JP4862396B2 - エッジ位置計測方法及び装置、並びに露光装置 - Google Patents
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Description
実データの長さをMとすると、ずらし量jは{j|0<=j<M−N}の値を取る。全ての部分データについてテンプレートとの類似度を計算するので、類似度は長さ(M−N+1)の一次元データR(j){j|0<=j<M−N}となる。まず、各々の一次元データを以下の計算式で換算する。
Y’(i)=(Y(i)−Oy)/Wy
換算後の値を用いて、次式で類似度を計算する。
Ox=(ΣX(i))/N
Oy=(ΣY(i))/N
Wx=√(Σ(X(i)−Ox)*(X(i)−Ox))
Wy=√(Σ(Y(i)−Oy)*(Y(i)−Oy))
とすることができ、この場合には、類似度Rはいわゆる相関係数となる。
Ox=(MAX(X)+MIN(X))/2
Oy=(MAX(Y)+MIN(Y0))/2
Wx=(MAX(X)−MIN(X))/2/√N
Wy=(MAX(Y)−MIN(Y0))/2/√N
とすることができる。テンプレートXの換算式はずらし量jに依存しないので、この計算を毎回行う必要はない。
Claims (17)
- 配列形成された複数の画素を有し、可動ステージ上の被計測部材のエッジの位置の計測に要求される倍率に対して高倍率に設定された撮像装置を用いて、該エッジの位置を計測するエッジ位置計測方法であって、
前記被計測部材のエッジを含む領域内の複数箇所において前記撮像装置による撮像を行う撮像工程と、
前記撮像工程で撮像された撮像結果のそれぞれについて、前記撮像装置の視野内の少なくとも一部に予め設定された指定領域に対応する画素情報に基づいて、該指定領域を代表する特徴量を算出する特徴量算出工程と、
前記特徴量算出工程で算出された前記複数の指定領域のそれぞれについての特徴量に基づいて、前記被計測部材のエッジの位置を算出するエッジ位置算出工程と、
を含み、
前記撮像工程では、前記被計測部材のエッジに対して交差する方向に沿って前記可動ステージを移動させつつ、前記撮像を行うことを特徴とするエッジ位置計測方法。 - 前記撮像工程では、前記被計測部材のエッジに対して交差する方向に沿って前記可動ステージをステップ移動させつつ、前記撮像を行うことを特徴とする請求項1に記載のエッジ位置計測方法。
- 前記特徴量算出工程では、前記指定領域に対応する画素情報の平均値又は積算値を、前記特徴量として算出することを特徴とする請求項1又は2に記載のエッジ位置計測方法。
- 前記エッジ位置算出工程では、前記各特徴量に基づいて、テンプレートマッチング法、スライス法、及び最大傾斜法のうちの少なくとも一つを用いて、前記エッジ位置を算出することを特徴とする請求項1〜3のうちの何れか一項に記載のエッジ位置計測方法。
- 前記指定領域は前記被計測部材のエッジに沿うように設定された正方形状の領域であることを特徴とする請求項1〜4のうちの何れか一項に記載のエッジ位置計測方法。
- 可動ステージ上の被計測部材のエッジの位置を計測するエッジ位置計測装置であって、
配列形成された複数の画素を有し、可動ステージ上の被計測部材のエッジの位置の計測に要求される倍率に対して高倍率に設定された撮像装置と、
前記被計測部材のエッジを含む領域内の複数箇所において前記撮像装置による撮像を行い、該撮像結果のそれぞれについて、前記撮像装置の視野内の少なくとも一部に予め設定された指定領域に対応する画素情報に基づいて、該指定領域を代表する特徴量を算出するとともに、該算出された前記複数の指定領域のそれぞれについての特徴量に基づいて、前記被計測部材のエッジの位置を算出する制御装置と、
を備え、
前記制御装置は、前記被計測部材のエッジに対して交差する方向に沿って前記可動ステージを移動させつつ、前記撮像を行うよう制御することを特徴とするエッジ位置計測装置。 - 前記制御装置は、前記被計測部材のエッジに対して交差する方向に沿って前記可動ステージをステップ移動させつつ、前記撮像を行うよう制御することを特徴とする請求項6に記載のエッジ位置計測装置。
- 前記制御装置は、前記指定領域に対応する画素情報の平均値又は積算値を、前記特徴量として算出することを特徴とする請求項6又は7に記載のエッジ位置計測装置。
- 前記制御装置は、前記各特徴量に基づいて、テンプレートマッチング法、スライス法、及び最大傾斜法のうちの少なくとも一つを用いて、前記エッジ位置を算出することを特徴とする請求項6〜8のうちの何れか一項に記載のエッジ位置計測装置。
- 前記指定領域は前記被計測部材のエッジに沿うように設定された正方形状の領域であることを特徴とする請求項6〜9のうちの何れか一項に記載のエッジ位置計測装置。
- マスクのパターンを物体上に露光転写する露光装置において、
請求項6〜10のうちの何れか一項に記載のエッジ位置計測装置を備えることを特徴とする露光装置。 - 前記撮像装置として、前記物体上に形成されたマークを計測するアライメントセンサを併用することを特徴とする請求項11に記載の露光装置。
- 前記露光装置は、前記マスクのパターンを前記物体上に投影する投影光学系と該物体との間に液体を供給しつつ露光する液浸型の露光装置であり、前記可動ステージは前記物体を載置して移動する物体ステージであり、前記被計測部材は該物体ステージ上に設けられる撥水板であることを特徴する請求項11又は12に記載の露光装置。
- 前記撥水板は、前記物体を保持するホルダがその内部に配置される開口を有し、前記物体ステージに交換可能に設けられる請求項13に記載の露光装置。
- 前記撥水板はその開口と外形との少なくとも一方のエッジ位置が計測される請求項14に記載の露光装置。
- 前記可動ステージは、前記物体を載置して移動する物体ステージとは別に設けられた計測用ステージであり、前記被計測部材は該計測用ステージ上に設けられたスクラムウェッジ部材であることを特徴とする請求項11〜15のうちの何れか一項に記載の露光装置。
- 前記可動ステージは、前記物体を載置して移動する物体ステージ又は該物体ステージとは別に設けられた計測用ステージであり、前記被計測部材は該物体ステージ又は該計測用ステージ上の部材又は部位であることを特徴とする請求項11又は12に記載の露光装置。
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