JP4979661B2 - 半導体装置の製造方法 - Google Patents

半導体装置の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4979661B2
JP4979661B2 JP2008244674A JP2008244674A JP4979661B2 JP 4979661 B2 JP4979661 B2 JP 4979661B2 JP 2008244674 A JP2008244674 A JP 2008244674A JP 2008244674 A JP2008244674 A JP 2008244674A JP 4979661 B2 JP4979661 B2 JP 4979661B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
semiconductor
mold
semiconductor device
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2008244674A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009021630A (ja
Inventor
治 伊佐木
哲也 岡田
修 赤木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
On Semiconductor Trading Ltd
Original Assignee
On Semiconductor Trading Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by On Semiconductor Trading Ltd filed Critical On Semiconductor Trading Ltd
Priority to JP2008244674A priority Critical patent/JP4979661B2/ja
Publication of JP2009021630A publication Critical patent/JP2009021630A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4979661B2 publication Critical patent/JP4979661B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • H10W72/884
    • H10W90/736
    • H10W90/756

Landscapes

  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

本発明は半導体装置の製造方法に関し、特にパッケージ外形の薄形化が可能な、半導体装置とその製造方法に関する。
電子応用機器の軽薄短小化の要求に応じるため、半導体装置の外形寸法及び外形寸法に準じる実装面積は小型化の一途をたどっている。その最終形態が半導体ペレットを直接実装するベアチップ実装、あるいはチップサイズと外形寸法とが同等になるチップサイズパッケージである。しかし、いずれも半導体ペレットを剥き出しで実装するため、耐湿性と信頼性の点では、未だ樹脂で封止したものに分がある。
図6に、樹脂封止した形態で、比較的小型化した半導体装置の例を示した。トランジスタ等の素子が形成された半導体ペレット1がリードフレームのアイランド2上に半田等のろう材によって固着実装され、半導体ペレット1の電極パッドとリード端子3とがワイヤ4で接続され、半導体ペレット1の周辺部分が樹脂5で被覆され、樹脂5の外部にリード端子3の先端部分が導出され、導出されたリード端子3が、2回折り曲げられた形状を有している。(例えば特開平05−129473号)。
しかしながら、リード端子3を樹脂の外側に導出する形状では、リード端子3が突出する分だけ実装面積が増大し、小型化が困難である欠点があった。
また、ボンディングワイヤを用いる構成では、そのループ高さの制約から封止外形の薄形化が困難である欠点があった。
本発明は、前述の課題に鑑みてなされ、第1の面と該第1の面に対向する第2の面を有し、半導体ペレットの第1の面に設けられた電極と前記第2の面が電気的に接続された板状の6面体から成る第1の電極と、前記半導体ペレットの第2の面に設けられた電極と第1の面が電気的に接続された板状の第2の電極と、前記第2の電極と一体で、前記半導体ペレットの周囲から前記半導体ペレットの前記第1の面に延在する板状の延在部と、前記延在部と一体で、前記第1の電極の前記第1の面が設けられた側に第1の面が設けられた板状の第3の電極とを有するリードフレームを用意し、前記第1の電極の前記第1の面がある側の第1の金型に剥離シートを設け、前記第1の金型と、該第1の金型と対向する第2の金型で形成されるキャビティに前記リードフレームを設置し、前記剥離シートに前記第1の電極の前記第1の面および前記第3の電極の前記第1の面を当接しながら前記キャビティ内に樹脂を注入して樹脂封止体を形成し、前記金型から取り出し、前記剥離シートから前記樹脂封止体を剥離し、前記樹脂封止体の第1の面内に、前記第1の電極の前記第1の面および前記第3の電極の前記第1の面を露出させ、前記第3の電極の前記第1の面と角部を構成する第2の面が前記樹脂封止体の前記第1の面と角部を構成する第2の面内に露出するように、前記第3の電極を前記リードフレームから分離する事により解決するものである。
この製造方法により、樹脂封止体の一方の面に、電極の頭部を露出させることができる。
以上に説明した本発明の半導体装置は、樹脂層18の表面にベース・エミッタ・コレクタ用の電極が露出した構成である。従って実装基板に対して各電極を対向接着することが可能であるので、半導体装置の実装面積を大幅に縮小できるものである。
更に、半導体ペレット10を樹脂層18で完全に被覆することが出来るので、装置の耐湿性を維持し信頼性の高いものにすることが出来る。
更に、ボンディングワイヤを用いないので、樹脂層18の厚みを容易に薄く設計することが出来、機器側のへ矩形化の要求に応じることが出来る。
以下に本発明の実施の形態を詳細に説明する。
図1は本発明の半導体装置を示す(A)上面図と(B)断面図である。半導体ペレット10には、各種前処理工程によってトランジスタ、パワーMOSFETなどの、3端子型の半導体素子が形成されている。バイポーラトランジスタ素子を例にすれば、半導体ペレット10の裏面側をコレクタとし、表面側にはベースとなる領域とエミッタとなる領域とを拡散手法によって形成し、半導体ペレット10上部にベース及びエミッタ用の外部接続用の電極パッド11を形成したものである。
12はアイランドであり、その表面に半田、金などの導電性のプリフォーム剤13によって半導体ペレット10をダイボンドしている。半導体ペレット10の電極パッド11の上には、同じく半田、金などのプリフォーム剤14によってポスト電極15が接着されている。
アイランド12からは0.2〜0.5mm程度の幅で延在部12aが連続して延在しており、その延在部12aは、アイランド12との付け根部分で上方に折り曲げられ、再度折り曲げられて水平に延在する。樹脂層18はアイランド12の周囲を被覆して、半導体チップ10を封止する。樹脂層18の上部にはポスト電極15の先端部分と、アイランドの延在部12aの露出部12bが露出する。アイランド12の表面と露出部12bとの高さの差は0.2〜1.0mmである。ポスト電極15は鉄、銅、アルミニウム等の導電素材からなる板状素材であり、ベースとエミッタの電極パッド11に接続されて各々ベース電極とエミッタ電極として導出される。アイランドの延在部12aはアイランド12を経由して半導体ペレット10の裏面側に電気的に接続され、コレクタ電極として導出される。
アイランド12は鉄あるいは銅系の合金素材からなり、0.15mm程度の板厚を具備する。この上に厚みが200μm程度の半導体ペレット10が、膜厚20〜30μmのプリフォーム剤13を介して固着されている。半導体ペレット10の上には板厚が0.1mm程度のポスト電極15が、膜厚20〜30μmのプリフォーム剤14を介して固着されている。この時、ポスト電極15は必ずしも電極パッド12と同じ大きさである必要がなく、電気的接続が保たれていればよい。従って、半導体ペレット10の大きさの範囲内、場合によっては半導体ペレット10からはみ出すような形態で任意の大きさとピッチ間隔で配置することが可能である。従って、樹脂層18の表面に、ベース、エミッタ、コレクタ電極の端子配列を任意のピッチと露出面積・形状で配置することが出来る。また、樹脂封止後、ポスト電極15と露出部12bに対して半田ボールのような接続部材を改めて接着することも可能である。なお、アイランド12裏面側には0.1mm程度の厚みで樹脂層18が形成されている。
斯かる構成は、従来のボンディングワイヤを用いることがないので、樹脂層18の厚みを薄形化することが出来る。また、アイランドの延在部12aを利用することによって、コレクタ電極を導出するのが容易である。
図2は、斯かる半導体装置の製造方法の、第1の実施の形態を示したものである。以下に詳細に説明する。
第1工程:図2(A)(B)参照
1枚の素材からエッチングあるいは打ち抜き加工することにより、アイランド12を多数個形成したリードフレーム20を準備する。各アイランド12は延在部12aによってリードフレーム20に保持される。延在部12aはアイランド12の付け根付近で折り曲げられる。また、図2(B)に示したように、延在部12aを2回折り曲げた構造でも良い。
第2工程:図3(A)参照
アイランド12表面にプリフォーム剤13を供給し、前処理が終了した半導体ペレット10をプリフォーム剤13の上に設置して、半導体ペレット10をダイボンドする。
第3工程:図3(B)参照
半導体ペレット10の電極パッド11上にプリフォーム剤14を供給し、別途に形成したポスト電極15を固定する。ポスト電極15の高さと、延在部の露出部12bとが大略同じ高さになるように、ポスト電極15の板厚が選択される。
第4工程:図3(C)参照
半導体ペレット10とポスト電極15を設置したリードフレーム20を金型のキャビティ内に設置し、各半導体装置毎にアイランド12の周囲を樹脂層18でトランスファーモールドする。このとき、樹脂層18はポスト電極15と延在部12aの上部を完全に埋没する。
第5工程:図4(A)参照
金型からリードフレーム20を取り出し、樹脂層18の表面を研磨する。研磨には、例えばダイシング装置のダイシングブレードを用いる。各半導体装置の高さが一定高さになるように、且つ、樹脂層18の表面にポスト電極15の表面と延在部の露出部12bとが露出するまで研磨する。このとき、ポスト電極15と露出部12bの表面を0.01〜0.08mm程度削るように制御する。前記ブレードには様々な板厚のものが準備されており、比較的厚めのブレードを用いて、切削を複数回繰り返すことで全体を削る。尚、ダイシングブレードの他に砥石によっても平坦面を形成することが可能である。
第6工程:図4(B)(C)参照
そして、アイランド12の延在部12aを切断して、各半導体装置をリードフレーム20から分離し、図4(C)に示したような本発明の装置を得る。なお、ポスト電極15等に半田ボール等を接続する場合は、第5工程の後に行ってから第6工程を行う。また、金属メッキ層を形成する場合も同様である。
図5は、製造方法における第2の実施の形態を示すものである。先の形態とは第1〜第3工程までは同一であるので説明を省略する。
第4工程:図5(A)参照
ポスト電極15を形成した半導体ペレット10を、金型21内に設置する。金型のキャビティ内には剥離シート22(例えば、商品名ETSE:日東電工)をあらかじめ設置しておき、剥離シート22にポスト電極15と露出部12bの頭部を接触するようにして設置する。この状態で樹脂を注入して樹脂層18を形成する。
第5工程:図5(B)参照
素子を金型から取り出し、剥離シート22を剥離すると、樹脂層18の表面に第1と第2のポスト電極15、16の頭部が露出した構造を得ることが出来る。突出した部分をダイシング装置で研磨し、そして、リードフレームからアイランド12の延在部を切断・分離することで図4(C)と同様の個別半導体装置を形成する。露出したポスト電極15と露出部12bの表面に半田ボールなどの突出電極を形成する場合には、剥離シートを除去した後に実施する。剥離シートを用いることにより、研磨する樹脂の量を減らすことが出る。
以上に説明した本発明の半導体装置は、樹脂層18の表面にベース・エミッタ・コレクタ用の電極が露出した構成である。従って実装基板に対して各電極を対向接着することが可能であるので、半導体装置の実装面積を大幅に縮小できるものである。
更に、半導体ペレット10を樹脂層18で完全に被覆することが出来るので、装置の耐湿性を維持し信頼性の高いものにすることが出来る。
更に、ボンディングワイヤを用いないので、樹脂層18の厚みを容易に薄く設計することが出来、機器側のへ矩形化の要求に応じることが出来る。
本発明を説明するための平面図と断面図である。 本発明の製造方法を示す斜視図である。 本発明の製造方法を示す断面図である。 本発明の製造方法を示す断面図と斜視図である。 本発明の製造方法の第2の実施の形態を示す断面図である。 従来例を説明するための断面図である。

Claims (3)

  1. 第1の面と該第1の面に対向する第2の面を有し、半導体ペレットの第1の面に設けられた電極と前記第2の面が電気的に接続された板状の6面体から成る第1の電極と、前記半導体ペレットの第2の面に設けられた電極と第1の面が電気的に接続された板状の第2の電極と、前記第2の電極と一体で、前記半導体ペレットの周囲から前記半導体ペレットの前記第1の面に延在する板状の延在部と、前記延在部と一体で、前記第1の電極の前記第1の面が設けられた側に第1の面が設けられた板状の第3の電極とを有するリードフレームを用意し、
    前記第1の電極の前記第1の面がある側の第1の金型に剥離シートを設け、前記第1の金型と、該第1の金型と対向する第2の金型で形成されるキャビティに前記リードフレームを設置し、前記剥離シートに前記第1の電極の前記第1の面および前記第3の電極の前記第1の面を当接しながら前記キャビティ内に樹脂を注入して樹脂封止体を形成し、
    前記金型から取り出し、前記剥離シートから前記樹脂封止体を剥離し、前記樹脂封止体の第1の面内に、前記第1の電極の前記第1の面および前記第3の電極の前記第1の面を露出させ、前記第3の電極の前記第1の面と角部を構成する第2の面が前記樹脂封止体の前記第1の面と角部を構成する第2の面内に露出するように、前記第3の電極を前記リードフレームから分離する事を特徴とした半導体装置の製造方法。
  2. 前記半導体ペレットは、3端子型の半導体素子である請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
  3. 前記第1の電極は二つ設けられて、前記3端子型の半導体素子の2端子と電気的に接続され、前記第3の電極は、前記3端子型の半導体素子の残りの1端子が電気的に接続される請求項2に記載の半導体装置の製造方法。
JP2008244674A 2008-09-24 2008-09-24 半導体装置の製造方法 Expired - Lifetime JP4979661B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008244674A JP4979661B2 (ja) 2008-09-24 2008-09-24 半導体装置の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008244674A JP4979661B2 (ja) 2008-09-24 2008-09-24 半導体装置の製造方法

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP04511599A Division JP4408475B2 (ja) 1999-02-23 1999-02-23 ボンディングワイヤを採用しない半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009021630A JP2009021630A (ja) 2009-01-29
JP4979661B2 true JP4979661B2 (ja) 2012-07-18

Family

ID=40360917

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008244674A Expired - Lifetime JP4979661B2 (ja) 2008-09-24 2008-09-24 半導体装置の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4979661B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010237095A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Alps Electric Co Ltd 容量型湿度センサ及びその製造方法
JP2011080853A (ja) * 2009-10-07 2011-04-21 Alps Electric Co Ltd 湿度センサパッケージ及びその製造方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH079917B2 (ja) * 1987-05-11 1995-02-01 サンケン電気株式会社 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JPH02122555A (ja) * 1988-10-31 1990-05-10 Mitsui High Tec Inc 半導体装置の製造方法
JP2755440B2 (ja) * 1989-07-28 1998-05-20 関西日本電気株式会社 樹脂モールド型半導体装置及び樹脂モールド装置
JP2525555Y2 (ja) * 1990-11-19 1997-02-12 サンケン電気株式会社 樹脂封止型半導体装置用リードフレーム組立体
JPH09129798A (ja) * 1995-10-27 1997-05-16 Rohm Co Ltd 電子部品およびその製法
JP3809233B2 (ja) * 1996-10-15 2006-08-16 アピックヤマダ株式会社 リリースフィルムを用いる樹脂モールド装置
JPH11284103A (ja) * 1998-03-31 1999-10-15 Fuji Electric Co Ltd 樹脂モールド半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009021630A (ja) 2009-01-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6638790B2 (en) Leadframe and method for manufacturing resin-molded semiconductor device
JP5529371B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP4408475B2 (ja) ボンディングワイヤを採用しない半導体装置
US5869905A (en) Molded packaging for semiconductor device and method of manufacturing the same
KR101117848B1 (ko) 반도체 장치 및 그 제조 방법
CN101601133A (zh) 部分图案化的引线框以及在半导体封装中制造和使用其的方法
CN102859687A (zh) 半导体器件及其制造方法
CN117558699A (zh) 通过3d堆叠解决方案的qfn上的smd集成
JP2008218469A (ja) 半導体装置の製造方法
US20100244210A1 (en) Lead frame and method for manufacturing circuit device using the same
CN101325190A (zh) 导线架上具有图案的四方扁平无引脚封装结构
JP4334047B2 (ja) 半導体装置とその製造方法
CN102403236B (zh) 芯片外露的半导体器件及其生产方法
CN101325191B (zh) 芯片上具有图案的四方扁平无引脚封装方法
JP4979661B2 (ja) 半導体装置の製造方法
US8829685B2 (en) Circuit device having funnel shaped lead and method for manufacturing the same
JP2011029370A (ja) 積層型半導体装置及びその製造方法
JP4784945B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2007287762A (ja) 半導体集積回路素子とその製造方法および半導体装置
JP2003046053A (ja) 半導体装置およびその製造方法
CN107017221B (zh) 集成电路组合件
JP4723776B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP3938525B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2006237503A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP2006279088A (ja) 半導体装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081023

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20110530

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110801

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111027

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120327

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120417

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150427

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150427

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150427

Year of fee payment: 3

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150427

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150427

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term