JP4899123B2 - 薄膜検定方法及び薄膜検定装置 - Google Patents

薄膜検定方法及び薄膜検定装置 Download PDF

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Description

本発明は、薄膜の形成状態を評価する薄膜検定方法及び薄膜検定装置に関し、詳しくは、傾斜した膜上の液滴の転落速度を利用して薄膜の形成状態を評価する薄膜検定方法及び薄膜検定装置に関する。
従来、いわゆるSAM膜(自己組織化単分子膜)の形成状態の評価は、形成した薄膜を破壊し、その破壊された薄膜の一部を原子間顕微鏡(AFM)で観察することによって行っていた。原子間顕微鏡は、試料表面に対して1nm程度にまで探針を接近させ、試料と探針間に働く原子間力を検出し、この原子間力を一定に保つように試料と探針との距離を制御しながら試料表面を走査することにより、試料表面の三次元構造を観察するものであり、あらゆる固体表面の構造や三次元構造を評価できる(例えば、非特許文献1参照。)。
しかしながら、かかる原子間顕微鏡を用いた方法は、形成された膜を破壊して観察する必要があるので、非常に煩雑な作業となり、さらには、抜き取り検査しか行うことができず、全品検査を行うことができないという問題があった。
Binnig et.al,Phys.Rev.Lett.56,930(1986)
本発明の課題は、形成した薄膜を破壊することなく、簡易かつ確実にその形成状態を評価することができる薄膜検定方法及び薄膜検定装置を提供することにある。
本発明者らは、形成した薄膜を破壊し、その破壊された薄膜の一部を原子間力顕微鏡装置で観察することによってしか膜の形成状態の評価を行えないような薄膜について、薄膜を破壊することなく簡易に薄膜の形成状態を評価することができる方法を開発すべく鋭意研究した結果、傾斜した薄膜上に付与した液滴の転落速度(移動速度)を測定して、かかる測定した転落速度の値を用いて薄膜の形成状態を評価することにより、簡易かつ確実に薄膜の形成状態を評価することができることを見い出し、本発明を完成するに至った。すなわち、薄膜の形成状態によって液滴の転落速度に影響が現れることから、液滴の転落速度に基づいて薄膜の形成状態を判断することにより、簡易かつ確実に薄膜の形成状態を評価することができることを見い出した。
すなわち本発明は、(1)傾斜した薄膜上の液滴の転落速度を測定し、該液滴の転落速度の値を用いて薄膜の形成状態の良否を判別することを特徴とする薄膜検定方法や、(2)液滴の転落速度が、所定値以上又は所定値を超える場合に良と判定することを特徴とする上記(1)に記載の薄膜検定方法や、(3)測定する薄膜の傾斜角度が、10〜60°であることを特徴とする上記(1)又は(2)に記載の薄膜検定方法に関する。
また本発明は、(4)測定する薄膜に対する静的接触角が30〜80°の液体を用いることを特徴とする上記(1)〜(3)のいずれかに記載の薄膜検定方法や、(5)薄膜が単分子膜であることを特徴とする上記(1)〜(4)のいずれかに記載の薄膜検定方法に関する。
さらに本発明は、(6)単分子膜が、式[1]
−Si−X4−n …… [1]
(式[1]中、Rは置換基を有していてもよいC1〜C22の炭化水素基、置換基を有していてもよいC1〜C22のハロゲン化炭化水素基、連結基を含むC1〜C22の炭化水素基、又は連結基を含むC1〜C22のハロゲン化炭化水素基を表し、Xは水酸基、ハロゲン原子、C1〜C6のアルコキシ基又はC1〜C6のアシルオキシ基を表し、nは1〜3の整数を表す。)で示されるシラン系界面活性剤、該シラン系界面活性剤と相互作用し得る触媒、及び水を含む薄膜形成用溶液を用いて形成された単分子膜であることを特徴とする上記(5)に記載の薄膜検定方法や、(7)薄膜が形成された基体を載置すると共に所定角度に傾けることが可能な傾斜載置台と、薄膜上に液滴を付与可能な液滴付与手段と、薄膜上に付与された液滴の転落速度を測定する転落速度測定手段と、転落速度の値を用いて薄膜の形成状態の良否を判別する判別手段とを備えたことを特徴とする薄膜検定装置に関する。
本発明の薄膜の検定方法及び薄膜の検定装置によれば、薄膜を破壊することなく、簡易かつ確実に薄膜の形成状態を評価することができ、全品検査が可能となる。
本発明における薄膜検定方法としては、傾斜した薄膜上の液滴の転落速度を測定し、該液滴の転落速度の値を用いて薄膜の形成状態の良否を判別する方法であれば特に制限されるものではなく、例えば、転落速度が所定値以上又は所定値を超える場合に良と判定することができる。すなわち、基材上に薄膜が均一に形成されている場合には、液滴の転落速度が速いので、これを形成状態の良好な薄膜と判断することができる。なお、本発明の薄膜検定方法は、同一材料からなる薄膜の形成状態を検査するための方法である。上記所定値としては、薄膜の傾斜角度、薄膜の材質、液滴の種類、液滴の容量等の種々の条件により左右されるため一概に規定することはできないが、例えば、従来の原子間顕微鏡による観察により、基準となる形成状態の薄膜を決定し、かかる基準薄膜を用いて測定した液滴の転落速度そのものの値や、その値を適宜調整した値を用いることができる。
本発明の検定方法によれば、薄膜を破壊することなく、簡易かつ確実に薄膜の形成状態を評価することができる。また、薄膜を破壊することなく評価を行うことができるので、全品検査が可能となる。すなわち、本発明の薄膜検定方法においては、良好な薄膜が形成されている場合に液滴の転落速度が速いことを利用して、良好な薄膜が形成されているか否かを判別することができる。
本発明の検定方法においては、液体の転落速度は、所定時間に液滴が転落する距離や、液滴が所定距離転落するときの時間を測定することにより算出することができる。所定時間に液滴が転落する距離を測定する場合、所定時間としては、例えば、10秒〜5分程度とすることができる。また、液滴が所定距離転落するときの時間を測定する場合、液滴の所定転落距離としては、薄膜の一辺や対角線等の薄膜全体とすることもできるが、薄膜の一部であってもよく、具体的に、例えば、0.2〜100mmの転落距離を測定することができ、0.2〜20mmの転落距離を測定することがより好ましい。また、より正確な判別ができる点から、薄膜の複数個所において複数回測定してもよく、そのすべての測定値が所定値以上又は所定値を超える場合を良と判別してもよいし、その複数の測定値の平均値が所定値以上又は所定値を超える場合を良と判断してもよい。なお、本発明においては、便宜上、「液滴の転落速度の値を用いて薄膜の形成状態の良否を判別する」と規定しているが、液滴が所定距離転落する時間や、液滴が所定時間に転落する距離を用いて判別することも、実質的に転落速度の値を用いて判別することと同様であり、本発明に含まれる。
測定する薄膜の傾斜角度としては、液滴の転落角度を超えるものであれば特に制限されるものではなく、薄膜の形成状態の相違に対応して転落速度の差が顕著に表われるような角度であることが好ましく、10〜60°であることが好ましく、20〜40°であることがより好ましい。
なお、本発明の検定方法においては、傾斜した薄膜に液滴を付与してもよいし、水平な薄膜に液滴を付与した後に傾斜させてもよい。また、液滴の転落角度は、理論的には下記式より求めることができる。
mg sinα/W = γ(cosθ−cosθ
m:液滴の質量
g:重力加速度
α:液滴の転落角
γ:液の表面エネルギー
θ:前進接触角
θ:後退接触角
本発明の薄膜検定方法において用いる液体の種類は、検査する薄膜の種類によって適宜決定することができ、例えば、測定する薄膜に対する静的接触角が30〜80°である液体を用いることが好ましく、薄膜に対する静的接触角が35〜75°である液体を用いることがより好ましく、薄膜に対する静的接触角が40〜70°である液体を用いることがさらに好ましい。上記静的接触角は、JIS R 3257(基板ガラス表面のぬれ性試験方法)に基づいて測定した値をいい、例えば、Drop Master 700(協和界面科学(株)製)を用いて測定することができる。
本発明の薄膜検定方法において用いる液体としては、具体的に、水、有機液体を挙げることができ、具体的に、有機液体としては、ブチルカルビトールアセテート、テトラヒドロフラン、ドデカン、アセトン、トルエン、エチルベンゼン、ブチルベンゼン、o−キシレン、m−キシレン、p−キシレン、1−ペンタノール、オクタノール、テトラデカン、ヘキサデカン、オクタデカン、α−テルピネオール、ブチルセロソルブ、オクチルベンゼン、シクロペンタノン、ドデシルベンゼン、オレイン酸、ステアリン酸、ラウリン酸、リノール酸、リノレン酸、イソアミノール、ジオクチルエーテル、ジメチルホルムアミド、N−メチルピロリドン、テトラエチレングリコール、トリエチレングリコール、四塩化炭素を挙げることができ、水及び有機液体の混合物であってもよいし、2種以上の有機液体の混合物であってもよい。後述する式[1]で示されるシラン系界面活性剤、該シラン系界面活性剤と相互作用し得る触媒、及び水を含む有機溶媒溶液を用いた単分子膜(I)の評価においては、ブチルカルビトールアセテートを好ましく用いることができる。薄膜上への液滴の付与量としては、1〜100μLであることが好ましく、1〜10μLであることがより好ましい。
また、本発明の薄膜検定装置としては、薄膜が形成された基体を載置すると共に所定角度に傾けることが可能な傾斜載置台と、薄膜上に液滴を付与可能な液滴付与手段と、薄膜上に付与された液滴の転落速度を測定する転落速度測定手段と、転落速度の値を用いて薄膜の形成状態の良否を判別する判別手段とを備えた装置であれば特に制限されるものではなく、本発明の薄膜検定装置を用いて上記本発明の薄膜検定方法を実施することができる。
傾斜載置台としては、薄膜が形成された基体を載置すると共に所定角度に傾けることができるものであれば特に制限されるものではなく、傾斜角度としては、上記検定方法と同様に、薄膜の形成状態の相違に対応して転落速度の差が顕著に表われるような角度であることが好ましく、10〜60°程度であることが好ましく、20〜40°であることがより好ましい。また、傾斜載置台は、薄膜が形成された基体を間欠的又は連続的に搬送することができる搬送手段を備えたものであってもよい。
液滴付与手段としては、薄膜上に液滴を付与可能な手段であれば特に制限されるものではなく、針部材及びシリンジを備えた手段を挙げることができる。この針部材の内部には、液体の種類等を考慮し、必要に応じて、テフロン(登録商標)コート等を行うことができる。
転落速度測定手段としては、薄膜上に付与された液滴の転落速度を測定する手段であれば特に制限されるものではなく、所定時間に液滴が転落する距離又は所定距離を液体が転落する時間を測定して転落速度を算出する手段を挙げることができる。また、複数回測定して算出した転落速度の平均値を算出する手段を備えていてもよい。具体的に、液滴の転落速度の測定には、Drop Master 700(協和界面科学(株)製)を用いることができ、例えば、液体が10秒〜5分程度の間に転落する距離(例えば0.2〜100mm)を測定して、転落速度の算出を行うことができる。
判別手段としては、転落速度の値を用いて薄膜の形成状態の良否を判別する手段であれば特に制限されるものではなく、良好な薄膜が形成されている場合には、不良な薄膜が形成されている場合に比して転落速度が速いことを利用して、良好な薄膜が形成されているか否かを判別することができる。
なお、液滴が所定距離移動する時間や、液滴が所定時間に移動する距離を測定し、かかる測定値を用いて判別することも本発明に含まれることは、上述の本発明の検定方法の場合と同様である。
本発明の薄膜検定方法及び薄膜検定装置は、種々の薄膜の形成状態の検査に使用することができ、薄膜とは、0.5nm〜100μm、好ましくは0.5nm〜100nmの膜をいう。種々の薄膜の中でも、本発明の薄膜検定方法及び薄膜検定装置は、特に、形成状態の検査の困難な単分子膜の測定に有用である。このような単分子膜としては、従来公知の単分子膜を挙げることができ、例えば、有機硫黄分子[R−SH,RS−SR’,R−SCN]、有機セレン・テルル分子[R−SeH,R−TeH,(RSe)]、ニトリル化合物[R−CN]、モノアルキルシラン[R−CN]、カルボン酸[R−COOH]、ホスホン酸[RPO]、リン酸エステル[RO−PO]、有機シラン分子[RSiCl,RSi(OCH,RSi(OEt)]、不飽和炭化水素[R−CH=CH]、アルコール[R−OH]、アルデヒト[R−CHO]、臭化アルキル[R−Br]、ジアゾ化合物[(RN)]、ヨウ化アルキル[R−I]等を用いて作製した単分子膜を挙げることができる。より具体的には、例えば、式[1]
−Si−X4−n …… [1]
で示されるシラン系界面活性剤、該シラン系界面活性剤と相互作用し得る触媒、及び水を含む薄膜形成用溶液を用いて形成された単分子膜(I)を挙げることができる。
以下、かかる単分子膜(I)について詳細に説明する。
前記式[1]中、Rは置換基を有していてもよいC1〜C22の炭化水素基、置換基を有していてもよいC1〜C22のハロゲン化炭化水素基、連結基を含むC1〜C22の炭化水素基、又は連結基を含むC1〜C22のハロゲン化炭化水素基を表す。
前記置換基を有していてもよいC1〜C22の炭化水素基の炭化水素基としては、C1〜C22のアルキル基、C2〜C22のアルケニル基、アリール基等を挙げることができ、C8〜C20の炭化水素基が好ましい。
前記置換基を有していてもよいハロゲン化炭化水素基のハロゲン化炭化水素基としては、C1〜C22のハロゲン化アルキル基、C2〜C22のハロゲン化アルケニル基、ハロゲン化アリール基等が挙げられる。
前記連結基は、炭化水素基若しくはハロゲン化炭化水素基の炭素−炭素結合間、又は炭化水素基の炭素とケイ素原子の間に存在するのが好ましい。連結基の具体例としては、−O−、−S−、−SO−、−CO−、又は−C(=O)O−等を挙げることができる。
Xは、水酸基、ハロゲン原子、C1〜C6のアルコキシ基又はC1〜C6のアシルオキシ基を表し、C1〜C6のアルコキシ基が好ましい。また、nとしては、1〜3の整数を表し、1が好ましい。
具体的に、前記式[1]で示されるシラン系界面活性剤としては、(ヘプタデカフルオリン、1,1,2,2−テトラヒドロデシル)−1−トリエトキシシラン、(ヘプタデカフルオリン1,1,2,2−テトラヒドロデシル)−1−トリクロロシラン、(ヘプタデカフルオリン1,1,2,2−テトラヒドロデシル)−1−ジメチルクロロシラン又はn−オクタデシルトリメトキシシラン等を例示することができるが、中でも、n−オクタデシルトリメトキシシランを好適に例示することができる。
また、前記シラン系界面活性剤と相互作用し得る触媒としては、シラン系界面活性剤のシラン部分又は加水分解性基部分と配位結合や水素結合等を介して相互作用をすることにより、加水分解性基又は水酸基を活性化させ、縮合を促進させる作用を有する化合物であれば特に制限されるものでなく、(A)金属酸化物;金属水酸化物;金属アルコキシド類;キレート化又は配位化された金属化合物;金属アルコキシド類部分加水分解生成物;金属アルコキシド類を該金属アルコキシド類の2倍当量以上の水で処理して得られた加水分解生成物;有機酸;シラノール縮合触媒、及び酸触媒からなる群から選ばれる少なくとも1種の化合物(以下、「触媒A成分」ということがある)や、(B)(a)触媒A成分と(b)前記シラン系界面活性剤を含有する組成物(以下、「触媒B成分」ということがある)が好ましく、金属アルコキシド類、金属アルコキシド類の部分加水分解生成物の少なくとも1種を用いるのがより好ましい。
金属アルコキシド類としては、特に限定されないが、透明性に優れる有機薄膜を得ることができること等の理由から、チタン、ジルコニウム、アルミニウム、ケイ素、ゲルマニウム、インジウム、スズ、タンタル、亜鉛、タングステン及び鉛からなる群から選ばれる少なくとも1種の金属のアルコキシド類が好ましく、中でも、チタンテトライソプロポキシド等のチタンアルコキシド類が好ましい。また、金属アルコキシド類のアルコキシ基の炭素数は特に限定されないが、含有酸化物濃度、有機物の脱離容易性、入手容易性等から、C1〜C4のものがより好ましい。
金属アルコキシド類の具体例としては、Si(OCH、Si(OC、Si(OC−i)、Si(OC−t)等のケイ素アルコキシド;Ti(OCH、Ti(OC、Ti(OC−i)、Ti(OC等のチタンアルコキシド;Ti[OSi(CH、Ti[OSi(C等のテトラキストリアルキルシロキシチタン;Zr(OCH、Zr(OC、Zr(OC、Zr(OC等のジルコニウムアルコキシド;Al(OCH、Al(OC、Al(OC−i)、Al(OC等のアルミニウムアルコキシド;Ge(OC等のゲルマニウムアルコキシド;In(OCH、In(OC、In(OC−i)、In(OC等のインジウムアルコキシド;Sn(OCH、Sn(OC、Sn(OC−i)、Sn(OC等のスズアルコキシド;Ta(OCH、Ta(OC、Ta(OC−i)、Ta(OC等のタンタルアルコキシド;W(OCH、W(OC、W(OC−i)、W(OC等のタングステンアルコキシド;Zn(OC等の亜鉛アルコキシド;Pb(OC等の鉛アルコキシド;等を挙げることができる。これらの金属アルコキシド類は1種単独で、あるいは2種以上を組み合わせて用いることができる。
また、金属アルコキシド類として、2種以上の金属アルコキシド類の反応により得られる複合アルコキシド、1種もしくは2種以上の金属アルコキシド類と、1種もしくは2種以上の金属塩との反応により得られる複合アルコキシド、及びこれらの組み合わせを用いることもできる。
2種以上の金属アルコキシド類の反応により得られる複合アルコキシドとしては、アルカリ金属又はアルカリ土類金属のアルコキシドと、遷移金属のアルコキシドとの反応により得られる複合アルコキシドや、第3B族元素の組合せにより錯塩の形で得られる複合アルコキシド等を例示することができる。
1種もしくは2種以上の金属アルコキシド類と1種もしくは2種以上の金属塩との反応により得られる複合アルコキシドとしては、塩化物、硝酸塩、硫酸塩、酢酸塩、ギ酸塩、シュウ酸塩等の金属塩と金属アルコキシド類との反応により得られる化合物を例示することができる。
金属アルコキシド類の部分加水分解生成物は、金属アルコキシド類を完全に加水分解する前に得られるものであって、オリゴマーの形成状態で存在するものである。
金属アルコキシド類の部分加水分解生成物の製造方法としては、有機溶媒中、上記例示した金属アルコキシド類に対し0.5〜2.0倍モル未満の水を用い、−100℃から有機溶媒還流温度範囲で加水分解する方法を好ましく例示することができる。
具体的には、
(i)有機溶媒中、金属アルコキシド類に対し0.5〜1.0倍モル未満の水を添加する方法、
(ii)有機溶媒中、加水分解が開始する温度以下、好ましくは0℃以下、より好ましくは−20〜−100℃の範囲で、金属アルコキシド類に対し1.0〜2.0倍モル未満の水を添加する方法、
(iii)有機溶媒中、水の添加速度を制御する方法や、水に水溶性溶媒を添加して水濃度を低下させた水溶液を使用する方法等により、加水分解速度を制御しながら、金属アルコキシド類に対し0.5〜2.0倍モル未満の水を室温で添加する方法、等を例示することができる。
前記シラン系界面活性剤と相互作用し得る触媒としての触媒B成分は、触媒A成分と前記シラン系界面活性剤とを混合することにより得ることができ、より具体的には、シラン系界面活性剤を、触媒A成分の存在下、有機溶媒中、水で処理することによって調製することができる。触媒B成分中、シラン系界面活性剤を触媒A成分1モルに対して、0.5〜2.0モル含むのが好ましく、0.8〜1.5モル含むのがより好ましい。
前記シラン系界面活性剤を、有機溶媒中、触媒A成分の存在下、水で処理する方法としては、具体的には、(ア)シラン系界面活性剤及び触媒A成分の有機溶媒溶液に水を添加する方法、(イ)シラン系界面活性剤と水の有機溶媒溶液に、触媒A成分を添加する方法等を挙げることができる。なお、触媒A成分は、水を含む有機溶媒の形成状態で使用されるのが一般的である。
単分子膜(I)を形成するための薄膜形成用溶液は、前記シラン系界面活性剤と触媒A成分、あるいは前記シラン系界面活性剤と触媒B成分とから得ることができる。より具体的には、前記シラン系界面活性剤、有機溶媒、触媒A成分、及び水の混合物を撹拌することで、あるいは前記シラン系界面活性剤、有機溶媒、触媒B成分、及び水の混合物を撹拌することで得ることができる。
薄膜形成用溶液の調製に用いる触媒A成分や触媒B成分の使用量は、形成する単分子の有機薄膜の物性に影響を与えない量であれば特に制限されないが、シラン系界面活性剤1モルに対して酸化物換算モル数で、それぞれ通常0.001〜1モル、好ましくは0.001〜0.2モルである。かかる薄膜形成用溶液は、より具体的には、(a)前記触媒A成分又は触媒B成分、及びシラン系界面活性剤の有機溶媒溶液に、水を添加する方法、(b)シラン系界面活性剤と水の混合溶液に、前記触媒A成分又は触媒B成分を添加する方法等を挙げることができる。また、急激な反応を抑えるためには、(a)の方法において添加する水、(b)の方法において添加する触媒A成分及び触媒B成分は、有機溶媒等で希釈したものであるのが好ましい。
本発明の膜形成用溶液の調製に用いる有機溶媒としては、炭化水素系溶媒、フッ化炭素系溶媒及びシリコーン系溶媒が好ましく、なかでも、沸点が100〜250℃のものがより好ましい。
膜形成用溶液の水分含量は、具体的には50ppm以上が好ましく、より好ましくは50ppmから有機溶媒への飽和水分含量の範囲(より具体的には、50〜1000ppmの範囲)である。
基体上に薄膜を形成する方法としては、上記のようにして得られた薄膜形成用溶液に、基体を接触させる方法を挙げることができる。基体を接触させる方法としては、浸漬、塗布、スプレー等を挙げることができるが、浸漬が好ましく、浸漬時間としては、基体の種類にもよるが、1分間〜5日間程度が好ましく、1分間〜3日間がより好ましく、5分間〜2日間がさらに好ましい。そして、炭化水素系溶媒溶液等を用いて、浸漬等の接触後に超音波洗浄することがより好ましい。
薄膜を形成する基体としては、活性水素を表面に有する基体が好ましい。ここで、活性水素とは、プロトンとして解離しやすいものをいい、活性水素を含む官能基としては、水酸基(−OH)、カルボキシル基(−COOH)、ホルミル基(−CHO)、イミノ基(=NH)、アミノ基(−NH)、チオール基(−SH)等が挙げられ、中でも、水酸基が好ましい。
具体的に、基体としては、アルミニウム、銅、ステンレス等の金属;ガラス;シリコンウェハー;セラミックス;プラスチック;紙;天然繊維又は合成繊維;皮革;その他親水性の物質;等からなる基体が挙げられる。中でも、金属、ガラス、シリコンウェハー、セラミックス、及びプラスチックからなる基体が好ましい。
以下、実施例により本発明をより具体的に説明するが、本発明の技術的範囲はこれらの例示に限定されるものではない。
式[1]で示されるシラン系界面活性剤、該シラン系界面活性剤と相互作用し得る触媒、及び水を含む薄膜形成用溶液中に、ガラス基板を浸漬し、基板上に単分子膜(I)を形成した(試料(A)〜(C))。具体的には以下のようにして単分子膜(I)を形成した。
(1)シラン系界面活性剤
式[1]で示されるシラン系界面活性剤として、n−オクタデシルトリメトキシシラン(ODS)(Gelest社製)を用いた。
(2)触媒の調製
4つ口フラスコに、チタンテトライソプロポキシド(商品名:A−1、日本曹達社製:純度99%、酸化チタン換算濃度28.2重量%)12.4gをトルエン45.0gに溶解し、窒素ガス置換した後に、変性アルコール/ドライアイスバス中で−40℃に冷却した。別に、イオン交換水1.26g(H2O/Ti=1.6モル比)をイソプロパノール11.3gに混合後、−40℃に冷却した状態で、上記4つ口フラスコ中へ攪拌しながら滴下した。滴下中は、フラスコ内の液温を−40℃に維持した。滴下終了後、冷却しながら30分間攪拌後、その後室温に昇温して、無色透明な部分加水分解溶液を得た。溶液の固形分濃度は、酸化チタン換算で5重量%であった。
この部分加水分解溶液20gに、式[1]で示されるシラン系界面活性剤を、TiO:ODS=1:1(モル比)に相当する量を加え、さらにTiO換算で1wt%に相当するトルエンで希釈した。次に、蒸留水5gを加えて、40℃、3日間攪拌した後、室温に冷却した。2層分離している過剰の水を取り除き、透明な離型層形成用の触媒溶液を得た。また、分離した水層からはTiもODSも検出されなかった。
(3)膜形成用溶液の調製
水分含量450ppmのトルエンに、最終濃度0.5重量%に相当する式[1]で示されるシラン系界面活性剤を加え室温で30分間攪拌した。次に、式[1]で示されるシラン系界面活性剤の1/10倍モル(TiO換算)相当の触媒溶液を滴下し、滴下終了後、室温で3時間攪拌した。この溶液中の水分含量を500ppmになるように水を加え膜形成用溶液を得た。
(4)膜の形成
ガラス基板を、上記膜形成用溶液中に浸漬後、引き上げ、炭化水素系洗浄剤(NSクリーン 株式会社ジャパンエナジー製)で超音波洗浄して取り除き、乾燥して、試料(A)〜(C)を得た。試料(A)は浸漬時間を2分間としたものであり、試料(B)は浸漬時間を5分間としたものであり、試料(C)は浸漬時間を10分間としたものである。なお、試料(A)〜(C)の原子間顕微鏡による観察結果を図1に示す。試料(A)は亀裂が大きく入った不良膜が形成され、試料(B)は良好な単分子膜が形成され、試料(C)は多分子膜が形成されている。
かかる試料(A)〜(C)について、室温にて、傾斜角度を変えて、液滴の転落速度の変化を調査した。液滴の転落速度の測定には、Drop Master 700(協和界面科学(株)製)を用いた。液体としてはブチルカルビトールアセテートを用い、付与量は1μLとした。その結果を図2に示す。図2から明らかなように、所定の傾斜角度(例えば、23°以上)では、膜質によって転落速度に明確な差が表われることがわかる。例えば、薄膜の傾斜角度を33°として、転落速度が1.0mm/minを超えるものを良好な薄膜が形成されたものと判定することができる。また、薄膜の傾斜角度を29°として、転落速度が1.0mm/minを超えるものを良好な単分子膜が形成されたものと判定することにより、多分子膜と区別して評価することができる。
試料(A)〜(C)の原子間顕微鏡による観察結果を示す図である。 試料(A)〜(C)の傾斜角度に対する転落速度の変化を示す図である。

Claims (4)

  1. 傾斜した薄膜上の液滴の転落速度を測定し、該液滴の転落速度の値を用いて薄膜の形成状態の良否を判別する薄膜検定方法において、薄膜が式[1]
    −Si−X 4−n …… [1]
    (式[1]中、Rは置換基を有していてもよいC1〜C22の炭化水素基、置換基を有していてもよいC1〜C22のハロゲン化炭化水素基、連結基を含むC1〜C22の炭化水素基、又は連結基を含むC1〜C22のハロゲン化炭化水素基を表し、Xは水酸基、ハロゲン原子、C1〜C6のアルコキシ基又はC1〜C6のアシルオキシ基を表し、nは1〜3の整数を表す。)で示されるシラン系界面活性剤、該シラン系界面活性剤と相互作用し得る触媒、及び水を含む薄膜形成用溶液を用いて形成された単分子膜であり、測定する薄膜に対する静的接触角が30〜80°の有機液体を液滴として用いることを特徴とする薄膜検定方法。
  2. 液滴の転落速度が、所定値以上又は所定値を超える場合に良と判定することを特徴とする請求項1に記載の薄膜検定方法。
  3. 測定する薄膜の傾斜角度が、10〜60°であることを特徴とする請求項1又は2に記載の薄膜検定方法。
  4. 有機液体が、ブチルカルビトールアセテート、テトラヒドロフラン、ドデカン、アセトン、トルエン、エチルベンゼン、ブチルベンゼン、o−キシレン、m−キシレン、p−キシレン、1−ペンタノール、オクタノール、テトラデカン、ヘキサデカン、オクタデカン、α−テルピネオール、ブチルセロソルブ、オクチルベンゼン、シクロペンタノン、ドデシルベンゼン、オレイン酸、ステアリン酸、ラウリン酸、リノール酸、リノレン酸、イソアミノール、ジオクチルエーテル、ジメチルホルムアミド、N−メチルピロリドン、テトラエチレングリコール、トリエチレングリコール又は四塩化炭素であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の薄膜検定方法。
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