JP4982728B2 - 単一電子素子の製造方法 - Google Patents
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Description
で表わされるテトラキス−3,5ジ−ターシャリ−ブチルフェニル−ポルフィリン(H 2 −TBPP)であることを特徴とする単一電子素子の製造方法を提供する。
さらに、第4には、上記の絶縁性膜が、SiO2、CaF2又はAl2O3であることを特徴とする単一電子素子の製造方法を、第5には、上記の基板が、Si、GaAs、SiC、Geのいずれかの半導体材料、又はAu、Ag、Cuのいずれかの金属材料であることを特徴とする単一電子素子の製造方法を提供する。
基板はSi(100)ウエーハを用い、超高真空チャンバ−内でアニ−ルを行い、洗浄した。次にシリコン基板上に真空中で連続蒸着させてSiO2/ポルフィリン分子(H2−TBPP)/SiO2の積層構造を作製し、最後に積層構造上部にAu電極をマスクを通して成膜した。測定は2端子法を用い、クライオスタット中、絶対温度5Kにおいて、ステップ電圧を印加して電流計で電流を測定した。その電圧−電流特性を測定したところ、規則的な階段状の特性が得られた。この結果を図1に示した。
(実施例2)
実施例1において、有機分子のポルフィリン分子(H2−TBPP)をC60フラーレンに代えて単一電子素子を作製した。
Claims (5)
- 蒸着可能な有機分子によって微小トンネリング接合が形成され、光応答性を備えている単一電子素子の製造方法であって、基板上に真空中で順次、絶縁性膜、前記有機分子、絶縁性膜を蒸着させて積層構造を形成し、この積層構造上部に電極を形成する方法であり、前記有機分子は、下記式
で表わされるテトラキス−3,5ジ−ターシャリ−ブチルフェニル−ポルフィリン(H 2 −TBPP)であることを特徴とする単一電子素子の製造方法。 - 有機分子の蒸着量が、0.001分子層〜1分子層であることを特徴とする請求項1に記載の単一電子素子の製造方法。
- 絶縁性膜の膜厚を1.0〜3.0nmにすることを特徴とする請求項1又は2に記載の単一電子素子の製造方法。
- 絶縁性膜が、SiO 2 、CaF 2 又はAl 2 O 3 であることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の単一電子素子の製造方法。
- 基板が、Si、GaAs、SiC、Geのいずれかの半導体材料、又はAu、Ag、Cuのいずれかの金属材料であることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の単一電子素子の製造方法。
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