JP4872783B2 - 画像読取装置 - Google Patents

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Description

本発明は、画像読取装置に関する。
画像読取装置において、読取対象の原稿を搬送する場合に、原稿がたわむ場合がある。このようなたわみ(或いは凹凸)が生じると、CCD(Charge Coupled Device)等のイメージセンサと原稿表面との距離が原稿の部分ごとに異なってくるため、原稿表面全体にわたって濃度が均一であっても、イメージセンサの出力信号の大きさは原稿の部分ごとに異なってくる。このように原稿にたわみが生じると、イメージセンサの出力信号が原稿表面の画像濃度に応じた本来の値からずれてしまう。
従来、このような搬送時の原稿のたわみの対策としては、原稿を案内する案内面を設けることでたわみを機械的に低減することが行われていた。しかし、このような機械的な対策では、原稿の微小なたわみを十分に抑制することができないなど、十分でない場合があった。
特許文献1には、複数の単位走査手段を備えた画像読取装置が開示される。各単位走査手段は幅方向に分割された所定の小領域だけを読取可能なように構成され、各々光源と光学手段と受光手段とを含む。各々の単位走査手段毎に焦点合わせが行えるので、原稿が部分的に浮き上がっていても、部分ごとに焦点を合わせることができる。
特開2004−165787号公報
本発明は、画像読取装置の受光装置が出力する信号に対する原稿のたわみの影響を補正する装置を提供することを目的とする。
請求項1に係る発明は、原稿を搬送する原稿搬送手段と、前記原稿から反射する反射光を受光する第1の受光装置と、前記第1の受光装置に対して前記原稿搬送手段の搬送方向について所定の間隔を開けて設けられた第2の受光装置と、前記第1の受光装置が読み取る読取位置を、前記搬送方向について一方の側からの照明強度と他方の側からの照明強度との比が第1の比となるように照明する第1の照明手段と、前記第2の受光装置が読み取る読取位置を、前記搬送方向について一方の側からの照明強度と他方の側からの照明強度との比が前記第1の比とは異なる比となるように照明する第2の照明手段と、前記第1の受光装置が出力する第1の信号と前記第2の受光装置が出力する第2の信号の読み取り位置のずれを補正するために、前記第1の信号と前記第2の一方の信号を遅延させる遅延手段と、前記遅延手段により遅延された前記第1の信号と前記第2の信号との出力信号の差に基づき補正信号を生成する補正信号生成手段と、前記補正信号生成手段が生成した補正信号により前記第1の信号又は前記第2の信号のうちの少なくとも一方を補正する補正手段と、を備える画像読取装置である。
請求項2に係る発明は、請求項1に係る発明において、一走査ごとに、当該走査における前記第1の信号の平均値と前記第2の信号の平均値との差を生成する差信号生成手段、を更に備え、前記補正信号生成手段は、前記差信号生成手段が生成した差の値が閾値以上になった時点から前記閾値以下になる時点までの期間の長さと、その期間における前記差の大きさの最大値と、に基づき前記補正信号を生成する、ことを特徴とする。
請求項3に係る発明は、請求項2に係る発明において、前記差信号生成手段が生成した差信号の値が前記閾値以上になった時点から前記閾値以下になる時点までの期間の長さと、その期間における前記差信号の大きさの最大値と、の組合せごとに、その組合せに対応する補正信号の情報を記憶した記憶手段、を更に備え、前記補正信号生成手段は、前記差信号生成手段が生成した差信号の値が前記閾値以上になった時点から前記閾値以下になる時点までの期間の長さと、その期間における前記差信号の大きさの最大値と、の組合せに対応する補正信号の情報を前記記憶手段から読み出し、読み出した情報を用いて前記補正信号を生成する、ことを特徴とする。
請求項4に係る発明は、請求項1に係る発明において、一走査ごとに、当該走査における前記第1の信号の平均値と前記第2の信号の平均値との差を生成する差信号生成手段、を更に備え、前記補正信号生成手段は、前記差信号生成手段が生成した差が所定の第1の走査線数連続して閾値以上になった時点から所定の第2の走査線数連続して前記閾値以下になる時点までの期間の長さと、その期間における前記差の大きさの最大値と、に基づき前記補正信号を生成する、ことを特徴とする。
請求項5に係る発明は、請求項1に係る発明において、前記第1の照明手段は前記搬送方向に関して前記第1の受光装置と前記第2の受光装置との間の位置に設けられた光源を備え、前記光源は、前記第2の照明手段による照明のための光源として兼用される、ことを特徴とする。
請求項6に係る発明は、原稿を搬送する原稿搬送手段と、前記原稿から反射する反射光を受光する第1の受光装置と、前記第1の受光装置に対して前記原稿搬送手段の搬送方向について所定の間隔を開けて設けられた第2の受光装置と、前記第1の受光装置が読み取る読取位置を、前記搬送方向について両側から、照明する第1の照明手段と、前記第2の受光装置が読み取る読取位置を、前記搬送方向について一方の側から照明する第2の照明手段と、前記第1の受光装置が出力する第1の信号と前記第2の受光装置が出力する第2の信号の読み取り位置のずれを補正するために、前記第1の信号と前記第2の一方の信号を遅延させる遅延手段と、前記遅延手段により遅延された前記第1の信号と前記第2の信号との出力信号の差に基づき補正信号を生成する補正信号生成手段と、前記補正信号生成手段が生成した補正信号により前記第1の信号又は前記第2の信号のうちの少なくとも一方を補正する補正手段と、を備える。
請求項1又は6に係る発明によれば、画像読取装置の受光装置が出力する信号に対する原稿のたわみの影響を補正することができる。
請求項2又は4に係る発明によれば、画像読取装置の受光装置が出力する信号に対する原稿のたわみの影響を補正することができる。
請求項3に係る発明によれば、大きさや周期の異なる様々なたわみに対応することができる。
請求項5に係る発明によれば、照明のための光源の数を少なくすることができる。
原稿表面上の画像を読み取るための画像読取装置の例として、単体のスキャナ装置や、複写機に付属した装置などが知られている。図1に、一例として、複写機の上部に設けられる画像読取装置10を模式的に示す。この例の画像読取装置10は、自動原稿送り機能を備えた装置であり、原稿台12に置かれた原稿は、搬送機構14により読取部16まで搬送される。読取部16には、センサユニット20が設けられており、このセンサユニット20により原稿の上面を読み取る。センサユニット20は密着型のセンサである。読み取られた原稿は、原稿排出台18に排出される。
読取部16の詳細構成の例を図2に示す。例示したセンサユニット20は、ガラスフィルタ22と、図2の紙面に垂直な方向に延びるラインセンサ24と、ガラスフィルタ22を通過した原稿表面からの反射光をラインセンサ24の受光面上に結像させる屈折率分布型レンズなどの結像光学系26とを内蔵している。図示は省略するが、センサユニット20は、原稿表面を照明するための光源を内蔵している。搬送機構14により搬送されてきた原稿40は、原稿ガイド部30により読取部16内へと案内される。読取部16内には、原稿の下面を読み取るためのコンタクトガラス32が設けられ、その下流に上述のセンサユニット20が設けられる。センサユニット20の焦点位置34にある原稿表面からの反射光が結像光学系26によりラインセンサ24上に結像される。図2に示したセンサユニット20は、従来から用いられている密着型のセンサユニットである。
次に、図3を参照して、本実施形態において用いられるセンサユニット100の構成を説明する。図3は、センサユニット100の特徴部分を模式的に示したものであり、細部については省略している。
このセンサユニット100は、例えば図1及び図2に示した画像読取装置においてセンサユニット20の代わりに用いられるものである。このセンサユニット100は、原稿の搬送方向について間隔を開けて設けられた2つのラインセンサ110A,110Bを備える。各ラインセンサ110A,110Bは、それぞれ、図3の紙面に垂直な方向に配列された受光素子群を備える。すなわち、ラインセンサ110A,110Bにおける受光素子の配列方向は原稿搬送方向に対して垂直である。読取時には、ラインセンサ110A,110Bは、それぞれ配列の一方端から他方端へと順に各受光素子の出力信号を出力していく。これが読取における主走査である。一方、原稿の搬送方向は、読取における副走査方向である。
センサユニット100は、ラインセンサ110Aのための結像光学系112Aと、ラインセンサ110Bのための結像光学系112Bとを備える。これら結像光学系112A,112Bは、例えば屈折率分布型レンズを備え、原稿表面上の焦点位置120A,120Bからの反射光を、ラインセンサ110A,110Bにそれぞれ結像させる。
また、センサユニット100は、2つの光源114A及び114Bを備える。一方の光源114Bは、原稿搬送方向に関して、ラインセンサ110Aと110Bとの間に位置する。もう一方の光源114Aは、原稿搬送方向に関してラインセンサ110Aの下流に位置する。原稿の表面とセンサユニット100とはほぼ密着するので、光源114Aから発した光は、ラインセンサ110Bの焦点位置120Bには届かない。したがって、焦点位置120Bは1つの光源114Bにより(原稿搬送方向に関して)片側から照明される。これに対し、焦点位置120Aは、2つの光源114A及び114Bにより両側から照明される。ここでは、説明を分かりやすくするため、光源114Aと114Bの発光強度は等しいとする。
次に、図4及び図5を参照して、たわみ(或いは凹凸)のない平坦な原稿表面を読み取ったときの各ラインセンサ110A,110Bの出力信号の、副走査方向についての変化を説明する。以下では、説明を簡単にするため、ラインセンサ110A、110Bは、白黒(グレースケール)用のセンサであるとする。ただし、原理的にはカラーセンサの場合にも同様の取り扱いができる。
図4は、図中で右方向から左方向へと搬送される原稿をセンサユニット100で読み取る状況を側面方向から見た状態を模式的に示す。図4に示すように、搬送されてきた原稿40表面上のある平坦部分42は、時刻T1 (状態I−1)においてラインセンサ110Bにより読み取られる。その後、時間ΔT経過後(状態I−2)には、同じ平坦部分42はラインセンサ110Aにより読み取られる。ΔTは、焦点位置120Bから120A(図3参照)までの距離を原稿が搬送されるのに要する時間の長さである。
ラインセンサ110Aの焦点位置は光源114Aと114Bにより両側から照明されるのに対し、ラインセンサ110Bの焦点位置を照明するのは光源114B1つだけなので、原稿の同じ場所を読み取ったときの出力信号のレベル(大きさ)は、ラインセンサ110Aの方が大きくなる。しかし、ラインセンサ110A及び110Bの出力信号を増幅する各増幅器の利得を調整し、シェーディング補正することで、原稿の同じ場所を読み取ったときのラインセンサ110A及び110Bの出力信号のレベルが等しくなるようにすることができる。以下、ラインセンサ110A及び110Bの出力信号といった場合、特に断りがない場合は、そのようにレベル調整された後の信号を示すものとする。
このようにレベル調整を行った画像読取装置に例えば全面にわたって単色の原稿を読み取らせた場合、ラインセンサ110Aの出力信号と、ラインセンサ110Bの出力信号は、図5に示すように副走査の開始ラインから終了ラインまで同じ値となる。原稿表面に濃淡がある場合の、原稿表面が平坦であれば、ラインセンサ110Aと110Bの出力信号は等しい値となり、その値は原稿表面の濃淡(即ち画像)を表したものとなる。
なお、以上及び以下の説明において、「ラインセンサの出力信号」といった場合、それはラインセンサ上の1つの受光素子又は1グループの受光素子の出力する信号を指すものとする。また、ラインセンサ110Aの出力信号とラインセンサ110Bの出力信号とを比較する場合、それら両ラインセンサ110Aと110Bの間で、原稿の同じ場所を読み取る(言い換えれば主走査方向について同じ位置にある)1つ又は1グループの受光素子の出力信号同士を比較する。
次に、原稿のたわみ部分をラインセンサ110A及び110Bで読み取るときの照明状態を、図6〜図8を参照して説明する。図6〜図8の例では、原稿40は右方向から左方向へと搬送されるため、右側のラインセンサ110B上のある受光素子で読み取られた原稿40のある部分が、ΔT秒後にラインセンサ110A上の対応位置の受光素子により読み取られる。
図6は、たわみ部分の先端部44が読み取られるときの照明状態を説明するための図である。たわみ部分の先端部44は、たわみ部分の両端部のうち、原稿40の搬送の過程で先に読み取られる側のことである。
まず、先端部44は、時刻T2 (状態II−1)においてラインセンサ110Bにより読み取られる位置に達する。このとき、光源114Bによる照明光の先端部42表面での正反射成分は、図6に示すように結像光学系112Bからかなり離れた方向を向く。原稿表面での反射は正反射のみではないが、強度分布は正反射方向が最も強く、その方向から離れるほど弱くなる。したがって、状態II−1におけるラインセンサ110Bの出力信号のレベルは、原稿が平坦な場合に同じ場所を読み取ったときの信号レベルよりもかなり低くなる。
一方、その後、時間ΔT経過後(状態II−2)には、先端部44はラインセンサ110Aの読取位置に達する。このとき、光源114Aの照明光の先端部44の表面での正反射成分は、結像光学系112Aから離れた方向を向いてしまうが、もう一方の光源114Bの照明光の正反射成分は、平坦な部分を読み取る場合よりも結像光学系112Aに近い方向を向く。したがって、状態II−2におけるラインセンサ110Aの出力信号のレベルは、平坦な場合の信号レベルよりも低くなりはするが、レベルの下がり方は、状態II−1におけるラインセンサ110Bの出力信号の場合よりも小さい。
図7は、時間が進んで、たわみ部分の中央部46が読み取られるときの照明状態を示す。中央部46はたわみ部分の底部なので、ラインセンサ110Bで読み取られる状態III−1でも、ラインセンサ110Aでも読み取られる状態III−2でも、照明光の正反射成分の方向は図4に示した平坦な部分での正反射成分の方向と同じになる。したがって、中央部46を読み取ったときのラインセンサ110Aと110Bの出力信号のレベルは等しくなる。
図8は、更に時間が進んで、たわみ部分の後端部48が読み取られるときの照明状態を示す。ラインセンサ110Bで読み取られるとき(状態IV−1)の後端部48での光源114Bの光の正反射成分は、先端部44の場合とは逆に、平坦部分の場合よりも結像光学系112Bに近い方向を向く。したがって、ラインセンサ110Bの出力信号レベルは、先端部44を読み取ったときのレベルよりも高くなる。一方、ラインセンサ110Aで読み取られるとき(状態IV−2)の後端部48での光源114A及び114Bの光の正反射成分の方向は、図6の段階で先端部44を読み取ったときとは対称な方向となる。
以上に説明したように、ラインセンサ110Aは、等しい発光強度の光源114A及び114Bにより両側から対称に照明される位置を読み取る。したがって、たわみ部分の先端から中央を経て後端まで読み取る間のラインセンサ110Aの出力信号の時間波形は、たわみの中央部46を読み取った時点の前と後ろとで対称な波形となる(たわみの形状が中央部46に関して対称であると仮定)。これに対し、ラインセンサ110Bの出力信号のレベルは、たわみ部分の先端部44ではラインセンサ110Aの出力信号レベルよりも小さくなり、後端部48ではラインセンサ110Aの出力信号レベルよりも大きくなる。
したがって、原稿にたわみ部分が1つ存在する場合の各ラインセンサ110A及び110Bの出力信号のレベル(濃度値)の副走査方向に沿った変化は、概略的には図9に示すようになる。すなわち、原稿の平坦部を読み取っている間(状態I)は、ラインセンサ110A(図中ではセンサAと略称)とラインセンサ110Bの出力信号は等しい値となり、原稿表面上の画像を表す本来の値となる。そして、たわみ部分を読み取り始めてから中央部46を読み取るまでの間(状態II)では、ラインセンサ110Bの方がラインセンサ110Aよりも出力信号が小さくなる。その後、たわみ部分の中央部46を読み取ったとき(状態III)に両センサ110A及び110Bの出力信号は等しくなる。更にその後、たわみ部分が終わって平坦部に達するまでの間(状態IV)では、ラインセンサ110Bの方がラインセンサ110Aよりも出力信号が大きくなる。そして、更にその後再び平坦部を読み取ることになると(状態I)、両センサ110A、110Bの出力レベルは再び等しくなる。
以上は、1枚の原稿にたわみが1つある場合の例である。1枚の原稿にたわみが複数存在する場合は、図9に例示したのと同様の信号のパターンがたわみの数だけ繰り返される。
本実施形態では、一例としてラインセンサ110Aの出力信号を、2つのラインセンサ110A及び110Bの出力の以上のような関係を利用して補正することで、たわみの影響が補正された画像信号を生成する。ラインセンサ110Aの焦点位置120Aは、結像光学系112Aを挟んで両側から照明されるので、片側から照明される場合よりも影ができにくい。このため、ラインセンサ110Aの出力する信号は、影の影響の少ない画像信号となる。本実施形態では、この画像信号に含まれるたわみの影響による成分を補正するのである。
図10に示すように、ラインセンサ110Aの出力信号200は、たわみ部分では、本来の画像信号のデータ値210に対してV字形となるよう低下している。本実施形態では、このV字形のレベル低下を補正する逆V字形の補正信号パターン220により補正する。この補正信号パターン220は、例えば、ラインセンサ110Aの出力信号の1主走査ラインごとの平均値(以下「信号A」と呼ぶ)とラインセンサ110Bの出力信号の1主走査ラインごとの平均値(以下「信号B」と呼ぶ)との差である差信号230(図示例では前者から後者を引いた差であるが、その逆でもよい)に基づき生成する。以下、主走査ライン(すなわち主走査方向の読取走査ライン)のことを、単にラインと呼ぶ。この差信号230は、原稿表面の同一のラインを読み取ったときに出力信号同士の差である。原稿40の平坦な部分を読み取っている期間(状態I)では、信号A及びBのレベルは等しいので、差信号230のレベルは実質的に0である。たわみの先端を読み取り始めてからたわみの中央部46を読み取るまでの期間(状態II)では、信号Aの方が信号Bよりも大きいので、差信号230のレベルは正である。たわみの中央部46を読み取った時点(状態III)では、信号AとBは同レベルとなるので、差信号230のレベルは0となる。そして、たわみの中央部46を読み取ってからたわみの後端を読み取るまでの期間(状態IV)では、信号Aの方が信号Bより小さいので、差信号230のレベルは負となる。そして、たわみの後端を過ぎて再び平坦部を読み取るようになると、差信号230のレベルは再び0となる(状態I)。
ここで、原稿に生じるたわみは様々であるが、たわみの幅と、たわみ頂点の平坦部に対する高さとの組合せで表すことができる。そして、補正信号パターン220のV字形の幅及び最大高さは、信号AのV字波形の幅や最大深さにそれぞれ等しく、たわみの幅及び頂点の高さに対応している。一方、差信号230の1周期(すなわち状態IIの開始から状態IVの終了までの期間)は、センサユニット100がたわみ部分を読み取っている期間の長さに等しく、補正信号パターン220のV字型の時間幅に等しい。また、差信号230の最大振幅は、補正信号パターン220の最大値222が大きくなるほど大きくなる。このようなことから、差信号230の周期と振幅とが分かれば、その組合せに対応する補正信号パターン220も決まってくることが分かる。本実施形態では、一例として、幅や高さが異なる様々なたわみに対応する補正信号パターンと、それら各補正信号パターンに対応する差信号230の周期と最大振幅の組とをあらかじめ実験又はシミュレーションなどにより求めておき、この情報を用いて、ラインセンサ110Aの出力信号の補正を行う。
次に、図11を参照して本実施形態の画像読取装置の信号処理系の一例を説明する。この処理系におけるラインセンサ110A及び110Bは、図3等に例示したセンサユニット100の各ラインセンサである。
この処理系では、ラインセンサ110A及び110Bの出力信号は、アナログ信号処理回路系130A及び130Bでそれぞれ増幅や波形整形などの公知のアナログ信号処理を施された後、A/D変換器140A及び140Bでそれぞれデジタル信号に変換される。シェーディング補正回路150A及び150Bは、A/D変換器140A及び140Bがそれぞれ出力したデジタル信号に対して公知のシェーディング補正処理を施す。シェーディング補正回路150Bの出力信号は、遅延回路160により所定時間ΔTだけ遅延されることにより、シェーディング補正回路150Aの出力信号と同じラインの信号となる。シェーディング補正回路150Aからの出力及び遅延回路160からの出力は、それぞれプロセッサ300に入力される。
プロセッサ300は、デジタル演算を行う装置であり、不揮発性記憶装置310に記憶された補正処理プログラム312を実行することで、前述の補正処理を実行する。補正処理プログラム312による具体的な処理手順の例は、後で説明する。
不揮発性記憶装置310は、例えばROM(リード・オンリ・メモリ)、フラッシュメモリ、ハードディスクなどである。不揮発性記憶装置310には、補正処理プログラム312の他に、補正テーブル314が記憶される。補正テーブル314は、補正信号パターンの情報を保持するテーブルである。補正テーブル314には、図12に示すように、周期及び振幅の組合せごとに、補正信号パターンの情報が保持される。図12において、a,b,・・・はそれぞれ、30〜40ミリ秒、40〜50ミリ秒などといった、周期についての範囲である。またα,β,・・・はそれぞれ振幅についての範囲である。なお、たわみによる信号Aの変化のパターンがたわみの前半部と後半部とで対称であるため、前半部の情報から補正信号パターンが特定できる。そこで、ここでは、「周期」として、図10に例示したような差信号230が閾値1(TH1)を越えてから再び閾値1(TH1)を下回るまでの期間(図中に「周期n」と示す。ここで、閾値1(TH1)は、実験などに基づき求めた値であり、あらかじめ不揮発性記憶装置310等に記憶されている。閾値1(TH1)は、0又は0に近い正の値である。また、nは、たわみ前半部のライン数)を用い、「振幅」として差信号230の最大値(図中に「振幅MAX」と示す)を用いる。そして、補正テーブル314に記憶する情報は、この例では、図13に示すように、たわみの前半部に対応する補正信号パターンとする。図13に例示した補正信号パターンの情報は、たわみの前半部nラインの各ラインごとに、そのラインに対応する補正値を表している。たわみの後半部の補正信号パターンは、前半部を対称に反転させたものを用いればよい。
再び図11の説明に戻ると、メインメモリ320は、プロセッサ300による演算処理において用いられる作業領域を提供する記憶装置である。メインメモリ320は、例えばRAM(ランダム・アクセス・メモリ)等の半導体メモリである。メインメモリ320には、画像バッファ322と制御変数記憶部324という2つの領域が含まれる。画像バッファ322は、読み取られた画像データを蓄積するためのバッファである。制御変数記憶部324は、補正処理プログラム312の実行において用いられる各制御変数の値を記憶する。
次に、図14〜図17を参照して、補正処理プログラム312が表す処理手順の具体例を説明する。
図14に示すように、この処理手順では、原稿の読み取りが開始されると、プロセッサ300は、まず制御変数kを1に、nを1に,MAXを0に、それぞれ初期化する(S1)。制御変数kは、副走査方向についての原稿の読取開始端からのライン数を表す。副走査が進むにつれて、kの値はインクリメントされる。nは、原稿のたわみの先端からのライン数を表す。MAXは、差信号230の絶対値の最大値を保持するための変数である。この例では、原稿の副走査開始端から終了端までのライン数を770ラインとする。もちろん、これは一例に過ぎない。この処理手順では、変数kを770と比較し(S2)、kが770以上であれば、原稿の読み取りが完了したとして、処理を終了する。
kが770未満であれば、プロセッサ300は信号Aと信号Bのレベルを比較することで、現在の読取ラインが原稿の平坦部(状態I)、たわみ前半部(状態II)、たわみ中央部(状態III)、たわみ後半部(状態IV)のいずれにあるかを判定する(S3〜S5)。
より詳しくは、(信号A−信号B)が閾値1(TH1)より大きければ(ステップS3の判定結果がYes)、たわみの前半部と判定され、図15の手順に移る。差信号(A−B)が閾値2(TH2)より小さければ(ステップS4の判定結果がYes)、たわみの後半部と判定され、図17の手順に移る。ここで閾値2(TH2)は実験などに基づき求めた値であり、あらかじめ不揮発性記憶装置310等に記憶されている。閾値1(TH1)は、0又は0に近い負の値である。差信号(A−B)が閾値1と閾値2の間にある場合(ステップS3及びS4の判定結果が共にNo。信号Aと信号Bとが実質的に等しい場合)には、平坦部の場合と、たわみ中央部の場合とがあるので、ステップS5でそれら両者を区別する。すなわちステップS5では、1つ過去のライン(第(k−1)ライン)において信号Aが信号Bより大きいか否かを判定し、大きければ第(k−1)ラインはたわみ前半部を読み取ったものなので、現ライン(第kライン)はたわみ中央部と判定できる。この場合は、図16の手順に移行する。第(k−1)ラインにおいて信号Aと信号Bとが等しい場合は、現ラインは平坦部(状態I)であるので、ステップS6に進む。ステップS6では、プロセッサ300は、ラインセンサ110Aの現ラインの出力信号を、画像バッファ322に第kラインのデータとして書き込む(S6)。そして、ライン数kを1増加して(S7)、ステップS2に戻る。
なお、以上の例では、1ラインごとにステップS3の判定を行い、判定結果が一度肯定(Yes)となると状態II(図15の手順)に移行した。しかし、これは一例に過ぎない。信号のノイズ等を考慮して、所定の第1のライン数連続してステップS3の判定結果が肯定となったときに初めて状態IIに移行するようにしてもよい。ステップS4から状態IVへの移行についても同様である。
また、以上の例では、差信号(A−B)が閾値1(TH1)より大きくなった後、ふたたび一度でも閾値1(TH1)以下になると、状態IIの終わりと判定したが、これも一例に過ぎない。ノイズ等を考慮して、所定の第2のライン数連続してステップS3の判定結果が否定となったときに初めて状態IIの終わりと判定してもよい。状態IVの終わりの判定(ステップS4)についても同様である。
ステップS3の判定結果がYesの場合、図15に示すように、現ラインkでの差信号230の絶対値|A−B|と変数MAXを比較する(S11)。状態IからIIに遷移した時点では、図10に示したように差信号230が0でなくなり、その絶対値は初期値0より大きくなる。したがって、ステップS11の判定結果はYesとなる。この場合、プロセッサ300は、変数MAXの値を現ラインkの差信号230の絶対値|A−B|に置き換え(S12)、たわみ開始端からのライン数を示す変数nを1増加(S13)させてから、ステップS6でラインセンサ110Aの現ラインの出力信号を、画像バッファ322に第kラインのデータとして書き込む。そして、ステップS7を経てステップS2に戻る。
状態IからIIに遷移した後状態IIIになるまでの間、差信号230の絶対値は、図10から分かるように、副走査が進行するにしたがって次第に大きくなり、最大値に達した後、次第に小さくなる。したがって、差信号230の絶対値が最大値に達するまでの間は、ステップS12で変数MAXが当該絶対値の現在の値に置き換えられ、最大値に達した後は、変数MAXの値が維持される。その間、副走査が進むにつれて、変数nは順に1ずつ増加される。
その後、たわみの中央部46が読み取られた時点では、信号AとBとが等しいか、または差信号(A−B)が閾値1(TH1)以下かつ閾値2(TH2)以上となり、ステップS5の判定結果がYesとなる。この時点では、変数nはたわみの先端部から中央部までのライン数を表し、これは補正信号パターン220のV字形の幅に対応している。また変数MAXは差信号230の絶対値の最大値を示しており、これは補正信号パターン220の最大値に対応している。図16の手順では、プロセッサ300は、その時点の変数n(周期)とMAX(振幅)との組合せに対応する補正信号パターンを補正テーブル314から検索し(S21)、画像バッファ322中の第(k−n)ライン(たわみの先端)から第kライン(現ラインすなわちたわみの中央部)までの画像データを、その補正信号パターンにより補正する(S22)。ここでは、例えば、第(k−n)ラインから第kラインまでの画像データに対し、補正信号パターンにおける第(k−n)ラインから第kライン間での各補正値を加算する。そして、制御変数mを2に初期化する(S23)。変数mは、状態IVでの処理において、参照すべき補正信号パターンのライン番号を特定するための変数である。すなわち、状態IVでは、補正テーブル314に保持されたたわみの先端から中央部までの補正信号パターンを折り返して用いるため、そのパターンのうちのどのラインの値を用いるかを変数mにより指定するのである。そして、制御変数nを1に、MAXを0に初期化した後(S24)、処理はステップS7を経てステップS2に戻る。
状態IIIの次のラインの処理(状態IV)では、ステップS4の判定結果がYesとなり、図17の処理手順に進む。この手順では、ステップS21で読み出した補正データのうちの第(k−m)ラインに対応する値を読み出し(S31)、この値により現在のラインセンサ110Aの出力信号を補正(例えば読み出した補正値をその出力信号に加算)し、補正結果を第kラインのデータとして画像バッファ322に書き込む(S32)。そして、変数mを2増加して(S33)、ステップS7を経てステップS2に戻る。現ラインの番号kが1増えるごとに、変数mを2ずつ増加させることで、(k−m)は最大値222を中心として現ラインkと対称位置にあるラインを指す番号となる。その番号(k−m)に対応する補正値を補正信号パターンの情報から読み出せば、それは現ラインkに対応する補正値として用いることができる。
なお、状態IVに移行した後、現ラインkがたわみの後端部に達すると、再び信号AとBが等しいか、または差信号(A−B)が閾値2(TH2)閾値以上かつ閾値1(TH1)以下となり、ステップS5の判定結果がNoとなり、ステップS6に進むこととなる(状態Iに戻る)。原稿に複数のたわみ部分が存在する場合、個々のたわみ部分ごとに、上述の状態I→II→III→IV→Iのサイクルが繰り返される。
以上のような処理を副走査の終端ラインまで繰り返すことで、たわみの影響が補正された画像データを得ることができる。画像読取装置は、このようにして得られた補正済みの画像データに対する縮小・拡大処理、二値化処理などのための回路やプログラムを備えていてもよい。
以上の手順のために、画像バッファ322は、生じ得るたわみの最大幅の半分に相当するライン数分以上の容量があればよい。この容量は、実験などによりあらかじめ求めておくことができる。
以上の手順では、たわみの先端部から中央部までの間の補正信号パターンのみを補正テーブル314に登録しておき、たわみの中央部から後端部までの期間には、そのパターンを反転させたものを利用したが、これはあくまで一例に過ぎない。この代わりにたわみの先端部から後端部までの全範囲にわたる補正信号パターンを補正テーブル314に登録しておき、これを用いて補正を行うことも可能である。
以上に説明した実施形態は、あくまで一例に過ぎない。例えば、センサユニット100は、図3に例示したものに限らない。例えば、図18に例示するセンサユニット100を用いてもよい。図18のセンサユニット100は、光源114Bと結像光学系112Bとの間に遮光壁116を備えており、光源114Bから発せられた光が結像光学系112Bの焦点位置120Bに達しないように構成されている。その代わりに、結像光学系112Bを挟んで光源114Bとは反対側に光源114Cが設けられており、焦点位置120Bはこの光源114Cのみにより照明される。この場合、たわみ部分を読み取ったときの信号A及びBの変化パターンは、たわみの中央部に関して図10に例示したパターンと対称なパターンとなる。この場合も、差信号(A−B)の変化に基づき上記実施形態と同様にして補正信号パターンを特定することができ、その補正信号パターンを用いて信号Aを補正できる。ただし、図3のように1つの光源114Bを焦点位置120Aと120Bの両方についての光源として兼用した方が、光源の数が少なくて済む。
また、上記実施形態では、焦点位置120Aは2つの光源により両側から照明され、焦点位置120Bは1つの光源により片側から照明されたが、このような構成も一例に過ぎない。例えば、焦点位置120Aと120Bが共に副走査方向について両側から照明されるような照明機構を採用した場合でも、一方の側からの照明強度と他方の側からの照明強度との比が焦点位置120Aと焦点位置120Bとで異なるようにすればよい。このようにすれば、たわみ部分を読み取る期間において、信号Aの変化パターンと信号Bの変化パターンとが異なってくるため、差信号(A−B)が図10に例示したのと同様の変化を示すこととなり、上記実施形態の考え方が適用できる。
また、上記実施形態における補正処理プログラム312が表す処理内容をハードウエア回路として実現することも可能である。
画像読取装置の原稿搬送系の構成の一例を模式的に示す図である。 画像読取装置のセンサ部の詳細構成の一例を模式的に示す図である。 実施形態の読取センサユニットの一例の構成を模式的に示す図である。 原稿の平坦な部分を読取センサユニットの各センサが読み取るときの照明状態を説明するための図である。 たわんでいない原稿を読み取った場合に読取センサユニットの各センサの出力信号の副走査方向に沿った変化のパターンを模式的に示した図である。 原稿のたわみ部分の先端部を各センサが読み取るときの照明状態を説明するための図である。 原稿のたわみ部分の中央部を各センサが読み取るときの照明状態を説明するための図である。 原稿のたわみ部分の後端部を各センサが読み取るときの照明状態を説明するための図である。 原稿にたわみが1つあるときの各センサの出力信号の副走査方向に沿った変化のパターンを模式的に示した図である。 原稿にたわみが1つあるときのセンサの出力信号に対する補正信号を説明するための図である。 実施形態の画像読取装置の信号処理系の一例を示す図である。 補正テーブルのデータ内容の一例を示す図である。 補正テーブルに含まれる補正情報を説明するための図である。 補正処理プログラムの処理手順の一部分を示す図である。 補正処理プログラムの処理手順の別の一部分を示す図である。 補正処理プログラムの処理手順の更に別の一部分を示す図である。 補正処理プログラムの処理手順の更に別の一部分を示す図である。 センサユニットの構成の別の例を示す図である。
符号の説明
100 センサユニット、110A,110B ラインセンサ、112A,112B 結像光学系、114A,114B 光源、120A,120B 焦点位置。

Claims (6)

  1. 原稿を搬送する原稿搬送手段と、
    前記原稿から反射する反射光を受光する第1の受光装置と、
    前記第1の受光装置に対して前記原稿搬送手段の搬送方向について所定の間隔を開けて設けられた第2の受光装置と、
    前記第1の受光装置が読み取る読取位置を、前記搬送方向について一方の側からの照明強度と他方の側からの照明強度との比が第1の比となるように照明する第1の照明手段と、
    前記第2の受光装置が読み取る読取位置を、前記搬送方向について一方の側からの照明強度と他方の側からの照明強度との比が前記第1の比とは異なる比となるように照明する第2の照明手段と、
    前記第1の受光装置が出力する第1の信号と前記第2の受光装置が出力する第2の信号の読み取り位置のずれを補正するために、前記第1の信号と前記第2の一方の信号を遅延させる遅延手段と、
    前記遅延手段により遅延された前記第1の信号と前記第2の信号との出力信号の差に基づき補正信号を生成する補正信号生成手段と、
    前記補正信号生成手段が生成した補正信号により前記第1の信号又は前記第2の信号のうちの少なくとも一方を補正する補正手段と、
    を備える画像読取装置。
  2. 一走査ごとに、当該走査における前記第1の信号の平均値と前記第2の信号の平均値との差を生成する差信号生成手段、
    を更に備え、
    前記補正信号生成手段は、前記差信号生成手段が生成した差の値が閾値以上になった時点から前記閾値以下になる時点までの期間の長さと、その期間における前記差の大きさの最大値と、に基づき前記補正信号を生成する、
    ことを特徴とする請求項1記載の画像読取装置。
  3. 前記差信号生成手段が生成した差信号の値が前記閾値以上になった時点から前記閾値以下になる時点までの期間の長さと、その期間における前記差信号の大きさの最大値と、の組合せごとに、その組合せに対応する補正信号の情報を記憶した記憶手段、
    を更に備え、
    前記補正信号生成手段は、前記差信号生成手段が生成した差信号の値が前記閾値以上になった時点から前記閾値以下になる時点までの期間の長さと、その期間における前記差信号の大きさの最大値と、の組合せに対応する補正信号の情報を前記記憶手段から読み出し、読み出した情報を用いて前記補正信号を生成する、
    ことを特徴とする請求項2記載の画像読取装置。
  4. 一走査ごとに、当該走査における前記第1の信号の平均値と前記第2の信号の平均値との差を生成する差信号生成手段、
    を更に備え、
    前記補正信号生成手段は、前記差信号生成手段が生成した差が所定の第1の走査線数連続して閾値以上になった時点から所定の第2の走査線数連続して前記閾値以下になる時点までの期間の長さと、その期間における前記差の大きさの最大値と、に基づき前記補正信号を生成する、
    ことを特徴とする請求項1記載の画像読取装置。
  5. 前記第1の照明手段は前記搬送方向に関して前記第1の受光装置と前記第2の受光装置との間の位置に設けられた光源を備え、
    前記光源は、前記第2の照明手段による照明のための光源として兼用される、
    ことを特徴とする請求項1記載の画像読取装置。
  6. 原稿を搬送する原稿搬送手段と、
    前記原稿から反射する反射光を受光する第1の受光装置と、
    前記第1の受光装置に対して前記原稿搬送手段の搬送方向について所定の間隔を開けて設けられた第2の受光装置と、
    前記第1の受光装置が読み取る読取位置を、前記搬送方向について両側から、照明する第1の照明手段と、
    前記第2の受光装置が読み取る読取位置を、前記搬送方向について一方の側から照明する第2の照明手段と、
    前記第1の受光装置が出力する第1の信号と前記第2の受光装置が出力する第2の信号の読み取り位置のずれを補正するために、前記第1の信号と前記第2の一方の信号を遅延させる遅延手段と、
    前記遅延手段により遅延された前記第1の信号と前記第2の信号との出力信号の差に基づき補正信号を生成する補正信号生成手段と、
    前記補正信号生成手段が生成した補正信号により前記第1の信号又は前記第2の信号のうちの少なくとも一方を補正する補正手段と、
    を備える画像読取装置。
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