JP3006383B2 - 電波耐性試験装置および電波耐性評価方法および電波照射部 - Google Patents
電波耐性試験装置および電波耐性評価方法および電波照射部Info
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- JP3006383B2 JP3006383B2 JP5330276A JP33027693A JP3006383B2 JP 3006383 B2 JP3006383 B2 JP 3006383B2 JP 5330276 A JP5330276 A JP 5330276A JP 33027693 A JP33027693 A JP 33027693A JP 3006383 B2 JP3006383 B2 JP 3006383B2
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/001—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電波耐性試験装置および
電波耐性評価方法に関し、特にプリント回路基板や回路
部品および電子・電気機器等の電波雑音に対する対妨害
波特性すなわちイミュニティを測定し評価する電波耐性
試験装置、電波耐性評価方法および電波照射部に関す
る。
電波耐性評価方法に関し、特にプリント回路基板や回路
部品および電子・電気機器等の電波雑音に対する対妨害
波特性すなわちイミュニティを測定し評価する電波耐性
試験装置、電波耐性評価方法および電波照射部に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】近時、電気的エネルギー利用の増大に伴
ない、電波雑音を代表とする不用電磁エネルギーの放射
が増大し、これを環境としてとらえた電磁環境およびそ
れを工学的な研究対象とする電磁環境問題あるいは電磁
的両立性（ＥＭＣ）という概念が生まれた。上記電磁環
境は広い概念であり、その一つに電波干渉がある。電子
機器や電気機器に外部から電波雑音が混入すると、発振
や誤動作等本来の機能対応の動作と全く異なる動作を生
ずる異常動作状態となることがある。これは、上記機器
内に組込まれたプリント回路基板やケーブル等の信号経
路に上記電波雑音の干渉に起因する雑音が侵入し、これ
がノイズ源となって誤動作等を引起こすためである。こ
こで、電波雑音とは、目的とする信号に重畳あるいは結
合しその信号が有する情報の伝達を妨害する電磁波のこ
とを言う。
ない、電波雑音を代表とする不用電磁エネルギーの放射
が増大し、これを環境としてとらえた電磁環境およびそ
れを工学的な研究対象とする電磁環境問題あるいは電磁
的両立性（ＥＭＣ）という概念が生まれた。上記電磁環
境は広い概念であり、その一つに電波干渉がある。電子
機器や電気機器に外部から電波雑音が混入すると、発振
や誤動作等本来の機能対応の動作と全く異なる動作を生
ずる異常動作状態となることがある。これは、上記機器
内に組込まれたプリント回路基板やケーブル等の信号経
路に上記電波雑音の干渉に起因する雑音が侵入し、これ
がノイズ源となって誤動作等を引起こすためである。こ
こで、電波雑音とは、目的とする信号に重畳あるいは結
合しその信号が有する情報の伝達を妨害する電磁波のこ
とを言う。
【０００３】図７は、従来の上記電波雑音に対する対妨
害波特性すなわちイミュニティ（ｉｍｍｕｎｉｔｙ；免
疫性）の試験方法の一例を示す図であり、社団法人日本
電子工業振興会が発行した「情報処理装置およびシステ
ムのイミュニティ試験ガイドライン」（平成４年９月）
（文献１）第３章、第４〜第５頁に記載されている。図
７を参照すると、この図に示す従来の電波耐性試験装置
は、試験用の電波の周波数の信号Ｓを発生する発振器５
と、信号Ｓを所定の電力レベルに増幅し電波信号Ｐを供
給する増幅器７と、電波信号Ｐの供給に応答し試験電波
Ｒを数ｍ離れた被測定機器６に照射するアンテナ８とを
備える。
害波特性すなわちイミュニティ（ｉｍｍｕｎｉｔｙ；免
疫性）の試験方法の一例を示す図であり、社団法人日本
電子工業振興会が発行した「情報処理装置およびシステ
ムのイミュニティ試験ガイドライン」（平成４年９月）
（文献１）第３章、第４〜第５頁に記載されている。図
７を参照すると、この図に示す従来の電波耐性試験装置
は、試験用の電波の周波数の信号Ｓを発生する発振器５
と、信号Ｓを所定の電力レベルに増幅し電波信号Ｐを供
給する増幅器７と、電波信号Ｐの供給に応答し試験電波
Ｒを数ｍ離れた被測定機器６に照射するアンテナ８とを
備える。
【０００４】アンテナ８は発振器５の出力調整による信
号Ｓのレベルや増幅器７の利得調整による電力信号Ｐの
レベルおよびアンテナ８自身の高さなどの調整により、
垂直偏波および水平偏波の規定された電界強度の試験電
波Ｒを被測定機器６に印加する。
号Ｓのレベルや増幅器７の利得調整による電力信号Ｐの
レベルおよびアンテナ８自身の高さなどの調整により、
垂直偏波および水平偏波の規定された電界強度の試験電
波Ｒを被測定機器６に印加する。
【０００５】このとき印加する電界強度は、機器の使用
環境によって３つのレベルに設定されており、（文献
１）の第３章、１頁に記載されている。表１に各レベル
に応じた電界強度と、電波インピーダンス３７７［Ω］
から換算した磁界強度を示す。
環境によって３つのレベルに設定されており、（文献
１）の第３章、１頁に記載されている。表１に各レベル
に応じた電界強度と、電波インピーダンス３７７［Ω］
から換算した磁界強度を示す。
【０００６】
【表１】
【０００７】上記試験は外来の電磁エネルギーを遮断し
た電波暗室等の電磁環境施設において実施される。ま
た、アンテナ８は被測定機器６を効率的に照射するた
め、大型の高利得のバイコニカルアンテナやログペリオ
ヂックアンテナが用いられる。
た電波暗室等の電磁環境施設において実施される。ま
た、アンテナ８は被測定機器６を効率的に照射するた
め、大型の高利得のバイコニカルアンテナやログペリオ
ヂックアンテナが用いられる。
【０００８】また、比較的小型の装置に適用される従来
の第２の試験法として、（文献１）の第３章、第８〜第
９頁に記載されたＴＥＭセルを用いる方法がある。図８
に示すこの従来の第２の試験装置は、上述の第１の試験
装置におけるアンテナ８の代りに、中心導体９１と外部
導体９２と終端９３とから成る基本的には同軸線路であ
るＴＥＭセル９を用い、被測定装置６を中心導体９１と
外部導体９２との間に設置し規定の電界強度の電界Ｅを
印加するものである。
の第２の試験法として、（文献１）の第３章、第８〜第
９頁に記載されたＴＥＭセルを用いる方法がある。図８
に示すこの従来の第２の試験装置は、上述の第１の試験
装置におけるアンテナ８の代りに、中心導体９１と外部
導体９２と終端９３とから成る基本的には同軸線路であ
るＴＥＭセル９を用い、被測定装置６を中心導体９１と
外部導体９２との間に設置し規定の電界強度の電界Ｅを
印加するものである。
【０００９】これらの試験においては、被測定機器６は
試験電波Ｒによる干渉により信号経路が妨害される。こ
の状態における上記信号経路の出力結果の正当性や被測
定機器６の全般的な動作の変動度合を点検することによ
りイミュニティを評価する。例えば、被測定機器６をパ
ーソナルコンピュータの本体とすると、試験電波Ｒの印
加状態でこのパーソナルコンピュータの予め設定したテ
ストプログラムを実行させ、処理結果の正誤や動作の中
断の有無等によりイミュニティを評価する。また、ディ
スプレイ装置等の情報が視覚化できる機器では表示画面
の揺れや乱れ等の変動度合で判断する。
試験電波Ｒによる干渉により信号経路が妨害される。こ
の状態における上記信号経路の出力結果の正当性や被測
定機器６の全般的な動作の変動度合を点検することによ
りイミュニティを評価する。例えば、被測定機器６をパ
ーソナルコンピュータの本体とすると、試験電波Ｒの印
加状態でこのパーソナルコンピュータの予め設定したテ
ストプログラムを実行させ、処理結果の正誤や動作の中
断の有無等によりイミュニティを評価する。また、ディ
スプレイ装置等の情報が視覚化できる機器では表示画面
の揺れや乱れ等の変動度合で判断する。
【００１０】このように、従来の電波耐性試験装置によ
り従来の電波耐性評価方法は、被測定機器６の全体に試
験電波Ｒの電界を印加しているので、試験電波Ｒの干渉
による誤動作や異常動作が発生しても、その誤動作ある
いは異常動作の発生箇所を特定することは極めて困難で
ある。例えば、上述のパーソナルコンピュータの本体を
被測定機器６とする試験の場合では、入出力端子か内部
のいずれかのプリント回路基板であるかの特定は不可能
である。また、機器内のプリント回路基板単体を被測定
機器６として試験する場合でも、このプリント回路基板
の特定領域のみに上記電界を照射することができないの
で、上記誤動作あるいは異常動作の発生箇所の特定が不
可能である。
り従来の電波耐性評価方法は、被測定機器６の全体に試
験電波Ｒの電界を印加しているので、試験電波Ｒの干渉
による誤動作や異常動作が発生しても、その誤動作ある
いは異常動作の発生箇所を特定することは極めて困難で
ある。例えば、上述のパーソナルコンピュータの本体を
被測定機器６とする試験の場合では、入出力端子か内部
のいずれかのプリント回路基板であるかの特定は不可能
である。また、機器内のプリント回路基板単体を被測定
機器６として試験する場合でも、このプリント回路基板
の特定領域のみに上記電界を照射することができないの
で、上記誤動作あるいは異常動作の発生箇所の特定が不
可能である。
【００１１】さらに、上述のディスプレイ装置等の視覚
化機器では表示画面の揺れや乱れ等の変動度合で判断す
るが、これらの判断は一般に測定者の主観に委ねられ
る。
化機器では表示画面の揺れや乱れ等の変動度合で判断す
るが、これらの判断は一般に測定者の主観に委ねられ
る。
【００１２】一方、アンテナに関する従来の技術として
は、大型の放射アンテナの代わりに微小ループアンテナ
で被測定機器に局所的な磁界を印加して特定領域の電波
耐性を評価する方法がある。図１７は従来の上記ループ
アンテナで電波耐性を評価する一試験法を示したもので
ある（例えば、Ｓ．Ｇ．ＺＡＫＹら、Ｓｕｓｃｅｐｔｉ
ｂｉｌｉｔｙ Ｍａｐｐｉｎｇ、１９９２ アイトリプ
ルイー・インターナショナル・シンポジウム・オン・エ
レクトロマグネティブコンパチビリティ、ＩＥＥＥ Ｉ
ＮＴＥＲＮＡＴＩＯＮＡＬ ＳＹＭＰＯＳＩＵＭ ＯＮ
ＥＬＥＣＴＲＯＭＡＧＮＥＴＩＣ ＣＯＭＮＰＡＴＩ
ＢＩＬＩＴＹ．４３９−４４２頁に記載）。図１７に示
す従来の試験法では、微小ループアンテナ単体を被測定
機器の一主面とループ面が平行となるように配置して数
ｃｍ程度離れた近傍より磁界を印加する。ループ直径は
数ｃｍ程度と小型のものを使用するので磁界の印加領域
も小さくなる。
は、大型の放射アンテナの代わりに微小ループアンテナ
で被測定機器に局所的な磁界を印加して特定領域の電波
耐性を評価する方法がある。図１７は従来の上記ループ
アンテナで電波耐性を評価する一試験法を示したもので
ある（例えば、Ｓ．Ｇ．ＺＡＫＹら、Ｓｕｓｃｅｐｔｉ
ｂｉｌｉｔｙ Ｍａｐｐｉｎｇ、１９９２ アイトリプ
ルイー・インターナショナル・シンポジウム・オン・エ
レクトロマグネティブコンパチビリティ、ＩＥＥＥ Ｉ
ＮＴＥＲＮＡＴＩＯＮＡＬ ＳＹＭＰＯＳＩＵＭ ＯＮ
ＥＬＥＣＴＲＯＭＡＧＮＥＴＩＣ ＣＯＭＮＰＡＴＩ
ＢＩＬＩＴＹ．４３９−４４２頁に記載）。図１７に示
す従来の試験法では、微小ループアンテナ単体を被測定
機器の一主面とループ面が平行となるように配置して数
ｃｍ程度離れた近傍より磁界を印加する。ループ直径は
数ｃｍ程度と小型のものを使用するので磁界の印加領域
も小さくなる。
【００１３】図１８は磁界測定用ループプローブをルー
プアンテナ（直径１６ｍｍ）の中心より高さ１０ｍｍの
ところに設置し、Ｙ軸方向に掃引したときの垂直方向
（Ｘ方向）および水平方向（Ｙ方向）の磁界をプローブ
の受信電圧で示したものである。このとき、垂直方向磁
界はループ中心で、水平方向磁界はループのエッジ付近
で最大値を示し、その差は６ｄＢ程度である。
プアンテナ（直径１６ｍｍ）の中心より高さ１０ｍｍの
ところに設置し、Ｙ軸方向に掃引したときの垂直方向
（Ｘ方向）および水平方向（Ｙ方向）の磁界をプローブ
の受信電圧で示したものである。このとき、垂直方向磁
界はループ中心で、水平方向磁界はループのエッジ付近
で最大値を示し、その差は６ｄＢ程度である。
【００１４】図１７のループ配置で磁界を印加する場
合、被測定機器に垂直方向の磁界のみを印加しているつ
もりでも、実際にはループのエッジ付近で無視できない
大きさの水平方向の磁界が印加されてしまうことにな
る。このことは、（文献１）の第３章、４頁で示された
垂直および水平偏波の一方向成分の電波を印加するとい
う規定を満たさないこととなる。
合、被測定機器に垂直方向の磁界のみを印加しているつ
もりでも、実際にはループのエッジ付近で無視できない
大きさの水平方向の磁界が印加されてしまうことにな
る。このことは、（文献１）の第３章、４頁で示された
垂直および水平偏波の一方向成分の電波を印加するとい
う規定を満たさないこととなる。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の電波耐
性試験装置および電波耐性評価方法は、被測定機器の全
体に試験電波の電界を印加しているので、上記試験電波
の干渉による誤動作や異常動作が発生しても、その誤動
作あるいは異常動作の発生箇所を特定することは極めて
困難であるという欠点があった。また、デイスプレイ装
置等における表示画面の揺れや乱れ等の変動度合による
判断は判断基準に個人差がある測定者の主観に委ねられ
客観性に欠けるという欠点があった。さらに、電波暗室
等の特別な環境下で大型のアンテナを用いて上記被測定
機器に対し数ｍの距離を保持して試験を実施するため、
この距離対応の広さの電波暗室を施設として必要とし簡
便さに欠け費用がかかるという欠点があった。
性試験装置および電波耐性評価方法は、被測定機器の全
体に試験電波の電界を印加しているので、上記試験電波
の干渉による誤動作や異常動作が発生しても、その誤動
作あるいは異常動作の発生箇所を特定することは極めて
困難であるという欠点があった。また、デイスプレイ装
置等における表示画面の揺れや乱れ等の変動度合による
判断は判断基準に個人差がある測定者の主観に委ねられ
客観性に欠けるという欠点があった。さらに、電波暗室
等の特別な環境下で大型のアンテナを用いて上記被測定
機器に対し数ｍの距離を保持して試験を実施するため、
この距離対応の広さの電波暗室を施設として必要とし簡
便さに欠け費用がかかるという欠点があった。
【００１６】一方、上記従来の電波照射部では、垂直方
向の磁界に対してループのエッジ付近で無視できない大
きさの水平方向の磁界が存在しているので、（文献１）
で規定されている一方向成分のみの磁界印加ができない
といった欠点があった。
向の磁界に対してループのエッジ付近で無視できない大
きさの水平方向の磁界が存在しているので、（文献１）
で規定されている一方向成分のみの磁界印加ができない
といった欠点があった。
【００１７】本発明の目的は、上記欠点を解決し、電波
雑音の干渉による不具合発生領域を容易に特定できると
ともに、客観的評価を可能とし、コンパクトでかつ電波
暗室等の特別の電磁環境施設を不要とする電波耐性試験
装置、電波耐性評価方法および電波照射部を提供するこ
とにある。
雑音の干渉による不具合発生領域を容易に特定できると
ともに、客観的評価を可能とし、コンパクトでかつ電波
暗室等の特別の電磁環境施設を不要とする電波耐性試験
装置、電波耐性評価方法および電波照射部を提供するこ
とにある。
【００１８】
【課題を解決するための手段】本発明の電波耐性試験装
置は、被測定機器の一主面に対し予め定めた間隔を保持
するよう近接して配置されこの一主面の予め定めた領域
に集中して試験用電波を照射する放射プロープを含む電
波照射部と、前記電波照射部に前記試験用電波対応の高
周波電力を供給する送信装置と、前記被測定機器の出力
信号を演算処理して前記試験用電波の照射により前記出
力信号が被る影響の度合である電波耐性を算出する判定
装置と、算出した前記電波耐性を視覚化し表示する表示
装置とを備えて構成されている。
置は、被測定機器の一主面に対し予め定めた間隔を保持
するよう近接して配置されこの一主面の予め定めた領域
に集中して試験用電波を照射する放射プロープを含む電
波照射部と、前記電波照射部に前記試験用電波対応の高
周波電力を供給する送信装置と、前記被測定機器の出力
信号を演算処理して前記試験用電波の照射により前記出
力信号が被る影響の度合である電波耐性を算出する判定
装置と、算出した前記電波耐性を視覚化し表示する表示
装置とを備えて構成されている。
【００１９】本発明の電波耐性評価方法は、プリント回
路基板や回路部品および電子・電気機器である被測定機
器に対し電波雑音を疑似する試験用電波を照射しこの電
波雑音に対する耐妨害波特性である電波耐性を測定し評
価する電波耐性評価方法において、前記被測定機器に対
し前記試験用電波を照射しないときの前記被測定機器の
出力信号波形である第１の波形と前記試験用電波を照射
した場合の前記出力信号波形である第２の波形との差と
から前記電波耐性を算出することを特徴とするものであ
る。
路基板や回路部品および電子・電気機器である被測定機
器に対し電波雑音を疑似する試験用電波を照射しこの電
波雑音に対する耐妨害波特性である電波耐性を測定し評
価する電波耐性評価方法において、前記被測定機器に対
し前記試験用電波を照射しないときの前記被測定機器の
出力信号波形である第１の波形と前記試験用電波を照射
した場合の前記出力信号波形である第２の波形との差と
から前記電波耐性を算出することを特徴とするものであ
る。
【００２０】本発明の電波照射部は、被測定機器の一主
面を挟み込むように配置されこの一主面の予め定めた領
域に一方向成分のみを有する試験用電波を局所的に照射
する第１および第２のループアンテナからなる一対の素
子プローブまたは一対の素子プローブを複数組み合わせ
た複合プローブからなることを特徴とするものである。
面を挟み込むように配置されこの一主面の予め定めた領
域に一方向成分のみを有する試験用電波を局所的に照射
する第１および第２のループアンテナからなる一対の素
子プローブまたは一対の素子プローブを複数組み合わせ
た複合プローブからなることを特徴とするものである。
【００２１】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００２２】図１は本発明の電波耐性試験装置の一実施
例を示すブロック図である。
例を示すブロック図である。
【００２３】本実施例の電波耐性試験装置は、図１に示
すように、被測定機器６に電波を照射する電波照射部１
と、従来と同様の試験用の電波の周波数の信号Ｓを発生
し同軸ケーブル５７を経由して送信部２に信号Ｓを供給
する発振器５と、信号Ｓを伝送し電波照射部１に供給す
る送信装置２と、被測定機器６の出力信号Ｏの供給を受
け信号Ｏを演算処理し電波耐性（イミュニティ）を算出
する判定装置３と、算出したイミュニティを視覚化し表
示するディスプレイから成る表示装置４とを備える。
すように、被測定機器６に電波を照射する電波照射部１
と、従来と同様の試験用の電波の周波数の信号Ｓを発生
し同軸ケーブル５７を経由して送信部２に信号Ｓを供給
する発振器５と、信号Ｓを伝送し電波照射部１に供給す
る送信装置２と、被測定機器６の出力信号Ｏの供給を受
け信号Ｏを演算処理し電波耐性（イミュニティ）を算出
する判定装置３と、算出したイミュニティを視覚化し表
示するディスプレイから成る表示装置４とを備える。
【００２４】電波照射部１は、各々独立して励振される
複数対の素子プローブ１ｉｊＡ、１ｉｊＢから成る一対
の放射プローブ１１Ａ、１１Ｂを備える。ここで、ｉお
よびｊは各々１＜ｉ＜Ｍ、１＜ｊ＜Ｎなる整数である。
放射プローブ１１Ａ、１１Ｂの具体的な構成を示す図２
を参照すると、この図に示す放射プローブ１１Ａ、１１
Ｂを構成する複数対の素子プローブ１ｉｊＡ、１ｉｊＢ
は行（横）方向にＭ個および列（縦）方向にＮ個のマト
リクス状に配列されている。これら素子プローブ１ｉｊ
Ａ、１ｉｊＢは約２ｃｍの間隔で対面した金属平板の一
対の電極板から成り、この電極板間に試験用電波の電圧
を印加することにより電界を発生させる。
複数対の素子プローブ１ｉｊＡ、１ｉｊＢから成る一対
の放射プローブ１１Ａ、１１Ｂを備える。ここで、ｉお
よびｊは各々１＜ｉ＜Ｍ、１＜ｊ＜Ｎなる整数である。
放射プローブ１１Ａ、１１Ｂの具体的な構成を示す図２
を参照すると、この図に示す放射プローブ１１Ａ、１１
Ｂを構成する複数対の素子プローブ１ｉｊＡ、１ｉｊＢ
は行（横）方向にＭ個および列（縦）方向にＮ個のマト
リクス状に配列されている。これら素子プローブ１ｉｊ
Ａ、１ｉｊＢは約２ｃｍの間隔で対面した金属平板の一
対の電極板から成り、この電極板間に試験用電波の電圧
を印加することにより電界を発生させる。
【００２５】送信装置２は電気的に不平衡回路として動
作する不平衡線路で構成された同軸ケーブル５１に流れ
る電流と電気的に平衡回路として動作する平衡線路で構
成された１対の信号線５８Ａ、５８Ｂに流れる電流との
不平衡平衡変換を行うとともに同軸ケーブル５７からの
不要放射を抑圧するため挿入された不平衡平衡変換回路
２１と、放射プローブ１１Ａ、１１Ｂのそれぞれの励振
対象の対の素子プローブを選択する切替器２２、２３
と、対の片側の放射プローブ１１Ａに供給される信号の
位相を０°および１８０°のいずれか一方に設定する移
相器２４と、移相器２４および切替器２３と素子プロー
ブ１ｉｊＡ、１ｉｊＢの各々とを接続するシールド２５
により遮蔽された裸銅線の接続線２６を備える。
作する不平衡線路で構成された同軸ケーブル５１に流れ
る電流と電気的に平衡回路として動作する平衡線路で構
成された１対の信号線５８Ａ、５８Ｂに流れる電流との
不平衡平衡変換を行うとともに同軸ケーブル５７からの
不要放射を抑圧するため挿入された不平衡平衡変換回路
２１と、放射プローブ１１Ａ、１１Ｂのそれぞれの励振
対象の対の素子プローブを選択する切替器２２、２３
と、対の片側の放射プローブ１１Ａに供給される信号の
位相を０°および１８０°のいずれか一方に設定する移
相器２４と、移相器２４および切替器２３と素子プロー
ブ１ｉｊＡ、１ｉｊＢの各々とを接続するシールド２５
により遮蔽された裸銅線の接続線２６を備える。
【００２６】判定装置３は、被測定機器６の出力信号Ｏ
の供給を受け信号Ｏをフーリエ変換して周波数領域のス
ペクトルＳＯを出力する波形処理装置３１と、スペクト
ルＳＯを演算処理してイミュニティＡに換算出力しかつ
切替器２２、２３および移相器２４の切替制御を行う制
御装置３２とを備える。
の供給を受け信号Ｏをフーリエ変換して周波数領域のス
ペクトルＳＯを出力する波形処理装置３１と、スペクト
ルＳＯを演算処理してイミュニティＡに換算出力しかつ
切替器２２、２３および移相器２４の切替制御を行う制
御装置３２とを備える。
【００２７】次に、本実施例の動作について説明する。
プリント回路基板等の被測定機器６を放射プローブ１１
Ａ、１１Ｂの中間に配置し、切替器２２、２３により素
子プローブ１ｉｊＡ、１ｉｊＢの任意の対を選択するこ
とにより被測定機器６の選択された上記対に対応する領
域の照射面に対し垂直の方向であるＸ方向および水平の
方向であるＹ方向の電界Ｅを印加する。試験用電波の波
長λが上記電極板間の間隔ｄよりも非常に大きい場合に
は電極板間の電界は静電界として見なすことができる。
本実施例では、上記試験用電波の周波数が３０ＭＨｚ〜
１０００ＭＨｚ、上記間隔は２ｃｍ程度であるので、上
記想定が成立し上記電極板間の電界は静電界として近似
できる。
プリント回路基板等の被測定機器６を放射プローブ１１
Ａ、１１Ｂの中間に配置し、切替器２２、２３により素
子プローブ１ｉｊＡ、１ｉｊＢの任意の対を選択するこ
とにより被測定機器６の選択された上記対に対応する領
域の照射面に対し垂直の方向であるＸ方向および水平の
方向であるＹ方向の電界Ｅを印加する。試験用電波の波
長λが上記電極板間の間隔ｄよりも非常に大きい場合に
は電極板間の電界は静電界として見なすことができる。
本実施例では、上記試験用電波の周波数が３０ＭＨｚ〜
１０００ＭＨｚ、上記間隔は２ｃｍ程度であるので、上
記想定が成立し上記電極板間の電界は静電界として近似
できる。
【００２８】被測定機器６に各々Ｘ、Ｙ方向の電界を印
加するときの切替器２２、２３および移相器２４の接続
の選択および結果として生ずる電界Ｅの様子を示す図３
を参照すると、Ｘ方向の電界Ｅの印加の場合は、対向す
る１対の素子プローブ例えば１１１Ａ、１１１Ｂの各々
を切替器２２、２３で選択し、移相器２４は０°を選択
する。この結果電界Ｅは素子プローブ１１１Ａ、１１１
Ｂ間を横切るように、すなわちＸ方向に発生する（図３
（Ａ））。Ｙ方向の電界Ｅの印加の場合は、隣接する１
対の素子プローブ例えば１１１Ａ、１２１Ａの各々を切
替器２２で選択し、切替器２３を全てオフすなわち素子
プローブ１ｉｊＢの全部の励振を停止し移相器２４は素
子プローブ１１１Ａに対し０°および素子プローブ１２
１Ａに対し１８０°を選択する。この結果電界Ｅは素子
プローブ１１１Ａ、１２１Ａ間を横切るように、すなわ
ちＹ方向に発生する（図３（Ｂ））。
加するときの切替器２２、２３および移相器２４の接続
の選択および結果として生ずる電界Ｅの様子を示す図３
を参照すると、Ｘ方向の電界Ｅの印加の場合は、対向す
る１対の素子プローブ例えば１１１Ａ、１１１Ｂの各々
を切替器２２、２３で選択し、移相器２４は０°を選択
する。この結果電界Ｅは素子プローブ１１１Ａ、１１１
Ｂ間を横切るように、すなわちＸ方向に発生する（図３
（Ａ））。Ｙ方向の電界Ｅの印加の場合は、隣接する１
対の素子プローブ例えば１１１Ａ、１２１Ａの各々を切
替器２２で選択し、切替器２３を全てオフすなわち素子
プローブ１ｉｊＢの全部の励振を停止し移相器２４は素
子プローブ１１１Ａに対し０°および素子プローブ１２
１Ａに対し１８０°を選択する。この結果電界Ｅは素子
プローブ１１１Ａ、１２１Ａ間を横切るように、すなわ
ちＹ方向に発生する（図３（Ｂ））。
【００２９】判定装置３の波形処理装置３１は被測定機
器６の出力信号Ｏの供給を受けフーリエ変換を行い、対
応する周波数スペクトルＳＯを出力する。出力信号Ｏの
波形と対応のフーリエ変換後のスペクトルＳＯをそれぞ
れ示す図４を参照すると、正常動作時の出力信号Ｏの波
形を（Ａ）に、対応するスペクトル（以下基準スペクト
ル）ＳＯＲを（Ｂ）に、それぞれ示す。被測定機器６が
電界Ｅの影響を受け出力信号Ｏの波形が（Ｃ）に示すよ
うに高調波成分が混入し波形の乱れが生じ、対応のスペ
クトルＳＯも（Ｄ）に示すようにスペクトル線の分布お
よびレベルが変化する。
器６の出力信号Ｏの供給を受けフーリエ変換を行い、対
応する周波数スペクトルＳＯを出力する。出力信号Ｏの
波形と対応のフーリエ変換後のスペクトルＳＯをそれぞ
れ示す図４を参照すると、正常動作時の出力信号Ｏの波
形を（Ａ）に、対応するスペクトル（以下基準スペクト
ル）ＳＯＲを（Ｂ）に、それぞれ示す。被測定機器６が
電界Ｅの影響を受け出力信号Ｏの波形が（Ｃ）に示すよ
うに高調波成分が混入し波形の乱れが生じ、対応のスペ
クトルＳＯも（Ｄ）に示すようにスペクトル線の分布お
よびレベルが変化する。
【００３０】制御装置３２はスペクトルＳＯの供給を受
け、予め記憶されている基準スペクトルＳＯＲとの比較
演算処理を行う。この処理結果得られた基準スペクトル
ＳＯＲに対するスペクトルＳＯの差である変位差を予め
設定された対応のイミュニティＡに換算する。ここで
は、イミュニティＡを０〜５の５段階のレベルで分類す
る。スペクトルＳＯＲ、ＳＯの各々の構成スペクトル線
の周波数が同一の場合において、基準スペクトルＳＯＲ
のレベルを基準とした上記変位差のレベルが０ときは正
常動作としレベル０とする。上記変位差のレベルが±２
０％未満の場合がレベル１、±２０％〜±４０％未満の
場合がレベル２、±４０％〜±６０％未満の場合がレベ
ル３、±６０％〜±８０％未満の場合がレベル４、±８
０％〜±１００％以上の場合がレベル５とそれぞれ設定
する。また、スペクトルＳＯのスペクトル線の周波数が
基準スペクトルＳＯＲのスペクトル線と異なる周波数に
分布する場合は、各々の周波数のスペクトル線レベルの
加算平均を算出し、上述と同様に比較し変位差を設定す
る。
け、予め記憶されている基準スペクトルＳＯＲとの比較
演算処理を行う。この処理結果得られた基準スペクトル
ＳＯＲに対するスペクトルＳＯの差である変位差を予め
設定された対応のイミュニティＡに換算する。ここで
は、イミュニティＡを０〜５の５段階のレベルで分類す
る。スペクトルＳＯＲ、ＳＯの各々の構成スペクトル線
の周波数が同一の場合において、基準スペクトルＳＯＲ
のレベルを基準とした上記変位差のレベルが０ときは正
常動作としレベル０とする。上記変位差のレベルが±２
０％未満の場合がレベル１、±２０％〜±４０％未満の
場合がレベル２、±４０％〜±６０％未満の場合がレベ
ル３、±６０％〜±８０％未満の場合がレベル４、±８
０％〜±１００％以上の場合がレベル５とそれぞれ設定
する。また、スペクトルＳＯのスペクトル線の周波数が
基準スペクトルＳＯＲのスペクトル線と異なる周波数に
分布する場合は、各々の周波数のスペクトル線レベルの
加算平均を算出し、上述と同様に比較し変位差を設定す
る。
【００３１】表示装置４は視覚化しやすいように、供給
されたイミュニティＡのレベル０〜５を表２に示すよう
にカラー表示する。
されたイミュニティＡのレベル０〜５を表２に示すよう
にカラー表示する。
【００３２】
【表２】
【００３３】表示装置４には、予め被測定機器６の照射
面が素子プローブ１ｉｊＡ、１ｉｊＢにより形成される
マトリクス状のＭＮ個の領域ＩＪから成るデータとして
入力されており、励振された素子プローブ１ｉｊＡ、１
ｉｊＢ対応の上記照射面領域のイミュニティＡのレベル
がカラー表示される。制御装置３２の制御により切替器
２２、２３および移相器２４の切替を制御して素子プロ
ーブ１ｉｊＡ、１ｉｊＢを順次切替ることにより、対応
する領域ＩＪの試験を順次行う。表示装置４の表示の一
例を示す図５を参照すると、この例はＭ＝６、Ｎ＝３の
場合であり、Ｉ＝５、Ｊ＝２の領域５２のみがレベル５
対応の赤を表示し、他は正常を示すレベル０対応の無色
を表示している。これにより領域５２が電界Ｅの干渉に
よる異常動作の発生箇所であると特定できる。
面が素子プローブ１ｉｊＡ、１ｉｊＢにより形成される
マトリクス状のＭＮ個の領域ＩＪから成るデータとして
入力されており、励振された素子プローブ１ｉｊＡ、１
ｉｊＢ対応の上記照射面領域のイミュニティＡのレベル
がカラー表示される。制御装置３２の制御により切替器
２２、２３および移相器２４の切替を制御して素子プロ
ーブ１ｉｊＡ、１ｉｊＢを順次切替ることにより、対応
する領域ＩＪの試験を順次行う。表示装置４の表示の一
例を示す図５を参照すると、この例はＭ＝６、Ｎ＝３の
場合であり、Ｉ＝５、Ｊ＝２の領域５２のみがレベル５
対応の赤を表示し、他は正常を示すレベル０対応の無色
を表示している。これにより領域５２が電界Ｅの干渉に
よる異常動作の発生箇所であると特定できる。
【００３４】通常、以上の試験は、最初に電波照射部１
の全ての素子プローブ１ｉｊＡ、１ｉｊＢを励振し、被
測定機器６の全体のイミュニティを評価する。次に、正
常動作を行わないものについて素子プローブ１ｉｊＡ、
１ｉｊＢの各々を順番に励振することにより領域ＩＪの
各々のイミュニティレベルを求め、不具合箇所を特定し
て対策を実施する。
の全ての素子プローブ１ｉｊＡ、１ｉｊＢを励振し、被
測定機器６の全体のイミュニティを評価する。次に、正
常動作を行わないものについて素子プローブ１ｉｊＡ、
１ｉｊＢの各々を順番に励振することにより領域ＩＪの
各々のイミュニティレベルを求め、不具合箇所を特定し
て対策を実施する。
【００３５】以上、本発明の実施例を説明したが、本発
明は上記実施例に限られることなく種々の変形が可能で
ある。
明は上記実施例に限られることなく種々の変形が可能で
ある。
【００３６】例えば、マトリクス状に配列した複数の素
子プローブから成る放射プローブの代りに、図６に示す
ような１対のＸ方向およびＹ方向のそれぞれの電界を生
成する３個の電極板２１１Ａ、２１１Ｂ、２２１Ａから
成る放射プローブを備えてもよい。また、電界の代りに
磁界を照射するマトリクス状に配列した複数のループア
ンテナから成る放射プローブを備えてもよい。さらに、
放射プローブとして、Ｘ、Ｙ方向に井桁状に配列した複
数の給電点を有する複数の線状アンテナを用いてもよ
い。
子プローブから成る放射プローブの代りに、図６に示す
ような１対のＸ方向およびＹ方向のそれぞれの電界を生
成する３個の電極板２１１Ａ、２１１Ｂ、２２１Ａから
成る放射プローブを備えてもよい。また、電界の代りに
磁界を照射するマトリクス状に配列した複数のループア
ンテナから成る放射プローブを備えてもよい。さらに、
放射プローブとして、Ｘ、Ｙ方向に井桁状に配列した複
数の給電点を有する複数の線状アンテナを用いてもよ
い。
【００３７】本発明の電波照射部の実施例を図を用いて
説明する。
説明する。
【００３８】図９は本発明の一実施例である垂直方向の
磁界印加用の電波照射部１である。
磁界印加用の電波照射部１である。
【００３９】電波照射部１は一対の素子プローブである
ループアンテナ４１Ａ、４１Ｂとを備える。各々のルー
プアンテナは、中心軸を一致させループ面が被測定機器
６に対して平行となるように対面させている。試験はル
ープ間に被測定機器６を挟みループアンテナ４１Ａ、４
１Ｂを同時に励振して磁界を印加する。各々のループア
ンテナに流れる電流３４は同じ方向としているので各々
のループアンテナから発生する磁界はループ間では水平
方向（Ｙ、Ｚ方向）成分をお互いに打ち消し合い、垂直
方向（Ｘ方向）成分を合成する。この結果、磁界は垂直
方向に強い成分を持つようになる。
ループアンテナ４１Ａ、４１Ｂとを備える。各々のルー
プアンテナは、中心軸を一致させループ面が被測定機器
６に対して平行となるように対面させている。試験はル
ープ間に被測定機器６を挟みループアンテナ４１Ａ、４
１Ｂを同時に励振して磁界を印加する。各々のループア
ンテナに流れる電流３４は同じ方向としているので各々
のループアンテナから発生する磁界はループ間では水平
方向（Ｙ、Ｚ方向）成分をお互いに打ち消し合い、垂直
方向（Ｘ方向）成分を合成する。この結果、磁界は垂直
方向に強い成分を持つようになる。
【００４０】図１０（Ａ）は一対のループアンテナ（直
径１６ｍｍ）を２０ｍｍ離し、ループ間隔の中間であり
かつ中心軸を通るＡ線に沿って磁界測定用ループプロー
ブを掃引したときの垂直方向磁界、水平方向磁界をプロ
ーブの受信電圧で表したものである。（Ｂ）（Ｃ）はそ
れぞれ横方向から、上方向から見た図である。垂直方向
の磁界はループ中心（Ｙ＝０）で約−３７．６［ｄＢ］
と最大を示し、中心から離れるにしたがい減衰する。と
ころで、従来のイミュニティ試験では均一な電界を被測
定機器６全体に印加することが困難なので、（文献１）
第３章、１２頁では測定空間中の電界強度の変動を６ｄ
Ｂ以内と定めている。そこで、ここでは印加する方向の
磁界強度の最大値より−６ｄＢの範囲に対応した距離Ｙ
の範囲を磁界印加領域として考えることにする。図１０
では、許容範囲が−４３．６〜−３７．６［ｄＢ］とな
るので磁界印加領域は約−９〜８［ｍｍ］となりほぼル
ープ直径に対応する。ループ面から放射する磁界はルー
プ軸を境に対象となるため、垂直方向の磁界印加の領域
はほぼループ面積に等しく、この範囲内の垂直方向磁界
は水平方向の磁界と比較して十分に大きく、一方向成分
のみの磁界が得られていることがわかる。したがって、
被測定機器の特定領域の垂直方向に対するイミュニティ
を評価することが可能となる。
径１６ｍｍ）を２０ｍｍ離し、ループ間隔の中間であり
かつ中心軸を通るＡ線に沿って磁界測定用ループプロー
ブを掃引したときの垂直方向磁界、水平方向磁界をプロ
ーブの受信電圧で表したものである。（Ｂ）（Ｃ）はそ
れぞれ横方向から、上方向から見た図である。垂直方向
の磁界はループ中心（Ｙ＝０）で約−３７．６［ｄＢ］
と最大を示し、中心から離れるにしたがい減衰する。と
ころで、従来のイミュニティ試験では均一な電界を被測
定機器６全体に印加することが困難なので、（文献１）
第３章、１２頁では測定空間中の電界強度の変動を６ｄ
Ｂ以内と定めている。そこで、ここでは印加する方向の
磁界強度の最大値より−６ｄＢの範囲に対応した距離Ｙ
の範囲を磁界印加領域として考えることにする。図１０
では、許容範囲が−４３．６〜−３７．６［ｄＢ］とな
るので磁界印加領域は約−９〜８［ｍｍ］となりほぼル
ープ直径に対応する。ループ面から放射する磁界はルー
プ軸を境に対象となるため、垂直方向の磁界印加の領域
はほぼループ面積に等しく、この範囲内の垂直方向磁界
は水平方向の磁界と比較して十分に大きく、一方向成分
のみの磁界が得られていることがわかる。したがって、
被測定機器の特定領域の垂直方向に対するイミュニティ
を評価することが可能となる。
【００４１】図１１は本発明の一実施例である水平方向
の磁界印加用の電波照射部１である。
の磁界印加用の電波照射部１である。
【００４２】電波照射部１は一対の素子プローブである
ループアンテナ４２Ａ、４２Ｂとを備える。各々のルー
プアンテナは、同一平面上に配置し被測定機器に対して
垂直に立てている。試験はループ間に被測定機器６を挟
み、ループアンテナ４２Ａ、４２Ｂを同時に励振して磁
界を印加する。各々のループアンテナに流れる電流３４
は同じ方向としているので各々のループアンテナから発
生する磁界はループ間では垂直方向成分をお互いに打ち
消し合い、水平方向成分を合成する。この結果磁界は水
平方向（Ｙ方向）に強い成分を持つようになる。
ループアンテナ４２Ａ、４２Ｂとを備える。各々のルー
プアンテナは、同一平面上に配置し被測定機器に対して
垂直に立てている。試験はループ間に被測定機器６を挟
み、ループアンテナ４２Ａ、４２Ｂを同時に励振して磁
界を印加する。各々のループアンテナに流れる電流３４
は同じ方向としているので各々のループアンテナから発
生する磁界はループ間では垂直方向成分をお互いに打ち
消し合い、水平方向成分を合成する。この結果磁界は水
平方向（Ｙ方向）に強い成分を持つようになる。
【００４３】図１２（Ａ）は一対のループアンテナ（直
径１６ｍｍ）の間隔を２０ｍｍとし、ループ間隔の中間
のＡ線に沿って磁界測定用ループプローブを掃引したと
きの垂直方向磁界、水平方向磁界をプローブの受信電圧
で表したものである。（Ｂ）は横方向から（Ｃ）は上方
向から見た図である。水平方向の磁界はループ直下（Ｙ
＝０）で約−４４［ｄＢ］と最大を示し、直下から離れ
るにしたがい減衰する。同図より、水平方向の磁界印加
領域はループ直径よりやや小さい約−７〜７［ｍｍ］の
範囲であり、この範囲内の水平方向磁界は垂直方向磁界
と比較して十分に大きく、一方向成分のみの磁界が得ら
れていることがわかる。したがって、被測定機器の特定
領域の水平方向に対するイミュニティを評価することが
可能となる。
径１６ｍｍ）の間隔を２０ｍｍとし、ループ間隔の中間
のＡ線に沿って磁界測定用ループプローブを掃引したと
きの垂直方向磁界、水平方向磁界をプローブの受信電圧
で表したものである。（Ｂ）は横方向から（Ｃ）は上方
向から見た図である。水平方向の磁界はループ直下（Ｙ
＝０）で約−４４［ｄＢ］と最大を示し、直下から離れ
るにしたがい減衰する。同図より、水平方向の磁界印加
領域はループ直径よりやや小さい約−７〜７［ｍｍ］の
範囲であり、この範囲内の水平方向磁界は垂直方向磁界
と比較して十分に大きく、一方向成分のみの磁界が得ら
れていることがわかる。したがって、被測定機器の特定
領域の水平方向に対するイミュニティを評価することが
可能となる。
【００４４】図１３は本発明の一実施例であるＸ、Ｙ、
Ｚの３方向の磁界をそれぞれ単独に印加できる電波照射
部１である。
Ｚの３方向の磁界をそれぞれ単独に印加できる電波照射
部１である。
【００４５】電波照射部１は被測定機器のＸ、Ｙ、Ｚ方
向に磁界を印加するため、３組の素子プローブからなる
複合プローブを構成している。これは、垂直方向磁界印
加用ループと２組の水平方向磁界印加用ループを組み合
わせたもので、ループ間に被測定機器を挟み、切替器２
２、２３で所望の方向の磁界を印加する上記ループアン
テナを選択して試験を行う。Ｘ方向磁界は上記ループア
ンテナ４１Ａ、４１Ｂを、Ｙ方向磁界は上記４２Ａ、４
２Ｂを同時に励振する。Ｚ方向磁界はループ４２Ａ、４
２ＢのＸ軸方向の直径を軸として、ループ面を９０度回
転させた４３Ａ、４３Ｂを同時に励振する。Ｙ、Ｚ方向
磁界印加用のループアンテナは各々の直径を共有し２点
で交差して直交しており、Ｚ方向磁界印加用ループアン
テナの中にＹ方向磁界印加用ループアンテナが入り込む
形となっている。また、これらのループアンテナの交差
点とＸ方向磁界印加用のループアンテナの中心とは接し
ており、Ｘ、Ｙ、Ｚ方向磁界印加用のループアンテナは
各々すべてのループアンテナと直交している構成となっ
ている。Ｘ、Ｙ、Ｚ方向ループをそれぞれ単独に励振し
た場合、磁界分布および磁界印加の領域は、Ｘ方向は図
１０と、ＹおよびＺ方向は図１２とほぼ等しい特性であ
る。
向に磁界を印加するため、３組の素子プローブからなる
複合プローブを構成している。これは、垂直方向磁界印
加用ループと２組の水平方向磁界印加用ループを組み合
わせたもので、ループ間に被測定機器を挟み、切替器２
２、２３で所望の方向の磁界を印加する上記ループアン
テナを選択して試験を行う。Ｘ方向磁界は上記ループア
ンテナ４１Ａ、４１Ｂを、Ｙ方向磁界は上記４２Ａ、４
２Ｂを同時に励振する。Ｚ方向磁界はループ４２Ａ、４
２ＢのＸ軸方向の直径を軸として、ループ面を９０度回
転させた４３Ａ、４３Ｂを同時に励振する。Ｙ、Ｚ方向
磁界印加用のループアンテナは各々の直径を共有し２点
で交差して直交しており、Ｚ方向磁界印加用ループアン
テナの中にＹ方向磁界印加用ループアンテナが入り込む
形となっている。また、これらのループアンテナの交差
点とＸ方向磁界印加用のループアンテナの中心とは接し
ており、Ｘ、Ｙ、Ｚ方向磁界印加用のループアンテナは
各々すべてのループアンテナと直交している構成となっ
ている。Ｘ、Ｙ、Ｚ方向ループをそれぞれ単独に励振し
た場合、磁界分布および磁界印加の領域は、Ｘ方向は図
１０と、ＹおよびＺ方向は図１２とほぼ等しい特性であ
る。
【００４６】図１５は本発明の（請求項２８に対応）の
一実施例である一対または複数組のループアンテナを用
いたときの電波耐性試験装置のブロック図である。
一実施例である一対または複数組のループアンテナを用
いたときの電波耐性試験装置のブロック図である。
【００４７】被測定装置６に試験電波を照射する第１お
よび第２のループアンテナからなる対となったプローブ
素子からなる複合プローブを備えた電波照射部１と、試
験電波の信号を発生する発振器５と、第１および第２の
ループアンテナを励振するために信号を２つの経路に分
割する電力分割器３３と、励振対象の対のループアンテ
ナを選択する第１および第２の切替器２２、２３からな
る。プリント回路基板等の被測定機器６を放射プローブ
１１Ａ、１１Ｂの中間に配置し、前述の切替器２２、２
３によりＸ、ＹおよびＺ方向の任意の一方向成分の磁界
を印加できるループアンテナ対を選択することによって
被測定機器６の選択された上記対に対応する領域の照射
面に対し垂直方向および水平方向の磁界を印加する。発
振器５、電力分割器３３、切替器２２、２３、電波照射
部１とはすべて不平衡線路である同軸ケーブル５７で接
続されている。
よび第２のループアンテナからなる対となったプローブ
素子からなる複合プローブを備えた電波照射部１と、試
験電波の信号を発生する発振器５と、第１および第２の
ループアンテナを励振するために信号を２つの経路に分
割する電力分割器３３と、励振対象の対のループアンテ
ナを選択する第１および第２の切替器２２、２３からな
る。プリント回路基板等の被測定機器６を放射プローブ
１１Ａ、１１Ｂの中間に配置し、前述の切替器２２、２
３によりＸ、ＹおよびＺ方向の任意の一方向成分の磁界
を印加できるループアンテナ対を選択することによって
被測定機器６の選択された上記対に対応する領域の照射
面に対し垂直方向および水平方向の磁界を印加する。発
振器５、電力分割器３３、切替器２２、２３、電波照射
部１とはすべて不平衡線路である同軸ケーブル５７で接
続されている。
【００４８】図１４は電波照射部１の間隔を２０ｍｍ、
測定周波数を１００ＭＨｚ、測定点をループ間の中間で
ありかつ中心である図１３のＡ点としたきの発振器５の
出力電力に対する磁界強度を測定したものである。この
とき、Ｘ、Ｙ、Ｚ方向印加用のループアンテナは切替器
２２、および２３によってそれぞれ単独に励振した。図
中の点線は表１中のレベル１およびレベル２の磁界強度
を示したものである。三方向の全ての磁界は発振器１の
出力電力が０ｄＢｍ以下でレベル１、２の規格値をクリ
アできる。また、表１のレベルＸのように強い磁界を印
加しなければならない場合は、磁界強度と出力電力が比
例することから発振器の次段などに電力増幅器などを接
続して電力を増大すれば十分に対応できる。本電波耐性
試験装置を用いた試験では、図１に示した判定装置と表
示装置および前述の評価方法によって磁界の影響による
電波耐性を評価する。
測定周波数を１００ＭＨｚ、測定点をループ間の中間で
ありかつ中心である図１３のＡ点としたきの発振器５の
出力電力に対する磁界強度を測定したものである。この
とき、Ｘ、Ｙ、Ｚ方向印加用のループアンテナは切替器
２２、および２３によってそれぞれ単独に励振した。図
中の点線は表１中のレベル１およびレベル２の磁界強度
を示したものである。三方向の全ての磁界は発振器１の
出力電力が０ｄＢｍ以下でレベル１、２の規格値をクリ
アできる。また、表１のレベルＸのように強い磁界を印
加しなければならない場合は、磁界強度と出力電力が比
例することから発振器の次段などに電力増幅器などを接
続して電力を増大すれば十分に対応できる。本電波耐性
試験装置を用いた試験では、図１に示した判定装置と表
示装置および前述の評価方法によって磁界の影響による
電波耐性を評価する。
【００４９】なお、本発明で用いたループアンテナには
すべて平衡−不平衡変換の機能を有するシールデッドル
ープ、Ｓｈｉｅｌｄｅｄ Ｌｏｏｐ（例えば、ＤＹＳＯ
Ｎ著、Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ ｏｆ Ｎｅａｒ Ｆｉ
ｅｌｄｓｏｆ Ａｎｔｅｎｎａｓａｎｄ Ｓｃａｔｔｅ
ｒｅｒｓ，アイトリプルイー・トランザクション・オン
・アンテナ・プロパゲーション、ＩＥＥＥ，Ｔｒａｎｓ
ａｃｔｉｏｎ ｏｎＡｎｔｅｎｎｎａ Ｐｒｏｐａｇａ
ｔｉｏｎ，ｖｏｌ．ＡＰ−２１，Ｎ０．４，４４６頁−
４６０頁，Ｊｕｌｙ，１９７３）を使用した。これは図
１６に示すように、セミリジットケーブルと銅棒で構成
されており、ループの先端には間隙が設けてある。間隙
ではセミリジットケーブルの中心導体と銅棒、ループの
根元では外導体と銅棒を接続した構造となっている。
すべて平衡−不平衡変換の機能を有するシールデッドル
ープ、Ｓｈｉｅｌｄｅｄ Ｌｏｏｐ（例えば、ＤＹＳＯ
Ｎ著、Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ ｏｆ Ｎｅａｒ Ｆｉ
ｅｌｄｓｏｆ Ａｎｔｅｎｎａｓａｎｄ Ｓｃａｔｔｅ
ｒｅｒｓ，アイトリプルイー・トランザクション・オン
・アンテナ・プロパゲーション、ＩＥＥＥ，Ｔｒａｎｓ
ａｃｔｉｏｎ ｏｎＡｎｔｅｎｎｎａ Ｐｒｏｐａｇａ
ｔｉｏｎ，ｖｏｌ．ＡＰ−２１，Ｎ０．４，４４６頁−
４６０頁，Ｊｕｌｙ，１９７３）を使用した。これは図
１６に示すように、セミリジットケーブルと銅棒で構成
されており、ループの先端には間隙が設けてある。間隙
ではセミリジットケーブルの中心導体と銅棒、ループの
根元では外導体と銅棒を接続した構造となっている。
【００５０】以上、本発明の実施例を説明したが、本発
明は上記実施例に限られることなく種々の変形が可能で
ある。
明は上記実施例に限られることなく種々の変形が可能で
ある。
【００５１】例えば、一対のループアンテナからなる素
子プローブをマトリクス状に配列して電波照射部として
もよい。また、複数組のループアンテナからなる素子プ
ローブをマトリクス状に配列して電波照射部としてもよ
い。さらに、ループアンテナを３組以上組み合わせたり
ループ面の角度を調整することによって磁界を多方向に
印加する構成としてもよい。
子プローブをマトリクス状に配列して電波照射部として
もよい。また、複数組のループアンテナからなる素子プ
ローブをマトリクス状に配列して電波照射部としてもよ
い。さらに、ループアンテナを３組以上組み合わせたり
ループ面の角度を調整することによって磁界を多方向に
印加する構成としてもよい。
【００５２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電波耐性
試験装置および電波耐性評価方法は、電波暗室等の大が
かりな電磁環境施設を不要としたコンパクトな装置で客
観的な電波耐性評価が実施できることと、また誤動作や
異常動作の発生箇所を容易に特定することができるとい
う効果がある。
試験装置および電波耐性評価方法は、電波暗室等の大が
かりな電磁環境施設を不要としたコンパクトな装置で客
観的な電波耐性評価が実施できることと、また誤動作や
異常動作の発生箇所を容易に特定することができるとい
う効果がある。
【００５３】さらに、一方向成分の電波を印加すること
ができるので偏波の影響によるイミュニティ試験が行え
る効果がある。
ができるので偏波の影響によるイミュニティ試験が行え
る効果がある。
【図１】本発明の電波耐性試験装置の一実施例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】図１の電波照射部の詳細を示す摸式斜視図であ
る。
る。
【図３】被測定機器にＸ、Ｙ方向の電界を印加する場合
の各々の動作を示す図である。
の各々の動作を示す図である。
【図４】被測定機器の出力信号波形と対応の周波数スペ
クトルを示す図である。
クトルを示す図である。
【図５】表示装置の表示の一例を示す図である。
【図６】放射プローブの別の構成例を示す図である。
【図７】従来の電波耐性試験装置および電波耐性評価方
法の第１の例を示すブロック図である。
法の第１の例を示すブロック図である。
【図８】従来の電波耐性試験装置および電波耐性評価方
法の第２の例を示すブロック図である。
法の第２の例を示すブロック図である。
【図９】本発明における垂直方向磁界印加用の電波照射
部および磁力線分布の斜視図である。
部および磁力線分布の斜視図である。
【図１０】本発明における垂直方向磁界印加用の電波照
射部の磁界分布を受信電圧分布で示したものである。
射部の磁界分布を受信電圧分布で示したものである。
【図１１】本発明における水平方向磁界印加用の電波照
射部および磁力線分布の斜視図である。
射部および磁力線分布の斜視図である。
【図１２】本発明における水平方向磁界印加用の電波照
射部の磁界分布を受信電圧分布で示したものである。
射部の磁界分布を受信電圧分布で示したものである。
【図１３】本発明における３方向磁界印加用の電波照射
部の斜視図である。
部の斜視図である。
【図１４】本発明における３方向磁界印加用の電波照射
部の出力電圧に対する磁界強度の図である。
部の出力電圧に対する磁界強度の図である。
【図１５】本発明における一対または複数組のループア
ンテナを用いたときの電波耐性試験装置のブロック図で
ある。
ンテナを用いたときの電波耐性試験装置のブロック図で
ある。
【図１６】本発明におけるループアンテナの構成図であ
る。
る。
【図１７】従来のループアンテナによるイミュニティ試
験を示した図である。
験を示した図である。
【図１８】従来のループアンテナの近傍磁界分布を受信
電圧分布で示した図である。
電圧分布で示した図である。
１ 電波照射部 ２ 送信装置 ３ 判定装置 ４ 表示装置 ５ 発振器 ６ 被測定機器 ７ 増幅器 ８ アンテナ ９ ＴＥＭセル １１Ａ，１１Ｂ 放射プローブ １ｉｊＡ，１ＩＪＢ 素子プローブ ２１ 不平衡平衡変換回路 ２２，２３ 切替器 ２４ 移相器 ２５ シールド ２６ 接続線 ３１ 波形処理装置 ３２ 制御装置 ３３ 電力分割器 ３４ 電流 ３５ 磁力線 ４１Ａ，４１Ｂ Ｘ方向磁界印加用ループアンテナ ４２Ａ，４２Ｂ Ｙ方向磁界印加用ループアンテナ ４３Ａ，４３Ｂ Ｚ方向磁界印加用ループアンテナ ５１ ループアンテナ ５２ セミリジットケーブル ５３ 中心導体 ５４ 導体 ５５ 銅棒 ５６ 間隙 ５７ 同軸ケーブル５８Ａ、５８Ｂ 信号線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−304348（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−172271（ＪＰ，Ａ) ＩＥＥＥ ＩＮＴＥＲＮＡＴＩＯＮＡ Ｌ ＳＹＭＰＯＳＩＵＭ ＯＮ ＥＬＥ ＣＴＲＯＭＡＧＮＥＴＩＣ ＣＯＭＰＡ ＴＩＢＩＬＩＴＹ、（1992）Ｐ．439− 442 (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/00 G01R 31/30
Claims (35)
- 【請求項１】 被測定機器の一主面に対し予め定めた間
隔を保持するよう近接して配置されこの一主面の予め定
めた領域に集中して試験用電波を照射する放射プローブ
を含む電波照射部と、 前記電波照射部に前記試験用電波対応の高周波電力を供
給する送信装置と、 前記被測定機器の出力信号を演算処理して前記試験用電
波の照射により前記出力信号が被る影響の度合である電
波耐性を算出する判定装置と、 算出した前記電波耐性を視覚化し表示する表示装置とを
備え、 前記放射プローブが前記被測定機器の前記一主面を挟む
ように配置された第１および第２の電極板から成る１対
の素子プローブを備えることを特徴とする電波耐性試験
装置。 - 【請求項２】 被測定機器の一主面に対し予め定めた間
隔を保持するよう近接して配置されこの一主面の予め定
めた領域に集中して試験用電波を照射する放射プローブ
を含む電波照射部と、 前記電波照射部に前記試験用電波対応の高周波電力を供
給する送信装置と、 前記被測定機器の出力信号を演算処理して前記試験用電
波の照射により前記出力信号が被る影響の度合である電
波耐性を算出する判定装置と、 算出した前記電波耐性を視覚化し表示する表示装置とを
備え、 前記放射プローブが前記一主面を覆うようにマトリクス
状に配列されかつ前記被測定機器を挟むように配置され
た第１および第２の電極板から成る複数対の素子プロー
ブを備えることを特徴とする電波耐性試験装置。 - 【請求項３】 被測定機器の一主面に対し予め定めた間
隔を保持するよう近接して配置されこの一主面の予め定
めた領域に集中して試験用電波を照射する放射プローブ
を含む電波照射部と、 前記電波照射部に前記試験用電波対応の高周波電力を供
給する送信装置と、 前記被測定機器の出力信号を演算処理して前記試験用電
波の照射により前記出力信号が被る影響の度合である電
波耐性を算出する判定装置と、 算出した前記電波耐性を視覚化し表示する表示装置とを
備え、 前記放射プローブが前記被測定機器の前記一主面を挟む
ように配置された第１および第２の電極板と前記第１の
電極板と隣接して配置される第３の電極板からなる素子
プローブを備えることを特徴とする電波耐性試験装置。 - 【請求項４】 被測定機器の一主面に対し予め定めた間
隔を保持するよう近接して配置されこの一主面の予め定
めた領域に集中して試験用電波を照射する放射プローブ
を含む電波照射部と、 前記電波照射部に前記試験用電波対応の高周波電力を供
給する送信装置と、 前記被測定機器の出力信号を演算処理して前記試験用電
波の照射により前記出力信号が被る影響の度合である電
波耐性を算出する判定装置と、 算出した前記電波耐性を視覚化し表示する表示装置とを
備え、 前記放射プローブが前記一主面を覆うように井桁状に配
列された各々複数の給電点を有する複数の線状アンテナ
から成る素子プローブを備えることを特徴とする電波耐
性試験装置。 - 【請求項５】 被測定機器の一主面に対し予め定めた間
隔を保持するよう近接して配置されこの一主面の予め定
めた領域に集中して試験用電波を照射する放射プローブ
を含む電波照射部と、 前記電波照射部に前記試験用電波対応の高周波電力を供
給する送信装置と、 前記被測定機器の出力信号を演算処理して前記試験用電
波の照射により前記出力信号が被る影響の度合である電
波耐性を算出する判定装置と、 算出した前記電波耐性を視覚化し表示する表示装置とを
備え、 前記送信装置が所定周波数の高周波信号を供給する高周
波源と、 不平衡線路である同軸ケーブルに流れる前記高周波信号
を平衡線路である第１および第２の信号線からなる１対
の信号線に適合する第１および第２の信号から成る前記
１対の信号線対応の平衡信号に変換するとともに前記同
軸ケーブルと前記１対の信号線との間の電流の平衡をと
る不平衡平衡変換回路とを備えることを特徴とする電波
耐性試験装置。 - 【請求項６】 前記送信装置は、マトリクス状に配列さ
れ前記被測定機器を挟むように配置された第１および第
２の電極板からなる複数対の素子プローブのうち予め定
めた素子プローブの第１の電極板に第１の信号を供給し
第２の電極板に第２の信号をそれぞれ供給するように選
択する第１および第２の切替回路を備えることを特徴と
する請求項５に記載の電波耐性試験装置。 - 【請求項７】 前記送信装置は、被測定機器の一主面を
挟むように配置された第１の電極板および第２の電極板
ならびに前記第１の電極板に隣接して配置された第３の
電極板からなる素子プローブのうち、前記第１の信号を
移相した信号を前記第３の電極板に供給する移相器を備
えた請求項５に記載の電波耐性試験装置。 - 【請求項８】 前記送信装置は、被測定機器被測定機器
の一主面を覆うように井桁状に配列されたそれぞれ複数
の給電点を有する複数の線状アンテナからなる素子プロ
ーブのうち予め定めた前記線状アンテナに給電するよう
に選択する第１または第２の切替回路をさらに備える請
求項５記載の電波耐性試験装置。 - 【請求項９】 被測定機器の一主面に対し予め定めた間
隔を保持するよう近接して配置されこの一主面の予め定
めた領域に集中して試験用電波を照射する放射プローブ
を含む電波照射部と、 前記電波照射部に前記試験用電波対応の高周波電力を供
給する送信装置と、 前記被測定機器の出力信号を演算処理して前記試験用電
波の照射により前記出力信号が被る影響の度合である電
波耐性を算出する判定装置と、 算出した前記電波耐性を視覚化し表示する表示装置とを
備え、 前記放射プローブが前記一主面を覆うようにマトリクス
状に配列され複数のループアンテナから成る一対の素子
プローブを備え、 前記送信装置は、所定周波数の高周波信号を供給する高
周波源と、不平衡線路である同軸ケーブルに流れる前記
高周波信号を平衡線路である第１および第２の信号線か
らなる１対の信号線に適合する第１および第２の信号か
ら成る前記１対の信号線対応の平衡信号に変換するとと
もに前記同軸ケーブルと前記１対の信号線との間の電流
の平衡をとる不平衡平衡変換回路と、マトリクス状に配
列された前記複数のループアンテナからなる素子プロー
ブのうち予め定めたループアンテナに前記第１または第
２の信号を供給するように選択する第１または第２の切
替回路とを備えることを特徴とする電波耐性試験装置。 - 【請求項１０】 前記送信装置は、前記第１の切替回路
の出力信号の予め定めた位相量の移相をする移相器をさ
らに備えることを特徴とする請求項６または８または９
に記載の電波耐性試験装置。 - 【請求項１１】 前記判定装置は、前記被測定機器の出
力信号をフーリエ変換し周波数領域のスペクトルを出力
する波形処理装置と、前記スペクトルを演算処理して前
記電波耐性に換算出力する制御装置とを備えることを特
徴とする請求項１ないし５のいずれか記載の電波耐性試
験装置。 - 【請求項１２】 前記判定装置は、前記被測定機器の出
力信号をフーリエ変換し周波数領域のスペクトルを出力
する波形処理装置と、前記スペクトルを演算処理して前
記電波耐性に換算出力する制御装置を備え、 前記制御装置は、前記第１または第２の切替回路の切替
制御を行うとともに、切替制御対象の前記素子プローブ
の位置データを格納する制御手段を備える請求項６ない
し９のいずれか記載の電波耐性試験装置。 - 【請求項１３】 前記送信装置は、前記第１の切替回路
の出力信号の移相を行う移相器を備え、前記制御装置
は、前記移相器の移相量の切替制御を行う手段を含む請
求項１２記載の電波耐性試験装置。 - 【請求項１４】 前記表示装置は、前記放射プローブ全
体に亘り前記素子プローブ毎の前記電波耐性を視覚化し
表示するディスプレイ手段を備えることを特徴とする請
求項１ないし５、９のいずれか記載の電波耐性試験装
置。 - 【請求項１５】 プリント回路基板や回路部品および電
子・電気機器である被測定機器に対し電波雑音を疑似す
る試験用電波を照射しこの電波雑音に対する耐妨害波特
性である電波耐性を測定し評価する電波耐性評価方法に
おいて、 前記被測定機器に対し前記試験用電波を照射しないとき
の前記被測定機器の出力信号波形である第１の波形と前
記試験用電波を照射した場合の前記出力信号波形である
第２の波形との差とから前記電波耐性を算出することを
特徴とする電波耐性評価方法。 - 【請求項１６】 前記第１および第２の波形の各々を時
間領域から周波数領域へのフーリエ変換により周波数ス
ペクトルを求め、前記第１および第２の波形の周波数ス
ペクトルの各々のスペクトル線の分布および各々のスペ
クトル線の大きさとを比較して前記電波耐性を算出する
ことを特徴とする請求項１５記載の電波耐性評価方法。 - 【請求項１７】 プリント回路基板や回路部品および電
子・電気機器である被測定機器に対し電波雑音を疑似す
る試験用電波を照射しこの電波雑音に対する耐妨害波特
性である電波耐性を測定し評価する電波耐性評価方法に
おいて、 前記被測定機器の一主面を挟むように配置されかつマト
リクス状に配置された第１および第２の電極板から成る
複数対の素子プローブにより前記被測定機器の前記一主
面の予め定めた領域に集中して前記試験用電波を照射す
ることを特徴とする電波耐性評価方法。 - 【請求項１８】 プリント回路基板や回路部品および電
子・電気機器である被測定機器に対し電波雑音を疑似す
る試験用電波を照射しこの電波雑音に対する耐妨害波特
性である電波耐性を測定し評価する電波耐性評価方法に
おいて、 前記被測定機器の一主面を覆うように井桁状に配列され
た各々複数の給電点を有する複数の線状アンテナから成
る素子プローブにより前記被測定機器の前記一主面の予
め定めた領域に集中して前記試験用電波を照射すること
を特徴とする電波耐性評価方法。 - 【請求項１９】 プリント回路基板や回路部品および電
子・電気機器である被測定機器に対し電波雑音を疑似す
る試験用電波を照射しこの電波雑音に対する耐妨害波特
性である電波耐性を測定し評価する電波耐性評価方法に
おいて、被測定機器の一主面を挟み込むように配置され試験用電
波を照射する一対の素 子プローブを複数対備え、この複
数対の 素子プローブを同時に励振して前記被測定機器の
全体の前記電波耐性を評価し、次に、各々の一対の素子
プローブを順次励振して前記被測定機器の特定の領域の
前記電波耐性を評価する電波耐性評価方法。 - 【請求項２０】 被測定機器の一主面を挟み込むように
配置され、この一主面の予め定めた領域に一方向成分の
みを有する試験用電波を局所的に照射する第１および第
２のループアンテナからなる一対の素子プローブを備え
ることを特徴とする電波照射部。 - 【請求項２１】 被測定機器の一主面を挟み込むように
配置され、この一主面の予め定めた領域に一方向成分の
みを有する試験用電波を局所的に照射する第１および第
２のループアンテナからなる一対の素子プローブを複数
組み合わせた複合プローブを備えることを特徴とする電
波照射部。 - 【請求項２２】 前記一対の素子プローブが、各々のル
ープ面を予め定めた距離を隔てて対面させてかつループ
軸を一致させている垂直方向磁界印加用の一対のループ
アンテナであることを特徴とする請求項２０記載の電波
照射部。 - 【請求項２３】 前記一対の素子プローブが、同一平面
上で予め定めた距離を隔てて近接している水平方向磁界
印加用の一対のループアンテナであることを特徴とする
請求項２０記載の電波照射部。 - 【請求項２４】 前記複合プローブが、同一平面上で予
め定めた距離を隔てて近接している水平方向磁界印加用
の一対のループアンテナに対して、さらにもう一対の水
平方向磁界印加用のループアンテナをそれぞれのループ
直径を共有しかつ２点で交差し直交させている２組の素
子プローブからなることを特徴とする請求項２１記載の
電波照射部。 - 【請求項２５】 前記複合プローブが、同一平面上で予
め定めた距離を隔てて近接している水平方向磁界印加用
の一対のループアンテナに対して、さらにもう一対の水
平方向磁界印加用のループアンテナをそれぞれのループ
直径を共有しかつ２点で交差し直交させている２組の素
子プローブの交差点と前記垂直方向磁界印加用の一対の
ループアンテナのループ中心とが接している３組の素子
プローブからなることを特徴とする請求項２１記載の電
波照射部。 - 【請求項２６】 前記一対の素子プローブがマトリクス
状に配列された一対のループアンテナを備えることを特
徴とした請求項２０記載の電波照射部。 - 【請求項２７】 前記複合プローブがマトリクス状に配
列された複数対のループアンテナを備えることを特徴と
した請求項２１記載の電波照射部。 - 【請求項２８】 前記ループアンテナがセミリジットケ
ーブルと銅棒からなり、ループの先端に間隙が設けてあ
ることを特徴とする請求項２０または請求項２１記載の
電波照射部。 - 【請求項２９】 被測定装置に一対または複数組からな
るループアンテナから試験電波を照射する電波照射部
と、このループアンテナを励振する装置とを備えた電波
耐性試験装置において、 前記ループアンテナを励振する装置は、 試験電波の信号を発生する発振器と、一対のループアンテナを構成する 第１および第２のルー
プアンテナを励振するために信号を２つの経路に分割す
る電力分割器と、 励振対象の対のループアンテナを選択する切替器とから
なることを特徴とする電波耐性試験装置。 - 【請求項３０】 プリント回路基板や回路部品および電
子・電気機器である被測定機器に対し電波雑音を疑似す
る試験用電波を照射しこの電波雑音に対する耐妨害波特
性である電波耐性を測定し評価する電波耐性評価方法に
おいて、 前記被測定機器の一主面を挟み込むように配置された第
１および第２のループアンテナからなる一対の素子プロ
ーブにより前記被測定機器の前記一主面の予め定めた領
域に一方向成分のみを有する前記試験用電波を局所的に
照射することを特徴とする電波耐性評価方法 - 【請求項３１】 前記一対の素子プローブが、各々のル
ープ面を予め定めた距離を隔てて対面させてかつループ
軸を一致させている一対のループアンテナにより前記一
主面に対して垂直方向磁界を印加することを特徴とする
請求項３０に記載の電波耐性評価方法。 - 【請求項３２】 前記一対の素子プローブが、同一平面
上で予め定めた距離を隔てて近接している一対のループ
アンテナにより前記一主面に対して水平方向磁界を印加
することを特徴とする請求項３０に記載の電波耐性評価
方法。 - 【請求項３３】 プリント回路基板や回路部品および電
子・電気機器である被測定機器に対し電波雑音を疑似す
る試験用電波を照射しこの電波雑音に対する耐妨害波特
性である電波耐性を測定し評価する電波耐性評価方法に
おいて、 前記被測定機器の一主面を挟み込むように配置された第
１および第２のループアンテナからなる一対の素子プロ
ーブを複数組み合わせた複合プローブにより前記被測定
機器の前記一主面の予め定めた領域に一方向成分のみを
有する前記試験用電波を局所的に照射することを特徴と
する電波耐性評価方法。 - 【請求項３４】 前記複合プローブが、同一平面上で予
め定めた距離を隔てて近接している水平磁界印加用の一
対のループアンテナに対して、さらにもう一対の水平方
向磁界印加用のループアンテナをそれぞれのループ直径
を共有しかつ２点で交差し直交させている２組の素子プ
ローブより構成され、この複合プローブにより前記一主
面に対して水平方向磁界を印加することを特徴とする請
求項３３に記載の電波耐性評価方法。 - 【請求項３５】 前記複合プローブが、同一平面上で予
め定めた距離を隔てて近接している水平磁界印加用の一
対のループアンテナに対して、さらにもう一対の水平方
向磁界印加用のループアンテナをそれぞれのループ直径
を共有しかつ２点で交差し直交させている２組の素子プ
ローブに加えて、この直交した前記２組の素子プローブ
の交差点と垂直方向磁界印加用の一対のループアンテナ
のループ中心とが接している３組の素子プローブより構
成され、この複合プローブにより前記一主面に対して水
平磁界、垂直磁界を印加することを特徴とする請求項３
３に記載の電波耐性評価方法。
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|---|---|---|---|
| JP5330276A JP3006383B2 (ja) | 1993-05-24 | 1993-12-27 | 電波耐性試験装置および電波耐性評価方法および電波照射部 |
| EP94108004A EP0626586B1 (en) | 1993-05-24 | 1994-05-24 | Apparatus for testing immunity to electromagnetic interference and apparatus for irradiating radio waves for this immunity test |
| DE69427887T DE69427887T2 (de) | 1993-05-24 | 1994-05-24 | Vorrichtung zum Testen der Unempfindlichkeit gegenüber elektromagnetischer Interferenz und Vorrichtung zum Ausstrahlen von Radiowellen für den Unempfindlichkeitstest |
| US08/248,256 US5514971A (en) | 1993-05-24 | 1994-05-24 | Method and apparatus for testing an immunity to electromagnetic interference and apparatus for irradiating radio wave for immunity test |
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| JP5-120294 | 1993-05-24 | ||
| JP12029493 | 1993-05-24 | ||
| JP5330276A JP3006383B2 (ja) | 1993-05-24 | 1993-12-27 | 電波耐性試験装置および電波耐性評価方法および電波照射部 |
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