JP4679403B2 - Substrate drying apparatus, substrate drying method, and substrate manufacturing method - Google Patents
Substrate drying apparatus, substrate drying method, and substrate manufacturing method Download PDFInfo
- Publication number
- JP4679403B2 JP4679403B2 JP2006077430A JP2006077430A JP4679403B2 JP 4679403 B2 JP4679403 B2 JP 4679403B2 JP 2006077430 A JP2006077430 A JP 2006077430A JP 2006077430 A JP2006077430 A JP 2006077430A JP 4679403 B2 JP4679403 B2 JP 4679403B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- air
- air knives
- knives
- blown
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Cleaning In General (AREA)
Description
本発明は、フラットパネルディスプレイ装置用のパネル基板等の乾燥に用いる基板乾燥装置、基板乾燥方法、及びそれらを用いた基板の製造方法に係り、特にエアナイフを用いて基板の両面を乾燥させるのに好適な基板乾燥装置、基板乾燥方法、及びそれらを用いた基板の製造方法に関する。 The present invention relates to a substrate drying apparatus, a substrate drying method, and a substrate manufacturing method using the substrate drying apparatus used for drying a panel substrate or the like for a flat panel display device, particularly for drying both surfaces of a substrate using an air knife. The present invention relates to a suitable substrate drying apparatus, a substrate drying method, and a substrate manufacturing method using them.
液晶ディスプレイ装置やプラズマディスプレイ装置等の様なフラットパネルディスプレイ装置用のパネル基板の製造工程では、基板上に回路パターンやカラーフィルタ等を形成するため、現像、エッチング、剥離等の薬液処理が行われる。そして、薬液処理の前又は後には、純水等の洗浄液を用いた基板の洗浄、及び洗浄後の基板の乾燥が必要である。基板の洗浄及び乾燥を含むこれらの一連の処理は、ローラコンベア等の移動手段を用いて基板を移動しながら行われることが多く、基板の乾燥は、エアナイフを用いて基板へエアを吹き付けることにより、洗浄液を基板の表面又は裏面から押し流して除去するのが一般的である。 In the process of manufacturing a panel substrate for a flat panel display device such as a liquid crystal display device or a plasma display device, a chemical process such as development, etching, and peeling is performed to form a circuit pattern, a color filter, etc. on the substrate. . Before or after the chemical treatment, it is necessary to clean the substrate using a cleaning liquid such as pure water and to dry the substrate after cleaning. These series of processes including the cleaning and drying of the substrate are often performed while moving the substrate using a moving means such as a roller conveyor, and the drying of the substrate is performed by blowing air onto the substrate using an air knife. In general, the cleaning liquid is washed away from the front surface or the back surface of the substrate.
エアナイフを用いた基板の乾燥において、エアナイフを基板の上方及び下方に基板を介して対称に設け、基板の両面を同時に乾燥させる技術が、特許文献1及び特許文献2に従来技術として開示されている。
一般に、ローラコンベア等の移動手段を用いて基板を移動しながら、エアナイフを用いて基板の乾燥を行う際は、エアの流量をできるだけ一定に保つために、エアナイフからのエアの吹き出しを連続して行う。従って、エアナイフを基板の上方及び下方に基板を介して対称に設けた場合、1つの基板の乾燥が終了して次の基板が移動されて来る迄の間、2つのエアナイフから吹き出されたエアが互いに衝突する。2つのエアナイフから吹き出されたエアが衝突する高さは、2つのエアナイフのエアの流量及び速度によって決まる。 Generally, when drying a substrate using an air knife while moving the substrate using a moving means such as a roller conveyor, in order to keep the air flow rate as constant as possible, air is continuously blown from the air knife. Do. Therefore, when the air knives are provided symmetrically above and below the substrate via the substrate, the air blown out from the two air knives until the drying of one substrate is finished and the next substrate is moved. Collide with each other. The height at which the air blown from the two air knives collides is determined by the flow rate and speed of the air of the two air knives.
従来、2つのエアナイフから吹き出されたエアが衝突する高さを基板の高さと同じにするため、2つのエアナイフのエアの流量及び速度を同じに設定していた。しかしながら、2つのエアナイフのエアの流量及び速度を同じに設定しても、実際にエアナイフから吹き出されるエアの流量又は速度には僅かな変動があるため、2つのエアナイフから吹き出されたエアが衝突する高さは、常に一定ではなかった。 Conventionally, in order to make the height at which the air blown from the two air knives collide the same as the height of the substrate, the air flow rate and speed of the two air knives have been set to be the same. However, even if the air flow rate and speed of the two air knives are set to be the same, the air flow rate or speed actually blown from the air knife varies slightly, so the air blown from the two air knives collides. The height to do was not always constant.
このため、基板がエアナイフから吹き出されたエアが直接当たる位置へ移動して来たとき、基板の片面のみにエアが瞬間的に強く吹き付けられ、洗浄液が多く存在する基板の表面へエアが瞬間的に強く吹き付けられた場合、基板の表面から洗浄液が飛び散って乾燥むらが発生するという問題があった。 For this reason, when the substrate moves to a position where the air blown from the air knife directly hits it, air is instantaneously strongly blown only on one side of the substrate, and the air is instantaneously applied to the surface of the substrate where a large amount of cleaning liquid exists. When sprayed strongly on the surface, there is a problem that the cleaning liquid scatters from the surface of the substrate and uneven drying occurs.
また、従来は、2つのエアナイフから吹き出されたエアが衝突する高さが常に一定ではないため、衝突後のエアの流れも一定ではなかった。このため、基板がエアナイフから吹き出されたエアが直接当たる位置へ近づいたとき、エアナイフから吹き出されたエアが基板へ直接当たる前に、衝突後のエアにより基板の表面の洗浄液を押し流して少なくすることができなかった。 Conventionally, the height of the collision of the air blown out from the two air knives is not always constant, so the air flow after the collision is not constant. For this reason, when the substrate comes close to the position where the air blown from the air knife directly hits, before the air blown from the air knife directly hits the substrate, the cleaning liquid on the surface of the substrate is pushed away by the air after the collision to reduce it. I could not.
本発明の課題は、基板の上方及び下方に基板を介して対称に設けたエアナイフを用いて、基板の両面をむらなく均一に乾燥させることである。また、本発明の課題は、基板の上方及び下方に基板を介して対称に設けたエアナイフを用いて、特に洗浄液が多く存在する基板の表面を短時間で乾燥させることである。さらに、本発明の課題は、品質の高い基板を製造することである。 An object of the present invention is to uniformly dry both surfaces of a substrate using air knives provided symmetrically via the substrate above and below the substrate. In addition, an object of the present invention is to dry the surface of a substrate on which a large amount of cleaning liquid exists in a short time using an air knife provided symmetrically via the substrate above and below the substrate. Furthermore, an object of the present invention is to produce a high-quality substrate.
本発明の基板乾燥装置は、基板の上方及び下方に基板を介して対称に設けられ、基板へエアを吹き付ける第1及び第2のエアナイフと、基板と第1及び第2のエアナイフとを相対的に移動する移動手段とを備えた基板乾燥装置であって、第1及び第2のエアナイフが、基板と第1及び第2のエアナイフとが相対的に移動する方向と直交する方向において、基板の幅よりも長い幅を有し、同方向の基板の幅から外れた位置に、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが当たる整流手段を備え、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが基板へ直接当たらないとき、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが衝突する高さを整流手段の高さに保つものである。 The substrate drying apparatus of the present invention is provided symmetrically via a substrate above and below the substrate, and the first and second air knives for blowing air onto the substrate, and the substrate and the first and second air knives are relative to each other. A first and second air knives in a direction orthogonal to the direction in which the substrate and the first and second air knives move relatively. The rectifying means has a width longer than the width and deviates from the width of the substrate in the same direction, and is provided with a rectifying means to which air blown from the first and second air knives hits, and is blown from the first and second air knives. When the air does not directly hit the substrate, the height at which the air blown from the first and second air knives collides is kept at the height of the rectifying means.
また、本発明の基板乾燥方法は、第1及び第2のエアナイフを、基板の上方及び下方に基板を介して対称に設け、基板と第1及び第2のエアナイフとを相対的に移動しながら、第1及び第2のエアナイフから基板へエアを吹き付ける基板乾燥方法であって、第1及び第2のエアナイフを、基板と第1及び第2のエアナイフとが相対的に移動する方向と直交する方向において、基板の幅よりも長い幅に渡って設け、同方向の基板の幅から外れた位置に、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが当たる整流手段を設け、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが基板へ直接当たらないとき、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが衝突する高さを整流手段の高さに保つものである。 In the substrate drying method of the present invention, the first and second air knives are provided symmetrically via the substrate above and below the substrate, and the substrate and the first and second air knives are moved relatively. A substrate drying method for blowing air from the first and second air knives to the substrate, wherein the first and second air knives are orthogonal to the direction in which the substrate and the first and second air knives move relatively. In the direction, a rectifying means is provided over a width longer than the width of the substrate, and rectifying means that the air blown from the first and second air knives hits at a position deviating from the width of the substrate in the same direction. When the air blown out from the second air knife does not directly hit the substrate, the height at which the air blown out from the first and second air knives collides with the height of the rectifying means.
基板と第1及び第2のエアナイフとが相対的に移動する方向と直交する方向の基板の幅から外れた位置において、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが、整流手段にそれぞれ当たり、整流手段の高さでエアの流れを形成する。第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが基板へ直接当たらないとき、基板と第1及び第2のエアナイフとが相対的に移動する方向と直交する方向の整流手段が設けられていない領域においても、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが、このエアの流れに引きずられてエアの流れを形成し、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが衝突する高さが整流手段の高さに保たれる。 Air blown from the first and second air knives hits the rectifying means at a position deviating from the width of the substrate in the direction perpendicular to the direction in which the substrate and the first and second air knives move relatively. The flow of air is formed at the height of the rectifying means. A region in which rectifying means in a direction orthogonal to the direction in which the substrate and the first and second air knives move relatively when the air blown from the first and second air knives does not directly hit the substrate is not provided. The air blown from the first and second air knives is dragged by this air flow to form an air flow, and the height at which the air blown from the first and second air knives collides is high. The height of the rectifying means is maintained.
エアナイフから吹き出されるエアの流量又は速度に僅かな変動があっても、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが衝突する高さが一定に保たれるので、基板がエアナイフから吹き出されたエアが直接当たる位置へ移動して来たとき、洗浄液が多く存在する基板の表面へエアが瞬間的に強く吹き付けられて、基板の表面から洗浄液が飛び散ることがない。従って、基板の両面がむらなく均一に乾燥される。 Even if there is a slight fluctuation in the flow rate or speed of the air blown from the air knife, the height at which the air blown from the first and second air knives collides is kept constant, so that the substrate is blown from the air knife. When the air moves to a position where it directly hits, the air is instantaneously and strongly blown onto the surface of the substrate where a large amount of the cleaning liquid exists, so that the cleaning liquid does not scatter from the surface of the substrate. Therefore, both surfaces of the substrate are uniformly dried.
さらに、本発明の基板乾燥装置は、整流手段が、基板の表面より上の高さに設けられたものである。また、本発明の基板乾燥方法は、整流手段を、基板の表面より上の高さに設けるものである。 Further, in the substrate drying apparatus of the present invention, the rectifying means is provided at a height above the surface of the substrate. In the substrate drying method of the present invention, the rectifying means is provided at a height above the surface of the substrate.
整流手段を基板の表面より上の高さに設けるので、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが基板へ直接当たらないとき、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが衝突する高さが、基板の表面より上の高さに保たれる。従って、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが、基板の表面より上の高さでエアの流れを形成する。基板がエアナイフから吹き出されたエアが直接当たる位置へ近づいたとき、エアナイフから吹き出されたエアが基板へ直接当たる前に、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアにより形成されたエアの流れによって、基板の表面の洗浄液が押し流されて少なくなる。従って、特に洗浄液が多く存在する基板の表面が短時間で乾燥される。 Since the rectifying means is provided at a height above the surface of the substrate, when the air blown from the first and second air knives does not directly hit the substrate, the air blown from the first and second air knives collides. The height is kept above the surface of the substrate. Therefore, the air blown out from the first and second air knives forms an air flow at a height above the surface of the substrate. When the substrate approaches the position where the air blown from the air knife directly hits, the flow of air formed by the air blown from the first and second air knives before the air blown from the air knife hits the substrate directly As a result, the cleaning liquid on the surface of the substrate is pushed away and decreases. Accordingly, the surface of the substrate on which a large amount of cleaning liquid is present is dried in a short time.
本発明の基板の製造方法は、上記のいずれかの基板乾燥装置又は基板乾燥方法を用いて基板を乾燥させるものである。基板の上方及び下方に基板を介して対称に設けたエアナイフを用いて、基板の両面がむらなく均一に乾燥され、品質の高い基板が製造される。 The substrate manufacturing method of the present invention is to dry the substrate using any one of the above-described substrate drying apparatuses or substrate drying methods. Using an air knife provided symmetrically above and below the substrate via the substrate, both surfaces of the substrate are uniformly dried to produce a high-quality substrate.
本発明の基板乾燥装置及び基板乾燥方法によれば、整流手段を用いて、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが基板へ直接当たらないとき、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが衝突する高さを一定に保つことにより、基板がエアナイフから吹き出されたエアが直接当たる位置へ移動して来たとき、洗浄液が多く存在する基板の表面へエアが瞬間的に強く吹き付けられて、基板の表面から洗浄液が飛び散るのを防止することができる。従って、基板の上方及び下方に基板を介して対称に設けたエアナイフを用いて、基板の両面をむらなく均一に乾燥させることができる。 According to the substrate drying apparatus and the substrate drying method of the present invention, the air blown from the first and second air knives is blown from the first and second air knives when the air blown from the first and second air knives does not directly hit the substrate using the rectifying means. By keeping the height at which the air collides constant, when the substrate moves to a position where the air blown from the air knife directly hits, the air instantaneously and strongly blows to the surface of the substrate where there is a lot of cleaning liquid. Thus, the cleaning liquid can be prevented from splashing from the surface of the substrate. Therefore, both surfaces of the substrate can be uniformly dried using the air knife provided symmetrically via the substrate above and below the substrate.
さらに、本発明の基板乾燥装置及び基板乾燥方法によれば、整流手段を基板の表面より上の高さに設けることにより、基板がエアナイフから吹き出されたエアが直接当たる位置へ近づいたとき、エアナイフから吹き出されたエアが基板へ直接当たる前に、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアにより形成されたエアの流れによって、基板の表面の洗浄液を押し流して少なくすることができる。従って、基板の上方及び下方に基板を介して対称に設けたエアナイフを用いて、特に洗浄液が多く存在する基板の表面を短時間で乾燥させることができる。 Furthermore, according to the substrate drying apparatus and the substrate drying method of the present invention, when the rectifying means is provided at a height above the surface of the substrate, when the substrate approaches a position where the air blown from the air knife directly hits, the air knife Before the air blown out from the substrate directly hits the substrate, the cleaning liquid on the surface of the substrate can be reduced by the flow of air formed by the air blown out from the first and second air knives. Therefore, by using an air knife provided symmetrically above and below the substrate via the substrate, the surface of the substrate on which a large amount of cleaning liquid is present can be dried in a short time.
本発明の基板の製造方法によれば、基板の上方及び下方に基板を介して対称に設けたエアナイフを用いて、基板の両面をむらなく均一に乾燥させることができるので、品質の高い基板を製造することができる。 According to the substrate manufacturing method of the present invention, since both surfaces of the substrate can be uniformly dried using the air knife provided symmetrically via the substrate above and below the substrate, a high quality substrate can be obtained. Can be manufactured.
図1(a)は本発明の一実施の形態による基板乾燥装置の上面図、図1(b)は同側面図である。基板乾燥装置は、複数のローラ10、エアナイフ20a,20b、及び整流板30を含んで構成されている。なお、図1(a)では、エアナイフ20bが、エアナイフ20aの下に隠れていて見えない。
FIG. 1A is a top view of a substrate drying apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1B is a side view thereof. The substrate drying apparatus includes a plurality of
基板1は、複数のローラ10上に搭載され、ローラ10の回転により矢印で示す基板移動方向へ移動される。各ローラ10は、基板移動方向に一定の間隔で設置されており、図示しない駆動手段により所定の速度で回転する。
The
なお、本実施の形態では基板1を水平な状態で移動しているが、本発明はこれに限らず、基板1を水平に対して基板移動方向と直交する方向又は基板移動方向に所定の角度傾斜した状態で移動してもよい。
In the present embodiment, the
ローラ10により移動される基板1の基板移動方向の上流には、図示しない基板洗浄装置が配置されている。基板洗浄装置から基板1の表面へ純水等の洗浄液が供給されて、基板1の洗浄が行われる。基板洗浄装置による洗浄後、基板1はローラ10により基板乾燥装置へ送られる。
A substrate cleaning device (not shown) is disposed upstream of the
基板乾燥装置において、ローラ10により移動される基板1の上方及び下方には、エアナイフ20a,20bが、基板1と平行に、基板1を介して対称に設けられている。エアナイフ20a,20bは、例えば、長尺のケーシングの内部に加圧室を形成し、加圧室に通じるエア通路を長手方向にスリット状に設けて構成されている。図示しないエア供給源からエアナイフ20a,20bへ、エアが供給される。エアナイフ20a,20bは、エア通路の先端のエア吹き出し口から、エアを基板1の表面又は裏面へ基板移動方向と反対側の向きに所定の入射角度で斜めに、かつ長手方向に渡って均一に吹き付ける。エアナイフ20a,20bから吹き付けたエアにより、基板1の表面又は裏面の洗浄液が押し流されて除去される。
In the substrate drying apparatus,
なお、本実施の形態では、図1(a)に示す様に、エアナイフ20a,20bが基板移動方向と直交する方向に対して角度Tだけ傾けて設けられているが、エアナイフ20a,20bを基板移動方向と垂直に設けてもよい。
In the present embodiment, as shown in FIG. 1A, the
図1(a)に示す様に、エアナイフ20a,20bは、基板1の基板移動方向と直交する方向の幅より長い幅を有する。そして、基板1の基板移動方向と直交する方向の幅の両脇には、エアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが当たる整流板30が設けられている。整流板30は、平板状であり、エアナイフ20a,20bの間の高さに、エアナイフ20a,20bと平行に設置されている。本実施の形態では、図1(b)に示す様に、整流板30が、ローラ10により移動される基板1と同じ高さに設けられている。
As shown in FIG. 1A, the
図2は、本発明の一実施の形態による基板乾燥装置の動作を説明する図である。基板1の基板移動方向と直交する方向の幅の両脇において、エアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが、整流板30にそれぞれ当たり、図2に示す様に、整流板30の高さで、基板移動方向と反対側の向きにエアの流れを形成する。エアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが基板1へ直接当たらないとき、基板1の基板移動方向と直交する方向の幅の整流板30が設けられていない領域においても、エアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが、このエアの流れに引きずられて基板移動方向と反対側の向きにエアの流れを形成し、エアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが衝突する高さが整流板30の高さに保たれる。
FIG. 2 is a diagram for explaining the operation of the substrate drying apparatus according to the embodiment of the present invention. On both sides of the width of the
エアナイフ20a,20bから吹き出されるエアの流量又は速度に僅かな変動があっても、エアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが衝突する高さが一定に保たれるので、基板1がエアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが直接当たる位置へ移動して来たとき、洗浄液2が多く存在する基板1の表面へエアが瞬間的に強く吹き付けられて、基板1の表面から洗浄液2が飛び散ることがない。
Even if there is a slight fluctuation in the flow rate or speed of the air blown from the
図3(a)は本発明の他の実施の形態による基板乾燥装置の上面図、図3(b)は同側面図である。本実施の形態では、図3(b)に示す様に、整流板30が、ローラ10により移動される基板1の表面より上の高さに設けられている。その他の構成要素は、図1に示した実施の形態と同様である。
FIG. 3A is a top view of a substrate drying apparatus according to another embodiment of the present invention, and FIG. 3B is a side view thereof. In the present embodiment, as shown in FIG. 3B, the rectifying
図4は、本発明の他の実施の形態による基板乾燥装置の動作を説明する図である。整流板30が、基板1の表面より上の高さに設けられているので、エアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが基板1へ直接当たらないとき、エアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが衝突する高さが、基板1の表面より上の高さに保たれる。従って、エアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが、図4に示す様に、基板1の表面より上の高さで、基板移動方向と反対側の向きにエアの流れを形成する。基板1がエアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが直接当たる位置へ近づいたとき、エアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが基板1へ直接当たる前に、エアナイフ20a,20bから吹き出されたエアにより形成されたエアの流れによって、基板1の表面の洗浄液2が押し流されて少なくなる。
FIG. 4 is a diagram for explaining the operation of the substrate drying apparatus according to another embodiment of the present invention. Since the
以上説明した実施の形態によれば、整流板30を用いて、エアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが基板1へ直接当たらないとき、エアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが衝突する高さを一定に保つことにより、基板1がエアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが直接当たる位置へ移動して来たとき、洗浄液2が多く存在する基板1の表面へエアが瞬間的に強く吹き付けられて、基板1の表面から洗浄液2が飛び散るのを防止することができる。従って、基板1の上方及び下方に基板1を介して対称に設けたエアナイフ20a,20bを用いて、基板1の両面をむらなく均一に乾燥させることができる。
According to the embodiment described above, when the air blown from the
さらに、図3に示した実施の形態によれば、整流板30を基板1の表面より上の高さに設けることにより、基板1がエアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが直接当たる位置へ近づいたとき、エアナイフ20a,20bから吹き出されたエアが基板1へ直接当たる前に、エアナイフ20a,20bから吹き出されたエアにより形成されたエアの流れによって、基板1の表面の洗浄液2を押し流して少なくすることができる。従って、基板1の上方及び下方に基板1を介して対称に設けたエアナイフ20a,20bを用いて、特に洗浄液2が多く存在する基板1の表面を短時間で乾燥させることができる。
Further, according to the embodiment shown in FIG. 3, by providing the rectifying
なお、以上説明した実施の形態では、ローラ10を用いて基板1を移動していたが、基板1を移動する代わりにエアナイフ20a,20bを移動することにより、基板1とエアナイフ20a,20bとを相対的に移動してもよい。その場合は、整流板30もエアナイフ20a,20bと同期させて移動する。
In the embodiment described above, the
図5は、液晶ディスプレイ装置のTFT基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。薄膜形成工程(ステップ101)では、スパッタ法やプラズマ化学気相成長(CVD)法等により、ガラス基板上に液晶駆動用の透明電極となる導電体膜や絶縁体膜等の薄膜を形成する。レジスト塗布工程(ステップ102)では、ロール塗布法等により感光樹脂材料(フォトレジスト)を塗布して、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜上にフォトレジスト膜を形成する。露光工程(ステップ103)では、プロキシミティ露光装置や投影露光装置等を用いて、マスクのパターンをフォトレジスト膜に転写する。現像工程(ステップ104)では、シャワー現像法等により現像液をフォトレジスト膜上に供給して、フォトレジスト膜の不要部分を除去する。エッチング工程(ステップ105)では、ウエットエッチングにより、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜の内、フォトレジスト膜でマスクされていない部分を除去する。剥離工程(ステップ106)では、エッチング工程(ステップ105)でのマスクの役目を終えたフォトレジスト膜を、剥離液によって剥離する。これらの各工程の前又は後には、必要に応じて、基板の洗浄工程及び乾燥工程が実施される。これらの工程を数回繰り返して、ガラス基板上にTFTアレイが形成される。 FIG. 5 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the TFT substrate of the liquid crystal display device. In the thin film formation step (step 101), a thin film such as a conductor film or an insulator film, which becomes a transparent electrode for driving liquid crystal, is formed on a glass substrate by sputtering, plasma chemical vapor deposition (CVD), or the like. In the resist coating process (step 102), a photosensitive resin material (photoresist) is applied by a roll coating method or the like, and a photoresist film is formed on the thin film formed in the thin film forming process (step 101). In the exposure step (step 103), the mask pattern is transferred to the photoresist film using a proximity exposure apparatus, a projection exposure apparatus, or the like. In the development step (step 104), a developer is supplied onto the photoresist film by a shower development method or the like to remove unnecessary portions of the photoresist film. In the etching process (step 105), a portion of the thin film formed in the thin film formation process (step 101) that is not masked by the photoresist film is removed by wet etching. In the stripping step (step 106), the photoresist film that has finished the role of the mask in the etching step (step 105) is stripped with a stripping solution. Before or after each of these steps, a substrate cleaning step and a drying step are performed as necessary. These steps are repeated several times to form a TFT array on the glass substrate.
また、図6は、液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。ブラックマトリクス形成工程(ステップ201)では、レジスト塗布、露光、現像、エッチング、剥離等の処理により、ガラス基板上にブラックマトリクスを形成する。着色パターン形成工程(ステップ202)では、染色法、顔料分散法、印刷法、電着法等により、ガラス基板上に着色パターンを形成する。この工程を、R、G、Bの着色パターンについて繰り返す。保護膜形成工程(ステップ203)では、着色パターンの上に保護膜を形成し、透明電極膜形成工程(ステップ204)では、保護膜の上に透明電極膜を形成する。これらの各工程の前、途中又は後には、必要に応じて、基板の洗浄工程及び乾燥工程が実施される。 FIG. 6 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the color filter substrate of the liquid crystal display device. In the black matrix forming step (step 201), a black matrix is formed on the glass substrate by processes such as resist coating, exposure, development, etching, and peeling. In the colored pattern forming step (step 202), a colored pattern is formed on the glass substrate by a dyeing method, a pigment dispersion method, a printing method, an electrodeposition method, or the like. This process is repeated for the R, G, and B coloring patterns. In the protective film forming step (step 203), a protective film is formed on the colored pattern, and in the transparent electrode film forming step (step 204), a transparent electrode film is formed on the protective film. Before, during or after each of these steps, a substrate cleaning step and a drying step are performed as necessary.
本発明の基板乾燥装置又は基板乾燥方法を用いて基板を乾燥させることにより、基板の上方及び下方に基板を介して対称に設けたエアナイフを用いて、基板の両面をむらなく均一に乾燥させることができるので、品質の高い基板を製造することができる。 By drying the substrate using the substrate drying apparatus or the substrate drying method of the present invention, the both sides of the substrate are uniformly dried using the air knife provided symmetrically via the substrate above and below the substrate. Therefore, a high-quality substrate can be manufactured.
1 基板
2 洗浄液
10 ローラ
20a,20b エアナイフ
30 整流板
DESCRIPTION OF
Claims (4)
基板と前記第1及び第2のエアナイフとを相対的に移動する移動手段とを備えた基板乾燥装置であって、
前記第1及び第2のエアナイフが、基板と前記第1及び第2のエアナイフとが相対的に移動する方向と直交する方向において、基板の幅よりも長い幅を有し、
同方向の基板の幅から外れた位置に、基板の表面より上の高さに設けられ、前記第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが当たる整流手段を備え、
前記第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが基板へ直接当たらないとき、前記第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが衝突する高さを整流手段の高さに保つことを特徴とする基板乾燥装置。 First and second air knives which are provided symmetrically via the substrate above and below the substrate and blow air to the substrate;
A substrate drying apparatus comprising a substrate and a moving means for relatively moving the first and second air knives,
The first and second air knives have a width longer than the width of the substrate in a direction orthogonal to the direction in which the substrate and the first and second air knives move relatively;
Provided with a rectifying means provided at a height above the surface of the substrate at a position deviating from the width of the substrate in the same direction, to which the air blown from the first and second air knives hits,
When the air blown from the first and second air knives does not directly hit the substrate, the height at which the air blown from the first and second air knives collides is maintained at the height of the rectifying means. A substrate drying apparatus.
基板と第1及び第2のエアナイフとを相対的に移動しながら、第1及び第2のエアナイフから基板へエアを吹き付ける基板乾燥方法であって、
第1及び第2のエアナイフを、基板と第1及び第2のエアナイフとが相対的に移動する方向と直交する方向において、基板の幅よりも長い幅に渡って設け、
同方向の基板の幅から外れた位置に、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが当たる整流手段を、基板の表面より上の高さに設け、
第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが基板へ直接当たらないとき、第1及び第2のエアナイフから吹き出されたエアが衝突する高さを整流手段の高さに保つことを特徴とする基板乾燥方法。 First and second air knives are provided symmetrically above and below the substrate via the substrate,
A substrate drying method for blowing air from the first and second air knives to the substrate while relatively moving the substrate and the first and second air knives,
Providing the first and second air knives over a width longer than the width of the substrate in a direction orthogonal to the direction in which the substrate and the first and second air knives move relatively;
A rectifying means that the air blown from the first and second air knives hits at a position deviating from the width of the substrate in the same direction is provided at a height above the surface of the substrate ,
When the air blown from the first and second air knives does not directly hit the substrate, the height at which the air blown from the first and second air knives collides is maintained at the height of the rectifying means. Substrate drying method.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006077430A JP4679403B2 (en) | 2006-03-20 | 2006-03-20 | Substrate drying apparatus, substrate drying method, and substrate manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006077430A JP4679403B2 (en) | 2006-03-20 | 2006-03-20 | Substrate drying apparatus, substrate drying method, and substrate manufacturing method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007252984A JP2007252984A (en) | 2007-10-04 |
JP4679403B2 true JP4679403B2 (en) | 2011-04-27 |
Family
ID=38627752
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006077430A Expired - Fee Related JP4679403B2 (en) | 2006-03-20 | 2006-03-20 | Substrate drying apparatus, substrate drying method, and substrate manufacturing method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4679403B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2023156115A (en) * | 2022-04-12 | 2023-10-24 | 日本電気硝子株式会社 | Device and method for manufacturing glass product |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08141630A (en) * | 1994-11-18 | 1996-06-04 | Hitachi Cable Ltd | Device for removing washing liquid on rolled stock and method therefor |
JP2001102283A (en) * | 1999-09-28 | 2001-04-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Substrate processor |
JP2002110622A (en) * | 2000-09-29 | 2002-04-12 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Substrate dryer |
JP2005016887A (en) * | 2003-06-27 | 2005-01-20 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | Device and method for drying substrate |
-
2006
- 2006-03-20 JP JP2006077430A patent/JP4679403B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08141630A (en) * | 1994-11-18 | 1996-06-04 | Hitachi Cable Ltd | Device for removing washing liquid on rolled stock and method therefor |
JP2001102283A (en) * | 1999-09-28 | 2001-04-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Substrate processor |
JP2002110622A (en) * | 2000-09-29 | 2002-04-12 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Substrate dryer |
JP2005016887A (en) * | 2003-06-27 | 2005-01-20 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | Device and method for drying substrate |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007252984A (en) | 2007-10-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100778326B1 (en) | An apparatus for processing a substrate, a method for processing a substrate and a method for forming a pattern | |
JP4919733B2 (en) | Substrate cleaning apparatus, substrate cleaning method, and substrate manufacturing method | |
US20120061345A1 (en) | Method of drying substrate, and method of manufacturing image display apparatus using the same | |
CN100505154C (en) | Substrate drying device and method, and substrate producing method | |
JP4557872B2 (en) | Substrate processing apparatus, substrate processing method, and substrate manufacturing method | |
JP4679403B2 (en) | Substrate drying apparatus, substrate drying method, and substrate manufacturing method | |
JP2007144314A (en) | Air knife, substrate dryer, substrate drying method and manufacturing method of substrate | |
JP2008058898A (en) | Exposure apparatus, exposure method and method for manufacturing display panel substrate | |
JP2010181761A (en) | Apparatus for drying substrate, method of drying substrate and method of manufacturing display panel substrate | |
JP2007117993A (en) | Apparatus and method of drying substrate, and method of manufacturing substrate | |
JP2003322976A (en) | Method for atomizing liquid, method and device for developing substrate by using the same | |
JP2008018324A (en) | Device/method for treating substrate and substrate manufacturing method | |
JP2007335771A (en) | Substrate drying apparatus, substrate drying method, and manufacturing method of substrate | |
KR100870524B1 (en) | Apparatus for processing a substrate, method of processing a substrate and method of manufacturing a substrate | |
JP2003010755A (en) | Coating apparatus | |
JP2007286398A (en) | Development device and method of manufacturing color filter using the development device | |
JP2007268362A (en) | Substrate washing device, substrate washing method and substrate manufacturing method | |
JP4293920B2 (en) | Substrate processing apparatus, substrate processing method, and substrate manufacturing method | |
JP2010153425A (en) | Substrate treatment apparatus, substrate treatment method, and method of manufacturing display panel substrate | |
JP2007324249A (en) | Processing apparatus, processing method, and manufacturing method for substrate | |
JP2013167802A (en) | Wet processing unit | |
KR20040073314A (en) | In-line processing apparatus | |
JP2010245367A (en) | Substrate treating device, substrate treating method, and method of manufacturing display panel substrate | |
JP3934947B2 (en) | Method for developing color filter or liquid crystal structural material | |
WO2010116646A1 (en) | Method for forming resist pattern, and device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080807 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100611 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100622 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100810 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110201 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110201 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140210 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |