JP4956312B2 - 遅延線 - Google Patents

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Description

本発明は、遅延線および信号遅延方法に関する。本発明は特に、被試験装置に供給するデジタル信号を時間的に遅延させる遅延線および信号遅延方法に関する。
例えば半導体の動作を検証する試験装置に対して試験用のデジタル信号を供給する試験波形発生装置が知られている(例えば特許文献1を参照)。この試験波形発生装置は、被試験装置に供給するデジタル信号を伝送する伝送線路上にRC回路が配されており、当該デジタル信号に波形のなまり等を付加することができる。
特開2000−162288号公報
しかしながら、上記試験波形発生装置は、RC回路の可変容量素子が接地されており、デジタル信号がこのRC回路を通過したときに信号の一部がRC回路で反射して伝送線路上でデジタル信号と重なる。このような反射波はデジタル信号に不要なノイズ成分を重畳させる。
上記課題を解決するために、本発明の第1の形態においては、信号線路に入力された電気的な信号を遅延して出力する遅延線であって、信号線路上に配され、信号を遅延させる3つ以上の受動素子を備え、隣り合う受動素子間の信号線路の電気長がそれぞれ異なる遅延線が提供される。
また、本発明の第2の形態においては、信号線路に入力された電気的な信号を、信号線路上に配された3つ以上の受動素子のいずれかを選択して遅延する信号遅延方法であって、3つ以上の受動素子を、互いの受動素子間の信号線路の電気長が異なるように選択する信号遅延方法が提供される。
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
以上の説明から明らかなように、本発明の遅延線を試験信号発生装置に用いることにより、遅延線から反射した成分である反射信号が試験信号発生装置から出力される信号にノイズとして重畳するのを防ぐことができる。また、3つ以上の受動素子を選択して遅延する場合に、互いの間隔が異なる受動素子を選択する方法により、それぞれの受動素子から反射した反射信号の位相が互いにずれて重なるので、これらの反射信号が互いに弱め合う。したがって、遅延線から反射した反射信号の強度を小さくすることができる。
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図1は、本発明の一の実施形態に係る試験信号発生装置10の構成を示すブロック図である。試験信号発生装置10は、被試験装置50に対して試験用のデジタル信号を供給するための装置であり、図1に示すように、デジタル信号発生回路20と、制御部30と、信号線路40と、遅延線100とを備える。
信号線路40は、デジタル信号発生回路20の出力端子21と被試験装置50の入力端子51とを電気的に接続する。また、遅延線100は、この信号線路40上に配される。また、制御部30は、デジタル信号発生回路20と電気的に接続し、さらに、後述する給電線251、256、351、356、451、456、551、556、651、656を介して遅延線100の受動素子205、305、405、505、605とそれぞれ電気的に接続する。この試験信号発生装置10は、制御部30からの命令に応じてデジタル信号発生回路20が試験用のデジタル信号を生成し、生成された当該デジタル信号を、信号線路40を介して被試験装置50に出力する。
図2は、遅延線100の概略上面図である。図2に示すように、遅延線100は、上面に信号線路40がパターン形成された基板110と、この基板110上における信号線路40の両側に間隔をあけてパターン形成されたグランド120と、信号線路40上を跨ぐように配されるとともにその両端部がグランド120上に固定されている5つの受動素子205、305、405、505、605とを有する。また、これら5つの受動素子205、305、405、505、605は、可動部215、315、415、515、615を有し、当該可動部215、315、415、515、615の各々の両端部には、図2に示すように、給電線251、256、351、356、451、456、551、556、651、656の一端が接続される。なお、給電線251、256、351、356、451、456、551、556、651、656は、それぞれ電力が供給されたときに基準電圧となる線と、供給される電力に対応した電圧となる線の対である。
また、図2に示すように、これら5つの受動素子205、305、405、505、605は、信号線路40上に互いに間隔を開けて配されており、それぞれの受動素子同士の間隔は異なる。すなわち、例えば図2において「L1」で示す受動素子205と受動素子305との間隔は、「L2」で示す受動素子305と受動素子405との間隔と異なる。このように、それぞれの受動素子同士の間隔「L1」〜「L4」はそれぞれ異なる。なお、受動素子同士の間隔「L1」〜「L4」は、ランダムに異なっていてもよく、また、「L1」から「L4」にかけて順に大きくてもよい。5つの受動素子205、305、405、505、605のうちの隣り合う受動素子間のインピーダンスは、上記受動素子同士の間隔「L1」〜「L4」に応じて互いに異なる。したがって、5つの受動素子205、305、405、505、605のうちの隣り合う受動素子間の電気長はそれぞれ異なる。
図3は、図2のA−A'断面をBの方向から見た断面図であり、受動素子405に電力が供給されていない状態を示す。受動素子405の可動部415は、図3に示すように、信号線路40の両側のグランド120上に固定された柱状の支持部材420、および、信号線路40上に信号線路40およびグランド120に対して間隔をあけて架け渡されるとともにその両端が支持部材420に固定されたアーム430を含む。
上記アーム430は、その上面および下面が信号線路40およびグランド120の上面と平行な略平板状の部材である。また、アーム430の上面の両端部は中央部に比べて幅が広くなっており、当該上面の両端部には圧電アクチュエータ450、455が面状に形成されている。さらにアーム430の下面の中央部には、可動電極440が一様な厚さで形成されている。また、信号線路40およびグランド120の上面における上記可動電極440と対向する部分には、それぞれ誘電体134および誘電体132がパターン形成されている。なお、本実施形態では、図3に示すように、これら誘電体134および誘電体132の厚さはともに「t」であり、可動電極440は、誘電体134および誘電体132とそれぞれ大きさ「d」の間隔をあけて対向している。
したがって、空気中の誘電率を「ε」、誘電体134および誘電体132の誘電率を「ε」、誘電体134および誘電体132の面積(誘電体132の面積は、信号線路40の両側のグランド120の上面に形成された誘電体132を合計した面積)をそれぞれ「S」および「S」とすると、信号線路40とグランド120との間には、上記可動部415を設けることにより、εε/{(ε+εt)S+(ε+εt)S}の式で表される結合容量が生じる。
また、上記圧電アクチュエータ450におけるアーム430と当接する面(以下、「当接面」と称する)および露出する面(以下、「露出面」と称する)は、対を成す上記給電線451の一方とそれぞれ接続している。また、同様に、上記圧電アクチュエータ455におけるアーム430と当接する面および露出する面は、対を成す上記給電線456の一方とそれぞれ接続している。
図4は、図2のA−A'断面をBの方向から見た断面図であり、受動素子405に電力が供給されている状態を示す。図4に示すように、受動素子405の上記可動部415における圧電アクチュエータ450、455のそれぞれに対して給電線451、456を介して電力が供給されると、圧電アクチュエータ450、455は、それぞれ上記当接面と露出面との間の電位差に応じて図4に示すように屈曲する。このとき、圧電アクチュエータ450、455と当接するアーム430は、当該圧電アクチュエータ450、455の屈曲に伴って撓み、当該アーム430下面の可動電極440は信号線路40およびグランド120に近接した状態で誘電体134および誘電体132と当接する。このとき、信号線路40とグランド120との間に生じている上記結合容量は増加し、その大きさはεε/(εtS+εtS)の式で表される。なお、例えば上記誘電体134および誘電体132により誘電率の大きな材料を用いることにより、上記結合容量をより大きくすることができる。
このように、受動素子405は、可動部415における圧電アクチュエータ450、455のそれぞれに対して電力を供給して圧電アクチュエータ450、455を屈曲させることにより、可動電極440が信号線路40およびグランド120に近接させて、信号線路40とグランド120との間の結合容量を増加させることができる。また、上記において受動素子405について説明したが、信号線路40上に配される受動素子205、305、505、605についても同様の構成を有し、受動素子405と同様に、それぞれ信号線路40とグランド120との間の結合容量を増加させることができる。
図5は、遅延線100の回路構成である。図5に示すように、遅延線100の信号線路40上に配される5つの受動素子205、305、405、505、605の各々は、信号線路40の線路抵抗42、43、44、45、46との間でRC回路200、300、400、500、600をそれぞれ形成する。したがって、遅延線100における信号線路40上を例えばパルス波形を有する信号が伝送されているときに、制御部30から所定のタイミングで受動素子205、305、405、505、605の可動部215、315、415、515、615の各々に対して電力を供給することにより、当該信号に対して時間的な遅延を生じさせることができる。なお、本実施形態において、この時間的な遅延の大きさは、受動素子205、305、405、505、605それぞれにつきおよそ1psecである。
なお、受動素子205、305、405、505、605の各々が上記信号に対して生じさせうる時間的な遅延の大きさは、それぞれの受動素子205、305、405、505、605を含む上記RC回路200、300、400、500、600における可動部215、315、415、515、615のそれぞれに対して電力を供給したときのそれぞれの結合容量の大きさ、および、対応する線路抵抗42、43、44、45、46の大きさに依存する。したがって、上記結合容量をより大きくすることにより、上記信号に対して生じさせうる時間的な遅延はより大きくなる。また、5つの受動素子205、305、405、505、605の各々の上記結合容量は全て等しくてもよく、またそれぞれ異なってもよい。いずれの場合でも、制御部30が上記信号に対して生じさせるべき時間的な遅延の大きさに応じて5つの受動素子205、305、405、505、605から特定の受動素子を選択して電力を供給することにより、当該信号に対して種々の大きさの時間的な遅延を生じさせることができる。
また、上記のように、遅延線100において5つの受動素子205、305、405、505、605のうちの隣り合う受動素子間のインピーダンスが互いに異なるので、当該隣り合う受動素子間の電気長はそれぞれ異なる。したがって、制御部30が上記5つの受動素子205、305、405、505、605のうちの3つ以上を選択して電力を供給した場合、信号線路40上を伝送される信号が選択された受動素子のそれぞれで反射された反射信号は、信号線路40上においてその位相がずれて重なる。ゆえに、これらの反射信号は互いに弱め合うことによりその強度が減衰するので、上記信号の各周波数成分にノイズとして重畳されにくくなる。
また、遅延線100は、信号線路40上に図2に示すような5つの受動素子205、305、405、505、605が繰り返し配されることが好ましい。この場合、制御部30が選択的に5つ以上の受動素子に対して電力を供給することができるので、信号線路40上により多くのRC回路を形成することができる。したがって、信号線路40上を伝送される信号が選択された受動素子のそれぞれで反射された反射信号は、信号線路40上においてその位相がより確実にずれて重なるので、当該反射信号の各々は互いにより確実に弱め合うことによりその強度が減衰する。このように、信号線路40上に配される受動素子の数はより多いことが好ましい。
また、受動素子205、305、405、505、605の各々が有する可動部215、315、415、515、615は、上記可動部415を例示して説明したように、可動部415の可動電極440が信号線路40およびグランド120の両方に近接する形態に限られない。例えば上記可動部415において、可動電極440が、信号線路40またはグランド120の一方と固定および導通して接続されるとともに他方に対して近接することにより上記結合容量を大きくしてもよい。
また、遅延線100に配される受動素子205、305、405、505、605は、上記のように、それぞれ制御部30から電力が供給された場合に実質的にキャパシタとなる。このように、遅延線100は、キャパシタと線路抵抗とによって形成されるRC回路200、300、400、500、600によって信号線路40上を伝送される信号を遅延させている。一方、上記遅延線100に例えばトランジスタなどの能動素子を用いた場合、信号線路40上を伝送される信号の信号波形が変化してしまう場合がある。このような信号波形の変化は、遅延線100の性能上好ましくない。これに対し、本実施形態によれば、遅延線100は、信号線路40上を伝送される信号の信号波形を変化させずに遅延させることができる。
図6は、遅延線100に替わる他の形態である遅延線101の回路構成である。図6において、上記遅延線100と同じ構成については同じ参照番号を付して説明を省略する。遅延線101は、図6に示すように、信号線路40に接続された5つの受動素子206、306、406、506、606を有する。これら5つの受動素子206、306、406、506、606の各々は、信号線路40とグランド120との間に接続されたキャパシタ216、316、416、516、616、および、当該キャパシタ216、316、416、516、616と信号線路40との間を電気的に開閉するスイッチ226、326、426、526、626をそれぞれ1組ずつ有する。
また、制御部30は、上記スイッチ226、326、426、526、626の各々と電気的に接続しており、これらスイッチ226、326、426、526、626の各々を別個に切替えることができる。また、上記スイッチ226、326、426、526、626が閉じてキャパシタ216、316、416、516、616が信号線路40およびグランド120とそれぞれ電気的に接続した場合、5つの受動素子206、306、406、506、606の各々は、信号線路40の線路抵抗42、43、44、45、46との間でRC回路201、301、401、501、601をそれぞれ形成する。したがって、遅延線101における信号線路40上を例えばパルス波形を有する信号が伝送されているときに、制御部30が所定のタイミングで受動素子206、306、406、506、606のスイッチ226、326、426、526、626から特定のスイッチを選択して切替えることにより、当該信号に対して時間的な遅延を生じさせることができる。
なお、受動素子206、306、406、506、606の各々が上記信号に対して生じさせうる時間的な遅延の大きさは、当該受動素子206、306、406、506、606を含む上記RC回路201、301、401、501、601におけるキャパシタ216、316、416、516、616の容量と、対応する線路抵抗42、43、44、45、46の大きさとに依存する。したがって、例えば上記キャパシタ216、316、416、516、616の容量をより大きくすることにより、受動素子206、306、406、506、606の各々が上記信号に対して生じさせうる時間的な遅延はより大きくなる。
また、5つの受動素子206、306、406、506、606の各々が有するキャパシタ216、316、416、516、616の容量は全て等しくてもよく、またそれぞれ異なってもよい。いずれの場合でも、制御部30が上記信号に対して生じさせるべき時間的な遅延の大きさに応じて5つの受動素子206、306、406、506、606から特定の受動素子を選択して対応するスイッチを切替えることにより、当該信号に対して種々の大きさの時間的な遅延を生じさせることができる。
また、遅延線101の5つの受動素子206、306、406、506、606は、上記遅延線100の5つの受動素子205、305、405、505、605と同様に信号線路40上に互いに間隔を開けて配されており、隣り合う受動素子同士の間隔は異なる。したがって、制御部30が上記5つの受動素子206、306、406、506、606のうちの3つ以上を選択して対応するスイッチを切替えた場合、信号線路40上を伝送される信号が選択された受動素子のそれぞれで反射された反射信号は、信号線路40上においてその位相がずれて重なる。したがって、これらの反射信号は互いに弱め合うことによりその強度が減衰するので、上記信号の各周波数成分にノイズとして重畳されにくくなる。
なお、遅延線101の5つの受動素子206、306、406、506、606は、信号線路40上に等間隔に配されてもよい。この場合、制御部30が上記5つの受動素子206、306、406、506、606のうちの間隔が互いに異なる3つ以上を選択して対応するスイッチを切替えることにより、信号線路40上を伝送される信号が選択された受動素子のそれぞれで反射された反射信号は、信号線路40上においてその位相がずれて重なる。したがって、これらの反射信号は互いに弱め合うことによりその強度が減衰するので、上記信号の各周波数成分にノイズとして重畳されにくくなる。
また、上記遅延線101において、受動素子206、306、406、506、606が、キャパシタ216、316、416、516、616をそれぞれ個別に切替えるスイッチ226、326、426、526、626を有することにより、例えば受動素子206、306、406、506、606におけるスイッチ226、326、426、526、626だけを遅延線101とは異なる場所に配置することもできる。したがって、試験信号発生装置10における設計の自由度がより大きくなる。なお、上記スイッチ226、326、426、526、626には、例えばトランジスタ、圧電バイモルフスイッチおよびMEMSスイッチが用いられる。
また、遅延線101に配される受動素子206、306、406、506、606には、上記のように、キャパシタ216、316、416、516、616が配される。このように、遅延線101は、キャパシタ216、316、416、516、616と線路抵抗42、43、44、45、46とによって形成されるRC回路201、301、401、501、601によって信号線路40上を伝送される信号を遅延させている。一方、上記遅延線101に例えばトランジスタなどの能動素子を用いた場合、信号線路40上を伝送される信号の信号波形が変化してしまう場合がある。このような信号波形の変化は、遅延線101の性能上好ましくない。したがって、遅延線101は、信号線路40上を伝送される信号の信号波形を変化させずに遅延させることができる。なお、上記遅延線101において、信号線路40上における線路抵抗42、43、44、45、46の位置に例えばコイルなどのインダクタンス素子を配してもよい。この場合、配置するインダクタンス素子のインダクタンスの大きさによって、当該インダクタンス素子とキャパシタ216、316、416、516、616とによって形成されるLC回路によって生じる上記信号の遅延の大きさを変えることができる。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることができることは当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
本発明の一の実施形態に係る試験信号発生装置10の構成を示すブロック図である。 遅延線100の概略上面図である。 図2のA−A'断面の断面図であり、受動素子405に電力が供給されていない状態を示す。 図2のA−A'断面の断面図であり、受動素子405に電力が供給されている状態を示す。 遅延線100の回路構成である。 遅延線100に替わる他の形態である遅延線101の回路構成である。
符号の説明
10 試験信号発生装置、20 デジタル信号発生回路、21 出力端子、30 制御部、40 信号線路、42、43、44、45、46 線路抵抗、50 被試験装置、51 入力端子、100、101 遅延線、110 基板、120 グランド、132、134 誘電体、200、300、400、500、600 RC回路、205、305、405、505、605 受動素子、215、315、415、515、615 可動部、251、256、351、356、451、456、551、556、651、656 給電線、420 支持部材、430 アーム、440 可動電極、450、455 圧電アクチュエータ、201、301、401、501、601 RC回路、206、306、406、506、606 受動素子、216、316、416、516、616 キャパシタ、226、326、426、526、626 スイッチ

Claims (6)

  1. 信号線路と、
    前記信号線路に対して間隔をあけて形成されたグランドと、
    前記信号線路に沿って配された複数の容量素子と
    を備え、
    前記複数の容量素子のそれぞれについて、前記信号線路と前記グランドとの間の結合容量の大きさが個別に切り替えられることにより、前記信号線路上の信号の時間的遅延の大きさを切り替え
    前記複数の容量素子のうち隣り合う一対の容量素子間における前記信号線路の電気長が互いに異なって配される遅延線。
  2. 前記複数の容量素子の相互の間隔がランダムに異なる請求項1に記載の遅延線。
  3. 前記複数の容量素子の各々は、前記信号線路および前記グランドに間隔を開けまたは近接することにより、前記結合容量の大きさを切り替える可動部を有する請求項1または請求項2に記載の遅延線。
  4. 前記複数の容量素子の各々は、前記信号線路および前記グランドのいずれか一方に固定され、他方に近接することによって、前記結合容量の大きさを切り替える可動部を有する請求項1または2に記載の遅延線。
  5. 前記複数の容量素子の各々の一端は前記グランドに接続され、前記複数の容量素子の各々の他端と前記信号線路との間を電気的に開閉するスイッチを更に備える請求項1または請求項2に記載の遅延線。
  6. 信号線路と、
    前記信号線路に対して間隔をあけて形成されたグランドと、
    前記信号線路に沿って等間隔に配された複数の容量素子と、
    前記複数の容量素子に対応して配され、前記信号線路と前記グランドとの間に、前記複数の容量素子のうちの対応する一つを接続するか否かを切り替えることにより、前記信号線路上の信号の時間的遅延の大きさを切り替える複数のスイッチと、
    前記複数の容量素子のうちの3つ以上の容量素子を電気的に接続する場合に、前記3つ以上の容量素子のうちで隣り合う一対の容量素子間における前記信号線路の電気長が互いに異なるべく、前記3つ以上の容量素子を選択して対応するスイッチを切り替える制御部と
    を備える遅延線。
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