JP4817112B2 - 濃縮管およびその濃縮管を用いたガスクロマトグラフ測定方法およびガスクロマトグラフ測定装置 - Google Patents
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Description
水素中の不純物の濃度を測定するガスクロマトグラフ測定方法において、
内部に水素透過膜を有する濃縮管に一定量の試料ガスを流通させる第1のステップと、
前記濃縮管を密閉し一定時間保持する第2のステップと、
前記濃縮管内の試料を分離カラムに供給し、測定を行う第3のステップと、
を有することを特徴とするガスクロマトグラフ測定方法。
内部に水素透過膜を有する濃縮管と、
前記濃縮管に一定量の試料を流通させるとともに前記水素透過膜を通過した水素のみを前記濃縮管から排出させ、前記濃縮管を密閉し一定時間保持した後に、濃縮された試料を前記濃縮管から採取する試料供給手段と、
前記濃縮管から取り出された試料を選択的に測定手段に導くための切換バルブと、
を有することを特徴とする。
制御弁V1を閉じて試料ガスの供給を停止させた直後は、濃縮管1の内部において、流路8bに排出されずに残った不純物がパラジウム膜2付近に集中し、管全体の濃度分布に差があると考えられる。濃縮管内の試料の濃度分布が均一でないと、測定結果のピークの位置や形に悪影響を与えるため、濃縮管1内部の濃度分布を均一化し、安定化させる。
切換バルブRV1からプレカットカラム3に流れていたキャリアガスCGは、流路が制御弁V4の方へ切り換わり、流路8cから廃棄される。
2 パラジウム膜
3 プレカットカラム
4 流量調整カラム
5 分離カラム
6 検出器
7 温度調整器
8a〜8f 流路
SG 試料ガス
CG キャリアガス
R1 減圧弁
RV1〜RV3 切換バルブ
V1〜V3 制御弁
RR レストリクタ(可変抵抗)
Claims (6)
- 水素中の不純物の濃度を測定するガスクロマトグラフ測定方法において、
内部に水素透過膜を有する濃縮管に一定量の試料ガスを流通させる第1のステップと、
前記濃縮管を密閉し一定時間保持する第2のステップと、
前記濃縮管内の試料を分離カラムに供給し、測定を行う第3のステップと、
を有することを特徴とするガスクロマトグラフ測定方法。 - 前記水素透過膜としてパラジウム膜を使用することを特徴とする請求項1に記載のガスクロマトグラフ測定方法。
- 前記濃縮管における水素透過膜を、試料の濃縮時に十分な水素透過性を発揮すると推定される温度に調整することを特徴とする請求項1または2に記載のガスクロマトグラフ測定方法。
- 水素中の不純物の測定を行うガスクロマトグラフ測定装置において、
内部に水素透過膜を有する濃縮管と、
前記濃縮管に一定量の試料を流通させるとともに前記水素透過膜を通過した水素のみを前記濃縮管から排出させ、前記濃縮管を密閉し一定時間保持した後に、濃縮された試料を前記濃縮管から採取する試料供給手段と、
前記濃縮管から取り出された試料を選択的に測定手段に導くための切換バルブと、
を有することを特徴とするガスクロマトグラフ測定装置。
- 前記水素透過膜はパラジウム膜であることを特徴とする請求項4に記載のガスクロマトグラフ測定装置。
- 前記濃縮管は、試料の濃縮時に、前記水素透過膜が十分な水素透過性を発揮すると推定される温度とする温度調整手段を有することを特徴とする請求項4または5に記載のガスクロマトグラフ測定装置。
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