JP4698692B2 - Mtf測定方法及びmtf測定装置 - Google Patents
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Description
次に、本発明のMTF測定方法及びMTF測定装置の第1の実施形態を図面にもとづいて説明する。
LW(x)=2*PW(x)−PW(x−1)−PW(x+1)・・・(式1)
ExW=(XminW*|LmaxW|+XmaxW*|LminW|)/(|LmaxW|+|LminW|)・・・(式2)
次に、本発明のMTF測定方法及びMTF測定装置の第2の実施形態を、図面に基づいて説明する。
Claims (6)
- 光学像を撮像素子に導くための被検レンズと、
エッジ模様が形成されたチャートと、
マトリックス状に複数の光電変換素子が配置されて、前記被検レンズを介して導かれた前記チャート像を光電変換して画像信号を出力する前記撮像素子と、を用い、
前記撮像素子から出力する前記画像信号に基づいて、前記エッジ模様を含む所定の画素範囲を走査し、前記被検レンズの性能を評価するための指標となるMTF(Modulation Transfer Function)を測定するMTF測定方法であって、
前記被検レンズの光学中心から径方向に延出する所定の法線上に位置して前記撮像素子に結像された前記エッジ模様の、前記撮像素子の画素配置方向に対するエッジの傾斜角を検出するエッジ傾斜角検出ステップと、
前記エッジ傾斜角検出ステップで検出された前記エッジの傾斜角に基づいて、前記エッジの傾斜角が前記画素配置方向に対して所定の角度になるように、前記エッジ模様を含む所定の画像範囲を傾斜させるエッジ模様傾斜ステップと、
前記エッジ模様傾斜ステップで傾斜された前記エッジ模様を含む所定の画像範囲を前記撮像素子の傾斜前の画素配置に投影して、前記撮像素子の傾斜前の画素配置における画素毎の画素値を、該画素を囲む前記傾斜後の画素配置における画素値を用いて補間生成する補間生成ステップと、
前記補間生成ステップによって補間生成された画素値を前記撮像素子の画素配置方向に走査して前記MTFを測定するMTF測定ステップと、
を備え、
前記被検レンズの光学中心から前記エッジ模様のエッジ延出方向に対して所定の角度だけ傾斜する法線及び該法線に直交する接線の少なくとも一方向に沿って、前記MTFを測定することを特徴とするMTF測定方法。 - 光学像を撮像素子に導くための被検レンズと、
エッジ模様が形成されたチャートと、
マトリックス状に複数の光電変換素子が配置されて、前記被検レンズを介して導かれた前記チャート像を光電変換して画像信号を出力する前記撮像素子と、を用い、
前記撮像素子から出力する前記画像信号に基づいて、前記エッジ模様を含む所定の画素範囲を走査し、前記被検レンズの性能を評価するための指標となるMTF(Modulation Transfer Function)を測定するMTF測定方法であって、
前記被検レンズの光学中心から径方向に延出する所定の法線上に位置して前記撮像素子に結像された前記エッジ模様の、前記撮像素子の画素配置方向に対するエッジの傾斜角を検出するエッジ傾斜角検出ステップと、
前記エッジ傾斜角検出ステップで検出された前記エッジの傾斜角に基づいて、前記エッジの傾斜角が前記画素配置方向に対して所定の角度になるように、前記エッジ模様の位置を変えずに、前記所定の画素範囲における画素配置を傾斜させる画素配置傾斜ステップと、
前記画素配置傾斜ステップで傾斜された前記所定の画素範囲における画素配置を前記撮像素子の傾斜前の画素配置に投影して、前記画素配置傾斜ステップで傾斜された画素配置における画素毎の画素値を、該画素を囲む傾斜前の画素配置の画素値を用いて補間生成する傾斜画素補間生成ステップと、
前記傾斜画素補間生成ステップによって補間生成された画素値を前記法線又は該法線に直交する接線に沿って走査して前記MTFを測定するMTF測定ステップと、
を備え、
前記被検レンズの光学中心から前記エッジ模様のエッジ延出方向に対して所定の角度だけ傾斜する法線及び該法線に直交する接線の少なくとも一方向に沿って、前記MTFを測定することを特徴とするMTF測定方法。 - 前記MTF測定ステップで測定されたMTFを、空間周波数毎に、前記エッジ傾斜角検出ステップで検出された前記エッジの傾斜角に対応付けて補正するMTF補正ステップを備えている、
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のMTF測定方法。 - エッジ模様が形成されたチャートと、
マトリックス状に複数の光電変換素子が配置されて、前記被検レンズを介して導かれた前記チャート像を光電変換して画像信号を出力する前記撮像素子と、を備え、
前記撮像素子から出力する前記画像信号に基づいて、前記エッジ模様を含む所定の画素範囲を走査し、前記被検レンズの性能を評価するための指標となるMTF(Modulation Transfer Function)を測定するMTF測定装置であって、
前記被検レンズの光学中心から径方向に延出する所定の法線上に位置して前記撮像素子に結像された前記エッジ模様の、前記撮像素子の画素配置方向に対するエッジの傾斜角を検出するエッジ傾斜角検出手段と、
前記エッジ傾斜角検出手段で検出された前記エッジの傾斜角に基づいて、前記エッジの傾斜角が前記画素配置方向に対して所定の角度になるように、前記エッジ模様を含む所定の画像範囲を傾斜させるエッジ模様傾斜手段と、
前記エッジ模様傾斜手段で傾斜された前記エッジ模様を含む所定の画像範囲を前記撮像素子の傾斜前の画素配置に投影して、前記撮像素子の傾斜前の画素配置における画素毎の画素値を、該画素を囲む前記傾斜後の画素配置における画素値を用いて補間生成する補間生成手段と、
前記補間生成手段によって補間生成された画素値を前記撮像素子の画素配置方向に走査して前記MTFを測定するMTF測定手段と、
を備え、
前記被検レンズの光学中心から前記エッジ模様のエッジ延出方向に対して所定の角度だけ傾斜する法線及び該法線に直交する接線の少なくとも一方向に沿って、前記MTFを測定するように構成されていることを特徴とするMTF測定装置。 - 光学像を撮像素子に導くための被検レンズと、
エッジ模様が形成されたチャートと、
マトリックス状に複数の光電変換素子が配置されて、前記被検レンズを介して導かれた前記チャート像を光電変換して画像信号を出力する前記撮像素子と、を備え、
前記撮像素子から出力する前記画像信号に基づいて、前記エッジ模様を含む所定の画素範囲を走査し、前記被検レンズの性能を評価するための指標となるMTF(Modulation Transfer Function)を測定するMTF測定装置であって、
前記被検レンズの光学中心から径方向に延出する所定の法線上に位置して前記撮像素子に結像された前記エッジ模様の、前記撮像素子の画素配置方向に対するエッジの傾斜角を検出するエッジ傾斜角検出手段と、
前記エッジ傾斜角検出手段で検出された前記エッジの傾斜角に基づいて、前記エッジの傾斜角が前記画素配置方向に対して所定の角度になるように、前記エッジ模様の位置を変えずに、前記所定の画素範囲における画素配置を傾斜させる画素配置傾斜手段と、
前記画素配置傾斜手段で傾斜された前記所定の画素範囲における画素配置を前記撮像素子の傾斜前の画素配置に投影して、前記画素配置傾斜手段で傾斜された画素配置における画素毎の画素値を、該画素を囲む傾斜前の画素配置の画素値を用いて補間生成する傾斜画素補間生成手段と、
前記傾斜画素補間生成手段によって補間生成された画素値を前記法線又は該法線に直交する接線に沿って走査して前記MTFを測定するMTF測定手段と、
を備え、
前記被検レンズの光学中心から前記エッジ模様のエッジ延出方向に対して所定の角度だけ傾斜する法線及び該法線に直交する接線の少なくとも一方向に沿って、前記MTFを測定するように構成されていることを特徴とするMTF測定装置。 - 前記MTF測定手段で測定されたMTFを、空間周波数毎に、前記エッジ傾斜角検出手段で検出された前記エッジの傾斜角に対応付けて補正するMTF補正手段を備えている、
ことを特徴とする請求項4又は請求項5に記載のMTF測定装置。
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