JP4754039B2 - 電子部品オーバーコート材 - Google Patents
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Description
【技術分野】
本発明は、電子部品オーバーコート材に関し、さらに詳しくは、機械的特性、電気的特性、耐熱性、低吸水性(耐湿性)、耐薬品性に優れた電子部品オーバーコート材に関する。
【0002】
また、本発明は、このような電子部品オーバーコート材によりオーバーコートされた電子部品パッケージに関する。
【0003】
【背景技術】
近年、高度情報化社会の急激な進展に伴い、コンピューターや通信機器などの情報処理機器の処理能力の向上、即ち高速化が迫られている。また、情報通信網の発達に伴い、その通信波長領域の拡大が必要となり、特にGHz(ギガヘルツ)の高周波領域の通信波長で作動する通信機器の開発が急がれている。
【0004】
こうした要求に応えて、情報処理速度の高速化、通信波長領域の高周波化を達成するために、例えば、情報処理機器に使用される半導体チップなどの電子部品の作動周波数が、従来の100MHz程度から400MHz以上へと高速化し、また、通信機器に使用される波長領域も、従来の十数GHzから50GHz以上へと超高周波化されている。
【0005】
これらの電子部品は、小型化・高速化を実現するための高密度化や、高周波化の状態で十分な性能を引き出すために、より高度の信頼性が要求される。したがって、これらの電子部品に使用されている封止材料やオーバーコート材などの各種保護材料についても、高度の信頼性が要求されるようになっている。
【0006】
より具体的に、電子部品封止材料やオーバーコート材には、特に機械強度、耐熱性、低吸湿性、誘電特性、低不純物性などが、顕著かつ総合的に向上することが望まれている。そのための研究開発も数多くなされている。
【0007】
従来、コンピューターの中央演算処理装置やメモリなどに代表される半導体素子などの電子部品の封止材料として、クレゾールノボラック型のエポキシ樹脂を主成分とした封止材が広く使用されている。しかし、この封止材を用いて製造した電子部品は、回路基板への実装時のハンダリフローの際に、吸湿したエポキシ樹脂封止材中の水分が、ハンダの高温によって気化、発泡するといった問題があった。また、エポキシ樹脂封止材は、機械強度及び耐熱性が不足するため、上記発泡の影響により封止部と電子素子との界面にクラックが発生して、部品の信頼性を損なうことが大きな問題となっていた。
【0008】
このような状況のなかで、耐熱性、低吸湿性、誘電特性、低不純物性に優れる熱可塑性ノルボルネン系樹脂を用いて、半導体素子や光素子などを封止する技術が研究されている。例えば、特開昭62−27412号公報には、テトラシクロドデセンとエチレンとの付加型共重合体をアリルグリシジルエーテルや無水マレイン酸によってグラフト変性させた変性物を用いる方法が提案されている。特開平6−188336号公報及び特開平7−18161号公報には、メチルメトキシカルボニルテトラシクロドデセンの開環重合体によって、光半導体素子を封止する方法が開示されている。しかしこれらの封止法に使用されている熱可塑性ノルボルネン系樹脂は、熱可塑性であり、かつ熱変形温度が高くないため、封止された電子部品を回路基板上に表面実装する際のハンダリフロー温度(230℃以上)で変形してしまったり、3次元架橋(硬化)していないため、熱膨張係数が大きく、半導体チップと封止材との間の線膨張係数の差の影響によって、ヒートサイクル試験などでパッケージクラックが発生するといった問題点があった。
【0009】
特開平6−318651号公報には、熱可塑性ノルボルネン系樹脂を不飽和シランとラジカル発生剤の存在下で反応させて変性した後に、ジブチル錫ラウレートなどのシラノール縮合触媒を配合した架橋性熱可塑性ノルボルネン系樹脂によって、電子素子を封止し、100℃の熱水で2時間処理して架橋させる技術が開示されている。しかしながら、この架橋反応は、水分のコントロールが困難であり、その結果、架橋密度が十分上がらないという問題があった。しかも、この方法は、熱水処理によって、電子素子の腐食が促進されるといった問題があった。
【0010】
一方、コンピューターの中央演算処理装置やメモリなどに代表される半導体素子などの電子部品のオーバーコート材の1つとして、バッファーコート膜やパッシベーション膜がある。これらのオーバーコート膜を形成するには、従来よりポリイミド樹脂を主成分とした材料が使用されている。しかし、従来のオーバーコート材は、耐薬品性や低吸湿性が不十分であるために、さらにエポキシ樹脂を主成分とした保護膜にて、二重に保護している。
【0011】
熱可塑性ノルボルネン系樹脂をペルオキシドなどの有機過酸化物によって架橋させて、回路基板に利用する技術(特開平6−248164号公報)、極性基を導入した熱可塑性ノルボルネン系樹脂を芳香族系ビスアジド化合物や光アミン発生剤などの光硬化剤を用いて硬化させて、回路基板の層間絶縁膜に使用する技術(特開平8−259784号公報)も提案されている。しかし、これらの材料を封止材料として使用することは提案されていない。また、これらの材料は、そのまま封止材料として使用したのでは、封止部のクラックの発生等を効果的に防ぐことが困難である。さらに、これらの材料の多くは、オーバーコート膜としての耐熱性が十分ではない。
【0012】
従来、熱硬化性ポリフェニレンエーテル樹脂を電子部品のオーバーコート材として使用する方法が数多く提案されている。しかし、この樹脂は、特に酸やアルカリなどに対する耐加水分解性については、エポキシ樹脂よりも優れているものの十分ではなく、単独では使用が困難であるといった問題があった。
【0013】
【発明の開示】
本発明の目的は、耐薬品性、耐湿性、耐熱性、機械強度、電気特性などのバランスに優れ、特に耐熱性が顕著に改善されたオーバーコート材を提供することにある。
【0014】
本発明者らは、前記課題を解決すべく鋭意研究を重ねた結果、数平均分子量1,000〜500,000の環状オレフィン系重合体と、硬化剤(水架橋系硬化剤を除く)とを含有する硬化性樹脂組成物からなる電子部品オーバーコート材に想到した。
【0015】
この環状オレフィン系重合体は、硬化剤で架橋させることにより架橋密度が十分向上して、機械強度及び耐熱性が大幅に向上し、ヒートサイクルやプレッシャークッカー等の信頼性試験や実装時のクラックの発生が大幅に低減できることを見いだした。この硬化性樹脂組成物は、3次元的に架橋することができるため、ガラス転移温度が同等の熱可塑性樹脂に比べて、耐熱性及び機械的物性が顕著に向上する。しかも、環状オレフィン系重合体として、高いガラス転移温度を有するポリマーを使用すれば、さらなる耐熱性の改善を図ることができる。
【0016】
本発明によれば、硬化性樹脂組成物からなる電子部品オーバーコート材であって、
(1)該硬化性樹脂組成物が、(a)環状オレフィン系単量体由来の繰返し単位、または環状オレフィン系単量体由来の繰返し単位と該環状オレフィン系単量体と共重合可能な不飽和単量体由来の繰返し単位とを有し、数平均分子量1,000〜500,000、ガラス転移温度160℃以上の環状オレフィン系重合体(A)と、(b)有機過酸化物、熱により効果を発揮する硬化剤、及び光により効果を発揮する硬化剤からなる群より選ばれた少なくとも一種の硬化剤(B)とを含有し、
(2)該環状オレフィン系重合体(A)が、エポキシ基である極性基を有する極性基含有環状オレフィン系重合体であり、かつ
(3)該極性基含有環状オレフィン系重合体が、(i)環状オレフィン系重合体に、極性基含有不飽和化合物をグラフト反応によって付加させて得た極性基含有環状オレフィン系重合体、(ii)環状オレフィン系重合体中の炭素−炭素不飽和結合に、直接極性基を導入させて得た極性基含有環状オレフィン系重合体、及び(iii)環状オレフィン系重合体中に、極性基を有する環状オレフィン系単量体を共重合させて得た極性基含有環状オレフィン系重合体からなる群より選ばれる極性基含有環状オレフィン系重合体である
電子部品オーバーコート材が提供される。
【0017】
本発明のオーバーコート材は、使用する硬化性樹脂組成物の各成分、特に環状オレフィン系重合体の種類や物性を制御することにより、それぞれの用途に適した高度の特性を付与することが可能である。
【0018】
また、本発明によれば、このような優れた諸特性を有するオーバーコート材により、電子部品がオーバーコートされた電子部品パッケージが提供される。
本発明は、これらの知見に基づいて、完成するに至ったものである。
【0019】
【発明を実施するための最良の形態】
本発明の電子部品保護材料は、数平均分子量1,000〜500,000の環状オレフィン系重合体と硬化剤とを含有する硬化性樹脂組成物から構成される。電子部品保護材料としては、電子部品封止材料、及び電子部品オーバーコート材が代表的なものであるが、本発明では、オーバーコート材として使用する。
【0020】
本発明における電子部品オーバーコート材とは、
(1)半導体ベアチップ上の微細配線の保護〔素子(半導体)と外的要因のクッション材、例えば線膨張率の違いによって生じるストレスの吸収〕や封止材に含まれるフィラーの放出するα線を遮蔽する目的で使用されるバッファーコート膜、
(2)素子表面(特に配線)の保護膜(例えば、外的汚染物質(有機物、酸、アルカリ、水)、フィラー接触等からの保護)としてのパッシベーション膜、
(3)前記バッファーコート膜またはパッシベーション膜の形成された半導体チップや半導体パッケージなどを、さらに封止材や外気から保護する保護膜などとして使用することができる。
【0021】
従来は上記(1)〜(3)のオーバーコート材は、各々最適な材料を2種類以上組み合わせて使用していたが、本発明のオーバーコート材は、これら(1)〜(3)全ての機能を有し、1種類の材料によって代用可能な新規なオーバーコート材のことである。
【0022】
〔環状オレフィン系重合体〕
本発明で用いる環状オレフィン系重合体は、重合体の全繰返し単位中に、環状オレフィン系単量体由来の繰返し単位を含有するものである。環状オレフィン系単量体としては、例えば、ノルボルネン環を有する脂環族系単量体、単環の環状オレフィン、環状共役ジエンなどが挙げられる。これらの環状オレフィン系単量体は、それぞれ単独で、あるいは2種以上を組み合わせて使用することができ、さらには、共重合可能な他の単量体と共重合させることができる。環状オレフィン系単量体由来の繰返し単位は、環状オレフィン系単量体の繰返し単位だけではなく、該繰返し単位が変性されたものをも包含する。変性としては、水素添加反応や極性基含有不飽和化合物によるグラフト変性反応などが挙げられる。
【0023】
環状オレフィン系単量体の結合様式は、主鎖中に環状構造を導入し得るものであれば特に限定されず、付加重合及び開環重合のいずれであってもよい。環状オレフィン系重合体としては、例えば、
(1)ノルボルネン、エチリデンノルボルネン、ジシクロペンタジエン、テトラシクロドデセンなどのノルボルネン環を有する脂環族系単量体の炭素−炭素不飽和結合を付加重合した付加重合体、
(2)ノルボルネン環を有する脂環族系単量体と、α−オレフィンなどの不飽和単量体とを付加共重合した付加共重合体、
(3)シクロペンテン、シクロヘキセンなどの単環の環状オレフィンの炭素−炭素不飽和結合を付加重合した付加重合体、
(4)シクロヘキサジエンなどの環状共役ジエンを1,4−付加重合した付加重合体、
(5)ノルボルネン環を有する脂環族系単量体を開環重合させた開環重合体、及び
(6)これらの水素添加物
などが挙げられる。
【0024】
本発明で使用する環状オレフィン系重合体は、機械的特性、電気的特性、低吸水性が良好で、しかも耐熱性に優れていることが好ましい。これらの諸特性に優れている点で、環状オレフィン系重合体としては、熱可塑性ノルボルネン系樹脂が好ましく、特に、ノルボルネン環を有する脂環族系単量体(すなわち、ノルボルネン系モノマー)を主成分とする付加(共)重合体、及びノルボルネン系モノマーの開環重合体の水素添加物などの熱可塑性飽和ノルボルネン系樹脂が好ましい。また、耐熱性などの諸特性に優れている点で、1,3−シクロヘキサジエンなどの環状共役ジエンの1,4−付加型重合体の水素添加物も好ましい。
【0025】
環状オレフィン系重合体中の環状オレフィン系単量体由来の繰返し単位の割合は、コモノマーの種類や所望の物性によって適宜定めることができるが、重合体の全繰返し単位を基準として、通常30モル%以上であることが、機械的特性、電気的特性、低吸水性、耐熱性などの観点から望ましい。環状オレフィン系重合体中の環状オレフィン系単量体由来の繰返し単位は、高度の耐熱性の観点から、好ましくは50モル%以上、より好ましくは70モル%以上、最も好ましくは80モル%以上である。特に、環状オレフィン系重合体をオーバーコート材として使用する場合には、環状オレフィン系重合体中の環状オレフィン系単量体由来の繰返し単位は、50モル%以上であることが好ましい。この上限は、100モル%である。
【0026】
環状オレフィン系重合体は、示差走査熱量計(DSC)で測定したガラス転移温度(Tg)が、通常100℃以上、好ましくは120℃以上、より好ましくは140℃以上であるものが望ましい。環状オレフィン系重合体のTgが比較的低くても、硬化剤によって硬化することにより、封止材の用途などでは、多くの場合、必要な耐熱性を得ることが可能である。さらに高度の耐熱性が要求される場合には、環状オレフィン系重合体のTgは、通常150℃以上、好ましくは160℃以上、より好ましくは170℃以上であることが望ましい。本発明では、160℃以上である。特に、環状オレフィン系重合体をオーバーコート材として使用する場合には、Tgが160℃以上であることが好ましく、170℃以上であることがより好ましい。環状オレフィン系重合体は、高度の耐熱性が要求される場合、単量体の種類、重合方法、分子量、変性方法などを調整することにより、Tgが200℃以上、多くの場合250℃以上、さらには300℃以上のものを得ることができる。環状オレフィン系重合体のTgが高いことにより、該重合体を用いて電子部品の封止等の保護を行うと、耐熱性に優れた封止部や保護膜を形成することができ、電子部品の信頼性が大幅に向上する。
【0027】
本発明で使用する環状オレフィン系重合体の分子量は、ゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー(GPC)により測定したポリスチレン換算の数平均分子量(Mn)で表すと、1,000〜500,000、好ましくは3,000〜300,000、より好ましくは5,000〜250,000、最も好ましくは10,000〜200,000の範囲である。
【0028】
環状オレフィン系重合体の数平均分子量が過度に小さいと、封止部や保護膜の強度が低下して、クラック等が発生する原因となり、逆に数平均分子量が過度に大きいと、重合体の粘度が大きすぎて、成形性が悪くなり好ましくない。よって、数平均分子量が上記範囲にあると、封止部や保護膜の強度と、粘度及び加工性が適度にバランスされて特に好ましい。
【0029】
環状オレフィン系重合体は、金属配線等との密着性向上などを目的として極性基(官能基)を含有するのが好ましい。環状オレフィン系重合体に極性基を含有させる方法としては、環状オレフィン系重合体を変性する方法と、極性基を有する環状オレフィン系単量体を(共)重合する方法が挙げられる。
【0030】
〔環状オレフィン系単量体〕
環状オレフィン系重合体の主成分となる環状オレフィン系単量体は、炭素−炭素不飽和結合を有する環状の炭化水素化合物であれば特に限定はされないが、主なものには、(1)ノルボルネン環を有する脂環族系単量体(ノルボルネン系モノマー)、(2)単環の環状オレフィン系単量体、及び(3)環状共役ジエン系単量体が挙げられる。
【0031】
(1)ノルボルネン環を有する脂環族系単量体
ノルボルネン環を有する脂環族系単量体は、特開平5−320268号公報や特開平2−36224号公報などに記載されているノルボルネン環を有する脂環族系単量体である。これらのノルボルネン環を有する脂環族系単量体は、それぞれ単独で、あるいは2種以上を組み合わせて用いることができる。
【0032】
ノルボルネン環を有する脂環族系単量体としては、(a)ノルボルネン、テトラシクロドデセン、これらのアルキル置換体などの重合反応に関与する炭素−炭素不飽和結合以外の不飽和結合を持たない単量体、(b)エチリデンノルボルネン、ビニルノルボルネン、エチリデンテトラシクロドデセン、ジシクロペンタジエンなどの重合反応に関与する炭素−炭素不飽和結合以外の不飽和結合を持つ単量体、(c)ジメタノテトラヒドロフルオレン、フェニルノルボルネンなどの芳香環を持つ単量体、(d)メトキシカルボニルノルボルネン、メトキシカルボニルテトラシクロドデセンなどの極性基を有する単量体などを挙げることができる。より詳細には、以下の通りである。
【0033】
(a)重合反応に関与する炭素−炭素不飽和結合以外に不飽和結合を持たない単量体の具体例としては、例えば、ビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−メチルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−エチルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−ブチルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−ヘキシルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−デシルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、などのビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン誘導体(ノルボルネン類);テトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]ドデカ−3−エン、8−メチルテトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]ドデカ−3−エン、8−エチルテトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]ドデカ−3−エンなどのテトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]ドデカ−3−エン誘導体(テトラシクロドデセン類);トリシクロ[4.3.12,5.0]デカ−3−エン;5−シクロヘキシルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−シクロペンチルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エンなどの環状置換基を有するビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン誘導体、などが挙げられる。
【0034】
(b)重合反応に関与する炭素−炭素不飽和結合以外に不飽和結合を持つ単量体の具体例としては、例えば5−エチリデンビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−ビニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−プロペニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、などの環外に不飽和結合を持つビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン誘導体;8−メチリデンテトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]ドデカ−3−エン、8−エチリデンテトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]ドデカ−3−エン、8−ビニルテトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]ドデカ−3−エン、8−プロペニルテトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]ドデカ−3−エン、などの環外に不飽和結合を持つテトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]ドデカ−3−エン誘導体;トリシクロ[4.3.12,5.0]デカ−3,7−ジエン;5−シクロヘキセニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−シクロペンテニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エンなどの不飽和結合を持つ環状置換基を有するビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン誘導体、などが挙げられる。
【0035】
(c)芳香環を有する単量体の具体例としては、例えば、5−フェニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、テトラシクロ[6.5.12,5.01,6.08,13]トリデカ−3,8,10,12−テトラエン(1,4−メタノ−1,4,4a,9a−テトラヒドロフルオレンともいう)、テトラシクロ[6.6.12,5.01,6.08,13]テトラデカ−3,8,10,12−テトラエン(1,4−メタノ−1,4,4a,5,10,10a−ヘキサヒドロアントラセンともいう)、などが挙げられる。
【0036】
(d)極性基(官能基)を有する単量体の具体例としては、例えば、5−メトキシカルボニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−エトキシカルボニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−メチル−5−メトキシカルボニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−メチル−5−エトキシカルボニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、ビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エニル−2−メチルプロピオネイト、ビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エニル−2−メチルオクタネイト、ビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン−5,6−ジカルボン酸無水物、5−ヒドロキシメチルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5,6−ジ(ヒドロキシメチル)ビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−ヒドロキシ−i−プロピルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5,6−ジカルボキシビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、などの酸素原子を含む置換基を有するビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン誘導体;8−メトキシカルボニルテトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]ドデカ−3−エン、8−メチル−8−メトキシカルボニルテトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]ドデカ−3−エン、8−ヒドロキシメチルテトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]ドデカ−3−エン、8−カルボキシテトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]ドデカ−3−エン、などの酸素原子を含む置換基を有するテトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]ドデカ−3−エン誘導体;5−シアノビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、ビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン−5,6−ジカルボン酸イミドなどの窒素原子を含む置換基を有するビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン誘導体、などが挙げられる。
【0037】
なお、上記全てのノルボルネン環を有する脂環族系単量体に共通して、さらに炭素数4個以上のアルキル置換基を持つノルボルネン環を有する脂環族系単量体が挙げられる。
【0038】
(2)単環の環状オレフィン系単量体
単環の環状オレフィン系単量体は、炭素−炭素二重結合を環内に一つ有する環状化合物である。その具体例としては、シクロブテン、シクロペンテン、シクロヘキセン、シクロヘプテン、シクロオクテンなどを挙げることができる(特開昭64−66216号公報)。これらの単環の環状オレフィン系単量体は、それぞれ単独で、あるいは2種以上を組み合わせて用いることができる。
【0039】
(3)環状共役ジエン系単量体
環状共役ジエン系単量体は、環内に共役系炭素−炭素二重結合を有する環状化合物である。その具体例としては、1,3−シクロペンタジエン、1,3−シクロヘキサジエン、1,3−シクロヘプタジエン、1,3−シクロオクタジエンなどを挙げることができる(特開平7−258318号公報)。これらの環状共役ジエン系単量体は、それぞれ単独で、あるいは2種以上を組み合わせて用いることができる。
【0040】
環状オレフィン系単量体と共重合可能な不飽和単量体としては、エチレン、プロピレン、1−ブテン、4−メチル−1−ペンテンなどの炭素数2〜12からなるα−オレフィン類;スチレン、α−メチルスチレン、p−メチルスチレン、p−クロロスチレンなどのスチレン類;1,3−ブタジエン、イソプレンなどの鎖状共役ジエン;エチルビニルエーテル、イソブチルビニルエーテルなどのビニルエーテル類や一酸化炭素を挙げることができる。このような不飽和単量体としては、環状オレフィン系単量体と共重合が可能であるならば、特に上記のものに限定されるものではない。ノルボルネン環を有する脂環族系単量体とその他の不飽和単量体とを付加共重合させる場合には、その他の不飽和単量体として、前記のα−オレフィン類などのビニル化合物が好ましく、特にエチレンが好ましい。
【0041】
〔極性基含有環状オレフィン系重合体〕
環状オレフィン系重合体は、金属との密着性を向上させたり、感光性を付与させたり、硬化方法に多様性を持たせたり、架橋密度を上げたり、他の配合剤、樹脂等との相溶性を向上させたり、耐熱性を向上させる等の目的で、極性基(官能基)を含有していることが好ましい。
【0042】
極性基含有環状オレフィン系重合体の極性基とは、金属(半導体チップ、金属リードフレーム、ワイヤ、金属配線など)との密着性を向上させたり、硬化反応時に硬化点になる機能を有するような極性基であれば特に限定されず、例えば、エポキシ基、カルボキシル基、ヒドロキシル基、エステル基、シラノール基、アミノ基、ニトリル基、ハロゲン基、アシル基、スルホン基、カルボニル基、酸無水物基などが挙げられる。これらの極性基の中でも、(1)少ない変性率で、架橋密度や密着性の向上が可能である、(2)硬化剤の選択範囲が広い、(3)硬化速度の制御が容易であるなどの理由から、多価フェノールやアミン等の酸性硬化剤あるいは塩基性硬化剤と反応し得るような酸素原子含有の極性基、例えば、エポキシ基、酸無水物基、カルボキシル基、ヒドロキシル基、カルボニル基などが好ましく、特に、硬化後にヒドロキシル基またはカルボキシル基等の末端−OH基を生成する極性基、例えば、エポキシ基、酸無水物基等が好ましい。本発明では、エポキシ基を有する。
【0043】
極性基含有環状オレフィン系重合体は、環状オレフィン系重合体に、例えば、下記の3種類の方法によって、極性基を導入して得ることができる。
【0044】
(1)環状オレフィン系重合体に、極性基含有不飽和化合物をグラフト反応によって付加させる方法、
(2)環状オレフィン系重合体中の炭素−炭素不飽和結合に、直接極性基を導入する方法、
(3)環状オレフィン系重合体中に、極性基を含有する環状オレフィン系単量体を共重合させる方法。
【0045】
以下に、それぞれの極性基の導入方法の詳細を説明する。
【0046】
(1)極性基含有不飽和化合物のグラフト反応
極性基含有環状オレフィン系重合体は、環状オレフィン系重合体を、有機過酸化物の存在下に、極性基含有不飽和化合物と反応させることにより得ることができる。極性基含有不飽和化合物としては、特に限定されないが、少量で感光性の付与ができ、かつ、密着性が向上するので、エポキシ基含有不飽和化合物、カルボキシル基含有不飽和化合物、ヒドロキシル基含有不飽和化合物、シリル基含有不飽和化合物などが好ましい。
【0047】
エポキシ基含有不飽和化合物としては、例えば、グリシジルアクリレート、グリシジルメタクリレート、p−スチリルカルボン酸グリシジル等の不飽和カルボン酸のグリシジルエステル類;エンド−シス−ビシクロ[2,2,1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボン酸、エンド−シス−ビシクロ[2,2,1]ヘプト−5−エン−2−メチル−2,3−ジカルボン酸等の不飽和ポリカルボン酸のモノグリシジルエステルあるいはポリグリシジルエステル類;アリルグリシジルエーテル、2−メチルアリルグリシジルエーテル、o−アリルフェノールのグリシジルエーテル、m−アリルフェノールのグリシジルエーテル、p−アリルフェノールのグリシジルエーテル等の不飽和グリシジルエーテル類;2−(o−ビニルフェニル)エチレンオキシド、2−(p−ビニルフェニル)エチレンオキシド、2−(o−アリルフェニル)エチレンオキシド、2−(p−アリルフェニル)エチレンオキシド、2−(o−ビニルフェニル)プロピレンオキシド、2−(p−ビニルフェニル)プロピレンオキシド、2−(o−アリルフェニル)プロピレンオキシド、2−(p−アリルフェニル)プロピレンオキシド、p−グリシジルスチレン、3,4−エポキシ−1−ブテン、3,4−エポキシ−3−メチル−1−ブテン、3,4−エポキシ−1−ペンテン、3,4−エポキシ−3−メチル−1−ペンテン、5,6−エポキシ−1−ヘキセン、ビニルシクロヘキセンモノオキシド、アリル−2,3−エポキシシクロペンチルエーテルなどが挙げられる。これらの中でも、特に高い反応率で該エポキシ基含有不飽和化合物がグラフト付加できるという点で、アリルグリシジルエステル類及びアリルグリシジルエーテル類が好ましく、アリルグリシジルエーテル類が特に好ましい。これらのエポキシ基含有不飽和化合物は、それぞれ単独で、あるいは2種以上を組み合わせて用いることができる。
【0048】
カルボキシル基含有不飽和化合物としては、特開平5−271356号公報に記載の化合物などが挙げられ、例えば、アクリル酸、メタクリル酸、α−エチルアクリル酸等の不飽和カルホン酸;マレイン酸、フマール酸、イタコン酸、エンドシス−ビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボン酸、メチル−エンドシス−ビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボン酸等の不飽和ジカルボン酸などが挙げられる。また、カルボキシ基含有不飽和化合物には、不飽和カルボン酸誘導体も含まれる。不飽和カルボン酸誘導体としては、例えば、不飽和カルボン酸の酸無水物、エステル、酸ハライド、アミド、イミドなどが挙げられ、具体的には、無水マレイン酸、クロロ無水マレイン酸、ブテニル無水コハク酸、テトラヒドロ無水フタル酸、無水シトラコン酸などの酸無水物;マレイン酸モノメチル、マレイン酸ジメチル、グリシジルマレエートなどのエステル:塩化マレニル、マレイミドなどが挙げられる。これらの中では、上記理由により、不飽和ジカルボン酸またはその酸無水物が好ましく、中でも無水マレイン酸やイタコン酸などの酸無水物が特に好ましい。
【0049】
ヒドロキシル基含有不飽和化合物としては、例えば、アリルアルコール、2−アリル−6−メトキシフェノール、4−アリロキシ−2−ヒドロキシベンゾフェノン、3−アリロキシ−1,2−プロパンジオール、2−アリルジフェノール、3−ブテン−1−オール、4−ペンテン−1−オール、5−ヘキセン−1−オールなどか挙げられる。
【0050】
シリル基含有不飽和化合物としては、例えば、クロロジメチルビニルシラン、トリメチルシリルアセチレン、5−トリメチルシリル−1,3−シクロペンタジエン、3−トリメチルシリルアリルアルコール、トリメチルシリルメタクリレート、1−トリメチルシリロキシ−1,3−ブタジエン、1−トリメチルシリロキシ−シクロペンテン、2−トリメチルシリロキシエチルメタクリレート、2−トリメチルシリロキシフラン、2−トリメチルシリロキシプロペン、アリロキシ−t−ブチルジメチルシラン、アリロキシトリメチルシランなどが挙げられる。
【0051】
有機過酸化物としては、例えば、有機ペルオキシド、有機ペルエステルなどが好ましく使用される。このような有機過酸化物の具体例としては、ベンゾイルペルオキシド、ジクロロベンゾイルペルオキシド、ジクミルペルオキシド、ジ−tert−ブチルペルオキシド、2,5−ジメチル−2,5−ジ(ペルオキシドベンゾエート)ヘキシン−3、1,4−ビス(tert−ブチルペルオキシイソプロピル)ベンゼン、ラウロイルペルオキシド、tert−ブチルペルアセテート、2,5−ジメチル−2,5−ジ(tert−ブチルペルオキシ)ヘキシン−3、2,5−ジメチル−2,5−ジ(tert−ブチルペルオキシ)ヘキサン、tert−ブナルペルベンゾエート、tert−ブチルペルフェニルアセテート、tert−ブチルペルイソブチレート、tert−ブチルペル−sec−オクトエート、tert−ブチルペルピバレート、クミルペルピバレート、及びtert−ブチルペルジエチルアセテートを挙げることができる。
【0052】
さらに、本発明においては、有機過酸化物としてアゾ化合物を使用することもできる。アゾ化合物の具体例としては、アゾビスイソブチロニトリル及びジメチルアゾイソブチレートを挙げることができる。
【0053】
これらの中でも、有機過酸化物として、ベンゾイルペルオキシド、ジクミルペルオキシド、ジ−tert−ブチルペルオキシド、2,5−ジメチル−2,5−ジ(tert−ブチルペルオキシド)ヘキシン−3、2,5−ジメチル−2,5−ジ(tert−ブチルペルオキシ)ヘキサン、1,4−ビス(tert−ブチルペルオキシイソプロピル)ベンゼン等のジアルキルペルオキシドが好ましく用いられる。
【0054】
これらの有機過酸化物は、それぞれ単独で、あるいは2種以上を組み合わせて用いることができる。有機過酸化物の使用割合は、反応時の仕込み割合で未変性環状オレフィン系重合体100重量部に対して、通常0.001〜30重量部、好ましくは0.01〜20重量部、より好ましくは0.1〜10重量部の範囲である。有機過酸化物の使用量がこの範囲にあるとき、極性基含有不飽和化合物の反応率、得られた極性基含有環状オレフィン系重合体の吸水率、誘電特性などの諸物性が高度にバランスされ好適である。
【0055】
グラフト変性反応は、特に限定はなく、常法に従って行うことができる。反応温度は、通常0〜400℃、好ましくは60〜350℃である。反応時間は、通常1分〜24時間、好ましくは30分〜10時間の範囲である。反応終了後は、メタノール等の貧溶媒を多量に反応系に添加してポリマーを析出させ、濾別洗浄後、減圧乾燥等により得ることができる。
【0056】
(2)炭素−炭素不飽和結合の直接変性
極性基含有環状オレフィン系重合体は、環状オレフィン系重合体中のオレフィン性炭素−炭素不飽和結合を変性して極性基を付加したり、該オレフィン性炭素−炭素不飽和結合に極性基を有する化合物を結合させたりして、極性基を導入することができる。
【0057】
極性基の導入方法に関しては、特開平6−172423号公報に記載されているような方法を用いることができる。具体的には、オレフィン性不飽和結合の酸化による方法、分子内に1つ以上の極性基を含有する化合物のオレフィン性不飽和結合への付加反応による方法、及びその他の方法によって、エポキシ基やカルボキシル基、ヒドロキシル基等を導入する方法が挙げられる。
【0058】
(3)極性基含有環状オレフィン系モノマーの共重合
極性基含有環状オレフィンモノマーとしては、特に制限はないが、前述の単量体の説明の中の(d)の極性基を有する単量体を挙げることができる。これらの中でも、共重合のし易いものとして、5−ヒドロキシメチルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−ヒドロキシ−i−プロピルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−メトキシカルボニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、8−メトキシカルボニルテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10.]ドデカ−3−エン、5,6−ジカルボキシビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、などのヒドロキシ基、カルボキシル基またはエステル基を含有する単量体が好ましい。重合触媒及び重合方法は、ノルボルネン環を有する脂環族系単量体の重合触媒及び重合方法を用いることができる。
【0059】
以上の中でも、極性基の導入方法としては、容易な反応条件で変性を実施することができ、高い変性率で極性基を導入することが容易である等の理由により、グラフト変性法が好ましく、グラフト反応する極性基含有不飽和化合物の種類としては、前述の理由によりエポキシ基、無水マレイン酸、及び無水イタコン酸等の分子内に炭素−炭素不飽和結合を有するジカルボン酸無水物基を持った不飽和化合物が特に好ましい。
【0060】
(4)極性基導入率
極性基含有環状オレフィン系重合体の極性基導入率(変性率)は、使用目的に応じて適宜選択されるが、重合体中の総モノマー単位数を基準として、通常0.1〜100モル%、好ましくは0.5〜70モル%、より好ましくは1〜50モル%の範囲である。用途が封止材の場合は、物性上、変性率が高い方が好ましく、より具体的には、好ましくは5〜100モル%、より好ましくは10〜70モル%、最も好ましくは15〜50モル%の範囲である。極性基含有環状オレフィン系重合体の極性基導入率がこの範囲にあるとき、金属との接着強度、耐熱性、機械的強度、吸水率、誘電特性が高度にバランスされる。
【0061】
極性基導入率(変性率:モル%)は、下式(1)で表される。
極性基導入率=(X/Y)×100 (1)
X:(a)グラフトモノマー変性残基全モル数、あるいは
(b)不飽和結合含有モノマーの全モル数×不飽和結合への極性基付加率、あるいは
(c)極性基含有モノマーの全モル数。
(いずれも1H−NMRで測定する。)
Y:ポリマーの総モノマー単位数(ポリマーの重量平均分子量/モノマーの平均分子量)
【0062】
[硬化性樹脂組成物]
本発明で使用する環状オレフィン系重合体は、硬化剤を加えて硬化性環状オレフィン系重合体組成物(硬化性樹脂組成物)として使用する。環状オレフィン系重合体を硬化型とすることによって、例えば、(1)金属と樹脂(封止樹脂、保護樹脂膜)との間の線膨張係数の差が小さくなる、(2)電子部品の実装時及び信頼性試験時に、十分な耐熱性を発揮する、などの利点を得ることができる。硬化剤は、特に限定はされないが、(i)有機過酸化物、(ii)熱により効果を発揮する硬化剤、(iii)光により効果を発揮する硬化剤などが用いられる。
【0063】
硬化性樹脂組成物の硬化手段は、特に制限はなく、例えば、熱、光、及び放射線などを用いて行うことができ、硬化剤の種類は、それらの手段によって適宜選択される。硬化性樹脂組成物には、硬化剤以外に、所望により、硬化助剤、難燃剤、その他の配合剤などを配合することができる。
【0064】
硬化剤
(1)有機過酸化物
有機過酸化物としては、例えば、メチルエチルケトンペルオキシド、シクロヘキサノンペルオキシドなどのケトンペルオキシド類;1,1−ビス(t−ブチルペルオキシ)3,3,5−トリメチルシクロヘキサン、2,2−ビス(t−ブチルペルオキシ)ブタンなどのペルオキシケタール類;t−ブチルハイドロペルオキシド、2,5−ジメチルヘキサン−2,5−ジハイドロペルオキシドなどのハイドロペルオキシド類;ジクミルペルオキシド、2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルペルオキシ)ヘキシン−3、α,α’−ビス(t−ブチルペルオキシ−m−イソプロピル)ベンゼンなどのジアルキルペルオキシド類:オクタノイルペルオキシド、イソブチリルペルオキシドなどのジアシルペルオキシド類:ペルオキシジカーボネートなどのペルオキシエステル類;が挙げられる。これらの中でも、硬化後の樹脂の性能から、ジアルキルペルオキシドが好ましく、アルキル基の種類は、硬化温度(成形温度)によって変えることができる。
【0065】
有機過酸化物の配合量は、特に制限はないものの、架橋反応を効率良く行わしめ、かつ、得られる硬化物の物性改善を計ること、さらには経済性の面などから、環状オレフィン系重合体100重量部に対して、通常0.1〜30重量部、好ましくは1〜20重量部の範囲で使用される。この配合量が少なすぎると、架橋が起こりにくく、十分な耐熱性、耐溶剤を得ることができず、また、多すぎると、架橋した樹脂の吸水性、誘電特性などの特性が低下するため好ましくない。有機過酸化物の配合量が上記範囲にある時に、これらの特性が高度にバランスされて好適である。
【0066】
(2)熱により効果を発揮する硬化剤
熱により効果を発揮する硬化剤は、加熱によって架橋反応させうる硬化剤であれば特に限定されないが、脂肪族ポリアミン、脂環族ポリアミン、芳香族ポリアミン、ビスアジド、酸無水物、ジカルボン酸、多価フェノール、ポリアミドなどが挙げられる。
【0067】
具体的な例としては、例えば、ヘキサメチレンジアミン、トリエチレンテトラミン、ジエチレントリアミン、テトラエチレンペンタミン、などの脂肪族ポリアミン;ジアミノシクロヘキサン、3(4),8(9)−ビス(アミノメチル)トリシクロ[5.2.1.02,6]デカン;1,3−(ジアミノメチル)シクロヘキサン、メンセンジアミン、イソホロンジアミン、N−アミノエチルピペラジン、ビス(4−アミノ−3−メチルシクロヘキシル)メタン、ビス(4−アミノシクロヘキシル)メタンなどの脂環族ポリアミン;4,4′−ジアミノジフェニルエーテル、4,4′−ジアミノジフェニルメタン、α,α′−ビス(4−アミノフェニル)−1,3−ジイソプロピルベンゼン、α,α′−ビス(4−アミノフェニル)−1,4−ジイソプロピルベンゼン、4,4′−ジアミノジフェニルスルフォン、メタフェニレンジアミン等の芳香族ポリアミン類;4,4−ビスアジドベンザル(4−メチル)シクロヘキサノン、4,4′−ジアジドカルコン、2,6−ビス(4′−アジドベンザル)シクロヘキサノン、2,6−ビス(4′−アジドベンザル)−4−メチル−シクロヘキサノン、4,4′−ジアジドジフェニルスルホン、4,4′−ジアジドジフェニルメタン、2,2′−ジアジドスチルベンなどのビスアジド;無水フタル酸、無水ピロメリット酸、ベンゾフェノンテトラカルボン酸無水物、ナジック酸無水物、1,2−シクロヘキサンジカルボン酸、無水マレイン酸変性ポリプロピレン、無水マレイン酸変性環状オレフィン樹脂等の酸無水物類;フマル酸、フタル酸、マレイン酸、トリメリット酸、ハイミック酸等のジカルボン酸類;フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂等の多価フェノール類;ナイロン−6、ナイロン−66、ナイロン−610、ナイロン−11、ナイロン−612、ナイロン−12、ナイロン−46、メトキシメチル化ポリアミド、ポリヘキサメチレンジアミンテレフタルアミド、ポリヘキサメチレンイソフタルアミド等のポリアミド類;等が挙げられる。
【0068】
これらの硬化剤は、1種でも2種以上の混合物として使用してもよい。これらの中でも、硬化物の耐熱性、機械強度、金属との密着性、誘電特性(低誘電率、低誘電正接)に優れるなどの理由により、芳香族ポリアミン類、酸無水物類、多価フェノール類、多価アルコール類が好ましく、中でも4,4’−ジアミノジフェニルメタン(芳香族ポリアミン類)、無水マレイン酸変性環状オレフィン樹脂(酸無水物)、多価フェノール類などが特に好ましい。また、必要に応じて硬化促進剤を配合して、架橋反応の効率を高めることも可能である。
【0069】
硬化剤の配合量は、特に制限はないものの、架橋反応を効率良く行わしめ、かつ、得られる硬化物の物性改善を計ること、さらには経済性の面などから、環状オレフィン系重合体100重量部に対して、通常0.1〜30重量部、好ましくは1〜20重量部の範囲で使用される。硬化剤の量が少なすぎると、架橋が起こりにくく、十分な耐熱性、耐溶剤を得ることができず、また、多すぎると、架橋した樹脂の吸水性、誘電特性などの特性が低下するため好ましくない。硬化剤の配合量が上記範囲にある時に、これらの特性が高度にバランスされて好適である。
【0070】
硬化促進剤としては、ピリジン、ベンジルジメチルアミン、トリエタノールアミン、トリエチルアミン、イミダゾール類等のアミン類などが挙げられる。硬化促進剤は、硬化速度の調整を行ったり、架橋反応の効率をさらに良くする目的で添加される。硬化促進剤の配合量は、特に制限はないものの、環状オレフィン系重合体100重量部に対して、通常0.1〜30重量部、好ましくは1〜20重量部の範囲で使用される。硬化促進剤の配合量がこの範囲にあるときに、架橋密度と、誘電特性、吸水率などが高度にバランスされて好適である。また、これらの中でもイミダゾール類が誘電特性に優れて好適である。
【0071】
(3)光により効果を発揮する硬化剤
光により効果を発揮する硬化剤は、g線、h線、i線等の紫外線、遠紫外線、x線、電子線等の活性光線の照射により、環状オレフィン系重合体と反応し、架橋化合物を生成する光反応性物質であれば特に限定されるものではないが、例えば、芳香族ビスアジド化合物、光アミン発生剤、光酸発生剤等が挙げられる。
【0072】
芳香族ビスアジド化合物の具体例としては、4,4′−ジアジドカルコン、2,6−ビス(4′−アジドベンザル)シクロヘキサノン、2,6−ビス(4′−アジドベンザル)4−メチルシクロヘキサノン、4,4′−ジアジドジフェニルスルフォン、4,4′−ジアジドベンゾフェノン、4,4′−ジアジドジフェニル、2,7−ジアジドフルオレン、4,4′−ジアジドフェニルメタン等が挙げられる。これらは、1種類でも、2種類以上組み合わせても使用できる。
【0073】
光アミン発生剤の具体例としては、芳香族アミンあるいは脂肪族アミンのo−ニトロベンジロキシカルボニルカーバメート、2,6−ジニトロベンジロキシカルボニルカーバメートあるいはα,α−ジメチル−3,5−ジメトキシベンジロキシカルボニルカーバメート体等が挙げられる。より具体的には、アニリン、シクロヘキシルアミン、ピペリジン、ヘキサメチレンジアミン、トリエチレンテトラアミン、1,3−(ジアミノメチル)シクロヘキサン、4,4′−ジアミノジフェニルエーテル、4,4′−ジアミノジフェニルメタン、フェニレンジアミンなどのo−ニトロベンジロキシカルボニルカーバメート体が挙げられる。これらは、1種類でも、2種類以上組み合わせても使用できる。
【0074】
光酸発生剤とは、活性光線の照射によって、ブレンステッド酸あるいはルイス酸を生成する物質であって、例えば、オニウム塩、ハロゲン化有機化合物、キノンジアジド化合物、α,α−ビス(スルホニル)ジアゾメタン系化合物、α−カルボニル−α−スルホニル−ジアゾメタン系化合物、スルホン化合物、有機酸エステル化合物、有機酸アミド化合物、有機酸イミド化合物等が挙げられる。これらの活性光線の照射により解裂して酸を生成可能な化合物は、単独でも、2種類以上混合して用いてもよい。
【0075】
光反応性化合物の配合量は、特に制限はないものの、該重合体との反応を効率良く行わしめ、かつ、得られる架橋樹脂の物性を損なわないこと、さらには、経済性などの面から、環状オレフィン系重合体100重量部に対して、通常0.1〜30重量部、好ましくは1〜20重量部の範囲で使用される。光反応性物質の配合量が少なすぎると、架橋が起こりにくく、十分な耐熱性、耐溶剤を得ることができず、また、多すぎると、架橋した樹脂の吸水性、誘電特性などの特性が低下するため好ましくない。配合量が上記範囲にあるときに、これらの特性が高度にバランスされて好適である。
【0076】
硬化助剤
本発明においては、硬化性及び配合剤の分散性をさらに高めるために、硬化助剤を使用することができる。
【0077】
硬化助剤としては、特に限定されるものではないが、特開昭62−34924号公報等に開示されている公知のものでよく、例えば、キノンジオキシム、ベンゾキノンジオキシム、p−ニトロソフェノール等のオキシム・ニトロソ系硬化助剤;N,N−m−フェニレンビスマレイミド等のマレイミド系硬化助剤;ジアリルフタレート、トリアリルシアヌレート、トリアリルイソシアヌレート等のアリル系硬化助剤;エチレングリコールジメタクリレート、トリメチロールプロパントリメタクリレート等のメタクリレート系硬化助剤;ビニルトルエン、エチルビニルベンゼン、ジビニルベンゼンなどのビニル系硬化助剤;等が例示される。これらの中でも、アリル系硬化助剤及びメタクリレート系硬化助剤が、均一に分散させやすく好ましい。
【0078】
硬化助剤の配合量は、硬化剤の種類により適宜選択されるが、硬化剤1重量部に対して、通常0.1〜10重量部、好ましくは0.2〜5重量部である。硬化助剤の配合量は、少なすぎると硬化が起こりにくく、逆に、多すぎると、硬化した樹脂の電気特性、防湿性等が低下するおそれが生じる。
【0079】
〔配合剤〕
本発明の硬化性樹脂組成物には、必要に応じて、各種配合剤を添加することができる。
【0080】
充填剤
本発明の硬化性樹脂組成物には、特に線膨張係数の低減を目的として無機または有機充填剤を配合することがある。特に、硬化性樹脂組成物を封止材として使用する場合には、充填剤を配合することが好ましいことが多い。充填剤としては、従来より樹脂封止材料において使用されるようなものであれば特に限定はされない。
【0081】
充填剤としては、例えば、シリカ、ケイ藻土、アルミナ、酸化チタン、酸化マグネシウム、軽石粉、軽石バルーン、塩基性炭酸マグネシウム、ドロマイト、硫酸カルシウム、チタン酸カリウム、硫酸バリウム、亜硫酸カルシウム、タルク、クレー、マイカ、アスベスト、ガラスフレーク、ガラスビーズ、ケイ酸カルシウム、モンモリロナイト、ベントナイト、グラファイト、アルミニウム粉、硫化モリブデン、ガラス繊維、ボロン繊維、炭化ケイ素繊維、ポリエチレン繊維、ポリプロピレン繊維、ポリエステル繊維、ポリアミド繊維などの粉末状、粒状、フレーク状、繊維状の各種充填剤が挙げられる。これら充填剤の中でも、特に、耐熱性、低吸水率、誘電特性、低不純物性等に優れる理由から、無機充填剤が好ましく、特にシリカなどが好ましい。これらの充填剤は、非導電性であることが好ましく、また、熱伝導性に優れるものが好ましい。
【0082】
充填剤の配合量は、使用目的に応じて適宜定めることができ、環状オレフィン系重合体100重量部に対して、通常1,000重量部以下、好ましくは0.1〜1,000重量部、より好ましくは5〜800重量部の割合で使用する。硬化性樹脂組成物を封止材として使用し、かつ、線膨張係数を特に小さくする必要がある場合は、環状オレフィン系重合体100重量部に対して、好ましくは50〜1,000重量部、より好ましくは100〜800重量部、最も好ましくは200〜600重量部の割合で使用することが望ましい。
【0083】
本発明の電子部品オーバーコート材は、充填剤の種類と配合量を調整することにより基板や電子部品等と封止部との間の線膨張係数を小さくなるようにすることが可能である。
【0084】
反応性希釈剤
本発明の硬化性樹脂組成物は、粘度を調整する目的で、低分子量の反応性希釈剤を配合することができる。前述の硬化剤も、反応性希釈剤としての機能を有するが、その他の反応性希釈剤として、従来の熱や光で架橋反応を起こし、常温で液状の化合物を使用することができる。より具体的には、例えば、エポキシ基含有化合物、アクリル(メタクリル)酸エステル系化合物、ビニルエーテル系化合物、ビニル化合物等が挙げられる。これらその他の反応性希釈剤の中でも、耐熱性、低吸水性、誘電特性などに優れる理由から、エポキシ基含有化合物が特に好ましい。
【0085】
難燃剤
難燃剤は、必須成分ではないが、特にCPUやDRAMなどのLSIチップに保護膜を形成したりする場合には、添加するのが好ましい。難燃剤としては、特に制約はないが、硬化剤によって、分解、変性、変質しないものが好ましく、通常ハロゲン系難燃剤が用いられる。
【0086】
ハロゲン系難燃剤としては、塩素系及び臭素系の種々の難燃剤が使用可能であるが、難燃化効果、成形時の耐熱性、樹脂への分散性、樹脂の物性への影響等の面から、ヘキサブロモベンゼン、ペンタブロモエチルベンゼン、ヘキサブロモビフェニル、デカブロモジフェニル、ヘキサブロモジフェニルオキサイド、オクタブロモジフェニルオキサイド、デカブロモジフェニルオキサイド、ペンタブロモシクロヘキサン、テトラブロモビスフェノールA、及びその誘導体[例えば、テトラブロモビスフェノールA−ビス(ヒドロキシエチルエーテル)、テトラブロモビスフェノールA−ビス(2,3−ジブロモプロピルエーテル)、テトラブロモビスフェノールA−ビス(ブロモエチルエーテル)、テトラブロモビスフェノールA−ビス(アリルエーテル)等]、テトラブロモビスフェノールS、及びその誘導体[例えば、テトラブロモビスフェノールS−ビス(ヒドロキシエチルエーテル)、テトラブロモビスフェノールS−ビス(2,3−ジブロモプロピルエーテル)等]、テトラブロモ無水フタル酸、及びその誘導体[例えば、テトラブロモフタルイミド、エチレンビステトラブロモフタルイミド等]、エチレンビス(5,6−ジブロモノルボルネン−2,3−ジカルボキシイミド)、トリス−(2,3−ジブロモプロピル−1)−イソシアヌレート、ヘキサクロロシクロペンタジエンのディールス・アルダー反応の付加物、トリブロモフェニルグリシジルエーテル、トリブロモフェニルアクリレート、エチレンビストリブロモフェニルエーテル、エチレンビスペンタブロモフェニルエーテル、テトラデカブロモジフェノキシベンゼン、臭素化ポリスチレン、臭素化ポリフェニレンオキサイド、臭素化エポキシ樹脂、臭素化ポリカーボネート、ポリペンタブロモベンジルアクリレート、オクタブロモナフタレン、ヘキサブロモシクロドデカン、ビス(トリブロモフェニル)フマルアミド、N−メチルヘキサブロモジフェニルアミン等を使用するのが好ましい。
【0087】
難燃剤の添加量は、環状オレフィン系重合体100重量部に対して、通常3〜150重量部、好ましくは10〜140重量部、特に好ましくは15〜120重量部である。
【0088】
難燃剤の難燃化効果をより有効に発揮させるための難燃助剤として、例えば、三酸化アンチモン、五酸化アンチモン、アンチモン酸ナトリウム、三塩化アンチモン等のアンチモン系難燃助剤を用いることができる。これらの難燃助剤は、難燃剤100重量部に対して、通常1〜30重量部、好ましくは2〜20重量部の割合で使用する。
【0089】
本発明のオーバーコート材は、これらの難燃剤等の種類と配合量を調整することにより、この技術分野での燃焼試験に合格することが可能で有る。
【0090】
硬化性樹脂
本発明においては、例えば、硬化性樹脂組成物の加熱溶融時の粘度特性の向上を目的として、従来から使用されていたエポキシ樹脂などの硬化性樹脂を配合して、加熱溶融加工する際の粘度をコントロールすることができる。
【0091】
硬化性樹脂の具体例としては、例えば、熱硬化型エポキシ樹脂、感光性エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、感光性ポリイミド樹脂、ビスマレイミド・トリアジン樹脂、フェノール樹脂、フェノールノボラック樹脂などの従来公知の硬化性樹脂を配合できる。
【0092】
その他のポリマー成分
本発明においては、硬化性樹脂組成物に、必要に応じて、ゴム質重合体やその他の熱可塑性樹脂を配合することができる。
【0093】
ゴム質重合体は、常温(25℃)以下のガラス転移温度を持つ重合体であって、通常のゴム状重合体及び熱可塑性エラストマーが含まれる。ゴム質重合体のムーニー粘度(ML1+4,100℃)は、使用目的に応じて適宜選択され、通常5〜200である。
【0094】
ゴム状重合体としては、例えば、エチレン−α−オレフィン系ゴム質重合体;エチレン−α−オレフィン−ポリエン共重合体ゴム;エチレン−メチルメタクリレート共重合体、エチレン−ブチルアクリレートなどのエチレンと不飽和カルボン酸エステルとの共重合体;エチレン−酢酸ビニル共重合体などのエチレンと脂肪酸ビニルとの共重合体;アクリル酸エチル、アクリル酸ブチル、アクリル酸ヘキシル、アクリル酸2−エチルヘキシル、アクリル酸ラウリルなどのアクリル酸アルキルエステルの重合体;ポリブタジエン、ポリイソプレン、スチレン−ブタジエンまたはスチレン−イソプレンのランダム共重合体、アクリロニトリル−ブタジエン共重合体、ブタジエン−イソプレン共重合体、ブタジエン−(メタ)アクリル酸アルキルエステル共重合体、ブタジエン−(メタ)アクリル酸アルキルエステル−アクリロニトリル共重合体、ブタジエン−(メタ)アクリル酸アルキルエステル−アクリロニトリル−スチレン共重合体などのジエン系ゴム;ブチレン−イソプレン共重合体などが挙げられる。
【0095】
熱可塑性エラストマーとしては、例えば、スチレン−ブタジエンブロック共重合体、水素化スチレン−ブタジエンブロック共重合体、スチレン−イソプレンブロック共重合体、水素化スチレン−イソプレンブロック共重合体などの芳香族ビニル−共役ジエン系ブロック共重合体、低結晶性ポリブタジエン樹脂、エチレン−プロピレンエラストマー、スチレングラフトエチレン−プロピレンエラストマー、熱可塑性ポリエステルエラストマー、エチレン系アイオノマー樹脂などを挙げることができる。これらの熱可塑性エラストマーの中でも、水素化スチレン−ブタジエンブロック共重合体、水素化スチレン−イソプレンブロック共重合体などが好ましく、より具体的には、特開平2−133406号公報、特開平2−305814号公報、特開平3−72512号公報、特開平3−74409号公報などに記載されているものを挙げることができる。
【0096】
その他の熱可塑性樹脂としては、例えば、低密度ポリエチレン、高密度ポリエチレン、直鎖状低密度ポリエチレン、超低密度ポリエチレン、エチレン−エチルアクリレート共重合体、エチレン−酢酸ビニル共重合体、ポリスチレン、ポリフェニレンスルフィド、ポリフェニレンエーテル、ポリアミド、ポリエステル、ポリカーボネート、セルローストリアセテートなどが挙げられる。
【0097】
これらのゴム状重合体やその他の熱可塑性樹脂は、それぞれ単独で、あるいは2種以上を組み合わせて用いることができ、その配合量は、本発明の目的を損なわない範囲で適宜選択されるが、絶縁材料の特性を損なわせないためには、環状オレフィン系重合体100重量部に対して、30重量部以下であるのが好ましい。
【0098】
その他の配合剤
本発明の硬化性樹脂組成物には、必要に応じて、耐熱安定剤、耐候安定剤、レベリング剤、帯電防止剤、スリップ剤、アンチブロッキング剤、防曇剤、滑剤、染料、顔料、天然油、合成油、ワックスなどのその他の配合剤を適量添加することができる。
【0099】
具体的には、例えば、テトラキス[メチレン−3(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート]メタン、β−(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオン酸アルキルエステル、2,2’−オキザミドビス[エチル−3(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート]などのフェノール系酸化防止剤;トリスノニルフェニルホスファイト、トリス(2,4−ジ−t−ブリルフェニル)ホスファイト、トリス(2,4−ジ−t−ブチルフェニル)ホスファイト等のリン系安定剤;ステアリン酸亜鉛、ステアリン酸カルシウム、12−ヒドロキシステアリン酸カルシウム等の脂肪酸金属塩;グリセリンモノステアレート、グリセリンモノラウレート、グリセリンジステアレート、ペンタエリスリトールモノステアレート、ペンタエリスリトールジステアレート、ペンタエリスリトールトリステアレート等の多価アルコール脂肪酸エステル;合成ハイドロタルサイト;アミン系の帯電防止剤;フッ素系ノニオン界面活性剤、特殊アクリル樹脂系レベリング剤、シリコーン系レベリング剤など塗料用レベリング剤;シランカップリング剤、チタネートカップリング剤、アルミニウム系カップリング剤、ジルコアルミネートカップリング剤等のカップリング剤;可塑剤;カーボンブラックなどの顔料や染料などの着色剤;などを挙げることができる。
【0100】
〔封止材料〕
封止材料の形態
封止材料は、環状オレフィン系重合体、硬化剤、及び所望により配合される他の配合剤を、反応性希釈剤で希釈した状態、希釈剤を含まない状態の何れかで提供されるが、必要に応じて粘度調節を目的として溶媒に溶解させてもよい。
【0101】
溶媒を用いる場合は、例えば、トルエン、キシレン、エチルベンゼンなどの芳香族炭化水素;n−ペンタン、ヘキサン、ヘプタンなどの脂肪族炭化水素、シクロヘキサンなどの脂環式炭化水素;クロロベンゼン、ジクロルベンゼン、トリクロルベンゼンなどのハロゲン化炭化水素;などを挙げることができる。
【0102】
溶媒は、環状オレフィン系重合体、硬化剤、及び必要に応じて配合する各成分を、均一に溶解ないしは分散するに足りる量比で用いられる。溶液の固形分濃度は、通常1〜80重量%、好ましくは5〜60重量%、より好ましくは10〜50重量%になるように調整される。
【0103】
封止材料としては、ハンドリング、プロセス上のメリットなどから、特に溶融粘度が、100〜200℃の範囲において、50ポイズ以下、さらには20ポイズ以下であるのが好ましい。
【0104】
硬化方法
封止材料は、前述の如く、熱、光、電子線などの何れの方法を用いて硬化させてもよいが、特に半導体部品などの電子部品を封止する場合は、オーバーコート法などの薄膜状態で封止する場合を除いては、熱により硬化させるのが好ましい。熱による硬化の場合には、封止材料が肉厚の成形品である場合、光線が一部到達し得ないような複雑形状を有している場合、充填剤、添加剤等の光線が透過しない配合剤を含む場合などに好適である。
【0105】
封止方法
電子部品封止材料は、主に半導体チップなどの電子部品を封止する目的で使用されている方法、例えば、(1)従来からのクレゾールノボラック型エポキシ樹脂系封止材を用いる場合に常用されているトランスファ成形法による封止方法、さらに(2)近年のLSIベアチップ実装の封止方法として、液状エポキシ樹脂を用いる場合に常用されているポッティング(注型)法による封止方法などを、そのまま適用することができる。
【0106】
以下に、それぞれの封止方法への適用方法を説明するが、具体的な封止方法の詳細に関しては、例えば、「ハイブリッドマイクロエレクトロニクス協会編:エレクトロニクス実装技術基礎講座、第4巻、実装組立技術、第5章:半導体デバイスの封止技術・材料、第157〜186頁」などの公知文献を参考にすることができる。
【0107】
(1)トランスファ成形法
トランスファ成形法の代表的な方法は、低圧トランスファ成形法であり、従来は、クレゾールノボラック型のエポキシ樹脂主体の封止材料を用いて封止している。以下にそのプロセスを簡単に記載する。
【0108】
先ず、半導体チップを金属リードフレームの中央部に金線(ワイヤー)などで接続し、予熱した金型に装着する。封止樹脂は、タブレット(固体)状態で準備され、適当な温度で軟化させた後に金型ポットに充填し、加熱により完全液状化させて、プランジャ圧力により、キャビティ内に注入する。このまま圧力をかけた状態で、封止樹脂は完全硬化する。金型キャビティ注入時には、金線に損傷を与えずに、ボイドのない成形品を得るために、タブレットの予熱温度、モールド金型温度、トランスファタイム、トランスファ圧力、キュア(硬化)時間などが最適化される必要があるが、この時、封止材料の粘度が重要な条件となるために、前述の粘度範囲は、重要である。
【0109】
(2)ポッティング法
前述のようなトランスファ成形によって封止された半導体パッケージは、一般的にクァッドフラットパッケージ(QFP)と呼ばれており、ハンダによってプリント基板に実装される。このような方法に対して、最近、半導体チップを封止する前に、直接プリント基板に実装する技術(ベアチップ実装)が進歩している。これらのベアチップ実装された半導体チップを最後に封止するのに、従来は前述のビスフェノール型エポキシ樹脂を主成分とした液状エポキシ封止材料を用いているが、ベアチップの実装形態により、通常のポッティング法、オーバーコート法、アンダーフィル法などに分類される。
【0110】
特に、ベアチップ実装方法の中で、チップ電極と基板電極を金線(ワイヤー)で接続する場合は、ポッティング法、オーバーコート法などの、該チップ及び金線を封止材で覆う方法が適用され、チップを表裏逆さまにして前述の電極同士を直接接続する場合(フリップチップ実装法)は、該チップと基板間の隙間を封止材で充填するアンダーフィル法が適用される。
【0111】
電子部品
電子部品封止材料で封止される電子部品は、集積回路部品、混成集積回路部品、個別半導体部品などの能動部品;受動部品、機能部品などの一般電子部品などが挙げられる。
【0112】
集積回路部品としては、例えば、CPU(中央演算処理装置)、DRAM(メモリ)などの半導体(LSI)チップなどが挙げられる。混成集積回路部品としては、例えば、複数の集積回路部品が搭載されたマルチチップモジュール(MCM)、集積回路部品と個別半導体部品、一般電子部品が混成して搭載されたハイブリッドICなどが挙げられる。個別半導体部品としては、例えば、ダイオード、トランジスタ、発光素子(レーザーダイオード、LED等)、受光素子(フォトダイオード等)、光複合素子(フォトカプラー等)などが挙げられる。一般電子部品としては、例えば、抵抗器、コンデンサ、インダクタなどの受動部品;発振子、セラミックフィルタ、SAWフィルタ、NTCチップサーミスタ、セラミックバリスタなどの機能部品などが挙げられる。
【0113】
電子部品パッケージ
このような電子部品を前述の封止材料を用いて封止することによって、電子部品パッケージが得られる。特に、前述のトランスファ成形によって封止したものは、QFPとして、そのままパッケージとして使用できる。
【0114】
半導体チップを小型のプリント基板にベアチップ実装した後、前述の液状封止材料で封止したものは、これらを一体でパッケージとして使用される。上記パッケージに、さらにマザーボードのプリント基板に接続する目的でハンダボールなどの接続部材を取付けたものは、ボールグリッドアレィ(BGA)といい、新規の半導体部品パッケージとして、コンピューターや通信機器に使用可能である。
【0115】
〔オーバーコート材料〕
オーバーコート材料の形態
本発明のオーバーコート材料は、環状オレフィン系重合体、硬化剤、及び所望により配合される他の配合剤を有機溶媒や反応性希釈剤で希釈した状態で提供される。有機溶媒としては、前述の如き各種有機溶媒を使用することができる。有機溶媒は、環状オレフィン系重合体、硬化剤、及び必要に応じて配合する各成分を均一に溶解ないしは分散するに足りる量比で用いられ、固形分濃度が通常1〜80重量%、好ましくは5〜60重量%、より好ましくは10〜50重量%になるように調整される。
【0116】
オーバーコートの方法は、特に制限はなく、従来公知の方法を採用することができる。具体的には、例えば、ロールコート法、カーテンコート法、スクリーン印刷法、スピンコート法、ディッピング法などが通常用いられる。
【0117】
オーバーコート材料としては、ハンドリング、プロセス上のメリットなどから、塗布方法に応じた粘度調整を行うことが好ましい。例えば、スピンコート、カーテンコートなどでは、25℃、E型粘度計測定で、10cps以上3,000cps以下の粘度とすることが好ましい。粘度が低すぎると充分な膜厚を得がたく、粘度が高すぎると均一な膜厚が得られにくい。ロールコート、バーコートなどでは、1,000cps以上100,000cps以下の粘度に調整することが好ましい。粘度が低すぎると均一な膜厚が得られにくく、粘度が高すぎると作業性が悪くなる。スクリーン印刷では、揺変性を持った粘度特性を持たせることが望ましい。
【0118】
オーバーコート膜の厚みは、バッファーコート膜またはパッシベーション膜として使用する場合は、1〜10μm、保護膜として使用する場合は、30〜60μmの範囲が好ましいが、これらの全てを一括してオーバーコートする場合は、30μm以上の厚みが好ましい。
【0119】
硬化方法
本発明のオーバーコート材料は、熱、光、電子線などの何れの方法を用いて硬化させてもよいが、比較的厚膜状態でオーバーコートする場合には、熱により硬化させるのが好ましい。熱による硬化の場合には、オーバーコートする電子部品が複雑な三次元形状である場合、充填剤、添加剤等の光線が透過しない配合剤を含む場合などに好適である。
【0120】
電子部品
本発明でオーバーコートされる電子部品としては、前述の封止材料の箇所で述べたものと同様の集積回路部品、混成集積回路部品、個別半導体部品などの能動部品;受動部品、機能部品などの一般電子部品などが挙げられる。また、電子部品パッケージも、前述と同様のものが挙げられる。
【0121】
【実施例】
以下に、実施例、参考例、比較例、及び合成例を挙げて本発明を具体的に説明する。これらの実施例等において、「部」及び「%」は、特に断りのない限り、重量基準である。
各種物性の測定法は、次のとおりである。
【0122】
(1)ガラス転移温度(Tg)は、示差走査熱量法(DSC法)により測定した。
【0123】
(2)数平均分子量(Mn)及び重量平均分子量(Mw)は、特に記載しない限り、トルエンを溶媒とするゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー(GPC)によるポリスチレン換算値として測定した。
【0124】
(3)主鎖の水素添加率、ポリマーの変性率、及び共重合比率は、1H−NMRにより測定した。変性率は、前記式(1)により算出した。
【0125】
(4)誘電率及び誘電正接は、JIS C6481に準じて、1MHzにおいて測定した。
【0126】
(5)常温での曲げ強度、引張強度、引張伸び率、及び温度85℃×相対湿度(RH)85%×300時間の条件下での吸水率は、JIS K6911に準拠して測定した。
【0127】
(6)ガラス転移温度は、TMAによって測定した。
【0128】
(7)純度の指標として、試料をプレッシャークッカー試験PCT(160℃×20時間、4気圧)にかけた後、その抽出水を用いてイオンクロマトグラフィー測定器によって、塩素イオン及び金属イオン量を測定し、その合計量を算出して、残留イオン量とした。
【0129】
(8)温度サイクル試験(TCT)は、−55℃(30min)→室温(5min)→150℃(30min)→室温(5min)の温度サイクルを500回繰り返すことで温度衝撃を加え、クラック発生の有無を調べた。プレッシャークッカー試験(PCT)は、湿度100%、105℃の環境下に300時間放置し、不良発生の有無を調べた。
【0130】
(9)保護膜等の耐湿性の評価は、試料を温度85℃、相対湿度85%の条件で1,000時間放置し、その後、1kVの電圧を層間に印加して、不良率を測定した。
【0131】
[合成例1]
六塩化タングステン、トリイソブチルアルミニウム、イソブチルアルコールを重合触媒として用い、公知の方法により8−エチルテトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]−3−ドデセン(以下、ETDと略す)を開環重合した。得られた開環重合体を、ニッケルアセチルアセトナートとトリイソブチルアルミニウムを用いて、公知の方法により水素添加し、ETDの開環重合体水素添加物(水素化率≧99%、Tg=138℃、Mn=18,500、Mw=31,600)
を得た。この水素添加物100部に対して、無水マレイン酸30部、ジクミルペルオキシド10部、tert−ブチルベンゼン300部を混合し、オートクレーブ中にて、150℃、4時間反応を行った後、反応液を300部のメタノール中に注ぎ、凝固させた。凝固物を乾燥し、無水マレイン酸変性ポリマー(A)を得た。その合成結果を表1に示した。
【0132】
[合成例2]
無水マレイン酸30部をアリルグリシジルエーテル30部に変える以外は、合成例1と同様にしてエポキシ変性ポリマー(B)を得た。その合成結果を表1に示した。
【0133】
[合成例3]
テトラシクロ[4.4.12,5.17,10.0]−3−ドデセン(以下、TCDと略す)とエチレンを公知の方法により付加共重合して付加型共重合体(TCD含有量38モル%、Tg=135℃、Mn=15,200、Mw=35,600)を得た。この付加型共重合体を用いること以外は、合成例1と同様にして、無水マレイン酸変性ポリマー(C)を得た。その合成結果を表1に示した。
【0134】
[合成例4]
無水マレイン酸30部をアリルグリシジルエーテル30部に変える以外は、合成例3と同様にして、エポキシ変性ポリマー(D)を得た。その合成結果を表1に示した。
【0135】
[合成例5]
特開平7−258318号公報に記載されているLi系リビングアニオン重合触媒〔n−BuLi/テトラメチレンジアミン(TMEDA:リビングアニオン安定化剤)=1/1(モル比)〕を用いて、1,3−シクロヘキサジエン(C−HD)を重合して1,4−付加型重合体を得た。次いで、この付加型重合体を水素添加して、水素添加物(水素化率≧99%、Tg=219℃、Mn=53,400、Mw=78,000)を得た。この水素添加物を用いること以外は、合成例1同様の方法により、無水マレイン酸変性ポリマー(E)を得た。その合成結果を表1に示した。
【0136】
[合成例6]
無水マレイン酸30部をアリルグリシジルエーテル30部に変える以外は、合成例5と同様にして、エポキシ変性ポリマー(F)を得た。その合成結果を表1に示した。
【0137】
[合成例7]
数平均分子量(Mn)が9,200のポリ(2,6−ジメチル−1,4−フェニレンエーテル)100部と、無水マレイン酸6.0部、及び2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルパーオキシ)ヘキサン(日本油脂(株)製パーヘキサ25B)2.0部を室温でドライブレンドした後、シリンダー温度300℃、スクリュー回転数230rpmの条件で2軸押出機により押し出して、無水マレイン酸変性ポリフェニレンエーテル(PPE)(G)を得た。その合成結果を表1に示した。
【0138】
[合成例8]
合成例1で得られた開環重合体水素添加物100部に対して、ジクミルペルオキサイド1.0部、及びビニルトリメトキシシラン3.0部を添加し、2軸押出機を用いて樹脂温度240℃にて加熱混錬して、シラン変性ポリマー(H)を得た。その合成結果を表1に示した。
【0139】
【表1】
【0140】
(脚注)
(1)ETD:エチルテトラシクロドデセン開環重合体(水添物)
(2)TCD/エチレン:テトラシクロドデセン/エチレン付加共重合体
(3)C−HD:1,3−シクロヘキサジエン付加重合体(水添物)
(4)PPE:ポリフェニレンエーテル
(5)MAAH:無水マレイン酸
(6)AGE:アリルグリシジルエーテル
(7)BTMS:ビニルトリメトキシシラン
【0141】
[参考例1〜6]
以下に、樹脂単独の硬化物並びに半導体封止材料に関する参考例及び比較例を記す。
【0142】
まず、樹脂単独の硬化物の試験片を作成するため、上記合成例1〜6で合成した変性ポリマー(A)〜(F)と、硬化剤としてフェノールノボラック樹脂(TD−2131:大日本インキ化学工業株式会社製、軟化点80℃)、硬化促進剤としてトリフェニルフォスフィン(TPP)を用いて、表2に示した組成で混合して硬化性樹脂組成物を調製した。
【0143】
これらの樹脂組成物を100℃で2時間、次いで、160℃で2時間、さらに180℃で2時間の条件で硬化せしめて試験片とし、常温での曲げ強度、引張強度、引張伸び率、及び85℃×85%RH×300時間の条件下での吸水率を測定した。さらに、ガラス転移温度、残留イオン量、電気特性を測定した。これらの結果を表2及び表3に示した。
【0144】
[比較例1]
合成例7で合成した無水マレイン酸変性ポリフェニレンエーテル(PPE)(G)を用い、かつ、硬化剤および硬化促進剤を表2にかえたこと以外は、参考例1と同様に行った。組成及び結果を表2及び表3に示す。
【0145】
[比較例2]
合成例8で合成したシラン変性ポリマー(H)を用い、硬化剤及び硬化促進剤を添加する代わりに、シラノール縮合触媒であるジブチル錫ラウレートを使用し、硬化反応を100℃の熱水中で2時間行う以外は参考例1同様の方法で試験片を作成し、評価した。結果を表2及び表3に示した。
【0146】
【表2】
【0147】
(脚注)
(1)PNR:フェノールノボラック樹脂(大日本インキ化学工業株式会社製、TD−2131、軟化点80℃)
(2)PBH:2,5−ジメチル−2,5−ジ−t−ブチルペルオキシヘキシン−3
(3)TPP:トリフェニルホスフィン
(4)TAIC:トリアリルイソシアヌレート
【0148】
【表3】
【0149】
表3の結果から明らかなように、無水マレイン酸変性PPEを用いた場合(比較例1)には、吸水率が高く、残留イオン量が多い。シラン変性ポリマーを用いて水架橋した場合(比較例2)は、硬化反応が十分に進行せずに架橋密度が低下して、曲げ強度等の機械的物性が不十分である。
【0150】
[参考例7〜14]
合成例1〜6で得られたポリマー(A)〜(F)100部に、表4記載の硬化剤及び硬化促進剤を添加し、さらに、難燃剤として臭素化ビスフェノールA型エポキシ樹脂(EPI152:大日本インキ化学工業株式会社製)20部、難燃助剤としてSb2O3を10部、充填剤として溶融シリカ400部、その他配合剤としてカルナウバワックス2部、カーボンブラック1.5部を加え、半導体封止材料を作成した。組成を一括して表4に示す。
【0151】
上記の如く調製された半導体封止材料は、熱ロールにて100℃×8分間混練し、その後粉砕したものを1,200〜1,400kg/cm2の圧力にてタブレットを作成し、それを用いてトランスファ成形機にてプランジャー圧力80kg/cm2、金型温度175℃、成形時間100秒の条件下にて、評価用試験片(半導体素子を封止したパッケージ)を作成した。その後、175℃で8時間の後硬化を施した。それを用いて温度サイクル試験(TCT)、及びプレッシャークッカー試験(PCT)を行った。試験片数は、20個(n=20)とし、これらの試験時のクラック発生率を調べた。これらの結果を表5に示した。
【0152】
[比較例3]
合成例7で合成した無水マレイン酸変性ポリフェニレンエーテル(PPE)(G)を用い、かつ、硬化剤および硬化促進剤を表4のものに変えたこと以外は、参考例7と同様に行った。組成及び結果を表4及び表5に示す。
【0153】
[比較例4]
合成例8で合成したシラン変性ポリマー(H)を用い、硬化剤及び硬化促進剤の代わりに、シラノール縮合触媒であるジブチル錫ラウレートを使用し、硬化反応を100℃の熱水中で2時間行う以外は参考例7同様の方法で試験片を作成し評価した。結果を表4及び表5に示した。
【0154】
【表4】
【0155】
(脚注)
(1)PNR:フェノールノボラック樹脂(大日本インキ化学工業株式会社製、TD-2131、軟化点80℃)
(2)TPP:トリフェニルホスフィン
(3)DADPM:4,4′−ジアミノジフェニルメタン
(4)MAAH:無水マレイン酸
(5)PBH:2,5−ジメチル−2,5−ジ−t−ブチルペルオキシヘキシン−3
(6)TAIC:トリアリルイソシアヌレート
(7)BPAE:臭素化ビスフェノールA型エポキシ樹脂(大日本インキ化学工業株式会社製、EPI152)
【0156】
【表5】
【0157】
表5の結果から明らかなように、無水マレイン酸変性PPEを用いた場合(比較例3)には、PCT試験及びTCT試験のいずれにおいてもクラックの発生が見られた。また、シラン変性ポリマーを用いて水架橋した場合(比較例4)は、クラックの発生が著しかった。
【0158】
以上の結果より明らかなように、変性する際の極性基導入率が少ない場合、極性基と硬化剤の組み合せが適当でない場合は、封止材料の硬化時の架橋密度が低下して、機械強度が低下し、TCTやPCTなどの信頼性試験において、クラックの発生数が大幅に増加することが分かる。
【0159】
[合成例9]
(エポキシ変性ノルボルネン系共重合体の製造)
<重合>
米国特許第5,468,819号明細書に記載されている公知の方法によって2−ノルボルネン(NB)と5−デシル−2−ノルボルネン(DNB)との付加共重合体〔ポリスチレン換算で数平均分子量(Mn)=69,200、重量平均分子量(Mw)=132,100、共重合組成比=NB/DNB=76/24(モル比)、Tg=260℃〕を得た。
【0160】
<エポキシ変性>
上記で得られたノルボルネン系共重合体28部、5,6−エポキシ1−ヘキセン10部、及びジクミルペルオキシド2部をt−ブチルベンゼン130部に溶解し、140℃で6時間反応を行った。得られた反応生成物溶液を300部のメタノール中に注ぎ、反応生成物を凝固させた。凝固したエポキシ変性重合体を100℃で20時間真空乾燥し、エポキシ変性ノルボルネン系共重合体を26部を得た。この樹脂の分子量は、Mn=72,600、Mw=198,400で、Tgは265℃であった。このエポキシ変性ノルボルネン系共重合体の1H−NMRにて測定したエポキシ基含有率は、ポリマーの繰り返し構造単位当たりで2.4%であった。このエポキシ変性ノルボルネン系共重合体15部と光反応性物質(光硬化剤)として4,4′−ビスアジドベンザル(4−メチル)シクロヘキサノン0.6部をキシレン45部に溶解させたところ、沈殿を生じることなく均一な溶液となった。
【0161】
[合成例10]
(エポキシ変性ノルボルネン/エチレン共重合体の製造)
<重合>
特開平7−292020号公報に記載されている公知の方法によって、NBとエチレンの付加共重合体〔Mn=66,200、Mw=142,400、共重合組成比=NB/エチレン=63/37(モル比)、Tg=184℃〕を得た。
【0162】
<エポキシ変性>
上記で得られたノルボルネン/エチレン共重合体30部、5,6−エポキシ−1−ヘキセン10部、及びジクミルペルオキシド2部をt−ブチルベンゼン130部に溶解し、140℃で6時間反応を行った。得られた反応生成物溶液を300部のメタノール中に注ぎ、反応生成物を凝固させた。凝固したエポキシ変性重合体を100℃で20時間真空乾燥し、エポキシ変性ノルボルネン/エチレン共重合体29部を得た。この樹脂の分子量は、Mn=82,400、Mw=192,300でTgは185℃であった。このエポキシ変性ノルボルネン系共重合体の1H−NMRにて測定したエポキシ基含有率は、ポリマーの繰り返し構造単位当たりで2.4%であった。このエポキシ変性ノルボルネ系共重合体15部と光反応性物質として4,4′−ビスアジドベンザル(4−メチル)シクロヘキサノン0.6部をキシレン45部に溶解させたところ、沈殿を生じることなく均一な溶液となった。
【0163】
[合成例11]
(エポキシ変性ノルボルネン系共重合体の製造)
<重合>
5−デシル−2−ノルボルネン26部の代わりに5−ヘキシル−2−ノルボルネン(HNB)18部を用い、かつ、5−エチリデン−2−ノルボルネン(ENB)3部を加えた以外は、合成例9と同様にして重合を行った。21部のノルボルネン系共重合体〔Mn=71,100、Mw=107,000、共重合組成比=NB/HNB/ENB=74/23/3(モル比)、Tg=323℃〕を得た。
【0164】
<エポキシ変性>
上記で得られたノルボルネン系共重合30部を120部のトルエンに加え、120℃に加熱して溶解し、t−ブチルヒドロペルオキシド1.2部とヘキサカルボニルモリブデン0.09部を加えて2時間還流した。これを100部の冷メタノール中に注ぎ、反応生成物を凝固させた。凝固したエポキシ変性重合体を80℃で20時間真空乾燥し、エポキシ変性ノルボルネン系共重合体30部を得た。
【0165】
このエポキシ変性ノルボルネン系共重合体のMn=85,200、Mw=154,600、Tg=328℃で、1H−NMRにて測定した不飽和結合へのエポキシ変性率は、100%であり、ポリマーの繰り返し構造単位当たりのエポキシ基含有率は3.0%であった。このエポキシ変性ノルボルネン系共重合体15部と光反応性物質として4,4′−ビスアジドベンザル(4−メチル)シクロヘキサノン0.6部をキシレン45部に溶解させたところ、沈殿を生じることなく均一な溶液となった。
【0166】
[合成例12]
(マレイン酸変性ノルボルネン共重合体)
<マレイン酸変性>
合成例9で得られたノルボルネン系共重合体30部を150部のトルエンに加え、120℃に加熱して溶解し、無水マレイン酸のトルエン溶液(3部/100部)、及びジクミルペルオキシドのトルエン溶液(0.3部/45部)を徐々に添加して、4時間反応した。これを600部の冷メタノール中に注き、反応生成物を凝固させた。凝固した変性重合体を80℃で20時間真空乾燥し、マレイン酸変性ノルボルネン系共重合体30部を得た。この樹脂のMn=73、100、Mw=162,400、Tg=266℃で、1H−NMRにて測定したポリマーの繰り返し構造単位当たりのマレイン酸含有率は2.5%であった。このマレイン酸変性ノルボルネン系共重合体15部と、架橋助剤として9部のトリアリルシアヌレート、ペルオキサイドとして1.2部の2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルペルオキシ)ヘキシン−3をキシレン45部に溶解させたところ、沈殿を生じることなく均一な溶液となった。
【0167】
[合成例13](ヒドロキシ変性NB/HNB/ENB共重合体)
<ヒドロキシ変性>
合成例11で得られたノルボルネン系共重合体30部を300部のトルエンに加え、120℃に加熱して溶解し、90%ギ酸50部と30%過酸化水素水7.5部を徐々に滴下して2時間還流した。次いで、水酸化ナトリウム溶解メタノールで中和処理した後、700部のアセトン中に注ぎ、反応生成物を凝固させた。
【0168】
凝固した変性重合体を80℃で20時間真空乾燥し、ヒドロキシ変性ノルボルネン系共重合体30部を得た。この樹脂のMn=82,100、Mw=133,400、Tg=328℃で、1H−NMRにて測定した不飽和結合のヒドロキシ変性率は100%であり、ポリマーの繰り返し構造単位当たりのヒドロキシ基含有率は3.0%であった。このヒドロキシ変性ノルボルネン系共重合体15部と、9部のトリアリルシアヌレート9部、1.2部の2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルペルオキシ)ヘキシン−3をキシレン45部に溶解させたところ、沈殿を生じることなく均一な溶液となった。
【0169】
[合成例14]
<重合>
特開平4−77520号公報記載の公知の方法により、メチルメトキシテトラシクロドデセンの開環重合及び水素添加反応を行い、水素添加率100%、ポリスチレン換算による数平均分子量(Mn)=16,400、重量平均分子量(Mw)=58,100、Tg=172℃の開環重合体水素添加物を得た。
【0170】
得られた開環重合体水素添加物15部、硬化助剤として9部のトリアリルシアヌレート、1.2部の2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルパーオキシ)ヘキシン−3をキシレン45部に溶解させたところ、沈殿を生じることなく均一な溶液となった。
【0171】
[合成例15]
<重合>
特開平7−258318号公報記載の公知の方法によりシクロヘキサジエンの付加重合及び水素添加反応を行い、ポリスチレン換算で数平均分子量(Mn)=48,300、重量平均分子量(Mw)=72,200、Tg=218℃の重合体を得た。得られた環状共役ジエン系重合体水素添加物の1H−NMRによる水素添加率は85%であった。
【0172】
<エポキシ変性>
上記で得られた環状共役ジエン系重合体水素添加物30部を120部のトルエンに加え、120℃に加熱して溶解し、t−ブチルヒドロペルオキシド1.2部とヘキサカルボニルモリブデン0.09部を加えて2時間還流した。これを300部の冷メタノール中に注ぎ、反応生成物を凝固させた。凝固したエポキシ変性重合体を80℃で20時間真空乾燥し、エポキシ変性環状共役ジエン系重合体水素添加物30部を得た。このエポキシ変性環状共役ジエン系重合体水素添加物のMn=68、200、Mw=122,100、Tg=220℃で、1H−NMRにて測定した不飽和結合へのエポキシ変性率は100%であり、ポリマーの繰り返し構造単位当たりのエポキシ基含有率は15%であった。得られた環状共役ジエン系重合体水素添加物15部と光反応性物質として4,4’−ビスアジドベンザル(4−メチル)シクロヘキサノン0.6部をキシレン45部に溶解させたところ、沈殿を生じることなく均一な溶液となった。
【0173】
[合成例16](開環重合体水素添加物)
<重合>
特開平4−363312号公報記載の公知の方法によって、テトラシクロドデセンと8−メチルテトラシクロドデセンの開環重合及び水素添加を行い、ポリスチレン換算で数平均分子量(Mn)=31,200、重量平均分子量(Mw)=55,800、Tg=158℃の開環共重合体水素添加物を得た。得られたポリマーの1H−NMRによる水素添加率は、99%以上であった。
【0174】
<エポキシ変性>
上記で得られた開環共重合体水素添加物28部、5,6−エポキシ−1−ヘキセン10部、及びジクミルペルオキシド2重量部をt−ブチルベンゼン130部に溶解し、140℃で6時間反応を行った。得られた反応生成物溶液を300部のメタノール中に注ぎ、反応生成物を凝固させた。凝固したエポキシ変性重合体を100℃で20時間真空乾燥し、エポキシ変性開環共重合体水素添加物を28部得た。このエポキシ変性開環共重合体水素添加物の分子量は、Mn=38,600)Mw=85,100で、Tgは165℃であった。このエポキシ変性開環共重合体水素添加物の1H−NMRにて測定したエポキシ基含有率は、ポリマーの繰り返し構造単位当たりで2.0%であった。エポキシ変性開環共重合体水素添加物15部と光反応性物質として4,4′−ビスアジドベンザル(4−メチル)シクロヘキサノン0.6部をキシレン45部に溶解させたところ、沈殿を生じることなく均一な溶液となった。
【0175】
これらの合成例9〜16の結果を表6に示す。
【0176】
【表6】
【0177】
(脚注)
(1)NB/DNB:2−ノルボルネン/5−デシル−2−ノルボルネン付加共重合体
(2)NB/エチレン:2−ノルボルネン/エチレン付加共重合体
(3)NB/HNB/ENB:2−ノルボルネン/5−ヘキシル−2−ノルボルネン/5−エチリデン−2−ノルボルネン付加共重合体
(4)MMTCD:メチルメトキシテトラシクロドデセン開環重合体(水添物)
(5)C−HD:1,3−シクロヘキサジエン付加重合体(水添物)
(6)TCD/MTCD:テトラシクロドデセン/8−メチルテトラシクロドデセン開環共重合体(水添物)
【0178】
[実施例1]
<オーバーコート膜の形成>
合成例9で得られた均一な溶液を孔径0.22μmのテトラフルオロエチレン(PTFE)製精密フィルターで濾過して、硬化性樹脂組成物の溶液を得た。この溶液をスピナーを使用して、微細配線形成された半導体ベアチップ上にオーバーコートした後、80℃で90秒間プリベークし、さらに180℃1時間ポストベークして、膜厚40μmのバッファーコート膜兼保護膜を形成させた。
【0179】
<半導体パッケージの形成>
得られた膜形成後の半導体チップを、ワーヤーボンディングにより高密度実装基板上に実装し、フラックス洗浄した後、液状エポキシ樹脂封止材により該チップ部分を封止して、半導体パッケージを形成した。得られた半導体パッケージについて、耐湿性試験を行ったところ、不良率は5%以下であった。
【0180】
[実施例2〜5、参考例15〜17]
それぞれ合成例10〜16で得られた均一な溶液を用いたこと以外は、実施例1と同様な方法で、オーバーコート膜の形成、及び半導体パッケージの形成を行った。評価の結果、いずれも耐湿性の評価における不良率は、1%以下と優れた値であった。
【0181】
[比較例5]
微細配線が形成された半導体ベアチップ上に、ポリイミド(東レ株式会社製 セミコファインSP−230)をスピナーを使用して塗布後、300℃1時間ベークしてポリイミドバッファーコート膜を形成した。得られた半導体チップのバッファーコート膜上に、さらにビスフェノール型エポキシ樹脂(エピコート828、分子量380、エポキシ当量185〜195)45部、キシレン65部、エチレンジアミン4部で調製した溶液を、孔径0.22μmPTFE製精密フィルターで濾過して硬化性樹脂組成物を得た。この溶液をスピナーを使用して、微細配線が形成された半導体ベアチップ上にオーバーコートした後、80℃で120秒間プリベークし、さらに180℃で4時間ポストベークして、膜厚40μmの保護膜を形成させた。得られた半導体パッケージについて、耐湿性試験を行ったところ、不良率は12%であった。
【0182】
[比較例6]
無水マレイン酸変性PPEポリマーの合成
数平均分子量(Mn)が9,200のポリ(2、6−ジメチル−1,4−フェニレンエーテル)100部と、無水マレイン酸1.5部、及び2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルペルオキシ)ヘキサン(日本油脂(株)製パーヘキサ25B)1.0部を室温でドライフルンドした後、シリンダー温度300℃、スクリュー回転数230rpmの条件で2軸押出機により押し出して、無水マレイン酸変性ポリフェニレンエーテル(PPE)を得た。
【0183】
得られた無水マレイン酸変性PPEポリマー15部、硬化助剤として9部のトリアリルシアヌレート、1.2部の2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルペルオキシ)ヘキシン−3を熱トルエン45部に溶解させたところ、沈殿を生じることなく均一な溶液となった。
【0184】
熱硬化PPE樹脂オーバーコート膜の作成
前記で合成したPPE樹脂組成物を用いる以外は、実施例1と同様な方法で、半導体ベアチップをオーバーコートし、そして、半導体パッケージを作成して、評価した。その結果、フラックス洗浄時の薬品処理によって僅かに加水分解が起こり、耐湿試験による信頼性がマイグレーションにより大幅に低下した。不良率は、20%以上であった。
【0185】
【表7】
【0186】
(1)BABC:4,4′−ビスアジドベンザル(4−メチル)シクロヘキサノン
(2)ペルオキシド:2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルペルオキシ)ヘキシン−3
(3)TAC:トリアリルシアヌレート
(4)変性PPE:無水マレイン酸変性ポリフェニレンエーテル
【0187】
【産業上の利用可能性】
本発明によれば、機械的特性、耐薬品性、耐熱性、低吸水性、電気的特性などに優れた電子部品用保護材料が提供される。
【0188】
より具体的に、本発明によれば、特に半導体チップなどの電子部品の封止に適した強度特性、耐熱性に優れた硬化性樹脂組成物からなる電子部品封止材料が提供される。また、本発明によれば、該封止材料を用いた半導体チップなどの電子部品パッケージが提供される。封止材料は、誘電率や誘電正接などの電気特性、及び耐湿性に優れ、しかも、金属リードフレームやLSIチップなどとの密着性に優れる。電子部品封止材料は、電気・電子機器分野において特に高速性、高信頼性の要求される半導体パッケージ用封止材料などとして、広範な分野において有用である。
【0189】
また、本発明によれば、特に半導体チップなどの電子部品のバッファーコート膜やパッシベーション膜、保護膜などに適した、耐薬品性、低吸湿性、耐熱性に優れた電子部品オーバーコート材料が提供される。さらに、本発明によれば、上記オーバーコート材料を用いた半導体チップなどの電子部品が提供される。本発明のオーバーコート材料は、誘電率や誘電正接などの電気特性、及び低不純物性に優れ、しかも、LSIチップや金属配線との密着性に優れる。本発明の電子部品オーバーコート材料は、電気・電子機器分野において特に高速性、高信頼性の要求される半導体部品用オーバーコート材料などとして、広範な分野において有用である。
Claims (14)
- 硬化性樹脂組成物からなる電子部品オーバーコート材であって、
(1)該硬化性樹脂組成物が、(a)環状オレフィン系単量体由来の繰返し単位、または環状オレフィン系単量体由来の繰返し単位と該環状オレフィン系単量体と共重合可能な不飽和単量体由来の繰返し単位とを有し、数平均分子量1,000〜500,000、ガラス転移温度160℃以上の環状オレフィン系重合体(A)と、(b)有機過酸化物、熱により効果を発揮する硬化剤、及び光により効果を発揮する硬化剤からなる群より選ばれた少なくとも一種の硬化剤(B)とを含有し、
(2)該環状オレフィン系重合体(A)が、エポキシ基である極性基を有する極性基含有環状オレフィン系重合体であり、かつ
(3)該極性基含有環状オレフィン系重合体が、(i)環状オレフィン系重合体に、極性基含有不飽和化合物をグラフト反応によって付加させて得た極性基含有環状オレフィン系重合体、(ii)環状オレフィン系重合体中の炭素−炭素不飽和結合に、直接極性基を導入させて得た極性基含有環状オレフィン系重合体、及び(iii)環状オレフィン系重合体中に、極性基を有する環状オレフィン系単量体を共重合させて得た極性基含有環状オレフィン系重合体からなる群より選ばれる極性基含有環状オレフィン系重合体である
電子部品オーバーコート材。 - 環状オレフィン系重合体(A)が、該重合体の総モノマー単位数を基準として、5〜100モル%の極性基を有するものである請求項1記載の電子部品オーバーコート材。
- 環状オレフィン系重合体(A)が、(1)ノルボルネン環を有する脂環族単量体の付加(共)重合体、(2)ノルボルネン環を有する脂環族単量体とビニル化合物との付加共重合体、(3)ノルボルネン環を有する脂環族単量体の開環(共)重合体、及び(4)ノルボルネン環を有する脂環族単量体の開環(共)重合体の水素添加物からなる群より選ばれる少なくとも一種の熱可塑性ノルボルネン系樹脂である請求項1記載の電子部品オーバーコート材。
- 環状オレフィン系重合体(A)が、環状共役ジエンの付加重合体、及び該付加重合体の水素添加物からなる群より選ばれる少なくとも一種である請求項1記載の電子部品オーバーコート材。
- 環状オレフィン系重合体(A)の数平均分子量が10,000〜200,000の範囲である請求項1記載の電子部品オーバーコート材。
- 環状オレフィン系重合体(A)100重量部に対して、硬化剤(B)0.1〜30重量部を含有する請求項1記載の電子部品オーバーコート材。
- 充填剤(C)をさらに含有する請求項1記載の電子部品オーバーコート材。
- 難燃剤(D)をさらに含有する請求項1記載の電子部品オーバーコート材。
- 環状オレフィン系重合体(A)が、環状オレフィン系単量体由来の繰返し単位を、該重合体の全繰返し単位を基準として、50〜100モル%の範囲で含有するものである請求項1記載の電子部品オーバーコート材。
- 環状オレフィン系重合体(A)が、ノルボルネン類の付加(共)重合体、テトラシクロドデセン類の開環(共)重合体の水素添加物、または1,3−シクロヘキサジエンの付加重合体の水素添加物であって、極性基が導入されたポリマーである請求項1記載の電子部品オーバーコート材。
- 電子部品オーバーコート材が、バッファーコート膜、パッシベーション膜、または保護膜である請求項1記載の電子部品オーバーコート材。
- 請求項1ないし11のいずれか1項に記載の電子部品オーバーコート材により、電子部品をオーバコートしてなる電子部品パッケージ。
- 電子部品が、基板上に直接搭載されたものである請求項12記載の電子部品パッケージ。
- 電子部品が、半導体素子である請求項12または13に記載の電子部品パッケージ。
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