JP4756347B2 - 波形測定装置 - Google Patents

Description

本発明は、被測定波形を測定したデジタルデータのうち所定のデータ長からなる波形データまたはこの波形データを変換した画像データの少なくとも一方を含む判定データに基づいて、測定した波形が判定条件に合っているか否かを判定する判定手段を備えた波形測定装置に関し、詳しくは、異常波形を確実に捕捉することができる波形測定装置に関するものである。

波形測定装置は、例えば、デジタルオシロスコープ等であり、被測定波形をデジタル信号の波形データに変換して、記憶部であるメモリに格納し、さらにメモリに格納した波形データの解析を行うと共に、画像処理手段を介して解析結果や取得した波形データ等を表示部に表示するように構成されたものであり、各種分野の研究開発、品質管理、保守作業等において広く使用されている。

また、波形測定装置では、被測定波形を測定した波形データやこの波形データを変換した画像データに基づいて、測定した波形の良否を判断する機能、Ｇｏ／ＮｏＧｏ判定機能を備えている。この機能は、判定条件に合格（Ｇｏ）、不合格（ＮｏＧｏ）かを判定するものである。そして、ＮｏＧｏの場合は、所定の処理（アクションとも呼ぶ）を行なう。例えば、測定した波形の振幅が規定値内に入っているか否かを自動的に判定し、ＮｏＧｏの場合には、ビープ音の出力、波形データ・画像データのファイルへのセーブ、波形データ・画像データのハードコピー出力、通信による外部装置への波形データ・画像データの出力等のアクションを行なう。或いはトリガ信号出力のアクション等を取る。このような判定機能は、被測定対象機器の異常監視、製造ラインでの自動選別等、様々な応用が可能なようになっている（例えば、特許文献１、２参照）。

図９は、従来の波形測定装置の構成を示した図である。図１において、ＡＤ変換器１は、被測定波形が入力される。ＡＤ変換器１は、１チャネル分しか図示していないが、複数チャネル分設けてもよい。

画像処理手段２は、ＡＤ変換器１から波形データが入力される。表示部３は、画像処理手段２が生成した画像データを表示する。蓄積メモリ（以下、メモリと略す）４は、ＡＤ変換器１からの波形データや画像処理手段２が生成した画像データを格納する。

メモリコントローラ５は、波形データ、画像データのメモリ４への書き込みおよび読み出しを行なう。また、メモリコントローラ５は、ＡＤ変換器１の出力側と接続され、画像処理手段２と相互に接続される。

ＣＰＵ６は、解析手段６ａ、判定手段６ｂを有し、波形装置全体を制御するものであり、メモリコントローラ５を介して、メモリ４から波形データ、画像データが入力され、画像処理手段２と相互に接続される。

解析手段６ａは、メモリ４からの波形データ、画像データの解析を行なう。判定手段６ｂは、解析手段６ａの解析結果に基づいて、被測定波形を測定して取得した波形データや画像データのＧｏ／ＮｏＧｏ判定を行なう。

アクション手段７は、メモリコントローラ５、ＣＰＵ６を介してメモリ４からの波形データ、画像データが入力され、判定手段６ｂの判定結果に基づいて所定のアクションを行なう。

ハードディスク８ａは、波形測定装置の電源がオフされても記憶内容が消去されず、アクション手段７からの指示に従って波形データ、画像データを記憶する。プリンタ８ｂは、アクション手段７からの指示に従って波形データ、画像データのハードコピー出力を行なう。通信部８ｃは、他の装置と無線または有線によって通信し、アクション手段７からの指示に従って波形データ、画像データを送信する。ここで、ハードディスク８ａ、プリンタ８ｂ、ハードディスク８ｃを出力部８とする。

図９に示す装置の動作を説明する。図１０は、図９に示す装置の動作を説明したフローチャートである。
ＡＤ変換器１が、入力される被測定波形をデジタル信号のデジタルデータに変換し、変換したデジタルデータのうち、所定のデータ長のデジタルデータを波形データとして、画像処理手段２、メモリコントローラ５に出力する。そして、画像処理手段２が、表示部３に表示させる画像データを、波形データから生成し、メモリコントローラ５に出力したり、表示部３に波形表示する（Ｓ１０）。

そして、メモリコントローラ５が、所定のデータ長の波形データおよび画像データをメモリ４の所定の領域に書きこむ。これにより、波形データおよび画像データそれぞれが１個ずつメモリ４に格納される（Ｓ１１）。

設定手段（図示せず）が、判定を行なうためのパラメータの設定を、あらかじめ解析手段６ａに行なう。そして、解析手段６ａが、設定されたパラメータで解析を行なうために、メモリコントローラ５に波形データまたは画像データを要求する。この要求に従って、メモリコントローラ５が、メモリ４から波形データまたは画像データを読み出して、解析手段６ａに出力する。さらに、解析手段６ａが、メモリコントローラ５を介して取得した波形データまたは画像データを解析してパラメータを算出し、解析結果を判定手段６ｂに出力する（Ｓ１２）。

そして、判定手段６ｂが、設定手段（図示せず）によってあらかじめ設定された判定条件に基づいてパラメータ解析結果のＧｏ／ＮｏＧｏを判定し、ＮｏＧｏの場合はアクション手段７が、指定されたアクションを出力部８等に行なう（Ｓ１３，Ｓ１４）。そして、アクションが終了すると、判定手段６ｂが、判定結果を画像処理手段２を介して表示部３に表示させる（Ｓ１５）。

一方、判定結果がＧｏの場合は、判定手段６ｂが、判定結果を画像処理手段２を介して表示部３に表示させる（Ｓ１３，Ｓ１５）。そして、指定回数の判定が終了してなければ、次の波形の取得を行なって、判定を行なう（Ｓ１６、Ｓ１０〜Ｓ１５）。指定回数の判定が終了していれば、処理を終了する（Ｓ１６）。

特開平９−８９９３５号公報 特開２００１−２９６３１６号公報

このように、判定手段６ｂが、取得した波形に所望の解析を行なって判定し、アクション手段７が、ＮｏＧｏとなった波形データまたは画像データを用いて所定のアクション（例えば、ハードディスクへの保存等）を行なうことにより、ＮｏＧｏの波形を捕捉することができる。

また、従来の波形測定装置では、ＡＤ変換器１のサンプリング速度が、数十〜数百［ＭＨｚ］程度であったので、波形を１個取得（Ｓ１０）して判定やアクション等（Ｓ１１〜Ｓ１６）を実行してから（なお、パラメータの算出（Ｓ１２）、アクション（Ｓ１４）に特に時間を要する）、次の波形の取り込みを行なっても異常波形の取得に問題が生ずることがなかった。

しかしながら、近年のＡＤ変換器１のサンプリング速度は、数［ＧＨｚ］を超えるようになったが、パラメータの算出処理（Ｓ１２），アクションの実行（Ｓ１４）に時間がかかり、サンプリング速度を早くしても実質的な波形の取り込み速度は遅いままであった。そのため、数［ＧＨｚ］の高速なサンプリング速度であれば本来捕捉できるはずの異常波形を見逃すことがあるという問題があった。

そこで本発明の目的は、異常波形を確実に捕捉することができる波形測定装置を実現することにある。

請求項１記載の発明は、
被測定波形を測定した所定のデータ長の波形データまたは前記波形データを変換した画像データの少なくとも一方を含む判定データに基づいて、測定した波形が判定条件に合っているか否かを判定する判定手段を備えた波形測定装置において、
前記判定データを複数個記憶する判定データ記憶部と、
この判定データ記憶部に前記判定データの読み書きを行なうメモリコントローラと
を設け、メモリコントローラは、前記判定データを前記判定データ記憶部に複数個記憶させた後、前記判定データを順次読み出して前記判定手段に判定させ、
判定データを複数個格納するアクションデータ記憶部と、
このアクションデータ記憶部に前記判定手段が不合格と判定した判定データの読み書きを行なう入出力部と
を設け、入出力部は、前記判定手段が不合格と判定した判定データを前記アクションデータ記憶部に複数個記憶させた後、記憶させた前記判定データを順次読み出してアクション手段に処理を実行させることを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、
前記判定データ記憶部を複数個設け、
メモリコントローラは、前記判定データを書き込み中の判定データ記憶部の空き容量が所定量より減ると他の判定データ記憶部に書き込み先を切り替えると共に、前記空き容量が所定量になった判定データ記憶部から判定データを順次読み出して前記判定手段に判定させることを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、
判定結果に基づいて、前記判定手段が判定した判定データを用いて所定の処理を実行するアクション手段を設けたことを特徴とするものである。
請求項４記載の発明は、請求項１〜３のいずれかに記載の発明において、
前記アクションデータ記憶部を複数個設け、
入出力部は、前記判定データを書き込み中のアクションデータ記憶部の空き容量が所定量より減ると他のアクションデータ記憶部に書き込み先を切り替えると共に、前記空き容量が所定量になったアクションデータ記憶部から判定データを順次読み出して前記アクション手段に処理を実行させることを特徴とするものである。

本発明によれば、以下のような効果がある。
請求項１〜４によれば、メモリコントローラが、指定回数分の複数個の判定データを判定データ記憶部に格納する。そして、指定回数分の判定データが格納されてから、判定手段が、判定データ記憶部に格納された判定データの判定を行なうので、波形の取り込み速度は、判定データを用いて処理を行なう判定手段等の処理能力に影響されない。いわゆる測定のデットタイムを抑えることができる。これにより、高速なサンプリング速度でサンプリングして測定する場合であっても、高速なサンプリング速度の性能を有効に用いることができ、異常波形を確実に捕捉することができる。
また、入出力部が、アクションデータ記憶部の容量が一杯になるまで不合格と判定した判定データの書き込みを行なう。そして、入出力部が、アクションデータ記憶部から判定データを読み出し、アクション手段にまとめてアクションを実行させるので、判定と、アクションと、を非同期に動作させることができる。例えば、ハードディスクにファイルとして判定データを保存する場合、１波形ずつハードディスクに出力するよりも、まとめて出力した場合の方が、実行転送レートが向上する。これにより、時間のかかるアクションを実行する場合であっても、異常波形を確実に補足できる。
請求項２によれば、メモリコントローラが、指定回数分の判定データを取得するまで、所望の判定データ記憶部に取得した判定データの書き込みを行いながら、他の判定データ記憶部から未判定の判定データを読み出し、判定データを用いる後段の処理（判定手段等）を行なわせるので、波形の取得と、後段の処理とを非同期に動作させることができる。これにより、判定データ記憶部に格納できる判定データの個数より、判定を行なう指定回数が多い場合でも、異常波形を確実に補足できる。
請求項４によれば、入出力部が、所望のアクションデータ記憶部の容量が一杯になるまで不合格と判定した判定データの書き込みを行なう。そして、所望のアクションデータ記憶部の所定量まで判定データを書き込むと、書き込み先を他のアクションデータ記憶部に切り替えて判定データの書き込みを行いながら、所望のアクションデータ記憶部から判定データを読み出し、アクション手段にまとめてアクションを実行させるので、判定と、アクションと、を非同期に動作させることができる。これにより、時間のかかるアクションであっても、異常波形を確実に補足できる。

以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
［第１の実施例］
図１は、本発明の第１の実施例を示した構成図である。ここで、図９と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。図１において、蓄積メモリ４の代わりに蓄積メモリ（以下、メモリと略す）９、メモリコントローラ５の代わりにメモリコントローラ１０が設けられる。

メモリ９は、第１の判定データ記憶部であり、ＡＤ変換器１によって所定のサンプリング速度でサンプリングされたデジタルデータのうち、所定のデータ長からなるデジタルデータを一単位とする波形データを複数個格納する。また、メモリ９は、画像処理手段２が波形データに基づいて生成した画像データを複数個格納する。ここで、判定データとは、波形データと画像データのいずれか一方または両方をさす。

メモリコントローラ１０は、ＡＤ変換器１からの波形データ、画像処理手段２からの画像データをメモリ９に書き込む。また、メモリコントローラ１０は、ＣＰＵ６からの要求に従って波形データ、画像データをメモリ９から読み出してＣＰＵ６に出力したり、読み出した波形データ、画像データを画像処理手段２に出力する。

このような装置の動作を説明する。ここで、図２は、図１に示す装置の動作を説明したフローチャートである。
ＡＤ変換器１が、入力される被測定波形をデジタル信号のデジタルデータに変換し、変換したデジタルデータのうち、所定のデータ長のデジタルデータを波形データとして、画像処理手段２、メモリコントローラ１０に出力する。そして、画像処理手段２が、表示部３に表示させる画像データを波形データから生成し、生成した画像データをメモリコントローラ１０に出力したり、表示部３に波形表示する（Ｓ２０）。

そして、メモリコントローラ１０が、波形データおよび画像データをメモリ９の所定の領域に書きこむ。これにより、波形データおよび画像データそれぞれが１個ずつメモリ９に格納される（Ｓ２１）。

そして、メモリコントローラが９が、波形データおよび画像データそれぞれが指定回数（例えば、ｎ個）分格納したかを判断し、取得していなければ再度ＡＤ変換器１によって新たに取得された波形データおよび画像処理手段２で生成された画像データをメモリ９の所定の領域に書き込む（Ｓ２２、Ｓ２０、Ｓ２１）。一方、波形データおよび画像データそれぞれがｎ個ずつメモリ９に格納されると、メモリコントローラ１０が、指定回数分の判定データが格納したことをＣＰＵ６に通知し、次の処理に移る（Ｓ２２、Ｓ２３）。

設定手段（図示せず）が、判定を行なうためのパラメータの設定を、あらかじめ解析手段６ａに行なう。例えば、波形データを用いた解析では、最大値、最小値、指定位置における振幅値、カーソル間の時間差、電圧差等のパラーメータであり、画像データを用いた解析では、表示部３の表示画面上に設定した指定領域（ボックス状の閉領域、２本の曲線間で占められる部分等）に波形が存在するか等である。

そして、ＣＰＵ６の解析手段６ａが、設定されたパラメータで解析を行なうために、メモリコントローラ１０に波形データまたは画像データを要求する。この要求に従って、メモリコントローラ１０が、メモリ９に格納した判定データのうち、最も古い判定データから順番に１個づつ読み出して、解析手段６ａに出力する（Ｓ２３）。さらに、解析手段６ａが、メモリコントローラ１０を介して取得した波形データまたは画像データを解析してパラメータを算出し、解析結果を判定手段６ｂに出力する（Ｓ２４）。

そして、判定手段６ｂが、設定手段（図示せず）によってあらかじめ設定された判定条件に基づいてパラメータ解析結果のＧｏ／ＮｏＧｏを判定し、ＮｏＧｏの場合はアクション手段７が、指定されたアクション、例えば、波形データまたは画像データをファイルとしてハードディスク８ａにセーブしたり、内蔵するプリンタ８ｂにハードコピー出力したり、通信手段８ｃに外部装置へ送信させる等のアクションを行なう。または、アクション手段７が、出力部８にビープ音やトリガ信号を出力させたり、表示部３にアラーム表示をするように画像処理手段２へ指示をだす（Ｓ２５，Ｓ２６）。そして、アクションが終了すると、判定手段６ｂが、判定結果を画像処理手段２を介して表示部３に表示させる（Ｓ２７）。

一方、判定結果がＧｏの場合は、判定手段６ｂが、判定結果を画像処理手段２を介して表示部３に表示させる（Ｓ２５，Ｓ２７）。そして、指定回数の判定が終了してなければ、メモリコントローラ１０が次に古い判定データを１個読み出して、ＣＰＵ６の各手段６ａ、６ｂが解析、判定、アクション手段７がアクションを行なう（Ｓ２８、Ｓ２３〜Ｓ２７）。指定回数の判定が終了していれば、処理を終了する（Ｓ２８）。

なお、判定手段６ｂが波形データだけでなく画像データを用いて判定を行なうのは、画像処理手段２で画像データを生成する際に波形データの圧縮、補間や、波形データを複数用いる場合があるからである。通常、波形データのデータ点数に比べ、表示部３の表示画面（図示せず）の表示分解能は著しく小さい。表示分解能が、例えば、８００点程度の表示画面に、数万点のデジタルデータからなる波形データを表示するためには圧縮（例えば、peak-to-peak圧縮）を行なう。また、所定の時間間隔でサンプリングされたデジタルデータ間をつなぐために、直線・曲線で補間（例えば、sin補間）する。また、時間−振幅だけでなく、Ｘ−Ｙ表示（Ｘ軸に１チャネルで測定した波形の振幅を表示し、Ｙ軸に２チャネルで測定した波形の振幅を表示）する場合もあるからである。

また、判定するパラメータが複数の場合などは、波形データと画像データの両方を解析して、Ｇｏ／ＮｏＧｏ判定してもよい。

ここで、図３は、図１に示す装置と図９に示す装置で、被測定波形を測定し、Ｇｏ／ＮｏＧｏ判定、アクション等を行なった場合の例を示している。横軸は時間である。図３（ａ）は、図９に示す従来の波形測定装置の一例であり、図３（ｂ）は、本発明の一例である。なお、時間ｔＡは、波形を測定し、波形データおよび画像データをメモリ４、９に蓄積するために要する時間であり、時間ｔＢは、解析、判定、アクションに要する時間である。判定結果の表示は、非常に短時間なので図示を省略している。

一例として、判定する指定回数を４回として、波形取得からアクションが終了するまでに要する時間を示しているが、図３に示すように、本発明では取得、アクション等に要する時間が短縮されている。

なお、厳密には、図３（ａ）、（ｂ）のそれぞれにおいて、解析、判定、アクションを行なう判定データの個数が異なるので、図３（ａ）の時間ｔＢと、図３（ｂ）の時間ｔＢは異なるが、解析、判定、アクションのそれぞれを並列（例えば、ＣＰＵ６の各手段６ａ、６ｂが、ｉ番目の判定データの解析、判定をしつつ、アクション手段７が、（ｉ−１）番目の判定データのアクションをする）して動作するので、処理する判定データの個数が増加しても時間ｔＢが著しく増加することはない。従って、図３（ａ）、（ｂ）ともに同じ時間ｔＢとしている。

また、メモリ９に格納できる判定データ数よりも指定回数が大きい場合、メモリ９の容量一杯に判定データを格納すると、メモリコントローラ１０が、新たな波形の蓄積を一旦とめて、ＣＰＵ６に通知を行なう。そして、メモリコントローラ１０は、メモリ９の全ての波形の読み出しおよび解析手段６ａへの出力が終了すると、再度判定データのメモリ９への格納を始め、指定回数まで同様に繰り返す。

このように、メモリコントローラ１０が、指定回数分の複数個の判定データをメモリ９に格納する。そして、指定回数分の判定データが格納されてから、判定手段６ｂが、メモリ９に格納された判定データの判定を行なうので、波形の取り込み速度は、解析手段６ａ、判定手段６ｂの処理能力に影響されない。いわゆる測定のデットタイムを抑えることができる。これにより、高速なサンプリング速度をもつＡＤ変換器１の性能を有効に用いることができ、異常波形を確実に捕捉することができる。

また、解析手段６ａ、判定手段６ｂが、メモリ９の判定データをまとめて処理するので、図９に示す装置よりも、指定された回数の判定を高速に行なうこともできる。

［第２の実施例］
図４は、本発明の第２の実施例を示した構成図である。ここで、図１と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。図４は、蓄積メモリ９に格納できる判定データの個数より、判定を行なう指定回数が多い場合でも、異常波形を確実に補足できる装置の一例を示している。図４において、蓄積メモリ１１が新たに設けられる。メモリコントローラ１０の代わりにメモリコントローラ１２が設けられる。

蓄積メモリ１１は、第２の判定データ記憶部であり、メモリ９と同様に、ＡＤ変換器１からの所定のサンプリング速度でサンプリングされたデジタルデータのうち、所定のデータ長のデジタルデータを一単位とする波形データを複数個格納する。また、メモリ１１は、画像処理手段２で生成された画像データを複数個格納する。

メモリコントローラ１２は、ＡＤ変換器１からの波形データ、画像処理手段２からの画像データをメモリ９、１１に書き込む。また、メモリコントローラ１２は、ＣＰＵ６からの要求に従って波形データ、画像データをメモリ９、１１から読み出してＣＰＵ６に出力したり、読み出した波形データ、画像データを画像処理手段２に出力する。なお、メモリコントローラ１２は、一方のメモリに判定データを書き込みつつ、他方のメモリから判定データを読み出すことができる。

このような装置の動作を説明する。図５は、図１に示す装置の動作を説明したフローチャートである。図１に示す装置と異なる動作を主に説明する。
まず、判定を行なう指定回数が、メモリ９（またはメモリ１１）に格納できる判定データの個数よりも少ない場合から説明する。ＡＤ変換器１が、被測定波形をデジタルデータに変換し、波形データを画像処理手段２、メモリコントローラ１２に出力する。そして、画像処理手段２が、生成した画像データをメモリコントローラ１２に出力したり、表示部３に波形表示する（Ｓ２０）。

そして、メモリコントローラ１２が、波形データおよび画像データをメモリ９の所定の領域に書きこむ。これにより、波形データおよび画像データそれぞれが１個ずつメモリ９に格納される（Ｓ２１）。

さらに、メモリコントローラ１２が、メモリ９の空き容量、すなわち、次に取得する波形データおよび画像データを書き込む容量があるかを確認し（Ｓ３０）、容量が不足していなければ、波形データおよび画像データそれぞれが指定回数（例えば、ｎ個）分格納したかを判断し、取得していなければ再度ＡＤ変換器１によって新たに取得された波形データおよび画像データをメモリ９の所定の領域に書き込む（Ｓ２２，Ｓ２０、Ｓ２１、Ｓ３０）。一方、波形データおよび画像データそれぞれがｎ個ずつメモリ９に格納されると、メモリコントローラ１２が、指定回数分の判定データが格納したことをＣＰＵ６に通知し、次の処理に移る（Ｓ２２、Ｓ３２）。

そして、ＣＰＵ６の解析手段６ａが、設定されたパラメータで解析を行なうために、メモリコントローラ１２に波形データまたは画像データを要求する。この要求に従って、メモリコントローラ１２が、メモリ９から波形データまたは画像データを読み出して、解析手段６ａに出力する（Ｓ３２）。これ以降の動作は、図１に示す装置と同様なので説明を省略する。

次に、判定を行なう指定回数が、蓄積メモリ９（またはメモリ１１）に格納できる判定データの個数よりも多い場合を説明する。ここで、メモリコントローラ１２が、先にメモリ９から判定データを格納する例で説明する。もちろん、先にメモリ１１から格納を開始してもよい。

ＡＤ変換器１が、被測定波形をデジタルデータに変換し、波形データを画像処理手段２、メモリコントローラ１２に出力する。そして、画像処理手段２が、生成した画像データをメモリコントローラ１２に出力したり、表示部３に波形表示する（Ｓ２０）。

そして、メモリコントローラ１２が、波形データおよび画像データをメモリ９の所定の領域に書きこむ（Ｓ２１）。

さらに、メモリコントローラ１２が、メモリ９の空き容量、すなわち、次に取得する波形データおよび画像データを書き込む容量があるかを確認し（Ｓ３０）、容量が不足していなければ、波形データおよび画像データそれぞれが指定回数（例えば、ｎ個）分格納したかを判断し、取得していなければ再度ＡＤ変換器１によって新たに取得された波形データおよび画像データをメモリ９の所定の領域に書き込む（Ｓ２２，Ｓ２０、Ｓ２１、Ｓ３０）。

容量が不足している場合、メモリコントローラ１２が、判定データの格納先をメモリ９からメモリ１１に切り替え、メモリ９の容量一杯に判定データを格納したことをＣＰＵ６に通知する（Ｓ３０，Ｓ３１）。そして、メモリコントローラ１２が、波形データおよび画像データそれぞれを指定回数（例えば、ｎ個）分格納したかを判断し、取得していなければ再度ＡＤ変換器１によって新たに取得された波形データおよび画像データを、切り替え先のメモリ１１の所定の領域に書き込む（Ｓ２２，Ｓ２０、Ｓ２１、Ｓ３０）。このように、片方のメモリ９（またはメモリ１１）の容量が一杯になると、格納先をメモリ１１（またはメモリ９）に切り替え、指定回数分の判定データを取得していく。

一方、ＣＰＵ６の解析手段６ａが、片方のメモリ９が一杯になったことの通知を受けると、設定されたパラメータで解析を行なうために、メモリコントローラ１２に波形データまたは画像データを要求する。この要求に従って、メモリコントローラ１２が、格納が一旦終了し、未判定の判定データ格納されているメモリ９から波形データまたは画像データを順次読み出して、解析手段６ａに出力する（Ｓ３２）。

つまり、メモリコントローラ１２が、指定回数分の判定データを取得するまで、一方のメモリ９（またはメモリ１１）に判定データを書き込みつつ、他方のメモリ１１（メモリ９）からデータを読み出して、ＣＰＵ６の解析手段６ａに出力する。

また、指定回数分の判定データが格納されたことを通知されると、メモリコントローラ１２が、未判定の判定データ格納されているメモリ９（またはメモリ１１）から波形データまたは画像データを順次読み出して、解析手段６ａに出力する（Ｓ３２）。なお、解析手段６ａが解析を行なう以降の動作は、図１に示す装置と同様なので説明を省略する。

ここで、図６は、図４に示す装置と図１に示す装置で、被測定波形を測定し、Ｇｏ／ＮｏＧｏ判定、アクション等を行なった場合の例を示している。横軸は時間である。図６（ａ）は、図１に示す装置の一例であり、図６（ｂ）は、図４に示す装置の一例である。ここで、図３と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。また、時間ｔＣは、メモリコントローラ１２が、格納先のメモリ９、１１を切り替えるのに要する時間であり、時間ｔＤは、メモリ９（または、メモリ）１１の容量一杯に波形を格納するのに要する時間である。メモリ９、１１は、同じ容量とし、それぞれ４個の判定データが格納できる場合を一例として図示している。もちろん、メモリ９、１１の容量はどのようなものでもよい。

図６に示すように、図１に示す装置では、４個分の波形データがメモリ９に格納されて空き容量がなくなると、メモリコントローラ１０が、メモリ９への判定データの蓄積を一旦中止する。そして、解析手段６ａ、判定手段６ｂ、アクション手段７が、４個分を組とする判定データをまとめて処理する。そして、１組目の処理が終了すると、次の組の波形取得を開始する。

一方、図４に示す装置では、メモリコントローラ１２が、一方のメモリ１１に判定データを格納しつつ、他方のメモリ９から判定データを読み出して解析手段６ａに出力する。従って、（時間ｔＤ＞時間ｔＢ）であれば、ｉ組目の波形取り込みから、（ｉ＋１）組目の波形の取り込みまでに発生するデットタイムは、メモリ９、１１の切り替え時間ｔＣの短時間で終了する。

このように、メモリコントローラ１２が、指定回数分の判定データを取得するまで、一方のメモリ９（またはメモリ１１）に取得した判定データの書き込みを行いながら、他方のメモリ１１（メモリ９）から未判定の判定データを読み出し、解析手段６ａ、判定手段６ｂ、アクション手段７に処理を行なわせるので、波形の取得と、解析・判定・アクションとを非同期に動作させることができる。これにより、蓄積メモリ９、１１に格納できる判定データの個数より、判定を行なう指定回数が多い場合でも、異常波形を確実に補足できる。また、図１に示す装置よりも、指定された回数の判定を高速に行なうこともできる。

［第３の実施例］
図７は、本発明の第３の実施例を示した構成図である。ここで、図４と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。図７は、アクション手段７が、時間のかかるアクションを行なう場合でも、異常波形を確実に補足できる装置の一例を示している。例えば、図４に示す解析手段６ａ、判定手段６ｂ、アクション手段７のうち、解析手段６ａ、判定手段６ｂの処理が終了し、判定結果をアクション手段７に出力しても、アクション手段７が前回のアクションを終了するまで、次の判定結果をアクション手段７に出力することができない。そこで、このような場合でも、異常波形を確実に補足できる装置の一例である。

図７において、ＣＰＵ６とアクション手段７との間に、一時保存バッファ１３、１４、バッファ入出力部１５が新たに設けられる。バッファ１３、１４は、第１、第２のアクションデータ記憶部であり、判定手段６ｂにて、ＮｏＧｏと判定された判定データを格納する。ここで、アクションデータとは、判定手段６ｂがＮｏＧｏと判定した判定データを指す。

バッファ入出力部１５は、判定手段６ｂからアクションデータが入力され、バッファ１３、１４にアクションデータをキャッシュする。また、バッファ入出力部１５は、バッファ１３、１４からアクションデータを読み出し、アクション手段７に出力する。

このような装置の動作を説明する。図８は、図７に示す装置の動作を説明したフローチャートである。図４に示す装置と異なる動作を主に説明する。ここで、バッファ入出力部１５が、先にバッファ１３からアクションデータを格納する例で説明する。もちろん、先にバッファ１４から格納を開始してもよい。

判定手段６ｂが、パラメータ解析結果のＧｏ／ＮｏＧｏを判定するまでの動作（Ｓ２５）は、図４に示す装置と同じであり、Ｇｏと判定した場合の動作（Ｓ２７，Ｓ２８）も同じである。一方、ＮｏＧｏの場合は、判定手段６ｂが、アクションデータをバッファ入出力部１５に出力して、バッファ入出力部１５にアクションデータをバッファ１３に書き込ませると共に、判定結果を画像処理手段２を介して表示部３に表示させる（Ｓ２５、Ｓ４０、Ｓ２７）。

そして、バッファ入出力部１５が、バッファ１３にアクションデータを書き込んだ後（Ｓ４０）、バッファ１３の空き容量、すなわち、次に入力されるアクションデータを書き込む容量があるかを確認し、容量が不足していなければ、判定手段６ｂからの次のアクションデータを前回と同じバッファ１３に書き込む（Ｓ４１、Ｓ４０）

また、バッファ入出力部１５が、バッファ１３の空き容量、すなわち、次に入力されるアクションデータを書き込む容量があるかを確認し、容量が不足していれば、次から入力されるアクションデータの格納先をバッファ１３からバッファ１４に切り替えると共に、容量が一杯になったバッファ１３の全アクションデータを順次読み出しアクション手段７に出力する（Ｓ４１，Ｓ４２）

そして、アクション手段７が、バッファ入出力部１５からのアクションデータをまとめて指定されたアクションで実行する。例えば、ハードディスク８ａにファイルを保存する場合、プリンタ８ｂにプリントさせる場合、通信部８ｃを介してファイル送信する場合等のアクションでは、１波形ずつ出力部８に出力するよりも、まとめて出力した場合の方が、実行転送レートが向上し、アクション時間を大幅に短縮することができる（Ｓ４３）。

なお、図８には図示していないが、指定回数の判定が終了した場合（Ｓ２８）、判定手段６が、判定の終了したことをバッファ入出力部１５に通知し、バッファ入力出力部１５が、アクションを行なっていないアクションデータをバッファ１３、１４から全て読み出してアクション手段７に出力して処理させる。

このように、バッファ入出力部１５が、一方のバッファ１３（またはバッファ１４）の容量が一杯になるまでアクションデータの書き込みを行なう。そして、一方のバッファ１３（またはバッファ１４）の容量一杯までアクションデータを書き込むと、書き込み先を他方のバッファ１４（またはバッファ１３）に切り替えてアクションデータの書き込みを行いながら、一方のバッファ１３（またはバッファ１４）からアクションデータを読み出し、アクション手段７にまとめてアクションを実行させるので、解析・判定と、アクションと、を非同期に動作させることができる。これにより、時間のかかるアクションであっても、異常波形を確実に補足できる。また、図４に示す装置のように、アクションの終了まで、解析・判定を待たす必要がなくなるので、図４に示す装置よりも、指定された回数の判定を高速に行なうこともできる。

例えば、図７に示す装置にて、所定の指定回数でメモリ９、１１に波形データを格納し、解析（解析に要する時間は、アクションに比べて無視できる時間）・判定を行なって、アクション手段７が、ハードディスク８ａにバイナリ形式のファイルに変換してセーブした場合、図９に示す装置よりも１／１０程度の時間で解析・判定およびアクションを実行することができた。

なお、蓄積メモリ９、１１に格納する判定データの数と、バッファ１３、１４にキャッシュするアクションデータの数とを調整（例えば、バッファの容量をメモリの容量よりも大きくする）することで、一方のメモリ９（またはメモリ１１）の容量が一杯になる波形の取り込み時間ｔＤと解析、判定、アクションの時間ｔＢとを（時間ｔＤ＞時間ｔＢ）にすることができる。これにより、アクションに非常に時間のかかる場合でも、ｉ組目の波形取り込みから、（ｉ＋１）組目の波形の取り込みまでに発生するデットタイムは、メモリ９、１１の切り替え時間ｔＣの短時間で終了する。

なお、本発明はこれに限定されるものではなく、以下に示すようなものでもよい。
図１、図４、図７に示す装置において、解析手段６ａ、６ｂをＣＰＵ６の中に設ける構成を示したが、ＣＰＵ６とは別に設けてもよい。

図１、図４、図７に示す装置において、メモリ９、１１に波形データおよび画像データの両方を記憶させる構成を示したが、いずれか一方でもよい。

図１、図４に示す装置において、図７に示す装置のようにバッファ１３、１４をＣＰＵ６とアクション手段７との間に設けてもよい。

図４に示す装置において、メモリ９、１１は何個設けてもよく、図７に示す装置において、バッファは１個または複数個設けてもよい。

図１、図４に示す装置において、アクション手段７は、ＣＰＵ６、メモリコントローラ１０、１２を介して判定データが入力される構成を示したが、ＣＰＵ６を介さず、メモリコントローラ５から波形データ、画像データを入力するようにしてもよい。また、図７に示す装置において、バッファ入出力部１５は、メモリコントローラ５からＮｏＧｏ判定となった波形データ、画像データを入力するようにしてもよい。

本発明の第１の実施例を示した構成図である。 図１に示す装置の動作を説明したフローチャートである。 図９に示す装置と図１に示す装置で、被測定波形を測定し、Ｇｏ／ＮｏＧｏ判定、アクション等を行なった動作の一例を示した図である。 本発明の第２の実施例を示した構成図である。 図２に示す装置の動作を説明したフローチャートである。 図１に示す装置と図４に示す装置で、被測定波形を測定し、Ｇｏ／ＮｏＧｏ判定、アクション等を行なった動作の一例を示した図である。 本発明の第３の実施例を示した構成図である。 図３に示す装置の動作を説明したフローチャートである。 従来の波形測定装置の構成を示した図である。 図９に示す装置の動作を説明したフローチャートである。

符号の説明

６ｂ 判定手段
７ アクション手段
９、１１ 蓄積メモリ
１０、１２ メモリコントローラ
１３、１４ 一時記憶バッファ
１５ バッファ入出力部

Claims (4)

1. 被測定波形を測定した所定のデータ長の波形データまたは前記波形データを変換した画像データの少なくとも一方を含む判定データに基づいて、測定した波形が判定条件に合っているか否かを判定する判定手段を備えた波形測定装置において、
   前記判定データを複数個記憶する判定データ記憶部と、
   この判定データ記憶部に前記判定データの読み書きを行なうメモリコントローラと
   を設け、メモリコントローラは、前記判定データを前記判定データ記憶部に複数個記憶させた後、前記判定データを順次読み出して前記判定手段に判定させ、
   判定データを複数個格納するアクションデータ記憶部と、
   このアクションデータ記憶部に前記判定手段が不合格と判定した判定データの読み書きを行なう入出力部と
   を設け、入出力部は、前記判定手段が不合格と判定した判定データを前記アクションデータ記憶部に複数個記憶させた後、記憶させた前記判定データを順次読み出してアクション手段に処理を実行させることを特徴とする波形測定装置。
2. 前記判定データ記憶部を複数個設け、
   メモリコントローラは、前記判定データを書き込み中の判定データ記憶部の空き容量が所定量より減ると他の判定データ記憶部に書き込み先を切り替えると共に、前記空き容量が所定量になった判定データ記憶部から判定データを順次読み出して前記判定手段に判定させることを特徴とする請求項１記載の波形測定装置。
3. 判定結果に基づいて、前記判定手段が判定した判定データを用いて所定の処理を実行するアクション手段を設けたことを特徴とする請求項１または２記載の波形測定装置。
4. 前記アクションデータ記憶部を複数個設け、
   入出力部は、前記判定データを書き込み中のアクションデータ記憶部の空き容量が所定量より減ると他のアクションデータ記憶部に書き込み先を切り替えると共に、前記空き容量が所定量になったアクションデータ記憶部から判定データを順次読み出して前記アクション手段に処理を実行させることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の波形測定装置。

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