JP4885235B2 - 接合装置および接合装置メンテナンス方法 - Google Patents

接合装置および接合装置メンテナンス方法 Download PDF

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Description

本発明は、接合装置および接合装置メンテナンス方法に関し、特に、真空チャンバの内部に粒子を放出する接合装置およびその接合装置をメンテナンスする接合装置メンテナンス方法に関する。
微細な電気部品や機械部品を集積化したMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)が知られている。そのMEMSとしては、マイクロマシン、圧力センサ、超小型モーターなどが例示される。このようなMEMSを常温接合により作製する常温接合装置が知られている。その常温接合装置は、真空チャンバーとイオンガンとを備え、真空チャンバー内でイオンビームが照射された基板を接合することにより、そのMEMSを作製する。このような常温接合装置は、照射対象に粒子をより確実に照射することができ、かつ、真空チャンバの内部を昇圧させることなく、ガンをより速くメンテナンスすることが望まれている。
特開昭61−272375号公報には、真空容器をサンプル交換等のために開いてもイオン源を大気にさらすことによる耐電圧性能の劣化を起こせず、構造が簡単で、信頼性の高い薄膜形成装置が開示されている。その薄膜形成装置は、イオン源と、真空容器とからなる薄膜形成装置において、前記イオン源と前記真空容器の間に、パッキンをイオン源側にそしてシートを真空容器側にした構造のゲート・バルブを設けたことを特徴としている。
特公平07−072340号公報には、信頼性が高く、長寿命で安定した成膜が可能な真空蒸着装置が開示されている。その真空蒸着装置は、排気可能な内部空間、該内部空間内に配置された荷電粒子ビーム発生源、及び荷電粒子ビームを放射する放射孔を有する荷電粒子ビーム供給手段と、前記荷電粒子ビーム供給手段より放射する荷電粒子ビームを導入する開孔部を有し、前記荷電粒子ビーム供給手段の内部空間と独立に排気可能な内部空間を有する真空容器と、前記真空容器の内部空間内に配置され、前記荷電粒子ビーム発生源に対し所定の電位差を与えることにより前記荷電粒子ビームが衝突する蒸発源と、前記蒸発源からの蒸発成分が付着するように配置された試料保持手段と、前記開孔部と前記放射孔とを気密を保って連接する開閉可能なバルブ手段であって、前記バルブ手段を開状態とするときには前記真空容器の内部空間と前記荷電粒子ビーム供給手段の内部空間とを連通させ、閉状態とするときには前記真空容器の内部空間と前記荷電粒子ビーム供給手段の内部空間とを遮断分離し、遮断分離した状態では、前記真空容器の内部空間の真空状態を保持したまま前記荷電粒子ビーム供給手段を前記バルブ手段から取り外すことができる前記バルブ手段とを有している。
本発明の課題は、照射対象に粒子をより確実に照射することができ、かつ、より速くメンテナンスすることができる接合装置を提供することにある。
本発明の他の課題は、照射対象に粒子をより確実に照射することができる接合装置をより速くメンテナンスすることができ接合装置メンテナンス方法を提供することにある。
本発明による接合装置は、粒子を放出するガンと、その粒子が放出される雰囲気が内部に生成される真空チャンバと、引出し機構チャンバと、その真空チャンバとその引出し機構チャンバとの間を開閉するゲートバルブとを備えている。そのガンは、そのゲートバルブを通って移動可能に支持される。このような接合装置は、そのゲートバルブを通ってその引出し機構チャンバの内部から真空チャンバの内部に配置される照射対象の近傍にガンを移動させることができる。このような接合装置は、ガンをその引出し機構チャンバの内部に移動させた後に、そのゲートバルブを閉鎖することにより、その真空チャンバの内部を昇圧させることなく、ガンを真空チャンバの外部に取り出すことができる。このため、接合装置は、照射対象に粒子をより確実に照射することができ、かつ、真空チャンバの内部を昇圧させることなく、ガンをより速くメンテナンスすることができる。
本発明による接合装置は、そのガンがその真空チャンバーの内部に配置されているときにその真空チャンバーを密封する蓋をさらに備えている。そのガンは、その蓋に固定されている。このような接合装置は、そのガンがその真空チャンバーの内部に配置されているときに、蓋によりその真空チャンバーを密封することにより、その真空チャンバの内部を昇圧させることなく、引出し機構チャンバの内部を昇圧させることができる。このような接合装置は、さらに、そのガンがその真空チャンバーの内部に配置されているときに、その真空チャンバの内部を昇圧させることなく、その真空チャンバーからゲートバルブを取り外すことができ、または、そのゲートバルブからその引出し機構チャンバを取り外すことができる。
本発明による接合装置は、その真空チャンバの内部に生成される雰囲気に粒子を放出する他のガンと、他の引出し機構チャンバと、その真空チャンバとその他の引出し機構チャンバとの間を開閉する他のゲートバルブとをさらに備えている。その他のガンは、その他の引出し機構チャンバの内部に配置されるように、その他のゲートバルブを通って移動可能に支持される。すなわち、接合装置は、移動可能である複数のガンがそれぞれ配置される複数の引出し機構チャンバと、真空チャンバとその複数の引出し機構チャンバとの間をそれぞれ開閉する複数のゲートバルブとを備えている。このような接合装置によれば、その複数のガンは、その複数の引出し機構チャンバの内部にそれぞれ移動した後に、複数のゲートバルブを閉鎖することにより、その真空チャンバの内部を昇圧させることなく、より速くメンテナンスされることができる。
本発明による接合装置は、その真空チャンバの内部に生成される雰囲気に粒子を放出する他のガンをさらに備えている。その他のガンは、その引出し機構チャンバの内部に配置されるように、そのゲートバルブを通って移動可能に支持される。すなわち、接合装置は、1つの引出し機構チャンバに配置され得る複数のガンを備えている。このような接合装置によれば、その複数のガンは、その引出し機構チャンバの内部にそれぞれ移動した後に、ゲートバルブを閉鎖することにより、その真空チャンバの内部を昇圧させることなく、より速くメンテナンスされることができる。
その他のガンは、そのガンにその粒子を供給するホローカソードであることが好ましい。
その引出し機構チャンバは、その真空チャンバに固定される固定部分と、その固定部分に対して移動可能である可動部分と、その固定部分とその可動部分との間に配置されるベローズを備えている。そのガンは、その可動部分に固定されていることが好ましい。
本発明による接合装置メンテナンス方法は、粒子を放出するガンを真空チャンバから引出し機構チャンバに移動するステップと、そのガンがその引出し機構チャンバの内部に配置されるときに、その真空チャンバとその引出し機構チャンバとの間に配置されるゲートバルブを閉鎖するステップとを備えている。このような接合装置メンテナンス方法によれば、真空チャンバの内部に配置される照射対象の近傍に配置されるガンは、その真空チャンバの内部を昇圧させることなく、真空チャンバの外部に取り出されることができる。このため、このような接合装置メンテナンス方法によれば、真空チャンバの内部を昇圧させることなく、照射対象に粒子をより確実に照射することができるガンをより速くメンテナンスすることができる。
本発明による接合装置メンテナンス方法は、その真空チャンバを密閉する蓋を介してそのガンがその真空チャンバの内部に支持されているときに、その引出し機構チャンバの内部を減圧してゲートバルブを開放するステップをさらに備えている。そのガンは、その蓋とともにその真空チャンバからその引出し機構チャンバーに移動される。このとき、その引出し機構チャンバーは、その蓋がその真空チャンバを密閉しているときに、その引出し機構チャンバの内部を減圧する必要がなく、好ましい。
本発明による接合装置メンテナンス方法は、その引出し機構チャンバをそのゲートバルブに取り付けるステップをさらに備えている。すなわち、その引出し機構チャンバーと真空チャンバーとを備えている接合装置は、このステップの前に、その引出し機構チャンバが取り付けられていない。このとき、接合装置が配置される床面積は、その引出し機構チャンバーの分だけ低減されることができる。
本発明による接合装置メンテナンス方法は、その引出し機構チャンバとそのゲートバルブとをその真空チャンバに取り付けるステップをさらに備えている。すなわち、その引出し機構チャンバーと真空チャンバーとを備えている接合装置は、このステップの前に、その引出し機構チャンバとそのゲートバルブとが取り付けられていない。このとき、接合装置が配置される床面積は、その引出し機構チャンバーとそのゲートバルブとの分だけ、低減されることができる。
本発明による接合装置メンテナンス方法は、そのゲートバルブを開放したまま、そのガンを用いてその粒子を放出するステップをさらに備えていることが好ましい。
本発明による接合装置メンテナンス用治具は、粒子を放出するガンと、その粒子が放出される雰囲気が内部に生成される真空チャンバと、そのガンがその真空チャンバの内部に配置されているときにその真空チャンバを密封する蓋とを備えている。そのガンは、その蓋に固定されている接合装置に取り付けられる。本発明による接合装置メンテナンス用治具は、引出し機構チャンバと、その真空チャンバとその引出し機構チャンバとの間を開閉するゲートバルブと、そのゲートバルブを通るように移動可能にそのガンを支持する可動部分とを備えている。このような接合装置は、真空チャンバの内部に配置される照射対象の近傍にガンを配置させることができる。このような接合装置メンテナンス用治具は、接合装置に取り付けられることにより、ガンをその引出し機構チャンバの内部に移動させた後に、そのゲートバルブを閉鎖することにより、その真空チャンバの内部を昇圧させることなく、ガンを真空チャンバの外部に取り出すことができる。このため、接合装置は、照射対象に粒子をより確実に照射することができ、かつ、真空チャンバの内部を昇圧させることなく、ガンをより速くメンテナンスすることができる。
本発明による接合装置メンテナンス用治具は、粒子を放出するガンと、その粒子が放出される雰囲気が内部に生成される真空チャンバと、そのガンがその真空チャンバの内部に配置されているときにその真空チャンバを密封する蓋と、ゲートバルブとを備えている。そのガンは、その蓋に固定されている接合装置に取り付けられる。本発明による接合装置メンテナンス用治具は、引出し機構チャンバと、そのゲートバルブを通るように移動可能にそのガンを支持する可動部分とを備えている。そのゲートバルブは、その真空チャンバとその引出し機構チャンバとの間を開閉する。このような接合装置は、真空チャンバの内部に配置される照射対象の近傍にガンを配置させることができる。このような接合装置メンテナンス用治具は、接合装置に取り付けられることにより、ガンをその引出し機構チャンバの内部に移動させた後に、そのゲートバルブを閉鎖することにより、その真空チャンバの内部を昇圧させることなく、ガンを真空チャンバの外部に取り出すことができる。このため、接合装置は、照射対象に粒子をより確実に照射することができ、かつ、真空チャンバの内部を昇圧させることなく、ガンをより速くメンテナンスすることができる。
本発明による接合装置は、照射対象に粒子をより確実に照射することができ、かつ、その粒子を放出するガンをより速くメンテナンスすることができる。
本発明による接合装置メンテナンス方法によれば、照射対象に粒子をより確実に照射することができる接合装置は、その粒子を放出するガンをより速くメンテナンスすることができる。
図1は、本発明による接合装置の実施の形態を示す断面図である。 図2は、イオンガンをメンテナンスするときの接合装置を示す断面図である。 図3は、本発明による接合装置メンテナンス方法の実施の形態を示すフローチャートである。 図4は、本発明による接合装置の実施の他の形態を示す断面図である。 図5は、常温接合するときの引出し機構を示す断面図である。 図6は、イオンガンをメンテナンスするときの引出し機構を示す断面図である。 図7は、本発明による接合装置メンテナンス方法の実施の他の形態を示すフローチャートである。 図8は、本発明による接合装置の実施のさらに他の形態を示す断面図である。
図面を参照して、本発明による接合装置の実施の形態を記載する。その接合装置1は、図1に示されているように、接合チャンバー2とゲートバルブ3とパージ用バルブ5と真空ポンプ6とイオンガン7とホローカソード8とを備えている。接合チャンバー2は、内部を環境から隔離する容器である。接合チャンバー2は、図示されていない上側ステージと下側ステージと圧接機構とを備えている。その下側ステージと下側ステージとは、それぞれ、接合チャンバー2の内部に配置され、基板を保持する。その圧接機構は、その上側ステージにより保持される基板とその下側ステージにより保持される基板とが圧接されるように、その下側ステージと下側ステージとを駆動する。
ゲートバルブ3は、接合チャンバー2と図示されていないロードロックチャンバーとの間に介設され、接合チャンバー2の内部とそのロードロックチャンバーの内部とを接続するゲートを閉鎖し、または、開放する。そのロードロックチャンバーは、図示されていない蓋と真空ポンプと搬送装置とを備えている。その蓋は、そのロードロックチャンバーの外部と内部とを接続するゲートを閉鎖し、または、開放する。その真空ポンプは、そのロードロックチャンバーの内部から気体を排気し、そのロードロックチャンバーの内部に真空雰囲気を生成する。その真空雰囲気としては、1×10−5Paの雰囲気が例示される。その搬送装置は、そのロードロックチャンバーの内部に配置されている。その搬送装置は、その上側ステージまたは下側ステージに基板が保持されるように、ゲートバルブ3を介してそのロードロックチャンバーの内部に配置された基板を接合チャンバー2の内部に搬送する。その搬送装置は、ゲートバルブ3を介して、その上側ステージまたは下側ステージに保持される基板をそのロードロックチャンバーの内部に搬送する。
パージ用バルブ5は、窒素ガスを貯蔵するガス供給源を接合チャンバー2に接続する流路の途中に配置され、その流路を開閉する。パージ用バルブ5は、その流路を開放することにより窒素ガスをガス供給源から接合チャンバー2に供給する。なお、パージ用バルブ5は、接合装置1が配置される環境を接合チャンバー2の内部に接続する流路の途中に配置されることもできる。このとき、パージ用バルブ5は、その流路を開放することにより大気を接合チャンバー2に供給する。真空ポンプ6は、接合チャンバー2の内部から気体を排気して、接合チャンバー2の内部に真空雰囲気を生成する。
ホローカソード8は、外部から供給される電力を用いて、電子を加速して放出する。イオンガン7は、外部から供給されるアルゴンガスとホローカソード8により放出される電子とを用いて、アルゴンイオンを生成し、そのアルゴンイオンを加速してアルゴンイオンビーム放出する。このようなアルゴンイオンビームは、所定の広がり角を有している。イオンガン7は、その上側ステージに支持される基板とその下側ステージに支持される基板との両方にそのアルゴンイオンビームが同時に照射されるように、その上側ステージと下側ステージとに十分に近い位置に配置されている。
接合チャンバー2は、引出し機構11と引出し機構12とを備えている。引出し機構11は、引出し機構チャンバ14とゲートバルブ15と吸気弁16と排気弁17と圧力ゲージ18とを備えている。引出し機構チャンバ14は、内部を環境から隔離する容器である。ゲートバルブ15は、接合チャンバ2と引出し機構チャンバ14との間に介設され、接合チャンバー2の内部と引出し機構チャンバ14の内部とを接続するゲートを閉鎖し、または、開放する。吸気弁16は、環境を引出し機構チャンバ14に接続する流路の途中に配置され、その流路の開度が変更されて大気を引出し機構チャンバ14に供給する。排気弁17は、図示されていない真空ポンプを引出し機構チャンバ14に接続する流路の途中に配置され、その流路の開度が変更されて引出し機構チャンバ14の内部に真空雰囲気を生成する。圧力ゲージ18は、引出し機構チャンバ14の内部の圧力を測定する。
引出し機構チャンバ14は、固定部分21と可動部分22とベローズ23とを備えている。固定部分21は、引出し機構チャンバ14の隔壁の一部を形成し、ゲートバルブ15に固定されている。可動部分22は、引出し機構チャンバ14の隔壁の一部を形成し、固定部分21に対して平行移動可能に支持されている。可動部分22は、さらに、イオンガン7を支持している。ベローズ23は、引出し機構チャンバ14の隔壁の一部を形成し、固定部分21と可動部分22とに接合されている。ベローズ23は、可動部分22が平行移動したときに、変形することにより引出し機構チャンバ14の内部を環境から隔離する。
引出し機構11は、さらに、ストッパ24を備えている。ストッパ24は、接合チャンバー2に固定され、衝突面が形成されている。ストッパ24は、ゲートバルブ15が開放され、かつ、接合チャンバ2の内部の圧力が大気圧より低いときに、その衝突面が可動部分22に衝突して、大気圧によりイオンガン7が接合チャンバ2の内部の方向にさらに平行移動しないように、可動部分22の移動範囲を制限している。すなわち、ストッパ24は、ゲートバルブ15が開放され、かつ、接合チャンバ2の内部の圧力が大気圧より低いときに、イオンガン7が所定の位置に配置されるように、可動部分22を固定する。
引出し機構12は、引出し機構チャンバ31とゲートバルブ32と吸気弁33と排気弁34と圧力ゲージ35とを備えている。引出し機構チャンバ31は、内部を環境から隔離する容器である。ゲートバルブ32は、接合チャンバ2と引出し機構チャンバ31との間に介設され、接合チャンバー2の内部と引出し機構チャンバ31の内部とを接続するゲートを閉鎖し、または、開放する。吸気弁33は、環境を引出し機構チャンバ31に接続する流路の途中に配置され、その流路の開度が変更されて大気を引出し機構チャンバ31に供給する。排気弁34は、図示されていない真空ポンプを引出し機構チャンバ31に接続する流路の途中に配置され、その流路の開度が変更されて引出し機構チャンバ31の内部に真空雰囲気を生成する。圧力ゲージ35は、引出し機構チャンバ31の内部の圧力を測定する。
引出し機構チャンバ31は、固定部分36と可動部分37とベローズ38とを備えている。固定部分36は、引出し機構チャンバ31の隔壁の一部を形成し、ゲートバルブ32に固定されている。可動部分37は、引出し機構チャンバ31の隔壁の一部を形成し、固定部分36に対して平行移動可能に支持されている。可動部分37は、さらに、ホローカソード8を支持している。ベローズ38は、引出し機構チャンバ31の隔壁の一部を形成し、固定部分36と可動部分37とに接合されている。ベローズ38は、可動部分37が平行移動したときに、変形することにより引出し機構チャンバ31の内部を環境から隔離する。
引出し機構12は、引出し機構11と同様にして、さらに、図示されていないストッパを備えている。そのストッパは、接合チャンバー2に固定され、衝突面が形成されている。そのストッパは、ゲートバルブ32が開放され、かつ、接合チャンバ2の内部の圧力が大気圧より低いときに、その衝突面が可動部分22に衝突して、大気圧によりホローカソード8が接合チャンバ2の内部の方向にさらに平行移動しないように、可動部分37の移動範囲を制限している。すなわち、そのストッパは、ゲートバルブ32が開放され、かつ、接合チャンバ2の内部の圧力が大気圧より低いときに、ホローカソード8が所定の位置に配置されるように、可動部分37を固定する。
引出し機構11の可動部分22は、図2に示されているように、イオンガン7の全体が引出し機構チャンバ14の内部に配置されるように、移動させることができる。このとき、ゲートバルブ15は、接合チャンバ2の内部と引出し機構チャンバ14の内部とが隔離するように、閉鎖されることができる。すなわち、接合装置1は、イオンガン7が接合チャンバ2から引出し機構チャンバ14に移動されたときに、接合チャンバ2を昇圧することなく、引出し機構チャンバ14の内部を昇圧することができ、イオンガン7を接合チャンバ2から環境に取り出すことができる。
引出し機構12の可動部分37は、引出し機構11の可動部分22と同様にして、ホローカソード8の全体が引出し機構チャンバ31の内部に配置されるように、移動させることができる。このとき、ゲートバルブ32は、接合チャンバ2の内部と引出し機構チャンバ31の内部とが隔離するように、閉鎖されることができる。すなわち、接合装置1は、ホローカソード8が接合チャンバ2から引出し機構チャンバ31に移動されたときに、接合チャンバ2を昇圧することなく、引出し機構チャンバ31の内部を昇圧することができ、ホローカソード8を接合チャンバ2から環境に取り出すことができる。
接合装置1は、図1の状態で、ユーザに操作されて、基板を常温接合する常温接合方法を実行する。すなわち、接合装置1は、ゲートバルブ5が開放された状態で、基板を常温接合する。ユーザは、まず、ゲートバルブ3を閉鎖して、真空ポンプ6を用いて接合チャンバー2の内部に所定圧力の真空雰囲気を生成し、そのロードロックチャンバーの内部に大気圧雰囲気を生成する。ユーザは、そのロードロックチャンバーの蓋を開けて、複数の基板をそのロードロックチャンバーの内部に配置する。ユーザは、そのロードロックチャンバーの蓋を閉めて、真空ポンプを用いてそのロードロックチャンバーの内部に真空雰囲気を生成する。
ユーザは、ゲートバルブ3を開放した後に、搬送装置を用いて、そのロードロックチャンバーの内部に配置された基板の1枚を接合チャンバー2の内部の上側ステージに配置し、そのロードロックチャンバーの内部に配置された基板の他の1枚をその下側ステージに配置する。ユーザは、ゲートバルブ3を閉鎖して、真空ポンプ6を用いて接合チャンバー2の内部に真空雰囲気を生成する。
ユーザは、その上側ステージに搭載された基板とその下側ステージに搭載された基板とが離れた状態で、その上側ステージに搭載された基板とその下側ステージに搭載された基板との間にイオンガン7を向けて粒子を放出する。その粒子は、その基板に照射され、その基板の表面に形成される酸化物等を除去し、その基板の表面に付着している不純物を除去する。
ユーザは、接合チャンバー2の圧接機構を操作して、その上側ステージに搭載された基板をその下側ステージに搭載された基板に接触させる。その上側ステージに搭載された基板とその下側ステージに搭載された基板とは、その接触により接合され、1枚の接合基板が生成される。
ユーザは、接合基板が生成された後に、ゲートバルブ3を開放する。ユーザは、その搬送装置を用いて、その下側ステージに搭載されている接合基板をそのロードロックチャンバーの内部に搬送する。この一連の動作は、そのロードロックチャンバーの内部に初期的に装填された基板がすべて常温接合されるまで繰り返し実行される。
ユーザは、そのロードロックチャンバーの内部に初期的に装填された基板がすべて常温接合されると、ゲートバルブ3を閉鎖して、そのロードロックチャンバーの内部に大気圧雰囲気を生成する。ユーザは、そのロードロックチャンバーの蓋を開けて、常温接合された複数の接合基板をそのロードロックチャンバーから取り出す。
イオンビームは、電荷を帯びているために、一般に、広がりながら放出される。このため、対向する2枚の基板のうちの対向する2つの表面にイオンビームを照射するためには、その2枚の基板の近傍からその2つの表面にむけてイオンビームを照射する必要がある。接合装置1は、基板の比較的近傍にイオンガン7が配置されていることから、基板にアルゴンイオンビームをより確実に照射することができ、基板をより確実に常温接合することができる。
図3は、本発明による接合装置メンテナンス方法の実施の形態を示している。その接合装置メンテナンス方法は、常温接合方法が完了した後に実行される。ユーザは、まず、イオンガン7の全体が引出し機構チャンバ14の内部に配置されるように、引出し機構11の可動部分22を移動させる(ステップS1)。ユーザは、イオンガン7の全体が引出し機構チャンバ14の内部に配置された後に、ゲートバルブ15を閉鎖する(ステップS2)。ユーザは、ゲートバルブ15を閉鎖した後に、引出し機構チャンバ14の内部に大気または窒素ガスを導入し、引出し機構チャンバ14を大気開放する(ステップS3)。ユーザは、引出し機構チャンバ14を大気開放した後に、引出し機構チャンバ14の固定部分21からベローズ23をはずして、引出し機構チャンバ14の内部から環境にイオンガン7を取り出す。ユーザは、その取り外したイオンガン7をメンテナンスする(ステップS4)。そのメンテナンスとしては、イオンガン7が備える電極を他の電極に交換すること、イオンガン7が備えるガスディストリビュータのオリフィスを他のオリフィスに交換することが例示される。
ユーザは、メンテナンスされたイオンガン7を引出し機構チャンバ14の可動部分22に固定し、ベローズ23を固定部分21に取り付ける。ユーザは、引出し機構チャンバ14の内部を排気し、引出し機構チャンバ14の内部に真空雰囲気を生成する(ステップS5)。ユーザは、ゲートバルブ15を開放し、引出し機構11の可動部分22を移動させることにより、イオンガン7を接合チャンバ2に移動させる。ユーザは、さらに、イオンガン7が接合チャンバ2の所定の位置に配置されるように、ストッパ24を用いて可動部分22を固定部分21に固定する(ステップS6)。
ホローカソード8は、イオンガン7と同様にして、メンテナンスされる。すなわち、ユーザは、常温接合方法が完了した後に、まず、ホローカソード8の全体が引出し機構チャンバ31の内部に配置されるように、引出し機構12の可動部分37を移動させる。ユーザは、ホローカソード8の全体が引出し機構チャンバ31の内部に配置された後に、ゲートバルブ32を閉鎖する。ユーザは、ゲートバルブ32を閉鎖した後に、引出し機構チャンバ31の内部に大気または窒素ガスを導入し、引出し機構チャンバ31を大気開放する。ユーザは、引出し機構チャンバ31を大気開放した後に、引出し機構チャンバ31の固定部分36からベローズ38をはずして、引出し機構チャンバ31の内部から環境にホローカソード8を取り出す。ユーザは、その取り外したホローカソード8をメンテナンスする。そのメンテナンスとしては、ホローカソード8が備える電極を他の電極に交換することが例示される。
ユーザは、メンテナンスされたホローカソード8を引出し機構チャンバ31の可動部分37に固定し、ベローズ38を固定部分36に取り付ける。ユーザは、引出し機構チャンバ31の内部を排気し、引出し機構チャンバ31の内部に真空雰囲気を生成する。ユーザは、ゲートバルブ32を開放し、引出し機構12の可動部分37を移動させることにより、ホローカソード8を接合チャンバ2に移動させる。ユーザは、さらに、ホローカソード8が接合チャンバ2の所定の位置に配置されるように、図示されていないストッパを用いて可動部分37を固定部分36に固定する。
接合チャンバ2は、大気開放すると内壁に水分・油分が付着するために、大気開放した後に再度内部に真空雰囲気を生成するときに長時間(たとえば、1週間〜2週間)排気する必要がある。このような接合装置メンテナンス方法によれば、接合装置1は、接合チャンバ2の内部を昇圧させることなく、イオンガン7またはホローカソード8をメンテナンスするときのダウンタイムを低減することができ、イオンガン7またはホローカソード8をより速くメンテナンスすることができる。
本発明による接合装置の実施の他の形態は、既述の実施の形態における接合装置1の引出し機構11が他の引出し機構に置換されている。その引出し機構41は、図4に示されているように、本体部分42と接合装置メンテナンス用治具43とを備えている。本体部分42は、フランジ45と蓋46とイオンガン用コネクタ47とホローカソード用コネクタ48とを備えている。フランジ45は、接合チャンバ2形成された開口部に接合されており、シール面が形成されている。蓋46は、板状に形成され、シール面が形成されている。接合チャンバ2は、蓋46のシール面がフランジ45のシール面に密着することにより、内部が環境から隔離される。蓋46は、さらに、イオンガン7とホローカソード8とに固定されている。イオンガン用コネクタ47は、蓋46に配置され、接合チャンバ2の内部を環境と隔離したまま、環境に配置された外部装置とイオンガン7とを配管と配線とにより接続するときに利用される。ホローカソード用コネクタ48は、蓋46に配置され、接合チャンバ2の内部を環境と隔離したまま、環境に配置された外部装置とホローカソード8とを配管と配線とにより接続するときに利用される。
接合装置メンテナンス用治具43は、引出し機構チャンバ51とゲートバルブ52とボール螺子53とを備えている。引出し機構チャンバ51は、内部を環境から隔離する容器である。引出し機構チャンバ51は、固定部分55と可動部分56とベローズ57とロッド58とを備えている。固定部分55は、引出し機構チャンバ51の隔壁の一部を形成し、ゲートバルブ52に固定されている。可動部分56は、引出し機構チャンバ51の隔壁の一部を形成し、固定部分55に対して平行移動可能に支持されている。可動部分56は、さらに、イオンガン7を支持している。ベローズ57は、引出し機構チャンバ51の隔壁の一部を形成し、固定部分55と可動部分56とに接合されている。ベローズ57は、可動部分56が平行移動したときに、変形することにより引出し機構チャンバ51の内部を環境から隔離する。ロッド58は、可動部分56に固定され、蓋46に固定されている。
引出し機構チャンバ51は、さらに、開口54を備えている。開口54は、吸気弁と排気弁と圧力ゲージとを備えている。その吸気弁は、環境を引出し機構チャンバ51に接続する流路の途中に配置され、その流路の開度が変更されて大気を引出し機構チャンバ51に供給する。その排気弁は、真空ポンプを引出し機構チャンバ51に接続する流路の途中に配置され、その流路の開度が変更されて引出し機構チャンバ51の内部に真空雰囲気を生成する。その圧力ゲージは、引出し機構チャンバ51の内部の圧力を測定する。
ゲートバルブ52は、シール面が形成されている。ゲートバルブ52は、そのシール面がフランジ45のシール面に密着するように、フランジ45に固定されている。ゲートバルブ52は、さらに、他のシール面が形成されている。ゲートバルブ52は、そのシール面が固定部分55に形成されるシール面に密着するように、固定部分55に固定されている。すなわち、ゲートバルブ52は、接合チャンバ2と引出し機構チャンバ51との間に介設されている。ゲートバルブ52は、接合チャンバー2の内部と引出し機構チャンバ51の内部とを接続するゲートを閉鎖し、または、開放する。
ボール螺子53は、ガイド61と案内軸受け62と螺子軸65とハンドル63とナット64とを備えている。ガイド61は、直線状のレールに形成され、引出し機構チャンバ51の固定部分55に固定されている。案内軸受け62は、引出し機構チャンバ51の可動部分56に固定され、直線上を平行移動可能にガイド61に支持されている。螺子軸65は、雄ねじが形成され、ガイド61に平行になるように配置され、その雄ねじの軸を中心に回転可能に引出し機構チャンバ51の固定部分55に支持されている。ハンドル63は、ユーザが手で握って扱う部分であり、ユーザが螺子軸65を回転させるときに利用される。ナット64は、雌ねじが形成され、引出し機構チャンバ51の可動部分56に固定されている。ナット64は、その雌ねじが螺子軸65の雄ねじにはめられ、螺子軸65の回転を案内軸受け62の平行移動に変換する。すなわち、ボール螺子53は、ユーザによりハンドル63が回転されることにより、引出し機構チャンバ51の可動部分56を平行移動させる。
接合装置メンテナンス用治具43は、図4の状態から本体部分42から取り外すことができる。すなわち、ゲートバルブ52は、フランジ45から取り外すことができ、ロッド58は、蓋46から取り外すことができる。このとき、本体部分42は、図5に示されているように、固定ボルト49を備えている。固定ボルト49は、雄ねじが形成され、フランジ45に形成されている雌ねじに嵌め合わされることにより、蓋46を接合チャンバ2に固定し、接合チャンバ2を環境から隔離する。
このような接合装置は、接合装置メンテナンス用治具43が本体部分42から取り外された図5の状態で、既述の実施の形態における接合装置1と同様にして、常温接合方法が実行される。このような接合装置は、接合装置1と同様にして、基板にアルゴンイオンビームをより確実に照射することができ、基板をより確実に常温接合することができる。
接合装置メンテナンス用治具43は、さらに、図6に示されているように、イオンガン7とホローカソード8との両方が引出し機構チャンバ51の内部に配置されるように、引出し機構チャンバ51の可動部分56を移動することができる。このとき、ゲートバルブ52は、閉鎖することができ、接合チャンバ2を引出し機構チャンバ51から隔離することができる。
本発明による接合装置メンテナンス方法の実施の他の形態は、引出し機構41を備えた接合装置を用いて実行される。その接合装置は、ユーザは、図7に示されているように、その接合装置による常温接合方法が完了した後に、まず、図4の状態の接合装置から固定ボルト49を取り外す(ステップS11)。このとき、蓋46は、大気圧によりシール面がフランジ45のシール面に押し付けられ、接合チャンバ2は、内部が真空雰囲気に維持される。
ユーザは、次いで、接合装置メンテナンス用治具43を本体部分42に取り付ける。すなわち、ユーザは、まず、ゲートバルブ52のシール面が本体部分42のフランジ45のシール面に密着するように、ゲートバルブ52をフランジ45に固定する(ステップS12)。ユーザは、さらに、ゲートバルブ52を開放し、ロッド58を蓋46に固定する。ユーザは、ゲートバルブ52のシール面が引出し機構チャンバー51の固定部分42のシール面に密着するように、固定部分42をゲートバルブ52に固定する(ステップS13)。
ユーザは、接合装置メンテナンス用治具43を本体部分42に取り付けた後に、引出し機構チャンバー51の内部を排気し、引出し機構チャンバー51の内部に真空雰囲気を生成する(ステップS14)。ユーザは、引出し機構チャンバー51の内部に真空雰囲気を生成した後に、ボール螺子53を用いて、可動部分56を移動させ、イオンガン7とホローカソード8とを引出し機構チャンバー51の内部に配置する(ステップS15)。ユーザは、イオンガン7とホローカソード8とを引出し機構チャンバー51の内部に配置した後に、ゲートバルブ52を閉鎖する(ステップS16)。ユーザは、ゲートバルブ52を閉鎖した後に、引出し機構チャンバー51の内部に大気または窒素ガスを導入し、引出し機構チャンバー51を大気開放する(ステップS17)。
ユーザは、引出し機構チャンバー51が大気開放された後に、たとえば、ベローズ57を固定部分55から取り外して、蓋46からイオンガン7とホローカソード8とを取り外し、引出し機構チャンバー51の内部から環境にイオンガン7とホローカソード8とを取り出す。ユーザは、その取り出されたイオンガン7とホローカソード8とをメンテナンスする(ステップS18)。そのメンテナンスとしては、イオンガン7が備える電極を他の電極に交換すること、イオンガン7が備えるガスディストリビュータのオリフィスを他のオリフィスに交換すること、そのメンテナンスとしては、ホローカソード8が備える電極を他の電極に交換することが例示される。
ユーザは、メンテナンスされたイオンガン7とホローカソード8とを蓋46に取り付け、ベローズ57を固定部分55に取り付けて、引出し機構チャンバ51を組み立てなおす。ユーザは、引出し機構チャンバ51を組み立てた後に、引出し機構チャンバ51の内部を排気し、引出し機構チャンバ51の内部に真空雰囲気を生成する(ステップS19)。ユーザは、引出し機構チャンバ51の内部に真空雰囲気が生成された後に、ゲートバルブ52を開放する(ステップS20)。ユーザは、ゲートバルブ52が開放された後に、蓋46のシール面がフランジ45のシール面に密着するように、ボール螺子53を用いて可動部分56を移動させる(ステップS21)。このとき、イオンガン7とホローカソード8とは、蓋46とともに移動して、接合チャンバー2の所定の位置に配置される。
ユーザは、接合チャンバ2が蓋46で密閉された後に、引出し機構チャンバー51の内部に大気または窒素ガスを導入し、引出し機構チャンバー51を大気開放する(ステップS22)。ユーザは、引出し機構チャンバー51が大気開放された後に、接合装置メンテナンス用治具43を本体部分42から取り外す(ステップS23)。すなわち、ユーザは、固定部分42をゲートバルブ52から取り外し、ロッド58を蓋46から取り外し、ゲートバルブ52をフランジ45から取り外す。
ユーザは、接合装置メンテナンス用治具43が本体部分42から取り外された後に、固定ボルト49を用いて、蓋46をフランジ45に固定する(ステップS24)。
このような接合装置メンテナンス方法によれば、接合装置は、接合チャンバ2の内部を昇圧させることなく、イオンガン7またはホローカソード8をより速くメンテナンスすることができる。このような接合装置メンテナンス方法によれば、さらに、接合装置が配置される床面積は、接合装置が常温接合方法を実行しているときに、接合装置メンテナンス用治具43の分だけ低減されることができる。このような接合装置メンテナンス方法によれば、さらに、1つの接合装置メンテナンス用治具43に対して、複数の接合装置1の本体部分を作製することができる。このとき、その複数の接合装置1は、1つの接合装置メンテナンス用治具43を使い回して、イオンガン7をメンテナンスすることができ、装置の製造コストを低減することができる。
本発明による接合装置の実施にさらに他の形態は、既述の実施の形態における引出し機構41が他の引出し機構に置換されている。その引出し機構71は、図8に示されているように、引出し機構チャンバ72とゲートバルブ73と空圧シリンダ74とを備えている。引出し機構チャンバ72は、内部を環境から隔離する容器である。引出し機構チャンバ72は、固定部分75と可動部分76とベローズ77とを備えている。固定部分75は、引出し機構チャンバ72の隔壁の一部を形成し、ゲートバルブ73に固定されている。可動部分76は、引出し機構チャンバ72の隔壁の一部を形成し、固定部分75に対して平行移動可能に支持されている。可動部分76は、さらに、イオンガン7を支持している。ベローズ77は、引出し機構チャンバ72の隔壁の一部を形成し、固定部分75と可動部分76とに接合されている。ベローズ77は、可動部分76が平行移動したときに、変形することにより引出し機構チャンバ72の内部を環境から隔離する。
引出し機構チャンバ72は、さらに、イオンガン用コネクタ78とホローカソード用コネクタ79とを備えている。イオンガン用コネクタ78は、蓋46に配置され、接合チャンバ2の内部を環境と隔離したまま、環境に配置された外部装置とイオンガン7とを配管と配線とにより接続するときに利用される。ホローカソード用コネクタ79は、蓋46に配置され、接合チャンバ2の内部を環境と隔離したまま、環境に配置された外部装置とホローカソード8とを配管と配線とにより接続するときに利用される。
引出し機構チャンバ72は、さらに、図示されていない吸気弁と排気弁と圧力ゲージとを備えている。その吸気弁は、環境を引出し機構チャンバ72に接続する流路の途中に配置され、その流路の開度が変更されて大気を引出し機構チャンバ72に供給する。その排気弁は、真空ポンプを引出し機構チャンバ72に接続する流路の途中に配置され、その流路の開度が変更されて引出し機構チャンバ72の内部に真空雰囲気を生成する。その圧力ゲージは、引出し機構チャンバ72の内部の圧力を測定する。
ゲートバルブ73は、接合チャンバ2と引出し機構チャンバ72との間に介設されている。ゲートバルブ73は、接合チャンバー2の内部と引出し機構チャンバ72の内部とを接続するゲートを閉鎖し、または、開放する。
空圧シリンダ74は、ガイド81と本体部分82とロッド83とを備えている。ガイド81は、直線状のレールに形成され、引出し機構チャンバ72の固定部分75に固定されている。ガイド81は、引出し機構チャンバ72の可動部分76を平行移動可能にガイド81に支持している。本体部分82は、ガイド81に固定され、引出し機構チャンバ72の固定部分75に固定されている。本体部分82は、供給される空圧を用いて、ガイド81に対してロッド83を駆動する。ロッド83は、引出し機構チャンバ72の可動部分76に固定されている。すなわち、空圧シリンダ74は、ユーザにより、引出し機構チャンバ72の可動部分76を平行移動させる。
引出し機構71は、イオンガン7とホローカソード8との両方が引出し機構チャンバ72の内部に配置されるように、引出し機構チャンバ72の可動部分76を移動することができる。このとき、ゲートバルブ73は、閉鎖することができ、接合チャンバ2を引出し機構チャンバ72から隔離することができる。
このような接合装置は、図8の状態で、既述の実施の形態における接合装置1と同様にして、常温接合方法が実行される。すなわち、このような接合装置は、接合装置1と同様にして、基板にアルゴンイオンビームをより確実に照射することができ、基板をより確実に常温接合することができる。
このような接合装置は、既述の実施の形態における接合装置1と同様にして、イオンガン7とホローカソード8とがメンテナンスされる。すなわち、ユーザは、常温接合方法が完了した後に、まず、イオンガン7とホローカソード8との全体が引出し機構チャンバ72の内部に配置されるように、空圧シリンダ74を用いて可動部分76を移動させる。ユーザは、イオンガン7とホローカソード8との全体が引出し機構チャンバ72の内部に配置された後に、ゲートバルブ73を閉鎖する。ユーザは、ゲートバルブ73を閉鎖した後に、引出し機構チャンバ72の内部に大気または窒素ガスを導入し、引出し機構チャンバ72を大気開放する。ユーザは、引出し機構チャンバ72を大気開放した後に、引出し機構チャンバ72の固定部分75からベローズ77をはずして、引出し機構チャンバ72の内部から環境にイオンガン7とホローカソード8とを取り出す。ユーザは、その取り外したイオンガン7とホローカソード8とをメンテナンスする。
ユーザは、メンテナンスされたイオンガン7とホローカソード8とを引出し機構チャンバ72の可動部分76に固定し、ベローズ77を固定部分75に取り付ける。ユーザは、引出し機構チャンバ72の内部を排気し、引出し機構チャンバ72の内部に真空雰囲気を生成する。ユーザは、ゲートバルブ73を開放し、空圧シリンダ74を用いて引出し機構71の可動部分76を移動させることにより、イオンガン7とホローカソード8とを接合チャンバ2に移動させる。ユーザは、さらに、イオンガン7とホローカソード8とが接合チャンバ2の所定の位置に配置されるように、可動部分76を固定部分75に固定する。
このような接合装置メンテナンス方法によれば、引出し機構71を備えた接合装置は、既述の実施の形態における接合装置1と同様にして、接合チャンバ2の内部を昇圧させることなく、イオンガン7とホローカソード8とをより速くメンテナンスすることができる。
なお、引出し機構チャンバは、イオンガン7とホローカソード8とが通過可能であるハッチを備えることもできる。このとき、引出し機構チャンバは、イオンガン7とホローカソード8とを引出し機構チャンバから取り出すときに分解される必要がなく、イオンガン7とホローカソード8とをより容易に取り出すことができる。
本発明による接合装置は、照射対象に粒子をより確実に照射することができ、かつ、その粒子を放出するガンをより速くメンテナンスすることができる。
本発明による接合装置メンテナンス方法によれば、照射対象に粒子をより確実に照射することができる接合装置は、その粒子を放出するガンをより速くメンテナンスすることができる。

Claims (13)

  1. 粒子を放出するガンと、
    前記粒子が放出される雰囲気が内部に生成される真空チャンバーと、
    内部に真空雰囲気が生成されたり、内部が大気解放されたりすることができる引出し機構チャンバーと、
    前記真空チャンバーと前記引出し機構チャンバーとの間を開閉するゲートバルブとを具備し、
    前記引出し機構チャンバーは、
    前記真空チャンバーに固定される固定部分と、
    前記固定部分に対して移動可能である可動部分とを備え、
    前記ガンは、前記可動部分に固定され、前記ゲートバルブが閉鎖されることができるように前記引出し機構チャンバーの内部に配置されたり、前記真空チャンバーの内部に配置されたりすることができるように、移動可能に支持される
    接合装置。
  2. 請求項1において、
    前記ガンが前記真空チャンバーの内部に配置されているときに前記真空チャンバーを密封する蓋を更に具備し、
    前記ガンは、前記蓋に固定されている
    接合装置。
  3. 請求項1または請求項2のいずれかにおいて、
    前記真空チャンバーの内部に生成される雰囲気に粒子を放出する他のガンと、
    他の引出し機構チャンバーと、
    前記真空チャンバーと前記他の引出し機構チャンバーとの間を開閉する他のゲートバルブとを更に具備し、
    前記他のガンは、前記他の引出し機構チャンバーの内部に配置されるように、前記他のゲートバルブを通って移動可能に支持される
    接合装置。
  4. 請求項1または請求項2のいずれかにおいて、
    前記真空チャンバーの内部に生成される雰囲気に粒子を放出する他のガンを更に具備し、
    前記他のガンは、前記引出し機構チャンバーの内部に配置されるように、前記ゲートバルブを通って移動可能に支持される
    接合装置。
  5. 請求項3または請求項4のいずれかにおいて、
    前記他のガンは、前記ガンに前記粒子を供給するホローカソードである
    接合装置。
  6. 請求項1〜請求項5のいずれかにおいて、
    前記引出し機構チャンバーは、前記固定部分と前記可動部分との間に配置されるベローズを備える
    接合装置。
  7. 粒子を放出するガンを真空チャンバーから引出し機構チャンバーに移動するステップと、
    前記ガンが前記引出し機構チャンバーの内部に配置されるときに、前記真空チャンバーと前記引出し機構チャンバーとの間に配置されるゲートバルブを閉鎖するステップと、
    前記ゲートバルブが閉鎖された後に、前記引出し機構チャンバーの内部を大気開放するステップと、
    前記引出し機構チャンバーの内部が大気開放された後に、前記ガンをメンテナンスするステップと、
    メンテナンスされたメンテナンス済みガンが前記引出し機構チャンバーの内部に配置されているときに、前記引出し機構チャンバーの内部に真空雰囲気を生成するステップと、
    前記引出し機構チャンバーの内部に真空雰囲気が生成された後に、前記ゲートバルブを開放するステップと、
    前記ゲートバルブが開放された後に、前記メンテナンス済みガンを前記真空チャンバーの内部に移動するステップ
    とを具備する接合装置メンテナンス方法。
  8. 請求項7において、
    前記真空チャンバーを密閉する蓋を介して前記ガンが前記真空チャンバーの内部に支持されているときに、前記引出し機構チャンバーの内部を減圧してゲートバルブを開放するステップを更に具備し、
    前記ガンは、前記蓋とともに前記真空チャンバーから前記引出し機構チャンバーに移動される
    接合装置メンテナンス方法。
  9. 請求項7において、
    前記引出し機構チャンバーを前記ゲートバルブに取り付けるステップ
    を更に具備する接合装置メンテナンス方法。
  10. 請求項7において、
    前記引出し機構チャンバーと前記ゲートバルブとを前記真空チャンバーに取り付けるステップ
    を更に具備する接合装置メンテナンス方法。
  11. 請求項7において、
    前記ゲートバルブを開放したまま、前記ガンを用いて前記粒子を放出するステップ
    を更に具備する接合装置メンテナンス方法。
  12. 粒子を放出するガンと、
    前記粒子が放出される雰囲気が内部に生成される真空チャンバーと、
    前記ガンが前記真空チャンバーの内部に配置されているときに前記真空チャンバーを密封する蓋とを具備し、
    前記ガンは、前記蓋に固定されている
    接合装置
    に取り付けられる接合装置メンテナンス用治具であり、
    内部に真空雰囲気が生成されたり、内部が大気解放されたりすることができる引出し機構チャンバーと、
    前記真空チャンバーと前記引出し機構チャンバーとの間を開閉するゲートバルブと、
    前記真空チャンバーに対して移動可能である可動部分とを具備し、
    前記ガンは、前記可動部分に固定され、前記ゲートバルブが閉鎖されることができるように前記引出し機構チャンバーの内部に配置されたり、前記真空チャンバーの内部に配置されたりすることができるように、移動可能に支持される
    接合装置メンテナンス用治具。
  13. 粒子を放出するガンと、
    前記粒子が放出される雰囲気が内部に生成される真空チャンバーと、
    前記ガンが前記真空チャンバーの内部に配置されているときに前記真空チャンバーを密封する蓋と、
    ゲートバルブとを具備し、
    前記ガンは、前記蓋に固定されている
    接合装置
    に取り付けられる接合装置メンテナンス用治具であり、
    内部に真空雰囲気が生成されたり、内部が大気解放されたりすることができる引出し機構チャンバーと、
    前記真空チャンバーに対して移動可能である可動部分とを具備し、
    前記ゲートバルブは、前記真空チャンバーと前記引出し機構チャンバーとの間を開閉し、
    前記ガンは、前記可動部分に固定され、前記ゲートバルブが閉鎖されることができるように前記引出し機構チャンバーの内部に配置されたり、前記真空チャンバーの内部に配置されたりすることができるように、移動可能に支持される
    接合装置メンテナンス用治具。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10755930B2 (en) 2016-02-16 2020-08-25 Ev Group E. Thallner Gmbh Method and device for bonding of substrates

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4288297B1 (ja) 2008-01-09 2009-07-01 三菱重工業株式会社 圧力制御装置および圧力制御方法
CN104717823A (zh) * 2015-03-30 2015-06-17 同方威视技术股份有限公司 绝缘密封结构和电子帘加速器
JP7169786B2 (ja) * 2018-06-25 2022-11-11 東京エレクトロン株式会社 メンテナンス装置
US11862482B2 (en) * 2021-03-11 2024-01-02 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Semiconductor substrate bonding tool and methods of operation

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61140390A (ja) * 1984-12-14 1986-06-27 Mitsubishi Electric Corp 電子ビ−ム溶接装置
JPH05202467A (ja) * 1992-01-28 1993-08-10 Stanley Electric Co Ltd 真空蒸着装置
JPH0676782A (ja) * 1992-08-31 1994-03-18 Hitachi Ltd イオンビーム加工装置
JP2006294481A (ja) * 2005-04-13 2006-10-26 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子線装置
JP2008501222A (ja) * 2004-05-28 2008-01-17 ジーイー ホームランド プロテクション,インコーポレイテッド X線を形成するためのシステム及びその使用法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61140390A (ja) * 1984-12-14 1986-06-27 Mitsubishi Electric Corp 電子ビ−ム溶接装置
JPH05202467A (ja) * 1992-01-28 1993-08-10 Stanley Electric Co Ltd 真空蒸着装置
JPH0676782A (ja) * 1992-08-31 1994-03-18 Hitachi Ltd イオンビーム加工装置
JP2008501222A (ja) * 2004-05-28 2008-01-17 ジーイー ホームランド プロテクション,インコーポレイテッド X線を形成するためのシステム及びその使用法
JP2006294481A (ja) * 2005-04-13 2006-10-26 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子線装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10755930B2 (en) 2016-02-16 2020-08-25 Ev Group E. Thallner Gmbh Method and device for bonding of substrates
US10755929B2 (en) 2016-02-16 2020-08-25 Ev Group E. Thallner Gmbh Method and device for bonding of substrates
US11101132B2 (en) 2016-02-16 2021-08-24 Ev Group E. Thallner Gmbh Method and device for bonding of substrates
US11742205B2 (en) 2016-02-16 2023-08-29 Ev Group E. Thallner Gmbh Method and device for bonding of substrates

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