JP4962905B2 - パーティクル発生の少ない磁気記録膜形成用Co基焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法 - Google Patents

パーティクル発生の少ない磁気記録膜形成用Co基焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法 Download PDF

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Description

この発明は、ハードディスクの高密度磁気記録媒体に適用される磁気記録膜、特に垂直磁気記録媒体に適用される磁気記録膜を形成するためのスパッタリングターゲットの製造方法に関するものである。
ハードディスク装置は一般にコンピューターやデジタル家電等の外部記録装置として用いられており、記録密度の一層の向上が求められている。そのため、近年、超高密度の記録を実現できる垂直磁気記録方式が注目されてきた。この垂直磁気記録方式は、従来の面内記録方式と異なり、原理的に高密度化するほど記録磁化が安定すると言われており、すでに実用化が開始されている。この垂直磁気記録方式のハードディスク媒体の磁気記録層用の材料の一つとしてCoCrPt−SiOグラニュラ磁気記録膜が使用されており、このCoCrPt−SiOグラニュラ磁気記録膜はCrおよびPtを含むCo基焼結合金相と二酸化珪素相の混合相を有するCo基焼結合金スパッタリングターゲットを用いてマグネトロンスパッタ法により作製することが知られている(非特許文献1参照)。
このCo基焼結合金スパッタリングターゲットは、通常、二酸化珪素粉末、Cr粉末、Pt粉末およびCo粉末を、二酸化珪素:2〜15モル%、Cr:3〜20モル%、Pt:5〜30モル%を含有し、残部:Co粉末からなる配合組成となるように混合したのち、ホットプレスまたは熱間静水圧プレスなどの方法で加圧焼結することにより作製されることが知られており、前記二酸化珪素粉末として高温火炎加水分解法で製造された二酸化珪素粉末を使用し、ターゲットの素地中に分散する二酸化珪素相を10μm以下の極めて細かい組織とすることによってパーティクルの発生を少なくしている(特許文献1、特許文献2などを参照)。
さらに、このグラニュラ磁気記録膜を形成するためのCo基焼結合金スパッタリングターゲットには、二酸化珪素(SiO)粉末に換えてTiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末の内の1種または2種以上の酸化物粉末を使用することができ、これら酸化物粉末を使用したCo基焼結合金スパッタリングターゲットによる磁気記録膜の研究も進められている(特許文献3、特許文献4などを参照)。
「富士時報」Vol.75No.3 2002(169〜172ページ) 特開2001‐236643号公報 特開2004‐339586号公報 特開2003‐36525号公報 特開2006‐24346号公報
このTiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末などの酸化物粉末を含むCo基焼結合金スパッタリングターゲットは、二酸化珪素(SiO)粉末を含むCo基焼結合金スパッタリングターゲットと同様にTiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末の内のいずれか1種:2〜15モル%、Cr:3〜20モル%、Pt:5〜30モル%を含有し、残部:Co粉末からなる配合組成となるように混合したのち、ホットプレスまたは熱間静水圧プレスなどの方法で加圧焼結することにより作製できると一般に考えられている。しかし、前記従来の方法で作製したTiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末などの酸化物粉末を含むCo基焼結合金スパッタリングターゲットはスパッタリングに際してパーティクルの発生が多く、そのためにパーティクル発生の一層少ないTiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末などの酸化物粉末を含むCo基焼結合金スパッタリングターゲットが求められていた。
本発明者は、TiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末などの酸化物粉末を含むパーティクル発生の少ないCo基焼結合金スパッタリングターゲットを得るべく研究を行なった。その結果、
(イ)原料粉末としてTiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末などの酸化物粉末をそのまま添加してCr粉末、Pt粉末、Co粉末並びにCr、PtおよびCoのうちのいずれか2種以上を含む合金粉末とともにCr:5〜20モル%、Pt:5〜25モル%、酸化物:2〜15モル%を含有し、残部:Co粉末からなる配合組成となるように混合したのち、加圧焼結することにより得られた磁気記録膜形成用Co基焼結合金スパッタリングターゲットよりも、
TiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末などの酸化物粉末の表面を二酸化珪素(SiO)層で被覆してなる酸化物粉末(以下、被覆酸化物粉末という)を添加して、Cr:5〜20モル%、Pt:5〜25モル%、並びにTiO、Ta、Al、MgO、ZrO、Yの内のいずれか1種の酸化物およびSiOの合計:2〜15モル%を含有し、残部:Coからなる組成となるように配合し混合したのち、加圧焼結することにより得られた磁気記録膜形成用Co基焼結合金スパッタリングターゲットの方がスパッタリングに際してパーティクルの発生が一層少なくなる、
(ロ)前記被覆酸化物粉末は、TiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末の内のいずれか1種の酸化物粉末に対して1〜20体積%の二酸化珪素(SiO)層により被覆してなる被覆酸化物粉末であることが好ましい、などの知見を得たのである。
この発明は、かかる知見に基づいてなされたものであって、
(1)Cr粉末、Pt粉末、Co粉末、Cr、PtおよびCoのうちのいずれか2種以上を含む合金粉末、並びにTiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末の内のいずれか1種の酸化物粉末の表面をSiO層で被覆した酸化物粉末(以下、被覆酸化物粉末という)を、
Cr:5〜20モル%、Pt:5〜25モル%、TiO、Ta、Al、MgO、ZrO、Yの内のいずれか1種の酸化物とSiOの合計:2〜15モル%を含有し、残部:Coからなる組成となるように配合し混合したのち、加圧焼結するパーティクル発生の少ない磁気記録膜形成用Co基焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法、
(2)前記被覆酸化物粉末は、TiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末の内のいずれか1種の酸化物粉末に対して1〜20体積%のSiO層により被覆してなる被覆酸化物粉末である前記(1)記載のパーティクル発生の少ない磁気記録膜形成用Co基焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法、に特徴を有するものである。
この発明の方法で作製した磁気記録膜形成用Co基焼結合金スパッタリングターゲットを用いてスパッタリングするとパーティクルの発生が少なくなる理由として下記の事項が考えられる。すなわち、TiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末の内のいずれか1種の酸化物粉末をそのまま原料粉末として使用し混合して作製したCo基焼結合金スパッタリングターゲットは、原料粉末を混合する工程でこれら酸化物粉末が凝集し、ホットプレスして得られたターゲットの素地にはTiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末の内のいずれか1種の酸化物粉末が凝集し、直径:10μm以上に成長した酸化物凝集体が分散しており、この素地中に巨大な酸化物凝集体が分散したターゲットを用いてスパッタリングすると、スパッタリング中に素地中に分散している巨大な酸化物凝集体の部分でチャージアップし、異常放電してパーティクル発生する。これに対して、TiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末の内のいずれか1種の酸化物粉末の表面をSiO層で被覆した被覆酸化物粉末を用いて作製したターゲットの素地中にはSiO層により混合工程中の酸化物粒子の凝集が阻止されるために酸化物凝集体が存在せず、酸化物粒子が微細均一に分散されることから酸化物凝集体の部分でチャージアップして発生する異常放電が少なく、したがって、パーティクルの発生が少なくなるものと考えられる。
前記TiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末の内のいずれか1種の酸化物粉末の表面をSiO層で被覆した被覆酸化物粉末は、TiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末の内のいずれか1種の酸化物粉末をSiO粉末のナノ粒子とともに転動造粒機あるいはボールミルなどに投入し、機械的混合を行うことにより作製することがもっとも好ましい。しかし、真空蒸着、スパッタ、CVDなどの方法で作製することもできる。
この発明のパーティクル発生の少ない磁気記録膜形成用Co基焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法において使用する被覆酸化物粉末は、TiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末の内のいずれか1種の酸化物粉末に対して1〜20体積%のSiO層で被覆した被覆酸化物粉末からなることが好ましい。その理由は、SiO層の量が1体積%未満では十分に被覆が行われないため凝集防止効果がなく、一方、SiO層の量が20体積%を越えると、膜の磁気特性が低下するので好ましくないからである。より好ましい範囲は2〜16体積%である。
また、主体となるTiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末などの酸化物粉末の平均粒径は1〜5μmが好ましい。その理由は、酸化物粉末の平均粒径が1μmより小さいと表面をコーティングするために必要なSiO量が増加するので主体となる酸化物に対するSiO量が多くなりすぎ、膜の磁気特性が低下するために好ましくないからである。一方、酸化物粉末の平均粒径が5μmを越えるとパーティクルの発生が増加するので好ましくないからである。
この発明のパーティクル発生の少ない磁気記録膜形成用Co基焼結合金スパッタリングターゲットは、前記被覆酸化物粉末、Cr粉末、Pt粉末、Co粉末並びにCr、PtおよびCoのうちのいずれか2種以上を含む合金粉末をCr:5〜20モル%、Pt:5〜25モル%、TiO、Ta、Al、MgO、ZrO、Yの内のいずれか1種の酸化物とSiOの合計:2〜15モル%を含有し、残部:Coという組成となるように配合し混合したのち、加圧焼結することにより製造することができ、かかる配合組成はすでに知られている範囲であるので、その限定理由の説明は省略する。
この発明は、一層パーティクル発生の少ない優れた磁気記録膜を形成することができるスパッタリングターゲットを提供することができ、コンピューター並びにデジタル家電等の産業の発展に大いに貢献し得るものである。
原料粉末として、平均粒径:3μmのCo粉末、平均粒径:20μmのCr粉末、平均粒径:2μmのPt粉末、平均粒径:25μmのCo−30原子%Cr合金粉末、平均粒径:25μmのCo−50原子%Pt合金粉末、平均粒径:25μmのCr−40原子%Pt合金粉末を用意した。さらに酸化物粉末として、いずれも平均粒径:2μmを有するTiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末をそれぞれ用意した。さらに、平均粒径:16nmの市販の表面に疎水基を修飾したSiOナノ粒子を用意した。
まず、先に用意したTiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末をそれぞれミキサーに装入して、1000r.p.mの回転数で撹拌しながら、前記酸化物粉末に対する体積比で0.1〜0.3の範囲内の所定の割合のn−ヘキサンを加え、ついで予めSiOナノ粒子をn−ヘキサンに同じく体積比で1:10〜15の範囲内の所定の割合に配合してなるSiOナノ粒子分散溶液を、表1に示される配合体積割合を、各酸化物の理論密度から計算した質量割合に換算して、混合液中の酸化物/SiO比がこの質量割合になるように滴下しながら加えたのち、さらに5分間混合し、この混合粉末をホットプレート上で60℃での温度で乾燥処理を行ってヘキサンを発揮させ、さらに大気中、温度:450℃にて5時間保持の熱処理を行なって残留炭素成分を除去し、得られた造粒粉を乳鉢で解砕することによりTiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末の表面に表1に示される量のSiO層を形成した被覆酸化物粉末A〜vを作製した。
Figure 0004962905
実施例1
表1に示される被覆酸化物粉末A〜H、Co粉末、Cr粉末、Pt粉末および合金粉末を表2に示される配合組成となるように配合し、得られた配合粉末を粉砕媒体となるジルコニアボールと共に10リットルの容器に投入し、この容器内の雰囲気をArガス雰囲気中で置換し、その後、容器を密閉した。この容器をボールミルで16時間回転させ、混合粉末を作製した。得られた混合粉末を真空ホットプレス装置に充填し、真空雰囲気中、温度:1100℃、圧力:20MPa、5時間保持の条件で真空ホットプレスすることにより表2に示される成分組成を有するホットプレス体を作製し、このホットプレス体を切削加工して直径:200mm、厚さ:5mmの寸法を有するターゲットを作製することにより本発明法1〜7および比較法1を実施した。
さらに、先に用意したTiO粉末をそのまま使用し、表2に示される配合組成となるように配合し、同様にしてターゲットを作製することにより従来法1を実施した。
本発明法1〜7、比較法1および従来法1で得られたターゲットを銅製のバッキングプレートに接合して市販のスパッタ装置に装着し、
到達真空度:5×10−5Pa以下、
電力:直流800W、
Arガス圧:6.0Pa、
ターゲット基板間距離:60mm、
基板加熱:なし、
の条件で5時間プレスパッタを行い、ターゲット表面加工層を除去したのち、一旦チャンバーを大気開放して、防着板などのチャンバー部材の清掃を行った。その後、再び上記真空度に達するまで真空引きを行い、真空引き後、30分のプレスパッタを行ってターゲット表面の大気吸着成分や金属酸化層の除去を行ったのち、4インチSiウエハ上に厚さ:100nmの磁気記録膜を成膜した。同じ条件で合計25枚の4インチSiウエハ上に厚さ:100nmの磁気記録膜を成膜し、成膜後のウエハについて市販の異物検査装置によりウエハ表面に付着した0.5μm以上のパーティクル数を計測し、25枚の平均値を算出し、その結果を表2に示した。
さらに、成膜後ターゲットをバッキングプレートから剥離し、ターゲットの一部を切断し、切断したターゲットの一部を樹脂埋めし、研磨し、走査電子顕微鏡(SEM)により組織観察を行い、ターゲット素地中に分散している直径:10μmを越える大きさの酸化物粒子を観察し、その結果を表2に示した。
Figure 0004962905
表2に示される結果から、本発明法1〜7により得られたターゲットは、従来法1により得られたターゲットに比べてパーティクルの発生が格段に少なく、またターゲット素地中に分散している10μm以上の巨大な凝集酸化物粒子が少ないことが分かる。しかし、この発明の範囲から外れた量のSiO層を形成した被覆酸化物粉末を使用して作製する比較法1で作製したターゲットは素地中に巨大な凝集酸化物粒子が分散しており、パーティクルの発生が多くなることが分かる。
実施例2
表1に示される被覆酸化物粉末I〜P、Co粉末、Cr粉末、Pt粉末および合金粉末を表3に示される配合組成となるように配合し、得られた配合粉末を粉砕媒体となるジルコニアボールと共に10リットルの容器に投入し、この容器内の雰囲気をArガス雰囲気中で置換し、その後、容器を密閉した。この容器をボールミルで16時間回転させ、混合粉末を作製した。得られた混合粉末を真空ホットプレス装置に充填し、真空雰囲気中、温度:1100℃、圧力:20MPa、5時間保持の条件で真空ホットプレスすることにより表3に示される成分組成を有するホットプレス体を作製し、このホットプレス体を切削加工して直径:200mm、厚さ:5mmの寸法を有するターゲットを作製することにより本発明法8〜14および比較法2を実施した。
さらに、先に用意したTa粉末をそのまま使用し、表3に示される配合組成となるように配合し、同様にしてターゲットを作製することにより従来法2を実施した。
本発明法8〜14、比較法2および従来法2で得られたターゲットを銅製のバッキングプレートに接合して市販のスパッタ装置に装着し、実施例1と同じ条件で5時間プレスパッタを行い、ターゲット表面加工層を除去したのち、一旦チャンバーを大気開放して、防着板などのチャンバー部材の清掃を行った。その後、再び上記真空度に達するまで真空引きを行い、真空引き後、30分のプレスパッタを行ってターゲット表面の大気吸着成分や金属酸化層の除去を行ったのち、4インチSiウエハ上に厚さ:100nmの磁気記録膜を成膜した。同じ条件で合計25枚の4インチSiウエハ上に厚さ:100nmの磁気記録膜を成膜し、成膜後のウエハについて市販の異物検査装置によりウエハ表面に付着した0.5μm以上のパーティクル数を計測し、25枚の平均値を算出し、その結果を表3に示した。
さらに、成膜後ターゲットをバッキングプレートから剥離し、ターゲットの一部を切断し、切断したターゲットの一部を樹脂埋めし、研磨し、走査電子顕微鏡(SEM)により組織観察を行い、ターゲット素地中に分散している直径:10μmを越える大きさの酸化物粒子を観察し、その結果を表3に示した。
Figure 0004962905
表3に示される結果から、本発明法8〜14により得られたターゲットは、従来法2により得られたターゲットに比べてパーティクルの発生が格段に少なく、またターゲット素地中に分散している10μm以上の巨大な凝集酸化物粒子が少ないことが分かる。しかし、この発明の範囲から外れた量のSiO層を形成した被覆酸化物粉末を使用して作製する比較法2で作製したターゲットは素地中に巨大な凝集酸化物粒子が分散しており、パーティクルの発生が多くなることが分かる。
実施例3
表1に示される被覆酸化物粉末Q〜X、Co粉末、Cr粉末、Pt粉末および合金粉末を表4に示される配合組成となるように配合し、得られた配合粉末を粉砕媒体となるジルコニアボールと共に10リットルの容器に投入し、この容器内の雰囲気をArガス雰囲気中で置換し、その後、容器を密閉した。この容器をボールミルで16時間回転させ、混合粉末を作製した。得られた混合粉末を真空ホットプレス装置に充填し、真空雰囲気中、温度:1100℃、圧力:20MPa、5時間保持の条件で真空ホットプレスすることにより表4に示される成分組成を有するホットプレス体を作製し、このホットプレス体を切削加工して直径:200mm、厚さ:5mmの寸法を有するターゲットを作製することにより本発明法15〜21および比較法3を実施した。
さらに、先に用意したAl粉末をそのまま使用し、表4に示される配合組成となるように配合し、同様にしてターゲットを作製することにより従来法3を実施した。
本発明法15〜21、比較法3および従来法3で得られたターゲットを銅製のバッキングプレートに接合して市販のスパッタ装置に装着し、実施例1と同じ条件で5時間プレスパッタを行い、ターゲット表面加工層を除去したのち、一旦チャンバーを大気開放して、防着板などのチャンバー部材の清掃を行った。その後、再び上記真空度に達するまで真空引きを行い、真空引き後、30分のプレスパッタを行ってターゲット表面の大気吸着成分や金属酸化層の除去を行ったのち、4インチSiウエハ上に厚さ:100nmの磁気記録膜を成膜した。同じ条件で合計25枚の4インチSiウエハ上に厚さ:100nmの磁気記録膜を成膜し、成膜後のウエハについて市販の異物検査装置によりウエハ表面に付着した0.5μm以上のパーティクル数を計測し、25枚の平均値を算出し、その結果を表4に示した。
さらに、成膜後ターゲットをバッキングプレートから剥離し、ターゲットの一部を切断し、切断したターゲットの一部を樹脂埋めし、研磨し、走査電子顕微鏡(SEM)により組織観察を行い、ターゲット素地中に分散している直径:10μmを越える大きさの酸化物粒子を観察し、その結果を表4に示した。
Figure 0004962905
表4に示される結果から、本発明法15〜21により得られたターゲットは、従来法3により得られたターゲットに比べてパーティクルの発生が格段に少なく、またターゲット素地中に分散している10μm以上の巨大な凝集酸化物粒子が少ないことが分かる。しかし、この発明の範囲から外れた量のSiO層を形成した被覆酸化物粉末を使用して作製する比較法3で作製したターゲットは素地中に巨大な凝集酸化物粒子が分散しており、パーティクルの発生が多くなることが分かる。
実施例4
表1に示される被覆酸化物粉末Y〜f、Co粉末、Cr粉末、Pt粉末および合金粉末を表5に示される配合組成となるように配合し、得られた配合粉末を粉砕媒体となるジルコニアボールと共に10リットルの容器に投入し、この容器内の雰囲気をArガス雰囲気中で置換し、その後、容器を密閉した。この容器をボールミルで16時間回転させ、混合粉末を作製した。得られた混合粉末を真空ホットプレス装置に充填し、真空雰囲気中、温度:1100℃、圧力:20MPa、5時間保持の条件で真空ホットプレスすることにより表5に示される成分組成を有するホットプレス体を作製し、このホットプレス体を切削加工して直径:200mm、厚さ:5mmの寸法を有するターゲットを作製することにより本発明法22〜28および比較法4を実施した。
さらに、先に用意したMgO粉末をそのまま使用し、表5に示される配合組成となるように配合し、同様にしてターゲットを作製することにより従来法4を実施した。
本発明法22〜28、比較法4および従来法4で得られたターゲットを銅製のバッキングプレートに接合して市販のスパッタ装置に装着し、実施例1と同じ条件で5時間プレスパッタを行い、ターゲット表面加工層を除去したのち、一旦チャンバーを大気開放して、防着板などのチャンバー部材の清掃を行った。その後、再び上記真空度に達するまで真空引きを行い、真空引き後、30分のプレスパッタを行ってターゲット表面の大気吸着成分や金属酸化層の除去を行ったのち、4インチSiウエハ上に厚さ:100nmの磁気記録膜を成膜した。同じ条件で合計25枚の4インチSiウエハ上に厚さ:100nmの磁気記録膜を成膜し、成膜後のウエハについて市販の異物検査装置によりウエハ表面に付着した0.5μm以上のパーティクル数を計測し、25枚の平均値を算出し、その結果を表5に示した。
さらに、成膜後ターゲットをバッキングプレートから剥離し、ターゲットの一部を切断し、切断したターゲットの一部を樹脂埋めし、研磨し、走査電子顕微鏡(SEM)により組織観察を行い、ターゲット素地中に分散している直径:10μmを越える大きさの酸化物粒子を観察し、その結果を表5に示した。
Figure 0004962905
表5に示される結果から、本発明法22〜28により得られたターゲットは、従来法4により得られたターゲットに比べてパーティクルの発生が格段に少なく、またターゲット素地中に分散している10μm以上の巨大な凝集酸化物粒子が少ないことが分かる。しかし、この発明の範囲から外れた量のSiO層を形成した被覆酸化物粉末を使用して作製する比較法4で作製したターゲットは素地中に巨大な凝集酸化物粒子が分散しており、パーティクルの発生が多くなることが分かる。
実施例5
表1に示される被覆酸化物粉末g〜n、Co粉末、Cr粉末、Pt粉末および合金粉末を表6に示される配合組成となるように配合し、得られた配合粉末を粉砕媒体となるジルコニアボールと共に10リットルの容器に投入し、この容器内の雰囲気をArガス雰囲気中で置換し、その後、容器を密閉した。この容器をボールミルで16時間回転させ、混合粉末を作製した。得られた混合粉末を真空ホットプレス装置に充填し、真空雰囲気中、温度:1100℃、圧力:20MPa、5時間保持の条件で真空ホットプレスすることにより表6に示される成分組成を有するホットプレス体を作製し、このホットプレス体を切削加工して直径:200mm、厚さ:5mmの寸法を有するターゲットを作製することにより本発明法29〜35および比較法5を実施した。
さらに、先に用意したZrO粉末をそのまま使用し、表6に示される配合組成となるように配合し、同様にしてターゲットを作製することにより従来法5を実施した。
本発明法29〜35、比較法5および従来法5で得られたターゲットを銅製のバッキングプレートに接合して市販のスパッタ装置に装着し、実施例1と同じ条件で5時間プレスパッタを行い、ターゲット表面加工層を除去したのち、一旦チャンバーを大気開放して、防着板などのチャンバー部材の清掃を行った。その後、再び上記真空度に達するまで真空引きを行い、真空引き後、30分のプレスパッタを行ってターゲット表面の大気吸着成分や金属酸化層の除去を行ったのち、4インチSiウエハ上に厚さ:100nmの磁気記録膜を成膜した。同じ条件で合計25枚の4インチSiウエハ上に厚さ:100nmの磁気記録膜を成膜し、成膜後のウエハについて市販の異物検査装置によりウエハ表面に付着した0.5μm以上のパーティクル数を計測し、25枚の平均値を算出し、その結果を表6に示した。
さらに、成膜後ターゲットをバッキングプレートから剥離し、ターゲットの一部を切断し、切断したターゲットの一部を樹脂埋めし、研磨し、走査電子顕微鏡(SEM)により組織観察を行い、ターゲット素地中に分散している直径:10μmを越える大きさの酸化物粒子を観察し、その結果を表6に示した。
Figure 0004962905
表6に示される結果から、本発明法29〜35により得られたターゲットは、従来法5により得られたターゲットに比べてパーティクルの発生が格段に少なく、またターゲット素地中に分散している10μm以上の巨大な凝集酸化物粒子が少ないことが分かる。しかし、この発明の範囲から外れた量のSiO層を形成した被覆酸化物粉末を使用して作製する比較法5で作製したターゲットは素地中に巨大な凝集酸化物粒子が分散しており、パーティクルの発生が多くなることが分かる。
実施例6
表1に示される被覆酸化物粉末o〜v、Co粉末、Cr粉末、Pt粉末および合金粉末を表7に示される配合組成となるように配合し、得られた配合粉末を粉砕媒体となるジルコニアボールと共に10リットルの容器に投入し、この容器内の雰囲気をArガス雰囲気中で置換し、その後、容器を密閉した。この容器をボールミルで16時間回転させ、混合粉末を作製した。得られた混合粉末を真空ホットプレス装置に充填し、真空雰囲気中、温度:1100℃、圧力:20MPa、5時間保持の条件で真空ホットプレスすることにより表7に示される成分組成を有するホットプレス体を作製し、このホットプレス体を切削加工して直径:200mm、厚さ:5mmの寸法を有するターゲットを作製することにより本発明法36〜42および比較法6を実施した。
さらに、先に用意したY粉末をそのまま使用し、表7に示される配合組成となるように配合し、同様にしてターゲットを作製することにより従来法6を実施した。
本発明法36〜42、比較法6および従来法6で得られたターゲットを銅製のバッキングプレートに接合して市販のスパッタ装置に装着し、実施例1と同じ条件で5時間プレスパッタを行い、ターゲット表面加工層を除去したのち、一旦チャンバーを大気開放して、防着板などのチャンバー部材の清掃を行った。その後、再び上記真空度に達するまで真空引きを行い、真空引き後、30分のプレスパッタを行ってターゲット表面の大気吸着成分や金属酸化層の除去を行ったのち、4インチSiウエハ上に厚さ:100nmの磁気記録膜を成膜した。同じ条件で合計25枚の4インチSiウエハ上に厚さ:100nmの磁気記録膜を成膜し、成膜後のウエハについて市販の異物検査装置によりウエハ表面に付着した0.5μm以上のパーティクル数を計測し、25枚の平均値を算出し、その結果を表7に示した。
さらに、成膜後ターゲットをバッキングプレートから剥離し、ターゲットの一部を切断し、切断したターゲットの一部を樹脂埋めし、研磨し、走査電子顕微鏡(SEM)により組織観察を行い、ターゲット素地中に分散している直径:10μmを越える大きさの酸化物粒子を観察し、その結果を表7に示した。
Figure 0004962905
表7に示される結果から、本発明法36〜42により得られたターゲットは、従来法6により得られたターゲットに比べてパーティクルの発生が格段に少なく、またターゲット素地中に分散している10μm以上の巨大な凝集酸化物粒子が少ないことが分かる。しかし、この発明の範囲から外れた量のSiO層を形成した被覆酸化物粉末を使用して作製する比較法6で作製したターゲットは素地中に巨大な凝集酸化物粒子が分散しており、パーティクルの発生が多くなることが分かる。

Claims (3)

  1. Cr粉末、Pt粉末、Co粉末、Cr、PtおよびCoのうちのいずれか2種以上を含む合金粉末、並びにTiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末の内のいずれか1種の酸化物粉末の表面をSiO層で被覆した酸化物粉末(以下、被覆酸化物粉末という)を、
    Cr:5〜20モル%、Pt:5〜25モル%、TiO、Ta、Al、MgO、ZrO、Yの内のいずれか1種の酸化物とSiOの合計:2〜15モル%を含有し、残部:Coからなる組成となるように配合し混合したのち、加圧焼結することを特徴とするパーティクル発生の少ない磁気記録膜形成用Co基焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法。
  2. 前記被覆酸化物粉末は、TiO粉末、Ta粉末、Al粉末、MgO粉末、ZrO粉末、Y粉末の内のいずれか1種の酸化物粉末に対して1〜20体積%のSiO層により被覆してなる被覆酸化物粉末であることを特徴とする請求項1記載のパーティクル発生の少ない磁気記録膜形成用Co基焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法。
  3. 前記加圧焼結は、ホットプレスまたは熱間静水圧プレスであることを特徴とする請求項1または2記載のパーティクル発生の少ない磁気記録膜形成用Co基焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法。
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JP6873087B2 (ja) * 2018-08-31 2021-05-19 Jx金属株式会社 安定的に放電可能なスパッタリングターゲット

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JP2004339586A (ja) * 2003-05-19 2004-12-02 Mitsubishi Materials Corp 磁気記録膜形成用スパッタリングターゲットおよびその製造方法
CN100470637C (zh) * 2004-06-07 2009-03-18 昭和电工株式会社 磁记录介质及其制造方法以及磁记录和再现设备
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