KR101744880B1 - 레이더 장비의 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템 및 그 방법 - Google Patents

레이더 장비의 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템 및 그 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명에 의한 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템 및 그 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템은 주파수에 따른 주파수 합성기의 출력 신호로부터 출력 레벨을 측정하는 전력 측정기; 상기 주파수 합성기의 출력 신호로부터 불요파를 측정하는 신호 분석기; 측정된 상기 출력 레벨과 상기 불요파를 제공받아 제공받은 상기 출력 레벨과 상기 불요파 각각에 따라 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어하기 위한 보정값을 결정하는 제어 단말; 및 결정된 상기 보정값을 상기 주파수 합성기 내 해당하는 감쇄기에 입력하는 시험 장비를 포함한다.

Description

레이더 장비의 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템 및 그 방법{SYSTEM FOR TESTING PERFORMANCE OF FREQUENCY SYNTHESIZER FOR RADAR AND METHOD THEREOF}
본 발명은 주파수 합성기의 성능 시험 장비에 관한 것으로서, 특히, 온도 변화에 따라 주파수 합성기 내부의 감쇄값 제어가 가능한 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템 및 그 방법에 관한 것이다.
주파수 합성기는 일반적으로 레이더나 통신 장비와 같은 주파수 신호를 사용하는 장치에 장착되어 각 장치의 요구에 적합한 다양한 주파수의 신호를 생성하고 합성한다. 이러한 주파수 합성기는 각 장치에서 요구되는 주파수 대역의 신호를 지정된 출력 레벨로 정확하게 생성할 수 있어야 하며, 요구되는 주파수 대역이 가변되는 경우에 신속하게 신속하게 주파수를 가변할 수 있어야 한다. 또한 잡음과 같은 불요파가 포함되지 않는 깨끗한 파형의 신호를 출력할 수 있어야 한다.
특히, 군사용으로 사용되는 레이더나 통신 장비 등에 적용되는 주파수 합성기는 다양한 운용 환경에서도 안정적인 주파수 신호를 출력할 수 있도록 구성되어야 한다.
이에 현장 운용 시의 신뢰도를 높이기 위해, 주파수 합성 장치는 생산 시에 온도 변화에 따른 불요파 변화 발생 및 출력 레벨 변화를 테스트하여 측정하고, 측정된 결과를 기초로 온도 변화에 대한 성능 최적화 작업을 수행한다.
기존의 주파수 합성기의 테스트는 온도 챔버 내에 주파수 합성기가 장착된 장치(예를 들면 레이더 송신기)를 배치하고, 온도 챔버의 온도를 가변하면서 장치를 구동하여 온도 변화에 따라 주파수 합성기에서 출력되는 주파수 신호의 파형과 출력 레벨을 감지한다. 온도 변화에 대한 주파수 합성기의 성능 변화가 크지 않아 수정의 필요성이 발생하지 않는 경우에는 별도의 성능 최적화를 수행할 필요가 없어 문제가 되지 않는다.
그러나 온도에 따른 성능 최적화를 수행해야 하는 경우, 기존의 주파수 합성기는 출력 레벨 및 불요파 발생을 조절하기 위한 감쇄기가 고정된 감쇄값을 갖는 π형 감쇄기로 구현되어 장착되었기 때문에 테스트 도중 회로를 수정 작업을 수행할 수 없었다. 따라서 온도 챔버에서 장치를 인출한 후, 상온에서 주파수 합성기의 π형 감쇄기를 교체하여 장착함으로써, 출력 레벨을 조절하고 불요파 발생을 억제한다. 즉, 온도 성능 테스트 중 주파수 합성기의 감쇄값을 즉각적으로 가변하지 못하여, 상온에서 감쇄값을 조절한다. 이는 온도 챔버의 온도 조절 시간을 요구하게 되어 테스트 시간이 길어지는 문제가 있다.또한 상온에서 감쇄값을 조절하므로, 목표로 하는 온도에서의 정확한 감쇄값을 확인하기 어렵다는 문제가 있어, 감쇄값의 반복적 테스트를 통한 재조정이 필요한 경우가 발생한다.
그리고 π형 감쇄기를 작업자가 직접 기판 상에 납땜하여 교체하는 방식으로 진행되어 숙련된 작업자가 아니면, 작업하기 어렵고, 회로에 손상이 발생할 가능성이 있다.
이렇게 기존의 테스트 시스템은 주파수 합성기의 감쇄값을 온도 챔버 내에서 즉각적으로 조절할 수 없음에 따라 정확한 테스트가 불가능하고, 반복적인 테스트를 수행하게 되어 비효율적이라는 문제가 있다.
뿐만 아니라, 주파수 합성기는 주파수 합성기의 출력 레벨에 따라 점등되어, 운용시 고장 발생을 신속하게 확인할 수 있도록 하는 고장 표시 램프를 구비하였으나, 출력 레벨을 감지하는 전력 측정기의 온도 특성에 따라 정상 동작 중에도 고장 표시 램프가 점등되는 경우가 발생하여 불필요한 검사를 수행하게 되는 경우도 발생한다.
따라서 이러한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 주파수 합성기의 성능 시험 시에 주파수에 따라 주파수 합성기의 출력 레벨과 불요파 레벨을 측정하여 그 측정된 출력 레벨과 불요파 레벨 각각에 따라 주파수 합성기 내 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어하도록 하는 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템 및 그 방법을 제공하는데 있다.
그러나 본 발명의 목적은 상기에 언급된 사항으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 목적들을 달성하기 위하여, 본 발명의 한 관점에 따른 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템은 입력 신호를 내부에서 생성된 제1 및 제2 국부 발진 신호와 합성하여 출력 신호를 출력하는 레이더 장비의 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템에 있어서, 주파수에 따른 상기 주파수 합성기의 상기 출력 신호로부터 출력 레벨을 측정하는 전력 측정기; 상기 출력 신호로부터 불요파 레벨을 측정하는 신호 분석기; 상기 주파수 합성기의 고장 상태를 나타내기 위해 상기 출력 신호를 커플링하여 획득된 커플링된 출력 신호에 따라 동작하는 스위치의 상태에 응답하여 발광하는 램프의 광을 감지하는 광 센서; 측정된 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨을 제공받아, 제공받은 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각에 따라 제1 및 제2 보정값을 결정하고, 감지된 상기 램프의 광에 따라 제3 보정값을 결정하는 제어 단말; 및 결정된 상기 제1 내지 제3 보정값을 상기 주파수 합성기 내 대응하는 감쇄기에 입력하는 시험 장비; 를 포함하고, 상기 주파수 합성기는 상기 제1 보정값에 응답하여, 상기 주파수 합성기의 상기 제2 국부 발진 신호를 감쇄하여 불요파를 조절하는 제1 감쇄기; 상기 제2 보정값에 응답하여, 상기 주파수 합성기의 상기 출력 신호의 상기 출력 레벨을 감쇄하는 제2 감쇄기; 및 상기 제3 보정값에 응답하여, 상기 주파수 합성기의 상기 커플링된 출력 신호를 감쇄하는 제3 감쇄기; 를 포함할 수 있다.
삭제
바람직하게, 상기 제어 단말은 상기 출력 레벨이 제1 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 출력 레벨이 불량 상태라고 판단하고, 상기 불요파 레벨이 제2 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 불요파 레벨이 불량 상태라고 판단하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 제어 단말은 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각이 목표치를 만족하지 못하면, 상기 주파수 합성기의 출력 신호에 대한 전압 레벨과 이에 상응하는 감쇄값이 저장된 변환 테이블을 이용하여 해당 감쇄기의 감쇄값을 증감시키기 위한 보정값을 결정하는 것을 특징으로 한다.
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본 발명의 다른 한 관점에 따른 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 방법은 입력 신호를 내부에서 생성된 제1 및 제2 국부 발진 신호와 합성하여 출력 신호를 출력하는 레이더 장비의 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 방법에 있어서, 전력 측정기로 주파수에 따른 주파수 합성기의 출력 신호로부터 출력 레벨을 측정하는 단계; 신호 분석기로 상기 주파수 합성기의 출력 신호로부터 불요파 레벨을 측정하는 단계; 광 센서로 상기 주파수 합성기의 고장 상태를 나타내기 위해 상기 출력 신호를 커플링하여 획득된 커플링된 출력 신호에 따라 동작하는 스위치의 상태에 응답하여 발광하는 램프의 광을 감지하는 단계; 측정된 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨을 제공받아 제공받은 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각에 따라 제1 및 제2 보정값을 결정하는 단계; 감지된 상기 램프의 광에 따라 제3 보정값을 결정하는 단계; 및 결정된 상기 제1 내지 제3 보정값을 상기 주파수 합성기 내 해당하는 감쇄기에 입력하는 단계;를 포함하고, 상기 감쇄기에 입력하는 단계는
상기 제1 보정값을 상기 주파수 합성기의 상기 제2 국부 발진 신호를 감쇄하여 불요파를 조절하는 제1 감쇄기로 입력하는 단계; 상기 제2 보정값을 상기 주파수 합성기의 상기 출력 신호의 상기 출력 레벨을 감쇄하는 제2 감쇄기로 입력하는 단계; 및 상기 제3 보정값을 상기 주파수 합성기의 상기 커플링된 출력 신호를 감쇄하는 제3 감쇄기로 입력하는 단계; 를 포함할 수 있다.
삭제
바람직하게, 상기 산정하는 단계는 상기 출력 레벨이 제1 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 출력 레벨이 불량 상태라고 판단하고, 상기 불요파 레벨이 제2 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 불요파 레벨이 불량 상태라고 판단하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 산정하는 단계는 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각이 목표치를 만족하지 못하면, 상기 주파수 합성기의 출력 신호에 대한 전압 레벨과 이에 상응하는 감쇄값이 저장된 변환 테이블을 이용하여 해당 감쇄기의 감쇄값을 증감시키기 위한 보정값을 결정하는 것을 특징으로 한다.
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이를 통해, 본 발명은 주파수 합성기의 성능 시험 시에 온도 변화에 따른 주파수 합성기의 출력 레벨과 불요파 레벨을 측정하여 그 측정된 출력 레벨과 불요파 레벨 각각에 따라 주파수 합성기 내 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어하도록 함으로써, 온도 시험 중에도 최적의 감쇄값을 인지할 수 있고 그 최적의 감쇄값을 장비에 적용할 수 있는 효과가 있다.
또한 본 발명은 외부 장입 장치에서 최적의 감쇄값을 장입하는 것이 가능하기 때문에 온도 특성에도 항상 안정적으로 동작할 수 있는 제품을 생산할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 주파수 합성기의 성능 시험 시스템을 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 주파수 합성기의 구현 예를 보여주는 도면이다.
도 3은 주파수 합성기의 출력 레벨을 보정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 주파수 합성기의 불요파 레벨을 보정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 주파수 합성기의 램프 동작을 보정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 주파수 합성기의 성능 시험 방법을 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 감쇄값을 제어하기 위한 방법을 나타내는 도면이다.
이하에서는, 본 발명의 실시예에 따른 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템 및 그 방법을 첨부한 도면을 참조하여 설명한다. 본 발명에 따른 동작 및 작용을 이해하는 데 필요한 부분을 중심으로 상세히 설명한다.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 동일한 명칭의 구성 요소에 대하여 도면에 따라 다른 참조부호를 부여할 수도 있으며, 서로 다른 도면임에도 불구하고 동일한 참조부호를 부여할 수도 있다. 그러나, 이와 같은 경우라 하더라도 해당 구성 요소가 실시예에 따라 서로 다른 기능을 갖는다는 것을 의미하거나, 서로 다른 실시예에서 동일한 기능을 갖는다는 것을 의미하는 것은 아니며, 각각의 구성 요소의 기능은 해당 실시예에서의 각각의 구성 요소에 대한 설명에 기초하여 판단하여야 할 것이다.
특히, 본 발명에서는 주파수 합성기의 성능 시험 시에 주파수에 따라 주파수 합성기의 출력 레벨과 불요파 레벨을 측정하여 그 측정된 출력 레벨와 불요파 레벨 각각에 따라 주파수 합성기 내 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어하도록 하는 새로운 방안을 제안한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 주파수 합성기의 성능 시험 시스템을 나타내는 도면이다.
도 1에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 주파수 합성기의 성능 시험 시스템은 제1 신호 발생기(110), 제2 신호 발생기(120), 주파수 합성기(130), 전력 측정기(140), 신호 분석기(150), 광 센서(160), 제어 단말(170), 시험 장비(180)를 포함할 수 있다.
제1 신호 발생기(110)는 주파수 합성을 위한 제1 주파수 신호를 발생할 수 있다.
제2 신호 발생기(120)는 주파수 합성을 위한 제2 주파수 신호를 발생할 수 있다.
주파수 합성기(130)는 제1 주파수 신호 또는 제2 주파수 신호를 입력 받아 그 입력 받은 제1 주파수 신호 또는 제2 주파수 신호를 기준으로 원하는 주파수 신호를 생성할 수 있다.
이러한 주파수 합성기(130)는 상온, 고온, 저온 환경에서 주파수별로 출력 레벨, 불요파 레벨, 램프 상태 등의 성능을 시험하기 위해서 온도챔버(점선) 내에 위치할 수 있다.
전력 측정기(140)는 주파수 합성기의 출력단에 연결되어, 주파수 합성기(130)의 출력 신호를 제공 받아 그 제공 받은 출력 신호로부터 출력 레벨을 측정할 수 있다.
신호 분석기(150)는 주파수 합성기의 출력단에 연결되어, 주파수 합성기(130)의 출력 신호를 제공 받아 그 제공 받은 출력 신호로부터 불요파 레벨을 측정할 수 있다.
광 센서(160)는 주파수 합성기(130)의 고장 상태를 식별하기 위한 램프(LP)로부터 소정 거리만큼 이격되어 장착되어, 그 램프로부터 발광되는 광을 감지할 수 있다.
제어 단말(170)은 전력 측정기(140)로부터 측정된 출력 레벨과 신호 분석기(150)로부터 측정된 불요파를 제공받아 제공받은 출력 레벨과 불요파 각각에 따라 주파수 합성기 내 해당 감쇄기의 감쇄율 또는 감쇄값을 증감하기 위한 보정값을 결정할 수 있다.
그 일예로, 제어 단말(170)은 측정된 출력 레벨이 기 설정된 제1 목표치를 만족하면 측정된 출력 레벨이 정상 상태라고 판단하고 제1 목표치를 벗어나면 출력 레벨이 불량 상태라고 판단한다.
이때, 제어 단말(170)은 일치하지 않는 경우 출력 레벨을 튜닝하는 주파수 합성기 내 해당 감쇄기의 감쇄값을 증감하기 위한 보정값을 결정할 수 있다. 즉, 제어 단말(170)은 출력 레벨이 제1 목표치보다 크면, 해당 감쇄기의 감쇄값을 감소시키기 위한 보정값을 결정하고, 출력 레벨이 제1 목표치보다 작으면, 해당 감쇄기의 감쇄값을 증가시키기 위한 보정값을 결정한다.
여기서, 제어 단말(170)은 주파수 합성기의 출력 신호에 대한 전압 레벨과 이에 상응하는 감쇄값이 미리 저장된 변환 테이블을 이용하여 보정값을 결정할 수 있다.
다른 예로, 제어 단말(170)은 측정된 불요파 레벨이 제2 목표치를 만족하면 측정된 불요파 레벨이 정상 상태라고 판단하고 제2 목표치를 벗어나면 불요파 레벨이 불량 상태라고 판단한다.
이때, 제어 단말(170)은 일치하지 않는 경우 불요파 레벨을 튜닝하는 주파수 합성기 내 해당 감쇄기의 감쇄값을 증감하기 위한 보정값을 결정할 수 있다. 즉, 제어 단말(170)은 불요파 레벨이 제2 목표치보다 크면, 해당 감쇄기의 감쇄값을 증감하여 불요파 레벨이 제2 목표치보다 작아질 때까지 불요파를 감소시키는 감쇄기의 보정값을 결정한다.
제어 단말(170)은 또한 광 센서(160)로부터 측정된 램프의 발광 여부에 따라 그 램프가 정상적으로 동작하는지의 여부를 판단하고 그 판단한 결과에 따라 주파수 합성기(130) 내 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어하기 위한 보정값을 결정할 수 있다.
제어 단말(170)은 이렇게 주파수 합성기의 출력 레벨, 불요파, 램프 상태에 따라 산정된 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어하기 위한 보정값을 시험 장비(180)에 제공할 수 있다.
시험 장비(180)는 제어 단말(170)로부터 주파수 합성기의 출력 레벨, 불요파, 램프 상태에 따라 산정된 보정값을 제공 받아 제공 받은 보정값을 주파수 합성기 내 해당하는 감쇄기에 입력함으로써 그 입력된 보정값으로 감쇄값을 제어할 수 있다.
시험 장비(180)는 제어 단말(170)로부터 주파수 합성기의 주파수를 제어하기 위한 제어 신호를 제공 받아 그 제공 받은 제어 신호를 주파수 합성기에 입력할 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 주파수 합성기의 구현 예를 보여주는 도면이다.
도2 에 도시된 주파수 합성기는 입력 신호와 LO 발생기에서 인가되는 제1 국부 발진 신호를 합성하여, 입력 신호를 기지정된 중간 주파수 대역의 중간 주파수 신호로 변환하며, 중간 주파수 신호를 다시 제1 대역 합성기에서 출력되는 제2 국부 발진 신호와 합성하여, 출력 주파수 대역의 신호로 변환한다. 그리고 출력 주파수 대역의 신호는 증폭기를 통해 증폭되어 출력 신호로 출력된다.
그리고 출력 신호는 커플러에 의해 커플링되고, 커플링된 출력 신호는 스위치로 인가되어 스위치의 온/오프를 제어함으로써, 램프를 점등한다.
도 2에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 주파수 합성기는 3개의 감쇄기가 적용되어 있는데, 예컨대, 제1 감쇄기(131)는 제어 단말(170)에서 인가되는 제1 보정값에 응답하여 제2 국부 발진 신호의 감쇄값을 조절하여 불요파 레벨을 튜닝하는 가변 감쇄기이고, 제2 감쇄기(132)는 제어 단말(170)에서 인가되는 제2 보정값에 응답하여 출력 신호에 대한 감쇄값을 조절하여 출력 레벨을 튜닝하는 가변 감쇄기이며, 제3 감쇄기(133)는 커플링된 출력 신호의 감쇄값을 조절하여 램프 불량시 튜닝하는 가변 감쇄기이다.
여기서는 주파수 합성기 내에 3개의 감쇄기를 적용하는 경우를 일 예로 설명하고 있지만 반드시 이에 한정되지 않고 필요에 따라 다양한 개수의 감쇄기가 적용될 수 있다.
도 3은 주파수 합성기의 출력 레벨을 보정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 3에 도시한 바와 같이, 주파수 합성기의 출력 레벨을 보정하는 경우를 보여주고 있다. 즉, 주파수 합성기의 출력 레벨이 정상이라고 판단하는 목표치는 13~17dBm이기 때문에 이 목표치를 벗어나는 경우 제2 감쇄기의 감쇄율 또는 감쇄값을 제어하여 주파수 합성기의 출력 레벨을 보정하게 된다.
예를 들면, case1인 경우, 고온에서 측정된 출력 레벨이 12dBm이기 때문에 고온에서 불량 상태라고 판단하여 제2 감쇄기의 감쇄값을 2dB에서 0.75dB로 제어하게 되고, 이로 인해 출력 레벨이 13.25dBm가 되어 양호 상태로 판단할 수 있다.
다른 예로, case2인 경우, 저온에서 측정된 출력 레벨이 19dBm이기 때문에 저온에서 불량 상태라고 판단하여 제2 감쇄기의 감쇄값을 2dB에서 4.25dB로 제어하게 되고, 이로 인해 출력 레벨이 16.75dBm가 되어 양호 상태로 판단할 수 있다.
도 4는 주파수 합성기의 불요파 레벨을 보정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 4에 도시한 바와 같이, 주파수 합성기의 불요파 레벨을 보정하는 경우를 보여주고 있다. 즉, 주파수 합성기의 불요파 레벨이 정상이라고 판단하는 목표치는 65dB 이하이기 때문에 이 목표치를 벗어나는 경우 제1 감쇄기의 감쇄율 또는 감쇄값을 제어하여 주파수 합성기의 불요파 레벨을 보정하게 된다.
예를 들면, case1인 경우, 측정된 불요파 레벨이 -60dBc이기 때문에 불량 상태라고 판단하여 제1 감쇄기의 감쇄값을 2dB에서 3dB로 1차 제어하게 되고, 이로 인해 불요파 레벨이 -62dBc로 측정된다.
상기 측정된 불요파 레벨이 -62dBc이기 때문에 여전히 불량 상태로 판단하여 제1 감쇄기의 감쇄값을 3dB에서 4dB로 2차 제어하게 되고, 이로 인해 불요파 레벨이 -64dBc로 측정된다.
상기 측정된 불요파 레벨이 -64dBc이기 때문에 여전히 불량 상태로 판단하여 제1 감쇄기의 감쇄값을 4dB에서 5dB로 3차 제어하게 되고, 이로 인해 불요파 레벨이 -66dBc로 측정되기 때문에 양호 상태로 판단되어 추가적인 보정은 하지 않게 된다.
여기서, 불요파특성은 낮은 값 일수록 좋은 성능을 의미하므로 사용자가 추가적인 낮은 불요파 특성을 원할 경우는 목표값을 낮게 설정하여 목표 불요값을 달성할 수 있다.
도 5는 주파수 합성기의 램프 동작을 보정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 5에 도시한 바와 같이, 주파수 합성기의 램프 동작을 보정하는 경우를 보여주고 있다. 즉, 램프 상태가 불량이라고 판단하는 경우 제3 감쇄기의 감쇄율 또는 감쇄값을 제어하여 주파수합성기의 램프 상태를 보정하게 된다.
예를 들면, case1인 경우, 측정된 램프 상태가 고장 상태로 점등되면 사전에 부착한 광 센서가 고장램프의 점등상태를 감지하고, 신호분석기에 출력되는 출력신호레벨을 비교하여 정상레벨(13 ~ 17dBm)이라고 판단되는 경우 제3 감쇄기의 감쇄값을 2dB에서 3dB로 제어하게 되고, 이로 인해 램프 상태가 정상 상태가 되면 시험을 종료하고, 계속해서 고장램프가 점등되는 경우 3dB에서 4dB로 제어하는 방법으로 램프가 정상상태가 될 때까지 감쇄레벨을 보정하게 된다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 주파수 합성기의 성능 시험 방법을 나타내는 도면이다.
도 6에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 주파수 합성기의 성능 시험 시스템(이하, 성능시험시스템이라고 한다)은 사용자의 메뉴 또는 키 조작에 따라 주파수 합성기의 성능 시험이 선택되면, 상온 조건에서 주파수별로 출력 레벨, 불요파 레벨, 램프 동작 상태를 순차적으로 시험할 수 있다(S610).
다음으로, 성능시험 시스템은 시험이 완료되면, 시험한 결과를 저장할 수 있다(S620).
다음으로, 성능시험 시스템은 고온에서 주파수별로 출력 레벨, 불요파 레벨, 램프 동작 상태를 순차적으로 시험할 수 있다(S630).
다음으로, 성능시험 시스템은 시험이 완료되면, 시험한 결과를 저장할 수 있다(S640).
다음으로, 성능시험 시스템은 저온에서 주파수별로 출력 레벨, 불요파 레벨, 램프 동작 상태를 순차적으로 시험할 수 있다(S650).
다음으로, 성능시험 시스템은 시험이 완료되면, 시험한 결과를 저장할 수 있다(S660).
다음으로, 성능시험 시스템은 모든 시험이 완료되면, 시험 결과로서 산출된 감쇄값을 주파수 합성기 내 해당 감쇄기에 각각 설정하고 성능 시험을 종료할 수 있다(S670).
도 7은본 발명의 일 실시예에 따른 감쇄값을 제어하기 위한 방법을 나타내는 도면이다.
도 7에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 주파수 합성기의 성능 시험 시스템(이하, 성능시험 시스템이라고 한다)은 상온 또는 고온 또는 저온에서 성능 시험이 시작되면, 주파수별로 출력 레벨, 불요파 레벨, 램프 동작 상태를 측정할 수 있다(S710).
다음으로, 성능시험 시스템은 측정된 주파수 합성기의 출력 레벨이 기 설정된 제1 목표치를 만족하는지를 확인할 수 있다(S711).
다음으로, 성능시험 시스템은 그 확인한 결과로 제1 목표치를 만족하지 못하면, 감쇄기의 감쇄값을 증감하기 위한 보정값을 결정하여 그 결정된 보정값을 이용하여 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어할 수 있다(S712).
반면, 성능시험 시스템은 제1 목표치를 만족하는 경우, 측정된 주파수 합성기의 불요파 레벨이 기 설정된 제2 목표치를 만족하는지를 확인할 수 있다(S713).
다음으로, 성능시험 시스템은 그 확인한 결과로 제2 목표치를 만족하지 못하면 감쇄기의 감쇄값을 증감하기 위한 보정값을 결정하여 그 결정된 보정값을 이용하여 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어할 수 있다(S714).
반면, 성능시험 시스템은 제2 목표치를 만족하는 경우. 측정된 주파수 합성기의 램프 상태가 정상적으로 동작하는 정상 상태인지를 확인할 수 있다(S715).
다음으로, 성능시험 시스템은 그 확인한 결과로 불량 상태이면, 감쇄기의 감쇄값을 증감하기 위한 보정값을 결정하여 그 결정된 보정값을 이용하여 해당 감쇄기의 감쇄값을 제어할 수 있다(S716).
반면, 성능시험 시스템은 정상 상태이면, 주파수별로 출력 레벨, 불요파 레벨, 램프 동작 상태에 따라 결정된 보정값에 따른 최종 감쇄값을 산출하여 산출된 감쇄값을 해당 감쇄기에 각각 설정할 수 있다(S717).
다음으로, 성능시험 시스템은 성능 시험이 n회 반복 수행되었는지를 확인하여(S718) 그 확인한 결과로 n회 반복 수행되었으면 감쇄값을 저장하고 성능 시험을 종료할 수 있다(S719).
이때, 본 발명에 따른 성능시험 시스템에서는 성능 시험을 1회 반복 수행되었는지를 확인하지만 반드시 이에 한정되지 않고 필요에 따라 변경될 수 있다.
한편, 이상에서 설명한 본 발명의 실시예를 구성하는 모든 구성 요소들이 하나로 결합하거나 결합하여 동작하는 것으로 기재되어 있다고 해서, 본 발명이 반드시 이러한 실시예에 한정되는 것은 아니다. 즉, 본 발명의 목적 범위 안에서라면, 그 모든 구성 요소들이 하나 이상으로 선택적으로 결합하여 동작할 수도 있다. 또한, 그 모든 구성 요소들이 각각 하나의 독립적인 하드웨어로 구현될 수 있지만, 각 구성 요소들의 그 일부 또는 전부가 선택적으로 조합되어 하나 또는 복수 개의 하드웨어에서 조합된 일부 또는 전부의 기능을 수행하는 프로그램 모듈을 갖는 컴퓨터 프로그램으로서 구현될 수도 있다. 또한, 이와 같은 컴퓨터 프로그램은 USB 메모리, CD 디스크, 플래쉬 메모리 등과 같은 컴퓨터가 읽을 수 있는 저장매체(Computer Readable Media)에 저장되어 컴퓨터에 의하여 읽혀지고 실행됨으로써, 본 발명의 실시예를 구현할 수 있다. 컴퓨터 프로그램의 저장매체로서는 자기 기록매체, 광 기록매체, 캐리어 웨이브 매체 등이 포함될 수 있다.
이상에서 설명한 실시예들은 그 일 예로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
110: 제1 신호 발생기
120: 제2 신호 발생기
130: 주파수 합성기
140: 전력 측정기
150: 신호 분석기
160: 광 센서
170: 제어 단말
180: 시험 장비

Claims (12)

  1. 입력 신호를 내부에서 생성된 제1 및 제2 국부 발진 신호와 합성하여 출력 신호를 출력하는 레이더 장비의 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템에 있어서,
    주파수에 따른 상기 주파수 합성기의 상기 출력 신호로부터 출력 레벨을 측정하는 전력 측정기;
    상기 출력 신호로부터 불요파 레벨을 측정하는 신호 분석기;
    상기 주파수 합성기의 고장 상태를 나타내기 위해 상기 출력 신호를 커플링하여 획득된 커플링된 출력 신호에 따라 동작하는 스위치의 상태에 응답하여 발광하는 램프의 광을 감지하는 광 센서;
    측정된 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨을 제공받아, 제공받은 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각에 따라 제1 및 제2 보정값을 결정하고, 감지된 상기 램프의 광에 따라 제3 보정값을 결정하는 제어 단말; 및
    결정된 상기 제1 내지 제3 보정값을 상기 주파수 합성기 내 대응하는 감쇄기에 입력하는 시험 장비; 를 포함하고,
    상기 주파수 합성기는
    상기 제1 보정값에 응답하여, 상기 주파수 합성기의 상기 제2 국부 발진 신호를 감쇄하여 불요파를 조절하는 제1 감쇄기;
    상기 제2 보정값에 응답하여, 상기 주파수 합성기의 상기 출력 신호의 상기 출력 레벨을 감쇄하는 제2 감쇄기;
    상기 제3 보정값에 응답하여, 상기 주파수 합성기의 상기 커플링된 출력 신호를 감쇄하는 제3 감쇄기; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 레이더 장비의 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템.
  2. 삭제
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 제어 단말은,
    상기 출력 레벨이 제1 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 출력 레벨이 불량 상태라고 판단하고,
    상기 불요파 레벨이 제2 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 불요파 레벨이 불량 상태라고 판단하는 것을 특징으로 하는 레이더 장비의 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 제어 단말은,
    상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각이 목표치를 만족하지 못하면, 상기 주파수 합성기의 출력 신호에 대한 전압 레벨과 이에 상응하는 감쇄값이 저장된 변환 테이블을 이용하여 해당 감쇄기의 감쇄값을 증감시키기 위한 보정값을 결정하는 것을 특징으로 하는 레이더 장비의 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 시스템.
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 입력 신호를 내부에서 생성된 제1 및 제2 국부 발진 신호와 합성하여 출력 신호를 출력하는 레이더 장비의 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 방법에 있어서,
    전력 측정기로 주파수에 따른 주파수 합성기의 출력 신호로부터 출력 레벨을 측정하는 단계;
    신호 분석기로 상기 주파수 합성기의 출력 신호로부터 불요파 레벨을 측정하는 단계;
    광 센서로 상기 주파수 합성기의 고장 상태를 나타내기 위해 상기 출력 신호를 커플링하여 획득된 커플링된 출력 신호에 따라 동작하는 스위치의 상태에 응답하여 발광하는 램프의 광을 감지하는 단계;
    측정된 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨을 제공받아 제공받은 상기 출력 레벨과 상기 불요파 레벨 각각에 따라 제1 및 제2 보정값을 결정하는 단계;
    감지된 상기 램프의 광에 따라 제3 보정값을 결정하는 단계; 및
    결정된 상기 제1 내지 제3 보정값을 상기 주파수 합성기 내 해당하는 감쇄기에 입력하는 단계;를 포함하고,
    상기 감쇄기에 입력하는 단계는
    상기 제1 보정값을 상기 주파수 합성기의 상기 제2 국부 발진 신호를 감쇄하여 불요파를 조절하는 제1 감쇄기로 입력하는 단계;
    상기 제2 보정값을 상기 주파수 합성기의 상기 출력 신호의 상기 출력 레벨을 감쇄하는 제2 감쇄기로 입력하는 단계; 및
    상기 제3 보정값을 상기 주파수 합성기의 상기 커플링된 출력 신호를 감쇄하는 제3 감쇄기로 입력하는 단계;
    를 포함하는 레이더 장비의 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 방법.
  8. 삭제
  9. 제7 항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 보정값을 결정하는 단계는,
    상기 출력 레벨이 제1 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 출력 레벨이 불량 상태라고 판단하고,
    상기 불요파 레벨이 제2 목표치를 만족하지 못하는 경우 상기 불요파 레벨이 불량 상태라고 판단하는 것을 특징으로 하는 레이더 장비의 주파수 합성기의 성능을 시험하기 위한 방법.
  10. 삭제
  11. 삭제
  12. 삭제
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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