JP4858298B2 - 検査装置 - Google Patents

Description

本発明は、プリント基板に実装された複数の発光体の電気計測を行うと同時に発光体の発光色を検査する検査装置に関する。

例えば車両用メータのように、警告用ランプ、ハザードランプ、ウィンカーランプ、シフトレバーランプ等の多数の発光体がプリント基板に実装されたものがある。一般に、発光体として、発光ダイオード（ＬＥＤ）が用いられている。

車両用メータでは、プリント基板のうちあらかじめ決められた位置に決められた色のＬＥＤが実装される。そして、部品実装後の筐体組付け後にＬＥＤの点灯目視検査がある。すなわち、各ＬＥＤを点灯させて、検査員が目視することにより、車両用メータの所定の位置に決められた色が発せられるか否かが検査されるようになっている。

しかしながら、上記従来の技術では、目視による検査を行うため、熟練した技能が要求される。また、１つのプリント基板に実装されるＬＥＤの数が多いほど検査ミス、すなわち見逃しをし易いという問題が生じてしまう。車両用メータのプリント基板には例えば数十〜百点以上のＬＥＤが実装されているため、目視によってすべてのＬＥＤの位置と色を正しく検査することは困難だった。特に、人間の目には赤とアンバー（オレンジ）との見分けが付きにくく、実装間違いを見逃しやすかった。

また、点灯目視検査工程は部品実装工程とは別工程になっているため、ＬＥＤの実装用リールを間違えて実装してしまった場合、例えば２０００素子という大量の不良が発生してしまう問題がある。

なお、ＣＣＤカメラを用いて各ＬＥＤを撮影し、各ＬＥＤの発光色を検査する方法が考えられる。しかし、ＣＣＤカメラは画像処理用として広く利用されているものであり、ＣＣＤの感度フィルタでは色を正確に識別することは困難である。また、プリント基板を製造する全工程にＣＣＤカメラを用いた工程を追加することになり、コストアップしてしまうという問題がある。

本発明は、上記点に鑑み、プリント基板等に実装された複数のＬＥＤの発光色を確実に検査することができる検査装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するため、本発明は、回路パターン（５１）が形成された回路基板（５０）に実装された複数の電子部品の電気計測を行うにあたり、複数の電子部品のうち電気計測の対象が発光素子（５２）である場合、テスタ制御部（１４）にて発光素子（５２）の電気計測を行うと共に、当該電気計測を実施しながら第２プローブアーム（１２）に取り付けられた光ファイバケーブル（２０）を介して発光素子（５２）から発せられる光を分光器（３０）に伝達し、当該分光器（３０）にて波長計測を行った後、分光器（３０）で取得された光の波長のデータに基づいて判定部（４０）にて判定することで光の色の判定を行う検査装置であることを特徴とする。

これにより、分光器（３０）にて発光素子（５２）の発光色を判定することができ、電子部品の実装間違いや検査員の目視検査による見落としや見逃しを防止することができる。分光器（３０）にて光の波長を測定することから、検査員にとって見分けが困難な色の判定を確実に行うことができ、検査漏れや検査ミスを防止することができる。

また、発光素子（５２）の電気計測時に発光色の検査を行うようにしているため、波長計測のための別工程を追加することなく、発光素子（５２）の検査を行うことができる。

回路基板（５０）に実装された発光素子（５２）の発光強度は、回路基板（５０）の実装面に対して垂直方向、すなわち鉛直方向がもっとも高い。このため、第２プローブアーム（１２）の軸を鉛直方向に向かせることで、発光素子（５２）の発光強度を落とさずに光ファイバケーブル（２０）にて分光器（３０）に伝達することができる。

また、分光器（３０）は、計測した光の波長をデータとして記憶する記憶部（３７）を有しており、判定部（４０）からの指令に基づいて記憶部（３７）に記憶したデータを判定部（４０）に出力することができる。

そして、上記検査装置を用いて電子装置の製造方法するに当たって、各プローブアーム（１１、１２）を移動させ、電気計測の対象となる電子部品が実装された回路パターン（５１）に第１プローブピン（１１ａ）および第２プローブピン（１２ａ）を接触させて第１プローブピン（１１ａ）、電子部品、第２プローブピン（１２ａ）の経路を形成し、電子部品が発光素子（５２）である場合、第１プローブピン（１１ａ）と第２プローブピン（１２ａ）との間に電流を流して当該電子部品の電気計測を実施しながら、当該電気計測によって発せられた光を第２プローブアーム（１２）に取り付けられた光ファイバケーブル（２０）を介して分光器（３０）に導き、当該分光器（３０）にて波長計測を行い、判定部（４０）にて光の色の判定を行うことができる。

電子部品の製造方法に当該検査工程を採用することで、電子部品が発光素子（５２）であれば、電気計測と波長計測とを同時に行うことができる。また、分光器（３０）による波長の測定を行って色を判定するため、検査員の目視による見逃しや見落としを防止できる。

なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。

（第１実施形態）
以下、本発明の第１実施形態について図を参照して説明する。本実施形態で示される検査装置は、プリント基板に実装された複数の発光体であるＬＥＤの位置と発光色との検査を行うものである。検査の対象となるものは、ＬＥＤが実装されたプリント基板等である。例えば車両用メータのプリント基板のように、多数のＬＥＤが実装されたプリント基板について検査を行う場合に、本実施形態に示される検査装置を採用すると好適である。

図１は、本発明の一実施形態に係る検査装置のブロック構成図である。この図に示されるように、検査装置は、インサーキットテスタ本体検査部１０と、光ファイバケーブル２０と、分光器３０と、制御装置４０とを備えて構成されている。

検査部１０は、水平方向に配置されたプリント基板５０に形成された回路パターン５１に従って実装された発光体としてのＬＥＤ５２の電気計測を行うものであり、４Ｘ−Ｙ方式インサーキットテスタである。この検査部１０は、第１プローブアーム１１および第２プローブアーム１２と、駆動部１３と、テスタ制御部１４とを備えている。なお、プリント基板５０は本発明の回路基板に相当し、ＬＥＤ５２は本発明の発光素子に相当する。

第１プローブアーム１１および第２プローブアーム１２はそれぞれ直方体をなしており、一端側に金属製の第１プローブピン１１ａおよび第２プローブピン１２ａをそれぞれ備え、他端側がそれぞれ駆動部１３の駆動機構に取り付けられている。これら各プローブピン１１ａ、１２ａの先端は針状になっており、各プローブアーム１１、１２の駆動によって、プリント基板５０の回路パターン５１に押し付けられてＬＥＤ５２や他のディスクリート部品の電気計測のために用いられる。

駆動部１３は、各プローブアーム１１、１２の姿勢の調整や３次元的に位置を移動させる駆動機構である。このような駆動部１３は、テスタ制御部１４から入力される駆動信号に従って、プリント基板５０のうち、回路パターン５１の所定の位置に各プローブアーム１１、１２を移動させると共に、電気計測を行えるように各プローブピン１１ａ、１２ａを回路パターン５１に接触させる。

なお、駆動部１３は、各プローブアーム１１、１２を独立して駆動することが可能になっており、各プローブアーム１１、１２を単独で駆動することも可能である。

テスタ制御部１４は、駆動部１３に駆動信号を出力して各プローブアーム１１、１２を駆動する機能、各プローブピン１１ａ、１２ａが接触した回路パターン５１に電流を流すことによって、回路パターン５１に従って実装されたディスクリート部品等の電子部品の電気計測を行う機能を有するものである。このようなテスタ制御部１４は、ＣＰＵやメモリ、ハードディスク等を備えた装置であり、電気計測を行うためのソフトウェアとして電気計測プログラムが記憶されている。さらに、テスタ制御部１４は電気計測を行うためのハードウェアとして電気特性計測部１４ａを有している。

電気特性計測部１４ａは、プリント基板５０に実装された電子部品の電気計測を行うものであり、定電流電源１４ｂと、電流計１４ｃと、電圧計１４ｄとを備えて構成されている。このような電気特性計測部１４ａでは、定電流電源１４ｂと電流計１４ｃとが直列接続され、当該直列接続に並列に電圧計１４ｄが接続されている。また、定電流電源１４ｂが第２プローブピン１２ａに電気的に接続され、電流計１４ｃが第１プローブピン１１ａに電気的に接続されている。

そして、電気特性計測部１４ａは、駆動部１３の駆動によって各プローブアーム１１、１２の各プローブピン１１ａ、１２ａが回路パターン５１に接触した後、定電流電源１４ｂにて電子部品に一定電流を流したときの各プローブピン１１ａ、１２ａの間の電圧値を電圧計１４ｄにて計測する。このようにして電気特性計測部１４ａにて取得された電圧値は、検査データとしてテスタ制御部１４に記憶される。

また、テスタ制御部１４のハードディスクには、検査対象となっているプリント基板５０の回路パターン５１の位置、プリント基板５０に実装されたＬＥＤ５２の位置や色等の製品データがあらかじめ記憶される。当該製品データは製品ごとに異なっているため、検査の際に著網の製品データがテスタ制御部１４に記憶される。

光ファイバケーブル２０は、一端から取り込んだ光を他端に伝達させるケーブルであり、プリント基板５０に実装された電子部品のうちＬＥＤ５２の電気計測の際に、ＬＥＤ５２から発せられた光を分光器３０に伝達する役割を果たすものである。当該光ファイバケーブル２０は、例えば樹脂チューブ等によって被覆保護されていることが好ましい。

この光ファイバケーブル２０の一端２１は、検査部１０の第２プローブアーム１２の一側面、具体的には直方体をなす第２プローブアーム１２の四側面のうち第１プローブアーム１１側を向く側面に取り付けられている。第２プローブアーム１２への光ファイバケーブル２０の取付方法として、例えばコの字状の冶具にて第２プローブアーム１２と光ファイバケーブル２０の一端２１とを挟みこんでビス止めする方法や、光ファイバケーブル２０の一端２１を第２プローブアーム１２の側面に直接接着する方法が採用される。

上述のように、第２プローブアーム１２の長軸が鉛直方向を向いているのは、水平方向に配置されたプリント基板５０に実装されたＬＥＤ５２から発せられた光６０の強度が、プリント基板５０の面に対して垂直方向、すなわち鉛直方向でもっとも高いからである。

この場合、光ファイバケーブル２０の一端２１がＬＥＤ５２から遠い位置に配置されると分光器３０に伝達できる光の強度が低くなる。逆に、光ファイバケーブル２０の一端２１がＬＥＤ５２に近い位置に配置されると分光器３０に伝達される光の強度が高くなり、分光器３０にて検出できる光の強度が飽和してしまうと分光器３０にてピーク波長を検出できない。さらに、ＬＥＤ５２の影響によって光ファイバケーブル２０が干渉してしまうという問題もある。したがって、光ファイバケーブル２０の一端２１は、周囲から干渉の影響を受けず、分光器３０に伝達する光の強度が強すぎず弱すぎない位置であることが好ましい。

また、光ファイバケーブル２０の他端２２は、分光器３０内に光が入射するように分光器３０に取り付けられている。なお、光ファイバケーブル２０は、第２プローブアーム１２の動きに合わせて動作が可能な柔軟性を有しているため、電気計測の際に折れる等の問題はない。

上述のように第２プローブアーム１２の長軸が鉛直方向に向き、第１プローブアーム１１が第２プローブアーム１２に対して傾斜した姿勢になっているため、各プローブアーム１１、１２が近づいたときに光ファイバケーブルが各プローブアーム１１、１２によって挟まれないようになっている。また、第１プローブアーム１１が第２プローブアーム１２から遠ざかるように傾斜しているため、第２プローブアーム１２に取り付けられた光ファイバケーブル２０の一端２１が第１プローブアーム１１の影響によって干渉しないようにもなっている。

分光器３０は、光ファイバケーブル２０にて伝達された光を波長ごとの色に分解するものである。図２は、図１に示される検査装置に備えられた分光器３０の全体構成図である。この図に示されるように、分光器３０は、入射スリット３１と、コリメートミラー３２と、透過グレーティング３３と、フォーカシングミラー３４と、イメージセンサ３５と、Ａ／Ｄ変換部３６と、記憶部３７とを備えている。

入射スリット３１は、光ファイバケーブル２０の他端２２から射出した光を分光器３０内に光を取り込む窓部である。コリメートミラー３２は、入射スリット３１から分光器３０内に入射された光が平行状態になるように反射させるミラーである。透過グレーティング３３は、いわゆる回折格子であり、コリメートミラー３２から入射した光を透過させる際に波長ごとに分散させるものである。フォーカシングミラー３４は、透過グレーティング３３から入射した分散した光をイメージセンサ３５に結像する凹面鏡である。

イメージセンサ３５は、フォーカシングミラー３４から入射された光を受光するものであり、例えば２０４８個の受光素子が一直線状に配列されたものとして構成される。このイメージセンサ３５は、波長が例えば２５０ｎｍ〜１０００ｎｍの範囲のピーク波長を取得することができる。例えば、分光器３０に取り込まれた光が赤である場合、例えば６２０ｎｍにピークをもつピーク波長が測定される。

Ａ／Ｄ変換部３６は、イメージセンサ３５で取得されたピーク波長の生データをデジタル信号に変換するものである。記憶部３７は、Ａ／Ｄ変換部３６から入力されたピーク波長のデータを格納し、外部からのリクエストに応じて格納したデータを外部に出力する。

制御装置４０は、分光器３０に全波長のデータをリクエストし、分光器３０から入力された全波長のデータからピークを探して色を判定する機能、テスタ制御部１４からのリクエストに応じて、ＬＥＤ５２の位置および色の判定結果をテスタ制御部１４に出力する機能を有するものである。このような制御装置４０として、例えばパーソナルコンピュータが採用され、プリント基板５０に実装されたＬＥＤ５２の色を判定するためのソフトウェアとして波長判定プログラムが記憶されている。

制御装置４０と分光器３０とは、例えばＵＳＢ接続ケーブルにて電気的に接続されており、制御装置４０が分光器３０にデータを要求するトリガ信号を出力すると、分光器３０から計測データが入力されるようになっている。なお、制御装置４０は本発明の判定部に想到する。以上が、本実施形態に係る検査装置の全体構成である。

次に、上記の検査装置を用いてプリント基板５０を検査する方法について、図３を参照して説明する。図３は、図１に示される検査装置にてプリント基板５０に実装された電子部品の電気計測および電子部品のうちＬＥＤ５２が発する色の波長の計測の内容を示したフローチャートである。

図３（ａ）はプリント基板５０の電気計測の内容を示すフローチャートであり、検査装置において電気計測プログラムが実行されることによりスタートする。図３（ｂ）は制御装置４０における波長の分析・判定の内容を示すフローチャートであり、制御装置４０において波長判定プログラムが電気計測プログラムに連動して実行されることによりスタートする。図３（ｃ）は分光器３０における波長計測の内容を示すフローチャートである。以下、図３に示されるフローに従って、検査装置における電気計測および波長計測について説明する。

検査装置における電気計測および波長計測を行うに際し、車両用メータを構成するプリント基板５０を検査対象とする。当該プリント基板５０には、電子部品の他、例えば４０個〜２００個のＬＥＤ５２が実装されている。プリント基板５０に実装されるＬＥＤ５２の発光色は、白、青、緑、アンバー（オレンジ）、赤が一般的である。

検査を行う前に、テスタ制御部１４には、プリント基板５０の回路パターン５１や電子部品の検査ポイント（位置座標の情報）や電子部品がＬＥＤ５２の場合には色等のデータ、電気計測、波長計測における規格値等の製品データがあらかじめ記憶されているものとする。

また、以下で示される検査方法は、例えば車両用メータのような電子装置を製造する製造工程のうちの検査工程で採用され、プリント基板５０への電子部品の部品実装工程が終了した直後に検査工程が行われるとする。

まず、図３（ａ）に示されるように、テスタ制御部１４は、製品データに従って検査ポイントに各プローブアーム１１、１２を移動させると共に、移動先の回路パターン５１に各プローブピン１１ａ、１２ａを接触させる（ステップ１００）。各プローブピン１１ａ、１２ａの位置における電子部品がＬＥＤ５２である場合、テスタ制御部１４はＬＥＤ５２から発せられる光の波長を計測させるべく波長計測開始信号を制御装置４０に出力する（ステップ１１０）。他方、当該位置における電子部品がＬＥＤ５２ではなく他のディスクリート部品等である場合、テスタ制御部１４は波長計測開始信号を出力せずに次のステップに進む。

この後、テスタ制御部１４の電気特性計測部１４ａにて定電流電源１４ｂによって電子部品に一定電流を流し、電圧計１４ｄで電子部品の電気計測を行い、その結果を蓄積する（ステップ１２０、１３０）。そして、テスタ制御部１４から駆動部１３に駆動信号を入力することで、次に電気計測すべき検査ポイントに各プローブアーム１１、１２を移動させる（ステップ１４０）。Ｘ−Ｙ方式インサーキットテスタでは、１検査ポイントあたりの測定間隔が数十ｍ秒〜数百ｍ秒と比較的高速である。

各プローブアーム１１、１２の際に、次の検査ポイントがあるか、すなわち、すべての検査ポイントで電気計測が終了したか否かが判定され（ステップ１５０）、すべての検査ポイントで電気計測が終了していない場合、各検査ポイントについてステップ１００からステップ１４０を繰り返し実行する。この場合、各検査ポイントがＬＥＤ５２の場合、その都度、テスタ制御部１４は制御装置４０に波長計測開始信号を出力する（ステップ１１０）。

上述のように、ステップ１１０にてテスタ制御部１４から波長計測開始信号が出力された場合、図３（ｂ）に示されるように、制御装置４０はテスタ制御部１４から波長計測開始信号を入力して（ステップ２００）、当該波長計測開始信号を分光器３０に出力する（ステップ２１０）。

そして、図３（ｃ）に示されるように、分光器３０は、制御装置４０から波長計測開始信号を入力すると（ステップ３００）、波長計測を開始する（ステップ３１０）。具体的には、テスタ制御部１４は制御装置４０に波長計測開始信号を出力した後、ＬＥＤ５２の電気計測を行うが、当該電気計測の際にＬＥＤ５２に電流を流すこととなるため、ＬＥＤ５２が発光する。

このように、電気計測にＬＥＤ５２から発せられた光は、第２プローブアーム１２に取り付けられた光ファイバケーブル２０の一端２１から取り込まれ、分光器３０の入射スリット３１に導かれる。分光器３０内に導かれた光は、コリメートミラー３２を反射して透過グレーティング３３を透過する際に分散され、フォーカシングミラー３４にてイメージセンサ３５に結像される。そして、イメージセンサ３５にてピーク波長が取得される。

図４は、分光器３０のイメージセンサ３５で計測されるピーク波長の一例を示した図である。この図に示されるように、ＬＥＤ５２が赤色を発するものであれば例えば６２０ｎｍにピークが現れ、ＬＥＤ５２が緑色を発するものであれば例えば５２５ｎｍにピークが現れる。その他、青、アンバー、白もピークを持ったピーク波長になっている。分光器３０は、イメージセンサ３５で取得した図４に示されるようなピーク波長を示すデータをＡ／Ｄ変換部３６を介して蓄積データとして記憶部３７に記憶する（ステップ３１０）。分光器３０の記憶部３７に記憶される蓄積データは、１つのＬＥＤ５２におけるピーク波長のデータである。

他方、制御装置４０は、テスタ制御部１４が行う電気計測とのタイムラグを微調整して分光器３０に波長計測開始信号を出力したのち、分光器３０で取得されたピーク波長のデータを取り込むべく、分光器３０に対して蓄積データ要求信号を出力する（ステップ２２０）。分光器３０は、制御装置４０から蓄積データ要求信号を入力すると（ステップ３２０）、記憶部３７に記憶した全波長の蓄積データを制御装置４０に出力する（ステップ３３０）。

続いて、制御装置４０は、分光器３０から蓄積データを入力すると（ステップ２３０）、当該蓄積データの解析・判定を行う（ステップ２４０）。具体的には、制御装置４０は、蓄積データが示すピーク波長のピークが一定範囲内に含まれているか否かを判定し、電気計測の対象となっているＬＥＤ５２の発光色が正しいか否かを判定する。

このようにして制御装置４０が蓄積データの解析・判定を行う場合、ピーク波長のピークが一定範囲内に含まれているか否かを判定する他に、ＪＩＳ規格Ｚ８７０１に基づく等色関数を用いて３刺激値を求めて色度判定をするか、更にＪＩＳ規格Ｚ８７０１に基づき主波長へ変換して主波長での判定を実施することもできる。特に、白色の判定については、色度判定を行うことが好ましい。

図４に示されるように、発光色が白のピーク波長は２つのピークから構成されており、そのうち１つのピークは例えば青のピーク波長のピークとほぼ同じ波長である。このため、ピークが波長の一定範囲内に含まれるか否かで判定を行うと、白と青との区別が困難である。しかしながら、白と青とでは色度がまったく異なるため、白と青とを確実に判定できる。

制御装置４０は、上記のようにして解析・判定した結果をハードディスク等に記憶しておく。そして、制御装置４０は、プリント基板５０に実装されたすべてのＬＥＤ５２についての波長計測が終了したか否かを判定し（ステップ２５０）、すべてのＬＥＤ５２について波長計測が終了していない場合、ステップ２００に戻り、テスタ制御部１４から入力される波長計測開始信号に従ってＬＥＤ５２の波長計測およびその解析・判定を行う。判定結果は、判定のたびに制御装置４０に記憶される。判定結果とは、例えば波長計測したＬＥＤ５２の実装が正しいか否かや、発光強度の善し悪し等の情報を指す。

なお、制御装置４０はテスタ制御部１４から製品データを受け取るため、波長計測すべきＬＥＤ５２の情報を有している。この情報に基づき、制御装置４０は、ステップ２５０にてすべてのＬＥＤ５２について波長計測が終了したか否かを判定できるようになっている。

このようなＬＥＤ５２の波長計測は、テスタ制御部１４がプリント基板５０に実装されたすべての電子部品のうちＬＥＤ５２の電気計測を行う際にＬＥＤ５２の電気計測と同時に行われるため、波長計測のための工程は必要なく、サイクルタイムは電気計測の場合とほぼ同じで済む。

図３（ａ）に示されるように、ステップ１５０にてすべての検査ポイントについて電気計測が終了したと判定された場合、テスタ制御部１４は制御装置４０に判定結果要求信号を出力する（ステップ１６０）。当該判定結果要求信号を受け取った制御装置４０は、すべてのＬＥＤ５２の波長計測の結果をテスタ制御部１４に出力する（ステップ２６０、２７０）。

そして、テスタ制御部１４は、制御装置４０から波長計測の結果を受け取り、先に行った電気計測の結果と制御装置４０から受け取った波長計測の判定結果とを総合判断して、検査したプリント基板５０が製品として規格内であるか否かを判定する（ステップ１７０）。

この後、プリント基板５０から各プローブアーム１１、１２を移動させ（ステップ１８０）、プリント基板５０の検査が終了する。当該検査において製品として問題ないと判定されたプリント基板５０は、車両用メータの筐体に取り付けられることとなる。

以上説明したように、本実施形態では、プリント基板５０に実装された電子部品がＬＥＤ５２の場合、当該ＬＥＤ５２の電気計測時にＬＥＤ５２から発せられる光を分光器３０に取り込んで波長計測する、すなわちＬＥＤ５２の電気計測と波長計測とを同時に行うことを特徴としている。

これにより、検査員がＬＥＤ５２を目視しなくても、分光器３０によってＬＥＤ５２から発せられる光のピーク波長を取得することができ、当該ピーク波長に基づいてＬＥＤ５２の発光色を確実に判定することができる。したがって、検査員が見逃しやすい発光色、例えば赤とアンバーとを確実に区別して判定することができ、プリント基板５０に対するＬＥＤ５２の実装間違いの見逃しを防止することができる。

また、プリント基板５０に多くのＬＥＤ５２が実装されていたとしても、ＬＥＤ５２の電気計測の際に波長計測が行われるため、検査漏れや検査ミスも防止できる。当該発明によれば、ＬＥＤ５２の発光色の点灯目視検査を廃止することが可能である。

このように、プリント基板５０に実装された電子部品の電気計測と同時に行うため、波長計測のための工程や検査工程を行うための時間を追加することなく検査を行うことができる。

さらに、上記のように部品実装工程の直後に検査工程を実施すると、実装用リールを間違えて実装してしまった場合の不良発生数を最小限（例えば数十素子）に抑えることができる。

検査に際しては、例えば、制御装置４０に判定すべき色の情報をあらかじめ設定しておくことで、すべての色のＬＥＤ５２についての判定が可能である。

（他の実施形態）
光ファイバケーブル２０の一端２１をＬＥＤ５２に近づけて第２プローブアーム１２に取り付ける場合、分光器３０に透過フィルタを設け、分光器３０内に入射する光の強度を落とすこともできる。また、光ファイバケーブル２０の一端２１をＬＥＤ５２から遠ざけて第２プローブアーム１２に取り付ける場合、分光器３０における光の積分時間を長くすることにより、ピーク波長を取得することもできる。さらに、光ファイバケーブル２０の一端２１にレンズを設け、入射光の強度を調整することもできる。

波長の相対強度データを利用すれば輝度測定も可能である。

なお、各図中に示したステップは、機能を実現するための手段に対応するものであり、上記図３に示したフローチャートの各ステップをハードウェアとして構成することもできる。

本発明の一実施形態に係る検査装置のブロック構成図である。 図１に示される検査装置に備えられた分光器の全体構成図である。 図１に示される検査装置にてプリント基板５０に実装された電子部品の電気計測および電子部品のうちＬＥＤが発する色の波長の計測の内容を示したフローチャートである。 分光器のイメージセンサで計測されるピーク波長の一例を示した図である。

符号の説明

１０…インサーキットテスタ本体検査部、１１…第１プローブアーム、１１ａ…第１プローブピン、１２…第２プローブアーム、１２ａ…第２プローブピン、１３…駆動部、１４…テスタ制御部、２０…光ファイバケーブル、２１…一端、２２…他端、３０…分光器、３７…記憶部、４０…制御装置、５０…プリント基板、５１…回路パターン、５２…ＬＥＤ。

Claims (3)

1. 回路パターン（５１）が形成された回路基板（５０）に実装された複数の電子部品の電気計測を行う検査装置であって、
   柱形状の一端側に第１プローブピン（１１ａ）が設けられた第１プローブアーム（１１）および柱形状の一端側に第２プローブピン（１２ａ）が設けられた第２プローブアーム（１２）と、
   電気計測を行う電子部品の位置、種類の情報を有し、当該情報に従って駆動部（１３）を駆動することにより、前記第１プローブアーム（１１）および前記第２プローブアーム（１２）を移動させ、電気計測の対象となる電子部品が実装された回路パターン（５１）に前記第１プローブピン（１１ａ）および前記第２プローブピン（１２ａ）を接触させて前記第１プローブピン（１１ａ）、当該電子部品、前記第２プローブピン（１２ａ）の経路を形成し、前記第１プローブピン（１１ａ）と前記第２プローブピン（１２ａ）との間に電流を流して当該電子部品の電気計測を行うテスタ制御部（１４）とを有する検査部（１０）と、
   一端（２１）が前記第２プローブアーム（１２）の側面に取り付けられ、当該一端（２１）から光を取り込む光ファイバケーブル（２０）と、
   前記光ファイバケーブル（２０）の他端（２２）が接続され、当該光ファイバケーブル（２０）によって導かれた光を取り込んで光の波長を計測する分光器（３０）と、
   前記分光器（３０）で計測された光の波長に基づいて色を判定し、当該判定結果を前記テスタ制御部（１４）に出力する判定部（４０）とを備えており、
   前記複数の電子部品のうち電気計測の対象が発光素子（５２）である場合、前記検査部（１０）は、前記テスタ制御部（１４）にて前記発光素子（５２）の電気計測を行うと共に、当該電気計測を実施しながら前記光ファイバケーブル（２０）を介して前記発光素子（５２）から発せられる光を分光器（３０）に伝達し、当該分光器（３０）にて波長計測を行った後、前記分光器（３０）で取得された光の波長のデータに基づいて前記判定部（４０）にて判定することで光の色の判定を行うようになっていることを特徴とする検査装置。
2. 前記分光器（３０）は、計測した光の波長をデータとして記憶する記憶部（３７）を有しており、前記判定部（４０）からの指令に基づいて記憶部（３７）に記憶したデータを前記判定部（４０）に出力するようになっていることを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
3. 請求項１または２に記載の検査装置を用いた電子装置の製造方法であって、
   前記各プローブアーム（１１、１２）を移動させ、電気計測の対象となる電子部品が実装された回路パターン（５１）に前記第１プローブピン（１１ａ）および前記第２プローブピン（１２ａ）を接触させて前記第１プローブピン（１１ａ）、前記電子部品、前記第２プローブピン（１２ａ）の経路を形成する工程と、
   前記電子部品が発光素子（５２）である場合、前記第１プローブピン（１１ａ）と前記第２プローブピン（１２ａ）との間に電流を流して当該電子部品の電気計測を実施しながら、当該電気計測によって発せられた光を前記第２プローブアーム（１２）に取り付けられた前記光ファイバケーブル（２０）を介して分光器（３０）に導き、当該分光器（３０）にて波長計測を行い、判定部（４０）にて光の色の判定を行う工程と、が含まれていることを特徴とする電子装置の製造方法。

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