JP4776601B2 - 光ピックアップ装置 - Google Patents

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Description

本発明は、光ディスクに記録されている信号の読み出し動作や光ディスクに信号の記録動作を行う光ピックアップ装置に関する。
光ピックアップ装置から照射されるレーザー光を光ディスクの信号記録層に照射することによって信号の読み出し動作や信号の記録動作を行うことが出来る光ディスク装置が普及している。
図3は光ディスク装置に使用されている一般的な光ピックアップ装置を示す概略図である。同図において、1は例えば波長が650nmの赤色光であるレーザー光を放射するレーザーダイオード、2は前記レーザーダイオード1から放射されるレーザー光が入射される回折格子であり、レーザー光を0次光、+1次光及び−1次光に分離する回折格子部2aと入射されるレーザー光をS方向の直線偏光光に変換する1/2波長板2bとより構成されている。
3は前記回折格子2を透過したレーザー光が入射される偏光ビームスプリッタであり、S偏光されたレーザー光を反射し、P方向に偏光されたレーザー光を透過させる制御膜3aが設けられている。4は前記レーザーダイオード1から放射されたレーザー光の中の前記偏光ビームスプリッタ3に設けられている制御膜3aを透過したレーザー光が照射される位置に設けられているモニター用光検出器であり、その検出出力は前記レーザーダイオード1から放射されるレーザー光の出力を制御するために使用される。
5は前記偏光ビームスプリッタ3の制御膜3aにて反射されたレーザー光が入射される位置に設けられている1/4波長板であり、入射されるレーザー光を直線偏光光から円偏光光に変換する作用を成すものである。6は前記1/4波長板5を透過した発散光であるレーザー光が入射されるコリメートレンズであり、入射されたレーザー光を平行光にする作用を成すとともに光ディスクDの保護層による球面収差を補正するために設けられている。
7は前記コリメートレンズ6にて平行光に変換されたレーザー光が入射されるとともに該レーザー光を光ディスクDの信号面方向へ反射させる反射ミラーであり、後述するように光ディスクDの信号記録層から反射された戻り光が入射されるとともに該戻り光を前記偏光ビームスプリッタ3の方向へ反射させる作用を成すように設けられている。
8は前記偏光ビームスプリッタ3に設けられている制御膜3aを透過した戻り光が入射されるセンサーレンズであり、シリンドリカル面、平面、凹曲面または凸曲面等が入射面側及び出射面側に形成されている。斯かるセンサーレンズ8は戻り光に非点収差を発生させることによってフォーカス制御動作に使用されるフォーカスエラー信号を生成させるために設けられている。
9は前記センサーレンズ8を通過した戻り光が集光されて照射される位置に設けられている光検出器であり、フォトダイオードが配列された4分割センサー等にて構成されている。斯かる光検出器9の構成及び非点収差法によるフォーカスエラー信号の生成動作等は周知であり、その説明は省略する。
10は前記反射ミラー7にて反射されたレーザー光が入射されるとともに入射されたレ
ーザー光を光ディスクDに設けられている信号記録層に集光させる対物レンズであり、該対物レンズ10は、例えば4本の支持ワイヤーによって光ディスクDの信号面に対して垂直方向、即ちフォーカス方向への変位動作及び光ディスクの径方向、即ちトラッキング方向への変位動作を可能に設けられているレンズホルダーに固定されている。斯かるレンズホルダーの支持機構等の構成は周知であり、その説明は省略する。
斯かる構成の光ピックアップ装置を使用して光ディスクDに記録されている信号の再生動作を行う場合には、レーザーダイオード1に駆動電流が供給され、該レーザーダイオード1から波長が650nmのレーザー光が放射される。前記レーザーダイオード1から放射されたレーザー光は、回折格子2に入射され、該回折格子2を構成する回折格子部2aによって0次光、+1次光及び−1次光に分離されるとともに1/2波長板2bによってS方向の直線偏光光に変換される。前記回折格子2を透過したレーザー光は、偏光ビームスプリッタ3に入射され、該偏光ビームスプリッタ3に設けられている制御膜3aにて反射されるとともに一部のレーザー光は該制御膜3aを透過してモニター用光検出器4に照射される。
前記制御膜3aにて反射されたレーザー光は、1/4波長板5を通してコリメートレンズ6に入射され該コリメートレンズ6の働きによって平行光に変換される。前記コリメートレンズ6によって平行光に変換されたレーザー光は、反射ミラー7にて反射された後対物レンズ10に入射される。前記対物レンズ10に入射されたレーザー光は該対物レンズ10の集光動作によって光ディスクDの信号記録層にスポットとして照射されることになる。このようにして、レーザーダイオード1から放射されるレーザー光は、光ディスクDの信号記録層に所望のスポットとして照射されるが、この場合における対物レンズ10の開口数は0.6になるように設定されている。
また、前述した対物レンズ10によるレーザー光の集光動作が行われるとき、信号記録層と光ディスクDの信号入射面との間にある保護層の厚みの相違によって球面収差が発生するが、本実施例に示したコリメートレンズ6を光路方向へ変位させることによってこの球面収差が最も少なくなるように調整することが出来る。斯かる調整動作は一般的に行われており、その説明は省略する。
前述した動作によってレーザー光の光ディスクDに設けられている信号記録層への照射動作が行われるが、斯かる照射動作が行われるとき、該信号記録層から反射される戻り光が対物レンズ10に対して光ディスクD側から入射される。前記対物レンズ10に入射された戻り光は、反射ミラー7、コリメートレンズ6及び1/4波長板5を通して偏光ビームスプリッタ3に入射される。前記偏光ビームスプリッタ3に入射される戻り光は、前記1/4波長板5によってP方向の直線偏光光に変換されているので、該偏光ビームスプリッタ3に設けられている制御膜3aを透過することになる。
前記制御膜3aを透過したレーザー光の戻り光は、センサーレンズ8に入射され、該センサーレンズ8の働きによって非点収差が発生せしめられる。前記センサーレンズ8によって非点収差が発生せしめられた戻り光は、該センサーレンズ8の集光動作によって光検出器9に設けられている4分割センサー等のセンサー部に照射される。このようにして戻り光が光検出器9に照射される結果、該光検出器9に組み込まれているセンサー部に照射されるスポット形状の変化を利用して周知のようにフォーカスエラー信号の生成動作が行われる。斯かるフォーカスエラー信号を利用して対物レンズ10を光ディスクDの信号面方向へ変位させることによってフォーカス制御動作を行うことが出来る。
また、本実施例では説明しないが、回折格子2によって生成される+1次光と−1次光を利用した周知のトラッキング制御動作を行うことが出来るように構成されており、斯かる
トラッキング制御動作によって対物レンズ10をトラッキング方向へ変位させることによって光ディスクDに記録されている信号の読み取り動作を行うことが出来る。
前述したように光ディスクDに記録されている信号の読み取り動作は行われるが、斯かる読み取り動作が行われているとき、モニター用光検出器4にレーザー光の一部が照射されているので、該モニター用光検出器4から得られるモニター信号のレベル変化を利用してレーザーダイオード1に供給される駆動電流値を制御することが出来る。
レーザーダイオード1に供給される駆動電流値を制御することによってレーザー光の出力を制御することが出来るので、光ディスクDに記録されている信号の再生動作だけでなく該光ディスクDに信号を記録する場合に要求されるレーザー出力の調整動作も行うことが出来る。
一般的な光ピックアップ装置は、図2に示したように構成されており、同図より明らかなようにコリメートレンズ6にて平行光に変換されたレーザー光は、反射ミラー7によって対物レンズ10の方向に反射され、その反射方向は平行光に対して直角になるように構成されている。
そして、対物レンズ10の光軸は、光ディスクDの信号面に対して垂直になるように配置されるとともにコリメートレンズ6にて平行光に変換されたレーザー光は、前記対物レンズ10の光軸に対して直角になるように構成されている。その結果、反射ミラー7の基台11に対する取り付け角度は、図示したように45度になるように構成されている。
尚、図3において、偏向ビームスプリッタ3及びコリメートレンズ6等の光学素子の寸法や配置は、説明のために実際とは異なるように描いている。即ち、実際の光ピックアップ装置では、全ての光学素子は、基台11と光ディスクDとの間の空間部に配置されるように構成されている。
光ピックアップ装置の厚さ、即ち基台11とディスクDとの間の距離は、反射ミラー7の高さ、該反射ミラー7と対物レンズ10との間の距離、対物レンズ10の厚さ及び対物レンズ10と光ディスクDとの間の距離によって決定される。
同一の対物レンズを使用する光ピックアップ装置では、光ピックアップ装置の厚さを決定する要素の中の反射ミラー7と対物レンズ10との間の距離及び対物レンズ10と光ディスクDとの間の距離を短くすることは出来ないので、反射ミラー7の高さを低くすることが要求されている。
前記反射ミラー7の基台11に対する取り付け角度を45度にした場合、反射ミラー7の高さは、レーザー光のビーム径より大きくする必要があるので、該反射ミラー7の高さを低くすることが出来なかった。
斯かる問題を解決し、光ピックアップ装置の薄型化を行う方法としてプリズムを使用した技術が提案されている。(特許文献1参照。)
特開2000−113492号公報
前述した特許文献には、コリメートレンズにて平行光に変換されたレーザー光を対物レンズ方向へ導くべく光路を変更する手段としてプリズムをした光ピックアップ装置が記載されている。
斯かる技術によれば光ピックアップ装置を薄型にすることは出来るもののプリズム内に設けられている各反射面で1度だけ反射させて対物レンズ方向へレーザー光を導くように構成されているため、更なる薄型化を行うことが出来なかった。
本発明は、斯かる特許文献に記載の技術よりも更に薄型化することが出来る光ピックアップ装置を提供しようとするものである。
本発明は、レーザーダイオードから放射されたレーザー光が発散光として入射されるとともに該レーザー光を平行光に変換するコリメートレンズと、該コリメートレンズにて平行光に変換されたレーザー光が入射される入射面、該入射面から入射されたレーザー光を反射させる反射面、該反射面にて反射されたレーザー光を該反射面方向へ反射させるとともに該反射面から再度反射されたレーザー光を対物レンズ方向へ出射させる反射兼出射面が設けられたプリズムを備え、前記プリズムに設けられている反射兼出射面から出射されるレーザー光の出射方向が前記反射面に対して垂直になるようにしたことを特徴とするものである。
また、本発明は、プリズムの反射兼出射面から出射されるレーザー光の出射方向と対物レンズの光軸とを一致させたことを特徴とするものである。
そして、本発明は、プリズムの反射面を光ディスクの信号面と平行になるように配置された光ピックップ装置の底板に固定するようにしたことを特徴とするものである。
また、本発明は、プリズムの入射面に入射されたレーザー光を反射面方向へ屈折させるようにしたことを特徴とするものである。
そして、本発明は、プリズムの入射面と反射面との間の内角と反射兼出射面と反射面との間の内角とが同一の角度になるようにしたことを特徴とするものである。
本発明の光ピックアップ装置は、レーザーダイオードから放射されたレーザー光が発散光として入射されるとともに該レーザー光を平行光に変換するコリメートレンズと、該コリメートレンズにて平行光に変換されたレーザー光が入射される入射面、該入射面から入射されたレーザー光を反射させる反射面、該反射面にて反射されたレーザー光を該反射面方向へ反射させるとともに該反射面から再度反射されたレーザー光を対物レンズ方向へ出射させる反射兼出射面が設けられたプリズムを備え、前記プリズムに設けられている反射兼出射面から出射されるレーザー光の出射方向が前記反射面に対して垂直になるようにしたので、即ち同一の反射面にて2回反射させるようにしたので、プリズムの厚さを薄くすることが出来る。従って、本発明によれば光ピックアップ装置の薄型化を簡単に行うことが出来る。
また、本発明の光ピックアップ装置は、プリズムの入射面に入射されたレーザー光を反射面方向へ屈折させるようにしたので、即ちプリズムの入射面に対して垂直にレーザー光を入射させる場合と比較して光学部品のプリズムの高さ方向の配置位置を低くすることが出来るという利点を有している。従って、本発明によれば光ピックアップ装置の薄型化を行うことが出来る。
図1は本発明の光ピックアップ装置を示す概略図、図2は本発明のプリズムを示す拡大
図である。
図1において、12は例えば波長が650nmの赤色光であるレーザー光を放射するレーザーダイオード、13は前記レーザーダイオード12から放射されるレーザー光が入射される回折格子であり、レーザー光を0次光、+1次光及び−1次光に分離する回折格子部13aと入射されるレーザー光をS方向の直線偏光光に変換する1/2波長板13bとより構成されている。
14は前記回折格子13を透過したレーザー光が入射される偏光ビームスプリッタであり、S偏光されたレーザー光を反射し、P方向に偏光されたレーザー光を透過させる制御膜14aが設けられている。15は前記レーザーダイオード12から放射されたレーザー光の中の前記偏光ビームスプリッタ14に設けられている制御膜14aを透過したレーザー光が照射される位置に設けられているモニター用光検出器であり、その検出出力は前記レーザーダイオード12から放射されるレーザー光の出力を制御するために使用される。
16は前記偏光ビームスプリッタ14の制御膜14aにて反射されたレーザー光が入射される位置に設けられている1/4波長板であり、入射されるレーザー光を直線偏光光から円偏光光に変換する作用を成すものである。17は前記1/4波長板16を透過した発散光であるレーザー光が入射されるコリメートレンズであり、入射されたレーザー光を平行光に変換する作用を成すとともに光ディスクDの保護層による球面収差を補正するために設けられている。
18は前記コリメートレンズ17にて平行光に変換されたレーザー光が入射される入射面18a、該入射面18aにて屈折されたレーザー光が照射されるとともに該レーザー光を反射させる反射面18b及び該反射面18bにて反射されたレーザー光が照射されるとともに該レーザー光を前記反射面18b方向へ反射させ、且つ該反射面18bにて再度反射されたレーザー光が照射され、更にこのようにして照射されたレーザー光を外部に出射する反射兼出射面18cが設けられているプリズムであり、硝材として例えばBK7ガラスが使用される。
斯かる構成のプリズムにおいて、前記反射兼出射面18cから出射されるレーザー光は対物レンズ19の光軸と一致する方向へ偏向出射されるように構成されている。
また、前記プリズム18は、光ディスクDの信号記録層から反射された戻り光が前記対物レンズ19を通して入射されるとともに該戻り光を前記偏光ビームスプリッタ14の方向へ出射させる作用を成すように設けられている。
20は前記偏光ビームスプリッタ14に設けられている制御膜14aを透過した戻り光が入射されるセンサーレンズであり、シリンドリカル面、平面、凹曲面または凸曲面等が入射面側及び出射面側に形成されている。斯かるセンサーレンズ20は戻り光に非点収差を発生させることによってフォーカス制御動作に使用されるフォーカスエラー信号を生成させるために設けられている。
21は前記センサーレンズ20を通過した戻り光が集光されて照射される位置に設けられている光検出器であり、フォトダイオードが配列された4分割センサー等にて構成されている。斯かる光検出器21の構成及び非点収差法によるフォーカスエラー信号の生成動作等は周知であり、その説明は省略する。
前記対物レンズ19は、周知のように例えば4本の支持ワイヤーによって光ディスクDの信号面に対して垂直方向、即ちフォーカス方向への変位動作及び光ディスクDの径方向
、即ちトラッキング方向への変位動作を可能に設けられているレンズホルダーに固定されている。また、レンズホルダーに固定されている対物レンズ19の光軸は、光ディスクDの信号面に対して垂直方向になるように構成されている。
斯かる構成の光ピックアップ装置を使用して光ディスクDに記録されている信号の再生動作を行う場合には、レーザーダイオード12に駆動電流が供給され、該レーザーダイオード12から波長が650nmのレーザー光が放射される。前記レーザーダイオード12から放射されたレーザー光は、回折格子13に入射され、該回折格子13を構成する回折格子部13aによって0次光、+1次光及び−1次光に分離されるとともに1/2波長板13bによってS方向の直線偏光光に変換される。前記回折格子13を透過したレーザー光は、偏光ビームスプリッタ14に入射され、該偏光ビームスプリッタ14に設けられている制御膜14aにて反射されるとともに一部のレーザー光は該制御膜14aを透過してモニター用光検出器15に照射される。
前記制御膜14aにて反射されたレーザー光は、1/4波長板16を通してコリメートレンズ17に入射され該コリメートレンズ17の働きによって平行光に変換される。前記コリメートレンズ17によって平行光に変換されたレーザー光は、プリズム18に設けられている入射面18aに照射される。
前記プリズム18の入射面18aに照射されたレーザー光は、該入射面18aによる屈折作用によって光路の角度が変更されて反射面18bに照射される。該反射面18bに照射されたレーザー光は、該反射面18bによって反射されて、その光路方向が図示したように変更される。
前記反射面18bによって反射されたレーザー光は、前記プリズム18に形成されている反射兼出射面18cに照射され、該反射兼出射面18cによって前記反射面18b方向へ反射される。このようにして前記反射兼出射面18cにて反射されたレーザー光が前記反射面18bに照射されると、該レーザー光は該反射面18bによって再度反射される。
前記反射面18bによって再度反射されたレーザー光は、前記反射兼出射面18cに照射されるが、この場合における該反射兼出射面18cに対する入射角が大きくなるように構成されている。
その結果、前記反射兼出射面18cに照射されたレーザー光は、反射されることなく該反射兼出射面18cを通して外部へ出射される。そして、前記反射兼出射面18cから外部へ出射されるレーザー光は、屈折されてその出射方向が変更されるが、その方向は対物レンズ19の光軸と一致するように構成されている。
前記プリズム18の反射兼出射面18cを通して外部へ出射されたレーザー光は、対物レンズ19に入射されることになる。このようにして前記対物レンズ19に入射されたレーザー光は該対物レンズ19の集光動作によって光ディスクDの信号記録層にスポットとして照射されることになる。このようにして、レーザーダイオード12から放射されるレーザー光は、光ディスクDの信号記録層に所望のスポットとして照射されるが、この場合における対物レンズ19の開口数は0.6になるように設定されている。
前述した動作によってレーザー光の光ディスクDに設けられている信号記録層への照射動作が行われるが、斯かる照射動作が行われるとき、該信号記録層から反射される戻り光が対物レンズ19に対して光ディスクD側から入射される。前記対物レンズ19に入射された戻り光は、プリズム18、コリメートレンズ17及び1/4波長板16を通して偏光ビームスプリッタ14に入射される。前記偏光ビームスプリッタ14に入射される戻り光
は、前記1/4波長板16によってP方向の直線偏光光に変換されているので、該偏光ビームスプリッタ14に設けられている制御膜14aを透過することになる。
前記制御膜14aを透過したレーザー光の戻り光は、センサーレンズ20に入射され、該センサーレンズ20の働きによって非点収差が発生せしめられる。前記センサーレンズ20によって非点収差が発生せしめられた戻り光は、該センサーレンズ20の集光動作によって光検出器21に設けられている4分割センサー等のセンサー部に照射される。このようにして戻り光が光検出器21に照射される結果、該光検出器21に組み込まれているセンサー部に照射されるスポット形状の変化を利用して周知のようにフォーカスエラー信号の生成動作が行われる。それ故、斯かるフォーカスエラー信号を利用して対物レンズ19を光ディスクDの信号面に対して垂直方向へ変位させることによってフォーカス制御動作を行うことが出来る。
また、本実施例では説明しないが、前記回折格子13によって生成される+1次光と−1次光を利用した周知のトラッキング制御動作を行うことが出来るように構成されており、斯かるトラッキング制御動作によって対物レンズ19をトラッキング方向へ変位させることによって光ディスクDに記録されている信号の読み取り動作を行うことが出来る。
前述したように光ディスクDに記録されている信号の読み取り動作は行われるが、斯かる読み取り動作が行われているとき、モニター用光検出器15にレーザー光の一部が照射されているので、該モニター用光検出器15から得られるモニター信号のレベル変化を利用してレーザーダイオード12に供給される駆動電流値を制御することが出来る。
レーザーダイオード12に供給される駆動電流値を制御することによってレーザー光の出力を制御することが出来るので、光ディスクDに記録されている信号の再生動作だけでなく該光ディスクDに信号を記録する場合に要求されるレーザー出力の調整動作も行うことが出来る。
図1に示したように本発明に係る光ピックアップ装置は、構成されているが、同図において、偏向ビームスプリッタ14及びコリメートレンズ17等の光学素子の寸法や配置は、説明のために実際とは異なるように描いている。即ち、実際の光ピックアップ装置では、全ての光学素子は、基台、即ち光ピックアップ装置を構成する底板22と光ディスクDとの間の空間部に配置されるように構成されている。
図2は本発明に係るプリズム18の拡大図であり、入射面18aに入射されるレーザー光L1は該入射面18aにて屈折されてレーザー光L2として反射面18b方向へ照射される。斯かるレーザー光L2は、前記反射面18bにて反射されてレーザー光L3として反射兼出射面18c方向へ照射される。
前記反射面18bにて反射されて反射兼出射面18cに照射されるレーザー光L3は、該反射兼出射面18cにて反射されてレーザー光L4として反射面18b方向へ照射される。前記反射面18bに照射されたレーザー光L4は、該反射面18bにて再度反射されてレーザー光L5として反射兼出射面18c方向へ照射される。
このようにして、反射兼出射面18cに照射されるレーザー光L5の該反射兼出射面18cに対する入射角は、図示したように大きくなるように構成されているので、該反射兼出射面18cに照射されるレーザー光L5は、反射されることなく外部にレーザー光L6として出射される。
このように本発明を構成するプリズム18は、反射面18bにて2度反射させるように
したので、該プリズム18の厚み、即ち図2において上下方向の長さを短くすることが出来る。
前記プリズム18に設けられている入射面18a、反射面18b及び反射兼出射面18cに照射されるレーザー光の入射角度をプリズム18の屈折率やレーザー光の波長に応じて設定することによって各面における入射、屈折、反射及び透過の各動作を行うことが出来るようにすることが出来る。斯かるプリズム18に設けられている各面において、入射、屈折、反射及び透過等の各動作が行われる光学原理は、周知であり、その説明は省略する。
図2において、プリズム18に形成されている入射面18aと反射面18bとの間の内角度をθ1、反射兼出射面18cと反射面18bとの間の内角度をθ2としたとき、θ1及びθ2は、30度程度になるように設定される。また、本実施例では、θ1=θ2になるように構成されており、斯かる構成によればプリズム18は図示したように左右が対称になるので、プリズム18の製造が簡単になるだけでなく、光ピックアップ装置の組み立てを容易に行うことが出来るという利点がある。
尚、本実施例では、レーザーダイオード12として、波長が650nmのレーザー光を放射させるレーザーダイオードを使用したが、他の波長のレーザー光を放射させるレーザーダイオードを使用する光ピックアップ装置に実施することは勿論可能である。また、プリズム18の硝材としてBK7ガラスを使用したが、他の硝材を使用することも可能である。
そして、本実施例では、コリメートレンズ17にて平行光に変換されたレーザー光をそのままプリズム18の入射面18aに入射させるようにしたが、コリメートレンズ17とプリズム18の入射面18aとの間の光路に回折格子や三角プリズム等のレーザー光の照射方向を変更させる部材を設けることも出来る。即ち、斯かる構成によればコリメートレンズ17から出射されるレーザー光をプリズム18の反射面18bに対して平行にすることが出来るので、光ピックアップ装置の薄型化を行うことが出来る。
また、本実施例では、プリズム18の入射面18aに入射されるレーザー光L1の反射面18bに対する角度が0度より大きい場合について説明したが、レーザー光L1の反射面18bに対する角度を0度、即ちレーザー光L1をプリズム18の反射面18bに対して平行にすることも出来る。そして、斯かる場合において、プリズム18を屈折率が1.52の硝材にて製造したとき、前記θ1は41.05度、θ2は30度にて実施することが出来る。
本発明のプリズムは、反射面18bにてレーザー光を2度反射させるようにしているが、従来の技術のように1度だけ反射させるプリズムの倍率、即ち入射面に入射されるレーザー光の径と出射面から出射されるレーザー光の径との比と2度反射させるプリズムの倍率とを比較すると、2度反射させるプリズムの方が大きくなるという特徴がある。
従って、対物レンズに入射されるレーザー光L6の径が同一である場合には、プリズム18の入射面18aに入射されるレーザー光L1の径を従来の技術と比較して本発明の方が小さくなる。このように本発明は、プリズム18の入射面18aに入射されるレーザー光L1の径を小さくすることが出来るので、プリズム18とレーザーダイオード12との間に配置される光学系を薄くすることが出来るという利点を有している。
本発明の光ピックアップ装置を示す概略図である。 本発明の光ピックアップ装置に係るプリズムの拡大図である。 従来の光ピックアップ装置を示す概略図である。
符号の説明
12 レーザーダイオード
14 偏光ビームスプリッタ
17 コリメートレンズ
18 プリズム
18a 入射面
18b 反射面
18c 反射兼出射面
19 対物レンズ
22 底板
D 光ディスク

Claims (5)

  1. レーザーダイオードから放射されたレーザー光が発散光として入射されるとともに該レーザー光を平行光に変換するコリメートレンズと、該コリメートレンズにて平行光に変換されたレーザー光が入射される入射面、該入射面から入射されたレーザー光を反射させる反射面、該反射面にて反射されたレーザー光を該反射面方向へ反射させるとともに該反射面から再度反射されたレーザー光を対物レンズ方向へ出射させる反射兼出射面が設けられたプリズムを備えた光ピックアップ装置であり、前記プリズムに設けられている反射兼出射面から出射されるレーザー光の出射方向が前記反射面に対して垂直になるようにしたことを特徴とする光ピックアップ装置。
  2. プリズムの反射兼出射面から出射されるレーザー光の出射方向と対物レンズの光軸とを一致させたことを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。
  3. プリズムの反射面を光ディスクの信号面と平行になるように配置された光ピックップ装置の底板に固定するようにしたことを特徴とする請求項2に記載の光ピックアップ装置。
  4. プリズムの入射面に入射されたレーザー光を反射面方向へ屈折させるようにしたことを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。
  5. プリズムの入射面と反射面との間の内角と反射兼出射面と反射面との間の内角とが同一の角度になるようにしたことを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。
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