JP4908649B2 - 記録装置およびヘッド突出量制御方法 - Google Patents

Description

本発明の実施形態は、記録装置およびヘッド突出量制御方法に関する。

従来、磁気ディスク装置に代表される記憶装置においては、高記録密度を実現するため磁気ディスク等の記録媒体の記録面に対するヘッドの浮上量を低下させる必要があり、近年にあっては、１０ｎｍ以下という極めて小さいオーダーの浮上量が実現されている。

しかしながら、ヘッドの浮上量が低下すると磁気ディスク面の微小突起との衝突が発生しやすくなり、またヘッドごとのクリアランスのばらつきがメカの公差範囲で存在するため、媒体接触を考慮すると、浮上量を公差範囲を超えて低く設定することができない問題がある。

そこで、ヘッドにヒータを内蔵し、ヒータの通電に伴うヘッド浮上面の熱膨張による突出現象を利用して、ヘッドと磁気ディスクの記録面とのクリアランスをコントロールする方法が提案されている。

ところで、一般的に記憶装置に備えられた記録媒体が回転動作を開始した直後、例えば記憶装置に電源が投入され動作を開始した場合や、記憶装置の電源は既に投入されているが省電力モード等の記録媒体の回転動作は停止している状態から復帰した場合には、記憶装置の環境温度は定常状態よりも低温環境となっている。そのため、このときのヘッドの浮上量は定常状態における浮上量よりも高くなってしまうことが知られている。例えば、記憶装置の起動直後はヘッドの浮上量が定常状態における浮上量よりも０．４〜０．６ｎｍ程度高くなってしまう。また、設計段階や試験工程等で予め設定された値で好適に動作できる状態、すなわち定常状態となるまで、およそ１０分間程度かかることが知られている。

上述のように低温起動直後（ＰｏｗｅｒＯＦＦ、またはＵｎｌｏａｄ状態のまま、所定時間放置した状態からの起動直後）において、ヘッドの素子部（書込素子および読出素子）に対して記録媒体の潤滑剤などが付着している場合には、ヘッドの浮上位置の上昇によるＷｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ特性の悪化（寝起き特性と称される）が発生する。ヘッドの浮上位置は、寝起き特性の悪化の大きいもので、１〜２ｎｍ程度の上昇が見られることもある。

そこで、寝起き特性を防ぐため、起動直後の一定期間にライト電流系設定値（Ｉｗ，オーバーシュート（Ｏ／Ｓ））、ＤＦＨ設定値（Ｒｅａｄ／Ｗｒｉｔｅ Ｈｅａｔｅｒ）をアシストする方法が提案されている。

特開２００３−１６８２７４号公報 特開２００８−２４３２４９号公報

しかしながら、より効果的にアシストするためには、寝起き特性を検出し、特性悪化量に応じた切り分けが必要であるが、特性悪化量は、媒体／ヘッドの組み合わせに影響され、また、ヘッド毎にも特性がばらつくことから、起動直後に悪化したヘッドを見分けることは難しく、課題とされていた。

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、従来よりも効果的に、ヘッド浮上位置の上昇によるＷｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ特性の悪化を防止することを目的とする。

実施形態の記憶装置は、データを記録するための記録媒体と、前記記録媒体を回転駆動させる駆動部と、前記駆動部により回転駆動される前記記録媒体上で浮上し、前記記録媒体からデータを読み出すための読出素子および前記記録媒体へデータを書き込むための書込素子を有するヘッドと、前記ヘッドに設けられ、通電加熱に伴って当該ヘッドを熱膨張させて前記記録媒体に対する前記ヘッドの突出量を変化させる被通電体と、前記記録媒体の回転動作が停止している状態から前記駆動部による回転が開始された後、前記記録媒体上の任意の場所に対して前記ヘッドにより書き込んだデータが正しいか否かをチェックするＷｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙチェックを実行するＷｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部と、前記被通電体に対する定常状態における通電量に対応する基準値に対して、前記Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部によるチェック結果に応じた値を加算して前記ヘッドの突出量を制御する突出量制御部と、を備える。

図１は、実施形態にかかる磁気ディスク装置の構成を示す外観斜視図である。 図２は、磁気ディスク装置の制御系の構成を示すブロック図である。 図３は、ヘッドを概略的に示す斜視図である。 図４は、ヘッドをトラック方向から見た状態を示す断面図である。 図５は、ＭＰＵの機能構成を示したブロック図である。 図６は、補正テーブルのデータ構成を示す模式図である。 図７は、加算処理の流れについて概略的に示すフローチャートである。 図８は、ステップＳ３の処理の流れについて概略的に示すフローチャートである。 図９は、時間経過に伴うヘッドの浮上量変化を示すグラフである。 図１０は、時間経過に伴うヘッドの浮上量変化を示すグラフである。 図１１は、オフセット値を加算した場合における時間経過に伴うヘッドの浮上量変化を示すグラフである。

図１は、実施形態にかかる磁気ディスク装置１００の構成を示す外観斜視図である。図１に示すように、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）として知られる磁気ディスク装置１００には、駆動部であるスピンドルモータ（ＳＰＭ）２０１により回転される記録媒体である磁気ディスク２０２が組み込まれており、磁気ディスク２０２に対しボイスコイルモータ（ＶＣＭ）２０３により駆動されるヘッドアクチュエータ２０４が設けられ、ヘッドアクチュエータ２０４の先端にはヘッドスライダ２０５が装着されている。

図２は、磁気ディスク装置１００の制御系の構成を示すブロック図である。図２に示すように、磁気ディスク装置１００には、上位装置と接続されるホストインタフェースを制御するホストインタフェース制御部１０２、上位装置から受信したデータを格納するバッファメモリ１０３、バッファメモリ１０３を制御するバッファメモリ制御部１０４が設けられている。

また、磁気ディスク装置１００には、受信したデータに対してＥＣＣ計算等を行うフォーマット制御部１０５、読み出したデータの復調ならびに所定の値に増幅処理等を行うリードライトチャネル１０６、ヘッドスライダ２０５に設けられるヘッド１１４からの出力を制御するヘッドＩＣ１０７等が備えられており、上位装置から受信したデータを磁気ディスク２０２に対して書き込み、もしくは読み出し処理を行う。

また、磁気ディスク装置１００には、ＭＰＵ１０８が備えられている。ＭＰＵ１０８は、バス１１６を介して制御プログラム（ファームウェアプログラム）及び制御データを格納するメモリ１０９や制御プログラム等を格納する不揮発性メモリ１１０に接続されている。ＭＰＵ１０８は、バス１１６を介して前述の、ホストインタフェース制御部１０２、バッファメモリ制御部１０４、フォーマット制御部１０５、リードライトチャネル１０６等にも接続されている。メモリ１０９には、後述する補正テーブル４０が格納されている。

ＭＰＵ１０８にはタイマカウンタ１１７が備えられており、磁気ディスク装置１００の起動時間等を計測する際に用いられる。タイマカウンタ１１７は、例えばＭＰＵ１０８上で動作するプログラムの一機能として実現される。なお、タイマカウンタ１１７は図示したようにＭＰＵ１０８に備える形態のほかに、バス１１６を介してＭＰＵ１０８に接続される独立した回路としてもよい。また、磁気ディスク装置１００が接続される上位装置のタイマカウンタを用いることも可能である。すなわち、上位装置から通知されるタイマカウンタの値をＭＰＵ１０８内などに記憶して、タイマカウンタとすることも可能である。

なお、ＭＰＵ１０８、メモリ１０９、ホストインタフェース制御部１０２、バッファメモリ制御部１０４、リードライトチャネル１０６等は、１つの制御装置、たとえばＬＳＩ装置として構成することも可能である。

さらに、磁気ディスク装置１００には、サーボ制御部１１１が備えられている。サーボ制御部１１１は、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）２０３及びスピンドルモータ（ＳＰＭ）２０１を制御する。

上位装置からのライトコマンドとライトデータをホストインタフェース制御部１０２で受けると、ＭＰＵ１０８はライトコマンドの内容を解析し必要に応じてバッファメモリ１０３にライトデータを格納する。その後、ライトデータは、フォーマット制御部１０５で所定のデータ形式に変換されると共にＥＣＣ処理によりＥＣＣ符号を付加される。さらに、リードライトチャネル１０６において、スクランブル、ＲＬＬ符号変換、更に書込補償が行われた後、ライトデータはヘッドＩＣ１０７を介してヘッド１１４の書込素子から磁気ディスク２０２に書き込まれる。

このときＭＰＵ１０８からサーボ制御部１１１にヘッド位置決め信号が与えられており、ボイスコイルモータ２０３によりヘッドアクチュエータ２０４を駆動して、ヘッド１１４をコマンドで指示された目標トラックにシークした後にオントラックしてトラック追従制御を行っている。

一方、上位装置からのリードコマンドをホストインタフェース制御部１０２で受けると、ＭＰＵ１０８はリードコマンドを解読する。その後、解読結果に基づいてヘッドＩＣ１０７を介してヘッド１１４の読出素子により信号が読み出される。さらに読み出された読出信号は、プリアンプで増幅された後に、リードライトチャネル１０６のリード復調系に入力され、パーシャルレスポンス最尤検出（ＰＲＭＬ）などによりリードデータとして復調される。さらに、フォーマット制御部１０５でＥＣＣ処理等を行ってエラーを検出訂正した後、バッファメモリ１０３にバッファリングされる。その後リードデータは、ホストインタフェース制御部１０２によって上位装置に転送される。

ここで、図３はヘッド１１４を概略的に示す斜視図、図４はヘッド１１４をトラック方向から見た状態を示す断面図である。図３に示すように、ヘッド１１４は、セラミック材料などで作られたヘッドスライダ２０５に設けられている。ヘッドスライダ２０５の磁気ディスク２０２に相対する浮上面の先端側にはテーパ面５１が形成され、且つ浮上面のトラック方向に空気流通溝５２を形成している。

図４に示すように、セラミックなどで作られたヘッド１１４内には、書込素子として記録コイル５３と記録コア５４が設けられる。また、ヘッド１１４内には、記録コイル５３に隣接して読出素子５５が設けられる。読出素子５５としては、ＧＭＲ素子（Ｇｉａｎｔ Ｍａｇｎｅｔｏ Ｒｅｓｉｓｔａｎｃｅ素子）やＴＭＲ素子（Ｔｕｎｎｅｌｉｎｇ Ｍａｇｎｅｔｏ Ｒｅｓｉｓｔａｎｃｅ素子）が用いられる。

ヘッド１１４の磁気ディスク２０２に相対した面は、ＡＢＳ面（Ａｉｒ Ｂｅａｒｉｎｇ Ｓｅｒｆａｃｅ）５６であり、表面に保護膜５７を形成している。

また、図４に示すように、磁気ディスク２０２は、基板７０上に記録膜７１を形成し、記録膜７１に続いて保護膜７２を形成し、更に表面に潤滑剤７３を設けている。

加えて、ヘッド１１４内には、記録コア５４に近接してヒータ６０が設けられている。ヒータ６０に通電して加熱することで当該ヘッド１１４（例えば、封止材）を熱膨張させて、ヘッド１１４の浮上面となるＡＢＳ面５６が破線のヘッド面５６−１に示すように磁気ディスク２０２側に膨張突出することになる。ヘッド１１４と磁気ディスク２０２の間のクリアランス７４は、読出素子５５の下端から磁気ディスク２０２の潤滑剤７３の上面までの間隔と定義される。なお、記録コイル５３に通電して加熱することによっても、ヘッド１１４を熱膨張させて、ヘッド１１４の浮上面となるＡＢＳ面５６が破線のヘッド面５６−１に示すように磁気ディスク２０２側に膨張突出する。

ところで、磁気ディスク装置においては、低温起動直後（ＰｏｗｅｒＯＦＦ、またはＵｎｌｏａｄ状態のまま、所定時間放置した状態からの起動直後）において、ヘッドの素子部（書込素子および読出素子）に対して磁気ディスクの潤滑剤などが付着している場合におけるヘッドの浮上位置の上昇によるＷｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ特性の悪化（寝起き特性と称される）が生じる。このようなヘッドの浮上位置は、寝起き特性の悪化の大きいもので、１〜２ｎｍも上昇する。

そこで、実施形態にかかる磁気ディスク装置１００においては、上述したようなヘッド１１４の浮上位置の上昇によるＷｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ特性の悪化を防ぐため、起動直後の一定期間にライト電流系設定値（Ｉｗ，オーバーシュート（Ｏ／Ｓ））、ＤＦＨ設定値（Ｒｅａｄ／Ｗｒｉｔｅ Ｈｅａｔｅｒ）をアシストする仕組みを設けている。より詳細には、起動直後の寝起き状態時において、ＤＦＨ設定値を調節することにより、寝起き特性を加速する状況を作り出すとともに、その特性悪化の程度をＷｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙを用いチェックすることで、起動直後に悪化したヘッドを見分けるようにしている。

次に、ＭＰＵ１０８のファームウェアプログラムの実行により実現される機能のうち、上述したような寝起き特性の悪化を防止する特徴的な機能について説明する。

図５は、ＭＰＵ１０８の機能構成を示したブロック図である。図５に示すように、ＭＰＵ１０８のファームウェアプログラムの実行により実現される機能として、オフセット制御部１と、Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部２と、突出量制御部３と、テーブル管理部４と、が設けられる。

オフセット制御部１は、Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部２によるチェックに先立ち、被通電体であるヒータ６０や記録コイル５３に対する定常状態における通電量に対してオフセット値を加算してヘッド１１４の突出量を制御する。

Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部２は、電源が投入され、または、磁気ディスク２０２の回転動作が停止している状態からの復帰が指示されたことによって回転が開始された場合、磁気ディスク２０２上の任意の場所に対してヘッド１１４により書き込んだ内容が正しいか否かをチェックするためにＷｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙチェックを実行する。

突出量制御部３は、Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部２によるチェック結果として内容が正しい場合には、第１の値を被通電体であるヒータ６０や記録コイル５３に対する定常状態における通電量に対して加算してヘッド１１４の突出量を制御し、チェック結果として内容が正しくない場合には、第１の値よりも絶対値の大きな第２の値を被通電体であるヒータ６０や記録コイル５３に対する定常状態における通電量に対して加算してヘッド１１４の突出量を制御する。

テーブル管理部４は、メモリ１０９に配置している補正テーブル４０に対する設定値の登録と読出しの管理を行う。補正テーブル４０は、図６に示すように、アシスト量の弱い第１の値を設定するための通常補正テーブルＴ１、低温以外用であってアシスト量の強い第１の値よりも絶対値の大きな値を設定するための積極補正テーブル（低温以外用）Ｔ２、低温用であってアシスト量の強い第１の値よりも絶対値の大きな値を設定するための積極補正テーブル（低温用）Ｔ３を有している。なお、積極補正テーブル（低温以外用）Ｔ２および極補正テーブル（低温用）Ｔ３に格納されている値は、いずれも第１の値よりも絶対値の大きな値（第２の値）であるが、測定温度が設定温度閾値以下か否かによってその値が変えられている。各テーブルＴ１、Ｔ２、Ｔ３は、例えば、Ｏ／Ｓ加算値、Ｉｗ加算値、Ｒｅａｄ Ｈｅａｔｅｒ Ｐｏｗｅｒ加算値、Ｗｒｉｔｅ Ｈｅａｔｅｒ Ｐｏｗｅｒ加算値を、印加時間毎に複数登録したものである。

次に、ＭＰＵ１０８がファームウェアプログラムに従って実行する起動時における加算処理について図７および図８のフローチャートを参照して説明する。

図７に示すように、ＭＰＵ１０８は、磁気ディスク２０２が回転動作を開始する状態になったとき、例えば磁気ディスク装置１００に電源が投入された場合や、省電力モード等の磁気ディスク２０２の回転動作が停止している状態からの復帰が指示された場合には、スピンドルモータ２０１の動作状態を確認する（ステップＳ１）。

ＭＰＵ１０８は、スピンドルモータ２０１が回転中である場合には（ステップＳ１のＹｅｓ）、そのまま処理を終了する。

一方、ＭＰＵ１０８は、スピンドルモータ２０１が停止状態であった場合には（ステップＳ１のＮｏ）、スピンドルモータ２０１が回転開始したかを判断する（ステップＳ２）。

ＭＰＵ１０８は、スピンドルモータ２０１が回転を開始したと判断した場合は（ステップＳ２のＹｅｓ）、後述の加算処理を開始する（ステップＳ３）。

なお、磁気ディスク装置１００がＳＣＳＩ（Ｓｍａｌｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｓｙｓｔｅｍ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）インタフェースを介して上位装置と接続されている場合には、上位装置よりＳｔａｒｔ Ｕｎｉｔコマンドを受信するので、本コマンドの受信を契機として加算処理を開始することも可能である。同様に、ＳＡＳ（Ｓｅｒｉａｌ Ａｔｔａｃｈｅｄ ＳＣＳＩ）インタフェースを介して上位装置と接続されている場合には、上記コマンドに加えてＳｔａｒｔ Ｕｎｉｔ Ｎｏｔｉｆｙコマンドを受信することもあるので、これらのコマンドを契機として加算処理を開始することも可能である。このようにスピンドルモータ回転開始処理と同時期に発行される上位装置からのコマンドに基づいて加算処理を開始してもよい。

ここで加算処理とは、前述の要因を契機として所定の時間に渡って、ヒータ６０や記録コイル５３に通電される通電量を、定常状態で好適となるように設定された通電量よりも高く設定する処理をいう。すなわち、磁気ディスク装置１００の起動直後のヘッド１１４の浮上量と、定常状態でのヘッド１１４の浮上量との差分に相当する、ヘッド１１４の突き出し量を生じさせる通電量を定常状態の通電量に対して加算する。

また、具体的な加算方法としては、補正テーブル４０に登録された加算量を定常状態の電流値に加算して用いる。なお、これに限るものではなく、定常状態で用いられる値に上述の値を加算した値を予め磁気ディスク装置１００内に記憶させておき、その値を選択して用いるようにしてもよい。なお、この加算処理は、ＭＰＵ１０８からの指示に基づいて、ヒータの電流値が設定されるレジスタ等の値を変更することによって実施される。

ステップＳ３の処理について図８を参照して詳述する。図８に示すように、ＭＰＵ１０８は、この加算処理時点におけるタイマカウンタ１１７が示すタイマカウンタ値をメモリ上に保持するか、または、タイマカウンタ１１７を一旦初期化してから再度タイマカウンタ１１７を起動する初期化処理を行う（ステップＳ１１）。

続いて、ＭＰＵ１０８は、ヒータ６０に通電されるヒータ電流や記録コイル５３に通電される記録コイル電流の値として定常状態における通電量（基準値）に対して、一定値（オフセット値）を加算してＷｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ Ｈｅａｔｅｒ値をオフセットさせ、ヘッド１１４の浮上上昇を加速する（ステップＳ１２）。これにより、寝起き特性の悪化量を加速させる。ここで、Ｗｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ Ｈｅａｔｅｒ値に加算するオフセット値は、後述するＷｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ時にエラーレベルを超えない値であることが条件である。例えば、−５ｂｉｔ程度加算することによって、約０．５ｎｍだけヘッド１１４を上昇させることができる。約０．５ｎｍ程度ならば、正常なドライブの場合、エラーレベルを超える可能性は小さい。

ステップＳ１２のような処理を行うのは、次のような理由による。起動直後（電源投入直後及びＵｎｌｏａｄからｔ［ｍｉｎ］以上経過）の寝起き状態時において、ヒータ６０に通電されるヒータ電流や記録コイル５３に通電される記録コイル電流の値として定常状態における通電量（基準値）に対して、所定の値を加算してＷｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ Ｈｅａｔｅｒ値を調節した場合、図９に示すように、ヘッド１１４を０．４〜０．６ｎｍ程度浮上させて寝起き特性を加速する状況を作り出すことができるので、後述するＷｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ時にエラーレベルを超えさせることで、特性悪化の程度を切り分けることができるようになる。しかしながら、磁気ディスク装置においてはＷｒｉｔｅ／Ｒｅａｄマージンを得ており、図１０に示すように、Ｗｒｉｔｅ／Ｒｅａｄマージンの値によっては、ヘッド１１４を０．４〜０．６ｎｍ程度だけ浮上変動させただけではエラーレベルまで達せず、Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙによるエラーは生じない。

そこで、実施形態にかかる磁気ディスク装置１００においては、起動直後の寝起き状態時において、ステップＳ１２に示すように、ヒータ６０に通電されるヒータ電流や記録コイル５３に通電される記録コイル電流の値として定常状態における通電量（基準値）に対して、一定値（オフセット値）を加算してＷｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ Ｈｅａｔｅｒ値を調節することで、図１１に示すように、Ｗｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ Ｈｅａｔｅｒ値をオフセットさせることによって浮上上昇を加速することにより、Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ時にエラーレベルを超えさせることで、寝起き特性を加速する状況を作り出すようにしている。

図８に戻り、次いで、ＭＰＵ１０８は、磁気ディスク２０２の任意の場所に対してＷｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙチェックを実行する（ステップＳ１３）。すなわち、ＭＰＵ１０８は、ヘッド１１４により書き込んだ内容が正しいか否かをチェックし、Ｒｅａｄ ＯＫ／ＮＧにより特性悪化の程度を判定する。

Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙチェックの結果、Ｒｅａｄ ＯＫであると判定した場合には（ステップＳ１３のＹｅｓ）、補正テーブル４０からアシスト量の弱い通常補正テーブルＴ１を選択し（ステップＳ１４）、通常補正テーブルＴ１のアシスト量（第１の値）を加算してＷｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ Ｈｅａｔｅｒ値を調節する（ステップＳ１５）。

一方、ＭＰＵ１０８は、Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙチェックの結果として、Ｒｅａｄ ＮＧであると判定した場合には（ステップＳ１３のＮｏ）、さらに温度を判定する（ステップＳ１６）。

ＭＰＵ１０８は、温度が設定温度閾値以下の場合には（ステップＳ１６のＹｅｓ）、補正テーブル４０からアシスト量が強く低温用の積極補正テーブル（低温用）Ｔ３を選択し（ステップＳ１７）、第１の値よりも絶対値の大きな積極補正テーブル（低温用）Ｔ３のアシスト量（第２の値）を加算してＷｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ Ｈｅａｔｅｒ値を調節する（ステップＳ１５）。

ＭＰＵ１０８は、温度が設定温度閾値以下でない場合には（ステップＳ１６のＮｏ）、補正テーブル４０からアシスト量が強く低温以外用の積極補正テーブル（低温以外用）Ｔ２を選択し（ステップＳ１８）、第１の値よりも絶対値の大きな積極補正テーブル（低温以外用）Ｔ２のアシスト量（第２の値）を加算してＷｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ Ｈｅａｔｅｒ値を調節する（ステップＳ１５）。

上述したように、まず、起動直後（電源投入直後及びＵｎｌｏａｄからｔ［ｍｉｎ］以上経過）の寝起き状態時において、ヒータ６０に通電されるヒータ電流や記録コイル５３に通電される記録コイル電流の値として定常状態における通電量（基準値）に対して、一定値（オフセット値）が加算される。その後、Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙチェック結果および温度に応じたアシスト量が加算されてＷｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ Ｈｅａｔｅｒ値が調節されることで、書込素子（記録コイル５３と記録コア５４）と読出素子５５とが磁気ディスク２０２に向けて突出させるとともに、ヘッド１１４と磁気ディスク２０２の間のクリアランス７４を適切に維持するため、書き込み処理特性ならびに読み出し処理特性について改善することができる。

最後に、ＭＰＵ１０８は、磁気ディスク装置１００のスピンドルモータ２０１の回転開始処理が実施されてから、または上位装置からの動作開始時に発行される特定のコマンドを受信してから、ヘッド浮上量が定常状態での通電量で書き込み処理ができるようになるまでの時間、例えば１０分間が経過したのか確認を行う（ステップＳ１９）。

この確認方法については、一定の時間間隔ごとに定期的にタイマカウンタ値を確認して、タイマカウンタ値が前述の時間が経過したことを示す値になっているか、または、タイマカウンタ値とメモリ上に保持した値との差が、同様に前述の時間が経過したことを示す値となっているかを確認するようにすればよい。なお、タイマカウンタ値を確認する時間間隔は、磁気ディスク装置１００の動作状態や負荷状態に応じて適宜変更することも可能である。また、一定時間の経過を契機として、ＭＰＵ１０８に対して割り込み通知が上がるようにしてもよい。

ＭＰＵ１０８は、上述の方法で所定の時間が経過したことを認識すると（ステップＳ１９のＹｅｓ）、ヒータ６０または記録コイル５３への通電量を定常状態における通電量へと変更する（ステップＳ２０）。この変更処理においても、前述のステップＳ１１の場合と同様に、変更後の値をレジスタ等に設定することによって変更される。

以上の方法によって、磁気ディスク装置１００の起動直後など、環境温度が定常状態と異なる期間であってもヘッド１１４の浮上量を好適な値とすることができ、かつ定常状態においてもなんら特別な動作をさせることなく、ヘッド１１４の浮上量を好適な値とできる。そのため、磁気ディスク２０２に対するデータの書き込み処理等におけるエラー発生を容易に抑止することが可能となり、その結果、記憶装置の信頼性を向上させることが可能となる。

実施形態にかかる磁気ディスク装置１００によれば、電源が投入され、または、磁気ディスク２０２の回転動作が停止している状態からの復帰が指示されたことによって回転が開始された場合、磁気ディスク２０２上の任意の場所に対してヘッド１１４により書き込んだ内容が正しいか否かをチェックするためにＷｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙチェックを実行する。チェック結果として内容が正しい場合には、第１の値を被通電体（ヒータ６０や記録コイル５３）に対する定常状態における通電量に対して加算してヘッド１１４の突出量を制御する。チェック結果として内容が正しくない場合には、第１の値よりも絶対値の大きな第２の値を被通電体（ヒータ６０や記録コイル５３）に対する定常状態における通電量に対して加算してヘッド１１４の突出量を制御する。これにより、起動直後（ＰｏｗｅｒＯＦＦ、またはＵｎｌｏａｄ状態のまま、数時間放置した状態における起動直後）においてヘッド１１４に対して磁気ディスク２０２の潤滑剤７３などが付着している場合におけるヘッド１１４の浮上位置の上昇によるＷｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ特性の悪化の程度をＷｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙを用いチェックすることで起動直後に特性が悪化したヘッド１１４を見分けるとともに、特性悪化量に応じた値を被通電体（ヒータ６０や記録コイル５３）に対する定常状態における通電量に対して加算してヘッド１１４の突出量を制御することができる。したがって、起動直後に特性が悪化したヘッド１１４を見分ける精度が向上し、従来よりも効果的に、ヘッド浮上位置の上昇によるＷｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ特性の悪化を防止することができる。

実施形態にかかる磁気ディスク装置１００で実行されるファームウェアプログラムは、インストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでＣＤ−ＲＯＭ、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｋ）等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録して提供するように構成してもよい。

さらに、実施形態にかかる磁気ディスク装置１００で実行されるファームウェアプログラムを、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納し、ネットワーク経由でダウンロードさせることにより提供するように構成しても良い。また、実施形態にかかる磁気ディスク装置１００で実行されるファームウェアプログラムをインターネット等のネットワーク経由で提供または配布するように構成しても良い。

実施形態にかかる磁気ディスク装置１００で実行されるファームウェアプログラムは、上述した各部（オフセット制御部１、Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部２、突出量制御部３、テーブル管理部４）を含むモジュール構成となっており、実際のハードウェアとしてはＣＰＵ（プロセッサ）が上記ＲＯＭからプログラムを読み出して実行することにより上記各部が主記憶装置上にロードされ、オフセット制御部１、Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部２、突出量制御部３、テーブル管理部４が主記憶装置上に生成されるようになっている。

なお、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化することができる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成することができる。例えば、実施形態に示される全構成要素からいくつかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせても良い。

１ オフセット制御部
２ Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部
３ 突出量制御部
４ テーブル管理部
４０ テーブル
５３ 書込素子、被通電体
５４ 書込素子
５５ 読出素子
６０ 被通電体
１００ 記憶装置
１１４ ヘッド
２０１ 駆動部
２０２ 記録媒体

Claims (8)

1. データを記録するための記録媒体と、
   前記記録媒体を回転駆動させる駆動部と、
   前記駆動部により回転駆動される前記記録媒体上で浮上し、前記記録媒体からデータを読み出すための読出素子および前記記録媒体へデータを書き込むための書込素子を有するヘッドと、
   前記ヘッドに設けられ、通電加熱に伴って当該ヘッドを熱膨張させて前記記録媒体に対する前記ヘッドの突出量を変化させる被通電体と、
   前記記録媒体の回転動作が停止している状態から前記駆動部による回転が開始された後、前記記録媒体上の任意の場所に対して前記ヘッドにより書き込んだデータが正しいか否かをチェックするＷｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙチェックを実行するＷｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部と、
   前記被通電体に対する定常状態における通電量に対応する基準値に対して、前記Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部によるチェック結果に応じた値を加算して前記ヘッドの突出量を制御する突出量制御部と、
   を備える記憶装置。
2. 前記突出量制御部は、前記Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部によるチェック結果が正しい場合には、第１の値を前記基準値に対して加算して前記ヘッドの突出量を制御し、チェック結果が正しくない場合には、前記第１の値よりも値の大きな第２の値を前記基準値に対して加算して前記ヘッドの突出量を制御する、
   請求項１記載の記憶装置。
3. 前記Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部によるチェックに先立ち、前記基準値に対してオフセット値を加算して前記ヘッドの突出量を制御するオフセット制御部を更に備える、
   請求項１記載の記憶装置。
4. 前記突出量制御部は、チェック結果が正しくない場合には、更に温度を測定し、測定温度が設定温度閾値以下か否かによって前記第２の値を変える、
   請求項２記載の記憶装置。
5. 前記突出量制御部は、前記第１の値を設定するための補正テーブル、低温以外用の前記第２の値を設定するための補正テーブル、低温用の前記第２の値を設定するための補正テーブルをそれぞれ有するテーブルを用いて前記ヘッドの突出量を制御する、
   請求項４記載の記憶装置。
6. 記憶装置で実行されるヘッド突出量制御方法であって、
   前記記憶装置は、通電加熱に伴って当該ヘッドを熱膨張させて記録媒体に対するヘッドの突出量を変化させる被通電体と制御部とを備え、前記制御部において実行される、
   Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部が、前記記録媒体の回転動作が停止している状態から前記記録媒体の回転が開始された後、前記記録媒体上の任意の場所に対して前記ヘッドにより書き込んだデータが正しいか否かをチェックするＷｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙチェックを実行するステップと、
   突出量制御部が、前記被通電体に対する定常状態における通電量に対応する基準値に対して、前記Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部によるチェック結果に応じた値を加算して前記ヘッドの突出量を制御するステップと、
   を含むヘッド突出量制御方法。
7. 前記突出量制御部は、前記Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部によるチェック結果が正しい場合には、第１の値を前記基準値に対して加算して前記ヘッドの突出量を制御し、チェック結果が正しくない場合には、前記第１の値よりも値の大きな第２の値を前記基準値に対して加算して前記ヘッドの突出量を制御する、
   請求項６記載のヘッド突出量制御方法。
8. オフセット制御部が、前記Ｗｒｉｔｅ＆Ｖｅｒｉｆｙ部によるチェックに先立ち、前記基準値に対してオフセット値を加算して前記ヘッドの突出量を制御するステップを更に含む、
   請求項６記載のヘッド突出量制御方法。

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