JP4687339B2 - テ−プ装置 - Google Patents

Description

本発明は、テ−プ装置に関する。詳しくは、特に2つのリ−ル間に巻かれたテ−プに対しリ−ルを直接駆動し、かつリ−ルに巻かれたテ−プの回転速度を変化させることにより、テ−プ走行を所定の速度に制御するように構成されたテ−プ装置に関する。

ここで、従来の「テ−プ装置付加価値書込・工程概略図」につき図1を参照して説明する。付加価値書込工程は、テ−プ巻出し部と、加工部と、検査部及びテ−プ巻取り部で構成される。テ−プ加工工程においては、前記テ−プ巻出し部でテ−プを繰り出し、前記テ−プ巻取り部でテ−プを巻き取る経路途中に前記加工部及び前記検査部を設け、テ−プに付加価値を加える。前記加工部及び前記検査部は、テ−プ走行安定性(要素:速度安定性、張力安定性)が確保された状態で最大の性能が保証されている。そして、テ−プ走行安定性向上は、その後にテ−プを組み込まれる物品の製造工程においても、付加価値が加えられ生産された物品の歩留まりを向上させるとともに、信頼性の高い物品を製造するという観点から重要である。

従来のテ−プ装置及び本発明の形態の実例として、図１括弧書きを参照して、磁気テ−プ装置・磁気テ−プ信号書込・工程概略図につき説明する。磁気テ−プ信号書込み工程は、磁気テ−プ巻出し部と、信号書込部と、検査部及び磁気テ−プ巻取り部で構成される。磁気テ−プ信号書込工程は、前記磁気テ−プ巻出し部によってテ−プを繰り出し、経路途中に設けた前記信号書込み部で信号を書込み、その先の経路途中に設けた前記検査部で、磁気テ−プの所定の記録位置に信号が正しく記録されたかどうかを連続的に測定して検査し、テ−プ走行装置内で記録された磁気テ−プを前記磁気テ−プ巻取り部が巻取るという一連の操作によって行う。

従来のテ−プ走行装置につき、図１５及び図１６を参照して機器配置と動作を説明する。このテ−プ走行装置は、テ−プ走行について磁気テ−プを送り出す「巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ」（４２４）と、巻出し側テ−プ繰り出し速度を検出するための「巻出し側速度検出器」(４０３)と、この磁気テ−プに信号書込を加える「加工部」(４０９)と、磁気テ−プ記録信号を測定する「検査部」（４１０)と、巻取られる磁気テ−プの張力を検出する「巻取り側張力検出器」(４０６)と、記録された磁気テ−プを巻取る「巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タ」（４８４）を有する。

このように構成された前記テ−プ走行装置は、巻出し側磁気テ−プ巻出し部（４０２）に対しては常に巻出し側速度検出器（４０３）による速度安定化制御を行い、巻取り側磁気テ−プ巻取り部（４０８）に対しては常に巻取り側張力検出器（４０６）による張力安定化制御を行い、テ−プ走行装置内の加工部及び検査部に対して、一定速度でかつ一定テ−プ張力の環境を提供することによって安定した加工(信号書込)が可能となる。しかしながら、現在所望する高精度の速度制御及び張力制御は出来ない。

従来のテ−プ装置には、速度検出手段としてタコメ−タを使用し、張力検出手段を板バネと差動変成器で構成したものがある。（例えば、特許文献４参照）。これは、以上で説明した従来例の典型であり、図１５及び図１６と一致する。また、従来のテ−プ装置には、以上で説明した従来例から張力検出手段を取り去った構成のものがある。（例えば、特許文献３参照。）これは、以上で説明した従来例より更に精度が落ちるため、現在所望する高精度の速度制御及び張力制御は出来ない。

また、従来のテ−プ装置には、供給リ−ル、巻取りリ−ル、記録ヘッドを搭載したドラム（モ−タ駆動）と三つのモ−タを使用したものがある。（例えば、特許文献２参照。）しかし、ドラムはテ−プ走行には関与しない。先に説明した従来例と同じく、供給リ−ルと巻取りリ−ルの二つがテ−プ走行を行うので、現在所望する高精度の速度制御及び張力制御は出来ない。

また、従来のテ−プ装置では、先に説明した従来例から、張力検出手段と速度検出手段を取り去った構成のものがある（例えば、特許文献１参照）。実測する代わりにデ−タ（換算表）を制御回路に持ち、テ−プリ−ルの回転量から、テ−プ張力とテ−プ速度を推定計算するものである。しかし、推定値であるため個々のテ−プの誤差（質量、引張り強度、伸び量等）に全く対応できないため、現在所望する高精度の速度制御及び張力制御は出来ない。
特開平７−８５５４０号公報（第２頁、図１） 特開平８−７４０３号公報（第４頁、図６） 特開平１−１５８６５４号公報（第５頁、図１） 特開昭６２−８８７６８号公報（第２頁、図１）

上述のようなテ−プ走行装置においては、以前は要求された磁気テ−プ・信号書込精度を確保出来る程度のテ−プ走行速度安定性とテ−プ張力安定性を充分に有していた。しかし、近年は信号書込記録容量を更に大きくする要求が有り、テ−プ厚みを薄くすると共に磁気テ−プ・信号書込精度を更に向上させなければならなくなった。このため、テ−プ走行装置内の加工部及び検査部におけるテ−プ走行速度安定性とテ−プ張力安定性精度を更に向上させる必要性が生じた。

また、これらの従来のテ−プ走行装置では、巻出しリ−ル台にセットするワーク質量(磁気テ−プ巻回量)の大小違いによる低域から高域までの広い領域でのモ−タ駆動力(トルク)の応答性の問題が有った。同様に、巻取りリ−ル台におけるワ−ク質量(磁気テ−プ巻回量)大小違いによる低域から高域までの広い領域でのモータ駆動力(トルク)応答性の問題も有った。特に張力検出器にてテ−プ張力を確認して巻取り側テ−プリ−ルサ−ボモ−タにて角度位置の制御を行う場合、多大なるモ−タ駆動力が必要になる。

さらに、このようなテ−プ走行装置では、テ−プ走行速度を更に上げようとしても速度安定性及び張力安定性が損なわれ、逆に悪くなる傾向が確認出来ていた。

そこで、本発明は、このような問題点を解決すべく、テ−プ走行装置の速度安定性及び張力安定性を更に良くしながら、高速テ−プ走行能力を持ち、高い安定性を有したテ−プ走行装置を提供することを課題とする。

上記のような課題は、巻出し側テ−プ張力変動を計る巻出し側張力検出手段と、巻取り側テ−プ張力変動を計る巻取り側張力検出手段と、巻出し側テ−プ速度を計る巻出し側速度検出手段と、巻取り側テ−プ速度を計る巻取り側速度検出手段と、テ−プ走行速度基準になる基準キャプスタンとを有し、前記巻出し側張力検出手段を前記巻出し側検定ロ−ラと基準キャプスタンのロ−ラとの間に配置し、前記巻取り側張力検出手段を基準キャプスタンのロ−ラと巻取り側検定ロ−ラとの間に配置したことを特徴とするテ−プ走行装置によって解決される。

本発明にかかるテ−プ走行装置では、テ−プ走行速度安定化と張力安定化を同時に実現し、従来より大幅に安定化することが出来る。

以下本発明の実施の形態にかかるテ−プ走行装置について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、以下に述べる実施の形態は、本発明の好適な具体例であり技術的に数々の限定がなされているが、本発明の要旨を逸脱しない範囲において変更が可能である。

本発明の実施の形態では図２に示す如く、テ−プ走行装置は、テ−プ走行が行われる際に巻出し側磁気テ−プを回転駆動させる「磁気テ−プ巻出し部」(２)と、外周寸法が所定の「巻出し側検定ロ−ラ」（３１）を有する巻出しテ−プ繰り出し速度を検出するための「巻出し側速度検出器」(３)と、巻出し側テ−プ張力を検出する「巻出し側張力検出器」(４)とを備え、更にテ−プ走行速度基準になる「基準キャプスタンサ−ボモ−タ」(５２)と、「基準キャプスタンロ−ラ」（５１）との間に圧着力を持ってテ−プを挟み込む「ピンチロ−ラ」(５４)と、巻取り側磁気テ−プ張力を検出する「巻取り側張力検出器」(６)と、外周寸法が所定の「巻取り側検定ロ−ラ」（７１）を有する巻出しテ−プ繰り出し速度を検出するための「巻取り側速度検出器」(７)と、記録された磁気テ−プを巻き取る「磁気テ−プ巻取り部」(８)と、磁気テ−プに対して信号書込みを加える「加工部」(９)と、磁気テ−プに記録した信号を測定する「検査部」（１０）とを備えて構成される。

以上のように構成されたテ−プ走行装置は、検定ロ−ラを用いて巻出し及び巻取りテ−プリ−ル径を常に計算しながら、単位時間内に「基準キャプスタン」（５）が送り出すテ−プ量と巻出し及び巻取りテ−プリ−ルから繰り出され及び巻き取られるテ−プ量が同じになるように、常に巻出し及び巻取りテ−プリ−ル回転数を制御する。さらに「巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ」（２４）及び「巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タ」（８４）のどちらも、張力制御を行いながら速度制御も同時に行うように制御する。したがって、このように構成されたテ−プ走行装置は、テ−プ走行経路の全域で張力制御と速度制御を同時に行うことから、従来装置と比べ速度安定性及び張力安定性の度合いが高まり加工(信号書込)精度向上が可能になり、テ−プ薄物化に対する最適な加工(信号書込)環境を提供することが可能になった。

（実施例）ここで、本発明にかかるテ−プ走行装置を磁気テ−プ・信号書込工程に適用した一例について図２から図１１及び図１４を参照して説明する。

磁気テ−プ信号書込工程は、図２「テ−プ走行装置・機器配置図の構成」に示すように、磁気テ−プを巻き出す磁気テ−プ巻出し部(２)と、磁気テープを挟み込み送り出す基準キャプスタン（５）と、磁気テ−プに信号を書き込む加工部(信号書込)(９)と、記録された磁気テ−プ信号を連続的に再生し測定する検査部(１０)と、記録された磁気テ−プを巻き取る磁気テ−プ巻取り部(８)とからなる装置によって実現される。

磁気テ−プ巻出し部(２)は、「巻出しテ−プリ−ル台」（２１）上の「巻出しテ−プリ−ル」（２６）の「リ−ル軸部」（２７）に長尺の磁気テ−プを巻装し、下流側に磁気テ−プを定速度で繰り出し供給する。そのため、磁気テ−プの走行速度は一定であっても、巻出し始めでテ−プリ−ルに巻かれている磁気テ−プの径が大きいときは巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ（２４）の回転速度は小さく、巻出し終わりでテ−プリ−ルに巻かれている磁気テ−プの径が小さくなると巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ（２４）の回転速度は大きくなる。

基準キャプスタン（５）は、運転開始時は低速から高速へと加速し、運転中は一定速度となり、運転終了時は高速から低速へと減速する事前に設定された台形速度曲線に沿って安定回転駆動する基準キャプスタンサ−ボモ−タ（５２）に連結された基準キャプスタンロ−ラ(５１)と磁気テ−プを挟み込み一定圧力で基準キャプスタンロ−ラ（５１）に押し付けるピンチロ−ラ(５４)から構成され、一定速度かつ安定走行にて磁気テ−プを挟み込み送り出す。このテ−プ走行装置では、基準キャプスタンサ−ボモ−タ（５２）の回転を主(基準)とし、巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ（２４）の回転及び巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タ（８４）の回転が従になる関係を保つようにしている。

加工部(信号書込)(９)は、磁気テ−プ・走行速度安定性と張力安定性が充分に確保された環境下で、「書込ヘッド」（図示しないが含む）にて磁気テ−プに信号を書き込む。

検査部(１０)は、「再生ヘッド」（図示しないが含む）にて連続的に磁気テ−プ信号を読み出して測定し、磁気テ−プに書き込まれた信号品質を検査する。

磁気テ−プ巻取り部(８)は、「巻取りテ−プリ−ル台」（８１）上の「巻取りテ−プリ−ル」（８６）の「リ−ル軸部」（８７）に磁気テ−プが巻装されていない状態から、上流側から送られてきた磁気テ−プを一定速度で巻き取る。そのため、磁気テ−プの走行速度は一定であっても、巻取り始めの磁気テ−プ径が小さいときは巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タ（８４）の回転速度は大きく、巻取り終わりで磁気テ−プ径が大きくなると巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タ（８４）の回転速度は小さくなる。

磁気テ−プ巻出し側には図１4に示すような構造の「巻出し側張力検出器」(４)が配置されている。「テ−プ張力検出ア−ム」(４３)、テ−プ張力検出ア−ム先端に取り付けられた「巻出し側テ−プ回転ロ−ラ」（４２）、テ−プ張力検出ア−ム先端に取り付けられた「伸縮バネ」（４１）が接続されており、要求されるテ−プ張力と伸縮バネ張力が釣り合った位置を「ポテンショメ−タ」（４４）の抵抗値として出力する。磁気テ−プ張力を得る為、このテ−プ走行装置では基準キャプスタンサ−ボモ−タ（５２）を基準にして巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ(２４)との巻出し部・周速度補正分（Ｖsa）だけ回転速度を遅く指示することによりテ−プ張力を得ている。所望の磁気テ−プ張力であるかどうか巻出し側張力検出器(４)にて確認し、巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ(２４)の回転速度調整にて自動制御を行う。

（詳細説明−巻出し制御方法及び演算方法）磁気テ−プ巻出し側には、外周寸法が所定の巻出し側検定ロ−ラ(３１)を有する巻出し側速度検出器（３）が配置されており、巻出し検定ロ−ラ（３１）が1回転する間に巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ(２４)がどの程度回転したかを、巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ（２４）に連結されている「巻出しサ−ボモ−タエンコ−ダ」（２５）から発生するパルス量(Ps)を数えて確認する。磁気テ−プリ−ルから巻き出されたテ−プ長さと巻出し側検定ロ−ラ(３１)に巻き付いて送り出されたテ−プ長さが一致するものだと仮定すると、積算されたパルス量(Ps)を元に計算を行うことで、その時の「巻出しテ−プ巻回最外周直径(Ds)」を算出することが出来る。この計算は巻出し側検定ロ−ラが1回転するたびにその都度再計算が行われる。図8に磁気テ−プリ−ルと検定ロ−ラの関係説明図を示す。図中の大きな円が磁気テ−プリ−ルに巻かれた磁気テ−プの最外周を表す。図中の小さな円が検定ロ−ラの外周を表す。大きな磁気テ−プリ−ルの外周から引き出された磁気テ−プが小さな検定ロ−ラに巻回され方向を変えている様子が示されている。

図8を参照しながら、巻出し側の関係の詳細な説明を行う。
磁気テ−プリ−ルは、直結された図示しないサ−ボモ−タにより、時計回りに回転して、最外周から磁気テ−プを送り出す。検定ロ−ラは、回転自在に支持されており、磁気テ−プリ−ルの最外周から送り出された磁気テ−プが巻回され、磁気テ−プの走行に伴って反時計回りに回転する。

巻出し側検定ロ−ラ（３１）の1回転に相当するサ−ボモ−タ回転角度をθs、巻出し側検定ロ−ラの1回転に相当する巻出しサ−ボモ−タエンコ−ダからのパルス発生量をＰsとし、サ−ボモ−タ1回転（360度）に発生するパルス発生量をPｗsとすると、PsとPｗsの関係は次式で求められる。

（Ps）/(Pws)=(θs)/360 ――――――（1）

また、巻出し側検定ロ−ラの1周長さをLｗsとし、現時点でのテ−プ巻回最外周直径をDsとすると、現時点でのテ−プリ−ルの周長さは、直径に円周率を乗じた（π）＊Dｓであるから、その比は次式で求められる。

(θs)/360＝(Lws)/((π)＊Dｓ) ――――――（2）

（1）式と（2）式より、（3）式が求められる。

(Ps)/(Pws)=(Lws)/((π)＊Dｓ) ――――――（3）

（3）式を変形して、（4）式となり、現時点でのテ−プ巻回最外周直径が計算出来る。

Dｓ＝((Lws)/(π))＊((Pws)/(Ps)) ――――――（4）

現時点での「巻出しテ−プ巻回最外周直径(Ds)」を算出したあとに、「巻出しテ−プ巻回最外周直径(Ds)」と「基準キャプスタンロ−ラ直径(Dc)」との径比値(Ss)を算出する。

Ss＝Ds（変数）／Dc（固定） ――――――（5）

更に逆比例の関係で、その時の基準キャプスタンサ−ボモ−タ（５２）に対する速度指示値(υc)を径比値(Ss)で除算すると、その時に要求される巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ（２４）の回転速度基準指示値(υs)を算出する事が出来る。

υs（変数）＝υc（固定）／Ss ―――――――（6）

図10に磁気テ−プリ−ル、検定ロ−ラ、基準キャプスタンロ−ラ及びピンチローラの関係説明図を示す。図中の大きな円が磁気テ−プリ−ルに巻かれた磁気テ−プの最外周を表す。図中の小さな円のうち磁気テ−プリ−ルの左側上方の小さな円が巻き出し側検定ロ−ラの外周を表す。図中の小さな円のうち磁気テ−プリ−ルの右側下方の二つの小さな円が基準キャプスタンロ−ラとピンチロ−ラの外周を表す。尚、左下方に極小さな円があるが、ガイドピンであり、単純に磁気テ−プ走行方向を転換しているだけに用いている。従って、ガイドピンは計算には関与しない。磁気テ−プリ−ルは、直結された図示しないサ−ボモ−タにより、時計回りに回転して巻回されている磁気テ−プの最外周から磁気テ−プを送り出す。検定ロ−ラは、回転自在に支持されており、磁気テ−プリ−ルから送り出された磁気テ−プが巻回され、磁気テ−プの走行に伴って反時計回りに回転する。検定ロ−ラを過ぎた磁気テ−プは、ガイドピンで方向転換され基準キャプスタンロ−ラに対しピンチロ−ラによって押し付けられて挟持され、基準キャプスタンロ−ラに連結された図示しないサ−ボモ−タによって定速走行される。

磁気テ−プを安定して走行させるための条件は、「単位時間に巻出し部から送り出す量"Ls"と基準キャプスタンロ−ラで送り出す量"Lc"が一致する」事である。

Ls＝Lc ――――――――（7）
ここで、
変数Ls:1秒間に巻出し部から送り出されるテ−プ長さ(単位:m)
変数Lc:1秒間に基準キャプスタンから送り出されるテ−プ長さ(単位:m)

言い換えると、「巻出し部・周速度"Vs"＝基準キャプスタン・周速度"Vc"」となる。

Vs＝Vc ――――――――（8）
ここで、
変数Vs: 巻出し部・周速度(単位:m/s)
変数Vc: 基準キャプスタン・周速度(単位:m/s)

本実施例で使用したサ−ボモ−タ駆動アンプの仕様より、サ−ボモ−タの回転数は速度指示値に対して正比例する。従って、巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タの回転数(単位:r/min)Rｓと基準キャプスタンサ−ボモ−タの回転数(単位:r/min)Rcの比は、巻出しサ−ボモ−タ駆動アンプヘの速度指示値(単位:なし) υsと基準キャプスタンサ−ボモ−タ駆動アンプヘの速度指示値(単位:なし) υcとの比と一致する。

(Rs)/(Rc)＝(υs)/(υc) ――――――――（9）

1秒間に巻出し部から送り出されるテ−プ長さ(単位:m) Lsは（10）式となる。

Ls＝((Rs)/60)＊((π)＊(Ds)) ――――――――（10）
ここで、
変数Ds:現時点での巻出しテ―プ巻回最外周直径(単位:m)
なお、現時点でのテ−プ巻回最外周直径"Ds"は（4）式で算出出来る。

1秒間に基準キャプスタンから送り出されるテ−プ長さ(単位:m)Lcは（11）式となる。

Lc＝((Rc)/60)＊((π)＊(Dc)) ――――――――（11）
ここで、
定数Dc:キャプスタンロ−ラ直径(単位:m)

（7）式と（10）式と（11）式より、（12）式が得られる。

((Rs)/60)＊((π)＊(Ds))=((Rc)/60)＊((π)＊(Dc))――（12）

（12）式を整理すると、（13）式となる。

(Rs)/(Rc)=(Dc)/(Ds) ――――――――（13）

（9）式と（13）式より整理すると、巻出しサ−ボモ−タ駆動アンプヘの回転速度基準指示値"υs"は、(14)式で得られる。

υs＝((Dc)/(Ds))＊(υc) ―――――――――（14）

上記[0056]項で算出した巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ(２４)の回転速度基準指示値(υs)から、上記[0025]項で要求される所望の磁気テ−プ張力に見合う巻出し部・周速度補正分(Ｖsa)に相当する回転速度指示値補正分（υsa）を減算し、回転速度指示値(υsb)として「巻出しサ−ボモ−タ駆動アンプ」（１２２）に出力する。

磁気テ−プ巻取り側には図１4に示すような構造の巻取り側張力検出器(６)が配置されている。「テ−プ張力検出ア−ム」(６３)、テ−プ張力検出ア−ム先端に取り付けられた「巻取り側テ−プ回転ロ−ラ」（６２）、テ−プ張力検出ア−ム先端に取り付けられた「伸縮バネ」（６１）が接続されており、要求されるテ−プ張力と伸縮バネ張力が釣り合った位置を「ポテンショメ−タ」（６４）の抵抗値として出力する。磁気テ−プ張力を得る為、このテ−プ走行装置では基準キャプスタンサ−ボモ−タ（５２）を基準にして巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タ(８４)との巻取り部周速度補正分（Vta）だけ回転速度を早く指示することによりテ−プ張力を得ている。所望の磁気テ−プ張力であるかどうか巻取り側張力検出器(６)にて確認し、巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タ(８４)の回転速度調整にて自動制御を行う。

（詳細説明−巻取り制御方法及び演算方法）磁気テ−プ巻取り側には、外周寸法が所定の巻取り側検定ロ−ラ(７１)を有する巻取り側速度検出器（７）が配置されており、巻取り側検定ロ−ラが1回転する間に巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タ(８４)がどの程度回転したかを、巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タ（８４）に連結されている「巻取りサ−ボモ−タエンコ−ダ」（８５）から発生するパルス量(Pｔ)を数えて確認する。磁気テ−プリ−ルに巻き取られたテ−プ長さと巻取り側検定ロ−ラ(７１)に巻き付いて送り出されたテ−プ長さが一致するものだと仮定すると、積算されたパルス量(Pt)を元に計算を行うことで、その時の「巻取り部テ−プ巻回最外周直径(Dt)」を算出することが出来る。この計算は巻取り側検定ロ−ラが1回転するたびにその都度再計算が行われる。図9に磁気テ−プリ−ルと検定ロ−ラの関係説明図を示す。図中の大きな円が磁気テ−プリ−ルに巻かれた磁気テ−プの最外周を表す。図中の小さな円が検定ロ−ラの外周を表す。大きな磁気テ−プリ−ルの最外周に巻き取られる磁気テ−プが小さな検定ロ−ラに巻回され方向を変えている様子が示されている。

図9を参照しながら、巻取り側の関係の詳細な説明を行なう。
磁気テ−プリ−ルは、直結された図示しないサ−ボモ−タにより、時計回りに回転して、最外周へ磁気テ−プを巻き取る。検定ロ−ラは、回転自在に支持されており、磁気テ−プリ−ルの最外周へと巻き取られる磁気テ−プが巻回され、磁気テ−プの走行に伴って反時計回りに回転する。

巻取り側検定ロ−ラ（７１）の1回転に相当するサ−ボモ−タ回転角度をθt、巻取り側検定ロ−ラ1回転に相当するサ−ボモ−タエンコ−ダからのパルス発生量をＰtとし、サ−ボモ−タ1回転（360度）に発生するパルス発生量をPｗtとすると、PtとPｗtの関係は次式で求められる。

（Pt）/(Pｗt)=(θt)/360 ―――――――――（15）

また、巻取り側検定ロ−ラの1周長さをLｗtとし、現時点でのテ−プ巻回最外周直径をDtとすると、現時点でのテ−プリ−ルの周長さは、直径に円周率を乗じた（π）＊Dtであるから、その比は次式で求められる。

(θt)/360＝(Lｗt)/((π)＊Dt) ―――――――――（16）

（15）式と（16）式より、（17）式が求められる。

(Pt)/(Pwt)=(Lwt)/((π)＊Dt) ―――――――――（17）

（17）式を変形して、（18）式となり、現時点でのテ−プ巻回最外周直径が計算出来る。

Dt＝((Lwt)/(π))＊((Pwt)/(Pt)) ―――――――――（18）

現時点での「巻取りテ−プ巻回最外周直径(Dt)」を算出したあとに、「巻取りテ−プ巻回最外周直径(Dt)」と「基準キャプスタンロ−ラ直径(Dc)」との径比値(St)を算出する。

St＝Dt（変数）／Dc（固定） ―――――――――（19）

更に逆比例の関係で、その時の基準キャプスタンサ−ボモ−タ（５２）に対する速度指示値(υc)を径比値(St)で除算すると、その時に要求される巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タ（８４）の回転速度基準指示値(υt)を算出する事が出来る。

υt（変数）＝υc（固定）／St ―――――――――（20）

図１１に磁気テ−プリ−ル、検定ロ−ラ、基準キャプスタンロ−ラ及びピンチローラの関係説明図を示す。図中の大きな円が磁気テ−プリ−ルに巻かれた磁気テ−プの最外周を表す。図中の小さな円のうち磁気テ−プリ−ルの右側上方の小さな円が巻取り検定ロ−ラの最外周を表す。図中の小さな円のうち磁気テ−プリ−ルの左側下方の二つの小さな円が基準キャプスタンロ−ラとピンチロ−ラの外周を表す。尚、右下方に極小さな円があるが、ガイドピンであり、単純に磁気テ−プ走行方向を転換しているだけに用いている。従って、ガイドピンは計算には関与しない。磁気テ−プリ−ルは、直結された図示しないサ−ボモ−タにより、時計回りに回転して巻回された磁気テ−プの最外周へと磁気テ−プを巻き取る。巻取り側検定ロ−ラは、回転自在に支持されており、磁気テ−プリ−ルへと引き込まれる磁気テ−プが巻回され、磁気テ−プの走行に伴って反時計回りに回転する。検定ロ−ラに送り込まれる磁気テ−プは、ガイドピンで方向転換され基準キャプスタンロ−ラに対しピンチロ−ラによって押し付けられて挟持され、基準キャプスタンロ−ラに連結された図示しないサ−ボモ−タによって定速走行される。

磁気テ−プを安定して走行させるための条件は、「単位時間に巻取り部へ巻き取る量"Lt"と基準キャプスタンロ−ラで送り出す量"Lc"が一致する」事である。

Lt＝Lc ―――――――――（21）
ここで、
変数Lt:1秒間に巻取り部に巻き取られるテ−プ長さ(単位:m)
変数Lc:1秒間に基準キャプスタンから送り出されるテ−プ長さ(単位:m)

言い換えると、「巻取り部・周速度"Vt"＝基準キャプスタン・周速度"Vc"」となる

Vt＝Vc ―――――――――（22）
ここで、
変数Vt: 巻取り部・周速度(単位:m/s)
変数Vc: 基準キャプスタン・周速度(単位:m/s)

本実施例で使用したサ−ボモ−タ駆動アンプの仕様より、サ−ボモ−タの回転数は速度指示値に対して正比例する。従って、巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タの回転数(単位:r/min)Rtと基準キャプスタンサ−ボモ−タの回転数(単位:r/min)Rcの比は、巻取り部モ−タ−アンプヘの速度指示値(単位:なし) υtと基準キャプスタンサ−ボモ−タ駆動アンプヘの速度指示値(単位:なし) υcとの比と一致する。

(Rt)/(Rc)＝(υt)/(υc) ―――――――――（23）

1秒間に巻取り部に巻き取られるテ−プ長さ(単位:m) Ltは（24）式となる。

Lt＝((Rt)/60)＊((π)＊(Dt)) ――――――――――（24）
ここで、
変数Dt:現時点での巻取りテ−プ巻回最外周直径(単位:m)
なお、現時点でのテ−プ巻回最外周直径"Dt"は（18）式で算出出来る。

1秒間に基準キャプスタンから送り出されるテ−プ長さ(単位:m)Lcは（25）式となる。

Lc＝((Rc)/60)＊((π)＊(Dc)) ――――――――――（25）
ここで、
定数Dc:基準キャプスタンロ−ラ直径(単位:m)

（21）式と（24）式と（25）式より、（26）式が得られる。

((Rt)/60)＊((π)＊(Dt))=((Rc)/60)＊((π)＊(Dc))――（26）

（26）式を整理すると、（27）式となる。

(Rt)/(Rc)=(Dc)/(Dt) ――――――――――（27）

（23）式と（27）式より整理すると、巻取りサ−ボモ−タ駆動アンプヘの回転速度基準指示値"υt"は、(28)式で得られる。

υt＝((Dc)/(Dt))＊(υc) ―――――――――――（28）

上記[0089]項で算出した巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タ(８４)回転速度基準指示値(υt)から、上記[0058]項で要求される所望の磁気テ−プ張力に見合う巻取り部・周速度補正分（Vta）に相当する回転速度指示値補正分(υta)を加算し、回転速度指示値(υtb)として「巻取りサ−ボモ−タ駆動アンプ」（１６２）に出力する。

更に図4、図5、図6、図7を用いて、上記[0025]から[0090]までに説明した制御方法の具体的な実現手段について説明する。

図4に本発明のテ−プ走行装置・制御回路の全体ブロック図を示す。本ブロックは、巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ、基準キャプスタンサ−ボモ−タ、巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タが協調して回転し、テ−プが速度安定かつ張力安定して走行するように統括制御する。本ブロックは、大きく三つの部分に分けられる。

ブロック（１１）は、「巻出しサ−ボモ−タ制御・ブロック」である。巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タを制御する。

ブロック（１３）は、「基準キャプスタンサ−ボモ−タ制御・ブロック」である。基準キャプスタンサ−ボモ−タを制御する。また、巻出しサ−ボモ−タ制御・ブロックと巻取りサ−ボモ−タ制御・ブロックに対し制御の基準となる基準キャプスタンサ−ボモ−タ速度指示値（υｃ）を供給する。

ブロック（１５）は、「巻取りサ−ボモ−タ制御・ブロック」である。巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タを制御する。

図6により、基準キャプスタンサ−ボモ−タ制御・ブロックについて詳細に説明する。
基準キャプスタンサ−ボモ−タ制御・ブロックは、「基準キャプスタンサ−ボモ−タ速度指示値発生器」（１３１）、「基準キャプスタンサ−ボモ−タ駆動アンプ」（１３２）、「基準キャプスタンサ−ボモ−タ」（５２）を有する。

基準キャプスタンサ−ボモ−タ速度指示値発生器（１３１）は、事前に設定されている台形速度曲線に沿うように、基準となる信号を発生する。「運転釦」（１３３）が押されると、停止状態から起動して、低速回転より加速して行き、高速回転に達すると一定速度の定速回転状態になる。その後、テ−プ終了位置の検知による終了制御及び「停止釦」（１３４）が押されたことを検知した場合の緊急停止により、高速回転から減速して行き停止状態に戻る。事前に設定する条件、運転開始からの加速及び定速走行速度は、テ−プ量により決定する。減速は検知されたものによって場合分けされる。巻出しテ−プ径が小さくなってテ−プ終了位置を検知した場合は減速して行き、テ−プの終了位置で停止するように制御する。停止釦（１３４）が押されたことを検知した場合はテ−プに過負荷をかけないようにしながらできるだけ速やかに停止するように制御する。これらの加速の割合及び減速の割合は、あらかじめ磁気テ−プ量、テ−プの伸び量等を考慮してプログラム中の表デ−タとしてROM化し、基準キャプスタンサ−ボモ−タ速度指示値発生器（１３１）に組み込むようにした。

基準キャプスタンサ−ボモ−タ駆動アンプ（１３２）は、基準キャプスタンサ−ボモ−タ速度指示値発生器（１３１）からの基準キャプスタンサ−ボモ−タ速度指示値（υｃ）に従って、基準キャプスタンサ−ボモ−タを駆動させる。また、基準キャプスタンサ−ボモ−タに直結しているエンコ−ダからのエンコ−ダパルスを受け、速度のフィ−ドバック制御を行い、基準キャプスタンサ−ボモ−タを安定駆動する。

基準キャプスタンサ−ボモ−タは、テ−プ走行の基準速度を決めるものである。基準キャプスタンサ−ボモ−タの回転を基準（主）として、巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ及び巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タが従になる関係を保つ制御をするように装置全体を構成している。

更に、「図5巻出しサ−ボモ−タ制御・ブロック図」にて、上記[0025]項から[0057]項までの内容を詳細に説明する。

巻出しサ−ボモ−タ制御・ブロック図は、「巻出し検定ロ−ラパルス発生器」（３２）と、「巻出しサ−ボモ−タ用発生パルス検定器」（１１１）と、「安定化用フィルタ」（１１２）と、「巻出し側テ−プ巻き直径・算出器」（１１3）と、「巻出し側テ−プ巻き径比値・算出器」（１１４）と、「除算器」（１１５）と、「加算器」（１２１）と、巻出しサ−ボモ−タ駆動アンプ（１２２）と、巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ（２４）に直結した「巻出しサ−ボモ−タエンコ−ダ」（２５）と、「巻出し側テ−プ張力設定器」（１１7）と、「巻出し側テ−プ張力検出器」（１１８）と、「加算器」（１１９）を有する。

巻出しサ−ボモ−タエンコ−ダ(２５)から発生したパルスは、巻出サ−ボモ−タ駆動アンプ(１２２)経由で巻出しサ−ボモ−タ用発生パルス検定器(１１１)に入力される。同時に、巻出しテ−プリ−ル台（２１）近傍に配置された巻出し検定ロ−ラパルス発生器(３２)からの信号を巻出しサ−ボモ−タ用発生パルス検定器(１１１)に入力する。そして、巻出し検定ロ−ラが1回転するたびに1回発生するパルスを利用し、現在の巻出し検定ロ−ラパルスから次回の巻出し検定ロ−ラパルス発生までの区間に送り込まれた巻出しサ−ボモ−タエンコ−ダ(２５)から発生したパルスを積算する。

巻出しサ−ボモ−タ用発生パルス検定器(１１１)で積算されたパルス量(数値)を安定化用フィルタ(１１２)に入力し、各回の検定パルス量に対して平滑化を行う。安定化用フィルタ(１１２)の検定パルス量(Ps)出力を巻出し側テ−プ巻き直径・算出器(１１３)に入力し、「図8の巻出しテ−プリ−ル直径算出関係式（（4）式）」に基づいて、その時点の「巻出し側テ−プ巻回最外周直径値」(Ds)を算出する。

巻出し側テ−プ巻き径比値・算出器(１１４)にて、巻出し側テ−プ巻き直径・算出器(１１３)の出力「巻出し側テ−プ巻回最外周直径値」(Ds)と「基準キャプスタンロ−ラ直径値(既知固定値)」(Dc)との「径比値」(Ss)を算出する。

基準キャプスタンサ−ボモ−タ速度指示値発生器(１３１)から、現時点での「基準キャプスタンサ−ボモ−タ速度指示値(可変値)」(υc)を得て「除算器」(１１５)に入力する。除算器(１１５)において、現時点での「基準キャプスタンサ−ボモ−タ速度指示値」(υc)を「径比値」(Ss)で除算し、「巻出しサ−ボモ−タ速度基準指示値」(υs)を得る。

基準キャプスタン（５）と巻出しテ−プリ−ル（２６）との間に、所望のテ−プ張力を得る為に、「巻出しサ−ボモ−タ速度指示値」（υsb）を少し小さくして微調整しなければならない。まず、「半固定抵抗器」（１１６）によって目標のテ−プ張力に相当する基準数値を発生する巻出し側テ−プ張力設定器(１１７)の出力(Es)から、現在のテ−プ張力を検出する巻出し側テ−プ張力検出器(１１８)の出力(Epos)の差分「巻出し側回転速度指示値補正分」(υsa)を加算器(１１９)で計算する。更にその出力を加算器(１２１)に入力し、「巻出しサ−ボモ−タ速度基準指示値」(υs)から減算し、その時点の適切な「巻出しサ−ボモ−タ速度指示値」(υsb)を得る。

「巻出しサ−ボモ−タ速度指示値」(υsb)を巻出しサ−ボモ−タ駆動アンプ(１２２)に入力し、巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ(２４)を駆動する。

同様に、「図7巻取りサ−ボモ−タ制御・ブロック図」にて、[0058]から[0090]までの内容を説明するが、「図5巻出しサ−ボモ−タ制御・ブロック図」の説明では「基準キャプスタン（５）と巻出しテ−プリ−ル（２６）との間に、所望のテ−プ張力を得る為に、「巻出しサ−ボモ−タ速度指示値」（υsb）を少し小さくして微調整しなければならない。」としていた部分が、「図7巻取りサ−ボモ−タ制御・ブロック図」の説明では「基準キャプスタン（５）と巻取りテ−プリ−ル（８６）との間に、所望のテ−プ張力を得る為に、「巻取りサ−ボモ−タ速度指示値」（υtb）を少し大きくして微調整しなければならない。」とする部分「1ヵ所だけ」が異なる 。この「1カ所だけ」を除き「図5巻出しサ−ボモ−タ制御・ブロック図」と同じ制御構成になっているので、共通部分は詳細説明を省く。以下で、その「1カ所だけ異なる」部分のみ説明する。

巻取りサ−ボモ−タ制御・ブロック図は、「巻取り検定ロ−ラパルス発生器」（７２）と、「巻取りサ−ボモ−タ用発生パルス検定器」（１５１）と、「安定化用フィルタ」（１５２）と、「巻取り側テ−プ巻き直径・算出器」（１５３）と、「巻取り側テ−プ巻き径比値・算出器」（１５４）と、「除算器」（１５５）と、「加算器」（１６１）と、「巻取りサ−ボモ−タ駆動アンプ」（１６２）と、巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タ（８４）に直結した「巻取りサ−ボモ−タエンコ−ダ」（８５）と、「巻取り側テ−プ張力設定器」（１５７）と、「巻取り側テ−プ張力検出器」（１５８）と、「加算器」（１５９）を有する。

基準キャプスタン（５）と巻取りテ−プリ−ル（８６）との間に、所望のテ−プ張力を得る為に、巻取りサ−ボモ−タ速度指示値を少し大きくして微調整しなければならない。まず、「半固定抵抗器」（１５６）によって目標のテ−プ張力に相当する基準数値を発生する巻取り側テ−プ張力設定器(１５７)の出力(Et)から、現在のテ−プ張力を検出する巻取り側テ−プ張力検出器(１５８)の出力(Epot)の差分「巻取り側回転速度指示値補正分」(υta)を加算器(１５９)で計算する。更にその出力を加算器(１６１)に入力し、「巻取りサ−ボモ−タ速度基準指示値」(υt)に加算し、その時点の適切な「巻取りサ−ボモ−タ速度指示値」(υtb)を得る。

上記実施例では、回転数検出手段にエンコ−ダを使用したが、他の回転数検出手段でも良い。例えば、タコメ−タを使用することもできる。

さらに、本発明では、構成品の配置を工夫することにより精度の向上に努めた。その工夫を、比較例を示して説明する。

図１２及び図１３に本発明のテ−プ装置の比較例を示す。図２及び図３に示す本発明実施例に比べて、「巻出し側張力検出器」（３０４）と「巻取り側張力検出器」（３０６ ）の配置が異なっている。すなわち、「巻出し側テ−プ回転ロ−ラ」（３４２）が「巻出しテ−プリ−ル」（３２６）と「巻出し側検定ロ−ラ」（３３１）との間にある。また「巻取り側テ−プ回転ロ−ラ（３６２）が「巻取りテ−プリ−ル」（３８６）と「巻取り側検定ロ−ラ」（３７１）の間にある。この比較例を実験したところ、テ−プ張力変動量が設計目標値に達しなかった。

不具合現象を分析検証した結果、テ−プ張力に僅かな変動が生じると巻出し側張力検出器（３０４）または巻取り側張力検出器（３０６）が変動を敏感に検知するため、巻出しテ−プ巻回最外周直径の算出又は巻取りテ−プ巻回最外周直径の算出に誤差を生じていた。
その結果、巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ又は巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タに対し、若干ずれた速度基準指示値があたえられたためにテ−プ張力変動量を目標値に収められなかったことが判明した。

本発明は、巻出側張力検定器と巻取り側張力検定器の配置が、巻出しテ−プ巻回最外周直径の算出又は巻取りテ−プ巻回最外周直径の算出に悪影響を及ぼしていた事実に基づき、構成品の配置を見直したものである。
すなわち、巻出し側検定ロ−ラは巻出し側張力検出器と巻出しテ−プリ−ルとの間に配置し、出来る限り巻出しテ−プリ−ルのそばに配置する。同様に、巻取り側検定ロ−ラは、巻取り側張力検出器と巻取りテ−プリ−ルとの間に配置し、出来る限り巻取りテ−プリ−ルのそばに配置する。

張力安定の効果を示すため、本発明と比較例の実測置を図示する。
図２１が本発明の実施例による測定値である。図２２が従来例の測定値である。
従来例では、巻出し側又は巻取り側どちらかだけで速度検出器による速度安定化制御を行う。また巻取り側又は巻出し側どちらかだけで張力検出器による張力安定化を行う（図15、図16参照）。 従来に比べて、張力の変動幅が１／４以下となり、大幅な改善がみられる。 このことにより、現在のテ−プ張力を検出する巻出し側テ−プ張力検出器(１１８)の出力(Epos)の差分「巻出し側回転速度指示値補正分」(υsa)及び現在のテ−プ張力を検出する巻取り側テ−プ張力検出器(１５８)の出力(Epot)の差分「巻取り側回転速度指示値補正分」(υta)が、変動幅１／４以下となり各テ−プリ−ルサ−ボモ−タが安定して回転制御される。その結果、加工部で書き込まれ、検査部で検出される信号は、各テ−プリ−ルサ−ボモ−タの回転速度変動に起因するジッタを押さえることが出来た。

このように構成されたテ−プ走行装置は、巻出し側張力検出器を巻出し側検定ロ−ラとキャプスタンロ−ラの間に配置したこと及び巻取り側張力検出器をキャプスタンロ−ラと巻取り側検定ロ−ラの間に配置したことにより、「巻出しサ−ボモ−タ速度基準指示値」(υs)及び、「巻取りサ−ボモ−タ速度基準指示値」(υt)算出に当たり、巻出し側テ−プ張力変動又は巻取り側テ−プ張力変動に伴う張力検出アーム移動分長さの変動を受けなくなる。その結果ハンチング現象が発生しなくなり、サ−ボ系が従来の装置よりも安定して機能する。

このように構成されたテ−プ走行装置は、巻出し側及び巻取り側どちらも速度安定化と張力安定化を同時に実現することから、従来の装置と比べ加工部における速度安定性と張力安定性が確保され、信頼性の高い加工(信号書込)が行われ、加工精度が向上し、信号書込歩留まりを向上することが可能となる。

以上、本件発明の各実施の形態について説明したが、勿論、本発明はこれらに限定されることなく、本発明の技術的思想に基づいて種々の変形が可能である。

本発明の第１変形例として、例えば、テ−プ走行装置において、加工部及び検査部を基準キャプスタンロ−ラの上流側に配置することができる。

本発明の第２変形例として、例えば、巻出し側及び巻取り側の検定ロ−ラが、仮に金属としたならばゴムの焼き付け処理にしてテ−プ走行時にテ−プとの間ですべりが生じないようにして、テ−プ走行速度の検出精度を高めることができる。

例えば、実施例のテ−プに限らず、連続的に巻き取る(例．鉄鋼圧延等ロール板、針金状物品、フィルム状物品)加工装置等に適用出来る。尚、本件明細書においては「テ−プ」は、磁気テ−プのみならず、鉄鋼圧延等ロール板、針金状物品、フィルム状物品などの条材をも含むものとする。
さらに、本発明の範囲内に属する変形例を幾つか説明する。

図１７は本発明の第3変形例である。図１7は、フ−プ条に巻かれた条材の一端を繰り出し、その繰出された一端を所定巻数巻取ってコイルを形成するようにした条材巻取り方法及びその装置に関するものである（特開平5−283260に開示の装置に適用する）。
フ−プ状の条材（５０２）の巻取り時、該巻取り量に応じ条材（５０２）の径が漸減するが、その径の変化を径測定部が測定すると、該測定部の測定に基づき制御手段（図示しない）が条材（５０１）に対する負荷量を演算し、その演算した負荷量に基づいてブレ−キ（５０７）を制御することにより、条材（５０２）の漸減に従いフ−プ状の条材（５０２）に対するテンションを一様にできるようにしている。即ち、径測定部は図１７に示すように、押さえロ−ラ（５０８）と、該押さえロ−ラ（５０８）を駆動させ、押さえロ−ラ（５０８）をフ−プ条の条材（５０２）の外周側から求心方向に押さえ付ける駆動シリンダ（５１０）と、押さえロ−ラ（５０８）がフ−プ状条材（５０２）に対する押さえ付けた角度を検出するロ−タリエンコ−ダ（５０９）とを備えている。そして、ロ−タリエンコ−ダ（５０９）によって押さえロ−ラ（５０８）のフ−プ状条材（５０２）に対する押さえ付け角度を検出すると、制御手段（図示しない）はその検出値に応じ条材（５０２）の径を演算すると共に、その径に応じた適正なテンションを演算し、演算したテンションに基づいてブレ−キ（５０７）を制御することにより、条材（５０１）に対するテンションを変えるようにしている。この巻出し巻取り方法と制御手段に本発明を適用すれば、より精度の高い制御が可能になる。すなわち、本発明によれば巻出し、巻取りを高精度で行えるので無駄な加速減速が生じないため、ブレ−キ（５０７）を必要としない。

図１8は本発明の第4変形例である。 図１8は、表面被覆を有する線材又は条材の疵などの欠陥を連続的に検出し、該欠陥部に連続マ−キングするマ−キング方法及び装置に関するものである（特開平8−21823に開示の装置に適用する）。図１8の設備配置において、コイル状に巻かれた線材（６０１）はサプライスタンド（６０７）から供給され、線材径の溝を設けた複数のロ−ラ−（６０６）を交互に配置したレベラ−（６０５）により直線化された後、ダイスボックス（６０３）に保持された図示しないダイス(６０４)により伸線され、渦流探傷器の検出コイル（欠陥検出手段）（６０２）を通して表面欠陥が連続的に検出される。検出コイル（欠陥検出手段）（６０２）の後に研磨機（被覆除去手段）（６０８）が配設され、検出コイル（欠陥検出手段）（６０２）により表面欠陥が検出されると、速度検出手段である後述の回転計（６１２）と制御手段である制御器（６１３）の作用により、研磨機（被覆除去手段）（６０８）が走行する線材（６０１）の欠陥部の表面被覆を研磨して剥ぎ取るようになっている。研磨機（被覆除去手段）（６０８）の後にマ−キングガン（マ−キング手段）（６０９）が配設され、このマ−キングガン(６０９)は上記回転計（６１２）と制御器（６１３）の作用により前記表面被覆を剥ぎ取った線材の表面に速乾性の蛍光塗料を吹き付け塗布して欠陥部を表示する。その後、線材または条材は巻取機（６１０）のドラム（６１１）に巻き取られる。巻取機（６１０）の軸には回転計（速度検出手段）（６１２）が設けられ、回転計（６１２）の速度信号及び渦流探傷器（６０２）の欠陥信号が制御器（制御手段）（６１３）から研磨機（６０８）及びマ−キングガン（６０９）に信号が送られて前記動作が行なわれるようになっている。この巻出し巻取り方法と制御手段に本発明を適用すれば張力制御と速度制御を巻出しから巻取りまでの全範囲で行なっているので、被覆除去位置とマ−キング位置のより高い精度での位置あわせが可能になる。

図１9は本発明の第５変形例である。図19は、映画フィルムのデジタルサウンドトラックにデジタルパタ−ンとして光記録された音声デ−タを再生することが出来る映写装置に関するものである（特開平６−235972に開示の装置に適用する）。映写装置（７００）において、映画フィルム（７４１）は、供給リ−ル（７０１）から送り出されて、ガイドロ−ラ（７１１）、(７２１)、(７３１)やスプロケット（７１２）、（７２２）、（７３２）、ガイドドラム（７１３）、（７３３）などにより案内されデジタルオ−ディオ再生部（７１０）、映写部（７２０）及びアナログオ−ディオ再生部（７３０）を経由して巻取りリ−ル（７０２）に巻き取られる。デジタルオ−ディオ再生部（７１０）は図２０に示したフィルム送り速度検出装置を備えており、上記映写フィルム（７４１）のフイルム走行系に設けられたスプロケット（７１２）の歯（７４３）の有無を検出する検出部（７４５）を備えるとともに、上記検出部（７４５）により得られる上記スプロケット（７１２）の歯の通過速度にすなわち上記映画フィルム（７４１）の送り速度に比例した周波数の検出信号に同期して、音声デ−タの再生クロックを生成する記録クロック生成部（７５０）とを備え、上記再生クロックを用いたデジタル処理により音声デ−タから音声信号を再生するようになっている。この巻出し巻取り方法と制御手段に本発明を適用すれば、フィルムの走行むらを押さえることが出来るので、より精度の高い信号の再生が可能になる。

（磁気）テ−プ装置における付加価値（信号）書込工程を示す工程概略図である。 本発明の実施の形態にかかるテ−プ走行装置を示す「機器配置図」である。 図２における要部の拡大側面図である。 同テ−プ走行装置に搭載される「装置全体・サ−ボブロック図」である。 同テ−プ走行装置に搭載される「巻出しサ−ボモ−タ制御・ブロック図」をこれに接続される「基準キャプスタンサ−ボモ−タ制御・ブロック図」と「巻取りサ−ボモ−タ制御・ブロック図」と共に示す図である。 同テ−プ走行装置に搭載される「基準キャプスタンサ−ボモ−タ制御・ブロック図」をこれに接続される「巻出しサ−ボモ−タ制御・ブロック図」と「巻取りサ−ボモ−タ制御・ブロック図」と共に示す図である。 同テ−プ走行装置に搭載される「巻取りサ−ボモ−タ制御・ブロック図」をこれに接続される「基準キャプスタンサ−ボモ−タ制御・ブロック図」と「巻出しサ−ボモ−タ制御・ブロック図」と共に示す図である。 同テ−プ走行装置の巻出しテ−プリ−ル直径を算出するための模式図である。 同テ−プ走行装置の巻取りテ−プリ−ル直径を算出するための模式図である 。 同テ−プ走行装置の巻出しサ−ボモ−タ速度基準指示値を算出するための模式図である。 同テ−プ走行装置の巻取りサ−ボモ−タ速度基準指示値を算出するための模式図である。 本発明の実施の形態と比較されるテ−プ走行装置における「機器配置図」である。 図１２における要部の拡大側面図である。 同テ−プ走行装置に搭載される「テ−プ張力検出器全体の構成図」である 。 従来のテ−プ走行装置を示す「機器配置図」である。 図15における要部の拡大側面図である。 第3変形例の「機器配置図」である。 第4変形例の「機器配置図」である。 第5変形例の「機器配置図」で、映画フィルムの再生装置を搭載した映写装置の概略的な構成図を示す図である。 図１９におけるフィルム送りの速度検出装置の構成を示す図であり、Ａは第5変形例に係るフィルム送りの速度検出装置の構成を示す平面図、ＢはＡの速度検出装置における検出部に用いた透過型フォトインタラプタの構造を模式的に示す図である。 本発明の実施の形態の制御方式での「張力記録図」である。 従来の制御方式での「張力記録図」である。

符号の説明

２２・・・テ−プリ−ル支持ピン、２３・・・磁気テ−プ（ワ−ク）、２６・・・巻出しテ−プリ−ル、２７・・・リ−ル軸部、２８・・・上フランジ、２９・・・下フランジ、３８・・・ガイドピン、４８，４９・・・ガイドピン、５３・・・基準キャプスタンロ−ラ・サ−ボモ−タエンコ−ダ、５８，５９・・・ガイドピン、６８，６９・・・ガイドピン、７８・・・ガイドピン、８２・・・テ−プリ−ル支持ピン、８３・・・磁気テ−プ（ワ−ク）、８７・・・リ−ル軸部、８８・・・上フランジ、８９・・・下フランジ、１３３・・・運転釦、１３４・・・停止釦、３０２・・・磁気テ−プ巻出し部、３０３・・・巻出し側速度検出器、３０５・・・キャプスタン部、３０７・・・巻取り側速度検出器、３０８・・・磁気テ−プ巻取り部、３０９・・・加工部、３１０・・・検査部、３２１・・・巻出しテ−プリ−ル台、３２２・・・テ−プリ−ル支持ピン、３２３・・・磁気テ−プ（ワ−ク）、３２４・・・巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ−タ、３２５・・・巻出しサ−ボモ−タエンコ−ダ、３２７・・・リ−ル軸部、３２８・・・上フランジ、３２９・・・下フランジ、３３２・・・巻出し検定ロ−ラパルス発生器、３４４・・・ポテンショメ−タ、３４８，３４９・・・ガイドピン、３５１・・・基準キャプスタンロ−ラ、３５２・・・基準キャプスタンロ−ラサ−ボモ−タ、３５３・・・基準キャプスタンロ−ラサ−ボモ−タエンコ―ダ、３５４・・・ピンチロ−ラ、３５８，３５９・・・ガイドピン、３６４・・・ポテンショメ−タ、３６８，３６９・・・ガイドピン、３７２・・・巻取り検定ロ−ラパルス発生器、３８１・・・巻取りテ−プリ−ル台、３８２・・・テ−プリ−ル支持ピン、３８３・・・磁気テ−プ（ワ−ク）、３８４・・・巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ−タ、３８５・・・巻取りサ−ボモ−タ−エンコ−ダ、３８７・・・リ−ル軸部、３８８・・・上フランジ、３８９・・・下フランジ、４０２・・・磁気テ−プ巻出し部、４０８・・・磁気テ−プ巻取り部、４２１・・・巻出しテ−プリ−ル台、４２２・・・テ−プリ−ル支持ピン、４２３・・・磁気テ−プ（ワ−ク）、４２５・・・巻出しサ−ボモ−タエンコ―ダ、４２６・・・巻出しテ−プリ−ル、４２７・・・テ−プ軸部、４２８・・・上フランジ、４２９・・・下フランジ、４３１・・・巻出し側検定ロ−ラ、４３２・・・巻出し検定ロ−ラパルス発生器、４３８，４３９・・・ガイドピン、４５８，４５９・・・ガイドピン、４６２・・・巻取り側テ−プ回転ロ−ラ、４６８，４６９・・・ガイドピン、４８１・・・巻取りテ−プリ−ル台、４８２・・・テ−プリ−ル支持ピン、４８３・・・磁気テ−プ（ワ−ク）、４８５・・・巻取りサ−ボモ−タエンコ−ダ、４８６・・・巻取りテ−プリ−ル、４８７・・・リ−ル軸部、４８８・・・上フランジ、４８９・・・下フランジ、５０３・・・アンコイラ、５０４，５０５・・・中間ロ−ラ、５０６・・・巻取り部、５１1・・・キャプスタンロ−ラ、５１２・・・キャプスタンロ−ラサ−ボモ−タ、５１３・・・ピンチロ−ラ、５１４・・・巻出し側速度検出器、５１５・・・巻出し側検定ロ−ラ、５１７・・・巻出し側張力検出器、５１９・・・巻出し側テ−プ回転ロ−ラ、５２２・・・巻取り側張力検出器、５２４・・・巻取り側テ−プ回転ロ−ラ、５２７・・・巻取り側速度検出器、５２８・・・巻取り側検定ロ−ラ、５４０・・・マ−キング装置、５４１・・・光学センサ−、６１５・・・キャプスタンロ−ラ、６１６・・・キャプスタンロ−ラサ−ボモ−タ、６１７・・・ピンチロ−ラ、６１８・・・巻出し側速度検出器、６１９・・・巻出し側検定ロ−ラ、６２１・・・巻出し側張力検出器、６２３・・・巻出し側テ−プ回転ロ−ラ、６２６・・・巻取り側張力検出器、６２８・・・巻取り側テ−プ回転ロ−ラ、６３１巻取り側速度検出器、６３２・・・巻取り側検定ロ−ラ、６４０・・・巻出しサ−ボモ−タ、６４１・・・巻取りサ−ボモ−タ、７２３・・・映写光源、７２４・・・映写レンズ、７３４・・・光源、７３５・・・光センサ、７５１，７５２・・・ＣＣＤラインセンサ、７６１・・・キャプスタンロ−ラ、７６３・・・ピンチロ−ラ、７６５・・・巻出し側検定ロ−ラ、７６９・・・巻出し側テ−プ回転ロ−ラ、７７４・・・巻取り側テ−プ回転ロ−ラ、７７８・・・巻取り側検定ロ−ラ、７８１・・・巻出しサ−ボモ−タ、７８２・・・巻取りサ−ボモ−タ

Claims (3)

1. 巻出しテ−プリ−ルを駆動する巻出しテ−プリ−ルサ―ボモ−タを有するテ−プ巻出し部と、
   前記テ−プ巻出し部に対して下流に配置され、巻出し側テ−プ張力変動を計る巻出し側張力検出手段と、
   前記テ−プ巻出し部と前記巻出し側張力検出手段との間に配置された検定ロ−ラを有し、巻出し側テ−プ速度を計る巻出し側速度検出手段と、
   巻取りテ−プリ−ルを駆動する巻取りテ−プリ−ルサ―ボモ−タを有するテ−プ巻取り部と、
   前記テ−プ巻取り部に対して上流に配置され、巻取り側テ−プ張力変動を計る巻取り側張力検出手段と、
   前記テ−プ巻取り部と前記巻取り側張力検出手段との間に配置された検定ロ−ラを有し、巻取り側テ−プ速度を計る巻取り側速度検出手段と、
   前記巻出し側張力検出手段と前記巻取り側張力検出手段との間に配置されたローラを有し、テ−プ走行速度基準になる基準キャプスタンと
   を具備し、
   前記巻出し側速度検出手段の検定ロ−ラの一回転を基準に、前記巻出しテ−プリ−ルサ―ボモ−タに接続されている回転数検出手段からの回転量を示す出力信号を積算し、該積算した回転量に基づいて現在の巻出しテ―プ巻回最外周径を算出し、
   また、前記巻取り側速度検出手段の検定ロ−ラの一回転を基準に、前記巻取りテ−プリ−ルサ―ボモ−タに接続されている回転数検出手段からの回転量を示す出力信号を積算し、該積算した回転量に基づいて現在の巻取りテ−プ巻回最外周径を算出し、
   算出された前記巻出しテ−プ巻回最外周径及び前記巻取りテ−プ巻回最外周径と、テ−プ走行速度基準になる前記基準キャプスタンのロ―ラ径とのそれぞれの比を常時求め、
   その比と基準キャプスタンサ―ボモ−タの駆動アンプに対する速度指示値との演算により前記巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ―タの駆動アンプに対する回転速度基準指示値及び、前記巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ―タの駆動アンプに対する回転速度基準指示値を求め、
   単位時間内における前記基準キャプスタンのテ−プ繰り出し量と常に同等になるように、前記テ−プ巻出し部のテ−プ繰り出し量と前記テ−プ巻取り部のテ−プ巻取り量を同一にするようにしたことを特徴とするテ−プ走行装置。
2. 請求項１に記載のテ−プ走行装置であって、
   前記基準キャプスタンの下流側に加工部と検査部を配置したことを特徴とするテ−プ走行装置。
3. 請求項１に記載のテ−プ走行装置であって、
   前記巻出しテ−プリ−ルサ−ボモ―タの駆動アンプに対する回転速度基準指示値から目標テープ張力に相当する基準数値と前記巻出し側張力検出手段の出力との差分の回転速度指示値補正分を減算し、回転速度指示値として前記巻出しテ−プリ−ルサ―ボモ−タの駆動アンプに出力し、
   前記巻取りテ−プリ−ルサ−ボモ―タの駆動アンプに対する回転速度基準指示値に目標テープ張力に相当する基準数値と前記巻取り側張力検出手段の出力との差分の回転速度指示値補正分を加算し、回転速度指示値として前記巻取りテ−プリ−ルサ―ボモ−タの駆動アンプに出力することを特徴とするテ−プ走行装置。

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