JP4962084B2 - 回路設計検証システム、方法、及び、プログラム - Google Patents

回路設計検証システム、方法、及び、プログラム Download PDF

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Description

本発明は、回路設計検証システム、方法、及び、プログラムに関し、更に詳しくは、配線基板(回路基板)上にLSIチップを実装する半導体装置における設計の妥当性を検証する際に好適な回路設計検証システム、方法、及び、プログラムに関する。
半導体装置は、一般的に1つ以上のLSIや、実装部品を印刷配線基板(PWB)上に実装して、電子機器に搭載される。近年のPWBの開発においては、半導体装置の高速化、高密度化、要求機能の複雑化に伴い、設計がより複雑化している。特に、PWBでは、基板上に抵抗やコンデンサなどの実装部品が実装される結果、その設計検証に際して、論理シミュレーション及び電気シミュレーションの双方が必要であり、検証に多大の時間(TAT)を要していた。
従来の検証手法では、装置レベルの論理シミュレーションはTATが膨大であり、このTAT短縮のために、シミュレーションモデルを擬似モデル化する手法が採用されている。この擬似モデル化では、抵抗やコンデンサ、電源端子や接地端子などを含む共通信号端子が、装置シミュレーションの対象外になるため、目視による確認が不可欠である。また、アナログ回路は、そもそも論理シミュレーションが出来ず、抵抗や、コンデンサ、電源端子、接地端子などと共に、目視確認に頼る必要があり、目視確認による検証のため大きなTATを要していた。
また、論理検証が終わった後の電気的検証においては、双方向バッファ間に終端接続などがある場合は、クランプか終端かを回路構成のみから完全に識別することは不可能であり、論理情報を付与しないと検証できない。従って、この面からも、検証に大きなTATを要していた。
更には、アナログ信号や、電流信号、電圧信号が通過する共通信号端子の接続は、LSIベンダーからその仕様が提示され、仕様通りに実装することが優先されることが多々ある。ここでも、その接続の検証は、一般に目視に頼る必要があり、ヒューマンエラーを引き起こす問題があった。
特許文献1には、デジタル・アナログ混載回路をシミュレーションする際に、アナログ回路部分を、デジタル・シミュレーションに適した回路モデルに変換する技術が記載されている。この文献では、その変換ルールとして、例えば、電源回路やグランドネットを削除し、且つ、抵抗やコンデンサを、自動的にスルーゲートやディレイゲートなどに置き換えることを提案している。
特開平10−254938号公報
特許文献1に記載の技術によると、アナログ信号が通過する共通信号端子を有する回路部分を、論理シミュレーションに適した回路モデルに変換することで、シミュレーションにおけるTATの短縮を可能とする。しかし、アナログ回路部分を適当なゲートなどに変換するモデルでは、得られる検証結果がその正確さに欠ける問題がある。また、電源回路やグランドネットなどを検証の対象から除外するので、その部分を目視などによって確認する必要があり、その結果、TATの短縮には限界があった。
本発明は、上記従来技術の問題に鑑み、特に、論理的及び電気的に正しい回路構成であることを検証するPWBなどの設計検証のためのシミュレーションに好適に使用でき、そのようなシミュレーションに際して、目視点検の必要性をより省くことでシミュレーションによる自動設計検証を容易とする回路設計検証システム、方法、及び、プログラムを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の回路設計検証システムは、半導体装置の回路設計を検証する回路設計検証システムにおいて、
半導体装置のネットリストから共通信号端子に接続される部品である抵抗やコンデンサの情報を含む共通信号端子接続情報を抽出する共通信号端子抽出手段と、
部品ライブラリを記憶する記憶装置を参照して、前記抽出された共通信号端子接続情報を、電気的特性情報に置き換える情報変換手段と、
前記共通信号端子に接続される部品の電気的制約ルールを記述するルールファイルを記憶する記憶装置を参照し、前記電気的特性情報が電気的制約ルールを満たすか否かを判定する整合判定手段と、
前記ネットリストから、前記整合判定手段で判定が終了した電気的特性情報に対応する前記共通信号端子接続情報を除いて未検証ネットリストを作成する未検証ネットリスト作成手段と、
前記作成した未検証ネットリストに基づいて、少なくとも論理シミュレーションを実行するシミュレーション実行手段と、を有することを特徴とする。
また、本発明の回路設計検証方法は、半導体装置のネットリストから、共通信号端子に接続される部品である抵抗やコンデンサの情報を含む共通信号端子接続情報を抽出する共通信号端子抽出手段と、部品ライブラリを記憶する記憶装置を参照して、前記抽出された共通信号端子接続情報を、電気的特性情報に置き換える情報変換手段と、前記共通信号端子に接続される部品の電気的制約ルールを記述するルールファイルを記憶する記憶装置を参照し、前記電気的特性情報が電気的制約ルールを満たすか否かを判定する整合判定手段と、前記ネットリストから、前記整合判定手段で判定が終了した電気的特性情報に対応する前記共通信号端子接続情報を除いて未検証ネットリストを作成する未検証ネットリスト作成手段と、前記作成した未検証ネットリストに基づいて、少なくとも論理シミュレーションを実行するシミュレーション実行手段と、を有する回路設計検証システムにおける半導体装置の回路設計を検証する回路設計検証方法において、
前記共通信号端子抽出手段が、半導体装置のネットリストから共通信号端子に接続される部品である抵抗やコンデンサの情報を含む共通信号端子接続情報を抽出するステップと、
前記情報変換手段が、部品ライブラリを記憶する記憶装置を参照して、前記抽出された共通信号端子接続情報を、電気的特性情報に置き換えるステップと、
前記整合判定手段が、前記共通信号端子に接続される部品の電気的制約ルールを記述するルールファイルを記憶する記憶装置を参照し、前記電気的特性情報が電気的制約ルールを満たすか否かを判定するステップと、
前記未検証ネットリスト作成手段が、前記ネットリストから、前記整合判定手段で判定が終了した電気的特性情報に対応する前記共通信号端子接続情報を除いて未検証ネットリストを作成するステップと、
前記シミュレーション実行手段が、前記作成した未検証ネットリストに基づいて、少なくとも論理シミュレーションを実行するステップと、を有することを特徴とする。
更に、本発明のプログラムは、半導体装置の回路設計を検証するコンピュータのためのプログラムであって、前記コンピュータに、
半導体装置のネットリストから共通信号端子に接続される部品である抵抗やコンデンサの情報を含む共通信号端子接続情報を抽出するステップと、
部品ライブラリを記憶する記憶装置を参照して、前記抽出された共通信号端子接続情報を、電気的特性情報に置き換えるステップと、
前記共通信号端子に接続される部品の電気的制約ルールを記述するルールファイルを記憶する記憶装置を参照し、前記電気的特性情報が電気的制約ルールを満たすか否かを判定するステップと、
前記ネットリストから、前記電気的制約ルールを満たすか否かを判定するステップで判定が終了した電気的特性情報に対応する前記共通信号端子接続情報を除いて未検証ネットリストを作成するステップと、
前記作成した未検証ネットリストに基づいて、少なくとも論理シミュレーションを実行するステップと、を実行させることを特徴とする。
本発明の回路設計検証システム、方法、プログラムによると、ネットリストに記載された端子のうち共通信号端子については、その共通信号端子に接続する部品の物理情報を電気特性情報に置き換え、ルールファイルを参照してその電気特性情報が電気制約ルールを満たすか否かを判定する。この判定による検証が行われると、その共通信号端子及び部品の情報はネットリストから除くことができ、それ以外の端子を含む未検証のネットリストについて、従来と同様なシミュレーションによる検証を行うことが出来る。
本発明の回路設計検証システムでは、前記シミュレーション実行手段が、前記論理シミュレーションに加えて、LSIのI/Oバッファの情報を付加して電気シミュレーションを実行する構成を採用できる。
また、前記部品ライブラリが、抵抗部品の抵抗値、定格値及び電圧値の情報、並びに、コンデンサ部品の容量、定格値及び接続電圧の情報の少なくとも一部を含む構成を採用してもよい。
更に、前記電気的制約ルールが、前記共通信号端子に許容されるファンアウト数、抵抗部品の抵抗値及び定格値、並びに、コンデンサ部品の容量、定格値及び接続電圧を含む構成を採用してもよい。
本発明の回路設計検証システム、方法、及び、プログラムによると、共通信号端子に接続する部品の電気的特性情報を求め、その電気的特性情報が電気的制約ルールを満たすか否かを判定することにより、共通信号端子に対応するネットリストの部分をネットリストから除いたシミュレーションによる検証が可能になる。このため、回路設計検証の効率が向上し、回路設計検証におけるTATが短縮できる。また、擬似モデルを最初から使用する従来の手法に比して、検証品質が向上し、設計修正の後戻り発生を抑えることが可能になる。
以下、図面を参照し、本発明の実施の形態に係る回路設計検証システム、方法、及び、プログラムについて説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る回路設計検証システムを示す。回路設計検証システムは、PKGネットリスト11を入力し、抵抗・コンデンサライブラリ12、及び、LSIルールファイル13を参照して、共通信号端子に接続する実装部品を電気特性情報に変換する抵抗・コンデンサ接続部物理→論理情報展開手段(以下、論理情報展開手段)21と、論理情報展開手段21の出力である中間ネットリストを、LSIルールファイル13を参照して検証するネットリスト・ルール整合検証手段(以下、ルール整合検証手段)22と、PKGネットリスト11から未検証ネットリスト33を抽出する未検証ネットリスト作成手段23と、未検証ネットリスト33に、I/Oバッファモデル15を加えた従来の手法で、シミュレーション(SIM)検証を行う論理・電気SIM実行手段24とを備える。
論理情報展開手段21は、半導体装置のネットリストから共通信号端子を抽出する共通信号端子抽出手段と、抽出された共通信号端子に接続する部品の情報を、電気的特性情報に置き換える情報変換手段とを構成する。論理・電気SIM実行手段24は、装置論理検証結果34を出力する。上記各手段は、回路設計検証を実行するコンピュータに搭載されるプログラムによって実現できる。
図3〜図6は、上記実施形態の回路設計検証システムで使用される入力データ、回路設計検証システムで得られる中間データ、及び、出力データを例示している。PKGネットリスト11には、設計検証の対象である、配線基板の回路上で記述された全部品の接続関係が定義される。図3(a)に、PKGネットリスト11に記述される回路の構成を示した。この例では、PWB上にLSI1及びLSI2が実装され、LSI1は、抵抗モジュール1によって、電源(1.2V)にプルアップされ、グランド(GND)にプルダウンされる。抵抗・コンデンサライブラリ12は、抵抗値、容量や定格値といった電気的な特性と、端子の接続関係とを定義している。抵抗・コンデンサライブラリ12は、過去の設計に際して既に検証され、その検証によって正当性が確認された部品の定格や、接続関係が定義される。抵抗・コンデンサライブラリ12の内容を図3(b)に示している。この例では、抵抗・コンデンサライブラリ12は、抵抗及びコンデンサの定格値、スイッチやコネクタ等の縮退可能な部品の接続関係を定義している。例えば抵抗1は、2つの抵抗器を含むモジュールを構成している。
LSIルールファイル13は、過去に実機に採用され、その結果としてライブラリ情報として取り込まれた全てのLSIについて、LSIの共通信号端子に対する接続ルールを定義している。図4(a)に示した例では、LSIの各共通信号通端子について、その端子の用途が、プルアップ接続か、プルダウン接続かの区別や、接続される抵抗器の抵抗値、定格値、及び接続電圧、接続されるコンデンサの容量、定格値、及び接続電圧、端子に許容できるファンアウト数などの電気的制約ルールが示されている。
中間ネットリスト31は、論理情報展開手段21から出力されるもので、例えば図4(b)に示すように、ネットリストに電気的特性情報を付加したものである。同図には、ネットリストから抽出された共通信号端子に接続する実装部品である抵抗、コンデンサの電気的特性情報が示され、また、スイッチ、コネクタ部品については、接続を縮退した状態で示される。共通信号検証結果32には、検証が完了した共通信号端子の検証結果が示される(図5(a))。中間ネットリスト31から、検証が終了した共通信号端子の情報を除くことにより、図5(b)に示す未検証ネットリスト33が得られる。未検証ネットリスト33に対して、既に論理検証が完了している、図5(c)に示すような擬似装置SIMモデル14を適用することで、論理検証を実行する。その結果、図6(a)に示した装置論理検証結果34が得られる。この装置論理検証が行われたLSIに、図6(b)に示すようなI/Oモデル15の情報が付加されて、電気検証のシミュレーションが実行される。I/Oモデル15には、I/Oバッファの入力/出力の区別や、バッファ構成などが定義される。
論理情報展開手段21は、上述のPKGネットリスト11と抵抗・コンデンサライブラリ12とLSIルールファイル13とから、共通信号端子に接続される回路構成を抽出し、縮退可能部品を縮退して物理情報を排除し、電気特性情報を付与して、中間ネットリスト31を生成する機能を有する。ルール整合検証手段22は、中間ネットリスト31を入力し、LSIルールファイル13で定義される接続ルールとの整合チェックを実施し、共通信号検証結果32を生成する機能を有する。
図2は、図1の回路設計検証システムの処理を示すフローチャートである。まず、回路設計検証システムは、PKGネットリスト11、抵抗・コンデンサライブラリ12、及び、LSIルールファイル13を入力する(ステップA1〜A3)。PKGネットリスト11に記述された端子を順次に選択し、その選択した端子が、LSIルールファイル13に定義される共通信号端子か否かを判定する(ステップA4)。ステップA4で、共通信号端子と判定された場合にはステップA5へ、そうでない場合にはステップA9へ進む。
論理情報展開手段21は、ステップA5で、共通信号端子を物理情報→論理情報に展開する。このステップでは、接続される抵抗、コンデンサ、コネクタ、スイッチ部品、コネクタのピンなどの接続関係を、抵抗・コンデンサライブラリ12より入手する。抵抗部品には、抵抗値、定格値、接続電圧の情報を付与し、コンデンサ部品には、容量、定格値、接続電圧の情報を付与し、スイッチ部品やコネクタについては縮退し、その先の接続に対しも再度同様の処理を行い、得られた結果を中間ネットリスト31として出力する(ステップA6)。
次に、ルール整合検証手段22が、中間ネットリスト31とLSIルールファイル13との整合関係をチェックする。抵抗部品については、抵抗値、定格値、接続電圧、ファンアウト数が守られていること、コンデンサ部品については、容量値、定格値、接続電圧、ファンアウト数が守られてることを検証する(ステップA7)。ルール整合検証手段22による整合結果は、共通信号検証結果32として出力される(ステップA8)。
一方、ネットリストから選択された端子が、ステップA4において共通信号端子でないと判定された場合には、未検証ネットリスト作成手段23が、その選択された端子の接続情報を未検証ネットリスト33に出力する(ステップA9)。ステップA10で、全端子の処理が完了したか否かをチェックし、完了してない場合には、未処置の端子に対しステップA4の判定を行い、また、それに後続する処理を行い、全ての端子の処理が完了した後にはステップA11に進む。全端子の処理が完了すると、共通信号端子に対する論理検証及び電気検証に相当する検証処理が完了しており、検証結果は共通信号検証結果32に出力される。検証された共通信号端子以外の端子の接続については、未検証ネットリスト33内にリストアップされている。
次に、論理・電気SIM実行手段24が、未検証ネットリスト33に対する検証を行う。検証は論理及び電気検証の双方を含む。論理検証では、従来技術を用いて、論理SIM済みの擬似装置SIMモデル14を入力し(ステップA11)、擬似装置SIMモデル14と未検証ネットリスト33の一致チェックを行い、論理検証する(ステップA12)。図5(c)に、擬似装置SIMモデル14の例を示している。ここでは、既に診断が完了した共通信号端子は除かれている。なお、この論理検証では、一致チェックではなく、未検証ネットリスト33(図5(b))について、通常の論理検証を行っても良い。検証結果は、装置論理検証結果34として出力する(ステップA13)。装置論理検証結果34では、例えば論理シミュレーションが良好であった旨、及び、LSI1の#2ピンのデータが存在しないとしてエラーが出力される(図6(a))。これは、ルールファイルには、#2ピンを有するLSIがライブラリ登録されていないことを意味し、この場合には、そのルールファイルを作成するか、或いは、目視などによる検証処理が行われる。
電気的検証については、まず、図5(b)の未検証ネットリスト33にI/Oバッファモデル15を入力し(ステップA14)、伝送路シミュレーション等の従来技術を用いて検証する(ステップA15)。I/Oバッファモデル15の例を図6(b)に示した。検証結果は、装置論理検証結果34(図6(a))に出力する(ステップA16)。
図3〜図6を更に参照して、ネットリストの具体的な検証処理の例を説明する。まず、PKGネットリスト11(図3(a))の入力、抵抗・コンデンサライブラリ12(図3(b))の入力、及び、LSIルールファイル13(図4(a))の入力を行う(ステップA1〜A3)。次いで、PKGネットリスト11の全接続情報を認識する。PKGネットリスト11に記述された端子が、共通信号端子か否かを順次にチェックする(ステップA4)。ここで、LSI1の#1ピンは、LSIルールファイル13に定義されていないため、共通信号端子ではないと判断し、LSI1の#1ピンからの接続であるLSI2の#1ピンまでを未検証ネットリスト33に登録する(ステップA9)。
同様に、LSI1の#2ピンは、共通信号端子ではないため(ステップA4)、LSI2の#2ピンまでの接続を、未検証ネットリスト33に登録する(ステップA9)。LSI1の#3ピンは、LSIルールファイル13に定義されているため、共通信号端子と判定する(ステップA4)。また、接続先が抵抗・コンデンサライブラリ12に定義されている抵抗1の#1−#2ピンであるから、この抵抗1の物理情報を、抵抗・コンデンサライブラリ12に定義される抵抗値である50Ω、定格値0.6Wと、PKGネットリスト11に記載される接続先の電圧である1.2Vに変換し(ステップA5)、中間ネットリスト31に出力する(ステップA6)。
次いで、中間ネットリスト31の情報と、LSIルールファイル13のLSI1の#1ピンとの整合チェックを実施し、抵抗値は50Ωで一致、定格値も0.6Wで確保、接続電圧は1.2Vで一致、ファンアウト数も制限の1以内であるから、問題がないと判定する(ステップA7)。このため、共通信号検証結果32に、“LSI1…OK”として出力する(ステップA8)。同様に、LSI1の#4ピンを中間ネットリスト31に展開する(ステップA4〜A6)。ここで、中間ネットリスト31の抵抗値は100Ω、LSIルールファイル13の抵抗値は50Ωと一致しないため、共通信号検証結果32に“LSI2…NG、抵抗値が不正”として出力する(ステップA8)。
全端子の判定処理又は中間ネットリストへの出力処理が完了すると(ステップA10)、共通信号端子の検証は完了しており、未検証部分は、未検証ネットリスト33に抽出された状態となる。以降は、従来手法を用いた検証を実施する。論理検証については、共通信号端子の接続を省略した擬似装置SIMモデル14を入力(ステップA11)し、一致判定により、未検証ネットリスト33の論理を検証する(ステップA12)。検証結果を、“論理シミュレーション…OK”とし、装置論理検証結果34に出力する(ステップA13)。電気検証についても、同様に従来手法を用いて検証する。より詳細には、I/Oバッファモデル15を入力し(ステップA14)、伝送路シミュレーションを実施する(ステップA15)。検証結果を、先の装置論理検証結果34に出力する(ステップA16)。LSI1の#2ピンは、バッファモデルが特定できないため、検証できなかったことを装置論理検証結果34に出力する。
本実施形態では、上記のようにして、ネットリストに記述された端子を、共通信号端子と共通信号端子以外の端子とに分類し、共通信号端子に対してはルールファイルによる判定を行い、共通信号端子以外の端子については従来のシミュレーションを適用する。このようなシミュレーションを用いることで、論理及び回路シミュレーションにおける検証項目を減らすことなく、また、不完全な簡易検証モデルを用いることなく、検証効率を改善することが可能である。
論理情報展開手段21で生成される中間ネットリスト31について、ネットリスト・ルール整合検証手段22で共通信号に対する検証を行い、共通信号検証結果32を作成することで、電気検証シミュレーションに代える。また、未検証ネットリスト作成手段23で、まだ検証の終わってない未検証ネットリスト33については、論理・電気SIM実行手段24を用いて未検証箇所を検証する。これによって、検証品質を損なうことなく、検証効率を向上させることが出来る。
以上、説明したように、上記実施形態では、抵抗などを近似して論理シミュレーションを行う従来の共通信号端子の論理検証を、ルールベースに記述された電気制約ルールを用いた接続チェックに置き換えることにより、検証品質を損なうことなく、TATを短縮できる検証が可能になる。
また、共通信号端子について、従来の目視によるチェックを、ルールベースの接続チェックに置き換えることにより、人為的なミスがなくなるため、検証品質が向上する。
更に、従来は電気シミュレーションを行っていた共通信号端子の電気的検証を、ルールベースの接続チェックとすることにより、検証モデルの作成が不要となり、検証TATが短縮する。
更に、電気シミュレーションを行っていた従来の共通信号端子の電気的検証が、論理情報を付与した双方向信号のルールベースの接続チェックに置き換わるので、論理情報を付与する必要がなくなり、検証効率が改善される。
更に、従来のルールベースの接続チェックにおいて、接続先の物理情報の定義を、論理及び電気情報の定義とすることで、設計の物理的な自由度を確保し、ルール作成効率を改善することが出来る。
以上、本発明をその好適な実施態様に基づいて説明したが、本発明の回路設計検証システム、方法、及び、プログラムは、上記実施態様の構成にのみ限定されるものではなく、上記実施態様の構成から種々の修正及び変更を施したものも、本発明の範囲に含まれる。
本発明の一実施形態に係る回路設計検証システムのブロック図。 図1の回路設計検証システムの処理を示すフローチャート。 (a)はPKGネットリストに記述される回路を例示する回路図、(b)は抵抗・コンデンサライブラリのデータを例示するデータリスト。 (a)はLSIルールファイルを例示するデータリスト、(b)は中間ネットリストに記述される回路を示す回路図。 (a)は共通信号端子の検証結果を示すデータリスト、(b)は未検証ネットリストに記述される回路を示す回路図、(c)は擬似装置SIMモデルを示す回路図。 (a)は装置論理検証結果を示すデータリスト、(b)はI/Oモデルを示すデータリスト。
符号の説明
11:PKGネットリスト
12:抵抗・コンデンサライブラリ
13:LSIルールファイル
14:擬似装置SIMモデル
15:I/Oバッファモデル
21:抵抗・コンデンサ接続部物理→論理情報展開手段
22:ネットリスト・ルール整合検証手段
23:未検証ネットリスト作成手段
24:論理・電気SIM実行手段
31:中間ネットリスト
32:共通信号検証結果
33:未検証ネットリスト
34:装置論理検証結果

Claims (6)

  1. 半導体装置の回路設計を検証する回路設計検証システムにおいて、
    半導体装置のネットリストから共通信号端子に接続される部品である抵抗やコンデンサの情報を含む共通信号端子接続情報を抽出する共通信号端子抽出手段と、
    部品ライブラリを記憶する記憶装置を参照して、前記抽出された共通信号端子接続情報を、電気的特性情報に置き換える情報変換手段と、
    前記共通信号端子に接続される部品の電気的制約ルールを記述するルールファイルを記憶する記憶装置を参照し、前記電気的特性情報が電気的制約ルールを満たすか否かを判定する整合判定手段と、
    前記ネットリストから、前記整合判定手段で判定が終了した電気的特性情報に対応する前記共通信号端子接続情報を除いて未検証ネットリストを作成する未検証ネットリスト作成手段と、
    前記作成した未検証ネットリストに基づいて、少なくとも論理シミュレーションを実行するシミュレーション実行手段と、を有することを特徴とする回路設計検証システム。
  2. 前記シミュレーション実行手段は、前記論理シミュレーションに加えて、LSIのI/Oバッファの情報を付加して電気シミュレーションを実行する、請求項1に記載の回路設計検証システム。
  3. 前記部品ライブラリは、抵抗部品の抵抗値、定格値及び接続電圧の情報、並びに、コンデンサ部品の容量、定格値及び接続電圧の情報の少なくとも一部を含む、請求項1又は2に記載の回路設計検証システム。
  4. 前記電気的制約ルールが、前記共通信号端子に許容されるファンアウト数、抵抗部品の抵抗値、定格値及び接続電圧の情報、並びに、コンデンサ部品の容量、定格値及び接続電圧の情報の少なくとも一部を含む、請求項3に記載の回路設計検証システム。
  5. 半導体装置のネットリストから、共通信号端子に接続される部品である抵抗やコンデンサの情報を含む共通信号端子接続情報を抽出する共通信号端子抽出手段と、部品ライブラリを記憶する記憶装置を参照して、前記抽出された共通信号端子接続情報を、電気的特性情報に置き換える情報変換手段と、前記共通信号端子に接続される部品の電気的制約ルールを記述するルールファイルを記憶する記憶装置を参照し、前記電気的特性情報が電気的制約ルールを満たすか否かを判定する整合判定手段と、前記ネットリストから、前記整合判定手段で判定が終了した電気的特性情報に対応する前記共通信号端子接続情報を除いて未検証ネットリストを作成する未検証ネットリスト作成手段と、前記作成した未検証ネットリストに基づいて、少なくとも論理シミュレーションを実行するシミュレーション実行手段と、を有する回路設計検証システムにおける半導体装置の回路設計を検証する回路設計検証方法において、
    前記共通信号端子抽出手段が、半導体装置のネットリストから共通信号端子に接続される部品である抵抗やコンデンサの情報を含む共通信号端子接続情報を抽出するステップと、
    前記情報変換手段が、部品ライブラリを記憶する記憶装置を参照して、前記抽出された共通信号端子接続情報を、電気的特性情報に置き換えるステップと、
    前記整合判定手段が、前記共通信号端子に接続される部品の電気的制約ルールを記述するルールファイルを記憶する記憶装置を参照し、前記電気的特性情報が電気的制約ルールを満たすか否かを判定するステップと、
    前記未検証ネットリスト作成手段が、前記ネットリストから、前記整合判定手段で判定が終了した電気的特性情報に対応する前記共通信号端子接続情報を除いて未検証ネットリストを作成するステップと、
    前記シミュレーション実行手段が、前記作成した未検証ネットリストに基づいて、少なくとも論理シミュレーションを実行するステップと、を有することを特徴とする回路設計検証方法。
  6. 半導体装置の回路設計を検証するコンピュータのためのプログラムであって、前記コンピュータに、
    半導体装置のネットリストから共通信号端子に接続される部品である抵抗やコンデンサの情報を含む共通信号端子接続情報を抽出するステップと、
    部品ライブラリを記憶する記憶装置を参照して、前記抽出された共通信号端子接続情報を、電気的特性情報に置き換えるステップと、
    前記共通信号端子に接続される部品の電気的制約ルールを記述するルールファイルを記憶する記憶装置を参照し、前記電気的特性情報が電気的制約ルールを満たすか否かを判定するステップと、
    前記ネットリストから、前記電気的制約ルールを満たすか否かを判定するステップで判定が終了した電気的特性情報に対応する前記共通信号端子接続情報を除いて未検証ネットリストを作成するステップと、
    前記作成した未検証ネットリストに基づいて、少なくとも論理シミュレーションを実行するステップと、を実行させることを特徴とするプログラム。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4586926B2 (ja) * 2008-03-04 2010-11-24 日本電気株式会社 回路検証装置、回路検証プログラムおよび回路検証方法
JP2012150718A (ja) * 2011-01-20 2012-08-09 Elpida Memory Inc Ibisシミュレーションモデルの抽出方法
CA2786220C (en) * 2011-08-18 2020-02-18 Valydate Inc. Validation of circuit definitions
CN102706882B (zh) * 2012-04-28 2014-04-02 东信和平科技股份有限公司 一种sim模块的视觉检测方法
US10285286B2 (en) * 2013-10-04 2019-05-07 Mitsubishi Electric Corporation Electronic control device and method of manufacturing same, and electric power steering control device

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6480817B1 (en) * 1994-09-01 2002-11-12 Hynix Semiconductor, Inc. Integrated circuit I/O pad cell modeling
JP2850837B2 (ja) * 1996-02-29 1999-01-27 日本電気株式会社 アナログ部分削除ハードウェア記述生成方式
JP3885274B2 (ja) * 1997-03-14 2007-02-21 富士通株式会社 シミュレーション用回路変換装置
US6009249A (en) * 1997-06-13 1999-12-28 Micron Technology, Inc. Automated load determination for partitioned simulation
JPH1139370A (ja) * 1997-07-23 1999-02-12 Rohm Co Ltd アナログ回路の検証装置及び検証方法
US6292766B1 (en) * 1998-12-18 2001-09-18 Vlsi Technology, Inc. Simulation tool input file generator for interface circuitry
JP3219066B2 (ja) * 1999-01-07 2001-10-15 日本電気株式会社 アナログ部品削除情報付与システム
JP2001202394A (ja) * 2000-01-18 2001-07-27 Mitsubishi Electric Corp 回路解析ツール、及び、回路解析ツールとして機能させるプログラムを記録した記録媒体
US6792579B2 (en) * 2001-10-05 2004-09-14 Lsi Logic Corporation Spice to verilog netlist translator and design methods using spice to verilog and verilog to spice translation
JP3788355B2 (ja) * 2002-01-29 2006-06-21 日本電気株式会社 設計検証システム、設計検証方法、および、設計検証プログラム
US20060036422A1 (en) * 2004-08-13 2006-02-16 Gryba John S Methods and systems for electronic device modelling
JP4544118B2 (ja) * 2005-09-27 2010-09-15 日本電気株式会社 回路検証システムと方法、及びプログラム
US7643979B2 (en) * 2006-01-17 2010-01-05 Rambus Inc. Method to analyze an analog circuit design with a verification program
US7590952B2 (en) * 2006-11-28 2009-09-15 International Business Machines Corporation Compact chip package macromodels for chip-package simulation

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