及び塗工膜位置を計測しているので、インラインの計測値を用いて、塗工膜幅Ｗ、塗工膜厚Ｈ、及び塗工膜位置を正確に制御することができる。

また、帯状シート３４の表面に、塗工ダイ１１によりペースト材料を所定の塗工膜幅、所定の塗工膜厚さに塗工する塗工装置であって、塗工膜幅または塗工膜厚を計測するレーザ変位計２４と、レーザ変位計２４が計測した計測値に基づいて、塗工ダイ移動手段が塗工ダイ１１と帯状シート２０の塗工面との距離を変化させているので、塗工するペーストの固形分率が変化して、塗工膜１０の塗工膜幅Ｗが０．１ｍｍのレベルで変化した場合に、その僅かな変化に対応して、塗工膜幅Ｗを正確に制御することを、インラインで行うことができる。
また、レーザ変位計２４が計測した塗工膜厚Ｈに基づいて、塗工ダイ移動手段が塗工ダイ１１の帯状シート２０の塗工面に対する傾きを変化させているので、塗工膜１０の膜厚の幅向でのバラツキをなくすことができる。
また、複数条の塗工面を同時に形成する複数の塗工ダイ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃと、帯状シート２０の端面からの塗工膜１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃの位置を計測し、その計測値に基づいて、複数の塗工ダイ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃを個別に塗工膜幅方向に移動させる制御手段を有するので、後工程で帯状シート２０の一端を基準として、複数個所で切断する場合に、基準端から塗工膜１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃの開始位置の精度が正確に制御されているため、切断面から塗工膜１０Ｂ、１０Ｃの位置を正確に維持することができる。

なお、この発明は前記実施形態に限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱することのない範囲で構成の一部を適宜変更して実施することもできる。
例えば、本実施例では、塗工膜１０の塗工膜幅Ｗを計測するのに、レーザ変位計２４を用いているが、ＣＣＤカメラで画像を撮像して、画像処理することにより、塗工膜幅Ｗを演算しても良い。
また、本実施例では、塗工ダイ１１と帯状シート２０の塗工面との距離の変化を、位置決め駒１４、１５と空気圧シリンダ１６、１７との組み合わせにより行っているが、弾性変形可能なフレームにより塗工ダイ１１を保持して、フレームに力を加えて０．１μｍのレベルで弾性変形させる方法を用いても良い。

塗工装置の正面図である。 塗工・乾燥工程の全体構成を示す図である。 １台の塗工ダイ１１により、帯状シート２０に対して、塗工膜１０を塗工している模式図である。 図３の側面断面図である。 塗工ダイ１１をバックアップローラ２２に巻回された帯状シート２０に対して移動する機構を示す図である。 レーザ変位計２４で計測した実測値のデータ図である。 塗工ダイ１１と帯状シート２０との距離であるギャップＧと塗工膜１０の塗工膜幅Ｗとの関係を示す図である。 ペーストの固形分率と塗工膜１０の塗工膜幅との関係を示す図である。

符号の説明

１０ 塗工膜
１１ 塗工ダイ
１２ 上下ベース
１３ 左右ベース
１４、１５ 位置決め駒
２０ 帯状シート
２４ レーザ変位計

Claims (7)

1. 帯状シートの表面に、塗工ダイによりペースト材料を所定の塗工膜幅、所定の塗工膜厚さに塗工する塗工方法において、
   前記塗工膜幅または前記塗工膜厚を計測する計測工程と、
   前記帯状シートと塗工ダイとの距離と、前記塗工膜幅とのリニアな関係から前記計測工程で計測した前記塗工膜幅に基づいて、前記塗工ダイと前記塗工面との距離を変化させるフィードバック工程とを有することを特徴とする塗工方法。
2. 帯状シートの表面に、塗工ダイによりペースト材料を所定の塗工膜幅、所定の塗工膜厚さに塗工する塗工方法において、
   前記塗工膜幅または前記塗工膜厚を計測する計測工程と、
   前記計測工程で計測した前記塗工膜厚に基づいて、前記塗工ダイの前記塗工面に対する傾きを変化させるフィードバック工程とを有することを特徴とする塗工方法。
3. 請求項１又は請求項２に記載する塗工方法において、
   複数の塗工ダイにより複数条の塗工面を同時に形成すること、
   前記帯状シート端面からの前記塗工膜の位置を計測し、その計測値に基づいて、前記複数の塗工ダイを個別に前記塗工膜幅方向に移動させることを特徴とする塗工方法。
4. 請求項１乃至請求項３に記載する塗工方法のいずれか１つにおいて、
   前記塗工膜幅方向に走査して、前記塗工膜厚の分布を計測することにより、前記塗工膜幅または前記塗工膜厚、及び前記塗工膜位置を計測することを特徴とする塗工方法。
5. 帯状シートの表面に、塗工ダイによりペースト材料を所定の塗工膜幅、所定の塗工膜厚さに塗工する塗工装置において、
   前記塗工膜幅または前記塗工膜厚を計測する計測手段と、
   前記塗工ダイを前記帯状シートに対して、塗工面とは異なる方向に移動させる塗工ダイ移動手段と、
   前記帯状シートと塗工ダイとの距離と、前記塗工膜幅とのリニアな関係から前記計測手段が計測した前記塗工膜幅に基づいて、前記塗工ダイ移動手段が前記塗工ダイと前記塗工面との距離を変化させるように制御する制御手段とを有することを特徴とする塗工装置。
6. 帯状シートの表面に、塗工ダイによりペースト材料を所定の塗工膜幅、所定の塗工膜厚さに塗工する塗工装置において、
   前記塗工膜幅または前記塗工膜厚を計測する計測手段と、
   前記塗工ダイを前記帯状シートに対して、塗工面とは異なる方向に移動させる塗工ダイ移動手段と、
   前記計測手段で計測した前記塗工膜厚に基づいて、前記塗工ダイ移動手段が前記塗工ダイの前記塗工面に対する傾きを変化させるように制御する制御手段とを有することを特徴とする塗工装置。
7. 請求項５又は請求項６に記載する塗工装置において、
   複数条の塗工面を同時に形成する複数の塗工ダイと、
   前記帯状シート端面からの前記塗工膜の位置を計測し、その計測値に基づいて、前記複数の塗工ダイを個別に前記塗工膜幅方向に移動させる制御手段を有することを特徴とする塗工装置。

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