JP4901990B1 - スパークプラグ - Google Patents

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Abstract

【課題】飛火性能が低下することを抑制しつつスパークプラグから発生する電波雑音のレベルを低減する。
【解決手段】スパークプラグは、軸線方向に沿った軸孔を有する絶縁体と、前記軸孔の一端側に設けられた中心電極と、前記軸孔の他端側に設けられた端子金具と、前記軸孔内において前記中心電極と前記端子金具とを電気的に接続する接続部とを有している。このスパークプラグの接続部は抵抗体を含んでおり、軸線方向における抵抗体の中央より中心電極側の抵抗値である中心電極側抵抗値が、抵抗体の中央より端子金具側の抵抗値である端子金具側抵抗値よりも大きい。
【選択図】図2

Description

本発明は、スパークプラグに関し、特に、抵抗体を備えるスパークプラグに関する。
近年、内燃機関の高出力化に伴い、スパークプラグに印加される電圧が高くなっている。そのため、火花放電に伴い発生する電波雑音(点火ノイズ)のレベルも高くなる傾向にある。従来、このような電波雑音を低減するため種々の技術が提案されている(例えば、特許文献1〜3参照)。
一般的には、スパークプラグの中心電極と端子金具とを電気的に接続する接続部に配置された抵抗体の抵抗値を大きくすることにより、電波雑音のレベルを低減することができる。しかし、電波雑音レベルを低減するために抵抗体の抵抗値を大きくすると、点火エネルギが低減し、スパークプラグの飛火性能が低下する可能性があった。
特開平5−152053号公報 特開平11−233232号公報 特開2006−66086号公報
上述の問題を考慮し、本発明が解決しようとする課題は、飛火性能が低下することを抑制しつつスパークプラグから発生する電波雑音のレベルを低減することである。
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態又は適用例として実現することが可能である。
[適用例1]軸線方向に沿った軸孔を有する絶縁体と、前記軸孔の一端側に設けられた中心電極と、前記軸孔の他端側に設けられた端子金具と、前記軸孔内において前記中心電極と前記端子金具とを電気的に接続する接続部を有するスパークプラグであって、前記接続部は抵抗体を含み、前記軸線方向における前記抵抗体の中央より前記中心電極側の抵抗値である中心電極側抵抗値が、前記中央より前記端子金具側の抵抗値である端子金具側抵抗値よりも大きいことを特徴とするスパークプラグ。
このような構成では、抵抗体の中心電極側の抵抗値を端子金具側の抵抗値よりも大きくするので、火花放電に伴って発生する電波雑音のレベルを効果的に抑制することが可能になる。また、抵抗体の抵抗値を全体として変化させる必要がないので、飛火性能が低下してしまうことを抑制することが可能になる。
[適用例2]適用例1に記載のスパークプラグであって、前記軸線方向における前記抵抗体の中央より前記中心電極側を構成する材料の抵抗値が、前記中央より前記端子金具側を構成する材料の抵抗値よりも大きいことを特徴とするスパークプラグ。
このような構成によれば、抵抗体の中心電極側と端子金具側とで異なる抵抗値を有する材料を用いることで、中心電極側と端子金具側とで異なる抵抗値を有する抵抗体を形成することができる。
[適用例3]適用例1または適用例2に記載のスパークプラグであって、前記中心電極側抵抗値が前記端子金具側抵抗値よりも0.5kΩ以上大きいことを特徴とするスパークプラグ。
このように、中心電極側抵抗値を端子金具側抵抗値よりも0.5kΩ以上大きくすれば、効果的に電波雑音のレベルを低減することができる。
[適用例4]適用例1から適用例3までのいずれか一項に記載のスパークプラグであって、前記中心電極側抵抗値が前記端子金具側抵抗値よりも1.0kΩ以上大きいことを特徴とするスパークプラグ。
このように、中心電極側抵抗値を端子金具側抵抗値よりも1.0kΩ以上大きくすれば、より効果的に電波雑音のレベルを低減することができる。
[適用例5]適用例1から適用例4までのいずれか一項に記載のスパークプラグであって、前記端子金具側抵抗値が100Ω以上であることを特徴とするスパークプラグ。
このように、端子金具側抵抗値が100Ω以上あれば電波雑音のレベルを低減させることが可能である。なお、例え、抵抗体の抵抗値が小さくても、抵抗体の長さを長くすることで、電波雑音のレベルを低減させることが可能である。
[適用例6]適用例1から適用例5までのいずれか一項に記載のスパークプラグであって、前記抵抗体は略円柱状であり、前記抵抗体の直径が、2.9mm以下であることを特徴とするスパークプラグ。
このように、抵抗体の直径が2.9mm以下と比較的小径な場合には、中心電極側抵抗値を端子金具側抵抗値よりも大きくすることで、電波雑音のレベルをより顕著に低減することができる。
本発明は、上述したスパークプラグとしての構成のほか、スパークプラグの製造方法やスパークプラグの抵抗体、スパークプラグの抵抗体の製造方法などとしても構成することが可能である。
本発明の実施形態としてのスパークプラグの部分断面図である。 抵抗体の抵抗値の分布の例を示す図である。 スパークプラグの各サンプルについて電波雑音の評価結果を示す図である。 各サンプルの電波雑音の周波数毎の減衰量を示す図である。 抵抗体のシール径に応じた電波雑音性能の向上率を示す図である。
図1は、本発明の実施形態としてのスパークプラグ100の部分断面図である。図1において、一点破線で示す軸線O−Oの右側は、外観正面図を示し、軸線O−Oの左側は、スパークプラグ100の中心軸を通る断面でスパークプラグ100を切断した断面図を示している。以下では、図1におけるスパークプラグ100の軸線方向ODの下側をスパークプラグ100の先端側、上側を後端側として説明する。
スパークプラグ100は、絶縁体としての絶縁碍子10と、主体金具50と、中心電極20と、接地電極30と、端子金具40とを備える。主体金具50には、軸線方向ODに貫通する挿入孔501が形成されている。この挿入孔501には、絶縁碍子10が挿入されて保持されている。中心電極20は、絶縁碍子10内に形成された軸孔12内に軸線方向ODに保持されている。中心電極20の先端部は、絶縁碍子10の先端側に露出している。接地電極30は、主体金具50の先端部に接合されている。端子金具40は、中心電極20の後端側に設けられ、端子金具40の後端部は絶縁碍子10の後端側に露出している。端子金具40には高圧ケーブル(図示外)がプラグキャップ(図示外)を介して接続され、高電圧が印加される。
絶縁碍子10は周知のようにアルミナ等を焼成して形成され、軸中心に軸線方向ODへ延びる軸孔12が形成された円筒形状を有する。軸線方向ODの略中央には外径が最も大きな鍔部19が形成されており、それより後端側には後端側胴部18が形成されている。鍔部19より先端側には、後端側胴部18よりも外径の小さな先端側胴部17が形成され、さらにその先端側胴部17よりも先端側に、先端側胴部17よりも外径の小さな脚長部13が形成されている。脚長部13は先端側ほど縮径され、スパークプラグ100が内燃機関のエンジンヘッド200に取り付けられた際には、その燃焼室に曝される。
主体金具50は、内燃機関のエンジンヘッド200にスパークプラグ100を固定するための円筒状の金具である。主体金具50は、絶縁碍子10を、その後端側胴部18の一部から脚長部13にかけての部位を取り囲むようにして保持している。すなわち、主体金具50の挿入孔501に絶縁碍子10が挿入され、絶縁碍子10の先端と後端がそれぞれ主体金具50の先端と後端から露出するように構成されている。主体金具50は低炭素鋼材より形成され、全体にニッケルメッキや亜鉛メッキ等のメッキ処理が施されている。主体金具50の後端部には、スパークプラグレンチ(図示外)が係合する六角柱形状の工具係合部51が設けられている。主体金具50は、内燃機関の上部に設けられたエンジンヘッド200の取付ネジ孔201に螺合するネジ山が形成された取付ネジ部52を備えている。
主体金具50の工具係合部51と取付ネジ部52との間には、鍔状のシール部54が形成されている。取付ネジ部52とシール部54との間のネジ首59には、板体を折り曲げて形成した環状のガスケット5が嵌挿されている。ガスケット5は、スパークプラグ100をエンジンヘッド200に取り付けた際に、シール部54の座面55と取付ネジ孔201の開口周縁部205との間で押し潰されて変形する。このガスケット5の変形により、スパークプラグ100とエンジンヘッド200間が封止され、取付ネジ孔201を介した内燃機関内の気密漏れが防止される。
主体金具50の工具係合部51より後端側には薄肉の加締部53が設けられている。また、シール部54と工具係合部51との間には、加締部53と同様に薄肉の圧縮変形部58が設けられている。工具係合部51から加締部53にかけての主体金具50の内周面と絶縁碍子10の後端側胴部18の外周面との間には、円環状のリング部材6,7が介在されており、さらに両リング部材6,7間にタルク(滑石)9の粉末が充填されている。製造時においては、加締部53を内側に折り曲げるようにして先端側に押圧することにより圧縮変形部58が圧縮変形し、この圧縮変形部58の圧縮変形により、リング部材6,7およびタルク9を介し、絶縁碍子10が主体金具50内で先端側に向け押圧される。この押圧により、主体金具50の内周で取付ネジ部52の位置に形成された段部56に、環状の板パッキン8を介し、絶縁碍子10の段部15が押圧されて、主体金具50と絶縁碍子10とが一体にされる。このとき、主体金具50と絶縁碍子10との間の気密性は、板パッキン8によって保持され、燃焼ガスの流出が防止される。また、この押圧により、タルク9が軸線方向ODに圧縮されて主体金具50内の気密性が高められる。
中心電極20は、軸孔12の先端に設けられており、インコネル(商標名)600等のニッケルまたはニッケルを主成分とする合金から形成された電極母材21の内部に、電極母材21よりも熱伝導性に優れる銅または銅を主成分とする合金からなる芯材22を埋設した構造を有する棒状の電極である。
接地電極30は耐腐食性の高い金属から構成され、一例として、ニッケル合金が用いられる。この接地電極30の基端は、主体金具50の先端面に溶接されている。接地電極30の先端部は、中心電極20の先端面と、軸線O上で軸線方向ODに対向するように屈曲されている。この接地電極30の先端部と、前述した中心電極20の先端部との間に、火花放電の生じる火花ギャップが形成される。
絶縁碍子10の軸孔12内には、端子金具40と中心電極20とを電気的に接続する接続部2が配置されている。接続部2は、上シール材4aと下シール材4bと、これらシール材に挟まれた円柱状の抵抗体3とを備えている。上シール材4aと下シール材4bとは、抵抗値が0.1Ω未満の良導電性の周知のガラスシール材であり、銅やスズ、鉄等の金属粉末とホウケイ酸ガラス粉末とを含む材料から形成される。抵抗体3は、例えば、1Ω以上の抵抗値を有する抵抗であり、ジルコニア粉末、アルミナ粉末、カーボンブラック、ガラス粉末、PVAバインダー等を含む材料から形成される。上シール材4aと下シール材4bと抵抗体3とは、例えば、次のようにして軸孔12内に形成される。即ち、軸孔12の後端側から中心電極20を挿入し、その上から、下シール材4bの材料粉末を充填し、押し棒で押圧する。さらに、その上から抵抗体3の材料粉末を充填し、押し棒で押圧する。さらに、その上から上シール材4aの材料粉末を充填し、押し棒で押圧した後、軸孔12の後端に端子金具40を差し込む。そして、絶縁碍子10を加熱した後、端子金具40を押し込み、軸孔12内の上シール材4aと下シール材4bと抵抗体3の材料粉末を溶融させ、その後冷却する。こうすることで、軸孔12内において上シール材4aと下シール材4bと抵抗体3とが凝固し、中心電極20がおよび端子金具40が軸孔12内に固着される。
本実施形態では、上記のように抵抗体3を形成する際に、カーボンブラックの分量を適宜調整した材料粉末を段階的に軸孔12内に充填することで、軸線方向ODにおいて抵抗値の分布を生じさせている。具体的には、軸線方向ODの先端側に充填する材料粉末ほど、後端側に充填する材料粉末よりもカーボンブラックの混合率を低くすることで、軸線方向ODの先端側ほど抵抗値が高くなるようにしている。
図2は、抵抗体3の抵抗値の分布の例を示す図である。図2の下部には、スパークプラグ100の接続部2(上シール材4a+抵抗体3+下シール材4b)の周辺の拡大断面を示している。一方、図2の上部には、接続部2の軸線方向ODにおける各位置の抵抗値をグラフにより示している。このグラフの横軸は軸線方向ODに沿った軸孔12内の位置を示しており、縦軸は、軸線方向ODにおいて先端側に位置する下シール材4bから各位置までの抵抗値を示している。
図2に示すように、本実施形態では、軸線方向ODにおいて下シール材4bから上シール材4aに至るまでに、抵抗体3の抵抗値が漸増している。また、下シール材4bと抵抗体3との界面Aから抵抗体3の中心Bまでの抵抗値の傾きと、抵抗体3の中心Bから上シール材4aと抵抗体3との界面Cまでの抵抗値の傾きが異なっている。具体的には、前者の方が傾きが大きく、後者の方が傾きが小さくなっている。つまり、抵抗体3は、その中心Bから界面Aまでの部分(以下、「中心電極側抵抗部3b」という)の抵抗値(以下、「中心電極側抵抗値R1」という)が、中心Bから界面Cまでの部分(以下、「端子金具側抵抗部3a」という)の抵抗値(以下、「端子金具側抵抗値R2」という)よりも大きくなっている。なお、本実施形態では、「界面A」とは、軸孔12の径方向断面の80%以上を抵抗体3が占める断面のうち、最も先端側に位置する断面のことをいい、「界面C」は、軸孔12の径方向断面の80%以上を抵抗体3が占める断面のうち、最も後端側に位置する断面のことをいう。これら界面Aおよび界面Cの位置は、接続部2の断面映像を画像分析することで決定することができる。図2に示した抵抗値の分布の例では、中心電極側抵抗値R1は、3kΩ程であり、端子金具側抵抗値R2は、2kΩ程である。つまり、抵抗体3全体で、5kΩ程の抵抗値を有している。なお、端子金具側抵抗値R2は、少なくとも100Ω以上の抵抗値を有することが好ましい。
抵抗体3の任意の断面の抵抗値を測定するには、まず、中心電極20側および端子金具40側より研磨を行い、それぞれ、目的の断面を出す。そして、それぞれの断面に銀ペーストを塗布し、断面間の抵抗値を測定する。こうすることで、抵抗体3の任意の断面の抵抗値を測定することができる。また、抵抗体3の中心Bは、中心電極20側から界面Aまで研磨を進めるとともに、端子金具40側から界面Cまで研磨を進め、軸線O上における界面Aと界面Cの中心の位置を求めることで決定することができる。また、中心電極側抵抗部3bと端子金具側抵抗部3aとのそれぞれの抵抗値は、次のように測定することができる。すなわち、例えば、界面Aにおける断面と界面Cとにおける断面とに銀ペーストをそれぞれ塗布して抵抗体3全体の抵抗値を測定し、その上で、中心電極20側から中心Bまで研磨を行う。そして、中心Bにおける断面に銀ペーストを塗布して、残った抵抗体3(すなわち、端子金具側抵抗部3a)の両端における抵抗値を測定する。こうすることで、端子金具側抵抗値R2を測定することができる。また、この端子金具側抵抗値R2の測定に先立って測定しておいた抵抗体3全体の抵抗値から、この端子金具側抵抗値R2を差し引けば、中心電極側抵抗値R1を求めることができる。なお、ここでは、中心電極20側から中心Bまで研磨を行うこととしたが、端子金具40側から中心Bまで研磨を行うことで、中心電極側抵抗値R1と端子金具側抵抗値R2とを求めてもよい。その他にも、中心Bにおいて抵抗体3を切断して端子金具側抵抗部3aと中心電極側抵抗部3bとを分離させ、それぞれ、個別に抵抗値を測定することとしてもよい。
図3は、スパークプラグ100の35個のサンプルについて中心電極側抵抗部3bと端子金具側抵抗部3aとの抵抗値の差(R1−R2)に応じた電波雑音の評価結果を示す図である。この図3に示すように、サンプルNo.1〜9は、抵抗体3全体の抵抗値を2kΩとしつつ、中心電極側抵抗値R1と端子金具側抵抗値R2との差を、1.5kΩ〜−1.5kΩまで調整したものである。また、サンプルNo.10〜18は、抵抗体3全体の抵抗値を5kΩとしつつ、中心電極側抵抗値R1と端子金具側抵抗値R2との差を、4kΩ〜−4kΩまで調整したものである。更に、サンプルNo.19〜35は、抵抗体3全体の抵抗値を10kΩとしつつ、中心電極側抵抗値R1と端子金具側抵抗値R2との差を、6kΩ〜−6kΩまで調整したものである。
この図3には、各サンプルについて、CISPR12で規定されたボックス法と呼ばれる試験に基づいて電波雑音性能の評価を行った試験結果を示している。具体的には、中心電極側抵抗値R1と端子金具側抵抗値R2と差が0Ωのサンプルと比較して、5dB以上、電波雑音が低下したものには「◎◎」という記号を付し、2.5dB以上低下したものには「◎」を、1.5dB以上低下したものには「○」を付した。その他、1.5dB以上、電波雑音が大きくなったものには、「×」を付した。図3に示した各サンプルの評価結果によれば、抵抗体3の全体の抵抗値が、2kΩ、5kΩ、10kΩのいずれのサンプルであっても、端子金具側抵抗値R2よりも中心電極側抵抗値R1の方が、0.5kΩ以上、好ましくは、1.0kΩ以上大きければ、抵抗値の差がないサンプルよりも電波雑音のレベルを効果的に低減可能であることが確認された。よって、本実施形態のスパークプラグ100では抵抗体3の中心電極側抵抗部3bの抵抗値を端子金具側抵抗部3aの抵抗値よりも0.5kΩ以上、好ましくは、1.0kΩ以上、大きい値とした。
図4は、各サンプルの電波雑音の周波数毎の減衰量を示す図である。ここでは、図3に示したサンプルのうち、代表的な4つのサンプル(サンプルNo.23,24,27,30)について上述したボックス法に基づき周波数毎の評価を行った。図4に示した評価結果によれば、サンプルNo.23,24のように端子金具側抵抗値R2よりも中心電極側抵抗値R1の方が大きければ、抵抗値の差がないサンプルNo.27よりも、0〜1000MHzの全周波数領域に亘って、電波雑音の減衰量が大きくなった。例えば、抵抗値の差が1kΩであるサンプルNo.24では、抵抗値の差がないサンプルNo.27と比較して、400〜600MHz付近で最大で2.5dB減衰し、抵抗値の差が2kΩであるサンプルNo.23では、最大で5dB減衰した。これに対して、端子金具側抵抗値R2よりも中心電極側抵抗値R1の方が小さいサンプルNo.30では、全周波数に亘って、抵抗値の差がないサンプルNo.27よりも電波雑音の減衰量は劣っていた。
図5は、中周波数領域(100MHz)における抵抗体3のシール径Dに応じた電波雑音性能の向上率を示す図である。ここでは、図3に示したサンプルのうち、代表的な5つのサンプル(サンプルNo.23,24,25,26,27)について、抵抗体3の直径を示すシール径D(図2参照)を変化させて電波雑音性能の向上率を求めた。図5に示した各値は、中心電極側抵抗値R1と端子金具側抵抗値R2とに差がなくシール径Dが3.9mmのサンプルNo.27の電波雑音の減衰率に対する減衰率の向上率を示している。図5に示した評価結果によれば、シール径Dが、2.9mm以下になれば、抵抗値の差が大きいサンプルほど、電波雑音性能の向上率が顕著に高まることが確認された。例えば、抵抗値の差がないサンプルNo.27においても、シール径を3.9mmから2.9mmまで細くするだけで、7%程度の向上が見られるが、抵抗値の差がサンプルNo.26のように、0.2kΩと比較的小さい場合でも、抵抗値の差がないサンプルNo.27に対して2倍以上の向上率となった。この評価結果に基づき、本実施形態のスパークプラグ100における抵抗体3の直径(シール径D)は、2.9mm以下であることとした。
以上で説明した本実施形態のスパークプラグ100では、軸孔12内に配置される抵抗体3の抵抗値に分布を持たせ、火花ギャップに近い中心電極側抵抗部3bの抵抗値を端子金具側抵抗部3aの抵抗値よりも大きくしている。そのため、火花放電に伴って発生する電波雑音のレベルを効果的に抑制することが可能になる。また、抵抗体3の全体の抵抗値を変化させる必要がないため、飛火性能が低下してしまうことを抑制することが可能になる。また、従来は、抵抗体3全体の抵抗値を大きくすると低周波の電波雑音が抑制され、抵抗体3の軸線方向ODに沿った長さを長くすると高周波の電波雑音が抑制されることが知られていたが、本実施形態では、中心電極側抵抗部3bの抵抗値を端子金具側抵抗部3aの抵抗値よりも大きくすることで、図4に示したように、局所的な周波数領域ではなく、幅広い周波数領域において電波雑音のレベルを低減することが可能になる。
また、本実施形態のスパークプラグ100では、中心電極側抵抗値R1を端子金具側抵抗値R2よりも0.5kΩ以上、好ましくは、1.0kΩ以上大きくし、端子金具側抵抗値を100Ω以上、抵抗体3の直径を2.9mm以下とすることにより、より効果的に電波雑音のレベルを低減させることが可能になる。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明はこのような形態に限定されず、その趣旨を逸脱しない範囲で種々の構成を採ることが可能である。例えば、以下のような変形が可能である。
上記実施形態では、接続部2は、抵抗体3の両端にガラスシール材(上シール材4a、下シール材4b)がそれぞれ配置される構成とした。これに対して、例えば、接続部2から上シール材4aを省いて抵抗体3と端子金具40とを直接接触させる構成や、下シール材4bを省いて抵抗体3と中心電極20とを直接接触させる構成、あるいは、上シール材4aと下シール材4bの両方を省いて抵抗体3と端子金具40を直接接触させるとともに抵抗体3と中心電極20とを直接接触させる構成とすることも可能である。上シール材4aを省いた場合には、界面Cは、抵抗体3と端子金具40とが接触する部分の最も先端側の断面とすることができる。下シール材4bを省いた場合には、界面Aは、抵抗体3と中心電極20とが接触する部分の最も後端側の断面とすることができる。
上記実施形態では、抵抗体3の界面Aから界面Cにかけて抵抗値が漸増している例を示したが、端子金具側抵抗部3aよりも中心電極側抵抗部3bの方が抵抗値が高ければ、界面Aから界面Cにかけて抵抗値が低下する部分があっても構わない。
上記実施形態では、抵抗体3は、略円柱状であることとし、そのシール径は軸線方向ODにおいて一律であるものとした。これに対して、端子金具側抵抗部3aと中心電極側抵抗部3bとでシール径を異ならせることで、抵抗体3全体の材質を変化させることなく端子金具側抵抗部3aよりも中心電極側抵抗部3bの方の抵抗値を大きくすることとしてもよい。
2…接続部
3…抵抗体
3a…端子金具側抵抗部
3b…中心電極側抵抗部
4a…上シール材
4b…下シール材
5…ガスケット
6…リング部材
8…板パッキン
9…タルク
10…絶縁碍子
12…軸孔
13…脚長部
15…段部
17…先端側胴部
18…後端側胴部
19…鍔部
20…中心電極
21…電極母材
22…芯材
30…接地電極
40…端子金具
50…主体金具
51…工具係合部
52…取付ネジ部
53…加締部
54…シール部
55…座面
56…段部
58…圧縮変形部
59…ネジ首
100…スパークプラグ
200…エンジンヘッド
201…取付ネジ孔
205…開口周縁部
501…挿入孔

Claims (6)

  1. 軸線方向に沿った軸孔を有する絶縁体と、前記軸孔の一端側に設けられた中心電極と、前記軸孔の他端側に設けられた端子金具と、前記軸孔内において前記中心電極と前記端子金具とを電気的に接続する接続部を有するスパークプラグであって、
    前記接続部は抵抗体を含み、
    前記軸線方向における前記抵抗体の中央より前記中心電極側の抵抗値である中心電極側抵抗値が、前記中央より前記端子金具側の抵抗値である端子金具側抵抗値よりも大きいことを特徴とするスパークプラグ。
  2. 請求項1に記載のスパークプラグであって、
    前記軸線方向における前記抵抗体の中央より前記中心電極側を構成する材料の抵抗値が、前記中央より前記端子金具側を構成する材料の抵抗値よりも大きいことを特徴とするスパークプラグ。
  3. 請求項1または請求項2に記載のスパークプラグであって、
    前記中心電極側抵抗値が前記端子金具側抵抗値よりも0.5kΩ以上大きいことを特徴とするスパークプラグ。
  4. 請求項1から請求項3までのいずれか一項に記載のスパークプラグであって、
    前記中心電極側抵抗値が前記端子金具側抵抗値よりも1.0kΩ以上大きいことを特徴とするスパークプラグ。
  5. 請求項1から請求項4までのいずれか一項に記載のスパークプラグであって、
    前記端子金具側抵抗値が100Ω以上であることを特徴とするスパークプラグ。
  6. 請求項1から請求項5までのいずれか一項に記載のスパークプラグであって、
    前記抵抗体は略円柱状であり、前記抵抗体の直径が、2.9mm以下であることを特徴とするスパークプラグ。
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