JP4838639B2 - 質量分析用基板及び質量分析装置 - Google Patents
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Description
ここで、λ(nm)はX線の波長であり、本発明ではCuKαを線源に用いている。
トリアセチル−β−シクロデキストリン(triacetyl−β−cyclodextrin)(分子式=C84H112O56/分子量=2017.75、東京化成:商品コード=T1844)をテトラヒドロフランに溶解し、100μmol/Lの測定試料溶液を調製した。
上記測定対象物質のテトラヒドロフラン溶液を1mL分取し、更にマトリックス分子として、上記構造式A−1で示される化合物(2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン、商品名:RGACURE 651、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製)を加えてマトリックス分子の濃度が5mmol/Lの濃度になるように調製した。この混合溶液を、ピペッターにて1μL取り、ステンレス製のMALDI−TOF MS測定用の試料ターゲット基板上へ滴下して乾燥させた。
実施例1において、マトリックス分子を表1に示す化合物に替えた以外は、同様にして測定試料を調製して試料ターゲット基板上へ滴下して乾燥させた。
実施例1において、マトリックス分子A−1の替わりに9−ニトロアントラセン(アルドリッチ製、商品番号:N10209)を用いた以外は、同様にして測定試料を調製、滴下した。
実施例1において、マトリックス分子A−1の替わりにα−シアノ−ヒドロキシ−シンナミックアシッド(アルドリッチ製、商品番号:145505)を用いた以外は、同様にして測定試料を調製、滴下した。
実施例1において、マトリックス分子を添加せずに、測定対象分子溶液をそのまま滴下した以外は、同様にして測定試料を調製した。
20質量部のテトラエチルオルトシリケート(アルドリッチ製、商品番号=86578)に6.5質量部のトリエトキシビニルシラン(アルドリッチ製、商品番号=95080)、1質量部のテトライソプロポキシチタン(アルドリッチ製、商品番号=205273)、7.5質量部のステアリルトリメチルアンモニウム塩化物を加え混合した(Ti/Siのmol比=1/50)。ここに、0.1規定の塩酸2質量部を更に加え、30分間混合した。得られた透明な粘性のある液体をn型シリコンウエハー(アンチモンドープ、三菱住友シリコン社製)上にスピンコート(回転数:1000RPM)して60℃で1日乾燥した。
実施例11において、マトリックス分子:A−1の替わりに、表1に示す化合物を用いた以外は、同様にして測定試料を調製した。
測定は、市販のMALDI−TOF MS装置(商品名:REFLEX−III、ブルカー・ダルトニクス社製)を用いて行った。照射レーザーは窒素レーザー(波長=337nm)であり、ポジイオンの反射モード(レフレクターモード)とした。照射レーザー強度は、親イオンのピークが出始めた強度よりも2%だけ強い強度で測定し、一箇所において20パルス分のスペクトルを積算し、それを10箇所に渡り積算し、合計200パルス分のレーザー照射から得られる信号強度を合計したスペクトルを得た。
Claims (3)
- 質量分析用基板において、金属若しくは半導体の基板上にミクロポーラス膜又はメソポーラス膜を設け、更に、そのミクロ孔内又はメソ孔内にマトリックス化合物を担持させ、照射レーザー光により質量数が160未満の化合物のみを細孔外に選択的に発生させる質量分析用基板であって、
前記マトリックス化合物が下記一般式(1)で示される構造を有する
(上記一般式(1)において、R 1 、R 2 及びR 3 はそれぞれアルキル基、アルコキシ基、ヒドロキシ基、モルフォリノ基、アリール基から選ばれ置換基を示す。また、R 2 とR 3 は互いに環を形成してもよい。R 4 は水素原子、ヒドロキシ基、アミノ基、エーテル基、チオエーテル基、アルキル基から選ばれる置換基を示す。)
ことを特徴とした質量分析用基板。 - 質量分析用基板において、金属若しくは半導体の基板上にミクロポーラス膜又はメソポーラス膜を設け、更に、そのミクロ孔内又はメソ孔内にマトリックス化合物を担持させ、照射レーザー光により質量数が160未満の化合物のみを細孔外に選択的に発生させる質量分析用基板であって、
前記マトリックス化合物が下記構造式群から選ばれる化合物であることを特徴とした質量分析用基板。
- 請求項1または2に記載の質量分析用基板と、前記質量分析用基板に向けてレーザを照射する照射部とを備える質量分析装置。
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