JP4721802B2 - テレセントリック光学系の自動光軸補正方法、自動光軸補正テレセントリック光学装置及び露光装置 - Google Patents
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 305
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 33
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 33
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 28
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 21
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 12
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 8
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 6
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 2
- 230000021615 conjugation Effects 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 1
- 230000005686 electrostatic field Effects 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Lens Barrels (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
Description
また、検出した光スポット位置に基づき、第1レンズ及び第2レンズの光軸の角度偏差が常に許容値以下となるように光偏向器を制御することから、レンズの支持体構造の剛性によらず、光軸の捩れによる像移動を光学的に自動補正することが可能となる。
更に、検出用光源によって仮想的に像を形成して光スポット位置を検出することから、光スポット位置を検出する機器がテレセントリック光学系の物体空間と像空間を占有することがなく、テレセントリック光学系の結像光学系としての実用性を向上させることができる。
本発明の第1の実施形態について、図1〜図4を参照して説明する。
次に、本発明の第2の実施形態について、図5及び図6を参照して説明する。なお、第1の実施形態と同一部分には同一符号を付してその説明を省略し、第1の実施形態と異なる構成及びその作用について説明する。
2 露光用光源
3 リフレクタ
4 液晶ディスプレイ
5,6 レンズ系
7,8 光偏向器
9 平板状基板
10 ステージ
11 制御装置
12,13 鏡筒
14 光軸制御装置
15 検出用光源
16,17 ハーフミラー
18 集光レンズ
19 光スポット位置検出器
20 ファイバー
21 コリメートレンズ
22 ファイバー光源
23 制御部
24 入力部
25 記憶部
26 ステージ駆動部
27 露光用光源
28 リフレクタ
29 DMD
30 開口部
Claims (22)
- 第1レンズ及び第2レンズからなり無限遠補正された一対の結像レンズによって構成されるテレセントリック光学系と、前記第2レンズに向けて前記第1レンズの光軸と同軸にコリメート光を投射する検出用光源と、前記第1レンズ及び前記第2レンズの中間に位置し前記第1レンズ又は前記第2レンズから入射した光を他方のレンズに導き得るように構成されると共に前記コリメート光の伝播方向を外部電気信号により可変できるように構成された光偏向器と、前記第2レンズと光軸を共有し前記光偏向器から出射される前記コリメート光を集光する集光レンズと、前記集光レンズの焦点面に設けられ前記集光レンズから出射された前記コリメート光によって形成される光スポット位置を検出する光スポット位置検出器と、前記光スポット位置検出器によって検出された光スポット位置に基づき前記第1レンズ及び前記第2レンズの光軸の角度偏差が許容値以下となるような前記外部電気信号を生成し前記光偏向器を制御して、前記テレセントリック光学系の光軸の屈曲振動を光学的に補正する光軸制御装置と、を備えることを特徴とする自動光軸補正テレセントリック光学装置。
- 前記検出用光源としてレーザーを用いることを特徴とする請求項1記載の自動光軸補正テレセントリック光学装置。
- 前記検出用光源としてコリメートレンズを備えたファイバー光源を用いることを特徴とする請求項1記載の自動光軸補正テレセントリック光学装置。
- 前記光スポット位置検出器として4分割フォトダイオードを用いることを特徴とする請求項1〜請求項3いずれか一項に記載の自動光軸補正テレセントリック光学装置。
- 前記光スポット位置検出器として位置センシティブ・フォトダイオードを用いることを特徴とする請求項1〜請求項3いずれか一項に記載の自動光軸補正テレセントリック光学装置。
- 前記光スポット位置検出器としてCCDアレイを用いることを特徴とする請求項1〜請求項3いずれか一項に記載の自動光軸補正テレセントリック光学装置。
- 前記光偏向器としてガルバノミラーを用いることを特徴とする請求項1〜請求項6いずれか一項に記載の自動光軸補正テレセントリック光学装置。
- 前記光偏向器として音響光学変調器を用いることを特徴とする請求項1〜請求項6いずれか一項に記載の自動光軸補正テレセントリック光学装置。
- 前記光偏向器として液晶光偏向器を用いることを特徴とする請求項1〜請求項6いずれか一項に記載の自動光軸補正テレセントリック光学装置。
- 請求項1〜請求項9記載の自動光軸補正テレセントリック光学装置を備え、前記テレセントリック光学系を結像光学系として露光パターンを基板上に転写することを特徴とする露光装置。
- 電気的に明暗状態を切り替えられるピクセルアレーからなる空間光変調器により形成した露光パターンを基板上に転写することを特徴とする請求項10記載の露光装置。
- 第1レンズ及び第2レンズからなり無限遠補正された一対の結像レンズによって構成されるテレセントリック光学系の光軸を自動的に補正する方法であって、検出用光源から前記第2レンズに向けて前記第1レンズの光軸と同軸にコリメート光を投射し、前記第1レンズ及び前記第2レンズの中間に位置し前記第1レンズ又は前記第2レンズから入射した光を他方のレンズに導き得るように構成されると共に前記コリメート光の伝播方向を外部電気信号により可変できるように構成された光偏向器を介して前記コリメート光を前記第2レンズと光軸を共有する集光レンズに導き、前記集光レンズの焦点面に設けられた光スポット位置検出器を使用して前記コリメート光により形成される光スポット位置を検出して、前記光スポット位置に基づき前記第1レンズ及び前記第2レンズの光軸の角度偏差が許容値以下となるような外部電気信号を生成し、前記外部電気信号により前記光偏向器を制御して前記コリメート光の伝播方向を変えることによって、前記テレセントリック光学系の光軸の屈曲振動を光学的に補正することを特徴とするテレセントリック光学系の自動光軸補正方法。
- 前記検出用光源としてレーザーを用いることを特徴とする請求項12記載のテレセントリック光学系の自動光軸補正方法。
- 前記検出用光源としてコリメートレンズを備えたファイバー光源を用いることを特徴とする請求項12記載のテレセントリック光学系の自動光軸補正方法。
- 前記光スポット位置検出器として4分割フォトダイオードを用いることを特徴とする請求項12〜請求項14いずれか一項に記載のテレセントリック光学系の自動光軸補正方法。
- 前記光スポット位置検出器として位置センシティブ・フォトダイオードを用いることを特徴とする請求項12〜請求項14いずれか一項に記載のテレセントリック光学系の自動光軸補正方法。
- 前記光スポット位置検出器としてCCDアレイを用いることを特徴とする請求項12〜請求項14いずれか一項に記載のテレセントリック光学系の自動光軸補正方法。
- 前記光偏向器としてガルバノミラーを用いることを特徴とする請求項12〜請求項17いずれか一項に記載のテレセントリック光学系の自動光軸補正方法。
- 前記光偏向器として音響光学変調器を用いることを特徴とする請求項12〜請求項17いずれか一項に記載のテレセントリック光学系の自動光軸補正方法。
- 前記光偏向器として液晶光偏向器を用いることを特徴とする請求項12〜請求項17いずれか一項に記載のテレセントリック光学系の自動光軸補正方法。
- 請求項12〜請求項20記載のテレセントリック光学系の自動光軸補正方法を使用し、前記テレセントリック光学系を結像光学系として露光パターンを基板上に転写することを特徴とする露光方法。
- 電気的に明暗状態を切り替えられるピクセルアレーからなる空間光変調器により形成した露光パターンを基板上に転写することを特徴とする請求項21記載の露光方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005219272A JP4721802B2 (ja) | 2005-07-28 | 2005-07-28 | テレセントリック光学系の自動光軸補正方法、自動光軸補正テレセントリック光学装置及び露光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005219272A JP4721802B2 (ja) | 2005-07-28 | 2005-07-28 | テレセントリック光学系の自動光軸補正方法、自動光軸補正テレセントリック光学装置及び露光装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007036038A JP2007036038A (ja) | 2007-02-08 |
JP4721802B2 true JP4721802B2 (ja) | 2011-07-13 |
Family
ID=37794904
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005219272A Active JP4721802B2 (ja) | 2005-07-28 | 2005-07-28 | テレセントリック光学系の自動光軸補正方法、自動光軸補正テレセントリック光学装置及び露光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4721802B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7999939B2 (en) | 2007-08-17 | 2011-08-16 | Asml Holding N.V. | Real time telecentricity measurement |
KR101593870B1 (ko) * | 2015-01-11 | 2016-02-12 | 최민영 | 초점 거리 가변용 텔레센트릭 광학 장치 |
CN112415763B (zh) * | 2020-11-24 | 2022-08-30 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 高功率激光系统中的级联自准直装置 |
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-
2005
- 2005-07-28 JP JP2005219272A patent/JP4721802B2/ja active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007036038A (ja) | 2007-02-08 |
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