JP4860210B2 - 窒化物半導体レーザ素子およびその製造方法 - Google Patents
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Arプラズマ処理が窒化物半導体レーザ素子の共振器端面にどのような影響を及ぼすか、これまでほとんど知られていなかった。そこで発明者らは、Arプラズマ処理が共振器端面に及ぼす影響に関して研究を行った。
次に窒化物半導体レーザ素子の共振器端面の表面の相対窒素量の算出方法について説明する。
1 前処理を行っていない窒化物半導体レーザ素子の共振器端面のAES測定を行う。
1−1 共振器端面の表面のGaに対する窒素の割合(a)を求める。
1−2 共振器端面の表面からの深さ2〜4.5nmの範囲でのGaに対する窒素の割合の平均(b)を求める。
1−3 1−1で求めた値(a)を1−2で求めた値(b)で割った値(c=a/b)を求める。
2 前処理を行った窒化物半導体レーザ素子の共振器端面のAES測定を行う。
2−1 共振器端面の表面のGaに対する窒素の割合(d)を求める。
2−2 共振器端面の表面からの深さ2〜4.5nmの範囲でのGaに対する窒素の割合の平均(e)を求める。
2−3 2−1で求めた値(d)を2−2で求めた値(e)で割った値(f=d/e)を求める。
3 2−3で求めた値(f)を1−3で求めた値(c)で割った値(g=f/c)を求める。このようにして求めた値(g)を端面の相対窒素量と本明細書において定義する。
このようにArプラズマ処理を行った半導体レーザ素子の表面においてGaに対する窒素の割合が減少しているのは、励起されたAr粒子のアタックにより、蒸気圧の高い窒素が表面から離脱したためであると考えられる。さらに、この理由としては、Arプラズマ処理により、端面の窒素が離脱し減少することにより、端面(表面)は、相対的にGaが多い状態となり、窒素とGaの割合が1対1であるストイキオメオリ(化学量論的組成)が大きく崩れ、非発光センターが増加し、それに伴う発熱の増加により急速に端面劣化を引き起こすためであると考えられる。このため、Arプラズマ処理時間、マイクロ波パワー、処理温度などにより、窒素の離脱状況は異なる。
また、特許文献1で提案された半導体レーザの製造方法では、成膜前に端面に付着した水分を除去するために、バーを加熱して水分を蒸発させる旨が記載されている。このようにバーの温度を室温より高い温度に加熱して処理することは、水分を飛ばすため、または成膜する端面コート膜の膜質を向上させるために、一般的に行われているが、このような加熱により端面から窒素が離脱してCODレベルを低下させていることも同様の測定により分かった。
また、図3に結果を示すエージング試験によると、初期CODレベルが高かった前処理なしの試料は、エージングによってCODレベルが著しく低下している。これに対して、前処理ありの試料は、初期CODレベルは低いものの、エージングによるCODレベルの低下は小さく、エージング後のCODレベルは、Arプラズマ処理を行っていない試料のエージング後のCODレベルより高いことが分かる。
本発明の第1の実施形態について図を用いて説明する。図1は第1の実施形態に係る窒化物半導体レーザバーの共振器長に平行な方向から見た断面図、図2は共振器長に垂直な方向から見た窒化物半導体レーザバーの側面図である。
この、ECRスパッタリング装置による低反射膜34、または端面保護強化膜35および高反射膜36の形成の前に、端面に付着した自然酸化膜を除去する為に、窒化物半導体レーザバーにプラズマ処理による前処理を行う。プラズマ処理を行う際に、ターゲットの材料がプラズマ放電後にプラズマのシース電位として数V程度の電位を有してしまい、この電位差のためにプラズマ中のイオンがターゲットに衝突し、ターゲット原料がスパッタリングされ窒化物半導体レーザバーの表面に付着することが知られている。ターゲットがAlなどの金属である場合、この金属がメタル状態で共振器端面に付着し、強い光吸収を引き起こして発熱するため、COD破壊に至り、窒化物半導体レーザ素子のCODレベルを大幅に低減してしまう。
本実施の形態では、半導体レーザ素子がGaN系の窒化物である為、プラズマ処理による前処理によって窒素が離脱するのを防止する為に、窒素プラズマでプラズマ処理を行う。ここでは比較のため、表1にArガスのみで前処理を行った場合と窒素ガスのみで前処理を行った場合の条件を示す。
次に、窒化物半導体レーザバー10の一方の共振器端面13にスパッタリング装置内でAl2O3からなる低反射率の端面コーティング膜である低反射膜34を形成する方法について説明する。まずArガス(流量40ccm)および酸素ガス(流量6〜7ccm)を処理室に導入しプラズマ状態を形成する。このとき炉内の内圧は1×10-1Pa程度、マイクロ波の出力は500W、Alターゲットに接続されたECRスパッタリング装置のRF電源の出力値は500Wとする。プラズマ状態のArがRFパワーの500WでAlターゲットに引き寄せられ、Alターゲットをたたくことで、Alがサンプルに向けて飛散する。この飛散したAlがArガスと同時に導入されている酸素ガス(プラズマ状態になっている)と結合することによりAl2O3が成膜される。この状態で、窒化物半導体レーザバーのホルダーの直下に設けられたシャッターを開けることで、共振器端面13に低反射膜34が形成される。
1 炉内酸化(ターゲット表面と炉内表面の酸化)
2 前処理(窒素プラズマ処理)
3 本成膜(低反射膜形成)
4 窒化物半導体レーザバーの取り出しおよび次の窒化物半導体レーザバー導入
1 前処理(窒素プラズマ処理)
2 本成膜(低反射膜34形成)
3 炉内酸化(ターゲット表面と炉内表面の酸化)
4 窒化物半導体レーザバーの取り出しおよび次の窒化物半導体レーザバー導入
次に、低反射膜34の形成後、ホルダーを取り出し、窒化物半導体レーザバー10のもう一方の共振器端面14(後面側)に、端面保護強化膜35および高反射率の端面コーティング膜である高反射膜36を形成できるようにセッティングを行い、まず端面保護強化膜35を形成する。低反射膜を形成するのと同様のプロセスで行う。つまり、次の手順で端面保護強化膜35を形成する。
1 炉内酸化(ターゲット表面と炉内表面の酸化)
2 前処理(窒素プラズマ処理)
3 本成膜(端面保護強化膜形成)
4 窒化物半導体レーザバーの取り出しおよび次の窒化物半導体レーザバーの導入
前後面の共振器端面13、14の端面コートが終わった窒化物半導体レーザバー10は、スクライブ、ブレーク装置により、チップ状態の窒化物半導体レーザ素子(不図示)に分割される。その後、分割された窒化物半導体レーザ素子はAlN、SiCなどのサブマウントに上にマウントされ、サブマウントごとステムにマウントされる。その後、ステムのピンとワイヤーボンドされ、大気封止でキャップされる。
上記のように製作された、プラズマ処理による前処理を窒素ガスで行った窒化物半導体素子と、比較のためにプラズマ処理による前処理を従来条件のArガスで行った窒化物半導体素子の、初期状態と200時間のエージング後のCODレベルを測定した。エージング条件は、雰囲気温度70℃、出力60mW、APC駆動であり、CODの測定条件は50ns、duty50%、室温、pulse測定である。その結果を図5および表2に示す。図5は、横軸をエージング時間、縦軸をCODレベルとしてプロットしたものである。
これらの2個の試料を、共振器端面から内部に向かってエッチングしながらAES(Auger Electron Spectroscopy;オージェ電子分光分析)測定し、端面の相対窒素量を測定した。その結果を図6に示す。図6は、横軸(X軸)を共振器端面の表面からの深さ、縦軸(Y軸)をGaに対する窒素の割合(原子数比)としてプロットしたものである。図6のX=0の部分がGaNからなる共振器端面と低反射膜との界面であり、たとえばX=2nmの部分は共振器端面と低反射膜の界面から2nm内部を表し、ここにおけるGaに対する窒素の割合を示している。
図6の「Arガス」と図4の「前処理あり」とは同じ試料であるため、同じグラフである。このため、Arガスで前処理を行った試料の端面の相対窒素量は先述したとおり、73%となる。また、窒素ガスで前処理を行った試料の端面の相対窒素量は、先述の算出方法に基づき、次のようにして算出できる。端面の表面のGaに対する窒素の割合(d)は1.222、表面からの深さ2〜4.5nmの範囲のGaに対する窒素の割合の平均(e)は1.062であることから、f=d/e=1.222/1.062≒1.150である。ここで、何も前処理を行っていない、図4の「前処理なし」を基準とし、端面の相対窒素量(g)は、g=f/c=1.150/1.172≒0.98=98%となる。
次に本発明の第2の実施形態について説明する。第2の実施形態は、窒化物半導体レーザ素子に対するプラズマ処理による前処理にArガスと窒素ガスの混合ガスを用いる点が異なる以外は第1の実施形態と同様である。
次に本発明の第3の実施形態について説明する。第3の実施形態は、窒化物半導体レーザ素子に対するプラズマ処理による前処理を、処理室に接続されたクリーニング専用のクリーニング室において行う点が異なる以外は第1の実施形態と同様である。
次に本発明の第4の実施形態について説明する。第4の実施形態は、プラズマ処理による前処理を2段階で行う点が異なる以外は第1の実施形態と同様である。
11 n型GaN基板
12 ストライプ状のリッジ
13 共振器端面(前面)
14 共振器端面(後面)
21 n−AlGaInNバッファ層
22 n−AlGaInNクラッド層
23 n−AlGaInNガイド層
24 AlGaInN多重量子井戸活性層
25 p−AlGaInNガイド層
26 p−AlGaInNクラッド層
27 p−AlGaInNコンタクト層
31 絶縁膜
32 p電極
33 n電極
34 端面コート膜(低反射膜)
35 端面強化保護膜
36 端面コート膜(高反射膜)
Claims (13)
- 基板上に窒化物半導体層を形成した後、前記窒化物半導体層を形成した前記基板を劈開して互いに平行な2個の共振器端面を形成する、前記基板と前記窒化物半導体層とを備える窒化物半導体レーザ素子の製造方法において、
前記共振器端面を、窒素ガスまたは希ガスと窒素ガスとの混合ガスを用いたプラズマに曝露することで前記共振器端面の組成変化を促すプラズマ処理を行う時に、金属からなるターゲット表面に酸化物が炉内酸化により強制的に形成された状態であり、
前記プラズマ処理を行うことにより、前記プラズマ処理前の前記共振器端面の表面におけるGaに対する窒素の割合をa、前記共振器端面の表面よりも内部におけるGaに対する窒素の割合の平均をb、前記プラズマ処理後の前記共振器端面の表面におけるGaに対する窒素の割合をd、前記共振器端面の表面よりも内部におけるGaに対する窒素の割合の平均をeとしたときに、g=(b・d)/(a・e)で表される値gが、0.8≦gとすることを特徴とする窒化物半導体レーザ素子の製造方法。 - 前記プラズマ処理を行う前に、希ガスを用いたプラズマによって前記共振器端面をエッチングする予備プラズマ処理を行うことを特徴とする請求項1に記載の窒化物半導体レーザ素子の製造方法。
- 前記プラズマ処理の後、前記共振器端面に前記共振器端面の光学的損傷を防ぐ端面コート膜を形成することを特徴とする請求項1または請求項2のいずれかに記載の窒化物半導体レーザ素子の製造方法。
- 前記端面コート膜が、Al、Ti、Si、Y、Nb、TaまたはZrの酸化物であることを特徴とする請求項3に記載の窒化物半導体レーザ素子の製造方法。
- 前記端面コート膜がAlまたはSiの窒化物であることを特徴とする請求項3に記載の窒化物半導体レーザ素子の製造方法。
- 前記2個の共振器端面の両方に前記端面コート膜を備え、前記2個の端面コート膜が同一の材料からなることを特徴とする請求項3〜5のいずれかに記載の窒化物半導体レーザ素子の製造方法。
- 前記端面コート膜が電子サイクロトロン共鳴スパッタ法または高周波スパッタ法で作製されることを特徴とする請求項3〜6のいずれかに記載の窒化物半導体レーザ素子の製造方法。
- 前記プラズマ処理をする際の前記基板の温度が150℃以上500℃以下であることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の窒化物半導体レーザ素子の製造方法。
- 前記プラズマ処理をする際の前記基板の温度が200℃以上400℃以下であることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の窒化物半導体レーザ素子の製造方法。
- 前記予備プラズマ処理をする際の前記基板の温度が150℃以上500℃以下であることを特徴とする請求項2〜7のいずれかに記載の窒化物半導体レーザ素子の製造方法。
- 前記予備プラズマ処理をする際の前記基板の温度が200℃以上400℃以下であることを特徴とする請求項2〜7のいずれかに記載の窒化物半導体レーザ素子の製造方法。
- 請求項1〜11のいずれかに記載の窒化物半導体レーザ素子の製造方法により製造した窒化物半導体レーザ素子。
- 基板上に窒化物半導体層を形成した後、前記窒化物半導体層を形成した前記基板を劈開
して互いに平行な2個の共振器端面を形成する、前記基板と前記窒化物半導体層とを備える窒化物半導体レーザ素子の製造方法において、
前記共振器端面の光学的損傷を防ぐ端面コート膜を前記共振器端面に形成する前に、前記共振器端面を、窒素ガスまたは希ガスと窒素ガスとの混合ガスを用いたプラズマに曝露するプラズマ処理を行う時に、金属からなるターゲット表面に酸化物が炉内酸化により強制的に形成された状態であることを特徴とする窒化物半導体レーザ素子の製造方法。
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