JP4881916B2 - 表面粗化剤 - Google Patents

表面粗化剤 Download PDF

Info

Publication number
JP4881916B2
JP4881916B2 JP2008153066A JP2008153066A JP4881916B2 JP 4881916 B2 JP4881916 B2 JP 4881916B2 JP 2008153066 A JP2008153066 A JP 2008153066A JP 2008153066 A JP2008153066 A JP 2008153066A JP 4881916 B2 JP4881916 B2 JP 4881916B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
surface roughening
acid
aminotetrazole
copper
roughening agent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008153066A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009019270A (ja
Inventor
知子 林
紀子 矢熊
尚平 丸石
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MEC Co Ltd
Original Assignee
MEC Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by MEC Co Ltd filed Critical MEC Co Ltd
Priority to JP2008153066A priority Critical patent/JP4881916B2/ja
Publication of JP2009019270A publication Critical patent/JP2009019270A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4881916B2 publication Critical patent/JP4881916B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/10Etching compositions
    • C23F1/14Aqueous compositions
    • C23F1/16Acidic compositions
    • C23F1/18Acidic compositions for etching copper or alloys thereof
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/38Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
    • H05K3/382Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by special treatment of the metal
    • H05K3/383Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by special treatment of the metal by microetching
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/07Treatments involving liquids, e.g. plating, rinsing
    • H05K2203/0779Treatments involving liquids, e.g. plating, rinsing characterised by the specific liquids involved
    • H05K2203/0786Using an aqueous solution, e.g. for cleaning or during drilling of holes
    • H05K2203/0789Aqueous acid solution, e.g. for cleaning or etching

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Description

本発明は、表面粗化剤に関する。さらに詳しくは、銅又はその合金の表面を粗化するための表面粗化剤であって、例えば、ソルダーレジストなどとの密着性に優れた表面粗化剤に関する。
プリント配線板を製造する場合、銅表面を有する基材に樹脂を積層するときに、銅表面とエッチングレジスト、めっきレジスト、ソルダーレジストなどのレジストとの密着性を向上させるために、従来、バフやブラシで銅表面の粗化が一般に行われている。
近年、銅表面を粗化させるときに細線化が要求されており、細線化に適する方法として、粗化剤を用いた化学研磨が提案されている。このような粗化剤としては、過酸化水素及び硫酸を主成分とする粗化剤が広く用いられている。
粗化剤として、オキソ酸、過酸化物、アゾール及びハロゲン化物を含むエッチング液(例えば、特許文献1参照)、硫酸;過酸化水素;トリアゾール、テトラゾール及び/又はイミダゾール;並びに界面活性剤を含む接着促進組成物(例えば、特許文献2参照)、過酸化水素からなる酸化剤、無機酸、トリアゾール、テトラゾール、イミダゾールなどの腐食防止剤、ハライドイオン源及び水溶性重合体を含有する水溶液(例えば、特許文献3参照)、過酸化水素、鉱酸、アゾール類及び銀イオンを含有する表面処理剤(例えば、特許文献4参照)、過酸化水素、鉱酸、アゾール類及び芳香族アミン化合物を含有する表面処理剤(例えば、特許文献5参照)、銅の酸化剤、無機酸、アゾール類化合物及びアリールエーテル化合物を含有する水溶液からなる銅含有材料粗面化剤(例えば、特許文献6参照)、過酸化水素、硫酸、5−アミノ−1H−テトラゾール及びシクロヘキシルアミンを含有する水溶液からなるマイクロエッチング用表面処理剤(例えば、特許文献7参照)、無機酸及び銅の酸化剤からなる主剤とアゾール類及びエッチング抑制剤からなる助剤とを含む水溶液からなるマイクロエッチング剤(例えば、特許文献8参照)などが知られている。
しかし、近年、配線パターンが細線化しつつあるため、ソルダーレジストと配線パターン表面とが接触する面積が小さくなるとともに、高い密着性が要求されるようになってきているが、従来の粗化剤では、密着性が十分ではない。
さらに、粗化した後の銅表面は非常に酸化しやすく、銅表面が酸化したとき、さらにソルダーレジストとの密着性が低下するため、粗化後の銅表面の酸化を防止することが要求される。
特開平10−56263号公報 特許第2740768号公報 特許第3471610号公報 特開2002−194573号公報 特開2005−133147号公報 特開2005−290495号公報 特開2004−218021号公報 特開2000−282265号公報
本発明は、前記従来に鑑みてなされたものであり、銅又は銅合金表面と樹脂との密着性に優れ、銅又はその合金の表面を粗化するための表面粗化剤を提供することを課題とする。本発明は、さらに粗化後の銅表面の酸化を防止することができる表面粗化剤を提供することを課題とする。
本発明は、銅又はその合金からなる表面を粗化するための表面粗化剤であって、硫酸、過酸化水素、5−アミノテトラゾール、5−アミノテトラゾール以外のテトラゾール化合物、及びホスホン酸系キレート剤を含有することを特徴とする表面粗化剤に関する。
本発明の表面粗化剤は、銅又は銅合金表面と樹脂との密着性に優れるという効果を奏する。また、本発明の表面粗化剤は、粗化後の銅表面の酸化を防止することができるという効果を奏する。
本発明の表面粗化剤における硫酸の濃度は、銅のエッチング速度を実用的な範囲内とし、硫酸銅の結晶が表面粗化剤中で析出するのを抑制する観点から、3〜20重量%であることが好ましい。
本発明の表面粗化剤における過酸化水素の濃度は、銅のエッチング速度が実用的な範囲内とし、表面粗化剤の保存安定性を高め、使用時の突沸を抑制する観点から、2〜10重量%であることが好ましい。
本発明の表面粗化剤における5−アミノテトラゾールの濃度は、過酸化水素の安定性及び表面粗化剤への溶解性を高め、銅又はその合金表面の粗化を良好に行なう観点から、好ましくは0.01〜1.0重量%、より好ましくは0.02〜0.5重量%、さらに好ましくは0.03〜0.1重量%である。
5−アミノテトラゾール以外のテトラゾール化合物(以下、他のテトラゾール化合物という)は、銅又はその合金表面と樹脂との密着性を高めるために、その表面を粗化させる性質を有する。
本発明では、5−アミノテトラゾールと他のテトラゾール化合物とが併用されているので、両者併用による相乗効果により、銅又はその合金表面と樹脂との密着性が向上する。
他のテトラゾール化合物の分子量は、本発明の表面粗化剤中で安定して存在し、好ましい粗化形状を形成させる観点から、好ましくは180以下、より好ましくは100以下である。
好適な他のテトラゾール化合物としては、本発明の表面粗化剤中で安定して存在し、好ましい粗化形状を形成させる観点から、5−メチルテトラゾール(分子量:84)、5−エチルテトラゾール(分子量:98)、5−n−プロピルテトラゾール(分子量:112)、5−フェニルテトラゾール(分子量:146)、5−トルイルテトラゾール(分子量:155)、5−アミノメチルテトラゾール(分子量:87)、5−(2−アミノフェニル)テトラゾール(分子量:161)、5−アミノ−1−メチルテトラゾール(分子量:98)、1−フェニル−5−アミノテトラゾール(分子量:161)、1,5−ジメチルテトラゾール(分子量:86)及びビステトラゾールジアンモニウム(分子量:169)からなる群より選ばれた少なくとも1種のテトラゾール化合物が挙げられる。これらのなかでは、5−メチルテトラゾール、5−エチルテトラゾール、5−アミノメチルテトラゾール、1−フェニル−5−アミノテトラゾール及び1,5−ジメチルテトラゾール)からなる群より選ばれた少なくとも1種のテトラゾール化合物がより好ましい。
本発明の表面粗化剤における他のテトラゾール化合物の濃度は、表面粗化剤における溶解性及び銅又はその合金表面と樹脂との密着性を高める観点から、好ましくは0.003〜0.3重量%、より好ましくは0.01〜0.05重量%である。
5−アミノテトラゾールと他のテトラゾール化合物との濃度の比(5−アミノテトラゾール:5−アミノテトラゾール以外のテトラゾール化合物)は、重量比で、銅又はその合金表面と樹脂との密着性を高める観点から、好ましくは1:1〜5:1、より好ましくは1.5:1〜4:1である。なお、他のテトラゾール化合物を2種類以上使用する場合には、他のテトラゾール化合物の合計量を0.003〜0.3重量%とするのが好ましい。
ホスホン酸系キレート剤は、キレート作用により、銅又はその合金表面に配位する。このとき、配位する相手が銅又はその合金表面であるため、ホスホン酸系キレート剤の中には、配位しないホスホン酸基が配位座として残る。この残ったホスホン酸基は、エポキシ系樹脂との親和性に優れているので、銅又はその合金表面と樹脂との密着性が高められると考えられる。本発明の表面粗化剤は、前記ホスホン酸系キレート剤を含有しているので、エポキシ系樹脂のソルダーレジストと銅又はその合金表面との密着性を向上させるのに適している。
ホスホン酸系キレート剤としては、銅又はその合金に対してキレート効果を発現するものであれば、特に限定なく使用することができる。
ホスホン酸系キレート剤の分子量は、本発明の表面粗化剤中で安定して存在し、銅又はその合金表面に対して優れたキレート効果を発現させる観点から、好ましくは1500以下、より好ましくは700以下、さらに好ましくは400以下、特に好ましくは300以下である。
好適なホスホン酸系キレート剤としては、アミノトリメチレンホスホン酸(分子量:299)、1−ヒドロキシエタン−1,1−ジホスホン酸(分子量:206)、ホスホノブタントリカルボン酸(分子量:270)、エチレンジアミンテトラメチレンホスホン酸ナトリウム塩(分子量:436)、ヘキサメチレンジアミンテトラメチレンホスホン酸(分子量:270)、ジエチレントリアミンペンタメチレンホスホン酸(分子量:573)、ポリアミノメチレンホスホン酸(分子量:10000以上)及びビスヘキサメチレントリアミンペンタメチレンホスホン酸(分子量:685)からなる群より選ばれた少なくとも1種のホスホン酸系キレート剤が挙げられる。これらの中では、アミノトリメチレンホスホン酸(分子量:299)、1−ヒドロキシエタン−1,1−ジホスホン酸(分子量:206)、ホスホノブタントリカルボン酸(分子量:270)及びヘキサメチレンジアミンテトラメチレンホスホン酸(分子量:270)からなる群より選ばれた少なくとも1種のホスホン酸系キレート剤がより好ましい。
本発明の表面粗化剤におけるホスホン酸系キレート剤の濃度は、過酸化水素の安定性を高め、銅又はその合金表面と樹脂との密着性を高める観点から、好ましくは0.05〜2.0重量%、より好ましくは0.1〜1.0重量%である。
本発明の表面粗化剤には、必要により、過酸化水素安定剤、消泡剤、界面活性剤などを適宜添加することができる。
また、本発明の表面粗化剤には、粗化形状及びエッチング速度を調整するために、塩素イオンなどのハロゲンイオンを添加してもよい。本発明の表面粗化剤におけるハロゲンイオンの濃度は、銅表面を充分に粗化し、エッチング速度を高める観点から、好ましくは1〜60ppm、より好ましくは5〜40ppmである。
本発明の表面粗化剤の使用方法としては、例えば、銅又はその合金からなる表面に本発明の表面粗化剤を噴霧する方法、本発明の表面粗化剤中に銅又は銅合金からなる表面を有する基材を浸漬する方法などが挙げられる。
本発明の表面粗化剤によって銅又はその合金からなる表面がエッチングされる量(以下、エッチング量という)は、本発明の表面粗化剤の組成及びその温度、エッチング時間などによって調整することができる。本発明の表面粗化剤を使用する際の温度は、通常、20〜35℃程度であり、本発明の表面粗化剤を用いてエッチングするときの時間は、エッチング量によって異なるため一概には決定することができないが、通常、10〜60秒間程度であればよい。
エッチング量は、エッチング処理が施される被処理材の表面に接触させる樹脂の種類などに応じて適宜設定すればよいが、銅又は銅合金表面を良好に粗化し、銅又はその合金表面と樹脂との密着性を向上させる観点から、通常、0.1〜2.0μm程度であることが好ましく、0.2〜1.0μm程度であることがより好ましい。
なお、本明細書にいうエッチング量とは、エッチング処理が施される被処理材のエッチング前後の重量変化と銅又は銅合金表面の表面積、及び銅又は銅合金の密度から算出されたエッチング深さをいう。
本発明の表面粗化剤は、種々の用途に使用することができる。その用途の例として、プリプレグ、ソルダーレジスト、ドライフィルムレジスト、電着レジスト、接着剤などが挙げられる。また、本発明の表面粗化剤は、銅又はその合金表面とビルドアッププリント配線板の層間絶縁樹脂との密着性を向上させるのに有用であり、またリードフレームの表面処理に使用し、銅又はその合金表面と密着性封止樹脂との密着性を向上させるのにも有用である。
銅の合金としては、例えば、銅を50重量%以上含み、他の金属として錫、金、銀、アルミニウムなどの銅以外の金属を50質量%以下含むものなどが挙げられる。
前記樹脂としては、例えば、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、耐熱エポキシ樹脂、ポリイミド、ビスマレイミド・トリアジン樹脂、ポリフェニレンエーテル、アクリル樹脂、紫外線硬化型エポキシ樹脂、紫外線硬化型アクリル樹脂などが挙げられるが、本発明は、かかる例示のみに限定されるものではない。これらのなかでは、銅又はその合金表面との密着性に優れていることから、エポキシ樹脂、耐熱エポキシ樹脂、紫外線硬化型エポキシ樹脂などのエポキシ系樹脂が好ましい。
次に、本発明を実施例に基づいてさらに詳細に説明するが、本発明は、かかる実施例のみに限定されるものではない。
実施例1〜10及び比較例1〜7
ガラスエポキシ基材〔日立化成工業(株)製、品番:GEA−67N、厚さ:1.6mm〕の両面に、厚さ18μmの銅箔が貼付された両面銅張積層板を用意し、この両面にさらにめっき層の厚さが20μmとなるように電解銅めっきを施し、縦8.5cm、横11.0cmに切断したものを試験基板とした。
この試験基板を表1に示す組成からなる表面粗化剤を用いてエッチング量0.5μmでガラスエポキシ基材をエッチングした後、ソルダーレジスト〔太陽インキ製造(株)製、品番:PSR4000Z26〕を厚さが15〜30μmとなるように印刷した後、通常の条件で露光し、現像した。
次に、各試験基板の物性として、密着性及び酸化防止性を以下の方法にしたがって調べた。その結果を表1に示す。
(1)密着性
各試験基板をJIS K5600−5−6に従って、1mm×1mmの碁盤目にクロスカットし、10重量%塩酸水溶液に室温で10分間浸漬し、水洗し、乾燥し、JIS K5600−5−6に従って、テープピールテストを行ない、以下の評価基準に基づいて、密着性を評価した。その結果を表1に示す。
〔密着性の評価基準〕
A:粘着テープにソルダーレジスト膜がまったく付着しなかったもの
B:粘着テープにソルダーレジスト膜がわずかに付着したもの
C:粘着テープにソルダーレジスト膜が多量に付着したもの
なお、前記テープピールテストは、粘着テープをソルダーレジスト膜に貼り付け、引き剥がして粘着テープ側にソルダーレジスト膜の剥離片が付くかどうかで密着性を測定する試験であり、粘着テープにソルダーレジスト膜が付着しないほうが良好である。
(2)酸化防止性
表1に示す組成からなる表面粗化剤を用いてエッチング量0.5μmでガラスエポキシ基材をエッチングした後の各試験基板を40℃、相対湿度95%の恒温槽に入れ、30分間経過した後の表面を金属顕微鏡で観察し、以下の評価基準に基づいて評価した。
〔酸化防止性の評価基準〕
A:色の変化がほとんどないもの(酸化していない)
B:部分的に薄い茶色に変化していたもの(部分的に酸化している)
C:全面的に茶色に変化しているもの(全面的に酸化が進んでいる)
表1に示された結果から、本発明の各実施例で得られた表面粗化剤は、5−アミノテトラゾール、他の5−アミノテトラゾール化合物及びホスホン酸系キレート剤を含有しているので、銅又は銅合金表面と樹脂と密着性に優れていることがわかる。
次に、密着性について、評価がAであった例として、実施例1における粘着テープの光学写真(倍率:5倍)を図1に、評価がBであった例として、実施例4における粘着テープの光学写真(倍率:5倍)を図2に、評価がCであった例として、比較例1における粘着テープの光学写真(倍率:5倍)を図3に示す。
図1〜3に示されるように、比較例1では、粘着テープにソルダーレジスト膜が多量に付着しているが、実施例4では、粘着テープにソルダーレジスト膜がわずかに付着しているだけであり、実施例1では、粘着テープにソルダーレジスト膜がまったく付着していないことがわかる。
また、酸化防止性について、評価がAであった例として、実施例1における処理後の試験基板表面の光学写真(倍率:1倍)を図4に、評価がBであった例として、実施例4における処理後の試験基板表面の光学写真(倍率:1倍)を図5に、評価がCであった例として、比較例1における処理後の試験基板表面の光学写真(倍率:1倍)を図6に示す。
図4〜6に示されるように、比較例1では、その表面にムラが見られるように処理後の試験基板が全面的に茶色に変化しているが、実施例4では、処理後の試験基板の表面に部分的に薄い茶色に変化しているだけであり、実施例1では、処理後の試験基板の表面に色の変化がほとんどないことがわかる。
以上説明したように、本発明の表面粗化剤は、銅又は銅合金表面と樹脂とのあいだに高い密着性を付与することができることがわかる。また、本発明の表面粗化剤は、粗化後の銅表面の酸化を防止することができることがわかる。
本発明の実施例1で密着性の試験後の粘着テープの光学写真を示す図である。 本発明の実施例4で密着性の試験後の粘着テープの光学写真を示す図である。 比較例1で密着性の試験後の粘着テープの光学写真を示す図である。 本発明の実施例1における酸化防止性の試験後の試験基板表面の光学写真を示す図である。 本発明の実施例4における酸化防止性の試験後の試験基板表面の光学写真を示す図である。 比較例1における酸化防止性の試験後の試験基板表面の光学写真を示す図である。

Claims (10)

  1. 銅又はその合金からなる表面を粗化するための表面粗化剤であって、硫酸、過酸化水素、5−アミノテトラゾール、5−アミノテトラゾール以外のテトラゾール化合物、及びホスホン酸系キレート剤を含有することを特徴とする表面粗化剤。
  2. 5−アミノテトラゾール以外のテトラゾール化合物が、5−メチルテトラゾール、5−エチルテトラゾール、5−n−プロピルテトラゾール、5−フェニルテトラゾール、5−トルイルテトラゾール、5−アミノメチルテトラゾール、5−(2−アミノフェニル)テトラゾール、5−アミノ−1−メチルテトラゾール、1−フェニル−5−アミノテトラゾール、1,5−ジメチルテトラゾール及びビステトラゾールジアンモニウムからなる群より選ばれた少なくとも1種のテトラゾール化合物である請求項1に記載の表面粗化剤。
  3. ホスホン酸系キレート剤が、アミノトリメチレンホスホン酸、1−ヒドロキシエタン−1,1−ジホスホン酸、ホスホノブタントリカルボン酸、エチレンジアミンテトラメチレンホスホン酸ナトリウム塩、ヘキサメチレンジアミンテトラメチレンホスホン酸、ジエチレントリアミンペンタメチレンホスホン酸、ポリアミノメチレンホスホン酸及びビスヘキサメチレントリアミンペンタメチレンホスホン酸からなる群より選ばれた少なくとも1種のホスホン酸系キレート剤である請求項1又は2に記載の表面粗化剤。
  4. 硫酸の濃度が、3〜20重量%である請求項1〜3のいずれかに記載の表面粗化剤。
  5. 過酸化水素の濃度が、2〜10重量%である請求項1〜4のいずれかに記載の表面粗化剤。
  6. 5−アミノテトラゾールの濃度が、0.01〜1.0重量%である請求項1〜5のいずれかに記載の表面粗化剤。
  7. 5−アミノテトラゾール以外のテトラゾール化合物の濃度が、0.003〜0.3重量%である請求項1〜6のいずれかに記載の表面粗化剤。
  8. 5−アミノテトラゾールと5−アミノテトラゾール以外のテトラゾール化合物との濃度の比(5−アミノテトラゾール:5−アミノテトラゾール以外のテトラゾール化合物)が、1:1〜5:1(重量比)である請求項1〜7のいずれかに記載の表面粗化剤。
  9. ホスホン酸系キレート剤の濃度が、0.05〜2.0重量%である請求項1〜8のいずれかに記載の表面粗化剤。
  10. 銅よりも電位が貴である金属イオンを含有しない請求項1〜9のいずれかに記載の表面粗化剤。
JP2008153066A 2007-06-14 2008-06-11 表面粗化剤 Active JP4881916B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008153066A JP4881916B2 (ja) 2007-06-14 2008-06-11 表面粗化剤

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007157734 2007-06-14
JP2007157734 2007-06-14
JP2008153066A JP4881916B2 (ja) 2007-06-14 2008-06-11 表面粗化剤

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009019270A JP2009019270A (ja) 2009-01-29
JP4881916B2 true JP4881916B2 (ja) 2012-02-22

Family

ID=40359163

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008153066A Active JP4881916B2 (ja) 2007-06-14 2008-06-11 表面粗化剤

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4881916B2 (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6101421B2 (ja) 2010-08-16 2017-03-22 インテグリス・インコーポレーテッド 銅または銅合金用エッチング液
US8524540B2 (en) 2011-02-01 2013-09-03 Nilesh Kapadia Adhesion promoting composition for metal leadframes
JP6120147B2 (ja) * 2012-06-29 2017-04-26 三菱瓦斯化学株式会社 エッチング用液体組成物およびそれを用いた多層プリント配線板の製造方法
TWI606760B (zh) * 2013-04-23 2017-11-21 Mitsubishi Gas Chemical Co Circuit board processing method and printed circuit board manufactured by the method
JP6464578B2 (ja) 2013-08-01 2019-02-06 三菱瓦斯化学株式会社 プリント配線板の製造方法
JP6180298B2 (ja) * 2013-11-27 2017-08-16 株式会社Adeka エッチング液組成物及びエッチング方法
CN105648453B (zh) * 2016-01-25 2018-03-06 奥士康科技股份有限公司 一种pcb板上去钯液的清洗方法
JP6354086B1 (ja) * 2017-01-21 2018-07-11 メック株式会社 被膜形成用組成物、表面処理金属部材の製造方法、および金属‐樹脂複合体の製造方法
JP2018184624A (ja) * 2017-04-24 2018-11-22 三洋化成工業株式会社 銅又は銅合金用エッチング液
JP7032239B2 (ja) * 2018-05-28 2022-03-08 古河電気工業株式会社 リードフレーム材およびその製造方法ならびに半導体パッケージ
CN111334800B (zh) * 2020-04-24 2022-04-29 信丰正天伟电子科技有限公司 Pcb微蚀液及其制备方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000282265A (ja) * 1999-03-31 2000-10-10 Mec Kk 銅または銅合金のマイクロエッチング剤およびそれを用いる表面処理法
JP3930885B2 (ja) * 2000-12-27 2007-06-13 荏原ユージライト株式会社 銅および銅合金用のマイクロエッチング剤

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009019270A (ja) 2009-01-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4881916B2 (ja) 表面粗化剤
JP5505847B2 (ja) エッチング剤
KR101550069B1 (ko) 에칭액
US7232528B2 (en) Surface treatment agent for copper and copper alloy
TWI630261B (zh) 蝕刻用組成物及利用此蝕刻用組成物之印刷電路板之製造方法
JP2000282265A (ja) 銅または銅合金のマイクロエッチング剤およびそれを用いる表面処理法
JP5596746B2 (ja) エッチング液およびそれを用いたプリント配線板の製造方法
KR20200046001A (ko) 에칭용 액체 조성물 및 이것을 이용한 다층 프린트 배선판의 제조 방법
JP4364252B2 (ja) 基板の製造方法及びこれに用いる銅表面処理剤
KR20140002495A (ko) 에칭용 액체 조성물 및 이것을 이용한 다층 프린트 배선판의 제조 방법
JP4836365B2 (ja) 回路板製造のための組成物
JP2011038124A (ja) 金属表面処理剤
WO2011043881A1 (en) Nickel-chromium alloy stripper for flexible wiring boards
JP5317099B2 (ja) 接着層形成液
JP4431860B2 (ja) 銅および銅合金の表面処理剤
JP2010196119A (ja) 金属表面処理剤
JP4065110B2 (ja) 銅または銅合金の表面処理法およびプリント配線板の製造法
JP2011080131A (ja) 金属表面処理方法および配線基板の製造方法
JP2004218021A (ja) 銅及び銅合金のマイクロエッチング用表面処理剤及び銅及び銅合金の表面の粗面処理法
KR20140137909A (ko) 동박 표면 처리용 에칭 조성물
JP2016204679A (ja) 銅または銅合金のエッチング液
JP2009084652A (ja) 金属の酸化処理方法および酸化処理液
JP2004259937A (ja) 多層プリント配線板の製造方法及びそれにより得られる多層プリント配線板
JP2013001944A (ja) 金属表面処理液

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090909

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20100921

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20100924

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110818

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110826

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111013

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111110

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111205

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4881916

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141209

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250