JP4872870B2 - Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and projection display device - Google Patents

Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and projection display device Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electrooptical device capable of preventing specular reflection of returned light in a peripheral circuit region and emission of the returned light from an element substrate side, when the returned light is made incident on the element substrate, to provide a manufacturing method of the electrooptical device, and to provide a projection-type display device. <P>SOLUTION: In the electrooptical device 100, a plurality of light-scattering concavo-convex parts 10t (spherical concave parts 10v) are formed in the peripheral circuit region 10d of a light-transmissive substrate 10s used for the element substrate 10. Thereby, even when the returned light of modulated light is made incident, directed toward the peripheral circuit region 10d of the element substrate 10, the returned light is reflected at the spherical concave parts 10v to be scattered. Thus imaging of the peripheral circuit region 10d in an outer edge part of a projected image, caused by reflection of the returned light at the peripheral circuit region 10d, can be prevented. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、液晶装置などの電気光学装置、電気光学装置の製造方法、および当該電気光学装置を備えた投射型表示装置に関するものである。   The present invention relates to an electro-optical device such as a liquid crystal device, a method for manufacturing the electro-optical device, and a projection display device including the electro-optical device.

各種の電気光学装置のうち、液晶装置では、素子基板と対向基板との間に液晶層が保持され、対向基板側から入射した光を液晶層によって変調し、素子基板側から出射する。素子基板は、透光性基板上に、画素電極および画素トランジスタを備えた画素が複数形成された画素領域と、画素領域より外周側で配線や駆動回路用トランジスタが複数形成された周辺回路領域とを有している。かかる電気光学装置は、例えば、投射型表示装置においてライトバルブとして用いられ、変調した光を投射光学系によりスクリーンなどの被投射面に拡大投射して画像を表示する。   Among various electro-optical devices, in a liquid crystal device, a liquid crystal layer is held between an element substrate and a counter substrate, and light incident from the counter substrate side is modulated by the liquid crystal layer and emitted from the element substrate side. The element substrate includes a pixel region in which a plurality of pixels each including a pixel electrode and a pixel transistor are formed on a light-transmitting substrate, and a peripheral circuit region in which a plurality of wiring and driving circuit transistors are formed on the outer peripheral side of the pixel region. have. Such an electro-optical device is used as, for example, a light valve in a projection display device, and displays an image by enlarging and projecting modulated light onto a projection surface such as a screen by a projection optical system.

このような投射型表示装置では、変調された光が、素子基板の出射側の面や電気光学装置に対して出射側に配置された光学系などで反射すると、反射光が戻り光として電気光学装置の素子基板側から入射することがあり、このような戻り光が画素トランジスタに入射すると、光リーク電流の原因となる。そこで、素子基板において、画素トランジスタの下層側に遮光層を形成して光リーク電流の発生などを防止することが提案されている(例えば、特許文献1〜3参照)。
特開2004−342923号公報 特開2000−131716号公報 特開2000−298290号公報
In such a projection display device, when the modulated light is reflected by a surface on the output side of the element substrate or an optical system disposed on the output side with respect to the electro-optical device, the reflected light is electro-optically used as return light. The light may enter from the element substrate side of the device, and when such return light enters the pixel transistor, it causes a light leakage current. Therefore, it has been proposed to form a light shielding layer on the lower side of the pixel transistor in the element substrate to prevent the occurrence of light leakage current (see, for example, Patent Documents 1 to 3).
JP 2004-342923 A JP 2000-131716 A JP 2000-298290 A

しかしながら、電気光学装置の素子基板では、周辺回路領域に金属配線や金属電極が高密度に配置されているため、戻り光が周辺回路領域に入射すると、周辺回路領域で正反射した戻り光が素子基板から出射され、スクリーン上では、図11に示すように、投射画像310の外縁に沿って、周辺回路の写り込み320が発生してしまうという問題点があり、かかる問題点については、従来、十分な対策が施されていない。   However, in the element substrate of the electro-optical device, metal wiring and metal electrodes are arranged in a high density in the peripheral circuit area. Therefore, when the return light is incident on the peripheral circuit area, the return light that is regularly reflected in the peripheral circuit area is On the screen, as shown in FIG. 11, there is a problem that the reflection 320 of the peripheral circuit occurs along the outer edge of the projection image 310. Sufficient measures have not been taken.

以上の問題点に鑑みて、本発明の課題は、素子基板に対して戻り光が入射した場合に、戻り光が周辺回路領域で正反射して再び、素子基板側から出射されることを防止することができる電気光学装置、電気光学装置の製造方法、および当該電気光学装置を備えた投射型表示装置を提供することにある。   In view of the above problems, the object of the present invention is to prevent the return light from being regularly reflected in the peripheral circuit region and being emitted from the element substrate side again when the return light is incident on the element substrate. An electro-optical device, a method for manufacturing the electro-optical device, and a projection display device including the electro-optical device.

上記課題を解決するために、本発明では、透光性基板の第1面側に、画素電極および画素トランジスタを備えた画素が複数形成された画素領域と、該画素領域の外側に、配線および駆動回路用トランジスタが複数形成された周辺回路とを有する素子基板を備え、前記透光性基板前記第1面とは反対側の第2面側から変調した光を出射する電気光学装置において、前記透光性基板前記周辺回路と重なる領域には、前記透光性基板の前記第2面側から入射した光を散乱させる複数の光散乱用凹凸が形成されており、前記複数の光散乱用凹凸を構成する凹部は、内面が遮光層で覆われていることを特徴とする。
In order to solve the above problems, the present invention, the first surface side of the translucent substrate, a pixel region in which pixels having a pixel electrode and a pixel transistor is formed with a plurality of, outside of the pixel region, wiring and includes an element substrate having a peripheral circuit driving circuit transistor is formed with a plurality, in the electro-optical device for emitting light modulated from the second surface side opposite to the first surface of the light transmitting substrate, wherein the area overlapping with the peripheral circuit of the light-transmitting substrate, wherein the plurality of light scattering irregularities for scattering light incident from the second surface side of the translucent substrate are formed, the plurality of light-scattering The concave portion constituting the concave and convex portions for use is characterized in that the inner surface is covered with a light shielding layer .

本発明では、素子基板に用いた透光性基板において周辺回路領域に対して重なる領域に複数の光散乱用凹凸が形成されているため、変調された光が、素子基板の出射側の面や電気光学装置に対して出射側に配置された光学系などで反射して戻り光として素子基板側から入射した場合でも、戻り光は複数の光散乱用凹凸によって散乱する。このため、戻り光が周辺回路領域で正反射して素子基板から出射されることがないので、スクリーンなどの被投射面に表示された画像の外縁に沿って周辺回路領域が写り込むことを防止することができる。また、素子基板に用いた透光性基板において周辺回路領域に対して重なる領域にベタの遮光膜を形成すると、かかる遮光膜の存在がスクリーンなどの被投射面に表示された画像の外縁に沿って写り込むことになるが、本発明では、光散乱用凹凸で戻り光を散乱させるので、かかる問題が発生することもない。   In the present invention, since a plurality of light scattering irregularities are formed in a region overlapping the peripheral circuit region in the light-transmitting substrate used as the element substrate, the modulated light is emitted from the surface on the emission side of the element substrate. Even when reflected from an optical system or the like disposed on the emission side with respect to the electro-optical device and incident as return light from the element substrate side, the return light is scattered by a plurality of light scattering irregularities. For this reason, since the return light is not regularly reflected from the peripheral circuit area and emitted from the element substrate, the peripheral circuit area is prevented from being reflected along the outer edge of the image displayed on the projection surface such as a screen. can do. In addition, when a solid light-shielding film is formed in a region that overlaps the peripheral circuit region in the light-transmitting substrate used as the element substrate, the presence of the light-shielding film follows the outer edge of the image displayed on the projection surface such as a screen. However, in the present invention, since the return light is scattered by the light scattering unevenness, such a problem does not occur.

本発明において、前記複数の光散乱用凹凸を構成する凹部は、内面が遮光層で覆われている構成を採用することができる。このように構成すると、戻り光の一部が遮光層で反射した場合でも、散乱しながら反射するため、不要な写り込みを防止することができる。   In the present invention, a configuration in which the inner surface is covered with a light-shielding layer can be adopted for the concave portions constituting the plurality of light scattering irregularities. With this configuration, even when part of the return light is reflected by the light shielding layer, it is reflected while being scattered, so that unnecessary reflection can be prevented.

本発明において、前記複数の光散乱用凹凸を構成する凹部は、内面が遮光層で覆われているとともに、前記複数の凹部は、前記遮光層を覆うように形成された充填材料により内部が埋められ、当該充填材料によって、前記透光性基板において前記複数の凹部の形成領域は平坦化されていることが好ましい。このように構成すると、戻り光の一部が遮光層で反射した場合でも、散乱しながら反射するため、不要な写り込みを防止することができる。また、素子基板において光散乱用凹凸が形成されている領域上に周辺回路を形成する場合でも、光散乱用凹凸に起因する段差のない領域に周辺回路を形成でき、段差によって周辺回路の信頼性などが低下することを確実に防止することができる。   In the present invention, the concave portions constituting the plurality of light scattering irregularities have inner surfaces covered with a light shielding layer, and the plurality of concave portions are filled with a filling material formed so as to cover the light shielding layer. In addition, it is preferable that the formation region of the plurality of recesses is flattened in the translucent substrate by the filling material. With this configuration, even when part of the return light is reflected by the light shielding layer, it is reflected while being scattered, so that unnecessary reflection can be prevented. In addition, even when a peripheral circuit is formed on a region where light scattering unevenness is formed on the element substrate, the peripheral circuit can be formed in a region without a step due to the light scattering unevenness, and the reliability of the peripheral circuit is determined by the step. Etc. can be reliably prevented.

本発明において、前記遮光層は、光を一部透過可能な半透過性遮光膜であってもよい。このように構成すると、光散乱用凹凸での反射光量を減少させることができる。   In the present invention, the light shielding layer may be a semi-transmissive light shielding film capable of partially transmitting light. If comprised in this way, the reflected light quantity in the unevenness | corrugation for light scattering can be decreased.

本発明において、前記複数の光散乱用凹凸を構成する複数の凹部の内面は、前記透光性基板と異なる屈折率を有する透光性材料で覆われている構成を採用することができる。このように構成すると、光散乱用凹凸での屈折作用で戻り光を散乱させることができる。   In the present invention, it is possible to adopt a configuration in which inner surfaces of the plurality of recesses constituting the plurality of light scattering irregularities are covered with a light-transmitting material having a refractive index different from that of the light-transmitting substrate. If comprised in this way, return light can be scattered by the refractive action in the unevenness | corrugation for light scattering.

この場合、前記凹部は、内部が前記透光性材料により埋められ、当該透光性材料によって、前記透光性基板において前記複数の凹部の形成領域は平坦化されていることが好ましい。このように構成すると、素子基板において光散乱用凹凸が形成されている領域上に周辺回路を形成する場合でも、光散乱用凹凸に起因する段差のない領域に周辺回路を形成でき、段差によって周辺回路の信頼性などが低下することを確実に防止することができる。   In this case, it is preferable that the inside of the recess is filled with the light-transmitting material, and the regions where the plurality of recesses are formed in the light-transmitting substrate are flattened by the light-transmitting material. With this configuration, even when the peripheral circuit is formed on the region where the light scattering unevenness is formed on the element substrate, the peripheral circuit can be formed in the region without the step due to the light scattering unevenness. It is possible to reliably prevent the circuit reliability from being lowered.

本発明において、前記複数の光散乱用凹凸は、例えば、前記透光性基板において球面状に凹む複数の凹部により構成されている。このように構成すると、戻り光を効率よく散乱させることができる。   In the present invention, the plurality of light scattering irregularities are constituted by, for example, a plurality of concave portions recessed in a spherical shape on the translucent substrate. If comprised in this way, return light can be scattered efficiently.

本発明において、前記複数の光散乱用凹凸が、前記透光性基板において断面円弧状の複数の溝状凹部により形成されている構成を採用してもよい。このように構成すると、戻り光を効率よく散乱させることができる。   In this invention, you may employ | adopt the structure by which the said several uneven | corrugated for light scattering is formed in the said translucent board | substrate by the some groove-shaped recessed part with circular arc shape in cross section. If comprised in this way, return light can be scattered efficiently.

本発明に係る電気光学装置は、例えば液晶装置であり、液晶装置は、前記素子基板に対して対向配置された対向基板を備え、当該対向基板と前記素子基板との間に液晶層が保持されている。   The electro-optical device according to the present invention is, for example, a liquid crystal device, and the liquid crystal device includes a counter substrate disposed to face the element substrate, and a liquid crystal layer is held between the counter substrate and the element substrate. ing.

本発明に係る電気光学装置の製造方法は、透光性基板の第1面側に、画素電極および画素トランジスタを備えた画素が複数形成された画素領域と、該画素領域の外側に、配線および駆動回路用トランジスタが複数形成された周辺回路とを有する素子基板を備え、前記透光性基板において前記第1面とは反対側の第2面側から変調した光を出射する電気光学装置の製造方法において、前記透光性基板前記周辺回路と重なる領域に、前記透光性基板の前記第2面側から入射した光を散乱させる複数の光散乱用凹凸を形成するにあたって、前記透光性基板に対して、前記複数の光散乱用凹凸の凹部とすべき領域に開孔部を備えたマスクを形成するマスク形成工程と、前記開孔部から前記透光性基板にウエットエッチングを行なう凹部形成工程と、を行なうことを特徴とする。

An electro-optical device manufacturing method according to the present invention includes a pixel region in which a plurality of pixels each including a pixel electrode and a pixel transistor are formed on a first surface side of a translucent substrate, and a wiring and an outer side of the pixel region. Manufacturing an electro-optical device including an element substrate having a peripheral circuit on which a plurality of drive circuit transistors are formed, and emitting modulated light from a second surface side opposite to the first surface of the translucent substrate. in the method, a region which overlaps with the peripheral circuit of the light-transmitting substrate, in forming a plurality of light scattering irregularities for scattering light incident from the second surface side of the translucent substrate, the translucent A mask forming step of forming a mask having an aperture in a region to be a recess of the plurality of light scattering irregularities, and a recess for performing wet etching from the aperture to the light-transmitting substrate. Forming process; And performing.

かかる製造方法によれば、凹部形成工程において、エッチングが等方的に進行する結果、球面状の凹部や断面円弧状の溝状凹部を形成することができる。   According to such a manufacturing method, as a result of the etching progressing isotropically in the recess forming step, it is possible to form a spherical recess or a groove-like recess having an arc cross section.

本発明を適用した電気光学装置は、例えば、投射型表示装置に用いられ、かかる投射型表示装置は、前記電気光学装置により光変調した光を投射する投射光学系を備えている。   The electro-optical device to which the present invention is applied is used in, for example, a projection display device, and the projection display device includes a projection optical system that projects light modulated by the electro-optical device.

図面を参照して、本発明を適用した電気光学装置(液晶装置)を用いた投射型表示装置、および当該電気光学装置を説明する。なお、以下の説明で参照する図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならしめてある。   A projection display device using an electro-optical device (liquid crystal device) to which the invention is applied and the electro-optical device will be described with reference to the drawings. In the drawings to be referred to in the following description, the scales are different for each layer and each member so that each layer and each member have a size that can be recognized on the drawing.

[投射型表示装置の構成]
図1を参照して、本発明を適用した電気光学装置をライトバルブとして用いた投射型表示装置を説明する。図1は、本発明を適用した投射型表示装置の概略構成図である。
[Configuration of Projection Display Device]
With reference to FIG. 1, a projection display device using an electro-optical device to which the present invention is applied as a light valve will be described. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a projection display device to which the present invention is applied.

図1に示す投射型表示装置110は、観察者側に設けられたスクリーン111(被投射面)に光を照射し、このスクリーン111で反射した光を観察する。投射型表示装置110は、光源112、ダイクロイックミラー113、114、およびリレー系120などを備えた光源部140と、液晶ライトバルブ115〜117と、クロスダイクロイックプリズム119(合成光学系)と、投射光学系118とを備えている。   The projection display device 110 shown in FIG. 1 irradiates light on a screen 111 (projected surface) provided on the viewer side, and observes the light reflected by the screen 111. The projection display apparatus 110 includes a light source unit 140 including a light source 112, dichroic mirrors 113 and 114, a relay system 120, liquid crystal light valves 115 to 117, a cross dichroic prism 119 (combining optical system), and projection optics. System 118.

光源112は、赤色光、緑色光および青色光を含む光を供給する超高圧水銀ランプで構成されている。ダイクロイックミラー113は、光源112からの赤色光を透過させると共に緑色光および青色光を反射する構成となっている。また、ダイクロイックミラー114は、ダイクロイックミラー113で反射された緑色光および青色光のうち青色光を透過させると共に緑色光を反射する構成となっている。このように、ダイクロイックミラー113、114は、光源112から出射した光を赤色光と緑色光と青色光とに分離する色分離光学系を構成する。   The light source 112 is composed of an ultrahigh pressure mercury lamp that supplies light including red light, green light, and blue light. The dichroic mirror 113 is configured to transmit red light from the light source 112 and reflect green light and blue light. The dichroic mirror 114 is configured to transmit blue light and reflect green light among green light and blue light reflected by the dichroic mirror 113. Thus, the dichroic mirrors 113 and 114 constitute a color separation optical system that separates the light emitted from the light source 112 into red light, green light, and blue light.

ダイクロイックミラー113と光源112との間には、インテグレータ121および偏光変換素子122が光源112から順に配置されている。インテグレータ121は、光源112から照射された光の照度分布を均一化する構成となっている。また、偏光変換素子122は、光源112からの光を例えばs偏光のような特定の振動方向を有する偏光にする構成となっている。   Between the dichroic mirror 113 and the light source 112, an integrator 121 and a polarization conversion element 122 are sequentially arranged from the light source 112. The integrator 121 is configured to make the illuminance distribution of the light emitted from the light source 112 uniform. Further, the polarization conversion element 122 is configured to change the light from the light source 112 into polarized light having a specific vibration direction such as s-polarized light.

液晶ライトバルブ115は、ダイクロイックミラー113を透過して反射ミラー123で反射した赤色光を画像信号に応じて変調する透過型の電気光学装置(液晶装置)である。液晶ライトバルブ115は、λ/2位相差板115a、第1偏光板115b、液晶パネル115cおよび第2偏光板115dを備えている。ここで、液晶ライトバルブ115に入射する赤色光は、ダイクロイックミラー113を透過しても光の偏光は変化しないことから、s偏光のままである。λ/2位相差板115aは、液晶ライトバルブ115に入射したs偏光をp偏光に変換する光学素子である。また、第1偏光板115bは、s偏光を遮断してp偏光を透過させる偏光板である。液晶パネル115cは、p偏光を画像信号に応じた変調によってs偏光(中間調であれば円偏光又は楕円偏光)に変換する構成となっている。さらに、第2偏光板115dは、p偏光を遮断してs偏光を透過させる偏光板である。従って、液晶ライトバルブ115は、画像信号に応じて赤色光を変調し、変調した赤色光をクロスダイクロイックプリズム119に向けて出射する構成となっている。なお、λ/2位相差板115aおよび第1偏光板115bは、偏光を変換させない透光性のガラス板115eに接した状態で配置されており、λ/2位相差板115aおよび第1偏光板115bが発熱によって歪むのを回避することができる。   The liquid crystal light valve 115 is a transmissive electro-optical device (liquid crystal device) that modulates red light transmitted through the dichroic mirror 113 and reflected by the reflecting mirror 123 in accordance with an image signal. The liquid crystal light valve 115 includes a λ / 2 phase difference plate 115a, a first polarizing plate 115b, a liquid crystal panel 115c, and a second polarizing plate 115d. Here, the red light incident on the liquid crystal light valve 115 remains s-polarized light because the polarization of the light does not change even if it passes through the dichroic mirror 113. The λ / 2 phase difference plate 115a is an optical element that converts s-polarized light incident on the liquid crystal light valve 115 into p-polarized light. The first polarizing plate 115b is a polarizing plate that blocks s-polarized light and transmits p-polarized light. The liquid crystal panel 115c is configured to convert p-polarized light into s-polarized light (circularly polarized light or elliptically polarized light in the case of halftone) by modulation according to an image signal. Furthermore, the second polarizing plate 115d is a polarizing plate that blocks p-polarized light and transmits s-polarized light. Accordingly, the liquid crystal light valve 115 is configured to modulate the red light according to the image signal and emit the modulated red light toward the cross dichroic prism 119. The λ / 2 phase difference plate 115a and the first polarizing plate 115b are disposed in contact with a light-transmitting glass plate 115e that does not convert polarized light, and the λ / 2 phase difference plate 115a and the first polarizing plate 115b. It is possible to avoid distortion of 115b due to heat generation.

液晶ライトバルブ116は、ダイクロイックミラー113で反射した後にダイクロイックミラー114で反射した緑色光を画像信号に応じて変調する透過型の電気光学装置(液晶装置)である。液晶ライトバルブ116は、液晶ライトバルブ115と同様に、第1偏光板116b、液晶パネル116cおよび第2偏光板116dを備えている。液晶ライトバルブ116に入射する緑色光は、ダイクロイックミラー113、114で反射されて入射するs偏光である。第1偏光板116bは、p偏光を遮断してs偏光を透過させる偏光板である。また、液晶パネル116cは、s偏光を画像信号に応じた変調によってp偏光(中間調であれば円偏光又は楕円偏光)に変換する構成となっている。第2偏光板116dは、s偏光を遮断してp偏光を透過させる偏光板である。従って、液晶ライトバルブ116は、画像信号に応じて緑色光を変調し、変調した緑色光をクロスダイクロイックプリズム119に向けて出射する構成となっている。   The liquid crystal light valve 116 is a transmissive electro-optical device (liquid crystal device) that modulates green light reflected by the dichroic mirror 114 after being reflected by the dichroic mirror 113 in accordance with an image signal. Similar to the liquid crystal light valve 115, the liquid crystal light valve 116 includes a first polarizing plate 116b, a liquid crystal panel 116c, and a second polarizing plate 116d. Green light incident on the liquid crystal light valve 116 is s-polarized light that is reflected by the dichroic mirrors 113 and 114 and then incident. The first polarizing plate 116b is a polarizing plate that blocks p-polarized light and transmits s-polarized light. The liquid crystal panel 116c is configured to convert s-polarized light into p-polarized light (circularly polarized light or elliptically polarized light in the case of halftone) by modulation according to the image signal. The second polarizing plate 116d is a polarizing plate that blocks s-polarized light and transmits p-polarized light. Accordingly, the liquid crystal light valve 116 is configured to modulate green light in accordance with an image signal and emit the modulated green light toward the cross dichroic prism 119.

液晶ライトバルブ117は、ダイクロイックミラー113で反射し、ダイクロイックミラー114を透過した後でリレー系120を経た青色光を画像信号に応じて変調する透過型の電気光学装置(液晶装置)である。液晶ライトバルブ117は、液晶ライトバルブ115、116と同様に、λ/2位相差板117a、第1偏光板117b、液晶パネル117cおよび第2偏光板117dを備えている。ここで、液晶ライトバルブ117に入射する青色光は、ダイクロイックミラー113で反射してダイクロイックミラー114を透過した後にリレー系120の後述する2つの反射ミラー125a、125bで反射することから、s偏光となっている。λ/2位相差板117aは、液晶ライトバルブ117に入射したs偏光をp偏光に変換する光学素子である。第1偏光板117bは、s偏光を遮断してp偏光を透過させる偏光板である。液晶パネル117cは、p偏光を画像信号に応じた変調によってs偏光(中間調であれば円偏光又は楕円偏光)に変換する構成となっている。第2偏光板117dは、p偏光を遮断してs偏光を透過させる偏光板である。従って、液晶ライトバルブ117は、画像信号に応じて青色光を変調し、変調した青色光をクロスダイクロイックプリズム119に向けて出射する構成となっている。なお、λ/2位相差板117aおよび第1偏光板117bは、ガラス板117eに接した状態で配置されている。   The liquid crystal light valve 117 is a transmissive electro-optical device (liquid crystal device) that modulates blue light reflected by the dichroic mirror 113 and transmitted through the dichroic mirror 114 and then passed through the relay system 120 in accordance with an image signal. Similarly to the liquid crystal light valves 115 and 116, the liquid crystal light valve 117 includes a λ / 2 phase difference plate 117a, a first polarizing plate 117b, a liquid crystal panel 117c, and a second polarizing plate 117d. Here, since the blue light incident on the liquid crystal light valve 117 is reflected by the two reflecting mirrors 125a and 125b described later of the relay system 120 after being reflected by the dichroic mirror 113 and transmitted through the dichroic mirror 114, the s-polarized light is reflected. It has become. The λ / 2 phase difference plate 117a is an optical element that converts s-polarized light incident on the liquid crystal light valve 117 into p-polarized light. The first polarizing plate 117b is a polarizing plate that blocks s-polarized light and transmits p-polarized light. The liquid crystal panel 117c is configured to convert p-polarized light into s-polarized light (circularly polarized light or elliptically polarized light in the case of halftone) by modulation according to an image signal. The second polarizing plate 117d is a polarizing plate that blocks p-polarized light and transmits s-polarized light. Accordingly, the liquid crystal light valve 117 is configured to modulate the blue light according to the image signal and emit the modulated blue light toward the cross dichroic prism 119. The λ / 2 phase difference plate 117a and the first polarizing plate 117b are arranged in contact with the glass plate 117e.

リレー系120は、リレーレンズ124a、124bと反射ミラー125a、125bとを備えている。リレーレンズ124a、124bは、青色光の光路が長いことによる光損失を防止するために設けられている。ここで、リレーレンズ124aは、ダイクロイックミラー114と反射ミラー125aとの間に配置されている。また、リレーレンズ124bは、反射ミラー125a、125bの間に配置されている。反射ミラー125aは、ダイクロイックミラー114を透過してリレーレンズ124aから出射した青色光をリレーレンズ124bに向けて反射するように配置されている。また、反射ミラー125bは、リレーレンズ124bから出射した青色光を液晶ライトバルブ117に向けて反射するように配置されている。   The relay system 120 includes relay lenses 124a and 124b and reflection mirrors 125a and 125b. The relay lenses 124a and 124b are provided to prevent light loss due to a long blue light path. Here, the relay lens 124a is disposed between the dichroic mirror 114 and the reflection mirror 125a. The relay lens 124b is disposed between the reflection mirrors 125a and 125b. The reflection mirror 125a is disposed so as to reflect the blue light transmitted through the dichroic mirror 114 and emitted from the relay lens 124a toward the relay lens 124b. The reflection mirror 125b is arranged to reflect the blue light emitted from the relay lens 124b toward the liquid crystal light valve 117.

クロスダイクロイックプリズム119は、2つのダイクロイック膜119a、119bをX字型に直交配置した色合成光学系である。ダイクロイック膜119aは青色光を反射して緑色光を透過する膜であり、ダイクロイック膜119bは赤色光を反射して緑色光を透過する膜である。従って、クロスダイクロイックプリズム119は、液晶ライトバルブ115〜117のそれぞれで変調された赤色光と緑色光と青色光とを合成し、投射光学系118に向けて出射するように構成されている。   The cross dichroic prism 119 is a color combining optical system in which two dichroic films 119a and 119b are arranged orthogonally in an X shape. The dichroic film 119a is a film that reflects blue light and transmits green light, and the dichroic film 119b is a film that reflects red light and transmits green light. Therefore, the cross dichroic prism 119 is configured to combine the red light, the green light, and the blue light modulated by the liquid crystal light valves 115 to 117 and emit the resultant light toward the projection optical system 118.

なお、液晶ライトバルブ115、117からクロスダイクロイックプリズム119に入射する光はs偏光であり、液晶ライトバルブ116からクロスダイクロイックプリズム119に入射する光はp偏光である。このようにクロスダイクロイックプリズム119に入射する光を異なる種類の偏光としていることで、クロスダイクロイックプリズム119において各液晶ライトバルブ115〜117から入射する光を有効に合成できる。ここで、一般に、ダイクロイック膜119a、119bはs偏光の反射特性に優れている。このため、ダイクロイック膜119a、119bで反射される赤色光および青色光をs偏光とし、ダイクロイック膜119a、119bを透過する緑色光をp偏光としている。投射光学系118は、投影レンズ(図示略)を有しており、クロスダイクロイックプリズム119で合成された光をスクリーン111に投射するように構成されている。   Note that light incident on the cross dichroic prism 119 from the liquid crystal light valves 115 and 117 is s-polarized light, and light incident on the cross dichroic prism 119 from the liquid crystal light valve 116 is p-polarized light. Thus, by making the light incident on the cross dichroic prism 119 different types of polarized light, the light incident from the liquid crystal light valves 115 to 117 in the cross dichroic prism 119 can be effectively combined. Here, in general, the dichroic films 119a and 119b are excellent in the reflection characteristics of s-polarized light. For this reason, red light and blue light reflected by the dichroic films 119a and 119b are s-polarized light, and green light transmitted through the dichroic films 119a and 119b is p-polarized light. The projection optical system 118 has a projection lens (not shown) and is configured to project the light combined by the cross dichroic prism 119 onto the screen 111.

以下、図1に示した投射型表示装置において液晶ライトバルブ115〜117(電気光学装置/液晶装置)に用いた液晶パネルの構成を詳述する。なお、図1に示す液晶ライトバルブ115〜117および液晶パネル115c〜117cは、変調する光の波長領域が異なるだけであり、基本的構成が共通するので、液晶ライトバルブ115〜117を電気光学装置100とし、液晶パネル115c〜117cを液晶パネル100pとして説明する。   Hereinafter, the configuration of the liquid crystal panel used for the liquid crystal light valves 115 to 117 (electro-optical device / liquid crystal device) in the projection type display device shown in FIG. 1 will be described in detail. Note that the liquid crystal light valves 115 to 117 and the liquid crystal panels 115c to 117c shown in FIG. 1 differ only in the wavelength range of light to be modulated and have the same basic configuration, so that the liquid crystal light valves 115 to 117 are electro-optical devices. The liquid crystal panels 115c to 117c will be described as a liquid crystal panel 100p.

[実施の形態1]
(液晶パネルの全体構成)
図2は、図1に示した投射型表示装置において液晶ライトバルブ(電気光学装置/液晶装置)に用いた液晶パネルの電気的構成を示すブロック図である。図3(a)、(b)、(c)は各々、本発明を適用した電気光学装置100の液晶パネル100pを各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図、そのH−H′断面図、およびI−I′断面図である。
[Embodiment 1]
(Overall configuration of LCD panel)
FIG. 2 is a block diagram showing an electrical configuration of a liquid crystal panel used for a liquid crystal light valve (electro-optical device / liquid crystal device) in the projection type display device shown in FIG. FIGS. 3A, 3B, and 3C are plan views of the liquid crystal panel 100p of the electro-optical device 100 to which the present invention is applied as viewed from the counter substrate side along with the respective components, and the HH ′ cross section thereof. It is a figure and II 'sectional drawing.

図2に示すように、電気光学装置100は、液晶パネル100pを有しており、液晶パネル100pは、その中央領域に複数の画素100aがマトリクス状に配列された画素領域10bを備えている。かかる液晶パネル100pにおいて、後述する素子基板10には、画素領域10bの内側で複数本のデータ線6aおよび複数本の走査線3aが縦横に延びており、それらの交点に対応する位置に画素100aが構成されている。複数の画素100aの各々には、画素トランジスタとしての電界効果型トランジスタ30、および画素電極9aが形成されている。電界効果型トランジスタ30のソースにはデータ線6aが電気的に接続され、電界効果型トランジスタ30のゲートには走査線3aが電気的に接続され、電界効果型トランジスタ30のドレインには画素電極9aが電気的に接続されている。   As shown in FIG. 2, the electro-optical device 100 includes a liquid crystal panel 100p, and the liquid crystal panel 100p includes a pixel region 10b in which a plurality of pixels 100a are arranged in a matrix in the central region. In the liquid crystal panel 100p, on the element substrate 10 described later, a plurality of data lines 6a and a plurality of scanning lines 3a extend vertically and horizontally inside the pixel region 10b, and the pixel 100a is located at a position corresponding to the intersection. Is configured. In each of the plurality of pixels 100a, a field effect transistor 30 as a pixel transistor and a pixel electrode 9a are formed. The data line 6 a is electrically connected to the source of the field effect transistor 30, the scanning line 3 a is electrically connected to the gate of the field effect transistor 30, and the pixel electrode 9 a is connected to the drain of the field effect transistor 30. Are electrically connected.

素子基板10において、画素領域10bの外側領域は、走査線駆動回路104およびデータ線駆動回路101などが形成された周辺回路領域10dになっている。データ線駆動回路101は各データ線6aの一端に電気的に接続しており、画像処理回路202から供給される画像信号を各データ線6aに順次供給する。走査線駆動回路104は、各走査線3aに電気的に接続しており、走査信号を各走査線3aに順次供給する。   In the element substrate 10, the outer region of the pixel region 10b is a peripheral circuit region 10d in which the scanning line driving circuit 104, the data line driving circuit 101, and the like are formed. The data line driving circuit 101 is electrically connected to one end of each data line 6a, and sequentially supplies the image signal supplied from the image processing circuit 202 to each data line 6a. The scanning line driving circuit 104 is electrically connected to each scanning line 3a, and sequentially supplies a scanning signal to each scanning line 3a.

各画素100aにおいて、画素電極9aは、後述する対向基板に形成された共通電極と液晶を介して対向し、液晶容量50aを構成している。また、各画素100aには、液晶容量50aで保持される画像信号がリークするのを防ぐために、液晶容量50aと並列に保持容量60が付加されている。本形態では、保持容量60を構成するために、走査線3aと並列するように容量線3bが形成されており、かかる容量線3bは共通電位線COMに接続され、所定の電位に保持されている。なお、保持容量60は前段の走査線3aとの間に形成される場合もある。   In each pixel 100a, the pixel electrode 9a is opposed to a common electrode formed on a counter substrate, which will be described later, via liquid crystal, and constitutes a liquid crystal capacitor 50a. Each pixel 100a is provided with a holding capacitor 60 in parallel with the liquid crystal capacitor 50a in order to prevent the image signal held in the liquid crystal capacitor 50a from leaking. In this embodiment, in order to configure the storage capacitor 60, the capacitor line 3b is formed in parallel with the scanning line 3a. The capacitor line 3b is connected to the common potential line COM and is held at a predetermined potential. Yes. The storage capacitor 60 may be formed between the preceding scanning line 3a.

図3(a)、(b)、(c)に示すように、電気光学装置100の液晶パネル100pでは、所定の隙間を介して素子基板10と対向基板20とが所定の隙間を介してシール材107によって貼り合わされており、シール材107は対向基板20の縁に沿うように配置されている。シール材107は、光硬化樹脂や熱硬化性樹脂などからなる接着剤であり、両基板間の距離を所定値とするためのグラスファイバー、あるいはガラスビーズ等のギャップ材が配合されている。   As shown in FIGS. 3A, 3B, and 3C, in the liquid crystal panel 100p of the electro-optical device 100, the element substrate 10 and the counter substrate 20 are sealed via a predetermined gap through a predetermined gap. The sealing material 107 is bonded along the edge of the counter substrate 20. The sealing material 107 is an adhesive made of a photo-curing resin, a thermosetting resin, or the like, and is mixed with a gap material such as glass fiber or glass beads for setting the distance between both substrates to a predetermined value.

素子基板10において、シール材107と重なる領域およびその外側領域では、素子基板10の一辺に沿ってデータ線駆動回路101および複数の端子102が形成されており、この一辺に隣接する辺に沿って走査線駆動回路104が形成されている。また、対向基板20のコーナー部の少なくとも1箇所においては、素子基板10と対向基板20との間で電気的導通をとるための上下導通材109が形成されている。また、2つの走査線駆動回路104は配線105で電気的に接続されている。   In the element substrate 10, a data line driving circuit 101 and a plurality of terminals 102 are formed along one side of the element substrate 10 in a region overlapping with the sealant 107 and its outer region, and along the side adjacent to the one side. A scanning line driving circuit 104 is formed. Further, at least one corner of the counter substrate 20 is formed with a vertical conductive material 109 for electrical conduction between the element substrate 10 and the counter substrate 20. The two scanning line driving circuits 104 are electrically connected by a wiring 105.

詳しくは後述するが、素子基板10には、ITO(Indium Tin Oxide)膜からなる画素電極9aがマトリクス状に形成されている。これに対して、対向基板20には、シール材107の内側領域に遮光性材料からなる額縁108が形成され、その内側が画像表示領域10aとされている。また、対向基板20では、素子基板10の画素電極9aの縦横の境界領域と対向する領域にブラックマトリクス、あるいはブラックストライプなどと称せられる遮光膜23が形成され、その上層側には、ITO膜からなる共通電極21が形成されている。   As will be described in detail later, pixel electrodes 9 a made of an ITO (Indium Tin Oxide) film are formed in a matrix on the element substrate 10. On the other hand, a frame 108 made of a light-shielding material is formed in the inner area of the sealing material 107 on the counter substrate 20, and the inner side is an image display area 10 a. In the counter substrate 20, a light shielding film 23 called a black matrix or black stripe is formed in a region facing the vertical and horizontal boundary regions of the pixel electrode 9 a of the element substrate 10, and an ITO film is formed on the upper layer side thereof. A common electrode 21 is formed.

画素領域10bには、額縁108と重なる領域にダミーの画素が構成される場合があり、この場合、画素領域10bのうち、ダミー画素を除いた領域が画像表示領域10aとして利用されることになる。いずれの場合も、画素領域10bの外側(画像表示領域10aの外側)は、走査線駆動回路104、データ線駆動回路101、複数の端子102、配線105が形成された周辺回路領域10dとして利用される。   In the pixel area 10b, a dummy pixel may be formed in an area overlapping with the frame 108. In this case, the area excluding the dummy pixel in the pixel area 10b is used as the image display area 10a. . In any case, the outside of the pixel area 10b (outside of the image display area 10a) is used as the peripheral circuit area 10d in which the scanning line driving circuit 104, the data line driving circuit 101, the plurality of terminals 102, and the wiring 105 are formed. The

(液晶パネルおよび素子基板の詳細構成)
図4(a)、(b)は各々、本発明を適用した電気光学装置100に用いた素子基板10において相隣接する画素の平面図、およびそのA−A′線に相当する位置で電気光学装置100を切断したときの断面図である。
(Detailed configuration of liquid crystal panel and element substrate)
4A and 4B are plan views of adjacent pixels in the element substrate 10 used in the electro-optical device 100 to which the present invention is applied, and electro-optics at positions corresponding to the AA ′ line. It is sectional drawing when the apparatus 100 is cut | disconnected.

図4(a)、(b)に示すように、電気光学装置100の液晶パネル100pでは、所定の隙間を介して素子基板10と対向基板20とが所定の隙間を介してシール材(図示せず)によって貼り合わされている。素子基板10には、石英基板やガラス基板などからなる透光性基板10sの表面にシリコン酸化膜などからなる下地保護膜12が形成されているとともに、その表面側において、画素電極9aと重なる位置にnチャネル型の電界効果型トランジスタ30が形成されている。電界効果型トランジスタ30は、ポリシリコン層あるいは単結晶シリコン層からなる島状の半導体層1aに対して、チャネル領域1g、低濃度ソース領域1b、高濃度ソース領域1d、低濃度ドレイン領域1c、および高濃度ドレイン領域1eが形成されたLDD構造を備えている。また、半導体層1aの表面側にはゲート絶縁層2が形成されており、ゲート絶縁層2の表面にゲート電極3c(走査線3a)が形成されている。   As shown in FIGS. 4A and 4B, in the liquid crystal panel 100p of the electro-optical device 100, the element substrate 10 and the counter substrate 20 are sealed via a predetermined gap through a predetermined gap (not shown). Z)). In the element substrate 10, a base protective film 12 made of a silicon oxide film or the like is formed on the surface of a translucent substrate 10s made of a quartz substrate, a glass substrate, or the like, and on the surface side, a position overlapping the pixel electrode 9a. In addition, an n-channel field effect transistor 30 is formed. The field effect transistor 30 includes a channel region 1g, a low concentration source region 1b, a high concentration source region 1d, a low concentration drain region 1c, and an island-shaped semiconductor layer 1a made of a polysilicon layer or a single crystal silicon layer. It has an LDD structure in which a high concentration drain region 1e is formed. A gate insulating layer 2 is formed on the surface side of the semiconductor layer 1a, and a gate electrode 3c (scanning line 3a) is formed on the surface of the gate insulating layer 2.

電界効果型トランジスタ30の上層側には、層間絶縁層7、8が形成されている。層間絶縁層7の表面にはデータ線6aおよびドレイン電極6bが形成され、データ線6aは、層間絶縁層7に形成されたコンタクトホール7aを介して高濃度ソース領域1dに電気的に接続している。また、ドレイン電極6bは、層間絶縁層7に形成されたコンタクトホール7bを介して高濃度ドレイン領域1eに電気的に接続している。層間絶縁層8の表面にはITO膜からなる画素電極9aが形成されている。画素電極9aは、層間絶縁層8に形成されたコンタクトホール8aを介してドレイン電極6bに電気的に接続している。画素電極9aの表面側にはポリイミド膜からなる配向膜16が形成されている。また、高濃度ドレイン領域1eからの延設部分1f(下電極)に対しては、ゲート絶縁層2と同時形成された絶縁層(誘電体膜)を介して、走査線3cと同層の容量線3bが上電極として対向することにより、保持容量60が構成されている。   Interlayer insulating layers 7 and 8 are formed on the upper layer side of the field effect transistor 30. A data line 6a and a drain electrode 6b are formed on the surface of the interlayer insulating layer 7, and the data line 6a is electrically connected to the high concentration source region 1d through a contact hole 7a formed in the interlayer insulating layer 7. Yes. The drain electrode 6b is electrically connected to the high concentration drain region 1e through a contact hole 7b formed in the interlayer insulating layer 7. A pixel electrode 9 a made of an ITO film is formed on the surface of the interlayer insulating layer 8. The pixel electrode 9 a is electrically connected to the drain electrode 6 b through a contact hole 8 a formed in the interlayer insulating layer 8. An alignment film 16 made of a polyimide film is formed on the surface side of the pixel electrode 9a. Further, the extension portion 1f (lower electrode) from the high-concentration drain region 1e has a capacitance in the same layer as the scanning line 3c through an insulating layer (dielectric film) formed simultaneously with the gate insulating layer 2. The storage capacitor 60 is configured by the line 3b facing as an upper electrode.

対向基板20は、石英基板やガラス基板からなる透光性基板20sに対して遮光層23、共通電極21、および配向膜26などが形成されている。   The counter substrate 20 has a light shielding layer 23, a common electrode 21, an alignment film 26, and the like formed on a light transmitting substrate 20s made of a quartz substrate or a glass substrate.

このように構成した素子基板10と対向基板20とは、画素電極9aと共通電極21とが対面するように配置され、かつ、これらの基板間には、シール材(図示せず)により囲まれた空間内に電気光学物質としての液晶層50が封入されている。液晶層50は、画素電極9aからの電界が印加されていない状態で配向膜16、22により所定の配向状態をとる。液晶層50は、例えば一種または数種のネマティック液晶を混合したものなどからなる。   The element substrate 10 and the counter substrate 20 configured as described above are disposed so that the pixel electrode 9a and the common electrode 21 face each other, and the substrates are surrounded by a sealing material (not shown). A liquid crystal layer 50 as an electro-optical material is sealed in the space. The liquid crystal layer 50 takes a predetermined alignment state by the alignment films 16 and 22 in a state where an electric field from the pixel electrode 9a is not applied. The liquid crystal layer 50 is made of, for example, one or a mixture of several types of nematic liquid crystals.

(駆動回路の構成)
図5(a)、(b)は各々、本発明を適用した電気光学装置に用いた素子基板に形成した相補型電界効果型トランジスタの平面図、およびそのB−B′線に相当する位置で素子基板を切断したときの断面図である。
(Configuration of drive circuit)
5A and 5B are a plan view of a complementary field effect transistor formed on an element substrate used in an electro-optical device to which the present invention is applied, and a position corresponding to the line BB ′. It is sectional drawing when an element substrate is cut | disconnected.

図3(a)、(b)、(c)において、本形態の電気光学装置100では、素子基板10の表面側のうち、画素領域10bの外側(画像表示領域10aの外側)は、走査線駆動回路104、データ線駆動回路101、複数の端子102、配線105が形成された周辺回路領域10dとして利用される。このようなデータ線駆動回路101および走査線駆動回路104は、例えば、図5(a)、(b)に示すように、Pチャネル型の電界効果型トランジスタ80とNチャネル型の電界効果型トランジスタ90とを備えた相補回路などを有している。   3A, 3 </ b> B, and 3 </ b> C, in the electro-optical device 100 according to the present embodiment, the outer side of the pixel region 10 b (outside of the image display region 10 a) on the surface side of the element substrate 10 is a scanning line. It is used as a peripheral circuit region 10d in which a drive circuit 104, a data line drive circuit 101, a plurality of terminals 102, and a wiring 105 are formed. Such a data line driving circuit 101 and scanning line driving circuit 104 include, for example, a P-channel field effect transistor 80 and an N-channel field effect transistor as shown in FIGS. 90 and the like.

図5(a)、(b)において、電界効果型トランジスタ80、90は、画素スイッチング用の電界効果型トランジスタ30の製造工程の一部を利用して形成されたものであり、電界効果型トランジスタ80、90を構成する半導体層1p、1nは、電界効果型トランジスタ30を構成する半導体層1aと同じくポリシリコン層や単結晶シリコン層である。   5A and 5B, the field effect transistors 80 and 90 are formed by utilizing a part of the manufacturing process of the field switching transistor 30 for pixel switching. The semiconductor layers 1p and 1n constituting the transistors 80 and 90 are polysilicon layers or single crystal silicon layers, like the semiconductor layer 1a constituting the field effect transistor 30.

Nチャネル型の電界効果型トランジスタ90は、チャネル領域1oの両側にN型のソース領域(高濃度ソース領域1sおよび低濃度ソース領域1q)、およびドレイン領域(高濃度ドレイン領域1rおよび低濃度ドレイン領域1t)を備えており、Pチャネル型の電界効果型トランジスタ80は、チャネル領域1iの両側にP型のソース領域(高濃度ソース領域1lおよび低濃度ソース領域1j)、およびドレイン領域(高濃度ドレイン領域1mおよび低濃度ドレイン領域1k)を備えている。半導体層1p、1nの表面側にはゲート絶縁層2が形成されている。   The N-channel field effect transistor 90 includes an N-type source region (high-concentration source region 1s and low-concentration source region 1q) and a drain region (high-concentration drain region 1r and low-concentration drain region) on both sides of the channel region 1o. 1t), the P-channel field effect transistor 80 includes a P-type source region (high concentration source region 11 and low concentration source region 1j) and a drain region (high concentration drain) on both sides of the channel region 1i. A region 1m and a low concentration drain region 1k). A gate insulating layer 2 is formed on the surface side of the semiconductor layers 1p and 1n.

電界効果型トランジスタ80、90では、高電位線6eと低電位線6gが層間絶縁層7およびゲート絶縁層2を貫通するコンタクトホール7e、7gを介して、半導体層1p、1nの高濃度ソース領域1l、1sに電気的に接続されている。また、出力配線6fは、層間絶縁層7およびゲート絶縁層2を貫通するコンタクトホール7f、7kを介して半導体層1p、1nの高濃度ドレイン領域1m、1rに電気的にそれぞれ接続されている。また、入力配線6hは、層間絶縁層7を貫通するコンタクトホール7hを介して共通のゲート電極3eに接続されている。   In the field effect transistors 80 and 90, the high potential line 6e and the low potential line 6g are high concentration source regions of the semiconductor layers 1p and 1n through contact holes 7e and 7g penetrating the interlayer insulating layer 7 and the gate insulating layer 2. 1l and 1s are electrically connected. The output wiring 6f is electrically connected to the high-concentration drain regions 1m and 1r of the semiconductor layers 1p and 1n via contact holes 7f and 7k that penetrate the interlayer insulating layer 7 and the gate insulating layer 2, respectively. The input wiring 6h is connected to a common gate electrode 3e through a contact hole 7h that penetrates the interlayer insulating layer 7.

このような構成の周辺回路領域10dでは、アルミニウム配線などといった多数の金属配線が形成されているため、強い反射性を備えている。   In the peripheral circuit region 10d having such a configuration, since many metal wirings such as aluminum wirings are formed, the peripheral circuit region 10d has strong reflectivity.

(戻り光対策)
図6(a)、(b)、(c)は、本発明を適用した電気光学装置100の素子基板10に形成した光散乱用凹凸の平面的な構成を模式的に示す平面図、その断面図、およびその変形例の断面図である。
(Return light measures)
6A, 6B, and 6C are plan views schematically showing a planar configuration of light scattering irregularities formed on the element substrate 10 of the electro-optical device 100 to which the present invention is applied, and a cross section thereof. It is sectional drawing of a figure and its modification.

図2〜図5を参照して説明した電気光学装置100および液晶パネル100pを、図1を参照して説明した投射型表示装置110の液晶ライトバルブ115〜117および液晶パネル115c〜117cとして用いると、光源部140から出射された光は、対向基板20の側から入射した後、液晶層50によって光変調されて、矢印L1で示すように、素子基板10において、透光性基板10sの第1面10x側から入射し、第2面10yから出射される。その際、素子基板20から出射された変調光の一部は、例えばクロスダイクロイックプリズム119の入射面などで反射して、矢印L2、L3で示すように、液晶パネル100pに戻り光として入射することがある。このような戻り光のうち、矢印L2で示す戻り光は、画素領域10b(画像表示領域10a)に入射して電界効果型トランジスタ30に光リーク電流を発生させる原因となる。また、矢印L3で示す戻り光は、周辺回路領域10dに入射しようとする光であり、かかる光は、周辺回路領域10dで正反射すると、投射画像に周辺回路が写り込む原因となる。   When the electro-optical device 100 and the liquid crystal panel 100p described with reference to FIGS. 2 to 5 are used as the liquid crystal light valves 115 to 117 and the liquid crystal panels 115c to 117c of the projection display device 110 described with reference to FIG. The light emitted from the light source unit 140 is incident from the side of the counter substrate 20 and is then optically modulated by the liquid crystal layer 50. As indicated by an arrow L1, in the element substrate 10, the first of the translucent substrate 10s. The light enters from the surface 10x side and exits from the second surface 10y. At this time, a part of the modulated light emitted from the element substrate 20 is reflected by, for example, the incident surface of the cross dichroic prism 119 and is incident as return light on the liquid crystal panel 100p as indicated by arrows L2 and L3. There is. Among such return lights, the return light indicated by the arrow L2 is incident on the pixel region 10b (image display region 10a) and causes the field effect transistor 30 to generate a light leakage current. Further, the return light indicated by the arrow L3 is light that is about to enter the peripheral circuit region 10d. If such light is regularly reflected by the peripheral circuit region 10d, the peripheral circuit is reflected in the projected image.

そこで、本形態では、図3(b)、図4(b)、および図6a(a)、(b)に示すように、画素領域10b(画像表示領域10a)では、透光性基板10sと下地保護膜12との層間において電界効果型トランジスタ30と重なる領域には、ポリシリコン膜、シリコン窒化膜、チタン窒化膜などからなる遮光層11aが形成されている。   Therefore, in this embodiment, as shown in FIGS. 3B and 4B and FIGS. 6A and 6B, in the pixel region 10b (image display region 10a), A light shielding layer 11 a made of a polysilicon film, a silicon nitride film, a titanium nitride film, or the like is formed in a region overlapping the field effect transistor 30 between the base protective film 12 and the base protective film 12.

また、図3(c)、図5(b)、および図6(a)、(b)に示すように、透光性基板10sと下地保護膜12との層間において周辺回路領域10dと重なる領域には、透光性基板10sの第2面側から入射した光を散乱させる複数の光散乱用凹凸10tが形成されている。   Further, as shown in FIG. 3C, FIG. 5B, and FIGS. 6A and 6B, a region that overlaps the peripheral circuit region 10d between the light-transmitting substrate 10s and the base protective film 12 Are formed with a plurality of light scattering irregularities 10t for scattering light incident from the second surface side of the translucent substrate 10s.

本形態において、複数の光散乱用凹凸10tは各々、球面状に凹む球面状凹部10vを備えており、かかる球面状凹部10vは、例えば、直径が数μm〜数100μmであり、深さは数100nmである。ここで、球面状凹部10vは、内面が遮光層11bで覆われており、かかる遮光層11bは、ポリシリコン膜、シリコン窒化膜、チタン窒化膜などからなり、光を一部透過可能な半透過性遮光膜である。本形態において、遮光層11bは、遮光層11aと同時形成された膜である。   In the present embodiment, each of the plurality of light scattering irregularities 10t includes a spherical concave portion 10v that is recessed in a spherical shape, and the spherical concave portion 10v has, for example, a diameter of several μm to several hundreds of μm and a depth of several 100 nm. Here, the inner surface of the spherical concave portion 10v is covered with a light shielding layer 11b, and the light shielding layer 11b is made of a polysilicon film, a silicon nitride film, a titanium nitride film, or the like, and is semi-transmissive capable of partially transmitting light. A light-shielding film. In this embodiment, the light shielding layer 11b is a film formed simultaneously with the light shielding layer 11a.

また、複数の球面状凹部10vは、遮光層11bを覆うように形成されたシリコン酸化膜などからなる下地保護膜12により内部が埋められている。ここで、下地保護膜12は、透光性基板10sの第1面10xの全面にわたって形成されており、かつ、その表面全体が平坦面になっている。従って、透光性基板10sでは、複数の光散乱用凹凸10t(球面状凹部10v)の形成領域が平坦面になっている。   The plurality of spherical recesses 10v are filled with a base protective film 12 made of a silicon oxide film or the like formed so as to cover the light shielding layer 11b. Here, the base protective film 12 is formed over the entire surface of the first surface 10x of the translucent substrate 10s, and the entire surface thereof is a flat surface. Therefore, in the translucent substrate 10s, the formation region of the plurality of light scattering irregularities 10t (spherical concave portions 10v) is a flat surface.

(素子基板10の製造方法)
図7を参照して、素子基板10に光散乱用凹凸10tを形成する工程を中心に、本形態の電気光学装置100の製造を説明する。図7は、本発明を適用した電気光学装置100の製造工程のうち、素子基板10に光散乱用凹凸10tを形成する工程を示す工程断面図である。
(Method for manufacturing element substrate 10)
With reference to FIG. 7, the manufacture of the electro-optical device 100 of this embodiment will be described with a focus on the process of forming the light scattering irregularities 10 t on the element substrate 10. FIG. 7 is a process cross-sectional view illustrating a process of forming the light scattering irregularities 10 t on the element substrate 10 in the manufacturing process of the electro-optical device 100 to which the present invention is applied.

本形態の電気光学装置100に用いた素子基板10を製造するには、まず、図7(a)に示すように、石英基板やガラス基板からなる透光性基板10sを準備した後、マスク形成工程において、フォトリソグラフィ技術を用い、第1面10xにレジストマスク61を形成する。ここで、レジストマスク61は、図6(b)に示す球面状凹部10vに対応する箇所に開孔部610を備えている。   In order to manufacture the element substrate 10 used in the electro-optical device 100 of this embodiment, first, as shown in FIG. 7A, a light-transmitting substrate 10s made of a quartz substrate or a glass substrate is prepared, and then mask formation is performed. In the process, a resist mask 61 is formed on the first surface 10x using a photolithography technique. Here, the resist mask 61 includes an opening 610 at a location corresponding to the spherical recess 10v shown in FIG.

次に、図7(b)に凹部形成工程では、レジストマスク61の開孔部610を介して、透光性基板10sの第1面10xにウエットエッチングを行ない、球面状凹部10vを形成する。すなわち、ウエットエッチングによれば、開孔部610から等方的にエッチングが進行するため、球面状凹部10vを形成することができる。   Next, in the recess forming step shown in FIG. 7B, wet etching is performed on the first surface 10x of the translucent substrate 10s through the opening 610 of the resist mask 61 to form the spherical recess 10v. That is, according to the wet etching, since the etching proceeds isotropically from the opening 610, the spherical recess 10v can be formed.

次に、レジストマスク61を除去した後、図7(c)に示すように、透光性基板10sの第1面10xに遮光層11a、11bを形成するためのポリシリコン膜、シリコン窒化膜、チタン窒化膜などからなり、遮光膜11を形成する。   Next, after removing the resist mask 61, as shown in FIG. 7C, a polysilicon film, a silicon nitride film for forming the light shielding layers 11a and 11b on the first surface 10x of the translucent substrate 10s, The light shielding film 11 is formed of a titanium nitride film or the like.

次に、図7(d)に示すように、フォトリソグラフィ技術を用いて、遮光膜11の表面にレジストマスク62を形成する。ここで、レジストマスク62は、遮光層11a、11bを形成すべき領域を覆っており、他の領域に開孔部620を備えている。   Next, as shown in FIG. 7D, a resist mask 62 is formed on the surface of the light shielding film 11 by using a photolithography technique. Here, the resist mask 62 covers the region where the light shielding layers 11a and 11b are to be formed, and has an opening 620 in the other region.

次に、図7(e)に示すように、レジストマスク62の開孔部620を介して、遮光膜11にウエットエッチングあるいはドライエッチングを行なった後、レジストマスク62を除去すると、図7(f)に示すように、遮光層11a、11bが形成される。   Next, as shown in FIG. 7E, wet etching or dry etching is performed on the light-shielding film 11 through the opening 620 of the resist mask 62, and then the resist mask 62 is removed. ), The light shielding layers 11a and 11b are formed.

次に、遮光層11a、11bを覆うように、透光性基板10sの第1面10xの全面にシリコン酸化膜などからなる下地保護膜12を形成した後、下地保護膜12の表面を平坦化する。かかる平坦化を行なうにあたっては、例えば、化学機械研磨を行なう。この化学機械研磨では、研磨液に含まれる化学成分の作用と、研磨剤と透光性基板20sとの相対移動によって、高速で平滑な研磨面を得ることができる。より具体的には、研磨装置において、不織布、発泡ポリウレタン、多孔質フッ素樹脂などからなる研磨布(パッド)を貼り付けた定盤と、透光性基板20fs保持するホルダとを相対回転させながら、研磨を行なう。その際、例えば、平均粒径が0.01〜20μmの酸化セリウム粒子、分散剤としてのアクリル酸エステル誘導体、および水を含む研磨剤を研磨布と透光性基板20sとの間に供給する。このようにして、球面状凹部10vが遮光層11bを覆うように形成されたシリコン酸化膜(下地保護膜12/充填材料)により内部が埋められ、かかる下地保護膜12によって、透光性基板10sにおいて複数の球面状凹部10vが形成されている領域を平坦化することができる。   Next, a base protective film 12 made of a silicon oxide film or the like is formed on the entire first surface 10x of the translucent substrate 10s so as to cover the light shielding layers 11a and 11b, and then the surface of the base protective film 12 is planarized. To do. In performing the planarization, for example, chemical mechanical polishing is performed. In this chemical mechanical polishing, a smooth polished surface can be obtained at a high speed by the action of chemical components contained in the polishing liquid and the relative movement between the abrasive and the light transmitting substrate 20s. More specifically, in the polishing apparatus, while relatively rotating the surface plate on which a polishing cloth (pad) made of nonwoven fabric, foamed polyurethane, porous fluororesin or the like is attached, and the holder holding the light-transmitting substrate 20fs, Polish. At that time, for example, an abrasive containing cerium oxide particles having an average particle diameter of 0.01 to 20 μm, an acrylate derivative as a dispersant, and water is supplied between the polishing cloth and the translucent substrate 20s. In this way, the inside is filled with the silicon oxide film (base protective film 12 / filling material) formed so that the spherical concave portion 10v covers the light shielding layer 11b, and the base protective film 12 allows the translucent substrate 10s. The region in which the plurality of spherical concave portions 10v are formed can be flattened.

しかる後には、単結晶シリコン基板と透光性基板10sとの貼り合わせ技術による単結晶シリコン層の形成工程、あるいはアモルファスシリコン膜を形成した後のレーザアニールや急速加熱法などの結晶化処理によるポリシリコン層の形成工程を行なった後、かかるシリコン層を利用して電界効果型トランジスタ30、80、90などを形成する。以降の工程については周知の方法を適用できるので、それらの説明を省略する。   Thereafter, a single crystal silicon layer is formed by a bonding technique between the single crystal silicon substrate and the light-transmitting substrate 10s, or a polycrystal by a crystallization process such as laser annealing or rapid heating after the amorphous silicon film is formed. After the silicon layer formation step, field effect transistors 30, 80, 90, etc. are formed using the silicon layer. Since well-known methods can be applied to the subsequent steps, descriptions thereof are omitted.

(本形態の主な効果)
以上説明したように、本形態の電気光学装置100では、素子基板10に用いた透光性基板10sにおいて、下地保護膜12との層間には、電界効果型トランジスタ30と重なる領域に遮光層11aが形成されているため、変調された光が、素子基板10の出射側の面や、図1に示すクロスダイクロイックプリズム119の入射面で反射して、矢印L2で示す戻り光として素子基板10側から入射した場合でも、戻り光は電界効果型トランジスタ30に到達しないので、電界効果型トランジシタ30に光リーク電流が発生しない。
(Main effects of this form)
As described above, in the electro-optical device 100 according to the present embodiment, the light-shielding layer 11a is disposed in a region overlapping the field effect transistor 30 between the base protective film 12 and the light-transmitting substrate 10s used as the element substrate 10. Therefore, the modulated light is reflected by the surface on the emission side of the element substrate 10 and the incident surface of the cross dichroic prism 119 shown in FIG. 1, and is returned as the return light indicated by the arrow L2 on the element substrate 10 side. Even when the light enters the field effect transistor 30, since the return light does not reach the field effect transistor 30, no light leakage current is generated in the field effect transistor 30.

また、変調された光が、矢印L3で示す戻り光として、素子基板10の周辺回路領域10dに向けて入射した場合でも、素子基板10に用いた透光性基板10sにおいて周辺回路領域10dに対して重なる領域に複数の光散乱用凹凸10t(球面状凹部10v)が形成され、かかる光散乱用凹凸10tでは、球面状凹部10vの内面が遮光層11bで覆われている。このため、戻り光は、矢印L5で示すように、球面状凹部10vの外面で反射した際、散乱する。従って、戻り光が周辺回路領域10dで正反射することがないので、投射画像の外縁部分に周辺回路領域10dが写り込むのを防止することができる。   Further, even when the modulated light is incident on the peripheral circuit region 10d of the element substrate 10 as the return light indicated by the arrow L3, the light transmitting substrate 10s used for the element substrate 10 has the same effect on the peripheral circuit region 10d. A plurality of light scattering irregularities 10t (spherical concave portions 10v) are formed in the overlapping region, and the inner surfaces of the spherical concave portions 10v are covered with the light shielding layer 11b in the light scattering irregularities 10t. For this reason, the return light is scattered when reflected by the outer surface of the spherical recess 10v, as indicated by the arrow L5. Accordingly, since the return light is not regularly reflected by the peripheral circuit region 10d, it is possible to prevent the peripheral circuit region 10d from appearing in the outer edge portion of the projection image.

また、素子基板10に用いた透光性基板10sにおいて周辺回路領域10dに対して重なる領域にベタの遮光膜を形成すると、かかる遮光膜の存在がスクリーンなどの被投射面に表示された画像の外縁に沿って写り込むことになるが、本形態では、光散乱用凹凸10tで戻り光を散乱させるので、かかる問題が発生することもない。   In addition, when a solid light-shielding film is formed in a region overlapping the peripheral circuit region 10d in the light-transmitting substrate 10s used for the element substrate 10, the presence of the light-shielding film is displayed on a projection surface such as a screen. Although the image is reflected along the outer edge, in this embodiment, the return light is scattered by the light scattering unevenness 10t, so that such a problem does not occur.

また、球面状凹部10vであるため、反射方向が分散しているので、特定の方向に向けて強い光が反射するということがない。それ故、光散乱用凹凸10tで反射した光が投射画像の品位を低下させることがない。   In addition, since the reflection direction is dispersed due to the spherical concave portion 10v, strong light is not reflected toward a specific direction. Therefore, the light reflected by the light scattering irregularities 10t does not deteriorate the quality of the projected image.

しかも、遮光層11bは、光を一部透過可能な半透過性遮光膜であるため、矢印L3で示す光の一部のみが球面状凹部10vの内面で反射し、他の一部は、矢印L4で示すように、遮光層11bを透過する。このため、戻り光が素子基板10の側から再び、出射される量が少ない。ここで、矢印L4で示すように、戻り光の一部は、遮光層11bを透過して周辺回路領域10dに到達するが、かかる戻り光が透光性基板10sの第2面10yから出射する際、球面状凹部10vの内面で反射して散乱するので、投射画像の外縁部分に周辺回路領域10dが写り込むことはない。   Moreover, since the light shielding layer 11b is a semi-transmissive light shielding film capable of partially transmitting light, only a part of the light indicated by the arrow L3 is reflected by the inner surface of the spherical recess 10v, and the other part is indicated by the arrow. As indicated by L4, the light passes through the light shielding layer 11b. For this reason, the amount of return light emitted again from the element substrate 10 side is small. Here, as indicated by the arrow L4, a part of the return light passes through the light shielding layer 11b and reaches the peripheral circuit region 10d, but the return light is emitted from the second surface 10y of the translucent substrate 10s. At this time, since the light is reflected and scattered by the inner surface of the spherical recess 10v, the peripheral circuit region 10d does not appear in the outer edge portion of the projection image.

さらに、複数の球面状凹部10vは下地保護膜12により内部が埋められ、光散乱用凹凸10t(球面状凹部10v)の形成領域が平坦面になっている。このため、透光性基板10sにおいて光散乱用凹凸10tが形成されている領域上に周辺回路を形成する場合でも、光散乱用凹凸10tに起因する段差のない領域に周辺回路を形成でき、段差によって周辺回路の信頼性などが低下することを確実に防止することができる。   Further, the inside of the plurality of spherical concave portions 10v is filled with the base protective film 12, and the formation region of the light scattering irregularities 10t (spherical concave portions 10v) is a flat surface. Therefore, even when the peripheral circuit is formed on the light-transmitting substrate 10s on the region where the light scattering unevenness 10t is formed, the peripheral circuit can be formed in a region without the step due to the light scattering unevenness 10t. Therefore, it is possible to reliably prevent the reliability of the peripheral circuit from being lowered.

[実施の形態1の変形例]
上記実施の形態1では、透光性基板10sの第1面10xに球面状凹部10vを形成したので、光散乱用凹凸10t(球面状凹部10v)は、透光性戻り光の入射側に球状突起を向けた構造になっていたが、図6(c)に示すように、透光性基板10sの第2面10yに球面状凹部10vを形成するとともに、球面状凹部10vの内面に遮光層11aを形成し、かつ、シリコン酸化膜12a(充填材料)により球面状凹部10vの内部を埋め込んだ構成を採用してもよい。この場合には、必要に応じて、透光性基板10sの第1面10xに別途、下地保護膜を形成すればよい。
[Modification of Embodiment 1]
In the first embodiment, since the spherical recess 10v is formed on the first surface 10x of the translucent substrate 10s, the light scattering irregularity 10t (spherical recess 10v) is spherical on the incident side of the translucent return light. As shown in FIG. 6C, a spherical concave portion 10v is formed on the second surface 10y of the translucent substrate 10s, and a light shielding layer is formed on the inner surface of the spherical concave portion 10v. A configuration in which 11a is formed and the inside of the spherical concave portion 10v is filled with the silicon oxide film 12a (filling material) may be employed. In this case, a base protective film may be separately formed on the first surface 10x of the translucent substrate 10s as necessary.

[実施の形態2]
図8(a)、(b)、(c)は、本発明の実施の形態2に係る電気光学装置100の素子基板10に形成した光散乱用凹凸の平面的な構成を模式的に示す平面図、その断面図、およびその変形例の断面図である。なお、本形態の基本的な構成は、実施の形態1と同様であるため、共通する部分には同一の符号を付してそれらの説明を省略する。
[Embodiment 2]
8A, 8B, and 8C are planes schematically showing a planar configuration of light scattering irregularities formed on the element substrate 10 of the electro-optical device 100 according to Embodiment 2 of the present invention. It is sectional drawing of the figure, its sectional drawing, and its modification. Since the basic configuration of this embodiment is the same as that of Embodiment 1, common portions are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

実施の形態1では、素子基板10に用いた透光性基板10sにおいて周辺回路領域10dに対して重なる領域に球面状凹部10vを利用して光散乱用凹凸10tを形成したが、本形態では、図8(a)、(b)に示すように、透光性基板10sにおいて周辺回路領域10dに対して重なる領域に断面円弧状の複数の溝状凹部10wが形成されており、かかる溝状凹部10wは、透光性基板10sの辺に沿って並列して延びている。   In the first embodiment, the light scattering unevenness 10t is formed using the spherical concave portion 10v in the region overlapping the peripheral circuit region 10d in the translucent substrate 10s used for the element substrate 10, but in this embodiment, As shown in FIGS. 8A and 8B, in the translucent substrate 10s, a plurality of groove-shaped recesses 10w having an arc-shaped cross section are formed in a region overlapping the peripheral circuit region 10d. 10w extends in parallel along the side of the translucent substrate 10s.

また、溝状凹部10wは、内面が遮光層11bで覆われており、かかる遮光層11bは、ポリシリコン膜、シリコン窒化膜、チタン窒化膜などからなり、光を一部透過可能な半透過性遮光膜である。本形態において、遮光層11bは、遮光層11aと同時形成された膜である。   The groove-shaped recess 10w has an inner surface covered with a light-shielding layer 11b, and the light-shielding layer 11b is made of a polysilicon film, a silicon nitride film, a titanium nitride film, or the like, and is semi-transmissive that can partially transmit light. It is a light shielding film. In this embodiment, the light shielding layer 11b is a film formed simultaneously with the light shielding layer 11a.

また、溝状凹部10wは、遮光層11bを覆うように形成されたシリコン酸化膜からなる下地保護膜12により内部が埋められている。ここで、下地保護膜12は、透光性基板10sの第1面10xの全面にわたって形成されており、かつ、その表面全体が平坦面になっている。従って、透光性基板10sでは、複数の光散乱用凹凸10t(溝状凹部10w)の形成領域が平坦面になっている。   The groove-shaped recess 10w is filled with a base protective film 12 made of a silicon oxide film formed so as to cover the light shielding layer 11b. Here, the base protective film 12 is formed over the entire surface of the first surface 10x of the translucent substrate 10s, and the entire surface thereof is a flat surface. Therefore, in the translucent substrate 10s, the formation region of the plurality of light scattering irregularities 10t (groove-shaped concave portions 10w) is a flat surface.

かかる構成の光散乱用凹凸10tの製造方法については、図7を参照して説明した方法で製造できるので、説明を省略するが、本形態でも、矢印L3で示す戻り光が、素子基板10の周辺回路領域10dに向けて入射した場合でも、投射画像の外縁部分に周辺回路領域10dが写り込むのを防止することができるなど、実施の形態1と同様な効果を奏する。   Since the manufacturing method of the light scattering unevenness 10t having such a configuration can be manufactured by the method described with reference to FIG. 7, the description thereof will be omitted. In this embodiment, the return light indicated by the arrow L3 is also transmitted to the element substrate 10. Even when the light is incident on the peripheral circuit region 10d, the same effects as those of the first embodiment can be obtained, such as preventing the peripheral circuit region 10d from being reflected in the outer edge portion of the projection image.

なお、本形態では、透光性基板10sの第1面10xに溝状凹部10wを形成したので、光散乱用凹凸10t(溝状凹部10w)は、透光性戻り光の入射側に突起を向けた構造になっていたが、図8(c)に示すように、透光性基板10sの第2面10yに溝状凹部10wを形成するとともに、溝状凹部10wの内面に遮光層11aを形成し、かつ、シリコン酸化膜12a(充填材料)により溝状凹部10wの内部を埋め込んだ構成を採用してもよい。   In this embodiment, since the groove-shaped recess 10w is formed on the first surface 10x of the light-transmitting substrate 10s, the light scattering unevenness 10t (the groove-shaped recess 10w) has a protrusion on the incident side of the light-transmitting return light. As shown in FIG. 8C, the groove-shaped recess 10w is formed on the second surface 10y of the translucent substrate 10s, and the light-shielding layer 11a is formed on the inner surface of the groove-shaped recess 10w. A structure in which the inside of the groove-shaped recess 10w is buried with the silicon oxide film 12a (filling material) may be employed.

[実施の形態3]
図9は、本発明の実施の形態3に係る電気光学装置100の素子基板10に形成した光散乱用凹凸の断面構成を模式的に示す説明図である。なお、本形態の基本的な構成は、実施の形態1と同様であるため、共通する部分には同一の符号を付してそれらの説明を省略する。
[Embodiment 3]
FIG. 9 is an explanatory diagram schematically showing a cross-sectional configuration of light scattering irregularities formed on the element substrate 10 of the electro-optical device 100 according to Embodiment 3 of the present invention. Since the basic configuration of this embodiment is the same as that of Embodiment 1, common portions are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

上記実施の形態1、2では、光散乱用凹凸10tを構成する球面状凹部10vや溝状凹部10wの内面を覆うように遮光層11bを形成したが、図9(d)に示すように、球面状凹部10vや溝状凹部10wの内面を覆うように、透光性基板10bと異なる屈折率の透光性材料12bを形成してもよい。かかる構成によれば、光散乱用凹凸10tでの屈折作用で戻り光を散乱させることができる。   In the first and second embodiments, the light shielding layer 11b is formed so as to cover the inner surfaces of the spherical concave portion 10v and the groove-shaped concave portion 10w constituting the light scattering irregularity 10t, but as shown in FIG. The translucent material 12b having a refractive index different from that of the translucent substrate 10b may be formed so as to cover the inner surfaces of the spherical recess 10v and the groove-shaped recess 10w. According to such a configuration, the return light can be scattered by the refraction action of the light scattering unevenness 10t.

ここで、透光性材料12bとしては、透光性基板10sと異なる屈折率であればよく、透光性基板10sが石英基板あるいはガラス基板であれば、屈性率が1.45程度であるので、透光性材料としては、チタン酸化物(屈折率=2.5)、シリコン窒化物(屈折率=2.0)、ポリシリコン(屈折率=3.5)を用いることができる。   Here, the translucent material 12b may have a refractive index different from that of the translucent substrate 10s. If the translucent substrate 10s is a quartz substrate or a glass substrate, the refractive index is about 1.45. Therefore, titanium oxide (refractive index = 2.5), silicon nitride (refractive index = 2.0), and polysilicon (refractive index = 3.5) can be used as the translucent material.

かかる構成を採用した場合にも、透光性材料12bによって球面状凹部10vや溝状凹部10wの内部を埋めれば、光散乱用凹凸10tの形成領域を平坦面とすることができる。このため、透光性基板10sにおいて光散乱用凹凸10tが形成されている領域上に周辺回路を形成する場合でも、光散乱用凹凸10tに起因する段差のない領域に周辺回路を形成でき、段差によって周辺回路の信頼性などが低下することを確実に防止することができる。   Even when such a configuration is adopted, if the inside of the spherical concave portion 10v and the groove-shaped concave portion 10w is filled with the translucent material 12b, the formation region of the light scattering unevenness 10t can be made flat. Therefore, even when the peripheral circuit is formed on the light-transmitting substrate 10s on the region where the light scattering unevenness 10t is formed, the peripheral circuit can be formed in a region without the step due to the light scattering unevenness 10t. Therefore, it is possible to reliably prevent the reliability of the peripheral circuit from being lowered.

なお、本形態でも、透光性材料12bの透過率によっては、透光性材料12bをそのまま下地保護膜として形成してもよく、その場合、透光性材料12bを透光性基板10sの全面に残せばよい。また、透光性材料12bの透過率が低い場合には、図9(d)に示すように、透光性材料12bを球面状凹部10vや溝状凹部10wの内部のみに形成すればよい。また、本形態でも、透光性基板10sの第1面および第2面のいずれに光散乱用凹凸10tを形成してもよく、いずれの場合も、光散乱用凹凸10tは正のパワーあるいは負のパワーを有するレンズとして機能するため、戻り光を散乱させることができる。   Also in this embodiment, depending on the transmittance of the light transmissive material 12b, the light transmissive material 12b may be formed as it is as a base protective film. In that case, the light transmissive material 12b is formed on the entire surface of the light transmissive substrate 10s. Just leave it in. Further, when the transmissivity of the translucent material 12b is low, the translucent material 12b may be formed only inside the spherical recess 10v and the groove recess 10w as shown in FIG. 9 (d). Also in this embodiment, the light scattering unevenness 10t may be formed on either the first surface or the second surface of the translucent substrate 10s, and in either case, the light scattering unevenness 10t has a positive power or a negative power. Therefore, the return light can be scattered.

かかる構成の素子基板10Wを製造するには、実施の形態1と同様、図9(a)に示すマスク形成工程において、石英基板やガラス基板からなる透光性基板10sに対してレジストマスク61を形成した後、図9(b)に凹部形成工程において、レジストマスク61の開孔部610を介して、透光性基板10sにウエットエッチングを行ない、球面状凹部10vあるいは溝状凹部10wを形成する。次に、レジストマスク61を除去した後、図9(c)に示すように、透光性基板10sに対して透光性材料層12cを形成し、しかる後に、透光性材料層12cを表面側から研磨して、図9(d)に示すように、透光性材料12b(透光性材料層12c)を球面状凹部10vや溝状凹部10wの内部のみに残せばよい。   In order to manufacture the element substrate 10W having such a configuration, the resist mask 61 is formed on the translucent substrate 10s made of a quartz substrate or a glass substrate in the mask formation step shown in FIG. 9B, in the recess forming step in FIG. 9B, wet etching is performed on the translucent substrate 10s through the opening 610 of the resist mask 61 to form the spherical recess 10v or the groove-like recess 10w. . Next, after removing the resist mask 61, as shown in FIG. 9C, a translucent material layer 12c is formed on the translucent substrate 10s, and then the translucent material layer 12c is formed on the surface. By polishing from the side, as shown in FIG. 9D, the translucent material 12b (the translucent material layer 12c) may be left only in the spherical concave portion 10v and the groove-shaped concave portion 10w.

[他の実施の形態]
図1には、ライトバルブを3枚用いた投射型表示装置を例示したが、電気光学装置100がカラーフィルタを内蔵している場合、図10に示す投射型表示装置において、本発明を適用した1枚の電気光学装置100をライトバルブとして用いて、カラー画像をスクリーン211に投射表示するように構成してもよい。すなわち、図10に示す投射型表示装置210は、白色光源212、インテグレータ221および偏光変換素子222を備えた光源部240と、電気光学装置100と、投射光学系218とを備えている。また、電気光学装置100では、カラーフィルタ内蔵の液晶パネル100xの両側に第1偏光板216aおよび第2偏光板216bが配置されている。
[Other embodiments]
FIG. 1 illustrates a projection display device using three light valves. However, when the electro-optical device 100 includes a color filter, the present invention is applied to the projection display device shown in FIG. One electro-optical device 100 may be used as a light valve, and a color image may be projected and displayed on the screen 211. 10 includes a light source unit 240 including a white light source 212, an integrator 221, and a polarization conversion element 222, the electro-optical device 100, and a projection optical system 218. In the electro-optical device 100, the first polarizing plate 216a and the second polarizing plate 216b are arranged on both sides of the liquid crystal panel 100x with a built-in color filter.

さらに、上記形態では、電気光学装置として液晶装置を例に説明したが、自発光素子から出射された変調光によって投射型表示装置を構成する場合にも、戻り光対策として本発明を適用してもよい。   Furthermore, although the liquid crystal device has been described as an example of the electro-optical device in the above embodiment, the present invention is applied as a countermeasure against the return light even when the projection display device is configured by the modulated light emitted from the self-light emitting element. Also good.

本発明を適用した投射型表示装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the projection type display apparatus to which this invention is applied. 図1に示した投射型表示装置において液晶ライトバルブに用いた液晶パネルの電気的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electrical constitution of the liquid crystal panel used for the liquid crystal light valve in the projection type display apparatus shown in FIG. (a)、(b)、(c)は各々、本発明を適用した電気光学装置の液晶パネルを各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図、そのH−H′断面図、およびI−I′断面図である。(A), (b), and (c) are plan views of the liquid crystal panel of the electro-optical device to which the present invention is applied as viewed from the side of the counter substrate together with the respective components, its HH ′ sectional view, and I It is -I 'sectional drawing. (a)、(b)は各々、本発明を適用した電気光学装置に用いた素子基板において相隣接する画素の平面図、およびそのA−A′線に相当する位置で電気光学装置を切断したときの断面図である。FIGS. 4A and 4B are plan views of adjacent pixels on the element substrate used in the electro-optical device to which the present invention is applied, and the electro-optical device cut at a position corresponding to the line AA ′. FIG. (a)、(b)は各々、本発明を適用した電気光学装置に用いた素子基板に形成した相補型電界効果型トランジスタの平面図、およびそのB−B′線に相当する位置で素子基板を切断したときの断面図である。(A), (b) is a plan view of a complementary field effect transistor formed on an element substrate used in an electro-optical device to which the present invention is applied, and an element substrate at a position corresponding to the BB ′ line. It is sectional drawing when cutting. (a)、(b)、(c)は、本発明の実施の形態1に係る電気光学装置の素子基板に形成した光散乱用凹凸の平面的な構成を模式的に示す平面図、その断面図、およびその変形例の断面図である。(A), (b), (c) is the top view which shows typically the planar structure of the unevenness | corrugation for light scattering formed in the element substrate of the electro-optical apparatus based on Embodiment 1 of this invention, The cross section It is sectional drawing of a figure and its modification. 本発明を適用した電気光学装置の製造工程のうち、素子基板に光散乱用凹凸を形成する工程を示す工程断面図である。It is process sectional drawing which shows the process of forming the unevenness | corrugation for light scattering in an element substrate among the manufacturing processes of the electro-optical apparatus to which this invention is applied. (a)、(b)、(c)は、本発明の実施の形態2に係る電気光学装置の素子基板に形成した光散乱用凹凸の平面的な構成を模式的に示す平面図、その断面図、およびその変形例の断面図である。(A), (b), (c) is the top view which shows typically the planar structure of the unevenness | corrugation for light scattering formed in the element substrate of the electro-optical apparatus based on Embodiment 2 of this invention, The cross section It is sectional drawing of a figure and its modification. 本発明の実施の形態3に係る電気光学装置の素子基板に形成した光散乱用凹凸の断面構成を模式的に示す説明図である。FIG. 10 is an explanatory diagram schematically showing a cross-sectional configuration of light scattering irregularities formed on an element substrate of an electro-optical device according to Embodiment 3 of the present invention. 本発明を適用した別の投射型表示装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of another projection type display apparatus to which this invention is applied. 従来の電気光学装置および投射型表示装置の問題点を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the problem of the conventional electro-optical apparatus and a projection type display apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

10・・素子基板、10a・・画像表示領域、10b・・画素領域、10d・・周辺回路領域、10t・・光散乱用凹凸、10v・・球面状凹部、10w・・溝状凹部、10x・・透光性基板の第1面、10y・・透光性基板の第2面、20・・対向基板、100・・電気手光学装置(液晶装置/液晶ライトバルブ)、100p・・液晶パネル、110、210・・投射型表示装置 10 .. Element substrate, 10a .. Image display area, 10b .. Pixel area, 10d .. Peripheral circuit area, 10t .. Light scattering unevenness, 10v .. Spherical recess, 10w .. Groove recess, 10x.・ First surface of translucent substrate, 10y ・ ・ Second surface of translucent substrate, 20 ・ ・ Counter substrate, 100 ・ ・ Electro-optical device (liquid crystal device / liquid crystal light valve), 100p ・ ・ Liquid crystal panel, 110, 210 .. projection type display device

Claims (10)

透光性基板の第1面側に、画素電極および画素トランジスタを備えた画素が複数形成された画素領域と、該画素領域の外側に、配線および駆動回路用トランジスタが複数形成された周辺回路とを有する素子基板を備え、前記透光性基板前記第1面とは反対側の第2面側から変調した光を出射する電気光学装置において、
前記透光性基板前記周辺回路と重なる領域には、前記透光性基板の前記第2面側から入射した光を散乱させる複数の光散乱用凹凸が形成されており、
前記複数の光散乱用凹凸を構成する凹部は、内面が遮光層で覆われていることを特徴とする電気光学装置。
A pixel region in which a plurality of pixels each including a pixel electrode and a pixel transistor are formed on the first surface side of the translucent substrate; and a peripheral circuit in which a plurality of wiring and driving circuit transistors are formed outside the pixel region; in the electro-optical device for emitting light modulated from the second surface side opposite to the comprises a device substrate, the first surface of the light transmissive substrate having,
Wherein the area overlapping with the peripheral circuit of the light-transmissive substrate, said has a plurality of light scattering irregularities for scattering light incident from the second surface side of the translucent substrate is formed,
An electro-optical device , wherein an inner surface of the concave portion constituting the plurality of light scattering irregularities is covered with a light shielding layer .
前記複数の凹部は、前記遮光層を覆うように形成された充填材料により内部が埋められ、
当該充填材料によって、前記透光性基板前記複数の凹部の形成領域は平坦化されていることを特徴とする請求項に記載の電気光学装置。
The plurality of recesses are filled with a filling material formed so as to cover the light shielding layer,
2. The electro-optical device according to claim 1 , wherein a region where the plurality of concave portions of the translucent substrate is formed is flattened by the filling material.
前記遮光層は、光を一部透過可能な半透過性遮光膜であることを特徴とする請求項に記載の電気光学装置。 The electro-optical device according to claim 2 , wherein the light-shielding layer is a semi-transmissive light-shielding film capable of partially transmitting light. 透光性基板の第1面側に、画素電極および画素トランジスタを備えた画素が複数形成された画素領域と、該画素領域の外側に、配線および駆動回路用トランジスタが複数形成された周辺回路とを有する素子基板を備え、前記透光性基板の前記第1面とは反対側の第2面側から変調した光を出射する電気光学装置において、
前記透光性基板の前記周辺回路と重なる領域には、前記透光性基板の前記第2面側から入射した光を散乱させる複数の光散乱用凹凸が形成されており、
前記複数の光散乱用凹凸を構成する複数の凹部の内面は、前記透光性基板と異なる屈折率を有する透光性材料で覆われていることを特徴とする電気光学装置。
A pixel region in which a plurality of pixels each including a pixel electrode and a pixel transistor are formed on the first surface side of the translucent substrate; and a peripheral circuit in which a plurality of wiring and driving circuit transistors are formed outside the pixel region; In an electro-optical device that emits modulated light from a second surface side opposite to the first surface of the translucent substrate,
A plurality of light scattering irregularities that scatter light incident from the second surface side of the translucent substrate is formed in a region overlapping the peripheral circuit of the translucent substrate,
An electro-optical device, wherein inner surfaces of a plurality of recesses constituting the plurality of light scattering irregularities are covered with a light-transmitting material having a refractive index different from that of the light-transmitting substrate.
前記凹部は、内部が前記透光性材料により埋められ、
当該透光性材料によって、前記透光性基板前記複数の凹部の形成領域は平坦化されていることを特徴とする請求項に記載の電気光学装置。
The recess is filled with the translucent material inside,
By the translucent material, an electro-optical device according to claim 4, characterized in that the formation region of the plurality of recesses of the translucent substrate is planarized.
透光性基板の第1面側に、画素電極および画素トランジスタを備えた画素が複数形成された画素領域と、該画素領域の外側に、配線および駆動回路用トランジスタが複数形成された周辺回路とを有する素子基板を備え、前記透光性基板の前記第1面とは反対側の第2面側から変調した光を出射する電気光学装置において、
前記透光性基板の前記周辺回路と重なる領域には、前記透光性基板の前記第2面側から入射した光を散乱させる複数の光散乱用凹凸が形成されており、
前記複数の光散乱用凹凸は、前記透光性基板球面状に凹む複数の凹部により構成されていることを特徴とする電気光学装置。
A pixel region in which a plurality of pixels each including a pixel electrode and a pixel transistor are formed on the first surface side of the translucent substrate; and a peripheral circuit in which a plurality of wiring and driving circuit transistors are formed outside the pixel region; In an electro-optical device that emits modulated light from a second surface side opposite to the first surface of the translucent substrate,
A plurality of light scattering irregularities that scatter light incident from the second surface side of the translucent substrate is formed in a region overlapping the peripheral circuit of the translucent substrate,
It said plurality of light scattering irregularities to an electro-optical apparatus characterized by being composed of a plurality of recesses recessed in spherical the transmissive substrate.
透光性基板の第1面側に、画素電極および画素トランジスタを備えた画素が複数形成された画素領域と、該画素領域の外側に、配線および駆動回路用トランジスタが複数形成された周辺回路とを有する素子基板を備え、前記透光性基板の前記第1面とは反対側の第2面側から変調した光を出射する電気光学装置において、
前記透光性基板の前記周辺回路と重なる領域には、前記透光性基板の前記第2面側から入射した光を散乱させる複数の光散乱用凹凸が形成されており、
前記複数の光散乱用凹凸は、前記透光性基板断面円弧状の複数の溝状凹部により構成されていることを特徴とする電気光学装置。
A pixel region in which a plurality of pixels each including a pixel electrode and a pixel transistor are formed on the first surface side of the translucent substrate; and a peripheral circuit in which a plurality of wiring and driving circuit transistors are formed outside the pixel region; In an electro-optical device that emits modulated light from a second surface side opposite to the first surface of the translucent substrate,
A plurality of light scattering irregularities that scatter light incident from the second surface side of the translucent substrate is formed in a region overlapping the peripheral circuit of the translucent substrate,
Said plurality of light scattering irregularities, electro-optical device characterized in that it is constituted by an arc-shaped cross section of the plurality of recessed grooves of the translucent substrate.
前記素子基板に対して対向配置された対向基板を備え、
当該対向基板と前記素子基板との間に液晶層が保持されていることを特徴とする請求項1乃至の何れか一項に記載の電気光学装置。
A counter substrate disposed opposite to the element substrate;
The electro-optical device according to any one of claims 1 to 7, characterized in that the liquid crystal layer is held between the counter substrate and the element substrate.
透光性基板の第1面側に、画素電極および画素トランジスタを備えた画素が複数形成された画素領域と、該画素領域の外側に、配線および駆動回路用トランジスタが複数形成された周辺回路とを有する素子基板を備え、前記透光性基板において前記第1面とは反対側の第2面側から変調した光を出射する電気光学装置の製造方法において、
前記透光性基板前記周辺回路と重なる領域に、前記透光性基板の前記第2面側から入射した光を散乱させる複数の光散乱用凹凸を形成するにあたって、
前記透光性基板に対して、前記複数の光散乱用凹凸の凹部とすべき領域に開孔部を備えたマスクを形成するマスク形成工程と、
前記開孔部から前記透光性基板にウエットエッチングを行なう凹部形成工程と、を行なうことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A pixel region in which a plurality of pixels each including a pixel electrode and a pixel transistor are formed on the first surface side of the translucent substrate; and a peripheral circuit in which a plurality of wiring and driving circuit transistors are formed outside the pixel region; In the method of manufacturing an electro-optical device that emits light modulated from the second surface side opposite to the first surface in the translucent substrate,
In a region which overlaps with the peripheral circuit of the light-transmitting substrate, in forming a plurality of light scattering irregularities for scattering light incident from the second surface side of the transparent substrate,
A mask forming step of forming a mask having an aperture in a region to be the concave portions of the plurality of light scattering irregularities with respect to the light-transmitting substrate;
And a recess forming step of performing wet etching on the light-transmitting substrate from the opening.
請求項1乃至の何れか一項に記載の電気光学装置を用いた投射型表示装置であって、
前記電気光学装置により光変調した光を投射する投射光学系を備えていることを特徴とする投射型表示装置。
A projection display device using the electro-optical device according to any one of claims 1 to 8 ,
A projection display device comprising a projection optical system that projects light modulated by the electro-optical device.
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