JP4977421B2 - 部品検査装置 - Google Patents

Description

本発明は、各種部品の検査を行う部品検査装置に関し、特に、ナットのような平型の部品を検査する部品検査装置に関する。

ねじやリベット等の機械部品を検査するための従来の部品検査装置は、例えば、被検査部品を搬送する搬送ユニットと、搬送過程において被検査部品の外観検査（傷、寸法計測、形状確認等）を行って良否を判断する検査ユニットとを有している。搬送ユニットとしては、例えば直進フィーダやベルトコンベアが用いられる。検査ユニットとしては、エリアセンサやラインセンサ等のＣＣＤカメラが用いられる。

部品検査装置は、さらには、検査ユニットの検査結果に応じて被検査部品を良品と不良品とを選別する選別ユニットを備えている。選別ユニットは、例えば、不良品を搬送ユニットから排除する。

部品検査装置には、搬送ユニットとして回転円盤を用いたものが知られている。その装置では、部品は円盤上に拘束されない状態で載置される。検査ユニットとしてのＣＣＤカメラは、例えば、部品の側面と上面を撮影可能な位置にそれぞれ配置されている。選別ユニットは、間欠回転可能な羽根車を有している（例えば、特許文献１を参照。）。
特開平２００１−２４６５２０号公報

前記従来の部品検査装置では、ナットのような平型の被検査部品は、ボウルフィーダによって検査面が上側を向くように整列させられ、回転円盤上に搬送される。部品は、回転円盤上に移載された状態で、上面及び側面を検査される。一方、この被検査部品は、移載状態での底面を検査することも要請されている。

この要請に対しては、第一に、ボウルフィーダからのワークＷの排出姿勢を変更して再度検査を行うことが考えられる。しかし、上記検査方法では、部品の検査装置への再投入の作業、部品の姿勢制御機構の変更等があるため、作業効率が悪く、その結果検査費用が高くなってしまう。また、第二に、回転円盤から良品として取り出された部品を再度ボウルフィーダで受けて別のディスク検査ユニットに供給し、ここで部品の異なる面を上側に向けて検査する方法も考えられる。しかし、この場合は２つの検査装置が必要となって、機器の数が増えると共に、配置スペースが大きくなる。

本発明の課題は、部品の複数の方向からの外観検査が可能な部品検査装置の配置スペースを小さくすることにある。

請求項１に記載の部品検査装置は、第１円盤と、第２円盤と、移載機構と、検査ユニットと、選別ユニットとを備えている。第１円盤は、被検査部品を載置して回転方向に搬送可能である。第２円盤は、被検査部品を載置して回転方向に搬送可能であり、第１円盤の軸方向下側に配置されている。移載機構は、第１円盤から第２円盤に対して被検査部品を上下反転させて移載させる。検査ユニットは、第１及び第２円盤に載置されて搬送される被検査部品を検査する。選別ユニットは、検査ユニットの検査結果に応じて被検査部品を良品と不良品を選別する。ここで、「円盤」とは、いわゆるディスクのことをいい、円状や環状を含み、少なくとも回転方向に延びる部品搭載面を有するものをいう。

この部品検査装置では、第１円盤に載置されて回転する被検査部品は上面を検査ユニットによって検査され、選別ユニットによって良品と不良品とに選別される。さらに被検査部品は移載機構によって上下反転されて第２円盤に移載される。この結果、第２円盤に載置されて回転する被検査部品は上面（第１円盤上での底面）を検査ユニットによって検査され、選別ユニットによって良品と不良品を選別される。このように、同軸上に並んだ２つの円盤によって被検査部品の両面を検査できるため、省スペース構造が実現できる。

請求項２に記載の部品検査装置では、請求項１において、第１円盤及び第２円盤は同軸に配置されており、第２円盤は第１円盤より外径が大きい。

この部品検査装置では、第２円盤は第１円盤と同軸ではあるが第１円盤より外径が大きいため、例えば検査ユニットのカメラを第２円盤の外周部の鉛直方向上側に配置して真下への撮影が可能である。

請求項３に記載の部品検査装置は、請求項２において、第１円盤及び第２円盤を駆動する単独の駆動部をさらに備えている。

この部品検査装置では、単独の駆動部によって第１円盤と第２円盤を駆動しているため、簡単な構造で被検査部品の両面を検査できる。

請求項４に記載の部品検査装置では、請求項１〜３のいずれかにおいて、移載機構は、第２円盤に対して、第２円盤の回転方向と同じ方向に被検査部品を供給する。

この部品検査装置では、被検査部品が第２円盤に対して回転方向と同じ方向に供給されるため、被検査部品は第２円盤にスムーズに移行する。このため、第２円盤における被検査部品の動きや供給位置が安定する。

請求項５に記載の部品検査装置では、請求項４において、移載機構は、反転シュートを有している。

この部品検査装置では、簡単な構造で被検査部品の上下を反転できる。

請求項６に記載の部品検査装置では、請求項５において、移載機構は、第１円盤に載置されて搬送される被検査部品を反転シュートの入口に誘導するための誘導部材をさらに有している。

この部品供給装置では、誘導部材によって被検査部品は確実に反転シュートの入口に誘導される。

請求項７に記載の部品検査装置では、請求項１〜６のいずれかにおいて、検査ユニットは、第１円盤に載置されて搬送される被検査部品を検査する第１検査ユニットを有している。選別ユニットは、第１検査ユニットの検査結果に応じて被検査部品の不良品を移載機構に到達する前に第１円盤から取り除く第１選別ユニットを有している。

この部品検査装置では、第１検査ユニットが第１円盤上の被検査部品を検査して、第１選別ユニットが不良品を第１円盤から取り除く。したがって、第１円盤上で不良品と判定された被検査部品は第２円盤には移行しない。つまり、第２円盤での検査は、第１円盤で良品と判定された被検査部品にのみ実施される。

請求項８に記載の部品検査装置では、請求項７において、検査ユニットは、第２円盤上の被検査部品を検査する第２検査ユニットをさらに有している。選別ユニットは、第２検査ユニットの検査結果に応じて被検査部品の不良品を第２円盤から取り除く第２選別ユニットをさらに有している。

この部品検査装置では、第２検査ユニットが第２円盤上の被検査部品を検査して、第２選別ユニットが不良品を第２円盤から取り除く。したがって、第１円盤及び第２円盤の両方で良品と判定された被検査部品のみが最終的に良品として残る。

本発明に係る部品検査装置では、同軸上に並んだ２つの円盤によって被検査部品の両面を検査できるため、省スペース構造が実現できる。

図１に、本発明の一実施形態としての部品検査装置１を示す。部品検査装置１は、例えばボルト、ねじ、リベット等のワークＷの外観検査を行うための装置である。より具体的には、この実施形態ではワークＷはナットのような平形の部材であり、部品検査装置１はワークＷの軸方向両端面を検査するための装置である。

部品検査装置１は、主に、ボウルフィーダ２と、第１直進フィーダ３と、第１ディスク検査装置４と、移載機構５と、第２ディスク検査装置６とを備えている。なお、これらの機構は機台８上に搭載されている。

ボウルフィーダ２は、ワークＷを整列供給するための装置である。ボウルフィーダ２は、複数のワークＷを貯留可能な円筒形状の貯留部を有しており、ナットのような平形のワークＷが多数投入される。なお、この実施例では、ワークＷは、座面側に薄いフランジが形成されたナット（フランジナット）であり、ボウルフィーダ２からフランジが上側を向いた姿勢で第１直進フィーダ３に整送される。

第１直進フィーダ３は、ボウルフィーダ２から第１ディスク検査装置４にワークＷを給送するための装置である。図２に示すように、第１直進フィーダ３は、一方向に長く延びる部品搬送面１１を有しており、ワークＷは部品搬送面１１の長手方向（図の矢印Ｙ１方向）に移動可能となっている。部品搬送面１１は、ワークＷの搬送方向を後述する第１ディスク１７の回転方向に合わせるように、第１ディスク１７の接線方向に一致するように延びている。

第１ディスク検査装置４は、ワークＷの端面を検査するための装置である。第１ディスク検査装置４は、ワークＷを搬送する第１搬送ユニット１２と、ワークＷを検査するための第１検査ユニット１３と、ワークＷの良品と不良品を選別するための第１選別ユニット１４とを備えている。

第１搬送ユニット１２は、主に、第１ディスク１７と、それを回転駆動するためのサーボモータ（図示せず）とから構成されている。第１ディスク１７は、ワークＷを回転方向に搬送するための部材である。第１ディスク１７は、円板状部材であり、環状の部品載置面１９を有している。部品載置面１９は平面となっている。なお、サーボモータ（図示せず）にはロータリエンコーダ（図示せず）が設けられており、第１ディスク１７の回転はロータリエンコーダによって検出される。

以上の構成によって、第１ディスク１７は、サーボモータの駆動を受けて図２の矢印Ｙ２方向に等速回転するようになっている。なお、第１ディスク１７は、ボウルフィーダ２及び第１直進フィーダ３の供給速度や第１ディスク検査装置４における検査速度に適した速度で回転させることが可能である。また、ワークＷは第１ディスク１７の回転に従って第１直進フィーダ３から速やかに分離可能である。以上より、ワークＷの検査を高速に行うことができる。

図２に、第１検査ユニット１３の概要を示す。第１検査ユニット１３は、主に、ワークＷを斜め上方から撮影するための第１カメラ３１と、ワークＷを真上から撮影するための第２カメラ３２と、各カメラからの画像情報に基づいてワークＷの良否を判断するための判断ユニット（図示せず）を備えている。第１カメラ３１は、ワークＷの内周面を検査するための装置である。なお、第１カメラ３１と第１ディスク１７との間にはリングライト３４が配置されている。第２カメラ３２は、ワークＷのフランジ側端面を検査するための装置であり、第１ディスク１７の第１カメラ３１の撮像ポイントより搬送方向下流側を撮影可能なように配置されている。なお、第２カメラ３２と第１ディスク１７との間にはリングライト３５が配置されている。判断ユニット（図示せず）は、第１カメラ３１と第２カメラ３２からの画像に基づいてワークＷの良否を判断するための装置であり、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭからなるコンピュータを含んでいる。

第１選別ユニット１４は、第１検査ユニット１３の判断結果に基づいて、ワークＷを良品と不良品を選別するための装置であり、具体的には、不良品を第１ディスク１７の部品載置面１９から排除するための機構である。図２に示すように、第１選別ユニット１４は、第１ディスク１７の第２カメラ３２の撮像ポイントから搬送方向下流側に配置されている。第１選別ユニット１４は、ワークＷをはじき出すための羽根車（図示せず）と、この羽根車よりワークＷの搬送方向下流側に配置された排出板３７と、この排出板３７を所定角度回転させるためのサーボモータ３８とから構成されている。排出板３７は、第１ディスク１７の上方に第１ディスク１７の回転とは独立して配置されている。この排出板３７は、常時は、ワークＷの搬送を妨げない位置に待機しており、サーボモータ３８の駆動を受けてワークＷの搬送軌道と斜めに交差する位置に回動する。

不良と判定されたワークＷの具体的な排出動作について、判断ユニットによる判定が「不良」である場合は、該当するワークＷが羽根車の回動移動路上に達すると、羽根車が回転して当該不良判定を受けたワークＷを第１ディスク１７の外周側へはじき飛ばす。これにより、当該ワークＷは、不良品排出路４０を通って不良品回収ボックス（図示せず）に収容される。また、羽根車で不良品が排出できなかった場合には、サーボモータ３８が駆動して、排出板３７がワークＷの搬送軌道上に回動する。これにより不良判定を受けたワークＷは、排出板３７に沿って第１ディスク１７外周方向に移動し、第１ディスク１７外周縁からこぼれ落ちて排除される。このようにして、第１選別ユニット１４においては、不良判定を受けたワークＷを第１ディスク１７から取り除く。

第１ディスク検査装置４は、さらに、軌道修正部３６を有している。軌道修正部３６は、第１直進フィーダ３からの整送後にワークＷを第１ディスク１７上の所定半径方向位置に導くための部材である。軌道修正部３６は、第１ディスク１７の上方に第１ディスク１７の回転から独立して設けられた円板からなる。軌道修正部３６は、第１直進フィーダ３からの供給位置からディスク搬送方向下流側に配置されており、第１ディスク１７の第１カメラ撮像ポイントよりディスク搬送方向上流側に配置されている。

第２ディスク検査装置６は、ワークＷのフランジ側と反対側の面を検査するための装置である。第２ディスク検査装置６は、ワークＷを搬送する第２搬送ユニット５２と、ワークＷを検査するための第２検査ユニット５３と、ワークＷの良品と不良品を選別するための第２選別ユニット５４とを備えている。

第２搬送ユニット５２は、主に、第２ディスク５７と、それを回転駆動するためのモータ（図示せず）とから構成されている。なお、このモータは第１ディスク１７を駆動するモータと同一である。つまり、第１ディスク１７と第２ディスク５７とは単独のモータによって駆動されている。以上の構成によって、第２ディスク５７は、サーボモータ（図示せず）の駆動を受けて第１ディスク１７と同じく図の矢印Ｙ２方向に等速回転するようになっている。

第２ディスク５７は、第１ディスク１７から移載機構５（後述）によって供給されたワークＷを回転方向に搬送するための部材である。第２ディスク５７は、円板状部材であり、環状の部品載置面５９を有している。部品載置面５９は平面形状となっている。第２ディスク５７は、第１ディスク１７の鉛直方向下側に配置されている。第２ディスク５７は、第１ディスク１７と同軸ではあるが第１ディスク１７より外径の大きな部材であるため、第２ディスク５７の部品載置面５９の全体又は外周側の一部の鉛直方向上側は第１ディスク１７に覆われない。

第２検査ユニット５３は、主に、ワークＷのフランジと反対側の面を撮影するための第３カメラ６１と、第３カメラ６１からの画像情報に基づいてワークＷの良否を判断するための判断ユニット（図示せず）を備えている。第３カメラ６１は、第２ディスク５７の上方、すなわち第１ディスク１７に覆われていない第２ディスク５７の外周部分上方に配置されている。第３カメラ６１と第２ディスク５７との間にはリングライト６４が配置されている。なお、第１ディスク検査装置４のコントロールユニット（判断ユニットを含む）と第２ディスク検査装置６のコントロールユニット（判断ユニットを含む）は共通であっても良いし、別個独立であっても良い。

第２選別ユニット５４は、第２検査ユニット５３の判断結果に基づいて、ワークＷを良品と不良品を選別するための装置であり、具体的には、不良品を第２ディスク５７の載置面から排除するための装置である。第２選別ユニット５４は、第２ディスク５７の第３カメラ６１の撮像ポイントより搬送方向下流側に配置されている。第２選別ユニット５４は、ワークＷをはじき出すための排除板（図示せず）と、排除板を所定角度回転させるためのサーボモータ６８とから構成されている。第２選別ユニット５４の構成と動作は前述の第１選別ユニット１４と同様であるため、ここでは説明を省略する。

第２ディスク検査装置６は、さらに、第２選別ユニット５４より搬送方向下流側に、排出プレート７７及び良品排出路７８を有している。排出プレート７７は、ワークＷを良品排出路７８に案内するための案内面を有している。良品排出路７８は、良品回収ボックス（図示せず）につながっており、良品のワークＷは良品回収ボックスに収容される。

図３に移載機構５の詳細を示す。移載機構５は、ワークＷを第１ディスク検査装置４から第２ディスク検査装置６に反転供給するための装置である。移載機構５は、主に、反転シュート７０と、回転円板７２と、誘導板７３と、外周板７４とから構成されている。

反転シュート７０は、第２ディスク５７の部品載置面５９外周部上側に配置されており、入口７０ａが第１ディスク１７の外周側近傍に配置されており、出口７０ｂが第２ディスク５７の部品載置面５９外周部上面に沿うように配置されている。反転シュート７０は、第１ディスク１７および第２ディスク５７の回転からは独立して設けられている。反転シュート７０の入口７０ａと出口７０ｂは矢印Ｙ２方向を向いて開口している。

回転円板７２は、ワークＷを第１ディスク１７から反転シュート７０の入口７０ａに搬送するための部材である。回転円板７２は、第１ディスク１７の外周側で反転シュート７０の入口７０ａ近傍に配置されている。回転円板７２は回転自在に支持されており、外周面が第１ディスク１７の外周面に当接している。したがって、第１ディスク１７が矢印Ｙ２方向に回転すると、当接部分の摩擦によって回転円板７２は矢印Ｙ３方向に回転する。

誘導板７３は、ワークＷを第１ディスク１７から回転円板７２側に誘導するための部材であり、第１ディスク１７上に第１ディスク１７の回転から独立して配置されている。誘導板７３は、ワークＷを第１ディスク１７の外周側に移動させるために第１ディスク１７の回転方向に対して斜めに交差して配置されている。

外周板７４は、ワークＷが回転円板７２から脱落するのを防止するための部材である。外周板７４は、回転円板７２の外周縁に沿って設けられた弧状の部材であり、両端が誘導板７３と反転シュート７０の入口７０ａにそれぞれ連続している。

以上の構成により、第１ディスク１７の回転に伴って移動してきたワークＷは、誘導板７３によって回転円板７２に誘導される。この時、誘導板７３は、ワークWが第１ディスク１７と回転円板７２との接点部分を通過するよう、ワークWを誘導する。続いて、ワークＷは、回転円板７２と共に回転して反転シュート７０の入口７０ａまで運ばれる。そこから、ワークWは、反転シュート７０の入口７０ａに入り、表裏を反転された姿勢で出口７０ｂから排出される。なお、ワークＷの排出方向は第２ディスク５７の回転方向（矢印Ｙ２方向）と同じである。

ワークＷは、回転円板７２上では遠心力によって外周側に移動しており、外周板７４に当接した状態で矢印Ｙ３方向に移動する。したがって、ワークＷは、反転シュート７０の入口７０ａ近傍に到達すると速やかに入口７０ａ内に移動する。この実施例では、反転シュート７０の入口７０ａの矢印Ｙ３方向下流側に規制部７５が設けられている。規制部７５は、反転シュート７０の入口７０ａから連続して形成されている。規制部７５は、ワークＷが万一反転シュート７０の入口７０ａに入らずに回転円板７２に載ったままさらに移送されそうになった場合に、これを規制してワークＷを反転シュート７０の入口７０ａに誘導するための部材である。なお、規制部７５は必ずしも無くても良い。また、別の実施例として、ワークＷを確実に回転円板７２の外周部に移行させるための誘導部材や、ワークWの回転円板７２上での軌道を規制する規制部材をさらに設けても良い。

また、第２ディスク検査装置６は、さらに、軌道修正部７６を有している。軌道修正部７６は、ワークＷを第２ディスク５７上の所定検査軌道に導くための部材である。軌道修正部７６は、第２ディスク５７の上方に第２ディスク５７から独立して設けられた円板からなり、移載機構５からの排出位置から搬送方向下流側近傍に配置されている。
（動作）

部品検査装置１の動作について説明する。なお、各装置の詳細の構成及び動作についてはすでに説明しているため、ここでは概略についてのみ説明する。

ワークＷは、ボウルフィーダ２によってナット座面が上を向く姿勢に整列されて、次に第１直進フィーダ３によって第１ディスク検査装置４に供給される。ワークＷは、第１ディスク１７の部品載置面１９に載置された状態で、第１ディスク１７の回転に伴って移動する。ワークＷは、第１検査ユニット１３の第１カメラ３１と第２カメラ３２によってナット座面を撮影される。そして、ワークＷは、不良品と判定されると、第１選別ユニット１４によって第１ディスク１７から排除される。

ワークＷ（第１ディスク検査装置４で良品と判定された部品）は、移載機構５によって、上下反転されながら第２ディスク検査装置６に供給される。ワークＷは、移載機構５から排出された後、第２ディスク５７の部品載置面５９に載置された状態で第２ディスク５７と共に回転移動する。ワークＷは、第２検査ユニット５３の第３カメラ６１によってナット座面と反対側の面を撮影される。そして、ワークＷは、不良品と判定されると、第２選別ユニット５４によって第２ディスク５７から排除される。この結果、ワークＷ（第２ディスク検査装置６で良品と判定された部品）は、良品排出路７８から良品回収部（図示せず）に回収される。
（発明の効果）

部品検査装置１では、ワークＷは第１ディスク１７に載置されて回転する際に上面を第１検査ユニット１３によって検査され、第１選別ユニット１４によって良品と不良品とに選別される。さらにワークＷは移載機構５によって上下反転されて第２ディスク５７に移載される。この結果、ワークＷは第２ディスク５７に載置されて回転する際に上面（第１ディスク１７上での底面）を第２検査ユニット５３によって検査され、第２選別ユニット５４によって良品と不良品とに選別される。このように、軸方向に並んだ２つのディスク１７，５７によってワークＷの両面を検査できるため、省スペース構造が実現できる。

部品検査装置１では、第１ディスク１７及び第２ディスク５７は同軸に配置されているが、第２ディスク５７は第１ディスク１７より外径が大きいため、第２検査ユニット５３の第３カメラ６１を第２ディスク５７の外周部の鉛直方向上側に配置して真下に向けて撮影可能である。

部品検査装置１では、単独の駆動モータ（図示せず）によって第１ディスク１７と第２ディスク５７を駆動しているため、簡単な構造でワークＷの両面を検査できる。

部品検査装置１では、ワークＷが第２ディスク５７に対して回転方向と同じ方向に供給されるため、ワークＷは第２ディスク５７にスムーズに移行する。このため、第２ディスク５７におけるワークＷの動きや供給位置が安定する。

部品検査装置１では、第１検査ユニット１３が第１ディスク１７上のワークＷを検査して、第１選別ユニット１４が不良品を第１ディスク１７から取り除く。したがって、第１ディスク１７上で不良と判定されたワークＷは第２ディスク５７には移行しない。つまり、第２ディスク５７での検査は、第１ディスク１７で良品と判定されたワークＷにのみ実施される。次に、第２検査ユニット５３が第２ディスク５７上のワークＷを検査して、第２選別ユニット５４が不良品を第２ディスク５７から取り除く。したがって、第１ディスク１７及び第２ディスク５７の両方で良品と判定されたワークＷのみが最終的に良品として残る。
（他の実施例）

前記実施形態は本発明の一実施例にすぎず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で様々な変更が可能である。

図４に反転シュートの他の実施形態を示す。この実施形態では、第２ディスク検査装置の第２ディスクは矢印Ｙ４方向（Ｙ２方向と反対向き）に回転するようになっている。この場合、前記実施形態と同様に単独のモータを用いるためには、動力の反転機構が必要になる。

移載機構８５は、ワークＷを第１ディスク検査装置４から第２ディスク検査装置６に反転供給するための装置である。移載機構８５は、第１ディスク１７，５７の回転からは独立して設けられている。移載機構８５は、主に、反転シュート８６と、誘導板８７とから構成されている。

反転シュート８６は、第２ディスク５７の部品載置面５９外周部上側に配置されており、入口８６ａが第１ディスク１７の外周側近傍に配置されており、出口８６ｂが第２ディスク５７の部品載置面５９外周部上面に沿うように配置されている。反転シュート８６の入口８６ａと出口８６ｂは矢印Ｙ４方向を向いて開口している。

誘導板８７は、ワークＷを第１ディスク１７から反転シュート８６の入口８６ａ側に誘導するための部材であり、第１ディスク１７上に配置されている。誘導板８７はワークＷを外周側に移動させるために第１ディスク１７の回転方向に対して斜めに交差して配置されている。

以上の構成により、ワークＷは、第１ディスク１７から誘導板８７によって反転シュート８６の入口８６ａまで運ばれる。そこから、ワークWは反転シュート８６の入口８６ａに入り、表裏を反転された姿勢で出口８６ｂから排出される。なお、ワークＷの排出方向は第２ディスク５７の回転方向（矢印Ｙ４方向）と同じである。

この実施形態では、ワークＷの反転シュート８６への進入方向が第１ディスク１７の回転方向（矢印Ｙ２方向）と同じであるため、簡単な構造で確実にワークＷが反転シュート８６の入口８６ａに運ばれる。

以上の結果、本実施形態でも前記実施形態と同様の効果が得られる。

なお、本発明に係る部品検査装置に用いられるワークＷの形状は、前記実施形態のナットに限定されない。

本発明は、部品検査装置、特に、部品を連続して検査する検査装置に適用可能である。

本発明の一実施形態としての部品検査装置の全体構成の斜視図。 図１の部分拡大図であり、第１ディスク検査装置と第２ディスク検査装置の斜視図。 （ａ）は移載機構の斜視図であり、（ｂ）はその要部拡大図。 他の実施形態における移載機構の斜視図。

符号の説明

１ 部品検査装置
２ ボウルフィーダ
３ 第１直進フィーダ
４ 第１ディスク検査装置
５ 移載機構
６ 第２ディスク検査装置
１３ 第１検査ユニット
１４ 第１選別ユニット
１７ 第１ディスク（第１円盤）
５３ 第２検査ユニット
５４ 第２選別ユニット
５７ 第２ディスク（第２円盤）
７０ 反転シュート
７３ 誘導板（誘導部材）
８６ 反転シュート
８７ 誘導板（誘導部材）
Ｗ ワーク（被検査部品）

Claims (7)

1. 被検査部品を載置して回転方向に搬送可能な第１円盤と、
   前記被検査部品を載置して回転方向に搬送可能であり、前記第１円盤の軸方向下側に配置された第２円盤と、
   前記第１円盤から前記第２円盤に対して前記被検査部品を上下反転させて移載させる移載機構と、
   前記第１及び第２円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を検査する検査ユニットと、
   前記検査ユニットの検査結果に応じて前記被検査部品を良品と不良品を選別する選別ユニットとを備えており、
   前記第１円盤及び前記第２円盤は同軸に配置されており、
   前記第２円盤は前記第１円盤より外径が大きい、
   部品検査装置。
2. 前記第１円盤及び前記第２円盤を駆動する単独の駆動部をさらに備える、請求項１に記載の部品検査装置。
3. 前記移載機構は、前記第２円盤に対して、前記第２円盤の回転方向と同じ方向に前記被検査部品を供給する、請求項１又は２に記載の部品検査装置。
4. 前記移載機構は、反転シュートを有している、請求項３に記載の部品検査装置。
5. 前記移載機構は、前記第１円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を前記反転シュートの入り口に誘導するための誘導部材をさらに有している、請求項４に記載の部品検査装置。
6. 前記検査ユニットは、前記第１円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を検査する第１検査ユニットを有しており、
   前記選別ユニットは、前記第１検査ユニットの検査結果に応じて前記被検査部品の不良品を前記移載機構に到達する前に前記第１円盤から取り除く第１選別ユニットを有している、請求項１〜５のいずれかに記載の部品検査装置。
7. 前記検査ユニットは、前記第２円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を検査する第２検査ユニットをさらに有しており、
   前記選別ユニットは、前記第２検査ユニットの検査結果に応じて前記被検査部品の不良品を前記第２円盤から取り除く第２選別ユニットをさらに有している、請求項６に記載の部品検査装置。
   

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