JP2014139525A - 検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】ワークを把持しない状態で、両面検査工程および検査後の仕分け工程を行う。
【手段】カメラ6は、第1カメラ6aによって、透光ガラス板4を介して下方向からの画像を撮像し、第2カメラ6bによって上方向(反対方向)からの画像を撮像する。これにより、第1カメラ6aと第2カメラ6bによって、ワークWに対する2以上の方向からの画像を撮像することができる。
【選択図】図2
【手段】カメラ6は、第1カメラ6aによって、透光ガラス板4を介して下方向からの画像を撮像し、第2カメラ6bによって上方向(反対方向)からの画像を撮像する。これにより、第1カメラ6aと第2カメラ6bによって、ワークWに対する2以上の方向からの画像を撮像することができる。
【選択図】図2
Description
この発明は、割りピンなどの部品、部材に対し、検査処理を行うための技術に関するものである。
割りピンなどのワーク(部品)にめっき処理や熱処理をしたり、成形加工をしている際に、ワークに傷がついてしまう場合がある。そのような不良品を確実に見つけ出し、取り除くために検査をする必要がある。また、傷の他にも、表面処理の残りカス(バリ)などが付着していることもある。
ナットの緩みや脱落を防止するために割りピンが用いられている場合に、割りピンが破断してナットが落脱すると、構造物の倒壊などを招くおそれがあり危険である。割りピン以外の部品、部材についても同様の問題がある。そこで、従来から様々な検査装置が考えられている(例えば、特許文献1)。
しかしながら、特許文献1の装置では、カメラに撮像されるワークの手前側(表側)については検査することができたが、反対側(裏側)については検査することはできなかった。すなわち、部品の両面を検査することはできなかった。また、検査や不良品の仕分けを、部品を凹部に保持した状態で行うため、ネジのような頭部を有する部品以外(例えば、割りピンのような、凹部にうまく嵌らない部品)に用いることは困難であった。
この発明は、上記のような問題点を解決して、部品(割りピンなど)の傷などを確実に検出することが可能な検査装置、または、部品を保持せずに容易に仕分けることが可能な検査装置を提供することを目的とする。
(1)この発明の検査装置は、
被検査物の搬送路に設けられた透光性部材と、
前記透光性部材の上を通過する前記被検査物を撮像するための撮像部であって、前記透光性部材を介して少なくとも1方向からの画像または映像を撮像し、前記被検査物に対する2以上の方向からの画像または映像を撮像する撮像部と、
前記撮像部により撮像した前記被検査物の2以上の方向からの画像または映像を解析して、前記被検査物が不良品であるか否かを判断することにより検査処理を実行する検査処理部と、
を備えたこと、を特徴とする。
被検査物の搬送路に設けられた透光性部材と、
前記透光性部材の上を通過する前記被検査物を撮像するための撮像部であって、前記透光性部材を介して少なくとも1方向からの画像または映像を撮像し、前記被検査物に対する2以上の方向からの画像または映像を撮像する撮像部と、
前記撮像部により撮像した前記被検査物の2以上の方向からの画像または映像を解析して、前記被検査物が不良品であるか否かを判断することにより検査処理を実行する検査処理部と、
を備えたこと、を特徴とする。
これにより、搬送手段(例えば、ボルトの頭部を保持する円板プレートなど)に邪魔されることなく、撮像したワークの多面画像に基づいて検査を行うことが可能である。
(2)この発明の検査装置は、
前記透光性部材が、所定位置から傾斜させて設けられており、
前記撮像部が、前記所定位置から前記透光性部材の上を滑り落ちる前記被検査物を撮像すること、
を特徴とする。
前記透光性部材が、所定位置から傾斜させて設けられており、
前記撮像部が、前記所定位置から前記透光性部材の上を滑り落ちる前記被検査物を撮像すること、
を特徴とする。
これにより、透光板の上を滑り落ちる途中に撮像したワークの多面画像に基づいて検査を行うことが可能である。
(3)この発明の検査装置は、
前記撮像部が2つ設けられており、前記被検査物に向けて撮像方向を逆にする2方向の位置に配置されたこと、
を特徴とする。
前記撮像部が2つ設けられており、前記被検査物に向けて撮像方向を逆にする2方向の位置に配置されたこと、
を特徴とする。
これにより、2方向の位置に配置されたカメラで撮像したワークの両面画像に基づいて検査を行うことが可能である。
(4)この発明の検査装置は、
前記透光性部材をV字形に成形して設けたV字溝によって前記被検査物の通路を構成し、
1つの撮像部により、前記被検査物に対する1方向からの前記透光性部材を介さない画像または映像と、前記透光性部材のV字溝の内面を通過した光が前記V字溝の外面で反射することによりV字溝の上面に投影された前記被検査物に対する少なくとも2方向からの透光性部材を介した画像または映像とを同時に撮像すること、
を特徴とする。
前記透光性部材をV字形に成形して設けたV字溝によって前記被検査物の通路を構成し、
1つの撮像部により、前記被検査物に対する1方向からの前記透光性部材を介さない画像または映像と、前記透光性部材のV字溝の内面を通過した光が前記V字溝の外面で反射することによりV字溝の上面に投影された前記被検査物に対する少なくとも2方向からの透光性部材を介した画像または映像とを同時に撮像すること、
を特徴とする。
これにより、1つのカメラで撮像したワークの多面画像に基づいて検査を行うことが可能である。
(5)この発明の検査装置は、
前記透光性部材の上に、前記被検査物の搬送路を両側から挟むように配置される縁部材を設けたこと、
を特徴とする。
前記透光性部材の上に、前記被検査物の搬送路を両側から挟むように配置される縁部材を設けたこと、
を特徴とする。
これにより、ワークが搬送路から外れて落下するのを防止したり、軸体のワークが透光板の上を転がるのを防止することができる。
(6)この発明の検査装置は、
さらに、前記検査処理部が不良品であると判断した被検査物を不良品用の通路に仕分けるための制御部を備えたこと、
を特徴とする。
さらに、前記検査処理部が不良品であると判断した被検査物を不良品用の通路に仕分けるための制御部を備えたこと、
を特徴とする。
これにより、不良品のワークを確実に取り除くことができる。
(7)この発明の検査装置は、
前記被検査物が軸体であり、
前記透光性部材に搬送される前または後に、前記軸体の両端を検査したこと、
を特徴とする。
前記被検査物が軸体であり、
前記透光性部材に搬送される前または後に、前記軸体の両端を検査したこと、
を特徴とする。
これにより、軸体について全周検査を実現することができる。
(8)この発明の仕分け装置は、
被検査物を開口部から収容する複数の収容空間を有し、前記収容空間を回転軸を中心に第1の方向に回転させるための回転収容部と、
被検査物が不良品であるか否かの入力を受けて、不良品であるまたは不良品でないと判断された被検査物が収容された収容空間を対応付けて記憶する記憶部と、
前記記憶部を参照して、不良品であるまたは不良品でないと判断された被検査物を収容した収容空間が第1の仕分け位置まで到達したときに、不良品であるまたは不良品でないと判断された被検査物を前記収容空間から排出させる制御部と、
を備えたこと、を特徴とする。
被検査物を開口部から収容する複数の収容空間を有し、前記収容空間を回転軸を中心に第1の方向に回転させるための回転収容部と、
被検査物が不良品であるか否かの入力を受けて、不良品であるまたは不良品でないと判断された被検査物が収容された収容空間を対応付けて記憶する記憶部と、
前記記憶部を参照して、不良品であるまたは不良品でないと判断された被検査物を収容した収容空間が第1の仕分け位置まで到達したときに、不良品であるまたは不良品でないと判断された被検査物を前記収容空間から排出させる制御部と、
を備えたこと、を特徴とする。
これにより、ワークを保持していない状態で、検査結果に基づいてワーク(部品)の仕分けが可能である。また、回転体を用いるので、装置の省スペース化を図ることができる。
(9)この発明の仕分け装置は、
前記制御部が、前記開口部から収容空間内にエアーを吹き付けるように制御すること、
を特徴とする。
前記制御部が、前記開口部から収容空間内にエアーを吹き付けるように制御すること、
を特徴とする。
これにより、エアーによって不良品であると判断したワークを回転体の収容スペースから排出することができる。
(10)この発明の仕分け装置は、
前記エアー吹付部の吹き付け角度が、前記回転軸に向かう方向に対して上方に向けられており、
前記エアー吹付部によって、エアーを収容空間の上面に吹き付けること、
を特徴とする。
前記エアー吹付部の吹き付け角度が、前記回転軸に向かう方向に対して上方に向けられており、
前記エアー吹付部によって、エアーを収容空間の上面に吹き付けること、
を特徴とする。
これにより、エアーを、収容スペースの上面に沿って流すことができる。
(11)この発明の仕分け装置は、
前記回転収容部が有する複数の収容空間を、少なくとも回転軸に直交する2面と、当該2面の間で前記回転軸に対して放物線状に延伸される複数の面とで仕切ることによって形成したこと、
を特徴とする。
前記回転収容部が有する複数の収容空間を、少なくとも回転軸に直交する2面と、当該2面の間で前記回転軸に対して放物線状に延伸される複数の面とで仕切ることによって形成したこと、
を特徴とする。
これにより、回転体に複数の収納スペースを効率的に設けることができる。
(12)この発明の仕分け装置は、
前記収容空間の底部を曲面に成形したこと、
を特徴とする。
前記収容空間の底部を曲面に成形したこと、
を特徴とする。
これにより、収容スペースの奥に向かったエアーの流れを手前方向にスムーズに向けることが可能となり、ワークをより確実に排出することができる。
(13)この発明の仕分け装置は、
不良品であるまたは良品であると判断されなかった被検査物を収容した収容空間が前記第1の仕分け位置を通過して回転収容部がさらに回転した後、第2の仕分け位置において前記被検査物が開口部から落下すること、
を特徴とする。
不良品であるまたは良品であると判断されなかった被検査物を収容した収容空間が前記第1の仕分け位置を通過して回転収容部がさらに回転した後、第2の仕分け位置において前記被検査物が開口部から落下すること、
を特徴とする。
これにより、不良品であると判断されなかった良品(または良品である都判断されなかった不良品)の回収が容易である。
(14)この発明の仕分け装置は、
前記第2の仕分け位置において開口部から落下した前記被検査物を別の通路に向けること、
を特徴とする。
前記第2の仕分け位置において開口部から落下した前記被検査物を別の通路に向けること、
を特徴とする。
これにより、例えば、ワークが回転体の収納スペースに2個以上入ってしまうなどの異常事態においても、装置を停止することなく別のルートに仕分けることが可能となり、検査を引き続き継続することができる。
1.検査装置300によって行われる処理工程について
本発明の一実施形態である検査装置300では、図1に示すように、被検査物であるワークW(割りピンなど)について、まず、傷、バリなどの有無を両面(多面)検査する両面検査工程100を行い、つぎに、検査したワークWを、回転する複数の空間(スペース)に収容し不良品R1を排出して仕分けるための仕分け工程200が行われる。
本発明の一実施形態である検査装置300では、図1に示すように、被検査物であるワークW(割りピンなど)について、まず、傷、バリなどの有無を両面(多面)検査する両面検査工程100を行い、つぎに、検査したワークWを、回転する複数の空間(スペース)に収容し不良品R1を排出して仕分けるための仕分け工程200が行われる。
(i)両面検査工程100では、ワークWの表裏を2以上の角度から撮像して画像解析することにより、全周検査をほぼ実現できること、(ii)仕分け工程200では、ワークWを保持しない状態で迅速に仕分けができること、などが検査装置300の主な特徴として挙げられる。
以下の実施形態では、両面検査工程100と仕分け工程200とに分けて順に説明する。検査装置300は、それぞれ両面検査工程100を行う両面検査装置と、仕分け工程200を行う仕分け装置とに分けることができる。なお、図2は、本発明の一実施形態である検査装置300を上方から見た平面図を示す図である。図3は、図1に示す検査装置100のα矢視図である。
2.両面検査工程100について
両面検査工程100(図1)を行うために、本発明の一実施形態における検査装置300は、図2に示す透光性部材である透光ガラス板4と、撮像部であるカメラ6(第1カメラ6a、第2カメラ6bの2つ)と、検査処理部8とを備えている。この実施形態では、軸体部品の1種である割りピン(図4)を検査対象のワークWとした場合を例に説明する。なお、割りピンWは、線状の鋼材を折り曲げて成形される部品であり、ナットの固定などの用途に用いられる。
両面検査工程100(図1)を行うために、本発明の一実施形態における検査装置300は、図2に示す透光性部材である透光ガラス板4と、撮像部であるカメラ6(第1カメラ6a、第2カメラ6bの2つ)と、検査処理部8とを備えている。この実施形態では、軸体部品の1種である割りピン(図4)を検査対象のワークWとした場合を例に説明する。なお、割りピンWは、線状の鋼材を折り曲げて成形される部品であり、ナットの固定などの用途に用いられる。
透光ガラス板4は、ガラス、プラスチックなどの透光性の部材によって構成されており、フィーダー2に隣接して、ワークWの搬送路中に設けられている。被検査物であるワークWは、検査装置300に隣接して設けられたフィーダー2によって透光ガラス板4まで搬送されてくる。フィーダー2は、例えば、図3に示すような遠心力を利用してワークWを搬送する回転式のフィーダー2によって構成されている。なお、図3では、撮像部であるカメラ6は省略した。
図3に示す回転式のフィーダー2は、回転による遠心力を利用してワークを外周面に寄せつつ、外周面には振動を与え、徐々に径を大きくする外周面に沿って、ワークWを1つずつ所定位置である先端位置Xまで搬送する。このような構造は、特に、図4に示す割りピンのような軸体のワークWを保持せずに、1つずつ順に搬送するのに適している。
また、透光ガラス板4は、図2に示すように、所定位置(フィーダー2の先端位置)Xから傾斜させて設けられている。このため、フィーダー2から搬送されたワークWは、図3に示す透光ガラス板4上の搬送路に沿って、自動的に透光ガラス板4を滑り落ちることになる。透光ガラス板4の上面には、図5に示すように、搬送路Yを両側から挟むように配置されるプラスチック製の縁部材であるガイド5が設けられている。これにより、滑り落ちるワークWが回転するのを防止することができる。また、ワークWが搬送路Yから飛び出すのを防止することもできる。
カメラ6は、所定位置Xから滑り落ち、透光ガラス板4の上を通過するワークWを撮像するための機器である。図2に示すように、この実施形態では、カメラ6として、第1カメラ6aと第2カメラ6bの2つが設けられている。
第1カメラ6aと第2カメラ6bの位置関係などを、図6に詳細に示す。第1カメラ6aと第2カメラ6b、透光ガラス板4に向けて撮像方向を逆にする2方向の位置に配置される。
図6Aに示すように、カメラ6は、第1カメラ6aによって、透光ガラス板4を介して下方向からの画像を撮像し、第2カメラ6bによって上方向(反対方向)からの画像を撮像する。これにより、第1カメラ6aと第2カメラ6bによって、ワークWに対する2以上の方向からの画像を撮像することができる。
図6B、Cは、それぞれ図6Aのβ1断面図およびβ2断面図である。図6Bに示すように、第1カメラ6aに対して透光ガラス板4を挟んで反対側の1カ所および手前側の2カ所の位置に、照明用の光源80が全部で3つ設けられている。同様に、図6Cに示すように、第2カメラ6aに対して透光ガラス板4を挟んで反対側の1カ所および手前側の2カ所の位置に、照明用の光源80が全部で3つ設けられている。光源80をこのように配置したため機器が干渉すること等を理由として、第1カメラ6aと第2カメラ6bを、カメラの撮像方向が一致しない位置に配置している。
検査処理部8は、図7のコンピュータ30の一部であり、撮像した画像を解析して、後述するように、不良品か否かの判断処理を実行し、その結果を記憶部14に記憶する。なお、検査後のワークWは、後述するように、回転体12の空間に収容され、良品または不良品に仕分けられる。
図7に示すコンピュータ30は、検査処理部8および制御部10を構成するCPU100、操作用のタッチパネル102、両面検査制御プログラム104、仕分け制御プログラム106などを記憶した記憶部14を備える。また、コンピュータ30には、エアーノズル18、入口センサ70、出口センサ72、収容センサ74、排出センサ76、カメラ6、光源80、インデックス用センサ82、仕分け板駆動部86などが接続されている。記録装置104には、検査を行って各部を制御するための制御プログラム106が記録されている。
透光ガラス板4の入口および出口には、ワークWが通過したことを検知するための光センサである入口センサ70および出口センサ72が設けられている。入口センサ70の詳細を、図8に示す。
図8に示すように、発光素子70aに対向するように受光素子70bが設けられている。したがって、ワークWが通過すれば、発光素子70aからの光が一瞬遮られる。ワークWが通過しなければ、発光素子70aからの光は遮られない。これにより、受光素子70bからの出力が一定であれば(受光すれば)ワークWが通過しておらず、出力が低下すれば(受光しなければ)ワークWが通過したと判断することができる。出口センサ72も同様の構成である。
以上の各センサ(入口センサ70、出口センサ72)の出力は、図2に示す検査処理部8に与えられる。
図9のフローチャートを用いて、両面検査制御プログラム104によって実行される両面検査工程(図1)の処理内容について説明する。なお、図10A、Bは、カメラ6で撮像したワークWの画像の例である。
まず、検査処理部8を構成するCPU100は、入口センサ70が、ワークWの通過を検知したか否かを判断する(ステップS02)。ワークWの通過を検知したと判断すると(ステップS02のYES)、所定時間t1(例えば、ステップS02でワークWの通過を検知した時から0.1秒)経過後に、カメラ6aで画像を撮像し、画像解析処理を実行する(ステップS04)。
これにより、例えば、図10Aに示すように、透光ガラス板4の下方からワークWが撮像され、さらに、CPU100は、当該画像を解析して、傷や加工カスの有無を判断する(ステップS06)。例えば、ワークWの外形画像を特定し、画像に歪み(傷が原因で乱反射が現れることによる)が生じている部分を検知した場合に、不良品と判断するようにすればよい。その結果、不良品であると判断すると(ステップS06のYES)、検査結果を「不良品」と記憶する(ステップS08)。
ワークWの下面について、不良品でないと判断すると(ステップS06のNO)、所定時間t2(例えば、ステップS02でワークWの通過を検知した時から0.2秒)経過後に、カメラ6bで画像を撮像し、画像解析処理を実行する(ステップS10)。
これにより、例えば、図10Bに示すように、透光ガラス板4の上方からワークWが撮像され、さらに、CPU100は、当該画像を解析して、傷や加工カスの有無を判断する。判断基準は、ステップS06の場合と同じである。その結果、不良品であると判断すると(ステップS12のYES)、「不良品」と判定して検査結果を記憶部14に記憶する(ステップS08)。
一方、ワークWの上面について、不良品でないと判断すると(ステップS12のNO)、「良品」と判定して検査結果を記憶する(ステップS14)。
その後、CPU100は、出口センサ72が所定時間t3(例えば、ステップS02でワークWの通過を検知した時から0.5秒)内に、ワークWの通過を検知したか判断する(ステップS16)。
出口センサ72が所定時間t3(例えば、ワークWの通過を検知した時から0.5秒)内に、ワークWの通過を検知しなければ、収容異常フラグを記憶しつつ(ステップS18)、仕分け行程200(図1)に移行する。出口センサ72が所定時間t3(例えば、ワークWの通過を検知した時から0.5秒)内に、ワークWの通過を検知すると、そのまま仕分け行程200に移行する。
以上の検査結果に基づき、制御部10は、不良品および収容異常フラグが立ったワークWを取り除くように、仕分け工程200(図1)において回転体12、エアーノズル18(図2)の制御が行われることになる。
なお、上記実施形態では、2つのカメラを用いてワークWを撮像したが、これに限定されるものではない。3つ以上のカメラを用いて3以上の方向から撮像するようにしてもよい。例えば、図6において、さらに横方向(側方)の位置にカメラを配置し、上下左右の4方向から撮像してもよい。
また、透光性部材4の形状を、以下に示すように特殊な形状に成形して、1つのカメラを用いてワークWを多面的に撮像するようにしてもよい。
図11Aは、ワークWの搬送方向に対して直交する透光性部材41の断面図である。図11Aに示すように、透光性部材41の上側に、ワークWを規制しながら搬送するための溝部Y1を成形することもできる。溝部Y1は、所定深さの底部411と、鏡面加工(鏡面研磨仕上げまたはめっき処理)された2つの側面412によって構成される。側面412は、底部411に対して45°傾斜して成形されている。
上記構成により、透光性部材41の上方に、図11Bに点線矢印で示すように、ワークWの側方からの画像を2つの側面412で反射させることが可能になる。その結果、図11Bに示すように、ワークWに対する1方向からの透光性部材41を介さない画像P1だけでなく、ワークWに対する他の2方向からの透光性部材を介した画像P2、P3(図11Bにハッチングで示す。)についても、同時に1つのカメラ(例えば、図2に示す第2カメラ6b)で撮像することができる。さらに、図11Cに示すように、別のカメラ(図2に示す第1カメラ6a)でワークWの裏面も撮像すれば、図11Bに示す画像と合わせて、ワークWの全周(搬送方向の両端部以外)を検査することができる。
図12Aは、ワークWの搬送方向に対して直交する透光性部材42の断面図である。図12Aに示すように、透光性部材42の上側に、ワークWを規制しながら搬送するための溝部Y2を成形するとともに、透光性部材41の下側に、鏡面加工(鏡面研磨仕上げまたはめっき処理)された2つの外面423を設けることもできる。溝部Y2の側面422は、図11Aに示す溝部Y1の側面412のように底部421に対して傾斜せず、底部421に対して垂直に成形されている。一方、外面423は、下面424に対して45°傾斜して成形されている。なお、図12に示す例では、検査対象として、板状のワークWを用いた。
上記構成により、透光性部材42の上面420(図12A)に、図12Bに点線矢印で示すように、ワークWの側方からの画像を側面422を通って外面423で反射させて投影することが可能になる。その結果、図12Bに示すように、ワークWに対する1方向からの透光性部材42を介さない画像P1だけでなく、ワークWに対する他の2方向からの透光性部材42を介した画像P2、P3(図12Bにハッチングで示す。)についても、同時に1つのカメラ(例えば、図2に示す第2カメラ6b)で撮像することができる。さらに、図12Cに示すように、別のカメラ(図2に示す第1カメラ6a)でワークWの裏面も撮像すれば、図12Bに示す画像と合わせて、ワークWの全周(搬送方向の両端部以外)を検査することができる。
なお、図11および図12に示す透光性部材41、42と同じ構造を、別の部材を組み合わせることによって実現してもよい。図13Aは、ワークWの搬送方向に対して直交する透光性部材43の断面図である。図13Aに示すように、図12Aに示す透光性部材42と同じ構造の透光性部材43を、複数のパーツ(底部43a、側面部43b、側面部43c)を組み合わせて構成してもよい。なお、図13B、Cに示す画像は、それぞれ図12B、Cと同じ画像になる。
なお、上記実施形態では、2つ以上のカメラを用いてワークWの全周または両面を撮像したが、これに限定されるものではない。図14Aに示す透光性部材44を用いて、1つのカメラだけでワークWの全周を撮像するようにしてもよい。
図14Aは、ワークWの搬送方向に対して直交する透光性部材44の断面図である。図14Aに示す透光性部材44の上側に、ワークWを規制しながら搬送するための溝部Y2が成形されるとともに、透光性部材44の下側には、鏡面加工(鏡面研磨仕上げまたはめっき処理)された2つの外面443を設けている。また、溝部Y4は、上面440に対して所定角度θ1(例えば、30°)だけ傾斜して成形される2つの側面442だけでV字溝に成形される。なお、底部(図11Aの底部411、図12の底部421)は設けられていない。また、外面443は、下面444に対して所定角度θ2(例えば、30°(側面442が上面440に対する上記所定角度の半分))だけ傾斜して成形されている。なお、図14に示す例では、検査対象として、棒状のワークWを用いた。
上記構成により、透光性部材44の上面440(図14A)に、図14Bに点線矢印で示すように、ワークWの斜め下方からの画像を側面442を通って外面443で反射させて投影することが可能になる。その結果、図14Bに示すように、ワークWに対する1方向からの透光性部材42を介さない画像P1だけでなく、ワークWに対する他の2方向からの透光性部材42を介した画像P2、P3(図14Bにハッチングで示す。)についても、同時に1つのカメラ(例えば、図2に示す第2カメラ6b)だけで撮像し、ワークWの全周(搬送方向の両端部以外)を検査することができる。
なお、上記実施形態では、ワークWの表裏面の画像を撮像して解析したが、透光性部材への搬送前または搬送後に、ワークWの両端部をカメラで撮像して検査するようにしてもよい。
図15に、ワークWの両端部を検査するための両端検査部30を追加した検査装置300’の側面図を示す。図16に、両端検査部30の詳細図を示す。図16Aは、図15に示す透光性部材45を上方から見た図であり、図16Bは、図16Aに示す両端検査部30のε断面図である。なお、図15に示す例では、検査対象として、棒状のワークW(植え込みボルト)を用いた。
図15に示すように、両端検査部30は、検査装置300’のフィーダー2’と透光ガラス板4の間に配置される。なお、フィーダー2’は、図2に示すフィーダー2と同じ構造であるが、搬送方向が逆方向である点で相違する。その他、両端検査部30以外の構造は、図2に示すものと同じである。
図15に示す両端検査部30は、第3カメラ6cと、透光性部材45と、旋回受け部材7とを備えている。第3カメラ6cの出力は検査処理部に与えられる。
透光性部材45は、図16A、Bに示すように、柱状部455の先端に位置し、ワークWの下端の画像がされる上面450と、上面450よりも低い位置に設けられ、ワークWが載置される上面451とを上側に有する。透光性部材45は、さらに、上面450に対して下側に45°だけ傾斜した外面453と、外面453に対して90°だけ傾斜し、前記柱状部455の下端に連結する外面454と、を下側に有する。外面453、454は、鏡面加工(鏡面研磨仕上げまたはめっき処理)されている。
旋回受け部材7は、テーパー状の開口7aを上部に有し、透光性部材45のワークWが載置される上面451を取り囲むコの字形の囲い部材7bと、囲い部材7cを閉じるように固着された板部材7cで構成されている。また、旋回受け部材7は、両端部の検査後、モーター(図示せず)の駆動を受け、所定のタイミングで軸52を中心に図16Bに示すD方向に旋回する。旋回後の状態を、図16Bに点線で示す。
図15に示すフィーダー2’によって搬送されたワークWは、まず、図16Bに示す旋回受け部材7の開口7aから旋回受け部材7の内部に収容される。その後、カメラ6cによって、図16Aに示すような、ワークWの両端部の画像が撮像される。
上記構成により、透光性部材45の上面450に、図16Aに点線矢印で示すように、ワークWの下端(上面451)の画像を、鏡面加工(鏡面研磨仕上げまたはめっき処理)された外面453、454で反射させて投影することが可能になる。その結果、図16Aに示すように、ワークWに対する1方向からの透光性部材45を介さない画像P1だけでなく、ワークWに対する他方向からの透光性部材45を介した画像P2(図16Aにハッチングで示す。)についても、同時に1つのカメラ(例えば、図2に示す第2カメラ6b)だけで撮像し、ワークWの両端を同時に検査することができる。
検査後は、図18に示す処理テーブルに結果が記憶され、旋回受け部材7が旋回することにより(図16Bに点線で示す)、ワークWが板状部材により引き倒される。その結果、ワークWが透光性部材4の入口に搬送されることになる。なお、上記実施形態では、両端検査部30を検査装置300’のフィーダー2’と透光ガラス板4の間に配置したが、透光ガラス板4と回転体12の間に配置すようにしてもよい。
なお、上記実施形態では、透光性部材4の上に縁部材5を設けたが、図12Aに示すように、透光性部材4に溝部(例えば、図11〜図14の溝部YY1〜Y4)を設け、縁部材5を設けないようにしてもよい。また、縁部材5および溝部Yの何れも設けないようにしてもよい。
3.仕分け工程200について
仕分け工程200(図1)を行うために、本発明の一実施形態における検査装置300は、図2に示す回転収容部である回転体12と、コンピュータ30(図7)の一部を構成する記憶部14と、制御部10と、を備えている。
仕分け工程200(図1)を行うために、本発明の一実施形態における検査装置300は、図2に示す回転収容部である回転体12と、コンピュータ30(図7)の一部を構成する記憶部14と、制御部10と、を備えている。
回転体12は、図17A、Bに示すように被検査物であるワークWを開口部Oから収容する複数の収容空間(収容スペース)Bを有しており、これら複数の収納スペースBが回転軸を中心に第1の方向Zに回転する。図17Aは、回転体12の斜視図であり、図17Bは、図17Aに示す回転体12のγ断面図である。
図17に示すように、各収容スペースBは、回転体12の回転軸に直交する2面の円板B1と、2面の円板との間で回転軸に対して放物線状に延伸される複数の面B2とで仕切ることによって形成されている。収容スペースBの底部B3は、曲面に成形されている
記憶部14には、被検査物であるワークWが不良品であるか否かのデータが、ワークWが収容された収容スペースBに対応付けて記憶される。例えば、図18の処理テーブルに示すように、インデックスID「1」に対応付けてデータが「良」と記憶される。
記憶部14には、被検査物であるワークWが不良品であるか否かのデータが、ワークWが収容された収容スペースBに対応付けて記憶される。例えば、図18の処理テーブルに示すように、インデックスID「1」に対応付けてデータが「良」と記憶される。
制御部10は、記憶部14を参照して、不良品であると判断されたワークWを収容した収容スペースBが、第1の仕分け位置F1まで到達したときに、ワークWを前記収容空間から排出させる。この実施形態では、図19に示すように、不良品と判断されたワークWを、エアーノズル18によって、エアーを収容スペースB内に吹き付けて排出するようにしている。
図19に示すエアーノズル18は、回転体12の回転中心に対して上方に向けて、エアーを収容スペースBの上面に吹き付けるように構成されている。このため、エアーノズル18から出たエアーを、矢印で示すように、収容スペースBの上面に沿って流すことができる。
さらに、収容スペースBの底部B3が、曲面に成形されていることにより、図19に示すように、収容スペースBの奥に向かったエアーの流れを手前方向にスムーズに向けることができる。このため、不良品のワークWをより確実に排出することができる。
さらに、検査装置300におけるセンサの配置および制御処理の内容について、図20などを用いて以下に説明する。なお、図20は、各種センサ(74、76など)の配置を示す図である。
図20に示すように、ワークWが投入位置F0のスペースBに収容されたことを検知するための収容センサ74が、回転体12の中心軸付近に設けられている。図21に示すように、発光素子74aと受光素子74bが、回転体12の側方からの孔を介して光を検知するように配置されている。また、ワークWが第1の仕分け位置F1にあるスペースBから排出されたことを検知するための排出センサ76が、図21に示すものと同様な構造で設けられている。
さらに、インデックス用の光センサ82、84も設けられている。図22に、インデックス用センサ82の詳細を示す。発光素子82aと受光素子82bは、回転体の収容スペース毎に設けられた凸部12aを挟むように配置さられている。凸部8の部分においては受光素子82bが光を受光せず、凸部以外の位置においては受光素子82bが光を受光する。したがって、受光素子70bからの出力があれば(受光すれば)凹部8であり、出力がなければ(受光しなければ)凹部8でないと判断することができる。なお、光センサ84も同じ構造であり、光センサ82の誤作動の場合の補助として用いられる。
以上の各センサ74、76、82、84の出力は、制御部10(図1)に与えられる。
回転体12の第1の仕分け位置F1には、不良品のワークWを不良品回収通路22に落とすためのエアーノズル18が枠体50に固定して設けられている。なお、良品のワークWはスルーして自動的に落下させて回収するように設計されている。
[仕分け処理フロー]
仕分け制御プログラム106のフローチャートを図24〜図26に示す。なお、この実施形態では、回転体12は、一定の速度で回転しているものとする。よって、投入位置において、同じインデックスにワークWが2つ以上入らないようにフィーダー2による供給のタイミングと、回転体12の回転速度とを調節するようにしている。
仕分け制御プログラム106のフローチャートを図24〜図26に示す。なお、この実施形態では、回転体12は、一定の速度で回転しているものとする。よって、投入位置において、同じインデックスにワークWが2つ以上入らないようにフィーダー2による供給のタイミングと、回転体12の回転速度とを調節するようにしている。
主電源をオンすることにより、回転体12は、回転を開始する。CPU100は、主電源がオンされた後、回転体12の各スペースBにインデックスを付する処理を行う。すなわち、電源投入後に回転体12が回転を開始した後、最初にインデックス用センサ82が検出した凸部に対応する収容空間にインデックスID「1」を付す。さらに、図17に示すように、回転体12に12個の収容空間8が設けられていた場合、順に1〜12までのインデックスIDが、各収容空間Bに付されることになる。
図17に示すように、インデックス用センサ82と、ワークWが回転体12に投入される位置、各センサ70、72、74、76の位置の間の相対的な位置関係は予め定まっている。したがって、インデックス用センサ82に位置するスペースのインデックスIDが分かれば、他のセンサなどの位置にあるスペースのインデックスIDも特定することができる。例えば、インデックス「5」が投入位置F0にあるとき、インデックス「1」のスペースB(ワークW)は、図に示すように、第1の仕分け位置(排出位置)F1にある。
出口センサ70がワークWの通過を検知すると(ステップS20のYES)、さらに、所定時間t4(例えば、出口センサ70がワークWの通過を検知した時から0.1秒)内に収容センサがワーク「有」と検知したか否かを判断する(ステップS22)。その結果、収容センサがワークWを「有」と検知していれば、正しく収容されたと判断し、検知したスペースSのインデックスに対応づけて、図18に示すように、記憶部34に不良品であるか良品であるか否かのデータを記憶する(ステップS24)。収容センサが所定時間t4内にワークWが「有」と検知しなければ、収容異常処理(図26)に移行する(ステップS25)。
上記のようなワークWが収容されたことの確認処理を行うのは、本来は、出口ゲートを通過したワークWはスペースに収納されるはずだが、途中で引っかかり落下速度が遅くなったなどの理由によって、ワークWが収納されなかったり、1つのスペースに2以上のワークWが入ってしまう可能性も存在するからである。また、実際にはワークWが出口のゲートを通過したのに出口センサ70が誤検出した可能性もある。
つぎに、CPU100は、Oリング16b第1の仕分け位置F1に、ワークWが「有」と記憶されたスペースBが到達したか否かを判断する(ステップS26)。すなわち、ワークWが入ったスペースBが、第1の仕分け位置F1に到達すれば(ステップS26のYES)、さらに、対応する検品結果が「不良」であるか否かを判断する(ステップS28)。
検査結果が「不良」であれば、CPU100は、ノズルを起動させエアーを吹き付けることによって排出する(ステップS30)。例えば、図19に示すように、排出された不良品のワークWは、不良品回収部R1に回収される。なお、ステップS30において排出されなかった良品のワークWは、回転体12がさらに回転した後、自動的に落下することになる。
CPU100は、排出センサ70の出力を取得して、「不良」のワークWが実際に排出されたことを検知し(ステップS32)、排出されなかった場合(ステップS32のNO)には、図25に示す排出異常処理へ移行する(ステップS34)。例えば、エアーの当たり方が悪くて排出されなかった場合には、排出異常フラグを記憶する。
[排出異常処理について]
次に、ステップS30において、不良品のワークWを収容スペース8から脱落させようとしたにもかかわらず、ワークWが落ちなかった場合について説明する。これを放置すると、良品の中に不良品が混入してしまうことになる。
次に、ステップS30において、不良品のワークWを収容スペース8から脱落させようとしたにもかかわらず、ワークWが落ちなかった場合について説明する。これを放置すると、良品の中に不良品が混入してしまうことになる。
そこで、この実施形態では、不良品であると判断したワークWが、不良品脱落ノズル18によって落ちなかった場合(ステップS32のNO)、次のような排出異常処理(ステップS34)を行うようにしている。
CPU100は、図18に示すテーブルの全てのスペース(全てのインデックスID)に対して、排出異常フラグを記録する(ステップS36)。次に、CPU100は、仕分け板24を異常時回収箱R3に向ける(ステップS38)。
この実施形態では、上記異常が生じた時点で回転体12に保持されている全てのワークWに対して排出異常フラグを記録している。したがって、以後、CPU100は、これら排出異常フラグが記録されているワークWをすべて異常時回収箱R3に回収するまで、仕分け板24を図23に示す状態に回動させる。
CPU100は、排出異常フラグが付されているワークWのスペースがすべて通過したと判断したとき(ステップS40のYES)、仕分け板駆動部86(図7)を制御して、仕分け板24を良品回収箱R2に向けるように制御する(ステップS42)
なお、脱落されるべきであったにもかかわらず、凹部8に残ってしまった不良品のワークWだけを、異常時回収箱R3に回収するようにしてもよい。この実施形態では、安全面を考慮して、異常が生じた時点で収容されている全てのワークWを仕掛品回収箱R3に回収するようにしている。
なお、脱落されるべきであったにもかかわらず、凹部8に残ってしまった不良品のワークWだけを、異常時回収箱R3に回収するようにしてもよい。この実施形態では、安全面を考慮して、異常が生じた時点で収容されている全てのワークWを仕掛品回収箱R3に回収するようにしている。
[収容異常フラグ処理について]
つぎに、収容異常フラグ処理について説明する。CPU100は、第2の仕分け位置に到達したインデックスに、収容異常フラグ(ステップS18で記憶)が付されているか否かを判断する(ステップS44)。収容異常フラグが付されているとき、CPU100は、仕分け板24を異常時回収箱R3に向けるように制御する(ステップS46)。つまり、図23に実線で示す位置に向ける。なお、通常の状態では、仕分け板24は良品回収箱R2に向いている(図23に2点鎖線で示す位置)。このため、収容異常フラグが付されていなければ、回転体12が回転することにより、良品のワークWが、良品回収箱R2に回収される(ワークWは真下に落下する)。
つぎに、収容異常フラグ処理について説明する。CPU100は、第2の仕分け位置に到達したインデックスに、収容異常フラグ(ステップS18で記憶)が付されているか否かを判断する(ステップS44)。収容異常フラグが付されているとき、CPU100は、仕分け板24を異常時回収箱R3に向けるように制御する(ステップS46)。つまり、図23に実線で示す位置に向ける。なお、通常の状態では、仕分け板24は良品回収箱R2に向いている(図23に2点鎖線で示す位置)。このため、収容異常フラグが付されていなければ、回転体12が回転することにより、良品のワークWが、良品回収箱R2に回収される(ワークWは真下に落下する)。
収容異常フラグが付されているワークWのスペースが通過したとき(ステップS48のYES)、CPU100は、仕分け板駆動部86(図7)を制御して、仕分け板24を良品回収箱R2に向ける(ステップS50)。
4.その他の実施形態について
なお、上記実施形態では、割りピン、プレート、植え込みボルトなどを検査対象のワークWとしたが、その他の部品、部材などを検査対象(被検査物)としてもよい。例えば、軸体、平面体、立方体、平面部分を有する部材などである。
なお、上記実施形態では、割りピン、プレート、植え込みボルトなどを検査対象のワークWとしたが、その他の部品、部材などを検査対象(被検査物)としてもよい。例えば、軸体、平面体、立方体、平面部分を有する部材などである。
なお、上記実施形態では、透光ガラス板4を傾斜させて配置したが、透光ガラス板4を傾斜させず水平に配置して、ワークWを弾くなどして、当該透光ガラス板4の上を滑らせるような構造を採用してもよい。
なお、上記実施形態では、不良品を排出する(取り除く)ようにしたが、良品を排出する(取り除く)ようにしてもよい。
なお、上記実施形態では、エアーノズル18により、開口部から収容スペース内にエアーを吹き付けてワークWを排出したが、磁石で吸い付けて引き出すなど、その他の排出方法を採用してもよい。
Claims (14)
- 被検査物の搬送路に設けられた透光性部材と、
前記透光性部材の上を通過する前記被検査物を撮像するための撮像部であって、前記透光性部材を介して少なくとも1方向からの画像または映像を撮像し、前記被検査物に対する2以上の方向からの画像または映像を撮像する撮像部と、
前記撮像部により撮像した前記被検査物の2以上の方向からの画像または映像を解析して、前記被検査物が不良品であるか否かを判断することにより検査処理を実行する検査処理部と、
を備えたこと、を特徴とする検査装置。 - 請求項1の検査装置において、
前記透光性部材が、所定位置から傾斜させて設けられており、
前記撮像部が、前記所定位置から前記透光性部材の上を滑り落ちる前記被検査物を撮像すること、
を特徴とする検査装置。 - 請求項1または請求項2の検査装置において、
前記撮像部が2つ設けられており、前記被検査物に向けて撮像方向を逆にする2方向の位置に配置されたこと、
を特徴とする検査装置。 - 請求項1〜3の何れかの検査装置において、
前記透光性部材をV字形に成形して設けたV字溝によって前記被検査物の通路を構成し、
1つの撮像部により、前記被検査物に対する1方向からの前記透光性部材を介さない画像または映像と、前記透光性部材のV字溝の内面を通過した光が前記V字溝の外面で反射することによりV字溝の上面に投影された前記被検査物に対する少なくとも2方向からの透光性部材を介した画像または映像とを同時に撮像すること、
を特徴とする検査装置。 - 請求項1〜4の何れかの検査装置において、
前記透光性部材の上に、前記被検査物の搬送路を両側から挟むように配置される縁部材を設けたこと、
を特徴とする検査装置。 - 請求項1〜5の何れかの検査装置において、
さらに、前記検査処理部が不良品であると判断した被検査物を不良品用の通路に仕分けるための制御部を備えたこと、
を特徴とする検査装置。 - 請求項1〜6の何れかの検査装置において、
前記被検査物が軸体であり、
前記透光性部材に搬送される前または後に、前記軸体の両端を検査したこと、
を特徴とする検査装置。 - 被検査物を開口部から収容する複数の収容空間を有し、前記収容空間を回転軸を中心に第1の方向に回転させるための回転収容部と、
被検査物が不良品であるか否かの入力を受けて、不良品であるまたは不良品でないと判断された被検査物が収容された収容空間を対応付けて記憶する記憶部と、
前記記憶部を参照して、不良品であるまたは不良品でないと判断された被検査物を収容した収容空間が第1の仕分け位置まで到達したときに、不良品であるまたは不良品でないと判断された被検査物を前記収容空間から排出させる制御部と、
を備えたこと、を特徴とする仕分け装置。 - 請求項8の仕分け装置において、
前記制御部が、前記開口部から収容空間内にエアーを吹き付けるように制御すること、
を特徴とする仕分け装置。 - 請求項8または請求項9の仕分け装置において、
前記エアー吹付部の吹き付け角度が、前記回転軸に向かう方向に対して上方に向けられており、
前記エアー吹付部によって、エアーを収容空間の上面に吹き付けること、
を特徴とする仕分け装置。 - 請求項8〜10の何れかの仕分け装置において、
前記回転収容部が有する複数の収容空間を、少なくとも回転軸に直交する2面と、当該2面の間で前記回転軸に対して放物線状に延伸される複数の面とで仕切ることによって形成したこと、
を特徴とする仕分け装置。 - 請求項8〜11の何れかの仕分け装置において、
前記収容空間の底部を曲面に成形したこと、
を特徴とする仕分け装置。 - 請求項8〜12の何れかの仕分け装置において、
不良品であると判断されなかった被検査物を収容した収容空間が前記第1の仕分け位置を通過して回転収容部がさらに回転した後、第2の仕分け位置において前記被検査物が開口部から落下すること、
を特徴とする仕分け装置。 - 請求項13の仕分け装置において、
前記第2の仕分け位置において開口部から落下した前記被検査物を別の通路に向けること、
を特徴とする仕分け装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2013008303A JP2014139525A (ja) | 2013-01-21 | 2013-01-21 | 検査装置 |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017083403A (ja) * | 2015-10-30 | 2017-05-18 | 大日本印刷株式会社 | 包装物の検査装置、検査方法及び製造方法、並びに包装機 |
KR101793249B1 (ko) * | 2016-05-18 | 2017-11-02 | (주)창신아이엔씨 | 신발의 양호/불량 판별장치 및 방법 |
JP2018036120A (ja) * | 2016-08-31 | 2018-03-08 | 株式会社オーエスアイツール | 軸体処理装置 |
-
2013
- 2013-01-21 JP JP2013008303A patent/JP2014139525A/ja active Pending
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