JP4761207B2 - ウェーハ収納方法 - Google Patents

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本発明は、半導体装置や電子部品が形成されたウェーハをカセットに収納する収納方法に関するものである。
半導体製造工程において、表面に半導体装置や電子部品等が形成されたシリコンを主材料とするウェーハは、プロービング工程で電気試験が行われた後、ダイシング工程で個々のチップ(ダイ、又はペレットとも言われる)に分割される。個々のチップに分割されたウェーハは、ダイボンディング工程で部品基台にダイボンディングされ、ダイボンディングされた後、樹脂モールドされて半導体装置や電子部品等の完成品となる。
ダイシング工程においては、ダイシングブレードと呼ばれる薄型砥石でウェーハを切削することにより完全切断(フルカット)、又は部分切断(ハーフカット)するダイシング装置が用いられる。また、近年ではダイシングブレードを用いずに、ウェーハの内部に集光点を合わせたレーザー光を照射し、ウェーハ内部に多光子吸収現象による改質層を形成させ、この改質層を起点としてウェーハを割断するレーザーダイシング装置も用いられている。
ダイシング装置、レーザーダイシング装置においては、図6に示すように、ウェーハWを上下方向に複数枚収納するカセットCが用いられ、ウェーハWはこのカセットCから1枚ずつ取り出されてダイシング加工され、加工後はまたカセットの元の位置に収納される。
このようなカセットとしては、対向した内壁のおのおのに複数の桟を有し、対応する各桟に架けて複数のウェーハの間隔を保ちつつ水平に収納できるようにしたものが一般的である(例えば、特許文献1、2参照。)。
特開2004−95942号公報 特開2005−228867号公報
ところで、前述のようなダイシング装置、レーザーダイシング装置によって、ハーフカットされたウェーハWや、内部に改質層を形成されたウェーハWは、カセットCに収納した際に、図7に示すように、自重によりダイシングされた部分が変形し、撓んでしまう場合がある。このようにウェーハWが撓むと、搬送アーム50でウェーハWを保持することが出来なくなる。更に、溝や改質層を境にウェーハが破損して落下する、または個々のチップ同士のエッジ部が接触して欠けを生じ不良チップとなるなど様々な問題が発生する。
本発明は、このような問題に対してなされたもので、ダイシングされたウェーハをカセットに収納する際、ウェーハに撓みを生じさせず、ウェーハに割れや欠けなどが発生しないウェーハ収納方法を提供することを目的とする。
本発明は前記目的を達成するために、ダイシング装置のブレードによりダイシングされて切削溝が形成された、またはレーザーダイシング装置のレーザー光により内部に改質層が形成されたウェーハを、前記切削溝、または前記改質層の形成されている方向より所定の角度回転させ、前記ウェーハを収納するカセットへ前記ウェーハを収納することを特徴としている。
また、前記ウェーハを回転させる角度は40度から50度であることと、前記ウェーハは、シリコンにより形成され、円形形状であることと、前記カセットは、対向した内壁に複数の対になる桟を有し、前記ウェーハを一対の前記桟に架けて水平に収納することとも特徴としている。
本発明によれば、対向した内壁に複数の対になる桟を有するカセットへ、シリコンを主材料として製造されたウェーハが、水平に収納されてダイシング装置、またはレーザーダイシング装置に供給される。
供給されたウェーハは、ダイシング装置、またはレーザーダイシング装置に備えられた搬送装置により搬送され、ダイシング装置によりハーフカット、またはレーザーダイシング装置により内部に改質層を形成される。ダイシングされたウェーハは、再び搬送装置で搬送されてカセットに収納される。
このとき、ウェーハは、ハーフカットによる加工溝、または改質層が形成された方向よりも40度から50度回転され、加工溝、または改質層の形成されている方向と、一対の桟の方向とが、40度から50度傾斜した状態でカセットに収納される。
これにより、ダイシングにより強度が低下している加工溝、または改質層部分にかかる自重による負荷が軽減され、ウェーハに撓みを生じさせず、ウェーハに割れや欠けなどが発生しない。
以上説明したように、本発明のウェーハ収納方法によれば、加工溝、または改質層部分にかかる自重による負荷が軽減され、ウェーハに撓みを生じさせず、安全にウェーハを収納することが可能となる。
以下添付図面に従って本発明に係るウェーハ収納方法の好ましい実施の形態について詳説する。はじめに、本発明のウェーハ収納方法を行うダイシング装置、及びレーザーダイシング装置の構成について説明する。図1はダイシング装置の外観を示す斜視図、図2はレーザーダイシング装置の加工部を示した側面図、図3はレーザーダイシングの原理を説明する概念図である。
ダイシング装置1は、表面に半導体装置や電子部品等が形成され、シリコンを主材料とする円形形状の複数のウェーハWが収納されたカセットCを外部装置との間で受け渡すロードポート51を備えている。
その他、ダイシング装置1には、ウェーハWを装置各部に搬送する搬送手段53と、ウェーハWを載置するウェーハテーブル31と、ウェーハWの加工が行なわれる加工部20と、加工後のウェーハWを洗浄し、乾燥させるスピンナ52、カセットCよりウェーハWの搬出、収納を行う不図示の搬送アーム等を備えている。ダイシング装置1の各部の動作は制御手段としてのコントローラ10により制御される。
加工部20には、近傍にワークWの表面を撮像する不図示の顕微鏡が備えられ、内部には互いに対向配置され、先端に薄い円盤状のブレード21と、ブレード21と不図示のホイールカバーが取付けられた高周波モータ内蔵型のスピンドル22、22が設けられている。
スピンドル22はどちらも30,000rpm〜80,000rpmで高速回転されるとともに、不図示の移動軸により互いに独立して図のY方向のインデックス送りとZ方向の切込み送りとがなされる。更に、ウェーハWを吸着載置するウェーハテーブル31が、不図示の移動軸によって図のX方向に研削送りされるように構成されており、これらの動作により高速に回転するブレード21が、ウェーハWへ接触し、ウェーハWがX、Y方向にダイシングされる。
また、レーザーダイシング装置は、ダイシング装置1と同様にロードポート51、搬送手段53、ウェーハテーブル31等を備え、図2に示すように、加工部20内にはスピンドル22と同様に対向してレーザーヘッド41が設けられている。
レーザーヘッド41は、レーザー発振器41A、コリメートレンズ41B、ミラー41C、コンデンスレンズ41D等からなり、レーザー発振器41Aから発振されたレーザー光Lは、コリメートレンズ41Bで水平方向に平行光線とされ、ミラー41Cで垂直方向に反射され、コンデンスレンズ41Dによって集光される。
レーザー光Lの集光点を、チャックテーブル31に載置されたウェーハWの厚さ方向内部に設定すると、図3(a)に示すように、ウェーハWの表面を透過したレーザー光Lは集光点でエネルギーが集中され、ウェーハ内部の集光点近傍に多光子吸収によるクラック領域、溶融領域、屈折率変化領域等の改質領域Pを形成する。
改質領域Pは、図3(b)に示すように、ウェーハWが水平方向に移動されることにより、ウェーハW内部に複数並んで形成される。この状態でウェーハWは改質領域Pを起点として自然に割断するか、或いは僅かな外力を加えることによって改質領域Pを起点として割断される。この場合、ウェーハWは表面や裏面にはチッピングが発生せずに容易にチップに分割される。
続いて、本発明に係わるウェーハ収納方法について説明する。図4は本発明に係わるウェーハ収納方法を説明するカセットの斜視図、図5は本発明に係わるウェーハ収納方法により収納されたウェーハの側面図及び上面図である。
ダイシング装置、及びレーザーダイシング装置では、ウェーハWが複数枚収められたカセットCが、図1に示されるロードポート51にセットされる。
カセットCに内に設けられた桟Sに架けられて水平に収納されているウェーハWは、搬送アーム50により1枚ずつカセットCから搬送され、搬送手段53によりウェーハテーブル31へ載置されて加工部20へ送られる。
加工部20では、ブレード21、またはレーザーヘッド41によりウェーハWがダイシング加工され、ウェーハWにはX、Y方向に複数の加工溝、または改質層領域が形成される。
ダイシング加工されたウェーハWはダイシング装置、及びレーザーダイシング装置内の各種装置により洗浄やエキスパンド等の工程が行われ、再びカセットCへ収納される。
このとき、ウェーハWは、図4に示す矢印A方向に所定角度回転させた後、搬送アーム50により搬送され、カセットCへ収納される。回転されてカセットCに収納されたウェーハWは、図7(b)のように加工溝、または改質層領域が形成されている方向と、桟Sの設けられている方向とが同方向とはならず、図5(b)に示すように、桟Sに対して角度θ傾斜した状態で収納される。角度θは、40度から50度あることが好ましい。
これにより、ウェーハWを桟Sに架けて収納した際に加工溝、または改質層領域に対してかかる負荷が分散され、ウェーハWが自重により撓むことなく水平に保たれたまま収納することが可能となる。よって、ウェーハWの割れやチップ同士が接触して欠けを発生させることが無い。
以上説明したように、本発明に係るウェーハ収納方法によれば、加工溝、または改質層領域にかかる自重による負荷が分散軽減され、それによりウェーハに撓みを生じさせず、ウェーハの割れやチップ同士の接触による欠けを発生させずに安全にウェーハを収納することが可能となる。
なお、ウェーハWを加工した後、搬送アーム50で搬送する際、既に加工溝、または改質層領域の方向が桟Sの方向に対して40度から50度回転した状態となっているならば、搬送アーム50で搬送する前にウェーハWを回転させなくてもよい。
また、本発明のウェーハ収納方法で収納するウェーハは、厚さが200μm以上であって、加工後のチップサイズが1mm角以上であり、改質層の形成本数は4本未満であることが望ましい。
本発明に係わるダイシング装置の外観を示す斜視図。 レーザーダイシング装置の加工部を示した側面図。 レーザーダイシングの原理を説明する概念図。 本発明に係わるウェーハ収納方法を説明するカセットの斜視図。 本発明に係わるウェーハ収納方法により収納されたウェーハの側面図及び上面図。 カセットの斜視図。 カセットに収納されたウェーハの側面図及び上面図。
符号の説明
1…ダイシング装置,2…加工部,10…コントローラ,21…ブレード,22…スピンドル,31…ウェーハテーブル,41…レーザーヘッド,50…搬送アーム,51…ロードポート,52…スピンナ,53…搬送手段,C…カセット,P…改質層,S…桟,W…ウェーハ

Claims (4)

  1. ダイシング装置のブレードによりダイシングされて切削溝が形成された、またはレーザーダイシング装置のレーザー光により内部に改質層が形成されたウェーハを、前記切削溝、または前記改質層の形成されている方向より所定の角度回転させ、前記ウェーハを収納するカセットへ前記ウェーハを収納することを特徴とするウェーハ収納方法。
  2. 前記ウェーハを回転させる角度は40度から50度であることを特徴とする請求項1に記載のウェーハ収納方法。
  3. 前記ウェーハは、シリコンにより形成され、円形形状であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のウェーハ収納方法。
  4. 前記カセットは、対向した内壁に複数の対になる桟を有し、前記ウェーハを一対の前記桟に架けて水平に収納することを特徴とする請求項1、2、または3のいずれか1項に記載のウェーハ収納方法。
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