JP4786939B2 - 妨害排除能力試験装置 - Google Patents
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Description
前記電子機器に向けて前記試験用電波を放射するためのアンテナと、
該アンテナから前記試験用電波を放射させるための送信信号を発生する信号発生手段と、
該信号発生手段から前記アンテナに入力される送信信号の信号レベルを調整するためのレベル調整手段と、
前記電子機器の動作を監視しつつ、前記レベル調整手段を介して前記アンテナに入力される送信信号の信号レベルを変化させることで、前記電子機器が前記試験用電波によって正常動作から異常動作又は異常動作から正常動作に変化する境界点での前記送信信号の信号レベルを検出する境界点検出手段と、
前記信号発生手段から前記アンテナに入力される送信信号の信号レベルと該送信信号の入力により前記アンテナから放射される試験用電波の前記電子機器設置場所での電界強度との対応関係を表すデータを換算データとして備え、該換算データを用いて、前記境界点検出手段にて検出された前記境界点での前記送信信号の信号レベルから、前記境界点で前記電子機器に照射された試験用電波の電界強度を演算し、該演算結果を記憶手段に格納する試験結果格納手段と、
を備えたことを特徴とする。
前記信号発生手段は、前記送信信号の発生周波数を外部から設定可能に構成され、
更に、前記境界点検出手段による前記境界点での送信信号の信号レベルの検出動作及び前記試験結果格納手段による前記試験用電波の電界強度の演算動作を含む一連の試験動作を実行させる際の第1の試験条件として、前記信号発生手段が発生する送信信号の周波数を、予め登録された複数の周波数の一つに設定し、該設定した第1の試験条件下で前記一連の試験動作が完了すると、前記信号発生手段が発生する送信信号の周波数を前記複数の周波数の他の一つに変更することで、前記一連の試験動作を、前記複数の周波数に対してそれぞれ実行させる第1の試験条件変更手段、を備え、
前記試験結果格納手段は、前記換算データとして、前記第1の試験条件変更手段が前記第1の試験条件として設定する前記送信信号の周波数に対応した複数の換算データを備え、前記境界点で前記電子機器に照射された試験用電波の電界強度の演算には、前記第1の試験条件変更手段にて前記第1の試験条件として設定された送信信号の周波数に対応する換算データを用い、しかも、該電界強度の演算結果を、前記第1の試験条件変更手段にて前記第1の試験条件として設定された送信信号の周波数と共に前記記憶手段に格納する、
ことを特徴とする。
前記アンテナから放射される試験用電波の偏波面の角度を、少なくとも水平から垂直の間で変化させる偏波面調整手段と、
前記境界点検出手段による前記境界点での送信信号の信号レベルの検出動作及び前記試験結果格納手段による前記試験用電波の電界強度の演算動作を含む一連の試験動作を実行させる際の第2の試験条件として、前記アンテナが放射する試験用電波の偏波面を、前記偏波面調整手段を介して、予め登録された複数の偏波角度の一つに設定し、該設定した第2の試験条件下で前記一連の試験動作が完了すると、前記偏波面調整手段を介して、前記アンテナが放射する試験用電波の偏波面を前記複数の偏波角度の他の一つに変更することで、前記一連の試験動作を、前記複数の偏波角度に対してそれぞれ実行させる第2の試験条件変更手段と、
を備え、
前記試験結果格納手段は、前記電界強度の演算結果を、前記第2の試験条件変更手段にて第2の試験条件として設定された前記試験用電波の偏波面の偏波角度と共に前記記憶手段に格納することを特徴とする。
前記電子機器の妨害排除能力を測定する前に、前記試験結果格納手段が試験用電波の電界強度を演算するのに用いる換算データを生成するための手段として、
妨害排除能力の測定時に測定対象となる電子機器が設置される設置場所に配置され、前記アンテナから放射された試験用電波の電界強度を測定する電界強度測定手段と、
前記レベル調整手段を介して前記アンテナに入力される送信信号の信号レベルを変化させつつ、前記電界強度測定手段を介して得られる試験用電波の電界強度を読み込むことで、前記アンテナに入力される信号レベルと前記電子機器の設置場所での試験用電波の電界強度との対応関係を表すデータを生成し、該データを前記換算データとして設定する換算データ生成手段と、
を備えたことを特徴とする。
すると、試験結果格納手段が、その境界点検出手段にて検出された境界点での送信信号の信号レベルに基づき、換算データを用いて、電子機器の正常動作と異常動作との境界点での試験用電波の電界強度を演算し、その演算結果を記憶手段に格納する。
このため、請求項1に記載の妨害排除能力試験装置によれば、試験結果として、試験対象物である電子機器が異常動作し始めるときに電子機器に照射されている試験用電波の電界強度が得られ、その電界強度が記憶手段に自動で記憶されることになる。
また、第1の試験条件変更手段は、その設定した第1の試験条件下で一連の試験動作が完了すると、信号発生手段が発生する送信信号の周波数を複数の周波数の他の一つに変更することで、境界点検出手段及び試験結果格納手段による一連の試験動作を、複数の周波数に対してそれぞれ実行させる。
そして、試験結果格納手段は、換算データとして、第1の試験条件変更手段が第1の試験条件として設定する送信信号の周波数に対応した複数の換算データを備え、境界点で電子機器に照射された試験用電波の電界強度を演算する際には、第1の試験条件変更手段にて第1の試験条件として設定された送信信号の周波数に対応する換算データを用いる。
また、試験結果格納手段は、電界強度の演算結果を記憶手段に格納する際には、第1の試験条件変更手段にて第1の試験条件として設定された送信信号の周波数と共に電界強度の演算結果を格納する。
そして、第2の試験条件変更手段は、境界点検出手段及び試験結果格納手段による一連の試験動作を実行させる際の第2の試験条件として、アンテナが放射する試験用電波の偏波面を、偏波面調整手段を介して、予め登録された複数の偏波角度の一つに設定する。
また、第2の試験条件変更手段は、その設定した第2の試験条件下で一連の試験動作が完了すると、偏波面調整手段を介して、アンテナが放射する試験用電波の偏波面を複数の偏波角度の他の一つに変更することで、境界点検出手段及び試験結果格納手段による一連の試験動作を、複数の偏波角度に対してそれぞれ実行させる。
そして、試験結果格納手段は、電界強度の演算結果を記憶手段に格納する際には、第2の試験条件変更手段にて第2の試験条件として設定された試験用電波の偏波面の偏波角度と共に電界強度の演算結果を記憶手段に格納する。
このため、請求項3に記載の妨害排除能力試験装置によれば、第2の試験条件を適宜設定することにより、試験用電波の偏波角度を水平・垂直以外の任意の角度に設定して、電子機器の妨害波に対する耐性を評価することができるようになり、その評価範囲を広げることもできる。
図1は、本発明が適用された妨害排除能力試験装置全体の構成を表す構成図である。
図1に示すように、本実施形態の妨害排除能力試験装置は、載置台6に載置された供試機器4に対して妨害波となる試験用電波を照射することで、供試機器4の妨害波に対する耐性を測定するイミュニティ試験を行うためのものであり、試験用電波を放射するためのホーンアンテナ10と、このホーンアンテナ10から放射された試験用電波を効率よく供試機器4に導くための導波管12とを備える。
なお、この処理は、使用者が操作部30aを操作することにより、イミュニティ試験の開始指令を入力した際に、測定装置30において実行される処理であるが、以下の説明では、その開始指令入力前には、使用者が、載置台6上に供試機器4を載置して、その供試機器4にE/O変換器32を接続する、といった手順で、所望の供試機器4に対するイミュニティ試験の準備を行っているものとする。
図8に示す如く、この校正処理では、まず、S200にて、モータ駆動装置22、信号発生装置24、パルス発生器26に動作チェック用の制御信号を出力して、その動作を確認することにより、当該試験装置全体のシステム動作チェックを行い、S210にて、その動作チェックの結果、当該システムは正常動作しているか否かを判定し、正常動作していなければ、使用者に配線等を確認させるためのエラーメッセージを表示部30bに表示し、当該校正処理を一旦終了する。
一方、上記実施形態では、ホーンアンテナ10から供試機器4に向けて放射する試験用電波を垂直偏波から水平偏波、或いはその逆方向へと連続的に変化させるために、ホーンアンテナ10に設けられた試験用電波出射用のプローブP1を、モータ18を用いて回転させるものとして説明したが、例えば、図9に示すように、ホーンアンテナ10の開口端と導波管12のホーンアンテナ10側開口端とに円盤状の鍔部10a、12aを形成し、これら各鍔部10a、12aをボルト等で互いに連結することで、ホーンアンテナ10と導波管12とを一体化し、これを、その中心軸周りに回転させるようにしても試験用電波の偏波角度を変化させることができる。
Claims (6)
- 試験対象物である電子機器に試験用電波を照射することにより、該電子機器の妨害排除能力を測定するための妨害排除能力試験装置であって、
前記電子機器に向けて前記試験用電波を放射するためのアンテナと、
該アンテナから前記試験用電波を放射させるための送信信号を発生する信号発生手段と、
該信号発生手段から前記アンテナに入力される送信信号の信号レベルを調整するためのレベル調整手段と、
前記電子機器の動作を監視しつつ、前記レベル調整手段を介して前記アンテナに入力される送信信号の信号レベルを変化させることで、前記電子機器が前記試験用電波によって正常動作から異常動作又は異常動作から正常動作に変化する境界点での前記送信信号の信号レベルを検出する境界点検出手段と、
前記信号発生手段から前記アンテナに入力される送信信号の信号レベルと該送信信号の入力により前記アンテナから放射される試験用電波の前記電子機器設置場所での電界強度との対応関係を表すデータを換算データとして備え、該換算データを用いて、前記境界点検出手段にて検出された前記境界点での前記送信信号の信号レベルから、前記境界点で前記電子機器に照射された試験用電波の電界強度を演算し、該演算結果を記憶手段に格納する試験結果格納手段と、
を備えたことを特徴とする妨害排除能力試験装置。 - 前記信号発生手段は、前記送信信号の発生周波数を外部から設定可能に構成され、
更に、前記境界点検出手段による前記境界点での送信信号の信号レベルの検出動作及び前記試験結果格納手段による前記試験用電波の電界強度の演算動作を含む一連の試験動作を実行させる際の第1の試験条件として、前記信号発生手段が発生する送信信号の周波数を、予め登録された複数の周波数の一つに設定し、該設定した第1の試験条件下で前記一連の試験動作が完了すると、前記信号発生手段が発生する送信信号の周波数を前記複数の周波数の他の一つに変更することで、前記一連の試験動作を、前記複数の周波数に対してそれぞれ実行させる第1の試験条件変更手段、を備え、
前記試験結果格納手段は、前記換算データとして、前記第1の試験条件変更手段が前記第1の試験条件として設定する前記送信信号の周波数に対応した複数の換算データを備え、前記境界点で前記電子機器に照射された試験用電波の電界強度の演算には、前記第1の試験条件変更手段にて前記第1の試験条件として設定された送信信号の周波数に対応する換算データを用い、しかも、該電界強度の演算結果を、前記第1の試験条件変更手段にて前記第1の試験条件として設定された送信信号の周波数と共に前記記憶手段に格納する、
ことを特徴とする請求項1に記載の妨害排除能力試験装置。 - 前記アンテナから放射される試験用電波の偏波面の角度を、少なくとも水平から垂直の間で変化させる偏波面調整手段と、
前記境界点検出手段による前記境界点での送信信号の信号レベルの検出動作及び前記試験結果格納手段による前記試験用電波の電界強度の演算動作を含む一連の試験動作を実行させる際の第2の試験条件として、前記アンテナが放射する試験用電波の偏波面を、前記偏波面調整手段を介して、予め登録された複数の偏波角度の一つに設定し、該設定した第2の試験条件下で前記一連の試験動作が完了すると、前記偏波面調整手段を介して、前記アンテナが放射する試験用電波の偏波面を前記複数の偏波角度の他の一つに変更することで、前記一連の試験動作を、前記複数の偏波角度に対してそれぞれ実行させる第2の試験条件変更手段と、
を備え、
前記試験結果格納手段は、前記電界強度の演算結果を、前記第2の試験条件変更手段にて第2の試験条件として設定された前記試験用電波の偏波面の偏波角度と共に前記記憶手段に格納する、
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の妨害排除能力試験装置。 - 前記試験条件を外部から登録するための試験条件入力手段を備えたことを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の妨害排除能力試験装置。
- 前記試験結果格納手段により前記記憶手段に格納された試験結果を表示する表示手段を備えたことを特徴とする請求項1〜請求項4の何れか1項に記載の妨害排除能力試験装置。
- 前記電子機器の妨害排除能力を測定する前に、前記試験結果格納手段が試験用電波の電界強度を演算するのに用いる換算データを生成するための手段として、
妨害排除能力の測定時に測定対象となる電子機器が設置される設置場所に配置され、前記アンテナから放射された試験用電波の電界強度を測定する電界強度測定手段と、
前記レベル調整手段を介して前記アンテナに入力される送信信号の信号レベルを変化させつつ、前記電界強度測定手段を介して得られる試験用電波の電界強度を読み込むことで、前記アンテナに入力される信号レベルと前記電子機器の設置場所での試験用電波の電界強度との対応関係を表すデータを生成し、該データを前記換算データとして設定する換算データ生成手段と、
を備えたことを特徴とする請求項1〜請求項5の何れか1項に記載の妨害排除能力試験装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005156078A JP4786939B2 (ja) | 2005-05-27 | 2005-05-27 | 妨害排除能力試験装置 |
US11/441,749 US7741856B2 (en) | 2005-05-27 | 2006-05-26 | Immunity test system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005156078A JP4786939B2 (ja) | 2005-05-27 | 2005-05-27 | 妨害排除能力試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006329877A JP2006329877A (ja) | 2006-12-07 |
JP4786939B2 true JP4786939B2 (ja) | 2011-10-05 |
Family
ID=37462541
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005156078A Expired - Fee Related JP4786939B2 (ja) | 2005-05-27 | 2005-05-27 | 妨害排除能力試験装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7741856B2 (ja) |
JP (1) | JP4786939B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5260013B2 (ja) * | 2007-09-28 | 2013-08-14 | マスプロ電工株式会社 | Emc試験用電波放射装置 |
US8212572B2 (en) * | 2009-07-21 | 2012-07-03 | National Instruments Corporation | Electromagnetic compatibility multi-carrier immunity testing system and method |
JP2011117782A (ja) * | 2009-12-02 | 2011-06-16 | Nec Corp | 電界計測装置及びそれに用いる電界計測方法 |
KR100964990B1 (ko) * | 2009-12-10 | 2010-06-21 | 엘아이지넥스원 주식회사 | 어퍼쳐 안테나용 빔 컨트롤러와 이를 구비한 어퍼쳐 안테나 |
JP5499919B2 (ja) * | 2010-06-07 | 2014-05-21 | 日本電気株式会社 | マイクロ波照射試験装置、該試験装置に用いられる照射試験方法及び照射試験プログラム |
JP5678854B2 (ja) * | 2011-09-28 | 2015-03-04 | 株式会社デンソー | 電磁波試験装置 |
JP6006831B1 (ja) * | 2015-05-18 | 2016-10-12 | 日本電信電話株式会社 | 均一電界範囲決定法 |
CN110764490A (zh) * | 2019-11-08 | 2020-02-07 | 中国舰船研究设计中心 | 面向高功率微波快艇迫停敏感器件阈值测试方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5414345A (en) * | 1991-04-29 | 1995-05-09 | Electronic Development, Inc. | Apparatus and method for low cost electromagnetic field susceptibility testing |
DE69101058T2 (de) * | 1991-06-11 | 1994-05-05 | Amplisilence Srl | Gerät zur Messung elektromagnetischer Interferenzen. |
US5311116A (en) * | 1992-04-02 | 1994-05-10 | Electronic Development, Inc. | Multi-channel electromagnetically transparent voltage waveform monitor link |
US5302960A (en) * | 1992-07-20 | 1994-04-12 | Digital Equipment Corporation | Multi-element susceptibility room |
JP3006383B2 (ja) * | 1993-05-24 | 2000-02-07 | 日本電気株式会社 | 電波耐性試験装置および電波耐性評価方法および電波照射部 |
US5923295A (en) * | 1995-12-19 | 1999-07-13 | Mitsumi Electric Co., Ltd. | Circular polarization microstrip line antenna power supply and receiver loading the microstrip line antenna |
US5844413A (en) * | 1995-12-21 | 1998-12-01 | Euro Emc Service Dr. Hansen Gmbh | Method and apparatus for generating and receiving electromagnetic waves for testing purposes |
US6295032B1 (en) * | 2000-05-18 | 2001-09-25 | Andrew S. Podgorski | Broadband horn antennas and electromagnetic field test facility |
JP2003121485A (ja) | 2001-10-09 | 2003-04-23 | Ntt Docomo Inc | 電波照射装置 |
-
2005
- 2005-05-27 JP JP2005156078A patent/JP4786939B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-05-26 US US11/441,749 patent/US7741856B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006329877A (ja) | 2006-12-07 |
US20060267597A1 (en) | 2006-11-30 |
US7741856B2 (en) | 2010-06-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080501 |
|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110714 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |