JP4824929B2 - 統合利用のために改良された検査システム - Google Patents
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Description
Claims (42)
- 異なった種類の表面上の異常の検出に用いるのに適した表面検査装置であって、
表面に対してほぼ直角である第1の照射光線と表面に対して斜角である第2の照射光線とを検査すべき表面に供給する光源と、
表面に対して垂直な線の周りまたはその線に相当する方向の周りで異なる方位角にあり、かつ前記線に対して異なる方位角で表面によって散乱される照射線が共通の集光機器を用いずに別々の光ファイバに導かれるように配置される複数の光ファイバと、第2の照射光線に対して実質的に二重暗視野構成に成っていて、かつ表面によって散乱される照射線を集める光ファイバのうちのいずれか一つの開口よりも大きな開口を有する少なくとも一つのコレクタとを有する光学系であって、前記光ファイバが、前記線に近接した方向で表面によって散乱される照射線を受け取る第1の組の光ファイバと、表面に対して低い高度角度で表面によって散乱される照射線を受け取り、かつ前記少なくとも一つのコレクタと共に前記線の周りにほぼリングを形成する第2の組の光ファイバとを有し、さらに前記二重暗視野構成の前記開口が、表面に対して低い高度角度にある光学系と、
を備える表面検査装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記第1の組の光ファイバは、前記線から10度〜30度の間の角度で表面によって散乱される照射線を受け取る装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記第2の組の光ファイバは、表面に対して10度〜40度の間の低い高度角度で表面によって散乱される照射線を集める装置。 - 請求項1記載の装置において、
表面によって散乱されると共に少なくともいくつかの光ファイバおよび少なくとも一つのコレクタに到達する照射線を、前記線の周りで異なる方位角で散乱される照射線を表す各々の信号に変換する複数の検出器をさらに備える装置。 - 請求項4記載の装置において、
表面における異常または表面上にある異常の存在を前記信号から判断するプロセッサをさらに備える装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記光ファイバは、表面によって散乱されると共に少なくともいくつかの光ファイバに到達する照射線を検出器に搬送する装置。 - 請求項6記載の装置において、
前記光ファイバは、マルチモード光ファイバである装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記第2の照射光線が表面上のスポットを照射し、少なくとも一つのコレクタの開口がスポットにおいて約20度〜60度の角度に限定される装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記第2の照射光線が表面上のスポットを照射し、少なくとも一つのコレクタの開口がスポットから約40度〜60度の角度に限定される装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記第2の照射光線の光路に少なくとも一つの偏光子をさらに備え、前記偏光子は、表面が第2の照射光線と相互作用する前または相互作用した後に、第2の照射光線と相互作用する装置。 - 請求項10記載の装置において、
前記少なくとも一つの偏光子は、光線が表面に到達する前に第2の照射光線を偏光する装置。 - 請求項11記載の装置において、
前記少なくとも一つの偏光子は、P−偏光された照射線または円形状に偏光された照射線を通し、前記少なくとも一つのコレクタは、表面によって散乱される未偏光照射線を集める装置。 - 請求項11記載の装置において、
前記少なくとも一つの偏光子は、S−偏光された照射線を通し、さらに前記装置は、S−偏光された照射線を通し、かつ表面によって散乱されると共に前記少なくとも一つのコレクタによって集められる照射線の光路に配置される別の偏光子を備える装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記光源は、第1の照射光線と第2の照射光線とを供給する少なくとも2本の光ファイバを備える装置。 - 請求項14記載の装置において、
前記光源は、第1の照射光線と第2の照射光線とを供給する一つ以上の照射線源をさらに備える装置。 - 請求項14記載の装置において、
前記光ファイバは、シングルモード光ファイバである装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記光ファイバは、コアおよびクラッディングを各々有し、前記クラッディングは、各光ファイバの集光開口を隣接する光ファイバ(単数および複数)から分離する装置。 - 請求項17記載の装置において、
前記光ファイバは、クラッディングを覆う外部コーティングをさらに有する装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記光ファイバは、前記線またはその方向の周りに対称に配置される装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記光ファイバは、パターンによって散乱される予期成分から離れるような高度角度で配置される装置。 - 請求項20記載の装置において、
パターンによって散乱される前記予期成分は、フーリエ成分である装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記光ファイバは、実質的に前記線またはその方向から約5度〜20度の間の高度角度である装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記光学系は、第2の照射光線の入射面に対して実質的に±90度の方位角で中心を合わせた開口を有する2つのレンズを備える装置。 - 請求項1記載の装置において、
約5cmを越えない寸法を備える光学ヘッドを備える装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記少なくとも一つのコレクタは、表面によって散乱される照射線を検出器に向かって焦点を合わせる少なくとも一つの対物レンズを備える装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記少なくとも一つのコレクタは、表面によって散乱される照射線を集める複数の光ファイバを備える装置。 - 装置によって異なった種類の表面上の異常を検出する方法であって、前記装置は、
表面に対してほぼ直角である第1の照射光線および表面に対して斜角である第2の照射光線を検査すべき表面に放射する光源と、
表面に対して垂直な線の周りまたはその線に相当する方向の周りで異なる方位角にあり、かつ前記線に対して異なる方位角で表面によって散乱される照射線が別々の光ファイバに導かれるように配置される複数の光ファイバと、前記光ファイバのうちのいずれか一つの開口よりも大きな開口を有すると共に表面によって散乱される照射線を集めて焦点を合わせる第2の照射光線に対して実質的に二重暗視野構成と成る少なくとも一つのコレクタとを有する光学系であって、前記光ファイバが、前記線に近接した方向で表面によって散乱される照射線を受け取る第1の組の光ファイバと、表面に対して低い高度角度で表面によって散乱される照射線を受け取り、かつ前記少なくとも一つのコレクタと共に前記線の周りにほぼリングを形成する第2の組の光ファイバとを有し、さらに前記二重暗視野構成の前記開口が、表面に対して低い高度角度にある光学系と、を備える方法において、
(a)光源から第1の照射光線および第2の照射光線を表面に供給させると共に、その照射光線によって表面が走査されるステップと、
(b)表面によって散乱される照射線を共通の集光機器を用いずに前記光ファイバに導くステップと、
(c)表面によって散乱されると共に前記第1および第2の組の光ファイバおよび/または前記少なくとも一つのコレクタによって集められる照射線を検出するステップと、
(d)検出された照射線から異なった種類の表面上の異常を判断するステップと、
を有する方法。 - 請求項27記載の方法において、
前記判断するステップは、パターン化されていないウェハ上およびパターン化されたウェハ上の異常を検出された照射線から判断する方法。 - 請求項27記載の方法において、
前記判断するステップは、パターン化されていないウェハ上またはパターン化されたウェハ上、および化学的機械的研摩後のウェハ表面上の異常を検出された照射線から判断する方法。 - 請求項27記載の方法において、
前記供給させるステップによって第2の照射光線が表面に供給され、前記検出するステップが表面によって散乱されると共に少なくとも一つのコレクタによって集められる照射線を検出する方法。 - 請求項30記載の方法において、
前記供給させるステップによって第2の照射光線が偏光される方法。 - 請求項31記載の方法において、
第2の照射光線は、P−偏光させられ、前記検出するステップは、滑らかな表面上の異常を検出するために偏光されていない照射線を検出する方法。 - 請求項31記載の方法において、
第2の照射光線は、円形状に偏光させられ、前記検出するステップは、誘電フィルムの表面上の異常を検出するために偏光されていない照射線を検出する方法。 - 請求項31記載の方法において、
第2の照射光線は、S−偏光させられ、前記検出するステップは、粗い表面上の異常を検出するためにS−偏光された照射線を検出する方法。 - 請求項30記載の方法において、
(e)光源から第1の照射光線を表面に供給させるステップと、
(f)表面によって散乱されると共に前記光ファイバによって集められる照射線を検出するステップと、
(g)検出された照射線から異なった種類の表面上のマイクロスクラッチを判断するステップと、
をさらに有する方法。 - 請求項35記載の方法において、
(f)における前記検出するステップは、表面によって散乱されると共に第1の組の光ファイバによって集められる照射線を検出し、前記判断するステップは、前記線のほぼ両側または異なる方位角に配置された第1の組におけるいくつかの光ファイバによって受け取られる照射線から変換される複数の信号または複数対の信号を比較するステップを有する方法。 - 請求項36記載の方法において、
(f)における前記検出するステップは、表面によって散乱されると共に第2の組の光ファイバによって集められる照射線を検出し、(d)における前記判断するステップは、検出された照射線からパターン化された表面またはパターン化されていない表面上の異常を判断する方法。 - 請求項27記載の方法において、
前記供給させるステップによって第2の照射光線が表面に供給され、前記検出するステップが表面によって散乱されると共に光ファイバによって集められる照射線を検出する方法。 - 請求項38記載の方法において、
前記検出するステップは、検出器によって検出し、前記判断するステップは、飽和された検出器の出力信号を用いずに異常を判断する方法。 - 請求項38記載の方法において、
前記検出するステップは、検出器の出力をサンプリングするステップを有し、前記判断するステップは、検出器の出力サンプルの最小値または中間値から表面上の異常を判断する方法。 - 請求項38記載の方法において、
前記検出するステップは、出力信号を提供する検出器によって検出し、かつ出力信号をサンプリングするステップを有し、前記判断するステップは、検出器の出力サンプルの最小値または中間値から表面上の異常を判断する方法。 - 請求項38記載の方法において、
表面はパターン化されておらず、さらに、所定の方位角の集光角度内において表面によって散乱される照射線を集めるそれら光ファイバのみを光ファイバから選択するステップをさらに有し、(c)における前記検出するステップは、表面によって散乱され、かつ選択された光ファイバによって集められる照射線のみを検出する方法。
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