JP4826755B2 - 露光装置、露光装置の調整方法、およびデバイスの製造方法 - Google Patents

露光装置、露光装置の調整方法、およびデバイスの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4826755B2
JP4826755B2 JP2006087464A JP2006087464A JP4826755B2 JP 4826755 B2 JP4826755 B2 JP 4826755B2 JP 2006087464 A JP2006087464 A JP 2006087464A JP 2006087464 A JP2006087464 A JP 2006087464A JP 4826755 B2 JP4826755 B2 JP 4826755B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical system
replacement
liquid
projection optical
immersion area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006087464A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007266186A (ja
Inventor
英司 矢吹
純一 三澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2006087464A priority Critical patent/JP4826755B2/ja
Publication of JP2007266186A publication Critical patent/JP2007266186A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4826755B2 publication Critical patent/JP4826755B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Lenses (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

本発明は、露光装置、露光装置の調整方法、およびデバイスの製造方法に関し、特に半導体素子や液晶表示素子などのマイクロデバイスをフォトリソグラフィ工程で製造する際に使用される露光装置に関するものである。
半導体素子等を製造するためのフォトリソグラフィ工程において、マスク(またはレチクル)のパターン像を、投影光学系を介して、感光性基板(フォトレジストが塗布されたウェハ、ガラスプレート等)上に投影露光する露光装置が使用されている。露光装置では、半導体素子等の集積度が向上するにつれて、投影光学系に要求される解像力(解像度)が益々高まっている。
投影光学系の解像力に対する要求を満足するには、照明光(露光光)の波長λを短くするとともに、投影光学系の像側開口数NAを大きくする必要がある。具体的には、投影光学系の解像度は、k・λ/NA(kはプロセス係数)で表される。また、像側開口数NAは、投影光学系と感光性基板との間の媒質(通常は空気などの気体)の屈折率をnとし、感光性基板への最大入射角をθとすると、n・sinθで表される。
この場合、最大入射角θを大きくすることにより像側開口数の増大を図ろうとすると、感光性基板への入射角および投影光学系からの射出角が大きくなり、光学面での反射損失が増大して、大きな実効的な像側開口数を確保することはできない。そこで、投影光学系と感光性基板との間の光路中に屈折率の高い液体のような媒質を満たすことにより像側開口数の増大を図る液浸技術が知られている(たとえば特許文献1を参照)。
国際公開第WO2004/019128号パンフレット
像面側に形成された液浸領域の液体を介してマスクパターンの像を感光性基板上に形成する液浸型の投影光学系では、液浸領域の光透過部材(浸液としての液体に接する光透過部材)が石英により形成されていることが多い。これは、液浸領域の光透過部材を蛍石により形成すると、蛍石は水に溶ける性質(可溶性)があるため、投影光学系の結像性能を安定的に維持することが困難になるからである。
また、蛍石では内部の屈折率分布が高周波成分を有することが知られており、この高周波成分を含む屈折率のばらつきがローカルフレアの発生を招く恐れがあり、投影光学系の結像性能を低下させ易い。さらに、蛍石は固有複屈折性を有することが知られており、投影光学系の結像性能を良好に維持するためには、この固有複屈折性の影響を補正する必要がある。したがって、蛍石の可溶性、屈折率分布の高周波成分、固有複屈折性などの観点から、液浸領域の光透過部材を石英により形成することが好ましい。
しかしながら、大きい像側開口数を有する液浸型の投影光学系では、液浸領域の光透過部材が非常に大きい光照射エネルギを受けることになり、この光透過部材を石英により形成すると、波長の短い紫外域の光の照射を受けて損傷し易い。具体的に、石英により形成された光透過部材が大きな光照射エネルギを受けると、体積収縮による局所的屈折率変化すなわちコンパクションが起こり易く、コンパクションの影響により投影光学系の結像性能が低下し易い。
したがって、液浸型の投影光学系を搭載する露光装置では、良好な結像性能を維持するために、石英により形成された液浸領域の光透過部材を適時交換する必要がある。ただし、液浸領域の光透過部材の交換に際して、交換用の光透過部材の製造誤差や組立誤差(位置決め誤差)などに起因して収差が発生し易く、光透過部材の交換により結像性能の悪化が起こる恐れがある。
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたものであり、液浸領域の光透過部材の交換による液浸型投影光学系の結像性能の悪化を抑え、良好な結像性能に基づいて微細パターンを高精度に且つ安定的に投影露光することのできる露光装置およびその調整方法を提供することを目的とする。
前記課題を解決するために、本発明の第1形態では、像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系を備えた露光装置において、
前記投影光学系の液浸領域の光透過部材は、前記液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材と交換可能に構成され、
前記投影光学系における前記液浸領域外の1つまたは複数の光学部材は、前記交換用光透過部材の交換に応じて、前記投影光学系の光軸に対して移動可能に構成されていることを特徴とする露光装置を提供する。
本発明の第2形態では、像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系を備えた露光装置において、
前記投影光学系の液浸領域の光透過部材は、前記液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材と交換可能に構成され、
前記交換用光透過部材の交換に応じて、前記投影光学系における前記液浸領域の光学的光路長が調整可能に構成されていることを特徴とする露光装置を提供する。
本発明の第3形態では、像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系を備えた露光装置の調整方法において、
前記投影光学系の液浸領域の光透過部材を、前記液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材と交換する交換工程と、
前記交換用光透過部材の交換に応じて、前記投影光学系における前記液浸領域外の1つまたは複数の光学部材を前記投影光学系の光軸に対して移動させて調整する移動調整工程とを含むことを特徴とする露光装置の調整方法を提供する。
本発明の第4形態では、像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系を備えた露光装置の調整方法において、
前記投影光学系の液浸領域の光透過部材を、前記液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材と交換する交換工程と、
前記交換用光透過部材の交換に応じて、前記投影光学系における前記液浸領域の光学的光路長を調整する光路長調整工程とを含むことを特徴とする露光装置の調整方法を提供する。
本発明の第5形態では、像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系を備えた露光装置において、
前記投影光学系は、1.0以上で1.3未満の像側の開口数を有し、
前記投影光学系の前記液浸領域の光透過部材は、前記液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材と交換可能に構成され、
前記交換用光透過部材は、基準の中心厚に対して±5μm以内の中心厚を有し、
前記液浸領域の液体の屈折率は1.5以上であることを特徴とする露光装置を提供する。
本発明の第6形態では、像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系を備えた露光装置において、
前記投影光学系は、1.0以上で1.2未満の像側の開口数を有し、
前記投影光学系の前記液浸領域の光透過部材は、前記液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材と交換可能に構成され、
前記交換用光透過部材は、基準の中心厚に対して±5μm以内の中心厚を有し、
前記液浸領域の液体の屈折率は1.5以下であることを特徴とする露光装置を提供する。
本発明の第7形態では、像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系を備えた露光装置において、
前記投影光学系は、1.3以上の像側の開口数を有し、
前記投影光学系の液浸領域の光透過部材は、前記液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材と交換可能に構成され、
前記交換用光透過部材は、基準の中心厚に対して±1μm以内の中心厚を有し、
前記液浸領域の液体の屈折率は1.5以上であることを特徴とする露光装置を提供する。
本発明の第8形態では、像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系を備えた露光装置において、
前記投影光学系は、1.2以上の像側の開口数を有し、
前記投影光学系の液浸領域の光透過部材は、前記液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材と交換可能に構成され、
前記交換用光透過部材は、基準の中心厚に対して±1μm以内の中心厚を有し、
前記液浸領域の液体の屈折率は1.5以下であることを特徴とする露光装置を提供する。
本発明の第9形態では、像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系における交換用光透過部材であって、
前記交換用光透過部材は、前記投影光学系の液浸領域に配置可能に構成され、
前記交換用光透過部材は、前記投影光学系の液浸領域への配置に応じて、前記投影光学系における前記液浸領域の光学的光路長を調整可能に設けられていることを特徴とする交換用光透過部材を提供する。
本発明の第10形態では、像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系における交換用光透過部材であって、
前記交換用光透過部材は、1.0以上で1.3未満の像側の開口数を有する前記投影光学系の液浸領域に配置可能に構成され、
前記交換用光透過部材は、基準の中心厚に対して±5μm以内の中心厚を有し、
前記液浸領域の液体の屈折率は1.5以上であることを特徴とする交換用光透過部材を提供する。
本発明の第11形態では、像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系における交換用光透過部材であって、
前記交換用光透過部材は、1.0以上で1.2未満の像側の開口数を有する前記投影光学系の液浸領域に配置可能に構成され、
前記交換用光透過部材は、基準の中心厚に対して±5μm以内の中心厚を有し、
前記液浸領域の液体の屈折率は1.5以下であることを特徴とする交換用光透過部材を提供する。
本発明の第12形態では、像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系における交換用光透過部材であって、
前記交換用光透過部材は、1.3以上の像側の開口数を有する前記投影光学系の液浸領域に配置可能に構成され、
前記交換用光透過部材は、基準の中心厚に対して±1μm以内の中心厚を有し、
前記液浸領域の液体の屈折率は1.5以上であることを特徴とする交換用光透過部材を提供する。
本発明の第13形態では、像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系における交換用光透過部材であって、
前記交換用光透過部材は、1.2以上の像側の開口数を有する前記投影光学系の液浸領域に配置可能に構成され、
前記交換用光透過部材は、基準の中心厚に対して±1μm以内の中心厚を有し、
前記液浸領域の液体の屈折率は1.5以下であることを特徴とする交換用光透過部材を提供する。
本発明の第14形態では、第1形態または第2形態の露光装置、第3形態または第4形態の調整方法により調整された露光装置、あるいは第5形態〜第8形態の露光装置を用いて、前記パターンを前記感光性基板に露光する露光工程と、
前記露光工程を経た前記感光性基板を現像する現像工程とを含むことを特徴とするデバイスの製造方法を提供する。
本発明の典型的な態様にしたがう露光装置では、液浸領域の光透過部材が交換用光透過部材と交換可能に構成され、この液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材の交換に応じて、交換用光透過部材の光学的光路長が、ひいては液浸領域の光学的光路長が調整可能に構成されている。したがって、本発明の露光装置では、液浸領域の光透過部材の交換による液浸型投影光学系の結像性能の悪化を抑え、良好な結像性能に基づいて微細パターンを高精度に且つ安定的に投影露光することができ、ひいては良好なデバイスを安定的に製造することができる。
本発明の実施形態を、添付図面に基づいて説明する。図1は、本発明の実施形態にかかる露光装置の構成を概略的に示す図である。図1では、X軸およびY軸がウェハWに対して平行な方向に設定され、Z軸がウェハWに対して直交する方向に設定されている。さらに具体的には、XY平面が水平面に平行に設定され、+Z軸が鉛直方向に沿って上向きに設定されている。
本実施形態の露光装置は、図1に示すように、たとえば露光光源であるArFエキシマレーザ光源を含み、オプティカル・インテグレータ(ホモジナイザー)、視野絞り、コンデンサレンズ等から構成される照明光学系1を備えている。光源から射出された波長193nmの紫外パルス光からなる露光光(露光ビーム)ILは、照明光学系1を通過し、レチクル(マスク)Rを照明する。
レチクルRには転写すべきパターンが形成されており、パターン領域全体のうちX方向に沿って長辺を有し且つY方向に沿って短辺を有する矩形状(スリット状)のパターン領域が照明される。レチクルRを通過した光は、液浸型の投影光学系PLを介して、フォトレジストが塗布されたウェハ(感光性基板)W上の露光領域に所定の縮小投影倍率でレチクルパターンを形成する。
すなわち、レチクルR上での矩形状の照明領域に光学的に対応するように、ウェハW上ではX方向に沿って長辺を有し且つY方向に沿って短辺を有する矩形状の静止露光領域(実効露光領域)にパターン像が形成される。レチクルRはレチクルステージRST上においてXY平面に平行に保持され、レチクルステージRSTにはレチクルRをX方向、Y方向および回転方向に微動させる機構が組み込まれている。レチクルステージRSTは、レチクルレーザ干渉計(不図示)によってX方向、Y方向および回転方向の位置がリアルタイムに計測され、且つ制御される。
ウェハWは、ウェハホルダ(不図示)を介してZステージ9上においてXY平面に平行に固定されている。Zステージ9は、投影光学系PLの像面と実質的に平行なXY平面に沿って移動するXYステージ10上に固定されており、ウェハWのフォーカス位置(Z方向の位置)および傾斜角を制御する。Zステージ9は、Zステージ9上に設けられた移動鏡12を用いるウェハレーザ干渉計13によってX方向、Y方向および回転方向の位置がリアルタイムに計測され、且つ制御される。
また、XYステージ10は、ベース11上に載置されており、ウェハWのX方向、Y方向および回転方向を制御する。一方、本実施形態の露光装置に設けられた主制御系14は、レチクルレーザ干渉計により計測された計測値に基づいてレチクルRのX方向、Y方向および回転方向の位置の調整を行う。即ち、主制御系14は、レチクルステージRSTに組み込まれている機構に制御信号を送信し、レチクルステージRSTを微動させることによりレチクルRの位置調整を行う。
また、主制御系14は、オートフォーカス方式及びオートレベリング方式によりウェハW上の表面を投影光学系PLの像面に合わせ込むため、ウェハWのフォーカス位置(Z方向の位置)および傾斜角の調整を行う。即ち、主制御系14は、ウェハステージ駆動系15に制御信号を送信し、ウェハステージ駆動系15によりZステージ9を駆動させることによりウェハWのフォーカス位置および傾斜角の調整を行う。
更に、主制御系14は、ウェハレーザ干渉計13により計測された計測値に基づいてウェハWのX方向、Y方向および回転方向の位置の調整を行う。即ち、主制御系14は、ウェハステージ駆動系15に制御信号を送信し、ウェハステージ駆動系15によりXYステージ10を駆動させることによりウェハWのX方向、Y方向および回転方向の位置調整を行う。
露光時には、主制御系14は、レチクルステージRSTに組み込まれている機構に制御信号を送信すると共に、ウェハステージ駆動系15に制御信号を送信し、投影光学系PLの投影倍率に応じた速度比でレチクルステージRSTおよびXYステージ10を駆動させつつ、レチクルRのパターン像をウェハW上の所定のショット領域内に投影露光する。その後、主制御系14は、ウェハステージ駆動系15に制御信号を送信し、ウェハステージ駆動系15によりXYステージ10を駆動させることによりウェハW上の別のショット領域を露光位置にステップ移動させる。
このように、ステップ・アンド・スキャン方式によりレチクルRのパターン像をウェハW上に走査露光する動作を繰り返す。すなわち、本実施形態では、ウェハステージ駆動系15およびウェハレーザ干渉計13などを用いてレチクルRおよびウェハWの位置制御を行いながら、矩形状の静止露光領域および静止照明領域の短辺方向すなわちY方向に沿ってレチクルステージRSTとXYステージ10とを、ひいてはレチクルRとウェハWとを同期的に移動(走査)させることにより、ウェハW上には静止露光領域の長辺に等しい幅を有し且つウェハWの走査量(移動量)に応じた長さを有する領域に対してレチクルパターンが走査露光される。
図2は、本実施形態における境界レンズとウェハとの間の構成を模式的に示す図である。本実施形態の第2実施例および第4実施例にかかる投影光学系PLでは、図2(a)に示すように、レチクルR側(物体側)の面が第2液体Lm2に接し且つウェハW側(像側)の面が第1液体Lm1に接する平行平面板Lpが最もウェハ側に配置されている。そして、この平行平面板Lpに隣接して、レチクルR側の面が気体に接し且つウェハW側の面が第2液体Lm2に接する境界レンズLbが配置されている。
この場合、液体がウェハWに塗布されたフォトレジスト等による汚染を受けても、境界レンズLbとウェハWとの間に交換可能に介在する平行平面板(一般にはほぼ無屈折力の光学部材)Lpの作用により、汚染された液体による境界レンズLbの像側光学面の汚染を有効に防ぐことができる。一方、第1実施例および第3実施例にかかる投影光学系PLでは、図2(b)に示すように、境界レンズLbとウェハWとの間の光路が、液体Lmで満たされている。
本実施形態において、液体(Lm1,Lm2,Lm)として、半導体製造工場等で容易に大量に入手できる純水(脱イオン水)、たとえばH+,Cs+,K+、Cl-,SO4 2-,PO4 2-を入れた水、イソプロパノール,グリセロール、ヘキサン、ヘプタン、デカンなどを用いることができる。また、境界レンズLbは、レチクルR側に凸面を向け且つウェハW側に平面を向けた正レンズである。
投影光学系PLに対してウェハWを相対移動させつつ走査露光を行うステップ・アンド・スキャン方式の露光装置において、走査露光の開始から終了まで投影光学系PLの境界レンズLbとウェハWとの間の光路中に液体(Lm1,Lm2,Lm)を満たし続けるには、たとえば国際公開番号WO99/49504号公報に開示された技術や、特開平10−303114号公報に開示された技術などを用いることができる。
国際公開番号WO99/49504号公報に開示された技術では、液体供給装置から供給管および排出ノズルを介して所定の温度に調整された液体を境界レンズLbとウェハWとの間の光路を満たすように供給し、液体供給装置により回収管および流入ノズルを介してウェハW上から液体を回収する。一方、特開平10−303114号公報に開示された技術では、液体を収容することができるようにウェハホルダテーブルを容器状に構成し、その内底部の中央において(液体中において)ウェハWを真空吸着により位置決め保持する。また、投影光学系PLの鏡筒先端部が液体中に達し、ひいては境界レンズLbのウェハ側の光学面が液体中に達するように構成する。
本実施形態の第2実施例および第4実施例では、図1に示すように、第1給排水機構21を用いて、平行平面板LpとウェハWとの間の光路中において第1液体Lm1を循環させている。また、第2給排水機構22を用いて、境界レンズLbと平行平面板Lpとの間の光路中において第2液体Lm2を循環させている。このように、浸液としての液体を微小流量で循環させることにより、防腐、防カビ等の効果により液体の変質を防ぐことができる。また、露光光の熱吸収による収差変動を防ぐことができる。なお、第1実施例および第3実施例では、単一の給排水機構(不図示)を用いて、境界レンズLbとウェハWとの間の光路中において液体Lmを循環させることになる。
本実施形態の各実施例において、非球面は、光軸に垂直な方向の高さをyとし、非球面の頂点における接平面から高さyにおける非球面上の位置までの光軸に沿った距離(サグ量)をzとし、頂点曲率半径をrとし、円錐係数をκとし、n次の非球面係数をCnとしたとき、以下の数式(a)で表される。各実施例において、非球面形状に形成されたレンズ面には面番号の右側に*印を付している。
z=(y2/r)/[1+{1−(1+κ)・y2/r21/2
+C4・y4+C6・y6+C8・y8+C10・y10
+C12・y12+C14・y14+・・・ (a)
[第1実施例]
図3は、本実施形態の第1実施例にかかる投影光学系のレンズ構成を示す図である。第1実施例にかかる投影光学系PLは、レチクルRからの光に基づいてレチクルRのパターンの第1中間像を形成する第1結像系G1と、第1中間像からの光に基づいてレチクルRのパターンの第2中間像を形成する第2結像系G2と、第2中間像からの光に基づいてレチクルRのパターンの縮小像をウェハW上に形成する第3結像系G3とにより構成されている。
第1結像系G1は、レチクルRからの光の入射順に、12枚のレンズL11〜L112により構成された屈折型の光学系である。第2結像系G2は、第1中間像からの光の入射順に、2つの凹面反射鏡CM21およびCM22により構成された反射型の光学系である。第3結像系G3は、第2中間像からの光の入射順に、12枚のレンズL31〜L312により構成された屈折型の光学系である。すなわち、第3結像系G3中の最もウェハW側には、境界レンズLbとしての平凸レンズL312が配置されている。
第1実施例では、境界レンズLbとウェハWとの間の光路に、露光光の中心波長(λ=193.306nm)に対して1.556の屈折率を有する液体Lmが満たされている。また、境界レンズLbを除くすべての光透過部材が、露光光の中心波長に対して1.56018811の屈折率を有する石英により形成されている。さらに、境界レンズLbが、露光光の中心波長に対して1.92674849の屈折率を有するサファイアにより形成されている。
第1実施例では、レチクルRからの光が、第1結像系G1中のレンズL11〜L112を介して、レチクルRのパターンの第1中間像を形成する。第1中間像からの光は、第2結像系G2中の凹面反射鏡CM21およびCM22を介して、レチクルRのパターンの第2中間像を形成する。第2中間像からの光は、第3結像系G3中のレンズL31〜L312、および液体層Lmを介して、レチクルRのパターンの縮小像をウェハW上に形成する。
次の表(1)に、第1実施例にかかる投影光学系PLの諸元の値を掲げる。表(1)において、λは露光光の中心波長を、βは投影倍率の大きさを、NAは像側(ウェハ側)開口数をそれぞれ表している。また、面番号はレチクル側からの面の順序を、rは各面の曲率半径(非球面の場合には頂点曲率半径:mm)を、dは各面の軸上間隔すなわち面間隔(mm)を、nは露光光の中心波長に対する屈折率をそれぞれ示している。なお、表(1)における表記は、以降の表(2)〜表(4)においても同様である。
表(1)
(主要諸元)
λ=193.306nm
β=1/4
NA=1.45

(光学部材諸元)
面番号 r d n 光学部材
(レチクル面) 37.647680
1* 200.438805 20.912608 1.56018811 (L11)
2 747.538013 7.881173
3 317.250503 20.945704 1.56018811 (L12)
4 22587.222465 11.951766
5 -354.957551 49.505975 1.56018811 (L13)
6* -278.404969 31.885410
7 133.981210 32.856595 1.56018811 (L14)
8* 186.155059 11.833855
9 260.034334 38.111988 1.56018811 (L15)
10 -248.127931 0.945803
11 97.319012 29.863172 1.56018811 (L16)
12* 247.011352 15.182258
13 ∞ 13.667911 (開口絞り)
14 -118.535589 9.039902 1.56018811 (L17)
15 -136.528381 10.289540
16* -117.640924 9.240335 1.56018811 (L18)
17 -267.170322 7.604882
18 -147.424814 27.656175 1.56018811 (L19)
19 -83.904407 29.670597
20 -79.022234 16.329258 1.56018811 (L110)
21 -99.429984 38.001255
22* -111.093244 49.234984 1.56018811 (L111)
23 -144.921986 0.952550
24 -6366.151454 44.409555 1.56018811 (L112)
25 -217.880653 270.750636
26* -219.739583 -239.183412 (CM21)
27* 184.636114 269.507816 (CM22)
28* 197.874974 37.626342 1.56018811 (L31)
29 524.125561 15.614096
30 -406.239674 8.985971 1.56018811 (L32)
31* 106.800601 32.709694
32 -1162.346319 30.365146 1.56018811 (L33)
33 -161.881438 8.348534
34* -166.445156 11.418724 1.56018811 (L34)
35 -1076.211334 42.927908
36* -546.503260 41.443273 1.56018811 (L35)
37 -173.835591 0.952741
38 -372.875307 32.537548 1.56018811 (L36)
39 -210.380863 1.042699
40 303.213120 50.564746 1.56018811 (L37)
41* 5346.623071 0.921057
42 262.055999 33.924688 1.56018811 (L38)
43 733.813747 0.928913
44 163.353186 39.409378 1.56018811 (L39)
45 349.938998 0.920003
46 279.917107 28.062402 1.56018811 (L310)
47* 11299.235097 0.896338
48 88.608734 39.730068 1.56018811 (L311)
49* 114.264419 0.751321
50 65.720894 50.042923 1.92674849 (L312:Lb)
51 ∞ 1.000000 1.55600000 (Lm)
(ウェハ面)

(非球面データ)
1面
κ=0
4=−2.263569×10-8 6=−9.879901×10-13
8=3.070713×10-1710=−6.018627×10-21
12=4.073174×10-2614=1.391778×10-29

6面
κ=0
4=5.432610×10-8 6=−7.797101×10-12
8=8.455873×10-1610=−6.875038×10-20
12=3.863486×10-2414=−1.112310×10-28

8面
κ=0
4=−7.143508×10-9 6=1.564097×10-11
8=−1.599946×10-1510=3.060476×10-19
12=−2.788321×10-2314=1.126553×10-27

12面
κ=0
4=2.619298×10-7 6=−3.814641×10-11
8=1.148617×10-1410=−4.506119×10-18
12=−5.794434×10-2314=4.244063×10-26

16面
κ=0
4=−3.184960×10-7 6=−3.142211×10-11
8=−1.728296×10-1510=−1.249207×10-18
12=−9.678014×10-2414=−4.921692×10-26

22面
κ=0
4=2.863527×10-8 6=1.884154×10-12
8=1.636375×10-1710=1.888300×10-20
12=−2.021635×10-2414=1.591959×10-28

26面
κ=0
4=8.694636×10-9 6=1.385871×10-13
8=1.727286×10-1810=4.461465×10-23
12=−7.172318×10-2814=3.081240×10-32

27面
κ=0
4=−6.654566×10-9 6=−1.686449×10-13
8=−2.470942×10-1810=−2.362157×10-22
12=7.757389×10-2714=−3.330142×10-31

28面
κ=0
4=5.614883×10-8 6=1.450774×10-12
8=1.892047×10-1610=6.954696×10-21
12=−1.108417×10-2414=2.459404×10-28

31面
κ=0
4=−1.288689×10-7 6=4.820574×10-12
8=5.082977×10-1610=−1.375138×10-19
12=1.555422×10-2314=−2.481857×10-28

34面
κ=0
4=−1.177998×10-7 6=−5.683441×10-12
8=−5.647064×10-1610=−7.031797×10-21
12=−1.902336×10-2414=2.891112×10-29

36面
κ=0
4=−2.187776×10-8 6=−8.068584×10-14
8=8.600815×10-1710=−2.071494×10-20
12=1.290940×10-2414=−3.884318×10-29

41面
κ=0
4=−1.577571×10-8 6=3.706857×10-13
8=−1.492063×10-1710=−9.742126×10-22
12=6.498365×10-2614=−9.630077×10-31

47面
κ=0
4=−8.244653×10-9 6=4.957466×10-12
8=−2.442972×10-1610=6.741381×10-21
12=2.034640×10-2514=−2.570056×10-29

49面
κ=0
4=2.024084×10-7 6=1.422789×10-11
8=3.923209×10-1510=4.845684×10-19
12=−2.134986×10-2214=5.591977×10-26
[第2実施例]
図4は、本実施形態の第2実施例にかかる投影光学系のレンズ構成を示す図である。第2実施例にかかる投影光学系PLは、第1実施例と類似した構成を有するが、第3結像系G3中の最もウェハW側に平行平面板Lpが配置され、平行平面板Lpに隣接して境界レンズLb(平凸レンズL312)が配置されている点が第1実施例と相違している。すなわち、第2実施例では、境界レンズLbと平行平面板Lpとの間の光路および平行平面板LpとウェハWとの間の光路に、第1実施例と同じ液体(Lm1,Lm2)が満たされている。また、平行平面板Lpは、境界レンズLbと同様に、露光光の中心波長に対して1.92674849の屈折率を有するサファイアにより形成されている。
第2実施例では、レチクルRからの光が、第1結像系G1中のレンズL11〜L112を介して、レチクルRのパターンの第1中間像を形成する。第1中間像からの光は、第2結像系G2中の凹面反射鏡CM21およびCM22を介して、レチクルRのパターンの第2中間像を形成する。第2中間像からの光は、第3結像系G3中のレンズL31〜L312、第2液体層Lm2、平行平面板Lp、および第1液体層Lm1を介して、レチクルRのパターンの縮小像をウェハW上に形成する。次の表(2)に、第2実施例にかかる投影光学系PLの諸元の値を掲げる。ただし、第2実施例におけるレンズL11からレンズL311までの構成は第1実施例と同じであるため、非球面データの重複する表示を省略する。
表(2)
(主要諸元)
λ=193.306nm
β=1/4
NA=1.45

(光学部材諸元)
面番号 r d n 光学部材
(レチクル面) 37.647680
1* 200.438805 20.912608 1.56018811 (L11)
2 747.538013 7.881173
3 317.250503 20.945704 1.56018811 (L12)
4 22587.222465 11.951766
5 -354.957551 49.505975 1.56018811 (L13)
6* -278.404969 31.885410
7 133.981210 32.856595 1.56018811 (L14)
8* 186.155059 11.833855
9 260.034334 38.111988 1.56018811 (L15)
10 -248.127931 0.945803
11 97.319012 29.863172 1.56018811 (L16)
12* 247.011352 15.182258
13 ∞ 13.667911 (開口絞り)
14 -118.535589 9.039902 1.56018811 (L17)
15 -136.528381 10.289540
16* -117.640924 9.240335 1.56018811 (L18)
17 -267.170322 7.604882
18 -147.424814 27.656175 1.56018811 (L19)
19 -83.904407 29.670597
20 -79.022234 16.329258 1.56018811 (L110)
21 -99.429984 38.001255
22* -111.093244 49.234984 1.56018811 (L111)
23 -144.921986 0.952550
24 -6366.151454 44.409555 1.56018811 (L112)
25 -217.880653 270.750636
26* -219.739583 -239.183412 (CM21)
27* 184.636114 269.507816 (CM22)
28* 197.874974 37.626342 1.56018811 (L31)
29 524.125561 15.614096
30 -406.239674 8.985971 1.56018811 (L32)
31* 106.800601 32.709694
32 -1162.346319 30.365146 1.56018811 (L33)
33 -161.881438 8.348534
34* -166.445156 11.418724 1.56018811 (L34)
35 -1076.211334 42.927908
36* -546.503260 41.443273 1.56018811 (L35)
37 -173.835591 0.952741
38 -372.875307 32.537548 1.56018811 (L36)
39 -210.380863 1.042699
40 303.213120 50.564746 1.56018811 (L37)
41* 5346.623071 0.921057
42 262.055999 33.924688 1.56018811 (L38)
43 733.813747 0.928913
44 163.353186 39.409378 1.56018811 (L39)
45 349.938998 0.920003
46 279.917107 28.062402 1.56018811 (L310)
47* 11299.235097 0.896338
48 88.608734 39.730068 1.56018811 (L311)
49* 114.264419 0.751321
50 65.720894 30.042923 1.92674849 (L312:Lb)
51 ∞ 0.500000 1.55600000 (Lm2)
52 ∞ 20.000000 1.92674849 (Lp)
53 ∞ 0.500000 1.55600000 (Lm1)
(ウェハ面)
[第3実施例]
図5は、本実施形態の第3実施例にかかる投影光学系のレンズ構成を示す図である。第3実施例にかかる投影光学系PLは、第1実施例と類似した構成を有するが、第1結像系G1が11枚のレンズL11〜L111により構成され、第3結像系G3が10枚のレンズL31〜L310により構成されている点が第1実施例と相違している。また、境界レンズLbとウェハWとの間の光路に、露光光の中心波長(λ=193.306nm)に対して1.43612686の屈折率を有する純水Lmが満たされている点が第1実施例と相違している。
第3実施例では、レチクルRからの光が、第1結像系G1中のレンズL11〜L111を介して、レチクルRのパターンの第1中間像を形成する。第1中間像からの光は、第2結像系G2中の凹面反射鏡CM21およびCM22を介して、レチクルRのパターンの第2中間像を形成する。第2中間像からの光は、第3結像系G3中のレンズL31〜L310、および純水層Lmを介して、レチクルRのパターンの縮小像をウェハW上に形成する。次の表(3)に、第3実施例にかかる投影光学系PLの諸元の値を掲げる。
表(3)
(主要諸元)
λ=193.306nm
β=1/4
NA=1.35

(光学部材諸元)
面番号 r d n 光学部材
(レチクル面) 37.647680
1* 213.097095 21.139875 1.56018811 (L11)
2 980.962863 0.933467
3 312.309311 19.869666 1.56018811 (L12)
4 7050.227976 14.977212
5 -284.845054 46.899913 1.56018811 (L13)
6* -316.674517 31.820687
7 127.504953 32.199127 1.56018811 (L14)
8* 177.687028 14.069304
9 233.816949 49.949045 1.56018811 (L15)
10 -272.601570 1.802731
11 92.974202 24.948435 1.56018811 (L16)
12* 228.036841 31.795297
13 -128.436888 15.028089 1.56018811 (L17)
14 -208.039449 19.686225
15* -85.822730 9.039605 1.56018811 (L18)
16 -124.923386 5.248146
17 -134.255203 24.981296 1.56018811 (L19)
18 -86.028170 70.079618
19* -91.784845 49.926992 1.56018811 (L110)
20 -130.258172 3.354815
21 -819.889396 43.461173 1.56018811 (L111)
22 -193.549016 277.291798
23* -220.432400 -231.344649 (CM21)
24* 175.171589 261.356424 (CM22)
25* 222.618410 49.895981 1.56018811 (L31)
26 227.634130 10.722465
27 469.132386 43.799915 1.56018811 (L32)
28* 112.693662 31.313114
29 12293.399547 31.702057 1.56018811 (L33)
30 -155.449641 4.962336
31* -219.506451 26.268152 1.56018811 (L34)
32 -1377.822971 32.354789
33* -519.892544 47.183977 1.56018811 (L35)
34 -163.140684 1.841108
35 -340.920966 26.977392 1.56018811 (L36)
36 -214.582539 2.006234
37 271.181444 53.143321 1.56018811 (L37)
38* -1118.441818 19.790952
39 ∞ -14.609943 (開口絞り)
40 174.102740 52.205661 1.56018811 (L38)
41* -663.589997 3.836965
42 84.561977 46.625084 1.56018811 (L39)
43 95.046969 0.694913
44* 64.492898 46.885676 1.92674849 (L310:Lb)
45 ∞ 1.000000 1.43612686 (Lm)
(ウェハ面)

(非球面データ)
1面
κ=0
4=−7.766221×10-9 6=−1.414298×10-12
8=2.026799×10-1610=−9.311177×10-21
12=8.983777×10-2614=−5.139250×10-30

6面
κ=0
4=3.921777×10-8 6=−7.469962×10-12
8=9.877277×10-1610=−6.240165×10-20
12=3.683666×10-2414=−1.606542×10-28

8面
κ=0
4=−1.973978×10-8 6=1.686856×10-11
8=−1.521195×10-1510=2.838141×10-19
12=−2.893390×10-2314=1.372152×10-27

12面
κ=0
4=2.262385×10-7 6=−3.111178×10-11
8=8.999889×10-1510=−4.631502×10-18
12=7.225241×10-2314=5.035383×10-26

15面
κ=0
4=−2.849645×10-7 6=−3.795087×10-11
8=−4.195519×10-1510=−2.684695×10-18
12=−2.249016×10-2314=−5.606361×10-26

19面
κ=0
4=2.306275×10-8 6=1.672430×10-12
8=−3.451288×10-1810=3.656429×10-20
12=−5.091821×10-2414=5.148418×10-28

23面
κ=0
4=9.197905×10-9 6=1.297990×10-13
8=1.447412×10-1810=4.002605×10-23
12=−7.044663×10-2814=3.011922×10-32

24面
κ=0
4=−7.280789×10-9 6=−2.062090×10-13
8=−3.885785×10-1810=−3.101616×10-22
12=1.113163×10-2614=−6.186058×10-31

25面
κ=0
4=8.044076×10-8 6=6.845761×10-13
8=8.440855×10-1710=−8.233892×10-21
12=1.115110×10-2414=−3.079026×10-29

28面
κ=0
4=−1.035389×10-8 6=5.752946×10-14
8=3.412577×10-1610=−1.247784×10-19
12=5.556509×10-2414=1.295943×10-27

31面
κ=0
4=−1.291718×10-7 6=−4.385607×10-12
8=−2.255698×10-1610=−2.117620×10-21
12=−1.322919×10-2414=1.074049×10-28

33面
κ=0
4=−4.530057×10-8 6=−2.081953×10-13
8=1.680387×10-1610=−4.155797×10-20
12=3.040355×10-2414=−1.238033×10-28

38面
κ=0
4=−1.801990×10-8 6=6.277450×10-13
8=−5.256278×10-1710=−4.688822×10-21
12=4.497908×10-2514=−9.348185×10-30

41面
κ=0
4=−2.682021×10-8 6=7.361672×10-12
8=−3.951877×10-1610=1.434967×10-20
12=−3.980440×10-2614=−2.642973×10-29
16=1.163864×10-33

44面
κ=0
4=−1.900216×10-7 6=−4.832504×10-11
8=−1.233010×10-1410=7.440284×10-19
12=1.430823×10-2214=−3.924075×10-25
[第4実施例]
図6は、本実施形態の第4実施例にかかる投影光学系のレンズ構成を示す図である。第4実施例にかかる投影光学系PLは、第3実施例と類似した構成を有するが、第3結像系G3中の最もウェハW側に平行平面板Lpが配置され、平行平面板Lpに隣接して境界レンズLb(平凸レンズL310)が配置されている点が第3実施例と相違している。すなわち、第4実施例では、境界レンズLbと平行平面板Lpとの間の光路および平行平面板LpとウェハWとの間の光路に、第3実施例と同じ純水(Lm1,Lm2)が満たされている。また、平行平面板Lpは、境界レンズLbと同様に、露光光の中心波長に対して1.92674849の屈折率を有するサファイアにより形成されている。
第4実施例では、レチクルRからの光が、第1結像系G1中のレンズL11〜L111を介して、レチクルRのパターンの第1中間像を形成する。第1中間像からの光は、第2結像系G2中の凹面反射鏡CM21およびCM22を介して、レチクルRのパターンの第2中間像を形成する。第2中間像からの光は、第3結像系G3中のレンズL31〜L310、第2純水層Lm2、平行平面板Lp、および第1純水層Lm1を介して、レチクルRのパターンの縮小像をウェハW上に形成する。次の表(4)に、第4実施例にかかる投影光学系PLの諸元の値を掲げる。ただし、第4実施例におけるレンズL11からレンズL39までの構成は第3実施例と同じであるため、非球面データの重複する表示を省略する。
表(4)
(主要諸元)
λ=193.306nm
β=1/4
NA=1.35

(光学部材諸元)
面番号 r d n 光学部材
(レチクル面) 37.647680
1* 213.097095 21.139875 1.56018811 (L11)
2 980.962863 0.933467
3 312.309311 19.869666 1.56018811 (L12)
4 7050.227976 14.977212
5 -284.845054 46.899913 1.56018811 (L13)
6* -316.674517 31.820687
7 127.504953 32.199127 1.56018811 (L14)
8* 177.687028 14.069304
9 233.816949 49.949045 1.56018811 (L15)
10 -272.601570 1.802731
11 92.974202 24.948435 1.56018811 (L16)
12* 228.036841 31.795297
13 -128.436888 15.028089 1.56018811 (L17)
14 -208.039449 19.686225
15* -85.822730 9.039605 1.56018811 (L18)
16 -124.923386 5.248146
17 -134.255203 24.981296 1.56018811 (L19)
18 -86.028170 70.079618
19* -91.784845 49.926992 1.56018811 (L110)
20 -130.258172 3.354815
21 -819.889396 43.461173 1.56018811 (L111)
22 -193.549016 277.291798
23* -220.432400 -231.344649 (CM21)
24* 175.171589 261.356424 (CM22)
25* 222.618410 49.895981 1.56018811 (L31)
26 227.634130 10.722465
27 469.132386 43.799915 1.56018811 (L32)
28* 112.693662 31.313114
29 12293.399547 31.702057 1.56018811 (L33)
30 -155.449641 4.962336
31* -219.506451 26.268152 1.56018811 (L34)
32 -1377.822971 32.354789
33* -519.892544 47.183977 1.56018811 (L35)
34 -163.140684 1.841108
35 -340.920966 26.977392 1.56018811 (L36)
36 -214.582539 2.006234
37 271.181444 53.143321 1.56018811 (L37)
38* -1118.441818 19.790952
39 ∞ -14.609943 (開口絞り)
40 174.102740 52.205661 1.56018811 (L38)
41* -663.589997 3.836965
42 84.561977 46.625084 1.56018811 (L39)
43 95.046969 0.694913
44 64.492898 31.885676 1.92674849 (L310:Lb)
45 ∞ 0.500000 1.43612686 (Lm2)
46 ∞ 15.000000 1.92674849 (Lp)
47 ∞ 0.500000 1.43612686 (Lm1)
(ウェハ面)
以上のように、第1実施例および第3実施例にかかる液浸型投影光学系PLでは、液浸領域の光透過部材としての境界レンズLbがサファイアにより形成されている。また、第2実施例および第4実施例にかかる液浸型投影光学系PLでは、液浸領域の光透過部材としての境界レンズLbおよび平行平面板Lpがサファイアにより形成されている。なお、本明細書において、「液浸領域」とは、浸液としての液体、および該液体に接する光透過部材を指している。
このため、第1実施例での液浸領域にある光透過部材は、例えばレンズL312(Lb)であり、第2実施例での液浸領域にある光透過部材は、例えばレンズL312(Lb)及び平行平面板Lpである。また、第3実施例での液浸領域にある光透過部材は、例えばレンズL310(Lb)であり、第4実施例での液浸領域にある光透過部材は、例えばレンズL310(Lb)及び平行平面板Lpである。
石英の場合と同様に、サファイアにより形成された液浸領域の光透過部材も大きな光照射エネルギに対する耐久性が十分ではなく、液浸型投影光学系PLの結像性能が低下し易い。したがって、液浸型投影光学系PLを搭載する本実施形態の露光装置では、良好な結像性能を維持するために、サファイアにより形成された液浸領域の光透過部材を適時交換する必要がある。以下、説明を簡単にするために、第2実施例および第4実施例における平行平面板Lpを交換する例について考える。
本実施形態の露光装置では、液浸型投影光学系PL中の液浸領域の平行平面板Lpが、図7に示すような一対の光学部材HaおよびHbからなる交換用光透過部材と交換可能に構成されている。一対の光学部材HaおよびHbは、ともに楔状の形態を有し、図7(a)に示す標準状態において、投影光学系PLの光軸AXに垂直な面に対して傾斜する面(以下、「基準傾斜面」という)を挟んで互いに平行に対向する斜面HaaおよびHbaをそれぞれ有する。また、図7(a)に示す標準状態において、第1光学部材Haの斜面Haaと対向する光入射面Habおよび第2光学部材Hbの斜面Hbaと対向する光射出面Hbbは、投影光学系PLの光軸AXに垂直である。
したがって、液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材(Ha,Hb)は、図7(a)に示す標準状態の姿勢を維持しつつ第1光学部材Haの斜面Haaと第2光学部材Hbの斜面Hbaとを当接させた状態で、交換前の平行平面板Lpに対応する寸法の平行平面板を形成する。そして、第1光学部材Haおよび第2光学部材Hbは、それぞれ基準傾斜面(図中破線で示す)に沿って移動可能に構成されている。換言すれば、第1光学部材Haは斜面Haaを含む傾斜面に沿って移動可能であり、第2光学部材Hbは斜面Hbaを含む傾斜面に沿って移動可能である。
こうして、図7(b)に示すように、第1光学部材Haを図中右側へ移動させたり、第2光学部材Hbを図中左側へ移動させたりすると、交換用光透過部材(Ha,Hb)の中心厚(第1光学部材Haの光軸AXに沿った厚さと第2光学部材Hbの光軸AXに沿った厚さとの和)は、標準状態における中心厚よりも小さくなる。逆に、図7(c)に示すように、第1光学部材Haを図中左側へ移動させたり、第2光学部材Hbを図中右側へ移動させたりすると、交換用光透過部材(Ha,Hb)の中心厚は、標準状態における中心厚よりも大きくなる。
すなわち、交換用光透過部材(Ha,Hb)では、斜面Haaを含む傾斜面に沿って第1光学部材Haを移動させたり、斜面Hbaを含む傾斜面に沿って第2光学部材Hbを移動させたりすることにより、その光学的光路長を調整することが可能である。一般に、液浸領域の平行平面板Lp(一般には液浸領域の光透過部材)を単に別の交換用平行平面板(一般には交換用の光透過部材)と交換すると、交換用平行平面板の製造誤差や組立誤差(位置決め誤差)などに起因して収差が発生し易く、平行平面板Lpの交換により結像性能の悪化が起こる恐れがある。
特に、液浸領域にある交換用光透過部材(Ha,Hb)での投影光学系PLの像側開口数は、1.3を超えている。このため、交換用光透過部材(Ha,Hb)の設置誤差、調整誤差あるいは製造誤差等により、液浸型投影光学系PLにおける中次から高次の波面収差(ツェルニケ係数で8次〜10次の係数、換言すれば、中次から高次の球面収差やコマ収差)が発生する恐れがある。そこで、本実施形態では、液浸領域での光学的光路長の調整手法(交換用光透過部材の調整等)を用いて、液浸型投影光学系PLにおける中次から高次の波面収差を補正している。
本実施形態では、液浸領域の平行平面板Lpが、液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材(Ha,Hb)と交換可能に構成され、この交換用光透過部材(Ha,Hb)の交換に応じて、交換用光透過部材(Ha,Hb)の光学的光路長が、ひいては液浸領域の光学的光路長が調整可能に構成されている。その結果、液浸領域の平行平面板Lpの交換による液浸型投影光学系PLの結像性能の悪化を抑え、良好な結像性能に基づいてレチクルRの微細パターンをウェハW上に高精度に且つ安定的に投影露光することができる。
楔状プリズム等の交換用光透過部材(Ha,Hb)の可動による調整により、交換用光透過部材(Ha,Hb)の交換に際して発生する液浸型投影光学系PLの中次から高次の波面収差(ツェルニケ係数で8次〜10次の係数、換言すれば、中次から高次の球面収差やコマ収差)を効率良く良好に補正することができる。これにより、交換用光透過部材(Ha,Hb)の交換によっても液浸型投影光学系PLの優れた結像特性を十分に引き出すことができる。
なお、上述の実施形態では、交換用光透過部材(Ha,Hb)を構成する一対の光学部材HaおよびHbが、それぞれ基準傾斜面に沿って移動可能に構成されている。しかしながら、これに限定されることなく、第1光学部材Haおよび第2光学部材Hbのうちの少なくとも一方を基準傾斜面に沿って移動可能に構成することにより、上述の実施形態と同様の効果を得ることができる。
また、上述の実施形態では、第1光学部材Haや第2光学部材Hbを基準傾斜面に沿って移動させることにより、交換用光透過部材(Ha,Hb)の中心厚を調整している。その結果、特に交換用光透過部材の中心厚に関連する製造誤差や組立誤差などに起因する収差を良好に補正することができる。しかしながら、これに限定されることなく、第1光学部材Haおよび第2光学部材Hbのうちの少なくとも一方を光軸AX廻りに回転可能に構成する変形例も可能である。この変形例の場合、交換用光透過部材(Ha,Hb)の中心厚は変化しないが、光軸AXに垂直な面内における交換用光透過部材(Ha,Hb)の光学的光路長の分布が変化するので、特に交換用光透過部材の光学的光路長の面内分布に関連する製造誤差や組立誤差などに起因する収差を良好に補正することができる。
一般的には、交換用光透過部材(Ha,Hb)を構成する一対の光学部材HaおよびHbのうちの少なくとも一方を、基準傾斜面に沿って移動可能に構成したり、光軸AX廻りに回転可能に構成したり、基準傾斜面に沿って移動可能で且つ光軸AX廻りに回転可能に構成したりすることにより、交換用光透過部材(Ha,Hb)の光学的光路長が調整可能になり、ひいては液浸領域の平行平面板Lpの交換による液浸型投影光学系PLの結像性能の悪化を抑えることができる。
また、上述の実施形態では、交換用光透過部材(Ha,Hb)を構成する一対の光学部材HaとHbとが、基準傾斜面を挟んで間隔を隔てて配置されている。しかしながら、これに限定されることなく、第1光学部材Haの斜面Haaと第2光学部材Hbの斜面Hbaとが互いに当接するように交換用光透過部材(Ha,Hb)を配置する変形例も可能である。この変形例では、斜面Haaと斜面Hbaとの当接状態を維持しつつ、一対の光学部材HaおよびHbのうちの少なくとも一方を基準傾斜面に沿って移動させたり、光軸AX廻りに回転微動させたりすることになる。
また、上述の実施形態では、交換用光透過部材(Ha,Hb)の光学的光路長を調整することにより、液浸領域の光学的光路長を調整している。しかしながら、これに限定されることなく、液浸領域の液体Lmの屈折率を調整することにより、液浸領域の光学的光路長を調整し、ひいては液浸領域の平行平面板Lpの交換による液浸型投影光学系PLの結像性能の悪化を抑えることもできる。この場合、交換用光透過部材として、たとえば一対の光学部材HaおよびHbからなる交換用光透過部材を用いても良いし、単体部材としての交換用平行平面板を用いても良い。なお、液体Lmの屈折率を調整するには、液体Lmに屈折率の異なる別の液体を混入させる手法や、液体Lmの温度を変化させる手法などを用いることができる。
また、上述の実施形態では、交換用光透過部材(Ha,Hb)の作用により液浸領域の光学的光路長を調整することにより、液浸領域の平行平面板Lpの交換による液浸型投影光学系PLの結像性能の悪化を抑えている。しかしながら、これに限定されることなく、液浸領域外の1つまたは複数の光学部材を光軸AXに対して移動可能に構成し、液浸領域の平行平面板Lpと交換用光透過部材との交換に応じて、当該光学部材を光軸AXに対して移動させて調整することにより、液浸領域の平行平面板Lpの交換による液浸型投影光学系PLの結像性能の悪化を抑えることもできる。この場合、交換用光透過部材として、たとえば一対の光学部材HaおよびHbからなる交換用光透過部材を用いても良いし、単体部材としての交換用平行平面板を用いても良い。
ここで、光軸AXに対して移動可能な液浸領域外のレンズ等の光学部材は、第1結像系G1中の気体に接する光学部材(第1及び第2実施例ではL11〜L112、第3及び第4実施例ではL11〜L111)と第3結像系G3中の気体と接している光学部材(第1及び第2実施例ではL31〜L311、第3及び第4実施例ではL31〜L39)のうちの少なくとも1つの光学部材である。液浸領域外のレンズ等の光学部材の少なくとも1つを光軸AXに対して移動させることにより、交換用光透過部材(Ha,Hb)の交換に際して発生する液浸型投影光学系PLの比較的低次の波面収差(ツェルニケ係数で8次〜10次の係数、換言すれば、中次から高次の球面収差やコマ収差)を効率良く良好に補正することができる。これにより、交換用光透過部材(Ha,Hb)の交換によっても液浸型投影光学系PLの優れた結像特性を十分に引き出すことができる。
なお、液浸領域にある交換用光透過部材(Ha,Hb)での投影光学系PLの像側開口数が、1以上で1.3未満の場合には、投影光学系PLでは中次から高次の波面収差ではなく低次の波面収差が比較的発生する傾向にある。この場合には、液浸領域外のレンズを光軸AXに対して移動可能とするのみで対応することが可能となり、液浸領域での光学的光路長の調整手法(交換用光透過部材の調整等)を不要とすることができる。
具体的に、液浸領域外の1つまたは複数の光学部材を光軸AXに対して移動可能に構成する技術では、レンズを光軸方向に移動させたり、レンズを光軸と直交する方向に移動(シフト)させたり、レンズを光軸に対して傾斜(チルト)させたりするレンズ調整(レンズコントロール)により、投影光学系の収差を補正する。この種のレンズコントロール技術の詳細については、たとえば特開平5−41344号公報(米国特許第5,424,552号に対応)に開示されている。また、投影光学系中の気体の屈折率を変化させて収差補正を行う技術を併用することもできる。この場合、投影光学系中の気体の屈折率を調整するには、気体(たとえば空気や窒素)に屈折率の異なる別の気体(たとえばヘリウム)を混入させる手法や、気体の温度を変化させる手法などを用いることができる。
また、上述の実施形態では、液浸領域の平行平面板Lpの交換を例にとって本発明を説明している。しかしながら、これに限定されることなく、液浸領域の境界レンズLbの交換に対しても同様に本発明を適用することができる。さらに一般的には、液浸型投影光学系の液浸領域の光透過部材と液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材との交換に対して、本発明を適用することができる。
ところで、液浸型投影光学系において、液浸領域の光透過部材(平行平面板、境界レンズなど)を交換用光透過部材(図3及び図5では例えば境界レンズLb、図4及び図6では例えば平行平面板Lp)と交換する場合、交換用光透過部材における設置誤差、調整誤差あるいは製造誤差等により発生する収差を防止するには、主に交換用光透過部材の中心厚を管理することが極めて有効である。次の表(5)および表(6)に、第1実施例および第2実施例において交換用光透過部材の中心厚誤差の影響により発生する波面収差(単位:λrms)を示す。また、次の表(7)および表(8)に、第3実施例および第4実施例において交換用光透過部材の中心厚誤差の影響により発生する波面収差(単位:λrms)を示す。波面収差の単位λrmsにおいて、λは光の波長(各実施例においてλ=193.306nm)であり、rms(root mean square)は自乗平均平方根(あるいは平方自乗平均)を示している。
表(5)
NA=1.1 NA=1.2 NA=1.29
5.0μm 0.0009 0.0023 0.0056
4.8μm 0.0008 0.0022 0.0054
3.2μm 0.0005 0.0015 0.0036
1.6μm 0.0003 0.0007 0.0018
0.8μm 0.0001 0.0004 0.0009
表(6)
NA=1.3 NA=1.35 NA=1.45
1.0μm 0.0012 0.0021 0.0067
0.6μm 0.0007 0.0013 0.0040
0.3μm 0.0004 0.0006 0.0020
0.15μm 0.0002 0.0003 0.0010
表(7)
NA=1.0 NA=1.1 NA=1.19
5.0μm 0.0007 0.0019 0.0050
4.8μm 0.0006 0.0018 0.0048
3.2μm 0.0004 0.0012 0.0032
1.6μm 0.0002 0.0006 0.0016
0.8μm 0.0001 0.0003 0.0008
表(8)
NA=1.2 NA=1.3 NA=1.35
1.0μm 0.0011 0.0035 0.0067
0.6μm 0.0007 0.0021 0.0040
0.3μm 0.0003 0.0011 0.0020
0.15μm 0.0002 0.0005 0.0010
すなわち、表(5)は、液体Lmの屈折率が1.5以上で像側開口数NAが1.3未満の場合に対応している。表(7)は、液体Lmの屈折率が1.5以下で像側開口数NAが1.2未満の場合に対応している。表(6)は、液体Lmの屈折率が1.5以上で像側開口数NAが1.3以上の場合に対応している。表(8)は、液体Lmの屈折率が1.5以下で像側開口数NAが1.2以上の場合に対応している。
まず、液体Lmの屈折率が1.5以上で像側開口数NAが1.3未満の場合および液体Lmの屈折率が1.5以下で像側開口数NAが1.2未満の場合に着目し、表(5)および表(7)を参照すると、交換用光透過部材の中心厚誤差を5.0μm以下に抑えることにより、発生する波面収差が6mλ程度以下に抑えられることがわかる。具体的に、第1実施例および第2実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が5.0μmで、像側開口数NAが1.29のときに、波面収差の発生量が5.6mλになっている。また、第3実施例および第4実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が5.0μmで、像側開口数NAが1.19のときに、波面収差の発生量が5.0mλになっている。
また、表(5)および表(7)を参照すると、交換用光透過部材の中心厚誤差を4.8μm以下に抑えることにより、発生する波面収差が5.5mλ程度以下に抑えられることがわかる。具体的に、第1実施例および第2実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が4.8μmで、像側開口数NAが1.29のときに、波面収差の発生量が5.4mλになっている。また、第3実施例および第4実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が4.8μmで、像側開口数NAが1.19のときに、波面収差の発生量が4.8mλになっている。
また、表(5)および表(7)を参照すると、交換用光透過部材の中心厚誤差を3.2μm以下に抑えることにより、発生する波面収差が4.0mλ程度以下に抑えられることがわかる。具体的に、第1実施例および第2実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が3.2μmで、像側開口数NAが1.29のときに、波面収差の発生量が3.6mλになっている。また、第3実施例および第4実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が3.2μmで、像側開口数NAが1.19のときに、波面収差の発生量が3.2mλになっている。
また、表(5)および表(7)を参照すると、交換用光透過部材の中心厚誤差を1.6μm以下に抑えることにより、発生する波面収差が2.0mλ程度以下に抑えられることがわかる。具体的に、第1実施例および第2実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が1.6μmで、像側開口数NAが1.29のときに、波面収差の発生量が1.8mλになっている。また、第3実施例および第4実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が1.6μmで、像側開口数NAが1.19のときに、波面収差の発生量が1.6mλになっている。
また、表(5)および表(7)を参照すると、交換用光透過部材の中心厚誤差を0.8μm以下に抑えることにより、発生する波面収差が1.0mλ程度以下に抑えられることがわかる。具体的に、第1実施例および第2実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が0.8μmで、像側開口数NAが1.29のときに、波面収差の発生量が0.9mλになっている。また、第3実施例および第4実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が0.8μmで、像側開口数NAが1.19のときに、波面収差の発生量が0.8mλになっている。
次に、液体Lmの屈折率が1.5以上で像側開口数NAが1.3以上の場合および液体Lmの屈折率が1.5以下で像側開口数NAが1.2以上の場合に着目し、表(6)および表(8)を参照すると、交換用光透過部材の中心厚誤差を1.0μm以下に抑えることにより、発生する波面収差が7mλ程度以下に抑えられることがわかる。具体的に、第1実施例および第2実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が1.0μmで、像側開口数NAが1.45のときに、波面収差の発生量が6.7mλになっている。また、第3実施例および第4実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が1.0μmで、像側開口数NAが1.35のときに、波面収差の発生量が6.7mλになっている。
また、表(6)および表(8)を参照すると、交換用光透過部材の中心厚誤差を0.6μm以下に抑えることにより、発生する波面収差が4.0mλ程度以下に抑えられることがわかる。具体的に、第1実施例および第2実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が0.6μmで、像側開口数NAが1.45のときに、波面収差の発生量が4.0mλになっている。また、第3実施例および第4実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が0.6μmで、像側開口数NAが1.35のときに、波面収差の発生量が4.0mλになっている。
また、表(6)および表(8)を参照すると、交換用光透過部材の中心厚誤差を0.3μm以下に抑えることにより、発生する波面収差が2.0mλ程度以下に抑えられることがわかる。具体的に、第1実施例および第2実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が0.3μmで、像側開口数NAが1.45のときに、波面収差の発生量が2.0mλになっている。また、第3実施例および第4実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が0.3μmで、像側開口数NAが1.35のときに、波面収差の発生量が2.0mλになっている。
また、表(6)および表(8)を参照すると、交換用光透過部材の中心厚誤差を0.15μm以下に抑えることにより、発生する波面収差が1.0mλ程度以下に抑えられることがわかる。具体的に、第1実施例および第2実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が0.15μmで、像側開口数NAが1.45のときに、波面収差の発生量が1.0mλになっている。また、第3実施例および第4実施例では、交換用光透過部材の中心厚誤差が0.15μmで、像側開口数NAが1.35のときに、波面収差の発生量が1.0mλになっている。
以上より、たとえば像側開口数が1.0以上で1.3未満で且つ液体(浸液)の屈折率が1.5以上である場合や、像側開口数が1.0以上で1.2未満で且つ液体(浸液)の屈折率が1.5以下である場合には、交換用光透過部材の中心厚が基準の中心厚(交換前の光透過部材の実際の中心厚または設計上の中心厚)に対して±5μm以内に収まるように交換用光透過部材を管理すべきである。このように交換用光透過部材の中心厚を管理すれば、たとえばレンズコントロール技術により、液浸領域の光透過部材の交換による結像性能の悪化を抑えることができる。
また、たとえば像側開口数が1.3以上で且つ液体(浸液)の屈折率が1.5以上である場合や、像側開口数が1.2以上で且つ液体(浸液)の屈折率が1.5以下である場合には、交換用光透過部材の中心厚が基準の中心厚(交換前の光透過部材の実際の中心厚または設計上の中心厚)に対して±1μm以内に収まるように交換用光透過部材を管理すべきである。このように、交換用光透過部材の中心厚の管理によって、6〜8mλ程度以下の波面収差に抑えられ、その結果、極めて調整が容易な低次収差の発生に抑えられる。このため、液浸領域での調整を不要としながら、液浸領域外のレンズ等を光軸AXに対して移動させるレンズコントロール等による調整が容易となる。さらには、交換用光透過部材の中心厚の管理によって、液浸領域外でのレンズ等を光軸AXに対して移動させるレンズコントロールを用いることなく、投影光学系PLでの収差の発生を抑えることも可能となる。なお、交換用光透過部材の中心厚の管理に際しては、屈折率を考慮した光学的光路長に基づく中心厚を管理することが好ましい。
さらに、交換用光透過部材の中心厚を管理するに際して、交換用光透過部材の屈折率や屈折率分布のみならず、傾きを考慮して中心厚を管理することがより一層望ましい。また、本発明の実施形態では、液浸領域に用いられる液体としては水に限らず、高屈折率液体として、H2SO4、HCL、H3PO4等を用いることができ、また、液浸領域に用いられる液体と接触する高屈折材料として、TiO2(金紅石)、ダイヤモンドを用いることができる。
上述の実施形態の露光装置では、照明装置によってレチクル(マスク)を照明し(照明工程)、投影光学系を用いてマスクに形成された転写用のパターンを感光性基板に露光する(露光工程)ことにより、マイクロデバイス(半導体素子、撮像素子、液晶表示素子、薄膜磁気ヘッド等)を製造することができる。以下、本実施形態の露光装置を用いて感光性基板としてのウェハ等に所定の回路パターンを形成することによって、マイクロデバイスとしての半導体デバイスを得る際の手法の一例につき図8のフローチャートを参照して説明する。
先ず、図8のステップ301において、1ロットのウェハ上に金属膜が蒸着される。次のステップ302において、その1ロットのウェハ上の金属膜上にフォトレジストが塗布される。その後、ステップ303において、本実施形態の露光装置を用いて、マスク上のパターンの像がその投影光学系を介して、その1ロットのウェハ上の各ショット領域に順次露光転写される。その後、ステップ304において、その1ロットのウェハ上のフォトレジストの現像が行われた後、ステップ305において、その1ロットのウェハ上でレジストパターンをマスクとしてエッチングを行うことによって、マスク上のパターンに対応する回路パターンが、各ウェハ上の各ショット領域に形成される。
その後、更に上のレイヤの回路パターンの形成等を行うことによって、半導体素子等のデバイスが製造される。上述の半導体デバイス製造方法によれば、極めて微細な回路パターンを有する半導体デバイスをスループット良く得ることができる。なお、ステップ301〜ステップ305では、ウェハ上に金属を蒸着し、その金属膜上にレジストを塗布、そして露光、現像、エッチングの各工程を行っているが、これらの工程に先立って、ウェハ上にシリコンの酸化膜を形成後、そのシリコンの酸化膜上にレジストを塗布、そして露光、現像、エッチング等の各工程を行っても良いことはいうまでもない。
また、本実施形態の露光装置では、プレート(ガラス基板)上に所定のパターン(回路パターン、電極パターン等)を形成することによって、マイクロデバイスとしての液晶表示素子を得ることもできる。以下、図9のフローチャートを参照して、このときの手法の一例につき説明する。図9において、パターン形成工程401では、本実施形態の露光装置を用いてマスクのパターンを感光性基板(レジストが塗布されたガラス基板等)に転写露光する、所謂光リソグラフィ工程が実行される。この光リソグラフィー工程によって、感光性基板上には多数の電極等を含む所定パターンが形成される。その後、露光された基板は、現像工程、エッチング工程、レジスト剥離工程等の各工程を経ることによって、基板上に所定のパターンが形成され、次のカラーフィルター形成工程402へ移行する。
次に、カラーフィルター形成工程402では、R(Red)、G(Green)、B(Blue)に対応した3つのドットの組がマトリックス状に多数配列されたり、またはR、G、Bの3本のストライプのフィルターの組を複数水平走査線方向に配列されたりしたカラーフィルターを形成する。そして、カラーフィルター形成工程402の後に、セル組み立て工程403が実行される。セル組み立て工程403では、パターン形成工程401にて得られた所定パターンを有する基板、およびカラーフィルター形成工程402にて得られたカラーフィルター等を用いて液晶パネル(液晶セル)を組み立てる。
セル組み立て工程403では、例えば、パターン形成工程401にて得られた所定パターンを有する基板とカラーフィルター形成工程402にて得られたカラーフィルターとの間に液晶を注入して、液晶パネル(液晶セル)を製造する。その後、モジュール組み立て工程404にて、組み立てられた液晶パネル(液晶セル)の表示動作を行わせる電気回路、バックライト等の各部品を取り付けて液晶表示素子として完成させる。上述の液晶表示素子の製造方法によれば、極めて微細な回路パターンを有する液晶表示素子をスループット良く得ることができる。
なお、上述の実施形態では、ArFエキシマレーザ光源を用いているが、これに限定されることなく、たとえばF2 レーザ光源のような他の適当な光源を用いることもできる。ただし、露光光としてF2レーザ光を用いる場合は、液体としてはF2レーザ光を透過可能な例えばフッ素系オイルや過フッ化ポリエーテル(PFPE)等のフッ素系の液体を用いることになる。
本発明の実施形態にかかる露光装置の構成を概略的に示す図である。 境界レンズとウェハとの間の構成を模式的に示す図である。 第1実施例にかかる投影光学系のレンズ構成を示す図である。 第2実施例にかかる投影光学系のレンズ構成を示す図である。 第3実施例にかかる投影光学系のレンズ構成を示す図である。 第4実施例にかかる投影光学系のレンズ構成を示す図である。 液浸領域の平行平面板と交換可能な交換用光透過部材の構成および作用を概略的に説明する図である。 マイクロデバイスとしての半導体デバイスを得る際の手法のフローチャートである。 マイクロデバイスとしての液晶表示素子を得る際の手法のフローチャートである。
符号の説明
R レチクル
RST レチクルステージ
PL 投影光学系
Lb 境界レンズ
Lp 平行平面板
Lm1,Lm2,Lm (液体)
Ha,Hb 交換用光透過部材
W ウェハ
1 照明光学系
9 Zステージ
10 XYステージ
12 移動鏡
13 ウェハレーザ干渉計
14 主制御系
15 ウェハステージ駆動系
21 第1給排水機構
22 第2給排水機構

Claims (7)

  1. 像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系を備えた露光装置において、
    前記投影光学系の液浸領域の光透過部材は、前記液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材と交換可能に構成され、
    前記投影光学系における前記液浸領域外の1つまたは複数の光学部材は、前記交換用光透過部材の交換に応じて、前記投影光学系の光軸に対して移動可能に構成され
    前記交換用光透過部材の交換に応じて、前記投影光学系における前記液浸領域の光学的光路長が調整可能に構成され、
    前記交換用光透過部材は、前記投影光学系の光軸に垂直な面に対して傾斜する面を挟んで互いに対向する斜面を持つ一対の光学部材を有し、
    前記一対の光学部材の少なくとも一方は、前記光軸廻りに回転可能、前記傾斜する面に沿って移動可能、あるいは前記光軸廻りに回転可能且つ前記傾斜する面に沿って移動可能に構成されていることを特徴とする露光装置。
  2. 像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系を備えた露光装置において、
    前記投影光学系の液浸領域の光透過部材は、前記液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材と交換可能に構成され、
    前記交換用光透過部材の交換に応じて、前記投影光学系における前記液浸領域の光学的光路長が調整可能に構成され、
    前記交換用光透過部材は、前記投影光学系の光軸に垂直な面に対して傾斜する面を挟んで互いに対向する斜面を持つ一対の光学部材を有し、
    前記一対の光学部材の少なくとも一方は、前記光軸廻りに回転可能、前記傾斜する面に沿って移動可能、あるいは前記光軸廻りに回転可能且つ前記傾斜する面に沿って移動可能に構成されていることを特徴とする露光装置。
  3. 前記液浸領域の液体の屈折率が可変に構成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の露光装置。
  4. 像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系を備えた露光装置の調整方法において、
    前記投影光学系の液浸領域の光透過部材を、前記液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材と交換する交換工程と、
    前記交換用光透過部材の交換に応じて、前記投影光学系における前記液浸領域外の1つまたは複数の光学部材を前記投影光学系の光軸に対して移動させて調整する移動調整工程と、
    前記交換用光透過部材の交換に応じて、前記投影光学系における前記液浸領域の光学的光路長を調整する光路長調整工程とを含み、
    前記交換工程では、前記交換用光透過部材として、前記投影光学系の光軸に垂直な面に対して傾斜する面を挟んで互いに対向する斜面を持つ一対の光学部材を用い、
    前記光路長調整工程では、前記一対の光学部材の少なくとも一方を、前記光軸廻りに回転、前記傾斜する面に沿って移動、あるいは前記光軸廻りに回転且つ前記傾斜する面に沿って移動させることを特徴とする露光装置の調整方法
  5. 像面側に形成された液浸領域の液体を介して物体面のパターンの像を感光性基板上に形成する投影光学系を備えた露光装置の調整方法において、
    前記投影光学系の液浸領域の光透過部材を、前記液浸領域に配置されるべき交換用光透過部材と交換する交換工程と、
    前記交換用光透過部材の交換に応じて、前記投影光学系における前記液浸領域の光学的光路長を調整する光路長調整工程とを含み、
    前記光路長調整工程は、前記交換用光透過部材の光学的光路長を調整する工程を含み、
    前記交換工程では、前記交換用光透過部材として、前記投影光学系の光軸に垂直な面に対して傾斜する面を挟んで互いに対向する斜面を持つ一対の光学部材を用い、
    前記光路長調整工程では、前記一対の光学部材の少なくとも一方を、前記光軸廻りに回転、前記傾斜する面に沿って移動、あるいは前記光軸廻りに回転且つ前記傾斜する面に沿って移動させることを特徴とする露光装置の調整方法
  6. 前記光路長調整工程は、前記液浸領域の液体の屈折率を調整する工程を含むことを特徴とする請求項4または5に記載の露光装置の調整方法。
  7. 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の露光装置、あるいは請求項4乃至6のいずれか1項に記載の調整方法により調整された露光装置を用いて、前記パターンを前記感光性基板に露光する露光工程と、
    前記露光工程を経た前記感光性基板を現像する現像工程とを含むことを特徴とするデバイスの製造方法
JP2006087464A 2006-03-28 2006-03-28 露光装置、露光装置の調整方法、およびデバイスの製造方法 Expired - Fee Related JP4826755B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006087464A JP4826755B2 (ja) 2006-03-28 2006-03-28 露光装置、露光装置の調整方法、およびデバイスの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006087464A JP4826755B2 (ja) 2006-03-28 2006-03-28 露光装置、露光装置の調整方法、およびデバイスの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007266186A JP2007266186A (ja) 2007-10-11
JP4826755B2 true JP4826755B2 (ja) 2011-11-30

Family

ID=38638901

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006087464A Expired - Fee Related JP4826755B2 (ja) 2006-03-28 2006-03-28 露光装置、露光装置の調整方法、およびデバイスの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4826755B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8399685B2 (en) 2008-02-29 2013-03-19 Nissan Chemical Industries, Ltd. Process for producing thiophene compound and intermediate thereof

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI439815B (zh) * 2006-07-03 2014-06-01 Zeiss Carl Smt Gmbh 校正/修復微影投影曝光裝置中之投影物鏡的方法與此投影物鏡
JP2011014662A (ja) * 2009-07-01 2011-01-20 Nikon Corp 露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法
DE102011107985B4 (de) * 2011-07-18 2020-12-03 Carl Zeiss Ag Objektiv für eine Kamera und Verwendung eines Objektivs für eine Kamera

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2679195B2 (ja) * 1988-12-21 1997-11-19 株式会社ニコン 投影露光装置
JP3817836B2 (ja) * 1997-06-10 2006-09-06 株式会社ニコン 露光装置及びその製造方法並びに露光方法及びデバイス製造方法
JP2004333761A (ja) * 2003-05-06 2004-11-25 Nikon Corp 反射屈折型の投影光学系、露光装置、および露光方法
JP2005051147A (ja) * 2003-07-31 2005-02-24 Nikon Corp 露光方法及び露光装置
EP1670042A4 (en) * 2003-09-29 2008-01-30 Nikon Corp LIQUID IMMERSION TYPE LENS SYSTEM, PROJECTION ALIGNER, AND PRODUCTION METHOD OF THE DEVICE
US7589818B2 (en) * 2003-12-23 2009-09-15 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus, alignment apparatus, device manufacturing method, and a method of converting an apparatus

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8399685B2 (en) 2008-02-29 2013-03-19 Nissan Chemical Industries, Ltd. Process for producing thiophene compound and intermediate thereof
US8642786B2 (en) 2008-02-29 2014-02-04 Nissan Chemical Industries, Ltd. Process for producing thiophene compound and intermediate thereof

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007266186A (ja) 2007-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6330799B2 (ja) 投影光学系、露光装置、および露光方法
KR20030082452A (ko) 투영 광학계, 노광 장치 및 노광 방법
JP4370582B2 (ja) 投影光学系、露光装置、および露光方法
KR20080091182A (ko) 반사 굴절 결상 광학계, 노광 장치 및 디바이스의 제조방법
JP2008085328A (ja) 液浸対物光学系、露光装置、デバイス製造方法、および境界光学素子
JP4826755B2 (ja) 露光装置、露光装置の調整方法、およびデバイスの製造方法
JP2007027438A (ja) 投影光学系、露光装置、およびデバイスの製造方法
KR20080106505A (ko) 투영 광학계, 노광 장치, 및 디바이스 제조 방법
JP2006114839A (ja) 投影光学系、露光装置、および露光方法
JP4868209B2 (ja) 投影光学系、露光装置、および露光方法
JP2005195713A (ja) 投影光学系、露光装置、および露光方法
JP2007027439A (ja) 投影光学系、露光装置、およびデバイスの製造方法
JP2007059556A (ja) 投影光学系、露光装置、および露光方法
JP2006019563A (ja) 投影光学系、露光装置、および露光方法
JP5786919B2 (ja) 投影光学系、露光装置及び露光方法
JP2019091057A (ja) 露光装置及びデバイス製造方法
JP2019082711A (ja) 投影光学系、露光装置、露光方法、及びデバイス製造方法
JP2005235921A (ja) 光学系の調整方法、結像光学系、露光装置、および露光方法
JP2018010303A (ja) 露光装置およびデバイス製造方法
JP2016136273A (ja) 投影光学系、露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法
JP2006317753A (ja) 反射屈折結像光学系、露光装置、および露光方法
JP2015132843A (ja) 投影光学系、露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法
JP2014160274A (ja) 投影光学系、露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法
JP2012073632A (ja) 反射屈折投影光学系、露光装置及び露光方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090121

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110414

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110518

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110715

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110817

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110830

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140922

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140922

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees