JP4913392B2 - アッテネータ - Google Patents

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Description

本発明は制御信号に応じて利得を制御するアッテネータに関し、特にデジタル制御信号によりステップ状に利得を切り替える半導体集積回路化したアッテネータに関する。
近年の平面TV等の機器では、画面の大型化に伴い表示画面の画質に対する要求が厳しくなってきている。そのため、これらの機器は、機器内でアナログビデオ信号をデジタル信号に変換した後に、高画質化のための複雑なフィルタ処理などの信号処理を行っている。
さらに、機器に使用される基板面積を縮小するために、これらの信号処理機能を1つのLSI(Large Scale Integrated circuit)に収めたものが実用化されている。このようなLSIは、アナログビデオ入力信号をデジタル信号に変換するアナログ・デジタル変換器(以後、AD変換器と略す)と主要な信号処理を行うロジック回路を有し、さらに、アナログビデオ入力信号がAD変換器の入力範囲内に収まるようにするためのアナログ信号処理回路を設けている。
このアナログ信号処理回路では、アナログビデオ入力信号波形におけるピーク電位がAD変換器の入力範囲内に納まるようにするため、直流的な動作点を維持するクランプ回路と、過大な信号振幅を適度な値に減衰させるためのアッテネータとを有する。
このアッテネータの利得は、AD変換器から出力されるデジタル化されたビデオ信号の振幅が適度な値となるように制御される必要があるため、AD変換器出力を受けるロジック回路で生成したデジタル制御信号で制御される。従って、このアッテネータは、一般的にデジタル回路とのインターフェースが容易に行えるように、デジタル制御信号入力を持つものが用いられる。特許文献1にこのようなアッテネータの一例が開示されている。
特許文献1に開示される従来例1のアッテネータ100の回路図を図9に示す。図9に示すように、アッテネータ100は、入力端子101、制御入力端子102、出力端子103、入力バッファ110、スイッチ群120、R−2R抵抗ラダー回路130を有している。
入力バッファ110は、出力と反転入力V−を接続して全帰還を掛けた演算増幅器からなるボルテージフォロワで構成され、入力端子101に受けた入力信号を非反転入力V+に受け、インピーダンス変換してスイッチ群120に出力する。
スイッチ群120は、4つのスイッチSW11〜SW14を有している。スイッチSW11〜SW14は、それぞれ端子A、B、Cを有しており、制御入力端子102より入力される制御信号S11〜S14に応じて、端子Aと端子Bのうちいずれか一方が端子Cに接続される。SW11〜SW14の各端子Aと各端子Bは、それぞれ入力バッファ110の出力と接地電位に接続される。
R−2R抵抗ラダー回路130は、抵抗値がRの抵抗R16〜R18と、抵抗値がRの2倍となる2Rの抵抗R11〜R15とを有している。抵抗R15〜R18は、出力端子103と接地電位との間に直列に接続され、直列接続された抵抗R15〜R18のそれぞれの接続点、及び抵抗R18と出力端子との間の接続点には、それぞれ抵抗R11〜R14を介してスイッチSW11〜SW14の端子Cが接続される。
次に、上記構成のアッテネータについての動作について説明する。入力端子101に入力された信号は、入力バッファ110を介して、スイッチSW11〜SW14の各端子Aに共通に与えられる。入力バッファ110は、入力端子101から入力される入力信号を高い入力抵抗で受けるとともに、出力に接続されたスイッチ群120を介して接続されるR−2R抵抗ラダー回路130を駆動する。このように、入力バッファ110は、R−2R抵抗ラダー回路130とアッテネータの入力端子101とが直接接続されないようにすることで、入力端子101の入力抵抗を高いものにしている。
スイッチSW11〜SW14は、それぞれ制御信号S11〜S14が電源電位VDD(以後、ハイレベルと略す)の場合には端子Aと端子Cが接続されて入力バッファの出力が端子Cに出力され、接地電位(以後、ロウレベルと略す)の場合には端子Bと端子Cが接続されて接地電位が端子Cに出力される。これにより、スイッチSW11〜SW14の各端子Cは、S11〜S14がハイレベルである場合には入力端子101に入力された信号を出力するが、ロウレベルの場合には、無信号となる。スイッチSW11、SW12、SW13、SW14のそれぞれの端子Cから抵抗R11、R12、R13、R14に出力された信号が、出力端子103に出力されるまでの信号における利得は、それぞれ1/16[倍]、1/8[倍]、1/4[倍]、1/2[倍]になるので、たとえば、制御信号S11のみがハイレベルであった場合には、入力端子101から出力端子103までの利得は、抵抗R11を介して出力端子103に出力されるまでの利得である1/16[倍]になる。同様に、S12のみ、S13のみ、S14のみがハイレベルのときの利得は、それぞれ抵抗R12、R13、R14を介して出力端子103に出力されるまでの利得である1/8[倍]、1/4[倍]、1/2[倍]になる。
制御信号S11〜S14のハイレベルとロウレベルの任意の組み合わせで得られる利得は、ハイレベルとなっている制御信号が与える利得をすべて加え合わせたものとなる。ここで、制御信号S11、S12、S13、S14それぞれについて、ハイレベルであった場合に"1"およびロウレベルであった場合に"0"となる係数をW1、W2、W3、W4とすると、入力端子101から出力端子103までのアッテネータの利得Gは、(1)式で表すことができる。
G=(8・W4+4・W3+2・W2+W1)/16 [倍] ・・・(1)
(1)式は、アッテネータの利得Gが、制御信号S11、S12、S13、S14がハイレベルであるかロウレベルであるかにより制御されることを示す。つまり、アッテネータ100は、制御入力端子102に与えられた制御信号に応じて、入力端子101から出力端子103までの利得を切り替えることができる。
また、従来例1は、R−2R抵抗ラダー回路に信号を供給する経路に設けたスイッチを切り替えることで利得を切り替えるものであったが、演算増幅器と、入力信号を受ける入力抵抗、及び、演算増幅器に負帰還をかけるための帰還抵抗を備えた反転増幅回路において、入力抵抗と帰還抵抗にタップを備えた直列抵抗回路を用い、この直列抵抗回路のタップを制御信号に応じて選択することにより、この直列抵抗回路の全体から入力抵抗と帰還抵抗に配分する抵抗の値を変えて利得を切り替える技術と、その改良技術として、帰還抵抗は固定抵抗として、入力抵抗の代わりに制御電流により変換利得を制御するバイポーラトランジスタからなる電圧電流変換回路を用い、制御電流を可変することで利得を制御する技術が、それぞれ特許文献2に開示されている。特許文献2に開示されている従来例2のアッテネータ300の回路図を図10に、従来例3のアッテネータ200の回路図を図11に、それぞれ示す。
図10に示すアッテネータ300は、非反転入力が接地電位に接続された演算増幅器310と、入力端子INと出力端子OUTとの間に直列に接続されて直列抵抗回路を成す抵抗R301〜R306とを有する反転増幅回路である。また、抵抗R301〜306のそれぞれの接続点と、演算増幅器310の反転入力との間にはタップスイッチSW301〜SW305がそれぞれ接続されている。
アッテネータ300は、タップ切換制御に応じて、タップスイッチSW301〜SW305のいずれか一つを導通させることにより、抵抗R301〜R306を直列接続した直列抵抗回路の全体から入力抵抗と帰還抵抗に配分する抵抗の値を変えることにより、入力抵抗と帰還抵抗の比で決定される反転増幅回路の利得を変えて、入力端子INから出力端子OUTまでの利得を制御する。例えば、タップスイッチSW301を導通させた場合の入力抵抗と帰還抵抗の値は、それぞれR301とR302+R303+R304+R305+R306で、アッテネータ全体の利得は、-(R302+R303+R304+R305+R306)/R301[倍]になる。また。タップスイッチSW305を導通させた場合の入力抵抗と帰還抵抗の値は、それぞれR301+R302+R303+R304+R305とR306で、アッテネータ全体の利得は、−R306/(R301+R302+R303+R304+R305)[倍]になる。このように、アッテネータ300は、タップ切換制御に応じて、利得を切り替えることができる。
従来例2の改良技術である従来例3のアッテネータ200は、入力端子INを介して受けた入力信号を電流に変換して出力する電圧電流変換回路201と、非反転入力V+を接地するとともに反転入力V−に電圧電流変換回路201の出力電流を受けて出力端子OUTに出力する演算増幅器210と、演算増幅器210の出力と反転入力V−の間に接続した帰還抵抗ROUTを備え、電圧電流変換回路201の変換利得を制御することで、アッテネータ200の利得を制御するものである。アッテネータ200の利得の制御について説明する。
電圧電流変換回路201は、入力抵抗RINと、バイポーラトランジスタQ1、Q2とアクティブロードQ5、Q6及び電流源IAを有する第1の差動増幅器と、バイポーラトランジスタQ3,Q4とアクティブロードQ7、Q8及び電流源IBを有する第2の差動増幅器とを有する。バイポーラトランジスタQ1のベースとコレクタ及びバイポーラトランジスタQ4のベースは、入力抵抗RINを介して、入力端子INに接続され、バイポーラトランジスタQ4のコレクタは、電圧電流変換回路201の出力に接続される。電圧電流変換回路201の変換利得は、電圧電流変換回路201が有する電流源IAとIBの出力電流をそれぞれIA及びIBとすると、その比であるIB/IAになる。電圧電流変換回路の出力電流IOUTは、入力抵抗RINを流れる電流IINにこの変換利得(IB/IA)を乗じた以下の(2)式によって表される。
IOUT=IIN×(IB/IA) ・・・(2)
アッテネータの出力電圧VOUTは、帰還抵抗ROUTと電圧電流変換回路201の出力電流IOUTを用いてVOUT=ROUT×IOUTとなること、及び、アッテネータの入力電圧VINは、電圧電流変換回路201の入力抵抗RINと、入力抵抗RINに流れる入力電流IINを用いてVIN=RIN×IINとなることを用いると、及び、(2)式を用いると、アッテネータ200の利得G2=VOUT/VINは、(3)式によって表すことができる。
G2=(ROUT/RIN)×(IB/IA) ・・・(3)
(3)式より、従来例3のアッテネータ200は、電流源IAとIBの出力電流に応じて、利得を変えることができる。
なお、電圧電流変換回路201の第1の差動増幅器のアクティブロードQ5、Q6は、バイポーラトランジスタQ2のコレクタ電流と等しい電流をQ1のコレクタに供給することで、電流源IAの出力電流の一部が入力抵抗RINを介して入力端子に定常的に流れることによる入力DCオフセット電圧の発生を防止するものである。また、第2の差動増幅器のアクティブロードQ7、Q8は、バイポーラトランジスタQ3のコレクタ電流と等しい電流をQ4のコレクタに供給することで、電流源IBの出力電流の一部が電圧電流変換回路201の出力に定常的に流れることによる出力DCオフセット電流の発生を防止するものである。
特開平5−95239号公報 実開平5−46113号公報
しかしながら、従来例1のアッテネータ100では、高い入力抵抗を得るために、利得の切り変えを行うスイッチ群の前段に全帰還を掛けた演算増幅器からなる入力バッファ110を設けているため、演算増幅器が入力DCオフセット電圧を持つ場合においては、この入力DCオフセットが重畳された入力信号に対して利得の切換が行われるため、出力端子には利得の切換に伴って変動するオフセット電圧が生ずることになる。
また、従来例2のアッテネータ300においても、反転増幅回路に演算増幅器310を使用しているため、演算増幅器310が入力DCオフセット電圧を持つ場合には、そのオフセット電圧がアッテネータ300の有する利得分だけ増幅されて出力されるため、出力端子には利得の切換に伴って変動するオフセット電圧が生ずることになる。
また、従来例2のアッテネータ300、および、従来例3のアッテネータ200では、それぞれにおいては、電圧電流変換回路201内において、第1の差動増幅器をなすバイポーラトランジスタQ1とQ2の間、及び、アクティブロードQ5とQ6の間において特性が完全に一致していない場合には、電流源IAの出力電流の一部が入力抵抗RINを介して入力端子に定常的に流れることで入力DCオフセット電圧を発生し、入力信号に重畳されてしまうので、第2の差動増幅器の電流源IBの出力電流を変えて利得を変えた場合には、出力端子には利得の変化に応じて変動するDCオフセット電圧が出力される。また、第2の差動増幅器をなすバイポーラトランジスタQ3とQ4の間、及び、アクティブロードQ7とQ8の間において特性が完全に一致していない場合には、電流源IBの出力電流の一部が電圧電流変換回路201の出力に定常的に流れることによる出力DCオフセット電流が発生し、その出力DCオフセット電流は利得の変化を行うための電流源IBの変化に応じて変動してしまうため、第2の差動増幅器の電流源IBの出力電流を変えて利得を変えた場合には、出力端子には利得の変化に応じて変動するDCオフセット電圧が出力される。
これらの従来例1、従来例2、及び、従来例3のアッテネータにおいては、利得の切換、または、制御に応じて変動するDCオフセット電圧が出力されてしまうため、利得をデジタル制御信号でステップ状に変化させた場合には、出力端子にはステップ状のノイズを発生してしまう問題があった。
また、従来例2のアッテネータ300、および、従来例3アッテネータ200では、それぞれ入力端子INに入力抵抗が直接接続されていることから入力端子に電流が流れてしまうことが避けられず、そのため、高い入力抵抗を得ることは困難である。従来例1と同様に、入力バッファを追加することにより入力抵抗を高めることは可能ではあるが、その場合は、追加した入力バッファがDCオフセット電圧をさらに入力信号に加えることになるため、出力端子での利得の切換に伴って変動するオフセット電圧の変動がより大きくなり、出力端子に生ずるDCオフセット電圧変動と、それに起因するノイズはさらに大きなものとなる問題があった。
本発明にかかるアッテネータは、制御信号に応じて入力信号と所定の電位とのいずれか一方を出力する複数のスイッチを有するスイッチ群と、前記スイッチの出力受けて所定の出力抵抗値で出力する複数のバッファ回路を備えたバッファ回路群と、前記所定の出力抵抗値に実質的に等しい又は1/2倍である抵抗値を有する2種類の負荷回路からなる直列回路において前記バッファ回路の出力を受ける負荷回路の接続点(タップ)を設けた負荷回路群とを、有するものである。
本発明のアッテネータによれば、バッファ回路がスイッチ群の後段に設けられており、バッファ回路の出力から出力端子に至る経路には利得の切換を行うものは設けていない。そのため、従来のアッテネータでは、スイッチ群の前段に設けた入力バッファのオフセット電圧がスイッチで切り替えられて生じた電位変動によりノイズが発生していたのに対して、本発明のアッテネータは、スイッチを切り替えた場合であっても、出力端子には、電位の変動によって生ずるノイズは発生しない。
本発明のアッテネータによれば、利得を変化させた場合において、出力DCオフセット電圧の変動、及び、それに起因するノイズの発生を、無くすことができる。
実施の形態1
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図1に実施の形態1にかかるアッテネータ1の回路図を示す。
アッテネータ1は、入力端子10、制御入力端子11、スイッチ群20、バッファ回路群30、負荷回路群40を有している。入力端子10は、所定の振幅を有する入力信号が入力される。制御入力端子11は、スイッチ群20の状態を制御する制御信号S1〜S4が入力される。出力端子12は、本実施の形態の出力端子であり、入力信号を制御信号に応じた利得で増幅して、出力する。
スイッチ群20は、端子A、B、Cを備えたスイッチSW1〜4を有する。スイッチSW1〜4は、それぞれ、制御信号S1〜S4に応じて、端子Aまたは端子Bに入力された信号のどちらか一方を選択して端子Cに出力する。本実施の形態では、端子Aは、入力端子10を介して入力信号が入力され、端子Bは、所定の電位(接地電位)に接続されている。また、スイッチは制御信号がハイレベルの場合に端子Aを選択し、ロウレベルの場合に端子Bを選択して入力信号又は所定の電位のいずれか一方を出力する。スイッチの詳細な回路については後述する。
バッファ回路群30は、スイッチSW1〜4からの出力信号を所定の出力抵抗で出力する複数のバッファ回路31〜34を有している。本実施の形態では、バッファ回路31〜34は、差動型トランスコンダクタンス増幅器OTA1〜4を有する。差動型トランスコンダクタンス増幅器OTA1〜4は、反転入力端子I−、非反転入力端子I+、反転出力端子O−、非反転入力端子O+を有し、非反転入力端子I+はバッファ回路31〜34の入力とされ、反転出力端子O−は所定の電位である第1の電位(例えば、接地電位)に接続され、非反転出力端子O+はそれぞれの反転入力端子I−に接続されて負帰還をかけるとともに、バッファ回路31〜34の出力として取り出される。なお、以上のような差動型トランスコンダクタンス増幅器OTA1〜4の各端子の接続形式は、簡単のため、以下、第1の接続形式と省略して記す。バッファ回路31〜34の入力は、それぞれ対応するスイッチSW1〜4の端子Cに接続され、バッファ回路31〜34の出力は、負荷回路群40に出力される。差動型トランスコンダクタンス増幅器OTA1〜4の回路の詳細は、後述する。
負荷回路群40は、バッファ回路31〜34の所定の出力抵抗に対して実質的に半分の抵抗値を有する第1の負荷回路と、バッファ回路の出力抵抗と実質的に同じ抵抗値を有する第2の負荷回路とを有している。本実施の形態においては、第1の負荷回路として負荷回路42〜44を用い、第2の負荷回路として負荷回路41を用いる。負荷回路41〜44は、それぞれ負帰還接続されたOTAを負荷として利用している。また、この負荷回路41〜44は、出力端子12と接地電位との間に直列に接続されている。直列接続された負荷回路のそれぞれの接続点には対応するバッファ回路の出力が接続されている。本実施の形態では、接地電位から出力端子12に向かって、負荷回路41〜44が縦続接続されており、接地電位と負荷回路41との接続点を除く他の接続点には、それぞれバッファ回路31〜34の出力が接続される。
本実施の形態では、負荷回路41は差動型トランスコンダクタンス増幅器OTA5を、負荷回路42は差動型トランスコンダクタンス増幅器OTA6と7を、負荷回路43は差動型トランスコンダクタンス増幅器OTA8と9を、負荷回路44は差動型トランスコンダクタンス増幅器10と11をそれぞれ有しており、負荷回路42〜44がそれぞれ有する2個の差動型トランスコンダクタンス増幅器は並列に接続されている。差動型トランスコンダクタンス増幅器OTA5〜11は、非反転入力端子I+と反転出力端子O−と接続され、反転入力端子I−と非反転出力端子O+とが接続される。なお、以上のような差動型トランスコンダクタンス増幅器OTA5〜11の各端子の接続形式は、簡単のため、以下、第2の接続形式と省略して記す。
負荷回路42〜44が有する2個の差動型トランスコンダクタンス増幅器において、2個の非反転入力端子I+は2個の反転出力端子O−とともに接続されて負荷回路の入力となり、また、2個の反転入力端子I−と2個の非反転出力端子O+とともに接続されて負荷回路の出力となる。負荷回路44、43、42、の入力は、それぞれ負荷回路43、42,41の出力に接続される。
負荷回路41が有する差動型トランスコンダクタンス増幅器においては、非反転入力端子I+は反転出力端子O−とともに接続されて負荷回路の入力となり、また、反転入力端子I−は非反転出力端子O+とともに接続されて負荷回路の出力となる。負荷回路41の入力は接地電位に接続され、出力は負荷回路42の入力に接続される。
ここで、スイッチの回路について詳細に説明する。スイッチの回路図を図2に示す。図2に示すように、スイッチは、端子A、B、C、制御信号入力端子S、インバータINV1、INV2、トランスファゲートTG1、TG2を有している。
インバータINV1は、第2の電位(例えば、電源電位VDD)と接地電位VSSとの間に直列に接続されたNMOSトランジスタM15とPMOSトランジスタM16とを有している。NMOSトランジスタM15のゲートとPMOSトランジスタM16のゲートとは互いに接続され、制御信号入力端子Sから入力される制御信号を反転した信号を出力する。また、INV2は、電源電位VDDと接地電位VSSとの間に直列に接続されたNMOSトランジスタM17とPMOSトランジスタM18とを有している。NMOSトランジスタM17のゲートとPMOSトランジスタM18のゲートとは互いに接続され、INV1から入力される信号を反転した信号を出力する。
トランスファゲートTG1は、NMOSトランジスタM11とPMOSトランジスタM12とを有しており、NMOSトランジスタM11のソースとPMOSトランジスタM12のドレインとが端子Aに接続され、NMOSトランジスタM11のドレインとPMOSトランジスタM12のソースとが端子Cに接続されている。また、NMOSトランジスタM11のゲートは、インバータINV2の出力に接続され、PMOSトランジスタM12のゲートは、インバータINV1の出力に接続されている。このような接続により、トランスファゲートTG1は、制御信号がロウレベルである場合に非導通状態となり、ハイレベルである場合に導通状態となる。
トランスファゲートTG2は、NMOSトランジスタM13とPMOSトランジスタM14とを有しており、NMOSトランジスタM13のソースとPMOSトランジスタM14のドレインとが端子Bに接続され、NMOSトランジスタM13のドレインとPMOSトランジスタM14のソースとが端子Cに接続されている。また、NMOSトランジスタM13のゲートは、インバータINV1の出力に接続され、PMOSトランジスタM14のゲートは、インバータINV2の出力に接続されている。このような接続により、トランスファゲートTG2は、制御信号がロウレベルである場合に導通状態となり、ハイレベルである場合に非導通状態となる。
上記説明より、スイッチは、制御信号がロウレベルである場合は端子Bの信号を端子Cに出力し、ハイレベルである場合は端子Aの信号を端子Cに出力する。
次に、差動型トランスコンダクタンス増幅器OTA1〜11の内部回路について詳細に説明する。差動型トランスコンダクタンス増幅器OTA1〜11の内部回路を図3に示す。図3に示すように、差動型トランスコンダクタンス増幅器50はPMOSトランジスタ51、52、電流源53〜55を有している。PMOSトランジスタ51、52は、ソースが共通接続され、差動対を構成している。PMOSトランジスタ51のゲートには、非反転入力端子I+が接続され、ドレインと接地電位VSSとの間には第1の電流源(電流源53)が接続されている。電流源53とPMOSトランジスタ51のドレインとの接続点は反転出力端子O−が接続されている。PMOSトランジスタ52のゲートには、反転入力端子I−が接続され、ドレインと接地電位VSSとの間には第2の電流源(電流源54)が接続されている。電流源54とPMOSトランジスタ52のドレインとの接続点は非反転出力端子O+が接続されている。また、PMOSトランジスタ51、52のソースの接続点と電源電位VDDとの間には電流源55が接続されている。ここで、電流源53〜55が出力する電流をそれぞれI53〜I55とすると、各電流は、I55/2=I53=I54となる関係を有している。
次に、差動型トランスコンダクタンス増幅器50の動作について説明する。差動型トランスコンダクタンス増幅器50において、反転入力端子I−の電圧に対する非反転入力端子I+の電圧の差電圧をvinとした場合、PMOSトランジスタ51、52は、PMOSトランジスタ51、52によって構成される差動対が有するトランスコンダクタンスgmに比例したドレイン電流を流す。トランスコンダクタンスgmは、PMOSトランジスタ51と52とのソース抵抗の和の逆数である。また、PMOSトランジスタ51のドレイン電流(例えば、第1のドレイン電流)は、(I55/2−gm・vin)となり、PMOSトランジスタ52のドレイン電流(例えば、第2のドレイン電流)は、(I55/2+gm・vin)となる。差動型トランスコンダクタンス増幅器50は、このドレイン電流と電流I53、I54との差に基づき、反転出力端子O−から(I55/2−gm・vin)−I53=−gm・vinとなる電流を出力し、非反転出力端子O+から(I55/2+gm・vin)−I54=gm・vinとなる電流を出力する。ここで、電流の極性は、各端子より流れ出す方向を正とする。
このことより、反転出力端子O−を接地電位に接続し、非反転出力端子O+と反転入力端子I−とを接続した負帰還接続のバッファ回路に差動型トランスコンダクタンス増幅器50を用いた場合、バッファ回路は、入力電圧と出力電圧との差電圧がvinであった場合に、gm・vinとなる電流を出力する素子であることがわかる。つまり、バッファ回路は、入力端子と出力端子の電位差とその電位差に対して流れる電流との関係から、1/gmの抵抗値の出力抵抗を有する素子と見なすことが可能である。ここで、OTA50の入力端子は、PMOSトランジスタのゲートとなるため、入力端子から電流が流入することはない。つまり、バッファ回路31〜34は、それぞれ入力抵抗が無限大であって、入力電圧を電圧利得が1倍、かつ、出力抵抗が0Ωとなるボルテージフォロワの出力に1/gmの抵抗値の出力抵抗を直列に接続した回路として等価的に表すことができる。
また、反転出力端子O−と非反転入力端子I+とを接続し、非反転出力端子O+と反転入力端子I−とを接続した負帰還接続の負荷回路に差動型トランスコンダクタンス増幅器50を用いた場合、負荷回路は、入力電圧と出力電圧との差電圧がvinであった場合に、非反転出力端子O+からgm・vinとなる電流が流入し、反転出力端子O−からgm・vinとなる電流が流出する素子であることがわかる。つまり、負荷回路は、入力端子と出力端子の電位差とその電位差に対して流れる電流との関係から、1/gmの抵抗値を有する抵抗素子と見なすことが可能である。以上から、負荷回路41は、1/gmの抵抗値を有する抵抗として等価的に表すことができる。また、負荷回路42〜44は、反転出力端子O−と非反転入力端子I+とを接続し、非反転出力端子O+と反転入力端子I−とを接続した2つの差動型トランスコンダクタンス増幅器50を並列に接続したものであるため、1/gmの抵抗値を有する2本の抵抗を並列にしたものとして等価的に表すことができ、その抵抗値は1/(2・gm)となる。
ここで、図1に示すアッテネータ1のバッファ回路31〜34と負荷回路41〜44とを等価回路に置き換えた回路図を図4に示す。図4に示すように、バッファ回路31〜34は、それぞれボルテージフォロワVF1〜VF4と抵抗値が2Rとなる抵抗R1〜R4とがそれぞれ直列に接続された回路として表される。負荷回路41は抵抗値が2Rである抵抗として、また、負荷回路42〜44は、それぞれ抵抗値がRとなる抵抗R6〜R8によって表すことができる。なお、ここでは、説明を簡単にするため、抵抗値1/(2・gm)を抵抗値Rに置き換えている。図4に示す回路図より、本実施の形態のアッテネータがR−2R抵抗ラダー方式の回路であることがわかる。さらに、本実施の形態のアッテネータは、入力端子10とスイッチ群20との間に入力バッファがなく、スイッチSW1〜SW4の出力端子となる端子Cに入力バッファとなるボルテージフォロワが接続されている。
次に、実施の形態1にかかるアッテネータ1の動作について説明する。アッテネータ1は、制御入力端子11から入力される制御信号S1〜S4に基づいてスイッチ群20のスイッチSW1〜SW4をそれぞれ制御する。これによって、スイッチ群20に接続されるバッファ回路31〜34と負荷回路41〜44との組み合わせを変更して入力信号に対して所定の利得を有する出力信号を出力端子より出力する。
バッファ回路31〜34の入力から出力端子12までの利得は、それぞれ1/16[倍]、1/8[倍]、1/4[倍]、1/2[倍]なので、例えば、制御信号S1のみがハイレベルであった場合、入力端子10から出力端子12までの利得は、スイッチSW1、バッファ回路31を経由する経路によって得られる利得である1/16[倍]となる。同様に、S2のみ、S3のみ、S4のみがハイレベルのときの利得は、それぞれバッファ回路32〜34を介して入力を与えた場合の利得である1/8[倍]、1/4[倍]、1/2[倍]となる。
制御信号S1〜S4のハイレベルとロウレベルの任意の組み合わせで得られる利得は、ハイレベルとなっている制御信号が与える利得をすべて加え合わせたものとなる。ここで、制御信号S1、S2、S3、S4それぞれについて、ハイレベルであった場合に"1"およびロウレベルであった場合に"0"となる係数を、W1、W2、W3、W4とすると、入力端子10から出力端子12までのアッテネータの利得Gは、(4)式で表すことができる。
G=(8・W4+4・W3+2・W2+W1)/16[倍] ・・・(4)
(4)式より、アッテネータ1は、制御入力端子11に与えられた制御信号に応じて、入力端子10から出力端子12までの利得を切り替えられることがわかる。
上記説明より、実施の形態1にかかるアッテネータ1は、差動型トランスコンダクタンス増幅器を用いたバッファ回路群30と負荷回路群40とによって、抵抗値が1/gmの抵抗と抵抗値が1/(2・gm)の抵抗とを実現して、R−2R抵抗ラダー方式で入力信号に対して所定の利得を有する出力信号を生成する。また、バッファ回路31〜34は、入力抵抗が無限大であって、電圧利得が1倍、かつ、出力抵抗が0Ωとなるボルテージフォロワとボルテージフォロワの出力に直列に接続される抵抗値が1/gmの抵抗として等価回路で表すことができる。これによって、スイッチ群20の後段にバッファ回路群30が高い入力抵抗を有することが可能になり、入力バッファを入力端子10とスイッチ群20との間に設けることなく、スイッチ群20を直接入力端子10に接続することが可能である。
また、従来のアッテネータでは、利得切換を行う回路の前段に演算増幅器などのDCオフセット電圧を発生する回路ブロックを配置していたことで、利得切換を行う回路にこのDCオフセット電圧が入力されてしまい、利得の切換を行う時にノイズを発生させていた。これに対して、実施の形態1にかかるアッテネータ1は、利得の切換を行うスイッチ群20の入力は入力端子10に直結できるため、DCオフセット電圧を発生するものが入力端子10とスイッチ群20の間に存在せず、ノイズの原因となるDCオフセット電圧がスイッチ群20に加わらないので、利得切換を行う時のノイズの発生を無くすことができる。
本発明にかかるアッテネータ1は、バッファ回路31〜34と負荷回路41〜44とを同一構成の差動型トランスコンダクタンス増幅器を用いて構成している。そのため、同一構成の差動型トランスコンダクタンス増幅器によって生成される抵抗値を良く揃えることができるため、比較的精度の高い抵抗比を実現することが可能である。
そのため、回路に高精度の抵抗素子を必要としない。つまり、製造工程において、高精度の抵抗素子を半導体基板上に形成する必要がないため、その抵抗を形成するための工程を省くことができ、製造工程を簡略化することが可能である。
実施の形態2
実施の形態1にかかるアッテネータ1は、抵抗値が1/gmの出力抵抗を有するバッファ回路と抵抗値が1/gmあるいは1/(2・gm)の負荷回路とによってR−2R抵抗ラダー方式の回路を実現するものである。これに対して、実施の形態2にかかるアッテネータ2は、抵抗値が2/gmの出力抵抗を有するバッファ回路と抵抗値が1/gmの抵抗とによってR−2R抵抗ラダー方式の回路を実現するものである。実施の形態2にかかるアッテネータ2を図5に示す。実施の形態1と同様のブロックについては同一の符号を付して説明を省略する。
図5に示すように、実施の形態2にかかるアッテネータ2は、実施の形態1にかかるアッテネータ1のバッファ回路群30と負荷回路群40をバッファ回路群30´と負荷回路群40´に置き換えたものである。
バッファ回路群30´は、実施の形態1にかかるアッテネータ1のバッファ回路群30が有するバッファ回路31〜34を順にバッファ回路31´〜34´に置き換えたものである。バッファ回路31´〜34´は、それぞれ反転出力端子O−が第1の電位(例えば、接地電位)に接続され、反転入力端子I−と非反転出力端子O+とが接続される第1の接続形式で各端子が接続された差動型トランスコンダクタンス増幅器(例えば、OTA12〜15)と、反転出力端子O−と非反転入力端子I+とが接続され、非反転出力端子O+と反転入力端子I−とが接続される第2の接続形式で各端子が接続された差動型トランスコンダクタンス増幅器(例えば、OTA16〜19)とを有している。ここで、OTA12〜15は、それぞれ非反転入力端子I+がスイッチ群20の対応するスイッチの端子Cに接続されており、非反転出力端子O+が出力となっている。また、差動型トランスコンダクタンス増幅器OTA16〜19の非反転入力端子I+はそれぞれ差動型トランスコンダクタンス増幅器OTA12〜15の非反転出力端子O+に接続され、差動型トランスコンダクタンス増幅器OTA16〜19の非反転出力端子はそれぞれバッファ31´〜34´の出力として負荷回路群40´に出力される。
バッファ回路31´〜34´における各差動型トランスコンダクタンス増幅器の接続より、バッファ回路31´〜34´は、それぞれ入力抵抗が無限大であって、電圧利得が1倍、かつ、出力抵抗が0Ωとなるボルテージフォロワとボルテージフォロワの出力に直列に接続される抵抗値が1/gmの出力抵抗と、さらに、この出力抵抗に直列に接続された抵抗値が1/gmの抵抗を有する等価回路で表すことができる。つまり、バッファ回路31´〜34´は、それぞれ入力抵抗が無限大であって、電圧利得が1倍、かつ、出力抵抗が0Ωとなるボルテージフォロワとボルテージフォロワの出力に直列に接続される抵抗値が2/gmの出力抵抗とを有する等価回路で表すことができる。これは、実施の形態1におけるバッファ回路31〜34の等価回路において、出力抵抗の値1/gmを、その2[倍]の値である2/gmに置き換えたものと同じである。
また、負荷回路群40´は、実施の形態1にかかるアッテネータ1の負荷回路群40が有する負荷回路41〜44を順に負荷回路41´〜44´に置き換えたものである。
負荷回路41´は、反転出力端子O−と非反転入力端子I+とが接続され、非反転出力端子O+と反転入力端子I−とが接続される第2の接続形式で各端子が接続された差動型トランスコンダクタンス増幅器OTA20、21が直列に接続されている。このことから、負荷回路41´は、2/gmの抵抗値を有する抵抗として等価回路で表すことができる。これは、実施の形態1における負荷回路41の等価回路の抵抗の値である1/gmを、その2[倍]の値である2/gmに置き換えたものと同じである。
負荷回路42´〜44´は、それぞれ反転出力端子O−と非反転入力端子I+とが接続され、非反転出力端子O+と反転入力端子I−とが接続される第2の接続形式で各端子が接続された差動型トランスコンダクタンス増幅器(例えば、OTA22〜24)を有しており、このことから、負荷回路42´〜44´は、1/gmの抵抗値を有する抵抗として等価回路で表すことができる。これは、実施の形態1における負荷回路42〜44の等価回路の抵抗の値である1/(2・gm)を、その2倍の値である1/gmに置き換えたものと同じである。
以上の説明から、実施の形態2におけるアッテネータ2は、等価回路上は、図4に示す実施の形態1のアッテネータ1の等価回路における抵抗の値R(=1/(2・gm))と2R(=1/gm)を、それぞれ一律2Rおよび4Rに変えただけのものであり、抵抗の接続は、実施の形態1のアッテネータ1と同じR−2R抵抗ラダー方式の回路形式を保っている。このことから、実施の形態2にかかるアッテネータ2は、実施の形態1にかかるアッテネータ1と同様に、R−2R抵抗ラダー方式のアッテネータとして動作し、その利得Gは、実施の形態1にかかるアッテネータ1と同じく、G=(8・W4+4・W3+2・W2+W1)/16[倍]と表される。
一方、実施の形態1にかかるアッテネータ1と実施の形態2にかかるアッテネータ2とでは、バッファ回路と負荷回路で用いる差動型トランスコンダクタンス増幅器の接続が異なることで、実施の形態2で使用する差動形トランスコンダクタンス増幅器の非反転入力端子I+と反転入力端子I−の間に印加される信号の振幅は、実施の形態1で使用した場合と比較して小さくすることができる。これにより、アッテネータの入力端子で受け付けることができる入力信号振幅の最大値を、実施の形態1にかかるアッテネータの2[倍]に拡大することができる。以下、詳細に説明する。
図6に実施の形態1にかかるアッテネータ1における各差動型トランスコンダクタンス増幅器の非反転入力端子I+と反転入力端子I−との間に入力される信号の振幅を示す。図6に示す数値は、入力信号の振幅を1とした場合に、各差動型トランスコンダクタンス増幅器の非反転入力端子I+と反転入力端子I−との間に入力される信号の振幅の大きさである。また、制御信号S1〜S4の状態によっても、この振幅は変化するため、図6では信号の状態も示してある。図6より、実施の形態1にかかるアッテネータ1の差動型トランスコンダクタンス増幅器の入力端子間に入力される信号の最大振幅は、入力信号に対して170/256[倍]であることがわかる。
また、図7に実施の形態2にかかるアッテネータ2における各差動型トランスコンダクタンス増幅器の非反転入力端子I+と反転入力端子I−との間に入力される信号の振幅を示す。図7に示す数値は、図6の場合と同様に、入力信号の振幅を256とした場合に、各差動型トランスコンダクタンス増幅器の非反転入力端子I+と反転入力端子I−との間に入力される信号の振幅の大きさである。また、制御信号S1〜S4の状態によっても、この振幅は変化するため、図7においても図6と同様に信号の状態を示してある。図7より、実施の形態1にかかるアッテネータ1の差動型トランスコンダクタンス増幅器の入力端子間に入力される信号の最大振幅は、入力信号に対して85/256[倍]であることがわかる。
上記説明より、実施の形態1と実施の形態2とで同じ入力信号電圧の範囲(入力レンジ)を有する差動型トランスコンダクタンス増幅器を用いた場合、実施の形態1のアッテネータ1は、許容できる入力信号電圧の範囲が差動型トランスコンダクタンス増幅器の入力信号電圧の範囲に対して256/170[倍]であるのに対して、実施の形態2のアッテネータ2は、差動型トランスコンダクタンス増幅器の入力信号電圧の範囲に対して256/85[倍]である。つまり、実施の形態2のアッテネータ2は、実施の形態1のアッテネータ1と比較して、(256/85)÷(256/170)=2[倍]の入力信号電圧を入力端子10で受けることが可能である。
実施の形態3
実施の形態3にかかる差動型トランスコンダクタンス増幅器60の回路図を図8に示す。実施の形態3にかかるアッテネータは、実施の形態1にかかるアッテネータ1で用いていた図3に示す差動型トランスコンダクタンス増幅器50を図8に示す差動型トランスコンダクタンス増幅器60に置き換えたものである。したがって、ここでは、差動型トランスコンダクタンス増幅器60の回路について詳細に説明を行い、アッテネータについての説明は省略する。
図8に示すように、実施の形態3にかかる差動型トランスコンダクタンス増幅器60は、PMOSトランジスタ61、62、インピーダンス素子63、電流源64〜67、非反転入力端子I+、反転入力端子I−、非反転出力端子O+、反転出力端子O−を有している。PMOSトランジスタ61、62によって差動対が構成されており、PMOSトランジスタ61、62の各ソースはインピーダンス素子63を介して接続されている。インピーダンス素子63は、本実施の形態ではPMOSトランジスタ63a、63bを有している。PMOSトランジスタ63aは、ソースがPMOSトランジスタ62のソースに接続されており、ドレインがPMOSトランジスタ61のソースに接続されている。PMOSトランジスタ63bは、ソースがPMOSトランジスタ61のソースに接続されており、ドレインがPMOSトランジスタ62のソースに接続されている。また、PMOSトランジスタ61のソースと電源電位VDDとの間には電流源66が接続されており、PMOSトランジスタ62のソースと電源電位VDDとの間には電流源67が接続されている。さらに、PMOSトランジスタ61のドレインと接地電位VSSとの間には第1の電流源(例えば、電流源64)が接続され、PMOSトランジスタ62のドレインと接地電位VSSとの間には第2の電流源(例えば、電流源65)が接続されている。
非反転入力端子I+は、PMOSトランジスタ61とPMOSトランジスタ63bとのゲートにそれぞれに接続されている。反転入力端子I−は、PMOSトランジスタ62とPMOSトランジスタ63aとのゲートにそれぞれ接続されている。反転出力端子O−は、PMOSトランジスタ61のドレインと電流源64との接続点に接続されており、非反転出力端子O+は、PMOSトランジスタ62と電流源65との接続点に接続されている。ここで、電流源64〜67は、同じ電流値の電流Iを出力する回路である。
次に、動作について説明する。差動型トランスコンダクタンス増幅器60の反転入力端子I−を基準とした非反転入力端子の入力信号電圧vinは、PMOSトランジスタ61、62のゲート間に印加される。PMOSトランジスタ61、62のゲート間に印加された入力信号電圧は、PMOSトランジスタ61のソース抵抗、インピーダンス素子63、及びPMOSトランジスタ62のソース抵抗からなる直列抵抗回路に印加され、その直列抵抗回路の抵抗値に反比例した電流に変換される。この直列抵抗回路の抵抗値の逆数をgmとすると、入力信号電圧が変換された電流の値は、gm・vinとなる。PMOSトランジスタ61、62のドレインに流れる電流(例えば、第1のドレイン電流及び第2のドレイン電流)は、入力信号電圧が変換された電流と、PMOSトランジスタ61、62のソースに接続された電流源66、67の出力電流Iを加え合わせたものとなるので、それぞれ、I−gm・vinとI+gm・vinとなり、さらに、電流源64、65の出力電流と加え合わせてそれぞれ反転出力端子O−と非反転出力端子O+に出力される。ここで、電流源64、65の出力電流は、PMOSトランジスタ61、62それぞれのドレイン電流I−gm×vinとI+gm×vinそれぞれに含まれる電流源66、67の出力電流Iを打ち消すように加算されるので、反転出力端子O−と非反転出力端子O+の出力電流は、それぞれ入力電圧が変換された電流−gm・vin、及び、gm・vinになる。つまり、差動型トランスコンダクタンス増幅器60は、非反転入力端子I+と反転入力端子I−間に受けた入力信号電圧vinを、内蔵のPMOSトランジスタ61、62のソース抵抗と、内蔵のインピーダンス素子63の抵抗の和の逆数で決定されるトランスコンダクタンスgmに比例した電流に変換して、非反転出力端子O+および反転出力端子O−からgm・vin及び−gm・vinの値の電流に変換して出力する。
一方、実施の形態3にかかるアッテネータにおいては、実施の形態1と比較して、アッテネータの入力信号電圧の範囲を拡大することができるので、以下、詳細に説明する。
実施の形態1における差動型トランスコンダクタンス増幅器50で差動対を成すPMOSトランジスタ51と52のソース抵抗の和は、入力信号電圧に依存して変化するので、その逆数であるトランスコンダクタンスも入力信号電圧に依存して変化する。このため、差動型トランスコンダクタンス増幅器50をアッテネータ1に用いた実施の形態1においては、差動型トランスコンダクタンス増幅器50を用いて等価的に構成したR−2R抵抗ラダー回路の抵抗の値が入力信号電圧に依存して変化するため、アッテネータ1の出力信号電圧にはひずみ成分が含まれる。このため、実施の形態1において許容できる入力信号電圧の範囲は、この出力信号電圧に含まれるひずみ成分の量が許容できる範囲に限定される。一方、実施の形態3における差動型トランスコンダクタンス増幅器60のトランスコンダクタンスは、実施の形態1における差動型トランスコンダクタンス増幅器50の差動対と同様の差動対を成すPMOSトランジスタ61と62に加えて、さらに、PMOSトランジスタ61と62のソース間に接続したインピーダンス素子63を有しているので、そのトランスコンダクタンスは、PMOSトランジスタ61と62のソース抵抗の和にインピーダンス素子63の抵抗を加えたものの逆数となっている。ここで、入力信号電圧の変化に対して、PMOSトランジスタ61と62のソース抵抗の和は、入力信号電圧が0の時に最小で、入力信号電圧の絶対値の増加に伴い増加するよう変化するのに対して、インピーダンス素子63の抵抗は、入力信号電圧が0の時に最大で、入力信号電圧の絶対値の増加に伴い減少するように設定されているので、差動型トランスコンダクタンス60のトランスコンダクタンスの入力信号電圧に対する変化は、インピーダンス素子63が無い差動型トランスコンダクタンス増幅器50と比較して、小さくすることができる。これにより、同一の入力信号電圧を受けた場合において、差動型トランスコンダクタンス増幅器60を用いた本実施の形態3では、実施の形態1と比較して、出力信号電圧に含まれるひずみ成分の量を低減することができ、また、出力信号電圧に含まれるひずみ成分の量が実施の形態1と同じでよい場合は、入力信号電圧の範囲をさらに拡大することが可能である。
以上においては、実施の形態3にかかるアッテネータは、実施の形態1にかかるアッテネータ1で用いていた図3に示す差動型トランスコンダクタンス増幅器50を図8に示す差動型トランスコンダクタンス増幅器60に置き換えたものであるが、同様に、実施の形態2にかかるアッテネータ2において、差動型トランスコンダクタンス増幅器50を差動型トランスコンダクタンス増幅器60に置き換えることも可能であり、それにより、実施の形態3にかかるアッテネータよりも受け付けられる入力信号電圧の範囲をさらに大きなものにすることが可能である。
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、適宜変形することが可能である。例えば、PMOSトランジスタによる差動対を有する差動型トランスコンダクタンス増幅器に代えて、NMOSトランジスタによる差動対を有する差動型トランスコンダクタンス増幅器を用いることで本発明を実現することも可能である。また、上記実施の形態においては、4個のスイッチと、4個のバッファ回路と、4個の負荷回路を有する回路について説明したが、スイッチ、バッファ回路、負荷回路の数は、適宜変更することが可能である。
実施の形態1にかかるアッテネータの回路図である。 実施の形態1にかかるスイッチの回路図である。 実施の形態1にかかるOTAの回路図である。 実施の形態1にかかるアッテネータの等価回路図である。 実施の形態2にかかるアッテネータの回路図である。 実施の形態1にかかるOTAの入力端子にかかる信号の振幅を示す表である。 実施の形態2にかかるOTAの入力端子にかかる信号の振幅を示す表である。 実施の形態3にかかるOTAの回路図である。 従来例1のアッテネータの回路図である。 従来例3のアッテネータの回路図である。 従来例2のアッテネータの回路図である。
符号の説明
1 アッテネータ
2 アッテネータ
10 入力端子
11 制御入力端子
12 出力端子
20 スイッチ群
30、30´ バッファ回路群
31〜34、31〜34´ バッファ回路
40、40´ 負荷回路群
41〜44、41´〜44´ 負荷回路
50、60 OTA
51、52、61、62、63a、63b PMOSトランジスタ
53〜55、64〜67 電流源
63 インピーダンス素子
M11〜M18 MOSトランジスタ
R11〜R18 抵抗
SW1〜SW4 スイッチ
TG1、TG2 トランスファゲート
INV1、INV2 インバータ
VF1〜VF4 ボルテージフォロワ

Claims (6)

  1. 制御信号に応じて入力信号と所定の電位とのいずれか一方を出力する複数のスイッチを有するスイッチ群と、
    非反転入力端子が対応する前記スイッチに接続され、反転出力端子が第1の電位に接続され、反転入力端子と非反転出力端子とが接続される第1の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器を有するバッファ回路群と、
    非反転入力端子と反転出力端子とが接続され、反転入力端子と非反転出力端子とが接続されると共に、当該非反転出力端子と当該反転入力端子とが前記第1の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器の前記非反転出力端子に接続される第2の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器を有し、並列に接続された2つの前記第2の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器を有する第1の負荷回路と、1つの前記第2の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器を有する第2の負荷回路とを縦続接続した負荷回路群と、
    を有するアッテネータ。
  2. 前記第1の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器により生成される等価抵抗と前記第2の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器により生成される等価抵抗とによりラダー抵抗網を構成することを特徴とする請求項1記載のアッテネータ。
  3. 制御信号に応じて入力信号と所定の電位とのいずれか一方を出力する複数のスイッチを有するスイッチ群と、
    非反転入力端子が対応する前記スイッチに接続され、反転出力端子が第1の電位に接続され、反転入力端子と非反転出力端子とが接続される第1の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器と、前記非反転入力端子と反転出力端子とが接続され、反転入力端子と非反転出力端子とが接続される第2の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器とが縦続接続されるバッファ回路群と、
    非反転出力端子及び反転入力端子が、前記バッファ回路群が含む前記第2の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器の前記非反転出力端子と接続される前記第2の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器を有する第1の負荷回路と、非反転出力端子及び反転入力端子が、前記バッファ回路群が含む前記第2の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器の前記非反転出力端子と接続される前記第2の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器及びこれと直列に接続された前記第2の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器を有する第2の負荷回路とが縦続接続されている負荷回路群と、
    を有するアッテネータ。
  4. 前記第1、第2の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器は、それぞれ差動対を構成する第1、第2のトランジスタと、前記第1、第2のトランジスタのドレインにそれぞれ接続され、実質的に等しい電流を出力する第1、第2の電流源とを有し、
    前記第1、第2のトランジスタは、それぞれ前記第1、第2のトランジスタのゲートに入力される信号の電位差と前記差動対のトランスコンダクタンスとの積に基づき第1、第2のドレイン電流を生成し、反転出力端子から前記第1の電流源が生成する電流と前記第1のドレイン電流との差分電流を流入し、非反転出力端子から前記第2の電流源が生成する電流と前記第2のドレイン電流との差分電流を流出することを特徴とする請求項1又は3に記載のアッテネータ。
  5. 前記第1、第2の接続形式の差動型トランスコンダクタンス増幅器は、さらに前記第1、第2のトランジスタのソース間に接続されるインピーダンス素子が接続されることを特徴とする請求項4に記載のアッテネータ。
  6. 前記インピーダンス素子は、ドレインが前記第1のトランジスタのソースに接続され、ソースが前記第2のトランジスタのソースに接続され、ゲートが非反転入力端子に接続される第3のトランジスタと、ソースが前記第1のトランジスタのソースに接続され、ドレインが前記第2のトランジスタのソースに接続され、ゲートが反転入力端子に接続される第4のトランジスタとを有することを特徴とする請求項5に記載のアッテネータ。
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