KR102218539B1 - 전자파 시험시스템 - Google Patents

Abstract

일 실시예는, 제1 주파수 및 제1 시험신호출력을 가지는 제1 시험신호와, 상기 제1 주파수와 다른 제2 주파수 및 상기 제1 시험신호출력과 동일한 값의 제2 시험신호출력을 가지는 제2 시험신호를 생성하는 신호발생기; 상기 제1 및 2 시험신호를 합성하여 합성시험신호를 생성하는 신호합성기; 상기 합성시험신호를 증폭하는 신호증폭기; 상기 합성시험신호를 송신함으로써 상기 제1 및 2 시험신호를 동시에 송신하는 신호송신기; 및 상기 신호송신기로부터 상기 합성시험신호를 수신함으로써 상기 제1 및 2 시험신호를 동시에 수신하는 시험체를 포함하는 시스템을 제공한다.

Description

전자파 시험시스템{SYSTEM FOR ELECTROMAGNETIC SUSCEPTIBILITY TEST}

본 실시예는 전자장치에 대하여 전자파 내성을 시험하는 기술에 관한 것이다.

전자기기가 외부에서 발생하는 전자파(또는 전자파)에 견뎌내는 정도를 측정하는 것을 전자파 내성(EMS, electromagnetic susceptibility) 테스트라고 한다. 선진국들은 전자파 내성에 대한 규제를 강화하고 있어서 전자파 내성은 전자기기 제조사들이 충족시켜야 할 또 다른 과제로서 자리매김하였다.

전자파 내성 테스트가 필요한 이유는 우리 주변에 전자기기들이 계속 증가할 뿐만 아니라 하나의 전자기기가 일으키는 전자파 역시 지속적으로 증가하기 때문이다. 전자기기가 점점 디지털화되고 고속화되면서, 전자기기의 회로 내에서 순환하는 전류들이 증가하고 증가된 전류의 흐름은 전자파를 증가시킨다. 외부의 전자파는 전자기기의 성능을 저해할 수 있다.

전자파 내성 테스트는, 전자파 측정의 대상이 되는 시료기기를 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 전자파 무향실 내부에 넣어 두고 테스트신호를 시료기기로 지속적으로 조사하는 방식으로 이루어질 수 있다. 특정 주파수를 가지는 테스트신호가 시료기기에 조사되면, 다른 주파수를 가지는 다른 테스트신호가 시료기기에 조사되고, 또 다른 주파수를 가지는 또 다른 테스트신호가 시료기기에 조사될 수 있다. 테스트되어야 할 주파수범위가 넓을수록 더 많은 테스트신호가 조사되어야 한다. 따라서 이러한 방식은 테스트되어야 할 주파수가 많아지는 만큼 소요되는 시간이 증가하고 그에 따른 비용도 증가할 수 있다. 전자파 무향실 대여 비용은 시간에 따라 증가하기 때문이다.

한편 전자파 내성 테스트에서는, 전자파 무향실 외부에서 생성된 테스트신호가 전자파 무향실 내부로 전달될 수 있다. 전자파 무향실 내부에서는 테스트신호의 시료기기에 대한 조사만 이뤄질 수 있다. 그런데 테스트신호가 전송선로를 따라 이동하면서 신호출력의 감쇄가 일어날 수 있다. 따라서 시험자가 의도한 신호출력이 나오도록 테스트신호가 생성된다 하더라도 중간에 감쇄되어, 시료기기에 도달하는 신호출력은 작아질 수 있다. 시험자가 애초에 의도한 전자파 내성 테스트가 이뤄질 수 없게 된다.

이러한 배경에서, 본 실시예의 목적은, 복수의 시험신호를 동시에 송신하는 병렬 방식의 전자파 내성 시험 기술을 제공하는 것이다.

또한 본 실시예의 목적은, 시험신호의 일부를 미리 설정된 값과 비교하여 시험신호의 변동을 모니터링하고 이를 피드백하는 전자파 내성 시험 기술을 제공하는 것이다.

전술한 목적을 달성하기 위하여, 일 실시예는, 제1 주파수 및 제1 시험신호출력을 가지는 제1 시험신호와, 상기 제1 주파수와 다른 제2 주파수 및 제2 시험신호출력을 가지는 제2 시험신호를 생성하는 신호발생기; 상기 제1 및 2 시험신호를 합성하여 합성시험신호를 생성하는 신호합성기; 상기 합성시험신호를 증폭하는 신호증폭기; 상기 합성시험신호를 송신함으로써 상기 제1 및 2 시험신호를 동시에 송신하는 신호송신기; 및 상기 신호송신기로부터 상기 합성시험신호를 수신함으로써 상기 제1 및 2 시험신호를 동시에 수신하는 시험체를 포함하는 시스템을 제공한다.

상기 시스템에서, 상기 제1 주파수와 상기 제2 주파수는, 일정 간격만큼 서로 이격하고, 상기 신호발생기는, 상기 일정 간격을 유지하면서 상기 제1 및 2주파수를 각각 다른 주파수로 조정하고, 상기 제1 주파수를 조정한 주파수 및 상기 제2 주파수를 조정한 주파수로부터 각각 새로운 시험신호를 생성하며, 상기 신호합성기는, 상기 복수의 새로운 시험신호들을 합성하여 합성시험신호를 생성할 수 있다.

상기 시스템에서, 상기 제1 시험신호의 제1 시험신호출력 및 상기 제2 시험신호의 제2 시험신호출력은, 각 시험신호의 신호입력에 따라 달라지고, 상기 제1 시험신호 및 상기 제2 시험신호 중 적어도 하나가 변동하였는지를 판정하고, 변동한 것으로 판정된 시험신호에 대하여 변동을 상쇄시키도록 상기 신호입력을 조정하며, 상기 조정된 신호입력을 상기 신호발생기로 전달하는 제어장치를 포함할 수 있다.

상기 시스템에서, 상기 신호발생기는, 상기 조정된 신호입력에 따라서 상기 제1 시험신호 및 상기 제2 시험신호 중 적어도 하나를 다시 생성할 수 있다.

상기 시스템에서, 상기 합성시험신호로부터 상기 제1 및 2 시험신호에 각각 대응하는 제1 및 2 추출시험신호를 각각 생성하고, 상기 제1 및 2 추출시험신호에 대한 데이터를 생성하여 상기 제어장치로 전달하는 신호분석기를 포함할 수 있다.

상기 시스템에서, 상기 제1 및 2 추출시험신호에 대한 데이터는, 상기 제1 및 2 추출시험신호의 신호출력인 제1 및 2 추출시험신호출력을 각각 포함하고, 상기 제어장치는, 상기 제1 추출시험신호출력과 미리 설정된 제1 추출시험신호출력을 비교하여 상기 제1 시험신호가 변동하였는지를 판정하고, 상기 제2 추출시험신호출력과 미리 설정된 제2 시험신호출력을 비교하여 상기 제2 시험신호가 변동하였는지를 판정할 수 있다.

상기 시스템에서, 상기 합성시험신호를 분기하여 커플링신호를 생성하는 커플러를 포함하고, 상기 신호분석기는, 상기 커플링신호로부터 상기 제1 및 2 추출시험신호를 각각 생성할 수 있다.

상기 시스템에서, 상기 커플링신호를 복제하여 제1 복제커플링신호 및 제2 복제커플링신호를 생성하는 신호복제기를 포함하고, 상기 신호분석기는, 상기 제1 복제커플링신호로부터 상기 제1 추출시험신호를 생성하고, 상기 제2 복제커플링신호로부터 상기 제2 추출시험신호를 생성할 수 있다.

상기 시스템에서, 상기 신호분석기는, 상기 제1 주파수를 가지는 신호를 상기 제1 복제커플링신호로부터 추출하여 상기 제1 추출시험신호를 생성하고, 상기 제2 주파수를 가지는 신호를 상기 제2 복제커플링신호로부터 추출하여 상기 제2 추출시험신호를 생성할 수 있다.

이상에서 설명한 바와 같이 본 실시예에 의하면, 전자파 내성 시험을 위한 복수의 시험신호를 동시에 시험체에 조사함으로써 전자파 내성 시험에 걸리는 시간과 비용을 절약할 수 있다.

또한 본 실시예에 의하면, 전자파 내성 시험을 위한 시험신호의 신호출력을 모니터링하고 감쇄를 보정함으로써 전자파 내성 시험의 안전성과 신뢰성을 높일 수 있다.

도 1은 일반적인 전자파 시험시스템을 개괄적으로 나타내는 개념도이다.
도 2는 일 실시예에 따른 전자파 시험시스템의 구성도이다.
도 3은 일 실시예에 따른 전자파 시험시스템이 병렬 신호를 통해 전자파 내성을 시험하는 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 4는 일 실시예에 따른 전자파 시험시스템에서 사용되는 시험신호 및 주파수를 나타내는 예시도이다.
도 5는 일 실시예에 따른 전자파 시험시스템이 신호출력을 피드백하고 신호입력을 조정하는 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 6은 일 실시예에 따른 전자파 시험시스템에서 신호분석기에 의하여 추출된 추출시험신호를 나타내는 예시도이다.
도 7은 일 실시예에 따른 전자파 시험시스템에서 신호분석기에 출력된 제1 추출시험신호와 주파수 변경된 제1-1 추출시험신호를 나타내는 예시도이다.
도 8은 일 실시예에 따른 전자파 시험시스템에서 신호분석기에 출력된 제1 추출시험신호와 제2 추출시험신호를 나타내는 예시도이다.

이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.

또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.

도 1은 일반적인 전자파 시험시스템을 개괄적으로 나타내는 개념도이다.

도 1을 참조하면, 전자파 시험시스템(1)은 챔버(10), 안테나(11), 신호측정기(12), 시험체(13), 신호발생기(21) 및 신호증폭기(22)를 포함할 수 있다. 안테나(11), 신호측정기(12) 및 시험체(13)는 챔버(10)의 내측에 위치할 수 있다. 신호발생기(21) 및 신호증폭기(22)는 챔버(10)의 외측에 위치할 수 있다.

전자파 시험시스템(1)은 전자장치에 대한 전자파 내성 즉, 전자파 환경에서도 전자장치가 고장없이 동작하는지를 시험한다. 전자파 시험시스템(1)은 특정 주파수를 가진 신호를 전자장치에 조사하고, 전자장치의 동작에 오류가 없는지 확인하며, 동작에 오류가 없다면 다시 다른 주파수를 가진 신호를 조사하고 동작에 오류가 없는지를 확인할 수 있다. 전자파 시험시스템(1)은 여러 주파수에서 이 과정을 반복함으로써 전자장치에 대한 전자파 내성 시험을 수행할 수 있다. 상기 조사되는 신호는 전자파를 포함하여 전자장치에 전자파를 전달할 수 있다.

전자파 시험시스템(1)은 챔버 외측에서 특정 주파수를 가지는 신호를 생성할 수 있다. 특정 주파수를 가지는 상기 신호는 신호발생기(21)에서 생성되어 전자장치에 대한 전자파 내성 시험에 사용될 수 있는데, 이하에서는, 시험신호로 명명하도록 한다. 신호발생기(21)는 챔버 외측에 설치되어 상기 시험신호를 생성할 수 있다.

전자파 시험시스템(1)은 챔버 외측에서 상기 시험신호를 증폭할 수 있다. 신호증폭기(22)는 신호발생기(21)로부터 상기 시험신호를 전달받아 상기 시험신호의 신호출력의 세기를 조절할 수 있다.

전자파 시험시스템(1)은 챔버 외측에서 생성된 상기 시험신호를 챔버 내측에 설치된 안테나(11)로 전달할 수 있다. 상세하게, 신호증폭기(22)는 챔버(10)의 벽을 관통하는 전송선로를 통해 상기 시험신호를 상기 안테나(11)로 전달할 수 있다. 상기 시험신호가 챔버 외측에서 생성되어 전송선로를 통해 챔버 내측으로 전달되면, 신호발생기(21)나 신호증폭기(22)가 챔버 내측에 설치되었을 때 야기하는 의도치 않은 신호(또는 전자파)를 제거할 수 있다. 따라서 상기 시험신호에만 의존하는 전자파 내성 시험이 가능할 수 있다.

안테나(11)는 챔버 내측에서 상기 시험신호를 신호측정기(12) 또는 시험체(13)에 송신할 수 있다. 시험체(13)는 전자파 내성 시험이 행해지는 대상으로서, 상술한 전자장치를 포함할 수 있다. 안테나(11)는 챔버(10)의 벽을 관통하는 전송선로를 통해 신호증폭기(22)로부터 상기 시험신호를 전달받아 챔버 내측에서 방사할 수 있다. 안테나(11)는 다양한 주파수를 가지는 신호를 방사할 수 있다. 챔버 외측에서 전달되는 시험신호는 전자파 내성 시험 목적에 따라 서로 다른 주파수를 가질 수 있고, 안테나(11)는 서로 다른 주파수를 가지는 신호를 시험체(13)로 송신할 수 있다.

신호측정기(12)는 챔버 내측에서 상기 시험신호를 수신하고 측정할 수 있다. 신호측정기(12)는 시험체(13)가 놓일 위치에 설치되어 상기 시험신호를 측정할 수 있다. 신호측정기(12)는 상기 시험신호를 측정한 데이터를 생성할 수 있다. 상기 시험신호 측정 데이터는 시험신호의 신호출력을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 신호출력은 전기장의 세기(V/m) 또는 자기장의 세기(N/Am)를 포함하는 개념일 수 있다. 신호측정기(12)는 상기 시험신호 측정 데이터를 시험자 또는 챔버 외측의 제어장치로 전달할 수 있다.

전자파 시험시스템(1)은 단일한 주파수를 가지는 시험신호를 조사하고 시험체(13)의 동작을 확인하는 과정을 반복함으로써, 전자파 내성을 시험할 수 있다. 전자파 내성 시험에서 시험체(13)는 여러 주파수에 대하여 테스트되어야하므로, 이 과정은 수차례 반복될 수 있다. 만일 전자파 시험시스템(1)이 하나의 주파수를 가지는 시험신호를 하나씩 시험체(13)에 조사함으로써 전자파 내성 시험을 한다면, 상당한 시간이 소요될 것이다. 예를 들어, 시험체(13)는 80㎒ ~ 1㎓ 주파수 범위에서 하나의 주파수를 가지는 복수의 시험신호들 각각에 의하여 시험되어져야 한다. 상기 복수의 시험신호들의 주파수는 1%씩 증가되어 선택될 수 있다. 가령 시험신호가 80㎒에서 생성되었다면, 이후의 두 번째 시험신호는 80㎒에서 1% 증가한 80.1㎒에서 생성되고, 세 번째 시험신호는 또 1% 증가한 80.901㎒의 주파수를 가질 수 있다. 시험신호가 시험체(13)에 하나씩 조사된다면, 대략 100분의 시간이 소요될 수 있다. 전자파 내성 시험에 필요한 시간은 테스트되어야하는 주파수 범위 또는 시험신호들의 주파수 간격에 따라서 더 늘어날 수 있다. 그러나 본 발명의 일 실시예에 따르면, 복수의 시험신호들을 하나씩 조사하는 대신 복수개를 동시에 조사함으로써 위와 같이 소요되는 시간을 단축하고 그에 따른 비용을 절감할 수 있다.

도 2는 일 실시예에 따른 전자파 시험시스템의 구성도이다.

도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 시험시스템(이하 '시스템'이라 함, 100)은 서로 다른 주파수를 가지는 복수의 시험신호를 시험체(13)에 조사함으로써, 시험체(13)에 대한 전자파 내성 시험 소요시간을 단축할 수 있다.

시스템(100)은 신호발생기(111), 신호합성기(112), 신호증폭기(113), 신호송신기(114), 커플러(115), 신호복제기(116), 신호분석기(117), 제어장치(118), 신호측정기(12) 및 시험체(13)를 포함할 수 있다. 신호발생기(111), 신호합성기(112), 신호증폭기(113), 커플러(115), 신호복제기(116), 신호분석기(117) 및 제어장치(118)는 챔버 외측에 위치할 수 있다. 신호송신기(114), 신호측정기(12) 및 시험체(13)는 챔버 내측에 위치할 수 있다.

신호발생기(111)는 복수의 시험신호를 생성할 수 있다. 신호발생기(111)는 복수의 신호발생기(111-1, 111-2, ..., 111-n)를 포함하고, 각각의 신호발생기는 하나의 주파수를 가지는 하나의 시험신호를 생성할 수 있다. 상기 시험신호는 특정 주파수에서 일정한 세기 즉, 일정한 신호출력을 가질 수 있다. 상기 시험신호의 신호출력은 시험신호출력으로 명명될 수 있다. 상기 시험신호는 도 6에 도시된 파형을 가지는 피크 신호일 수 있다. 예를 들어, 제1 신호발생기(111-1)는 제1 주파수를 가지는 제1 시험신호를 생성하고, 제2 신호발생기(111-2)는 제2 주파수를 가지는 제2 시험신호를 생성할 수 있다. 상기 제1 시험신호는 상기 제1 주파수에서 제1 피크값 즉, 제1 시험신호출력을 가질 수 있고, 상기 제2 시험신호는 상기 제2 주파수에서 제2 피크값 즉, 제2 시험신호출력을 가질 수 있다. 복수의 신호발생기(111-1, 111-2, ..., 111-n)는 제1 내지 n 시험신호를 생성하여 신호합성기(112)로 전달할 수 있다.

신호발생기(111)가 생성한 복수의 시험신호는 서로 다른 주파수를 가지고 미리 설정된 신호출력을 가질 수 있다. 전자파 내성 시험은 주파수를 달리하여 미리 설정된 세기의 전자파를 전자장치에 방사했을 때, 전자장치의 동작을 살펴보는 것이므로, 복수의 시험신호는 상기 미리 설정된 신호출력을 가지면서 전자장치로 방사될 필요가 있다. 예를 들어, 제1 시험신호의 제1 주파수와 제2 시험신호의 제2 주파수는 서로 다르고, 제1 시험신호출력과 제2 시험신호출력은 각각 신호발생기(111)에서 미리 설정된 세기를 가질 수 있다. 미리 설정된 신호출력(세기)에 따라서 상기 제1 시험신호출력과 상기 제2 시험신호출력은 동일한 또는 상이한 값을 가질 수 있다.

신호발생기(111)는 신호입력에 따라 다양한 신호를 생성할 수 있다. 상기 신호입력은 전력을 포함하는 개념으로 dBm로 나타낼 수 있다. 예를 들어 신호발생기(111)는 제1 시험신호입력으로 제1 시험신호출력을 가지는 제1 시험신호를 생성하고, 제2 시험신호입력으로 제2 시험신호출력을 가지는 제2 시험신호를 생성할 수 있다.

신호발생기(111)는 신호입력을 변화함으로써 신호출력을 변화시킬 수 있다. 그 변화의 양상은 비례의 관계일 수 있다. 예를 들어 제1 시험신호입력이 커지면 제1 시험신호출력도 커질 수 있고, 제2 시험신호입력이 커지면 제2 시험신호출력도 커질 수 있다.

신호발생기(111)는 저주파에서 마이크로파의 주파수 범위를 가지는 신호를 생성할 수 있고, 일정한 범위의 주파수 또는 단일의 주파수를 가지는 신호를 생성할 수 있다. 신호발생기(111)에서 생성된 신호는 진폭변조(AM, amplitude modulation) 또는 주파수변조(FM, frequency modulation)의 방식으로 생성될 수 있다. 또한 신호의 파형은 정현파, 펄스파 또는 복합파를 가질 수 있다.

신호합성기(112)는 신호발생기(111)에서 생성된 복수의 시험신호를 전달받아 하나의 단일한 신호로 합성할 수 있다. 예를 들어, 신호합성기(112)는 제1 신호발생기(111-1)로부터 생성된 제1 시험신호 및 제2 신호발생기(111-2)로부터 생성된 제2 시험신호를 하나의 신호로 합성하여 출력할 수 있다. 이하에서 이렇게 합성된 신호는 합성시험신호로서 명명될 수 있다.

신호합성기(112)는 커넥터(connector)를 포함할 수 있다. 신호합성기(112)는 다수의 신호를 입력받아 하나의 신호를 출력할 수 있다. 합성과정에서 신호출력의 변동이 발생할 수 있다. 예를 들어 신호합성기(112)는 제1 시험신호 및 제2 시험신호를 입력받아 상기 합성시험신호를 출력할 수 있다. 상기 합성시험신호의 신호출력에서 상기 제1 시험신호의 성분과 상기 제2 시험신호의 성분은 일정 정도 감쇄될 수 있다.

신호증폭기(113)는 신호를 증폭할 수 있다. 신호증폭기(113)는 신호합성기(112)로부터 합성시험신호를 전달받아 증폭할 수 있다. 합성시험신호가 증폭되면, 합성시험신호에 포함된 개별적 시험신호도 크기와 진폭에 있어서, 선형적으로 변할 수 있다. 예를 들어, 신호증폭기(113)가 상기 합성시험신호를 증폭하면 상기 제1 및 2 시험신호도 선형적으로 증폭될 수 있다.

신호송신기(114)는 신호증폭기(113)로부터 상기 합성시험신호를 전달받아 신호측정기(12) 또는 시험체(13)로 송신할 수 있다. 신호송신기(114)는 전자기파를 방사함으로써 상기 합성시험신호를 송신할 수 있다. 신호송신기(114)는 직접적으로 챔버 내부에 전자기파를 방사하기 위하여 안테나(11)를 포함할 수 있다. 상기 합성시험신호의 전자기파가 신호측정기(12) 또는 시험체(13)에 도달하면, 상기 제1 및 2 시험신호도 전자기파 형태로 방사될 수 있다.

신호측정기(12)는 신호송신기(114)로부터 신호를 수신하고 상기 수신된 신호의 신호출력을 측정할 수 있다. 신호측정기(12)는 시험체(13)가 놓일 위치에서 시험체(13)가 수신할 신호의 출력을 측정하게 된다. 신호측정기(12)는 신호송신기(114)로부터 상기 합성시험신호를 수신하면, 상기 합성시험신호에 포함된 복수의 시험신호들도 수신하게 된다. 신호측정기(12)는 상기 측정된 신호출력에 대한 데이터를 제어장치(118)로 전달할 수 있다.

시험체(13)는 전자파 내성 시험의 대상물로서, 전자장치를 포함할 수 있다. 신호측정기(12)와 동일하게, 시험체(13)는 신호송신기(114)로부터 상기 합성시험신호를 수신하면, 상기 합성신호에 포함된 복수의 시험신호들도 수신하게 된다.

예를 들어 신호송신기(114)는 상기 합성시험신호를 통해 상기 제1 및 2 시험신호를 동시에 송신하면, 시험체(13) 역시 상기 합성시험신호를 통해 상기 제1 및 2 시험신호를 동시에 수신할 수 있다. 복수의 시험신호들이 동시에 즉, 병렬적으로 송수신되기 때문에 전자파 내성 시험에 소요되는 시간 및 비용이 감소할 수 있다.

커플러(115)는 상기 합성시험신호를 분기하여 커플링신호를 생성할 수 있다. 커플러(115)는 신호증폭기(113)와 신호송신기(114) 사이에 상기 합성시험신호가 이동하는 경로에 설치될 수 있다. 커플러(115)는 신호증폭기(113)로부터 신호송신기(114)로 전달되는 상기 합성시험신호를 분기할 수 있다. 상기 분기된 합성시험신호는 커플링신호로 명명될 수 있다. 커플러(115)는 상기 커플링신호를 신호복제기(116)로 전달할 수 있다. 상기 합성시험신호는 개별 시험신호를 포함하고 있으므로, 상기 커플링신호 역시 상기 개별 시험신호를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 합성시험신호는 제1 및 2 시험신호를 포함하는 경우, 상기 커플링신호 역시 상기 제1 및 2 시험신호를 포함할 수 있다. 커플러(115)가 상기 합성시험신호를 분기하면서, 상기 제1 및 2 시험신호도 분기할 수 있기 때문이다.

신호복제기(116)는 신호를 복제할 수 있다. 신호복제기(116)는 상기 커플링신호를 복제하여 신호분석기(117)로 전달할 수 있다. 신호분석기(117)는 복수의 스펙트럼 분석기(117-1, 117-2, ..., 117-n)를 포함할 수 있는데, 신호복제기(116)는 복수의 스펙트럼 분석기(117-1, 117-2, ..., 117-n)의 개수만큼 상기 커플링신호를 복제할 수 있다. 신호복제기(116)는 각각의 복제된 커플링신호를 각 스펙트럼 분석기로 전달할 수 있다. 예를 들어, 신호복제기(116)는 상기 커플링신호를 복제하여 제1 복제커플링신호를 생성하고 상기 제1 복제커플링신호를 제1 스펙트럼 분석기(117-1)로 전달할 수 있다. 신호복제기(116)는 상기 커플링신호를 복제하여 제2 복제커플링신호를 생성하고 상기 제2 복제커플링신호를 제2 스펙트럼 분석기(117-2)로 전달할 수 있다.

신호분석기(117)는 신호복제기(116)에 의하여 복제된 커플링신호를 분석할 수 있다. 신호분석기(117)는 상기 복제된 커플링신호에 대하여 스펙트럼 분석을 실행할 수 있다. 구체적으로 신호분석기(117)는 특정 주파수 또는 그의 인접한 범위를 기준으로 상기 복제된 커플링신호로부터 다른 신호를 추출할 수 있다. 상기 추출된 신호는 추출시험신호로 명명될 수 있다. 신호분석기(117)는 복수의 스펙트럼 분석기(117-1, 117-2, ..., 117-n)를 포함할 수 있는데, 각각의 스펙트럼 분석기는 상기의 추출 작업을 수행할 수 있다. 여기서 상기 기준이 되는 주파수는 신호발생기(111)가 시험신호를 생성할 때 이용하는 주파수와 동일할 수 있다. 예를 들어, 상기 합성시험신호가 제1 주파수를 가지는 제1 시험신호 및 제2 주파수를 가지는 제2 시험신호로 이루어진 경우, 신호분석기(117)의 제1 스펙트럼 분석기(117-1)는 상기 제1 복제커플링신호로부터 상기 제1 주파수 또는 그의 인접한 범위의 주파수를 가지는 신호인 제1 추출시험신호를 추출할 수 있다. 또한 신호분석기(117)의 제2 스펙트럼 분석기(117-2)는 상기 제2 복제커플링신호로부터 상기 제2 주파수 또는 그의 인접한 범위의 주파수를 가지는 신호인 제2 추출시험신호를 추출할 수 있다.

신호분석기(117)는 상기 추출시험신호에 대한 데이터를 생성하여 제어장치(118)로 전달할 수 있다. 상기 추출시험신호에 대한 데이터는 상기 추출시험신호의 신호출력을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 스펙트럼 분석기(117-1)는 제1 추출시험신호의 신호출력인 제1 추출시험신호출력의 값을 제어장치(118)로 전달할 수 있다. 또한 제2 스펙트럼 분석기(117-2)는 제2 추출시험신호의 신호출력인 제2 추출시험신호출력의 값을 제어장치(118)로 전달할 수 있다. 신호출력은 전기장의 세기 또는 자기장의 세기로 나타내어질 수 있다.

신호분석기(117)에 의하여 추출된 신호는 상기 합성시험신호에 포함된 개개의 시험신호들과 동일한 또는 유사한 특성을 가질 수 있다. 신호분석기(117)는 상기 커플링신호로부터 신호를 추출하고, 상기 커플링신호는 상기 합성시험신호로부터 분기되고, 상기 합성시험신호는 여러 시험신호를 포함하므로, 상기 추출된 신호 역시 상기 시험신호와 동일한 또는 유사한 특성을 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 추출시험신호는 상기 제1 시험신호에 기반하므로, 상기 제1 추출시험신호는 제1 주파수를 가지고, 상기 제1 시험신호와 동일한 파형을 가질 수 있다. 또한 상기 제2 추출시험신호는 상기 제2 시험신호에 기반하므로, 상기 제2 추출시험신호는 제2 주파수를 가지고, 상기 제2 시험신호와 동일한 파형을 가질 수 있다.

한편 시험신호의 신호출력은 전자파 내성 시험 중에 얼마든지 변동할 수 있다. 즉, 시험신호의 신호출력이 미리 설정되어 있더라도, 전자파 내성 시험 중에는 미리 설정된 세기를 가지는 신호출력이 나오지 않는 경우가 있다. 이것은 신호 전달경로상의 열화와 같은 방해요인이 존재하기 때문이다. 시험자는 시험신호의 신호출력 변화를 신호분석기(117)로부터 생성된 추출시험신호출력의 변화를 통해 알 수 있다. 제어장치(118)는 이러한 추출시험신호출력의 변화 즉, 시험신호의 신호출력 변화를 판정하고 상기 판정에 따라 신호발생기(111)에 대하여 시험신호입력을 조정할 수 있다.

예를 들어 시험자는 원하는 신호출력이 나오도록 제1 신호발생기(111-1)를 미리 설정할 수 있다. 시험자는 제1 시험신호입력을 통해 제1 시험신호출력을 가지는 제1 시험신호를 생성하도록 제1 신호발생기(111-1)를 설정할 수 있다. 한편 제1 스펙트럼 분석기(117-1)는 커플러(115)에 의하여 분기된 신호에 기반하여 제1 추출시험신호의 신호출력(제1 추출시험신호출력)을 시험자에게 출력하고, 시험자는 미리 설정된 신호입력인 제1 시험신호입력에 대응하는 제1 추출시험신호출력을 알 수 있다. 이후 전자파 내성 시험 중에 상기 제1 추출시험신호출력이 변화하면, 시험자는 상기 제1 시험신호출력이 변화한 것을 알 수 있다. 제어장치(118)는 상기 제1 추출시험신호출력의 변화를 판정하고 상기 판정에 따라서 상기 제1 시험신호입력을 조정할 수 있다.

시험자가 제1 시험신호출력과 제1 추출시험신호출력을 미리 설정하는 경우에는 시험체(13) 대신에 시험체(13)가 놓일 자리에 신호측정기(12)를 위치시키고 제1 시험신호를 신호측정기(12)에 조사할 수 있다. 시험자가 제1 시험신호출력과 제1 추출시험신호출력을 미리 설정한 이후 전자파 내성 시험을 하는 경우에는 신호측정기(12) 대신에 시험체(13)를 위치시키고 제1 시험신호를 시험체(13)에 조사할 수 있다.

상술한 예에서는, 하나의 시험신호를 예시로 들었지만, 복수의 시험신호를 사용하여 전자파 내성 시험을 하는 경우에도 마찬가지이다. 예를 들어 시험자는 제1 시험신호 및 제2 시험신호도 미리 설정할 수 있고 이에 대응하는 제1 추출시험신호출력 및 제2 추출시험신호출력의 변화를 통해 상기 제1 시험신호 및/또는 상기 제2 시험신호의 신호출력 변화를 알 수 있다.

위와 같이 신호는 전자파 내성 시험 중에 변동(감쇄)하므로, 전자파 내성 시험 중의 시험신호의 신호출력은 미리 설정된 시험신호의 신호출력보다 작을 수 있다. 시험신호의 신호출력 변동에 연동하여 전자파 내성 시험 중의 추출시험신호의 신호출력은 미리 설정된 추출시험신호의 신호출력보다 작을 수 있다. 예를 들어, 실제로 시험체(13)에 조사되는 제1 및 2 시험신호출력은 미리 설정되어 신호측정기(12)에 조사되는 제1 및 2 시험신호출력 보다 작을 수 있다. 이에 따라 실제로 시험체(13)에 조사될 때의 제1 및 2 추출시험신호출력은, 신호측정기(12)에 조사될 때의 제1 및 2 추출시험신호출력 보다 작을 수 있다. 따라서 이러한 설정값과 실제값 사이에서 추출시험신호의 신호출력 변동을 통해 시험신호의 신호출력 변동을 확인하고 피드백하기 위하여, 시스템(100)은 제어장치(118)를 포함할 수 있다.

제어장치(118)는 시험신호가 변동하였는지를 판정할 수 있다. 제어장치(118)는 미리 설정된 추출시험신호출력과 시험 중의 추출시험신호출력을 비교함으로써 시험신호의 신호출력 변동을 판정할 수 있다. 구체적으로, 제어장치(118)는 미리 설정된 추출시험신호의 신호출력과 시험 중의 추출시험신호의 신호출력을 비교하고, 상기 시험 중의 추출시험신호의 신호출력이 상기 미리 설정된 추출시험신호의 신호출력과 상이하면, 변동이 일어난 것으로 판정할 수 있다. 상기 추출시험신호의 신호출력은 신호분석기(117)가 제어장치(118)로 전달하는 추출시험신호에 대한 데이터에 포함될 수 있다. 상기 미리 설정된 추출시험신호의 신호출력은 제어장치(118)의 메모리에 미리 저장될 수 있다. 예를 들어, 제어장치(118)가 전자파 내성 시험 중에 제1 스펙트럼 분석기(117-1)로부터 제1 추출시험신호에 대한 데이터를 전달받으면 시험 중의 제1 추출시험신호출력을 획득할 수 있다. 제어장치(118)는 미리 설정된 제1 추출시험신호출력을 상기 메모리부터 독출하고 상기 시험 중의 제1 추출시험신호출력이 상기 미리 설정된 제1 시험신호출력과 다르면, 제1 시험신호의 신호출력이 전자파 내성 시험 중에 변동한 것으로 판정할 수 있다.

제어장치(118)는 복수의 시험신호에 대하여 감쇄여부를 판정할 수 있다. 제어장치(118)는 복수의 시험신호 각각을 하나씩 직렬적으로 판정할 수 있지만, 복수의 판정부를 구비함으로써 여러 개를 동시에 병렬적으로 판정할 수 있다. 예를 들어, 제어장치(118)는 제1 시험신호와 제2 시험신호를 순차로 판정하기도 하고, 제1 및 2 시험신호를 동시에 판정할 수 있다.

제어장치(118)는 시험신호의 변동이 일어난 경우 피드백할 수 있다. 제어장치(118)의 피드백은 변동하지 않는(미리 설정된 신호출력을 가지는) 시험신호를 생성하도록 신호발생기(111)를 제어하는 것을 포함할 수 있다. 구체적으로 제어장치(118)는 변동한 것으로 판정된 시험신호에 대하여 변동을 상쇄시키도록 신호입력을 조정하고, 상기 조정된 신호입력을 신호발생기(111)로 전달할 수 있다. 예를 들어, 신호발생기(111)에서 제1 시험신호입력과 제1 시험신호출력이 비례관계에 있고, 미리 설정된 제1 시험신호출력이 10(V/m)이고 이에 상응하는 제1 추출시험신호출력이 1(V/m)라고 하자. 전자파 내성 시험 중에 커플러(115)에 의하여 분기된 신호를 토대로 분석된 시험 중의 제1 추출시험신호출력이 0.9(V/m)라면, 제어장치(118)는 제1 시험신호출력이 변동한 것으로 판정할 수 있다. 제어장치(118)는 제1 시험신호출력이 10(V/m)이 되도록 제1 시험신호입력의 전력을 크게 할 수 있다.

신호발생기(111)는 상기 조정된 신호입력에 따라서 상기 제1 및 2 시험신호 중 적어도 하나를 다시 생성할 수 있다. 재생성된 시험신호는 원래의 신호출력을 가질 수 있다. 상술한 예에서, 신호발생기(111)는 조정된 제1 시험신호입력으로부터 10(V/m)의 전기장 세기(제1 시험신호출력)를 가지는 제1 시험신호를 다시 생성할 수 있다. 이로써 전자파 내성 시험에 사용되는 신호의 세기가 일정하게 유지되어 시험의 건전성을 확보할 수 있게 된다.

도 3은 일 실시예에 따른 전자파 시험시스템이 병렬 신호를 통해 전자파 내성을 시험하는 동작을 나타내는 흐름도이다.

도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 시스템(100) 동작의 흐름이 도시된다. 시스템(100)은 복수의 시험신호를 하나씩 순차로 보내는 직렬 방식 대신에 복수의 시험신호를 몇 개씩 묶어서 동시에 보내는 병렬 방식을 차용할 수 있다. 이하에서는, 시스템(100)이 2개의 시험신호(제1 및 2 시험신호)를 하나의 신호로 합성하여 동시에 보내는 것을 예시로 설명하도록 한다. 여기서 각 시험신호는 특정 주파수에서 피크값을 가지는 피크신호일 수 있다.

신호발생기(111)는 시험체(13)에 대한 전자파 내성 시험에 사용되는 시험신호를 생성할 수 있다(S302-1 단계 및 S302-2 단계). 신호발생기(111)는 복수의 시험신호를 동시 생성할 수 있다. 신호발생기(111)는 복수의 신호발생기(111-1, 111-2, ..., 111-n)를 포함하고, 각각의 신호발생기(111-1, 111-2, ..., 111-n)는 개별적으로 시험신호를 생성할 수 있다. 예를 들어 제1 신호발생기(111-1)는 제1 주파수를 가지는 제1 시험신호를 생성할 수 있다. 또한 제2 신호발생기(111-2)는 제2 주파수를 가지는 제2 시험신호를 생성할 수 있다. 상기 제1 주파수와 상기 제2 주파수는 일정 간격만큼 서로 이격되게 설정될 수 있다. 이것은 상기 제1 시험신호 및 상기 제2 시험신호 사이의 간섭을 감소시킬 수 있다.

신호합성기(112)는 신호발생기(111)에 의하여 생성된 복수의 시험신호들을 하나의 신호로 합성하여 합성시험신호를 출력할 수 있다(S304 단계).

신호증폭기(113)는 상기 합성시험신호를 증폭할 수 있다(S306 단계).

신호송신기(114)는 상기 증폭된 합성시험신호를 시험체(13)로 송신할 수 있다(S308 단계). 전자파 내성 시험 중에는, 신호송신기(114)는 상기 증폭된 합성시험신호를 시험체(13)로 송신할 수 있다. 그러나 전자파 내성 시험 이전에 시험신호의 신호출력을 미리 설정하는 경우에는, 신호송신기(114)는 상기 증폭된 합성시험신호를 신호측정기(12)로 송신할 수 있다.

시험체(13)는 상기 증폭된 합성시험신호를 수신할 수 있다(S310 단계). 신호측정기(12)는 상기 증폭된 합성시험신호의 특성을 측정할 수 있는데, 상기 특성은 세기(전기장 세기 또는 자기장 세기) 및 주파수 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.

신호발생기(111)는 모든 시험신호를 생성하였는지 판단할 수 있다(S312 단계). 신호발생기(111)가 전자파 내성 시험에서 요구되는 주파수들에 대하여 모든 시험신호들을 생성한 것으로 판정하였다면, 더 이상 새로운 시험신호를 생성하지 않는다(S312 단계의 YES). 그러나 신호발생기(111)가 모든 시험신호들을 생성하지 않은 것으로 판정하였다면 즉, 주파수를 변경하여 새로운 시험신호들을 추가로 생성할 필요가 있는 것으로 판정하였다면, 주파수를 변경할 수 있다(S312 단계의 NO).

신호발생기(111)는 다른 시험신호들을 생성하기 위하여 주파수를 변경할 수 있다(S314 단계). 신호발생기(111)는 이전의 주파수들 사이의 간격을 그대로 유지하면서, 이전의 주파수들을 새로운 주파수들로 변경할 수 있다. 예를 들어 신호발생기(111)가 이미 제1 주파수를 가지는 제1 시험신호를 생성하고 제2 주파수를 가지는 제2 시험신호를 생성하면, 신호발생기(111)는 상기 제1 주파수를 제1-1 주파수로 변경하고 상기 제2 주파수를 제2-1 주파수로 변경할 수 있다. 상기 제1-1 주파수는 새로운 제1 시험신호인 제1-1 시험신호의 생성에 사용되고, 상기 제2-1 주파수는 새로운 제2 시험신호인 제2-1 시험신호의 생성에 사용될 수 있다. 또한 주파수의 변경은 신호발생기(111)외에 제어장치(118)에 의하여 수행될 수 있다. 이 경우, 제어장치(118)가 주파수를 변경하면, 신호발생기(111)가 상기 변경된 주파수에 대한 데이터를 수신하여 복수의 새로운 시험신호들을 생성할 수 있다.

S312 단계 또는 S314 단계의 동작은 신호발생기(111)외에 제어장치(118)에 의하여도 수행될 수 있다. 제어장치(118)는 모든 시험신호의 생성여부 판단과 주파수 변경을 수행할 수 있다. 이 경우 제어장치(118)는 판정 결과에 기반하여 신호발생기(111)의 시험신호 추가 생성 여부를 제어할 수 있다. 또한 제어장치(118)는 모든 시험신호의 생성여부 판단을 하고, 신호발생기(111)가 주파수 변경을 수행할 수 있다. 또한 상술한 바와 같이, 신호발생기(111)가 모든 시험신호의 생성여부 판단과 주파수 변경을 수행할 수 있다.

신호발생기(111)는 상기 변경된 주파수에 따라 복수의 새로운 시험신호들을 생성할 수 있다. 예를 들어 신호발생기(111)는 상기 제1-1 주파수를 가지는 상기 제1-1 시험신호를 생성하고 상기 제2-1 주파수를 가지는 상기 제2-1 시험신호를 생성할 수 있다. 상기 제1-1 및 2-1 시험신호들은 병렬적으로 시험체(13)로 송신될 수 있다.

도 4는 일 실시예에 따른 전자파 시험시스템에서 사용되는 시험신호 및 주파수를 나타내는 예시도이다.

도 4를 참조하면, 시스템(100)에서 사용되는 복수의 시험신호가 도시된다. 이하에서는, 2개의 시험신호(제1 시험신호(401) 및 제2 시험신호(402))를 예시로 하여 설명하도록 한다.

제1 신호발생기(111-1)는 제1 시험신호(401)를 생성하고, 제2 신호발생기(111-2)는 제2 시험신호(402)를 생성할 수 있다. 제1 시험신호(401) 및 제2 시험신호(402)가 송신되면, 제1 신호발생기(111-1)는 주파수를 변경 또는 조정하여 새로운 시험신호인 제1-1 시험신호(401-1)를 생성하고, 제2 신호발생기(111-2)는 주파수를 변경 또는 조정하여 새로운 시험신호인 제2-1 시험신호(402-1)를 생성할 수 있다.

제1 신호발생기(111-1)는 제1 주파수범위에서 제1 간격을 유지하면서 주파수를 변경하여 새로운 시험신호를 생성할 수 있다. 제1 신호발생기(111-1)는 제1 시험신호(401)에서 상기 제1 간격만큼 주파수를 변경하여 제1-1 시험신호(401-1)를 생성할 수 있다. 제2 신호발생기(111-2)는 제2 주파수범위에서 제2 간격을 유지하면서 주파수를 변경하여 새로운 시험신호를 생성할 수 있다. 제2 신호발생기(111-2)는 제2 시험신호(402)에서 상기 제2 간격만큼 주파수를 변경하여 제2-1 시험신호(402-1)를 생성할 수 있다. 여기서 상기 제1 주파수범위와 상기 제2 주파수범위는 동일하거나 상이할 수 있다. 상기 제1 간격과 상기 제2 간격은 동일하거나 상이할 수 있다.

신호발생기(111)는 반복적으로 주파수범위에서 일정 간격을 유지한 채로 주파수를 변경하면서 새로운 시험신호를 생성할 수 있다. 예를 들어 제1 신호발생기(111-1)는 제1 시험신호(401)를 생성하고, 상기 제1 간격만큼 주파수를 변경하여 제1-1 시험신호(401-1)를 생성하고, 다시 상기 제1 간격만큼 주파수를 변경하여 제1-2 시험신호(401-2)를 생성하며, 이 과정을 반복할 수 있다. 상기 과정은 상기 제1 주파수범위 내에서만 반복될 수 있다. 또한 제2 신호발생기(111-2)는 제2 시험신호(402)를 생성하고, 상기 제2 간격만큼 주파수를 변경하여 제2-1 시험신호(402-1)를 생성하고, 다시 상기 제2 간격만큼 주파수를 변경하여 제2-2 시험신호(402-2)를 생성하며, 이 과정을 반복할 수 있다. 상기 과정은 상기 제2 주파수범위 내에서만 반복될 수 있다. 여기서 상기 제1 주파수범위와 상기 제2 주파수범위는 서로 동일하고, 상기 제1 간격과 상기 제2 간격은 서로 동일할 수 있다.

도 5는 일 실시예에 따른 전자파 시험시스템이 신호출력을 피드백하고 신호입력을 조정하는 동작을 나타내는 흐름도이다.

도 5를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 시스템(100) 동작의 흐름이 도시된다. 시스템(100)은 전자파 내성 시험 중에 시험신호의 신호출력 변동을 판정하고 변동한 시험신호의 신호입력을 조정하여 변동을 상쇄하는 신호출력이 나오도록 조정할 수 있다. 동시에 시스템(100)은 시험신호를 시험체(13)로 송신하여 전자파 내성 시험을 수행할 수 있다. 여기서 시스템(100)은 하나의 또는 복수의 시험신호를 사용할 수 있다.

신호발생기(111)는 단일한 시험신호 또는 복수의 시험신호들을 생성할 수 있다(S502 단계).

신호합성기(112)는 신호발생기(111)가 복수의 시험신호들을 생성하는 경우, 상기 복수의 시험신호들을 하나의 신호로 합성하여 합성시험신호를 출력할 수 있다(S504 단계). 신호발생기(111)가 단일한 시험신호를 생성하면, 신호합성 과정은 생략될 수 있다.

신호증폭기(113)는 상기 합성시험신호를 증폭할 수 있다(S506 단계). 또는 신호증폭기(113)는 신호발생기(111)로부터 하나의 시험신호를 전달받아 증폭할 수 있다.

신호송신기(114)는 상기 증폭된 합성시험신호를 시험체(13)에 송신할 수 있다(S508 단계). 시험체(13)는 상기 합성시험신호를 수신할 수 있다(S510 단계). 시험체(13)는 상기 합성시험신호로부터 복수의 시험신호를 한 번에 수신할 수 있다.

이와 동시에 신호복제기(116)는 상기 합성시험신호를 복제할 수 있다(S512 단계). 커플러(115)가 상기 합성시험신호를 분기하여 커플링신호를 생성하고 신호복제기(116)로 상기 커플링신호를 전달할 수 있다. 신호복제기(116)는 상기 커플링신호를 복제하여 복제커플링신호를 생성할 수 있다. 신호복제기(116)는 상기 복제커플링신호를 신호분석기(117)로 전달할 수 있다.

신호분석기(117)는 상기 복제커플링신호를 분석할 수 있다(S514 단계). 신호분석기(117)는 복수의 스펙트럼 분석기(117-1, 117-2, ..., 117-n)를 통해 상기 복제커플링신호 중 특정 주파수를 가지는 신호만을 추출하여 추출시험신호를 생성할 수 있다. 신호분석기(117)는 상기 추출시험신호를 복수개 생성할 수 있다. 신호분석기(117)는 상기 추출시험신호에 대한 데이터를 제어장치(118)로 송신할 수 있다. 예를 들어 제1 스펙트럼 분석기(117-1)는 상기 제1 복제커플링신호로부터 제1 주파수를 가지는 제1 추출시험신호를 생성할 수 있다. 제2 스펙트럼 분석기(117-2)는 상기 제2 복제커플링신호로부터 제2 주파수를 가지는 제2 추출시험신호를 생성할 수 있다.

제어장치(118)는 시험신호출력이 변동하였는지를 판정할 수 있다(S516 단계). 제어장치(118)는 상기 추출시험신호에 대한 데이터로부터 추출시험신호의 신호출력을 획득할 수 있다. 제어장치(118)는 상기 추출시험신호의 신호출력(전자파 내성 시험 중 시험체(13)에 조사되는 신호의 신호출력)이 미리 설정된 추출시험신호의 신호출력(전자파 내성 시험 이전에 신호측정기(12)에 조사되는 신호의 신호출력)과 다르면, 시험신호의 신호출력(시험신호출력)이 변동한 것으로 판정할 수 있다. 제어장치(118)는 복수의 시험신호 각각에 대하여 변동여부를 판정할 수 있다.

제어장치(118)가 복수의 시험신호 중 적어도 하나가 변동한 것으로 판정하면(S516 단계의 YES), 제어장치(118)는 상기 변동한 것으로 판정한 시험신호의 신호입력을 조정할 수 있다(S518 단계). 신호발생기(111)는 상기 조정된 신호입력에 따라서 시험신호를 다시 생성할 수 있다.

도 6은 일 실시예에 따른 전자파 시험시스템에서 신호분석기에 의하여 추출된 추출시험신호를 나타내는 예시도이다.

도 6을 참조하면, 신호분석기(117)의 화면(610)에 나타난 추출시험신호가 도시된다. 신호분석기(117)는 복제커플링신호로부터 추출시험신호를 생성할 수 있다. 신호분석기(117)는 상기 복제커플링신호 중 특정 주파수를 포함하는 대역 즉, 추출주파수범위를 스캔할 수 있다. 신호분석기(117)가 상기 복제커플링신호 중 상기 추출주파수범위를 스캔하면, 신호분석기(117)는 상기 추출주파수범위 내의 특정 주파수를 가지는 추출시험신호를 생성할 수 있다.

예를 들어 제1 스펙트럼 분석기(117-1)는 제1 복제커플링신호 중 제1 주파수를 포함하는 대역인 제1 추출주파수범위를 스캔할 수 있다. 제1 스펙트럼 분석기(117-1)는 상기 제1 추출주파수범위 내의 제1 주파수를 가지는 제1 추출시험신호(601)를 생성할 수 있다. 제1 스펙트럼 분석기(117-1)는 제1 추출시험신호(601)에 대한 데이터를 제어장치(118)로 전달할 수 있다. 제어장치(118)는 제1 추출시험신호(601)에 기반하여 제1 시험신호의 변동 여부를 판정할 수 있다.

도 7은 일 실시예에 따른 전자파 시험시스템에서 신호분석기에 출력된 제1 추출시험신호와 주파수 변경된 제1-1 추출시험신호를 나타내는 예시도이다.

도 7을 참조하면, 추출시험신호와 그로부터 주파수가 변경되어 생성된 새로운 추출시험신호가 신호분석기(117)의 화면(610)에 표시될 수 있다. 신호발생기(111)는 다른 시험신호들을 생성하기 위하여 주파수를 변경할 수 있다(도 3의 S314 단계). 동시에 신호분석기(117)는 주파수가 변경된 새로운 시험신호들에 대응하는 새로운 추출시험신호들을 분석하고 출력할 수 있다.

예를 들어 전자파 내성 시험 중에 신호발생기(111)가 이미 제1 주파수를 가지는 제1 시험신호를 생성하면, 신호발생기(111)는 상기 제1 주파수를 제1-1 주파수로 변경하여 새로운 제1 시험신호인 제1-1 시험신호를 생성할 수 있다. 이 경우에도, 제1 스펙트럼 신호분석기(117-1)는 제1-1 시험신호에 대응하는 추출시험신호인 제1-1 추출시험신호(601-1)를 화면(610)을 통해 출력할 수 있다. 제1 시험신호 및 제1-1 시험신호가 제1 추출주파수범위에 있으므로, 이에 대응하는 제1 추출시험신호(601) 및 제1-1 추출시험신호(601-1) 역시 제1 추출주파수범위에 속할 수 있다. 제1 스펙트럼 신호분석기(117-1)는 제1 추출주파수범위에서 변경된 주파수를 가지는 추출시험신호들을 하나씩 차례로 표시할 수 있다.

신호분석기(117)는 추출시험신호를 화면(610)의 고정된 위치(예를 들어, 화면의 정중앙)에 표시할 수 있다. 예를 들어 제1 스펙트럼 신호분석기(117-1)는 제1 추출시험신호(601)를 단독으로 고정된 위치에 표시하고, 제1-1 추출시험신호(601-1)를 단독으로 동일한 위치에 표시할 수 있다. 제1-1 추출시험신호(601-1)가 화면(610)에 표시되면, 제1 추출시험신호(601)는 실제로 표시되지 않으나 점선과 같이 왼쪽으로 이동한 주파수에서 신호출력(세기)을 가질 것이다.

도 8은 일 실시예에 따른 전자파 시험시스템에서 신호분석기에 출력된 제1 추출시험신호와 제2 추출시험신호를 나타내는 예시도이다.

도 8을 참조하면, 시험체(13)에 병렬로 동시에 송신되는 복수의 시험신호가 신호분석기(117)의 화면(610)에 표시될 수 있다. 전자파 내성 시험 중에 신호발생기(111)는 상기 복수의 시험신호를 생성하고 신호송신기(114)는 상기 복수의 시험신호를 시험체(13)에 송신할 수 있다. 신호분석기(117)는 하나의 추출시험신호를 출력하므로, 복수의 추출시험신호를 출력하기 위해서는 복수의 스펙트럼 분석기(117-1, 117-2, ..., 117-n)를 포함할 수 있다. 그러나 하나의 스펙트럼 분석기가 복수의 시험신호에 대응하는 복수의 추출시험신호를 분석하고 출력할 수 있다.

예를 들어 제1 신호발생기(111-1)가 제1 시험신호를 생성하고 제2 신호발생기(111-2)가 제2 시험신호를 생성하는 경우, 제1 스펙트럼 분석기(117-1)는 제1 시험신호에 대응하는 제1 추출시험신호(601)와 제2 시험신호에 대응하는 제2 추출시험신호(602)를 한 번에 화면(610)을 통해 출력할 수 있다. 제1 시험신호가 제1 추출주파수범위에 있으므로, 이에 대응하는 제1 추출시험신호(601) 역시 제1 추출주파수범위에 속할 수 있다. 제2 시험신호가 제2 추출주파수범위에 있으므로, 이에 대응하는 제2 추출시험신호(602) 역시 제2 추출주파수범위에 속할 수 있다. 제1 스펙트럼 분석기(117-1)는 제1 및 2 추출주파수범위를 모두 표시하고, 각 범위에 상응하게 제1 및 2 추출시험신호들(601, 602)을 각각 표시할 수 있다.

이 경우, 주파수 변경으로 새로운 시험신호가 생성되면, 각 추출주파수범위에서 도 7과 같이 새로운 시험신호에 대응하는 새로운 추출시험신호가 표시될 수 있다.

이상에서 기재된 "포함하다", "구성하다" 또는 "가지다" 등의 용어는, 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 해당 구성 요소가 내재될 수 있음을 의미하는 것이므로, 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함한 모든 용어들은, 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥 상의 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

Claims (9)

1. 제1 주파수 및 제1 시험신호출력을 가지는 제1 시험신호와, 상기 제1 주파수와 다른 제2 주파수 및 제2 시험신호출력을 가지는 제2 시험신호를 생성하는 신호발생기;
   상기 제1 및 2 시험신호를 합성하여 합성시험신호를 생성하는 신호합성기;
   상기 합성시험신호를 증폭하는 신호증폭기;
   상기 합성시험신호를 송신함으로써 상기 제1 및 2 시험신호를 동시에 송신하는 신호송신기; 및
   상기 신호송신기로부터 상기 합성시험신호를 수신함으로써 상기 제1 및 2 시험신호를 동시에 수신하는 시험체를 포함하고,
   상기 제1 시험신호의 제1 시험신호출력 및 상기 제2 시험신호의 제2 시험신호출력은, 각 시험신호의 신호입력에 따라 달라지고,
   상기 제1 시험신호 및 상기 제2 시험신호 중 적어도 하나가 변동하였는지를 판정하고, 변동한 것으로 판정된 시험신호에 대하여 변동을 상쇄시키도록 상기 신호입력을 조정하며, 상기 조정된 신호입력을 상기 신호발생기로 전달하는 제어장치;
   상기 합성시험신호로부터 상기 제1 및 2 시험신호에 각각 대응하는 제1 및 2 추출시험신호를 각각 생성하고, 상기 제1 및 2 추출시험신호에 대한 데이터를 생성하여 상기 제어장치로 전달하는 신호분석기; 및
   상기 합성시험신호를 분기하여 커플링신호를 생성하는 커플러를 더 포함하고,
   상기 신호분석기는, 상기 커플링신호로부터 상기 제1 및 2 추출시험신호를 각각 생성하는 시스템.
2. 제1항에 있어서,
   상기 제1 주파수와 상기 제2 주파수는, 일정 간격만큼 서로 이격하고,
   상기 신호발생기는, 상기 일정 간격을 유지하면서 상기 제1 및 2주파수를 각각 다른 주파수로 조정하고, 상기 제1 주파수를 조정한 주파수 및 상기 제2 주파수를 조정한 주파수로부터 각각 새로운 시험신호를 생성하며,
   상기 신호합성기는, 상기 복수의 새로운 시험신호들을 합성하여 합성시험신호를 생성하는 시스템.
3. 제1항에 있어서,
   상기 제어장치는,
   상기 제1 시험신호 및 상기 제2 시험신호 중 적어도 하나가 감쇄하였는지를 판정하고, 감쇄한 것으로 판정된 시험신호에 대하여 감쇄를 상쇄시키도록 상기 신호입력을 조정하며, 상기 조정된 신호입력을 상기 신호발생기로 전달하는 시스템.
4. 제1항에 있어서,
   상기 신호발생기는, 상기 조정된 신호입력에 따라서 상기 제1 시험신호 및 상기 제2 시험신호 중 적어도 하나를 다시 생성하는 시스템.
5. 삭제
6. 제1항에 있어서,
   상기 제1 및 2 추출시험신호에 대한 데이터는, 상기 제1 및 2 추출시험신호의 신호출력인 제1 및 2 추출시험신호출력을 각각 포함하고,
   상기 제어장치는, 상기 제1 추출시험신호출력과 미리 설정된 제1 추출시험신호출력을 비교하여 상기 제1 시험신호가 변동하였는지를 판정하고, 상기 제2 추출시험신호출력과 미리 설정된 제2 시험신호출력을 비교하여 상기 제2 시험신호가 변동하였는지를 판정하는 시스템.
7. 삭제
8. 제1항에 있어서,
   상기 커플링신호를 복제하여 제1 복제커플링신호 및 제2 복제커플링신호를 생성하는 신호복제기를 포함하고,
   상기 신호분석기는, 상기 제1 복제커플링신호로부터 상기 제1 추출시험신호를 생성하고, 상기 제2 복제커플링신호로부터 상기 제2 추출시험신호를 생성하는 시스템.
9. 제8항에 있어서,
   상기 신호분석기는, 상기 제1 주파수를 가지는 신호를 상기 제1 복제커플링신호로부터 추출하여 상기 제1 추출시험신호를 생성하고, 상기 제2 주파수를 가지는 신호를 상기 제2 복제커플링신호로부터 추출하여 상기 제2 추출시험신호를 생성하는 시스템.
   

Images