JP4818340B2 - 低い熱伝導性の熱負荷を受ける本体に対する温度補償装置 - Google Patents

低い熱伝導性の熱負荷を受ける本体に対する温度補償装置 Download PDF

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Description

本発明は、光学分野、特に、マイクロリソグラフィ用プロジェクションレンズシステムに用いられるミラー支持体用装置における低い熱伝導性の熱負荷を受ける本体(thermally loaded body)の温度差を補償するための装置に関する。
熱分配装置は一般的にマイクロリソグラフィにおいて公知である。従って、例えば、米国特許第5,220,171号、及び米国特許第5,413,167号は熱伝達媒体としてチャンネル内で案内される液体を用いることによって、ウエハを冷却させるための熱分配装置を開示している。
米国特許第5,313,333号は、光組立体内の温度偏差を補償するためのデバイスに関する。
日本特開平第8-318818号公報は、反射層を有する被覆板と、その下方に配列され、それから隔てられて配置された下側板とを備え、二つの部品はそれらの間に位置したウェブとチヤンバーによって互いに連結されたミラーを開示する。
マイクロリソグラフィ用プロジェクションレンズにおけるミラー支持体は吸収された有効輻射エネルギーによって加熱される。これは互いに区別される二つの温度の問題を引き起こす。
一つの問題は、過度に大きい平均温度の増加である。これは光学表面の性質に悪影響を及ぼす基板と層材料の微細組織(micro-structure)の偏差をもたらし得る。もう一つの問題は、ミラー基板内の不均一な温度分布である。熱膨張に起因して、不均一な温度分布はそれと略類似し、ミラー基板及び光学表面を変形させる膨張分布をもたらす。
前記両熱的な問題に対し、特に、不均一な温度分布の問題点に対して解決策が設けられなければならない。不均一な温度分布の問題は特定の作動モードに対する更なる理解のために詳しく後述する。
基板内の不均一な温度分布は本質的に次の二つの原因に起因する。
熱入力は実際に光学表面を通じるだけ生じる反面、熱の出力は主にミラーのエッジ及び後方における放射により、又部分的に装着を通じた熱伝導によって達成される。熱入力の個所などが熱出力の個所以外のところに位置するため、基板材料の熱抵抗によって熱勾配が形成される。
二番目の原因は、光学表面のだいたい不均一な照明であるが、これは第一に輻射領域が全光学表面を占めておらず、第二に放射光学部品(projection optics)によって投射された回路パターンが照射領域内で不均一な強度分布を引き起こすためである。光学表面の強く照射された領域は、弱く照射された領域より強くウオーミングアップされる。不均一な温度分布によって引き起された基板変形の問題を解決することが求められる場合、熱膨張係数が非常に小さい基板材料を用いることが明らかである。このような接近はしばしば精密な光学部品において、石英、ゼロデュアー(Zerodur)、又はULEのような基板材料を選択することによって採用され、多くの適用に対して基材変形が十分に少なくなる。しかしながら、このような材料の短所は金属材料に比べて熱伝導性は低いため、熱負荷を受けるミラー支持体内で比較的に大きい温度差をもたらし、低い熱膨張係数の変形減少の効果を部分的に相殺することである。このような事実は13nm技術(EUVL)に対するマイクロリソグラフィレンズにおけるミラー支持体の場合に特に悪影響を及ぼすが、これは13nmバンドにおける略40%の各々の光学表面の高い吸収度によってミラー支持体の熱流束(heat flux)が極めて大きくなり、それによって基材内に次第に大きい温度差が生じるためである。同時に、EUVLレンズによって代表されるミラーシステムにおいて、表面形状の精確度に対する要求は現在マイクロリソグラフィに主に用いられるようなレンズ光学部品の場合より実質的に厳格である。
したがって、本発明の目的は、熱負荷を受ける本体(thermally loaded body)内の熱分布が、熱変形のリスクがなく、かつ、低い熱膨張係数の効果を劣化させることなく向上され得る装置を提供することである。
前記目的は、熱負荷を受ける本体と熱分配体との間に、機械的な分離と共に、熱負荷を受ける本体と熱分配体との熱的な結合のために、流体で充填されるギャップが存在するように、熱負荷を受ける本体の表面に適合するようになる一つ以上の熱分配体を有する熱分配デバイスによって達成される。
本発明の温度補償装置によれば、熱負荷を受ける本体内の熱分布が、熱変形のリスクがなく、かつ、低い熱膨張係数の効果を劣化させることなく向上できる。
本発明によれば、熱負荷を受ける本体に関して、機械的結合及び熱的結合の間に分離が起こる。結合流体は適宜に形成されたギャップ又は熱を分配して熱を消散させ、例えば、熱負荷を受ける本体内に埋め込まれるか、又はその上に配列される熱分配デバイスと熱負荷を受ける本体との間の中間ギャップ内へ導入される。結合流体は、熱分配デバイスに対する熱的な結合を確実にするものの、かつ熱分配デバイスを熱負荷を受ける本体から機械的に分離される。これにより、熱分配デバイスの変形は熱負荷を受ける本体、例えばミラー基板又はミラー支持体上に伝えられない。
この場合において、例えば、Cu、Al、Ag等のような高い特定の熱伝導性の材料で製造された固形体が熱分配体として用いられることができる。熱分配体の他の実施例は毛細管によって貫通され、この毛細管を通って第2流体が流れる薄壁固形体、例えば管から構成される。ここで、熱分配は流動流体の熱の運搬によって発生される。
基板、即ち、熱負荷を受ける本体と熱分配体との間のギャップを充填する結合流体は十分に低い粘性の液体、気体又は他の物質であり得る。例えば、水、水銀、又は常温において液体である金属合金のような優れた熱伝導性の液体であることが好ましい。
熱負荷を受ける本体に対する結合流体の圧力の変形影響を除くため、熱分配デバイスは結合流体と熱負荷を受ける本体の外部周りとの間の圧力補償のためのデバイスを含み得る。このデバイスは上昇パイプ又は弾性容器、例えば金属ダイヤフラムベローズの形態に設計され得る。金属ダイヤフラムベローズで製造された弾性容器を有するデザインが好ましいが、これは基板の周りに対して結合流体を封入して結合流体が漏れることを防止できるためである。
本発明に係る装置は熱負荷を受ける本体内の温度差を相当減少させることを保障し、これによって光学表面の寸法安定性に対する、マイクロリソグラフィによって定められる高い要求条件を鑑みる時、熱によって引き起こされる光学表面の変形を減少させ、熱分配デバイスと熱負荷を受ける本体の機械的な分離程度を大きくする。
本発明に係る装置は熱負荷を受ける本体内の温度差を相当減少させることを保障し、これによって光表面の寸法安定性に対する、マイクロリソグラフィによって定められる高い要求条件を鑑みる時、熱によって引き起こされる光表面の変形を減少させ、熱分配デバイスと熱負荷を受ける本体の機械的な分離程度を大きくする。
本発明の良好な変形例において、熱分配デバイスは一つ以上の温度制御機に連結される。このような変形例によって、熱負荷を受ける本体の平均温度を減少させつつ、安定化させることができる。例えば、温度制御機としてペルチエ要素が使用できるが、ペルチエ要素の低温側が熱分配デバイスの熱分配体に直接結合され、その高温側が熱負荷を受ける本体によって吸収された熱、及びペルチエ要素の作動中生じる損失エネルギーを出力し、これは熱輻射によって行われる。他の実施例において、熱分配体の外へガイドされ、熱分配デバイスの外側に配置する温度制御機によって冷却される冷却液体が熱分配体を介して流れる。
圧力補償デバイス19は熱結合の表面の境界を形成すると共に、熱負荷を受ける本体1と熱分配体11とを互いに連結する金属ダイヤフラムベローズ20として設計される。圧力補償デバイス19は略同一な支持圧力が熱負荷を受ける本体の全表面に対して作用するように外部周り部9と結合流体17との間の圧力補償を保障する。また、圧力補償デバイス19は熱分配体11の形状が変更された場合、結合流体17の圧力変化を防ぎ止める。金属ダイヤフラムベローズ20はまた、外部周り部9に対して結合流体17を封入し、熱分配デバイスを熱負荷を受ける本体1に固定させる低剛性の固定要素として作用する。
圧力補償デバイス19は熱結合の表面の境界を形成すると共に、熱負荷を受ける本体1と熱分配体11とを互いに連結する金属ダイヤフラムベローズ20として設計される。圧力補償デバイス19は略同一な支持圧力が熱負荷を受ける本体の全表面に対して作用するように外部周り部9と結合流体17との間の圧力補償を保障する。また、圧力補償デバイス19は熱分配体11の形状が変更された場合、結合流体17の圧力変化を防ぎ止める。金属ダイヤフラムベローズ20はまた、外部周り部9に対して結合流体17を封入し、熱分配デバイスを熱負荷を受ける本体1に固定させる抵剛性の固定要素として作用する。
熱分配デバイスは、ギャップ18を結合流体17で充填するために、熱分配体11上に結合した充填デバイス21を備える。充填デバイス21はギャップの容積と外部周り部9との間を密封可能に連結する機能をする。充填デバイスは外側への充填開口又は流入開口23及びギャップ18への連結チャンネル24を有する筐体22とバルブネジ25を含む。
図2は、熱分配デバイスを有する装置を示すが、この場合、熱分配体11は熱負荷を受ける本体1の内側表面6に適合するようになる。熱負荷を受ける本体1は二つの部品、即ち上側部品2と下側部品3とを含むが、これらは上側と下側の部品の組立後に熱負荷を受ける本体1内に位置する容積が存在するように構成される。上側と下側の部品2、3が、例えばボンディングによって互いに結合する前に、熱分配体11は生成された内部容積内へ挿し込まれる。組立後、容積補償チャンネル8のみを通じて、内部容積と外部周り部9との間に連結が存在するが、そうでないと、内部容積は上側と下側の部品2、3との間の結合表面によって外部回り部9から封じられる。
図1に係る実施例のように、熱分配デバイスは熱分配体11、結合流体17、圧力補償デバイス19、及び充填デバイス21から構成される。熱分配体11は高い特定の熱伝導性の材料で製造され、熱負荷を受ける本体と熱分配体11との間の熱的結合のために、結合流体17で充填される狭いギャップ18が熱負荷を受ける本体1と熱分配体11との間にあるように形成され、配列される固形体として設計される。ギャップの容積を結合流体17で充填し、結合流体17で充填されたギャップ18の容積変化を補償するために、容積補償チャンネル8が内部容積から圧力補償デバイス19内へ連結されるが、圧力補償デバイス19は金属ダイヤフラムベローズ20によって形成され、熱負荷を受ける本体の下側部品3に連結される。システムを結合流体17で充填するための充填デバイス21は圧力補償デバイス19に連結される。
熱分配体11がその自重で熱負荷を受ける本体1の下側部品3に対して加圧するため、加圧力によって引き起こされた熱負荷を受ける本体1の変形状態は変わらない状態で残っているように固定加圧点を形成することが長所である。このため、熱分配体11は熱負荷を受ける本体1の下側部品3のセンタリングボア7内へ到達する三つの支持ピン12を備えることができる。これは回転及び変位に対して固定される熱分配体11の靜的支持(statically determined bearing)をもたらす。
図3は、図2に係る実施例に対応する熱分配デバイスを有する装置を示すが、相違点は熱負荷を受ける本体1の下側部品3に対する支持の代わりに、熱分配体11が支持体26(これも、熱分配デバイスに属する)を介して外部支持構造体27に連結され、これによって、熱負荷を受ける本体1から十分に独立的に保持されることである。図2に係る実施例に対して、圧力補償デバイス19は支持体26に適合するようになり、支持体を通じて延長される容積補償チャンネル8を介して流体充填ギャップ18に連結される。
熱負荷を受ける本体1と支持体26との間に直接結合はなく、両部品は流体充填ギャップ41によって互いに隔てられている。ギャップの容積内に位置する流体は熱負荷を受ける本体の下側部品3と支持体26との間に配列された低剛性のシール弾性要素28、例えば金属ダイヤフラムベローズの助けで外部周り部から密封される。低剛性のシール弾性要素28は支持体26と熱負荷を受ける本体1との間の相対運動が発生する場合、この要素を通じて伝えられる力を極めて少なくするため、これによって光学表面の変形がほぼ発生しない。
熱負荷を受ける本体1と支持体26との間に直接結合はなく、両部品は流体充填ギャップ41によって互いに隔てられている。ギャップの容積内に位置する流体は熱負荷を受ける本体の下側部品3と支持体26との間に配列された抵剛性のシール弾性要素28、例えば金属ダイヤフラムベローズの助けで外部周り部から密封される。抵剛性のシール弾性要素28は支持体26と熱負荷を受ける本体1との間の相対運動が発生する場合、この要素を通じて伝えられる力を極めて少なくするため、これによって光表面の変形がほぼ発生しない。
図7は、図2に係る実施例に対応する熱分配デバイスを有する装置を示すが、その相違点は熱分配体11が優れた熱伝導性を有し、熱負荷を受ける本体1の上側部品2内の対応するボア42を介して光学表面40の付近に達する多数のフィンガ16を有するということである。このような実施例の変形は、特に光学表面に垂直に整列され、これによって、いわゆる上方から下方へ延長する温度勾配を減少させることができる。
図7は、図2に係る実施例に対応する熱分配デバイスを有する装置を示すが、その相違点は熱分配体11が優れた熱伝導性を有し、熱負荷を受ける本体1の上側部品2内の対応するボア42を介して光表面40の付近に達する多数のフィンガ16を有するということである。このような実施例の変形は、特に光表面に垂直に整列され、これによって、いわゆる上方から下方へ延長する温度勾配を減少させることができる。
図8及び図9は、図1に係る実施例に対応する熱分配デバイスの変形例を示す。熱分配デバイスは、この場合に付加的に一つ以上のペルチエ(Peltier)の要素32を有する温度制御機31と、温度センサ36と、温度調節ユニット38とを備える。この変形例は、熱負荷を受ける本体1の平均温度を単位時間当り吸収された有効輻射エネルギーのレベルと十分に独立的に一定に保持されることができるようにする。温度を安定化するには、主に熱負荷を受ける本体1の外側へ熱が導出されることが求められるため、ペルチエ要素32はその低温側33が平らな形態で熱分配体11に連結され、高温側34は自由な状態でこの表面によって出力される熱が輻射状で回りの構造的な周り部に出力されるように配列される。温度センサ36は温度の測定のために熱分配体11内に埋め込まれる。ペルチエ要素32及び温度センサ36の電気供給導線35、37は温度調節ユニット38に連結されて閉鎖された制御ループを形成する。
図10は、図4、図5及び図6に係る実施例に対応する熱分配デバイスを有する装置を示すが、温度制御機31は流動流体の温度が熱負荷を受ける本体1によって単位時間当り吸収された流動輻射エネルギーと独立的に温度制御機31によって制御されるように流動流体30の回路39内へ挿し込まれる。
熱分配デバイスの熱分配体が熱負荷を受ける本体の外部側に適合している場合の実施例の断面図である。 熱分配体が熱負荷を受ける本体内に埋め込まれた場合の実施例の断面図である。 熱分配体が熱負荷を受ける本体内に埋め込まれて、外側に位置した支持構造体によって保持される場合の実施例の断面図である。 熱分配体が管構造体から形成され、それを介して液体が流れる場合の実施例の断面図である。 図4のV-V線に沿って切断された断面図である。 図5のX部の部分拡大図である。 熱分配体が優れた熱伝導性を有し、ボアを介して光学表面の付近まで達する多数のフィンガを備えた場合の実施例の断面図である。 ペルチエ要素が温度制御機の一部として熱分配体に接合している場合の実施例の断面図である。 図8のY部の部分拡大図である。 熱分配デバイスの外側へガイドされ外側に位置した温度制御機の温度制御を受ける流体が熱分配体を介して流れる場合の実施例の断面図である。
符号の説明
1 熱負荷を受ける本体
11 熱分配体
17 結合流体
18 ギャップ
19 圧力補償デバイス
20 金属ダイヤフラムベローズ
21 充填デバイス

Claims (6)

  1. 光学分野で用いられる温度補償装置であって、
    熱応力を受ける本体と、
    前記熱応力を受ける本体の表面に適合し、該表面とギャップを形成する熱分配体と、
    少なくとも前記ギャップに充填される流体と、
    前記熱応力を受ける本体と前記熱分配体との間を連結して、前記流体を密封する弾性連結部と
    を備え、
    前記熱応力を受ける本体は、反射層支持体またはミラー基板であり、
    前記熱分配体の熱伝導性は前記熱応力を受ける本体よりも高く、
    前記弾性連結部は、外部環境と前記流体との間の圧力を補償し、
    前記流体は、前記熱応力を受ける本体と前記熱分配体との間の熱伝達を確実にするとともに、前記熱分配体の変形が前記熱応力を受ける本体に伝達されないようにすることを特徴とする温度補償装置。
  2. 前記熱分配体は固形であり、実質的に前記熱応力を受ける本体を構成する材料のものより少なくとも10倍以上高い熱伝導性を有する材料で製造される、請求項1に記載の温度補償装置。
  3. 前記熱分配体は、前記ギャップを前記流体で充填するための充填デバイスが結合されていることを特徴とする請求項1または2に記載の温度補償装置。
  4. 前記熱分配体が温度制御機の熱交換要素に連結される、請求項1〜3の何れか一項に記載の温度補償装置。
  5. 前記熱交換要素がペルチエ要素から形成される、請求項4に記載の温度補償装置。
  6. 請求項1〜5のいずれか一項に記載の温度補償装置を備えるマイクロリソグラフィのプロジェクション露出対物ミラー装置。
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Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6873662B2 (en) * 2002-02-14 2005-03-29 Interdigital Technology Corporation Wireless communication system having adaptive threshold for timing deviation measurement and method
DE10219514A1 (de) * 2002-04-30 2003-11-13 Zeiss Carl Smt Ag Beleuchtungssystem, insbesondere für die EUV-Lithographie
US20050099611A1 (en) * 2002-06-20 2005-05-12 Nikon Corporation Minimizing thermal distortion effects on EUV mirror
EP1376239A3 (en) * 2002-06-25 2005-06-29 Nikon Corporation Cooling device for an optical element
RU2005102099A (ru) * 2002-06-28 2005-09-10 Карл Цайс Аг (De) Способ центрирования оптических элементов и устройство для его осуществления
JP2005534998A (ja) * 2002-08-08 2005-11-17 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー イメージングデバイスにおける光学式アセンブリを保持するための装置
JP2004363559A (ja) * 2003-05-14 2004-12-24 Canon Inc 光学部材保持装置
DE10343313A1 (de) * 2003-09-10 2004-12-09 Carl Zeiss Smt Ag Maskeneinheit für ein optisches System
DE10344178B4 (de) * 2003-09-24 2006-08-10 Carl Zeiss Smt Ag Halte- und Positioniervorrichtung für ein optisches Element
EP1522892B1 (en) * 2003-10-09 2007-08-29 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7085080B2 (en) * 2003-12-06 2006-08-01 Carl Zeiss Smt Ag Low-deformation support device of an optical element
DE10359576A1 (de) * 2003-12-18 2005-07-28 Carl Zeiss Smt Ag Verfahren zur Herstellung einer optischen Einheit
US7375794B2 (en) 2004-08-04 2008-05-20 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
DE102004047533A1 (de) * 2004-09-30 2006-04-06 Carl Zeiss Smt Ag Vorrichtung zur Temperierung von Elementen
DE102005013187A1 (de) * 2005-03-22 2006-09-28 Carl Zeiss Smt Ag Verfahren zum Verbinden zweier Bauteile, sowie Baugruppe
DE102005017262B3 (de) * 2005-04-12 2006-10-12 Xtreme Technologies Gmbh Kollektorspiegel für plasmabasierte kurzwellige Strahlungsquellen
DE102008000967B4 (de) * 2008-04-03 2015-04-09 Carl Zeiss Smt Gmbh Projektionsbelichtungsanlage für die EUV-Mikrolithographie
WO2009150018A1 (en) * 2008-06-10 2009-12-17 Asml Netherlands B.V. Method and system for thermally conditioning an optical element
WO2009152959A1 (en) * 2008-06-17 2009-12-23 Carl Zeiss Smt Ag Projection exposure apparatus for semiconductor lithography comprising a device for the thermal manipulation of an optical element
DE102009033818A1 (de) * 2008-09-19 2010-03-25 Carl Zeiss Smt Ag Temperiervorrichtung für eine optische Baugruppe
DE102008049556B4 (de) * 2008-09-30 2011-07-07 Carl Zeiss SMT GmbH, 73447 Mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage
KR101769157B1 (ko) * 2008-10-20 2017-08-17 칼 짜이스 에스엠테 게엠베하 방사선 빔 안내를 위한 광학 모듈
US10054754B2 (en) * 2009-02-04 2018-08-21 Nikon Corporation Thermal regulation of vibration-sensitive objects with conduit circuit having liquid metal, pump, and heat exchanger
DE102009014701A1 (de) * 2009-03-27 2010-09-30 Carl Zeiss Smt Ag Optische Baugruppe
DE102009054869B4 (de) 2009-04-09 2022-02-17 Carl Zeiss Smt Gmbh Spiegel zur Führung eines Strahlungsbündels, Vorrichtungen mit einem derartigen Spiegel sowie Verfahren zur Herstellung mikro- oder nanostrukturierter Bauelemente
NL2004242A (en) 2009-04-13 2010-10-14 Asml Netherlands Bv Detector module, cooling arrangement and lithographic apparatus comprising a detector module.
NL2004322A (en) * 2009-04-13 2010-10-14 Asml Netherlands Bv Cooling device, cooling arrangement and lithographic apparatus comprising a cooling arrangement.
DE102009035788B4 (de) * 2009-07-31 2011-06-30 Carl Zeiss Laser Optics GmbH, 73447 Optische Anordnung in einem optischen System, insbesondere einer Beleuchtungseinrichtung
KR101644213B1 (ko) 2009-09-08 2016-07-29 칼 짜이스 에스엠테 게엠베하 낮은 표면 형상 변형을 갖는 광학 요소
DE102009045171A1 (de) 2009-09-30 2010-10-07 Carl Zeiss Smt Ag Vorrichtung zur wenigstens annähernd kontaktlosen bzw. mechanisch entkoppelten Kühlung eines thermisch belasteten Elements
EP2343586A1 (en) 2009-12-30 2011-07-13 Nederlandse Organisatie voor toegepast -natuurwetenschappelijk onderzoek TNO Shape stabilized mirror module and method to stabilize a reflective element.
JP5732257B2 (ja) * 2010-01-15 2015-06-10 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. リソグラフィ装置、デバイス製造方法およびコンピュータ読取可能媒体
JP5572434B2 (ja) * 2010-03-26 2014-08-13 ギガフォトン株式会社 ミラー装置
DE102011080052A1 (de) 2011-07-28 2013-01-31 Carl Zeiss Smt Gmbh Spiegel, optisches System mit Spiegel und Verfahren zur Herstellung eines Spiegels
DE102012200733A1 (de) * 2012-01-19 2013-01-24 Carl Zeiss Smt Gmbh Spiegelanordnung, insbesondere zum Einsatz in einem optischen System, insbesondere einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
US9658542B2 (en) 2013-10-14 2017-05-23 Carl Zeiss Smt Gmbh Optical element
DE102014204171A1 (de) 2014-03-06 2015-09-24 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches Element und optische Anordnung damit
DE102019207559A1 (de) * 2019-05-23 2020-06-04 Carl Zeiss Smt Gmbh Baugruppe zur Kühlung eines optischen Elements, insbesondere für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage
DE102020203765A1 (de) * 2020-03-24 2021-09-30 Carl Zeiss Smt Gmbh Optische Baugruppe; Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren zur Herstellung einer optischen Baugruppe
EP4134747A1 (en) * 2021-08-12 2023-02-15 ASML Netherlands B.V. Conditioning apparatus and method
WO2023016734A1 (en) * 2021-08-12 2023-02-16 Asml Netherlands B.V. Thermal conditioning apparatus and method
DE102023209503A1 (de) 2023-09-28 2024-08-08 Carl Zeiss Smt Gmbh Baugruppe eines optischen Systems, sowie optisches System

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3836236A (en) * 1972-11-24 1974-09-17 Gte Sylvania Inc Mirror mount for high power lasers
US4832475A (en) * 1988-01-25 1989-05-23 Daniels John J Non-fogging shower mirror
JPH0350897A (ja) * 1989-07-19 1991-03-05 Fujitsu Ltd 冷却装置
DE4007622A1 (de) * 1990-03-10 1991-09-12 Zeiss Carl Fa Kuehlbare spiegelhalterung
JP2928603B2 (ja) 1990-07-30 1999-08-03 キヤノン株式会社 X線露光装置用ウエハ冷却装置
US5220171A (en) 1990-11-01 1993-06-15 Canon Kabushiki Kaisha Wafer holding device in an exposure apparatus
JPH04206555A (ja) * 1990-11-30 1992-07-28 Hitachi Ltd 電子機器の冷却装置
EP0511162A1 (de) * 1991-04-24 1992-10-28 Ciba-Geigy Ag Wärmeleitende Klebfilme, Laminate mit wärmeleitenden Klebschichten und deren Verwendung
JPH05218251A (ja) * 1992-02-03 1993-08-27 Hitachi Ltd 半導体チップ冷却方法とその装置、並びに半導体チップモジュールおよび底板付きベローズ
US5285352A (en) * 1992-07-15 1994-02-08 Motorola, Inc. Pad array semiconductor device with thermal conductor and process for making the same
US5313333A (en) 1992-12-23 1994-05-17 Estman Kodak Company Method and apparatus for combined active and passive athermalization of an optical assembly
DE9321453U1 (de) * 1993-02-11 1998-04-30 Diehl Stiftung & Co., 90478 Nürnberg Spiegeleinrichtung mit einem defomierbarem Spiegelelement
JPH08313818A (ja) 1995-05-22 1996-11-29 Nikon Corp 軽量化ミラー
US5590026A (en) * 1995-07-31 1996-12-31 Borg-Warner Automotive, Inc. Apparatus for dissipating heat from an integrated circuit
DE19827602A1 (de) 1998-06-20 1999-12-23 Zeiss Carl Fa Verfahren zur Korrektur nicht-rotationssymmetrischer Bildfehler
DE19956354B4 (de) 1999-11-24 2004-02-19 Carl Zeiss Verfahren zum Ausgleich von nicht rotationssymmetrischen Abbildungsfehlern in einem optischen System
DE19956353C1 (de) 1999-11-24 2001-08-09 Zeiss Carl Optische Anordnung
DE19963588C2 (de) 1999-12-29 2002-01-10 Zeiss Carl Optische Anordnung
US6637506B2 (en) * 2002-03-08 2003-10-28 Sun Microsystems, Inc. Multi-material heat spreader

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