JP2010181761A - Apparatus for drying substrate, method of drying substrate and method of manufacturing display panel substrate - Google Patents

Apparatus for drying substrate, method of drying substrate and method of manufacturing display panel substrate Download PDF

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Kosei Kamaishi
孝生 釜石
Yoshihiro Moriguchi
善弘 森口
Kazuyoshi Ogasawara
和義 小笠原
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve ability of drying a substrate without adding equipment on the downstream side of an air knife. <P>SOLUTION: While moving the substrate 1 in which a cleaning solution 2 is supplied to the surface or to the back surface thereof, air is blown to the surface or to the back surface of the substrate 1 from the air knife 30 disposed over the width of the direction vertical to a substrate moving direction of the substrate 1 on the upper side or the lower side of the substrate 1. By a first suction nozzle 40 disposed on the more upstream side than the air knife 30 on the upper side or the lower side of the substrate 1, the cleaning solution 1 washed away by the air from the air knife 30 is sucked from the surface or the back surface of the substrate 1. On a part on the surface or the back surface of the substrate 1 against which the air from the air knife 30 strikes, the thickness of liquid film of the cleaning solution 2 is controlled thinly and the liquid film of the cleaning solution 2 is easily removed by the air from the air knife 30. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、液晶ディスプレイ装置等の表示用パネル基板の製造において、基板の乾燥を行う基板乾燥装置、基板乾燥方法、及びそれらを用いた表示用パネル基板の製造方法に係り、特に、エアナイフを用いた基板乾燥装置、基板乾燥方法、及びそれらを用いた表示用パネル基板の製造方法に関する。   The present invention relates to a substrate drying apparatus for drying a substrate, a substrate drying method, and a method for manufacturing a display panel substrate using them in manufacturing a display panel substrate such as a liquid crystal display device. The present invention relates to a conventional substrate drying apparatus, a substrate drying method, and a method of manufacturing a display panel substrate using them.

表示用パネルとして用いられる液晶ディスプレイ装置のTFT(Thin Film Transistor)基板やカラーフィルタ基板、プラズマディスプレイパネル用基板、有機EL(Electroluminescence)表示パネル用基板等の製造工程では、基板上に回路パターンやカラーフィルタ等を形成するため、基板の露光、現像、エッチング、剥離等の処理が行われる。現像、エッチング、剥離等の薬液処理の前又は後には、純水等の洗浄液を用いた基板の洗浄、及び洗浄後の基板の乾燥が必要である。基板の薬液処理、洗浄、及び乾燥を含む一連の処理は、ローラコンベア等の移動手段を用いて基板を移動しながら行われることが多く、基板の乾燥は、エアナイフを用いて基板へエアを吹き付けることにより、洗浄液を基板の表面から押し流して除去するのが一般的である。   In the manufacturing process of a TFT (Thin Film Transistor) substrate, a color filter substrate, a plasma display panel substrate, an organic EL (Electroluminescence) display panel substrate, etc. of a liquid crystal display device used as a display panel, circuit patterns and colors are formed on the substrate. In order to form a filter or the like, processing such as exposure, development, etching, and peeling of the substrate is performed. Before or after chemical treatment such as development, etching, and peeling, it is necessary to clean the substrate using a cleaning solution such as pure water and to dry the substrate after cleaning. A series of processing including chemical treatment, cleaning, and drying of a substrate is often performed while moving the substrate using a moving means such as a roller conveyor, and the substrate is dried by blowing air onto the substrate using an air knife. Accordingly, it is common to remove the cleaning liquid by pushing it away from the surface of the substrate.

エアナイフを用いた基板の乾燥は、基板を乾燥させる能力が高い反面、エアナイフからのエアによって基板の表面から吹き飛ばされた洗浄液のミストが基板の表面に再付着し、乾燥むらが発生することがある。これに対して、特許文献1には、エアナイフを用いて基板の表面全体に連続した液膜を形成し、形成した液膜を基板の端から順番に連続して除去することにより、基板をむらなく均一に乾燥させる技術が開示されている。   Drying of a substrate using an air knife has a high ability to dry the substrate, but mist of cleaning liquid blown off from the surface of the substrate by air from the air knife may reattach to the surface of the substrate, resulting in uneven drying. . On the other hand, in Patent Document 1, an air knife is used to form a continuous liquid film over the entire surface of the substrate, and the formed liquid film is sequentially removed from the edge of the substrate, thereby causing unevenness of the substrate. A technique for uniformly drying the film is disclosed.

特開2007−117993号公報JP 2007-117993 A

基板を移動しながら基板に対して一連の処理を行う場合、タクトタイムを短縮するためには、基板の移動を高速で行う必要がある。特に、近年の表示用パネルの大画面化に伴い基板が大型化する程、タクトタイムを従来以下に抑えるためには、基板を従来よりも高速で移動しながら、基板に対して一連の処理を行わなければならない。   When a series of processing is performed on a substrate while moving the substrate, it is necessary to move the substrate at a high speed in order to shorten the tact time. In particular, in order to keep the tact time below that of a conventional substrate as the size of the display panel increases, the series of processing is performed on the substrate while moving the substrate at a higher speed than before. It must be made.

従来のエアナイフを用いた基板の乾燥では、基板の移動を高速で行うと、洗浄液の一部が基板の表面から除去しきれずに点在して残り、洗浄液の残存した部分が乾燥後にしみとなって、乾燥むらが発生することがあった。特に、基板の表面にパターン等の凹凸が形成されている場合、基板の表面の凹凸によって洗浄液の移動が阻害されるので、洗浄液の残存による乾燥むらが発生する可能性が高い。この様な乾燥むらを抑制するためには、基板の移動を高速で行う程、大量のエアを高速で吹き付ける必要があった。   When drying a substrate using a conventional air knife, if the substrate is moved at a high speed, a part of the cleaning liquid remains scattered from the surface of the substrate, and the remaining part of the cleaning liquid becomes a stain after drying. As a result, uneven drying may occur. In particular, in the case where irregularities such as patterns are formed on the surface of the substrate, the movement of the cleaning liquid is hindered by the irregularities on the surface of the substrate, so that there is a high possibility of uneven drying due to the remaining cleaning liquid. In order to suppress such drying unevenness, it is necessary to blow a large amount of air at a higher speed as the substrate is moved at a higher speed.

一方、特許文献1に記載の技術は、エアナイフを用いて基板の表面に液膜を形成した後、形成した液膜を除去するために、ハロゲンランプヒータ等の液膜除去手段をエアナイフの下流側に設ける必要があり、工程が複雑になって装置の設置面積が増加するという問題があった。   On the other hand, in the technique described in Patent Document 1, after forming a liquid film on the surface of the substrate using an air knife, a liquid film removing means such as a halogen lamp heater is provided downstream of the air knife in order to remove the formed liquid film. There is a problem that the installation area of the apparatus increases because the process becomes complicated.

本発明の課題は、エアナイフの下流側に設備を追加することなく、基板を乾燥させる能力を向上させることである。また、本発明の課題は、高品質な表示用パネル基板を効率良く製造することである。   An object of the present invention is to improve the ability to dry a substrate without adding equipment downstream of the air knife. Another object of the present invention is to efficiently produce a high-quality display panel substrate.

本発明の基板乾燥装置は、表面又は裏面に洗浄液が供給された基板を移動する基板移動手段と、基板移動手段により移動される基板の上方又は下方に、基板の基板移動方向と直交する方向の幅に渡って設けられ、基板の表面又は裏面へエアを吹き付けるエアナイフと、基板移動手段により移動される基板の上方又は下方のエアナイフより上流側に設けられ、エアナイフからのエアにより押し流された洗浄液を基板の表面又は裏面から吸引する第1の吸引ノズルとを備えたものである。   The substrate drying apparatus of the present invention includes a substrate moving means for moving a substrate supplied with a cleaning liquid on the front surface or the back surface, and a direction perpendicular to the substrate moving direction of the substrate above or below the substrate moved by the substrate moving means. An air knife that blows air to the front surface or back surface of the substrate and is provided upstream of the air knife above or below the substrate that is moved by the substrate moving means and is washed away by the air from the air knife. And a first suction nozzle for sucking from the front surface or the back surface of the substrate.

また、本発明の基板乾燥方法は、表面又は裏面に洗浄液が供給された基板を移動しながら、基板の上方又は下方に基板の基板移動方向と直交する方向の幅に渡って設けたエアナイフから、基板の表面又は裏面へエアを吹き付け、基板の上方又は下方のエアナイフより上流側に設けた第1の吸引ノズルにより、エアナイフからのエアにより押し流された洗浄液を基板の表面又は裏面から吸引するものである。   Further, the substrate drying method of the present invention, from the air knife provided across the width in the direction orthogonal to the substrate movement direction of the substrate above or below the substrate, while moving the substrate supplied with the cleaning liquid on the front surface or back surface, Air is blown onto the front or back surface of the substrate, and the cleaning liquid swept away by the air from the air knife is sucked from the front or back surface of the substrate by a first suction nozzle provided upstream of the air knife above or below the substrate. is there.

基板の上方又は下方のエアナイフより上流側に設けた第1の吸引ノズルにより、エアナイフからのエアにより押し流された洗浄液を基板の表面又は裏面から吸引するので、基板の表面又は裏面のエアナイフからのエアが当たる部分では、洗浄液の液膜の厚さが薄く制御され、エアナイフからのエアによって洗浄液の液膜が容易に除去される。従って、基板を乾燥させる能力が向上し、また、第1の吸引ノズルを、基板の上方又は下方のエアナイフより上流側に設けるので、エアナイフの下流側には設備が追加されず、装置の設置面積が増加しない。   The first suction nozzle provided upstream of the air knife above or below the substrate sucks the cleaning liquid swept away by the air from the air knife from the front or back surface of the substrate. The thickness of the liquid film of the cleaning liquid is controlled to be thin, and the liquid film of the cleaning liquid is easily removed by the air from the air knife. Accordingly, the ability to dry the substrate is improved, and the first suction nozzle is provided on the upstream side of the air knife above or below the substrate, so that no equipment is added on the downstream side of the air knife, and the installation area of the apparatus is increased. Does not increase.

さらに、本発明の基板乾燥装置は、基板移動手段が、水平に設置された複数のローラを有し、第1の吸引ノズルが、基板の基板移動方向と直交する方向の幅に渡って設けられ、エアナイフからのエアにより押し流された洗浄液を基板の表面又は裏面から吸引すると共に、エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引するものである。   Further, in the substrate drying apparatus of the present invention, the substrate moving means has a plurality of horizontally installed rollers, and the first suction nozzle is provided over a width in a direction perpendicular to the substrate moving direction of the substrate. The cleaning liquid swept away by the air from the air knife is sucked from the front or back surface of the substrate, and the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife is sucked.

また、本発明の基板乾燥方法は、基板を水平に移動し、第1の吸引ノズルを、基板の基板移動方向と直交する方向の幅に渡って設け、第1の吸引ノズルにより、エアナイフからのエアにより押し流された洗浄液を基板の表面又は裏面から吸引すると共に、エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引するものである。   In the substrate drying method of the present invention, the substrate is moved horizontally, the first suction nozzle is provided across the width of the substrate in the direction orthogonal to the substrate movement direction, and the first suction nozzle is used to remove the air from the air knife. The cleaning liquid swept away by the air is sucked from the front surface or the back surface of the substrate, and the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife is sucked.

基板を水平に移動しながら基板の乾燥を行う場合、第1の吸引ノズルを、基板の基板移動方向と直交する方向の幅に渡って設け、第1の吸引ノズルにより、エアナイフからのエアにより押し流された洗浄液を基板の表面又は裏面から吸引すると共に、エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引するので、エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストが基板の表面又は裏面に再付着して乾燥むらが発生するのが抑制される。   When drying the substrate while moving the substrate horizontally, the first suction nozzle is provided across the width of the substrate in the direction orthogonal to the substrate movement direction, and is pushed away by the air from the air knife by the first suction nozzle. The cleaning liquid mist scattered by the air from the air knife and the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife is reattached to the front or back surface of the substrate. Occurrence of uneven drying is suppressed.

あるいは、本発明の基板乾燥装置は、基板移動手段が、水平に対して基板移動方向と直交する方向に傾けて設置された複数のローラを有し、第1の吸引ノズルが、複数のローラにより移動される傾斜した基板の下側の上方又は下方に配置され、複数のローラにより移動される傾斜した基板の上側の上方又は下方に配置され、エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引する第2の吸引ノズルを備えたものである。   Alternatively, in the substrate drying apparatus of the present invention, the substrate moving means has a plurality of rollers installed in a direction perpendicular to the substrate moving direction with respect to the horizontal, and the first suction nozzle is formed by the plurality of rollers. It is disposed above or below the lower side of the inclined substrate to be moved, and is disposed above or below the upper side of the inclined substrate that is moved by a plurality of rollers, and sucks the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife. A second suction nozzle is provided.

また、本発明の基板乾燥方法は、基板を水平に対して基板移動方向と直交する方向に傾斜した状態で移動し、第1の吸引ノズルを、傾斜した基板の下側の上方又は下方に配置し、第1の吸引ノズルにより、エアナイフからのエアにより押し流された洗浄液を基板の表面又は裏面から吸引すると共に、第2の吸引ノズルを、傾斜した基板の上側の上方又は下方に配置し、第2の吸引ノズルにより、エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引するものである。   In the substrate drying method of the present invention, the substrate is moved while being inclined in a direction orthogonal to the substrate movement direction with respect to the horizontal, and the first suction nozzle is disposed above or below the inclined substrate. The first suction nozzle sucks the cleaning liquid swept away by the air from the air knife from the front surface or the back surface of the substrate, and the second suction nozzle is disposed above or below the inclined substrate. The suction nozzle 2 sucks the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife.

基板を水平に対して基板移動方向と直交する方向に傾斜した状態で移動しながら基板の乾燥を行う場合、第2の吸引ノズルを、傾斜した基板の上側の上方又は下方に配置し、第2の吸引ノズルにより、エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引するので、エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストが基板の表面に再付着して乾燥むらが発生するのが抑制される。   When drying the substrate while moving the substrate while being inclined in a direction perpendicular to the substrate moving direction with respect to the horizontal, the second suction nozzle is disposed above or below the inclined substrate, and the second Since the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife is sucked by the suction nozzle, it is possible to prevent the cleaning liquid mist scattered by the air from the air knife from reattaching to the surface of the substrate and causing uneven drying.

本発明の表示用パネル基板の製造方法は、上記のいずれかの基板乾燥装置又は基板乾燥方法を用いて基板の乾燥を行うものである。基板を乾燥させる能力が向上し、また乾燥むらが抑制されるので、高品質な表示用パネル基板が効率良く製造される。   The method for producing a display panel substrate of the present invention is to dry a substrate using any one of the above-described substrate drying apparatuses or substrate drying methods. Since the ability to dry the substrate is improved and drying unevenness is suppressed, a high-quality display panel substrate is efficiently manufactured.

本発明の基板乾燥装置及び基板乾燥方法によれば、基板の上方又は下方のエアナイフより上流側に設けた第1の吸引ノズルにより、エアナイフからのエアにより押し流された洗浄液を基板の表面又は裏面から吸引することにより、エアナイフの下流側に設備を追加することなく、基板を乾燥させる能力を向上させることができる。   According to the substrate drying apparatus and the substrate drying method of the present invention, the first suction nozzle provided on the upstream side of the air knife above or below the substrate causes the cleaning liquid swept away by the air from the air knife from the front surface or the back surface of the substrate. By sucking, the ability to dry the substrate can be improved without adding equipment on the downstream side of the air knife.

さらに、基板を水平に移動し、第1の吸引ノズルを、基板の基板移動方向と直交する方向の幅に渡って設け、第1の吸引ノズルにより、エアナイフからのエアにより押し流された洗浄液を基板の表面又は裏面から吸引すると共に、エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引することにより、エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストが基板の表面又は裏面に再付着して乾燥むらが発生するのを抑制することができる。   Further, the substrate is moved horizontally, the first suction nozzle is provided across the width of the substrate in the direction orthogonal to the substrate movement direction, and the cleaning liquid pushed away by the air from the air knife is supplied to the substrate by the first suction nozzle. When suctioning from the front or back surface of the substrate and suctioning the mist of the cleaning solution scattered by the air from the air knife, the cleaning solution mist scattered by the air from the air knife reattaches to the front or back surface of the substrate, resulting in uneven drying. Can be suppressed.

あるいは、基板を水平に対して基板移動方向と直交する方向に傾斜した状態で移動し、第1の吸引ノズルを、傾斜した基板の下側の上方又は下方に配置し、第1の吸引ノズルにより、エアナイフからのエアにより押し流された洗浄液を基板の表面又は裏面から吸引すると共に、第2の吸引ノズルを、傾斜した基板の上側の上方又は下方に配置し、第2の吸引ノズルにより、エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引することにより、エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストが基板の表面又は裏面に再付着して乾燥むらが発生するのを抑制することができる。   Alternatively, the substrate is moved while being inclined in a direction orthogonal to the substrate moving direction with respect to the horizontal, and the first suction nozzle is disposed above or below the inclined substrate, and the first suction nozzle The cleaning liquid swept away by the air from the air knife is sucked from the front surface or the back surface of the substrate, and the second suction nozzle is disposed above or below the inclined substrate. By sucking the mist of the cleaning liquid scattered by the air, it is possible to prevent the cleaning liquid mist scattered by the air from the air knife from reattaching to the front surface or the back surface of the substrate and causing uneven drying.

本発明の表示用パネル基板の製造方法によれば、基板を乾燥させる能力を向上させることができ、また乾燥むらを抑制することができるので、高品質な表示用パネル基板を効率良く製造することができる。   According to the method for manufacturing a display panel substrate of the present invention, the ability to dry the substrate can be improved and uneven drying can be suppressed, so that a high-quality display panel substrate can be efficiently manufactured. Can do.

図1(a)は本発明の一実施の形態による基板乾燥装置の上面図、図1(b)は同側面図である。FIG. 1A is a top view of a substrate drying apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1B is a side view thereof. 図2(a)は吸引ノズルの側面図、図2(b)は図2(a)のA−A部の断面図である。2A is a side view of the suction nozzle, and FIG. 2B is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. 2A. 本発明の一実施の形態による基板乾燥装置の吸引ノズルの動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the suction nozzle of the board | substrate drying apparatus by one embodiment of this invention. 図4(a)は本発明の他の実施の形態による基板乾燥装置の上面図、図4(b)は同正面図である。FIG. 4A is a top view of a substrate drying apparatus according to another embodiment of the present invention, and FIG. 4B is a front view thereof. 本発明の他の実施の形態による基板乾燥装置の吸引ノズルの動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the suction nozzle of the board | substrate drying apparatus by other embodiment of this invention. 液晶ディスプレイ装置のTFT基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the manufacturing process of the TFT substrate of a liquid crystal display device. 液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the manufacturing process of the color filter board | substrate of a liquid crystal display device.

図1(a)は本発明の一実施の形態による基板乾燥装置の上面図、図1(b)は同側面図である。本実施の形態は、基板を水平に移動しながら基板の乾燥を行う基板乾燥装置の例を示している。基板乾燥装置は、ローラ10、エアナイフ30、及び吸引ノズル40を含んで構成されている。なお、後述する様に、エアナイフ30と吸引ノズル40との間には、空気が吸引ノズル40側からエアナイフ30側へ回り込むのを防止するための壁が設けられているが、図1(a),(b)ではこの壁が省略されている。   FIG. 1A is a top view of a substrate drying apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1B is a side view thereof. This embodiment shows an example of a substrate drying apparatus that dries a substrate while moving the substrate horizontally. The substrate drying apparatus includes a roller 10, an air knife 30, and a suction nozzle 40. As will be described later, a wall is provided between the air knife 30 and the suction nozzle 40 to prevent air from flowing from the suction nozzle 40 side to the air knife 30 side. , (B), this wall is omitted.

図1(a),(b)において、基板1は、複数のローラ10上に搭載され、ローラ10の回転により、矢印で示す基板移動方向へ移動される。各ローラ10は、水平に設置されており、図示しない駆動機構により回転されて、基板1を水平に移動する。   1A and 1B, the substrate 1 is mounted on a plurality of rollers 10 and is moved in the substrate movement direction indicated by an arrow by the rotation of the rollers 10. Each roller 10 is installed horizontally and is rotated by a driving mechanism (not shown) to move the substrate 1 horizontally.

ローラ10により移動される基板1の上方及び下方の基板乾燥装置より上流側(図1(a),(b)の図面左側)には、ノズルヘッダー20が、基板1の基板移動方向と直交する方向の幅Lに渡って、基板1と平行に設置されている。図1(b)において、ノズルヘッダー20には、基板移動方向と直交する方向(図1(b)の図面奥行き方向)に、複数のノズル20aが設けられている。図示しない洗浄液供給源からノズルヘッダー20へ、洗浄液が供給される。ノズルヘッダー20は、ノズル20aから、洗浄液をローラ10により移動される基板1の表面又は裏面へ供給する。表面及び裏面に洗浄液が供給された基板1は、ローラ10により、基板乾燥装置へ搬入される。   The nozzle header 20 is orthogonal to the substrate moving direction of the substrate 1 on the upstream side (the left side of the drawings in FIGS. 1A and 1B) above and below the substrate drying apparatus moved by the roller 10. It is installed in parallel with the substrate 1 over the width L in the direction. In FIG. 1B, the nozzle header 20 is provided with a plurality of nozzles 20a in a direction orthogonal to the substrate movement direction (the drawing depth direction in FIG. 1B). A cleaning liquid is supplied from a cleaning liquid supply source (not shown) to the nozzle header 20. The nozzle header 20 supplies the cleaning liquid from the nozzle 20 a to the front surface or the back surface of the substrate 1 moved by the roller 10. The substrate 1 supplied with the cleaning liquid on the front surface and the back surface is carried into a substrate drying apparatus by a roller 10.

なお、本実施の形態では、ノズルヘッダー20が1つだけ設けられているが、ノズルヘッダー20を基板移動方向に2つ以上設けてもよい。   In the present embodiment, only one nozzle header 20 is provided, but two or more nozzle headers 20 may be provided in the substrate movement direction.

図1(a)において、ローラ10により移動される基板1の上方及び下方には、エアナイフ30が、基板1の基板移動方向と直交する方向の幅Lに渡って、基板1と平行に設置されている。エアナイフ30は、基板1の基板移動方向と直交する方向に対して、所定の角度θ1だけ傾けて設けられている。エアナイフ30は、例えば、長尺のケーシングの内部に加圧室を形成し、加圧室に通じるエア通路を長手方向にスリット状に設けて構成されている。図示しないエア供給源からエアナイフ30へ、エアが供給される。エアナイフ30は、エア通路の先端から、エアを基板1の表面又は裏面へ基板移動方向と反対側の向きに所定の入射角度で長手方向に渡って均一に吹き付ける。   In FIG. 1A, an air knife 30 is installed in parallel with the substrate 1 over a width L in a direction orthogonal to the substrate moving direction of the substrate 1 above and below the substrate 1 moved by the roller 10. ing. The air knife 30 is provided so as to be inclined by a predetermined angle θ1 with respect to a direction orthogonal to the substrate movement direction of the substrate 1. The air knife 30 is configured, for example, by forming a pressurizing chamber inside a long casing and providing an air passage leading to the pressurizing chamber in a slit shape in the longitudinal direction. Air is supplied to the air knife 30 from an air supply source (not shown). The air knife 30 uniformly blows air over the longitudinal direction at a predetermined incident angle in the direction opposite to the substrate moving direction from the front end of the air passage to the front or back surface of the substrate 1.

さらに、ローラ10により移動される基板1の上方及び下方のエアナイフ30より上流側(図面左側)には、吸引ノズル40が、基板1の基板移動方向と直交する方向の幅Lに渡って、基板1と平行に設置されている。吸引ノズル40は、エアナイフ30と同様、基板1の基板移動方向と直交する方向に対して、所定の角度θ1だけ傾けて設けられている。   Further, on the upstream side (left side in the drawing) of the air knife 30 above and below the substrate 1 moved by the roller 10, the suction nozzle 40 extends over a width L in a direction perpendicular to the substrate moving direction of the substrate 1. 1 is installed in parallel. Similar to the air knife 30, the suction nozzle 40 is provided to be inclined by a predetermined angle θ1 with respect to a direction orthogonal to the substrate movement direction of the substrate 1.

図2(a)は吸引ノズルの側面図、図2(b)は図2(a)のA−A部の断面図である。図2(a)に示す様に、吸引ノズル40は、長尺のケーシング40aと、ケーシング40aの一端に設けられた継手40bとを含んで構成されている。図2(b)に示す様に、ケーシング40aは、断面の外形が菱形で、内部に空間が形成されている。ケーシング40aの下端には、内部の空間に通じる幅Wの吸引口40cが、長手方向(図2(b)の図面手前方向及び図面奥行き方向)にスリット状に設けられている。継手40bの内部には、ケーシング40aの内部の空間に通じる吸引路40dが設けられており、吸引路40dは、図示しないポンプへ接続されている。図示しないポンプを作動すると、吸引口40cから吸引された液体又は気体が、ケーシング40aの内部の空間から吸引路40dを通ってポンプへ吸引される。   2A is a side view of the suction nozzle, and FIG. 2B is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. 2A. As shown in FIG. 2A, the suction nozzle 40 includes a long casing 40a and a joint 40b provided at one end of the casing 40a. As shown in FIG. 2 (b), the casing 40a has a diamond-shaped cross section and a space formed inside. At the lower end of the casing 40a, a suction port 40c having a width W that communicates with the internal space is provided in a slit shape in the longitudinal direction (the front side and the depth direction in FIG. 2B). A suction path 40d communicating with the space inside the casing 40a is provided inside the joint 40b, and the suction path 40d is connected to a pump (not shown). When a pump (not shown) is operated, the liquid or gas sucked from the suction port 40c is sucked from the space inside the casing 40a through the suction path 40d to the pump.

図3は、本発明の一実施の形態による基板乾燥装置の吸引ノズルの動作を説明する図である。図3に示す様に、エアナイフ30と吸引ノズル40との間には、空気が吸引ノズル40側からエアナイフ30側へ回り込むのを防止するための壁50が設けられている。基板1の表面及び裏面の洗浄液2は、エアナイフ30から吹き付けたエアにより、基板移動方向と反対側へ押し流される。吸引ノズル40は、エアナイフ30からのエアにより押し流された洗浄液2を基板1の表面又は裏面から吸引する。   FIG. 3 is a diagram for explaining the operation of the suction nozzle of the substrate drying apparatus according to the embodiment of the present invention. As shown in FIG. 3, a wall 50 is provided between the air knife 30 and the suction nozzle 40 to prevent air from flowing from the suction nozzle 40 side to the air knife 30 side. The cleaning liquid 2 on the front surface and the back surface of the substrate 1 is pushed away by the air blown from the air knife 30 to the side opposite to the substrate moving direction. The suction nozzle 40 sucks the cleaning liquid 2 washed away by the air from the air knife 30 from the front surface or the back surface of the substrate 1.

実験の結果、吸引圧力を1.8kPaとしたとき、洗浄液2を吸引可能な吸引ノズル40の設置高さ(洗浄液2の液面から吸引口40cまでの高さ)の最大は、3.5±0.5mmであった。また、吸引圧力を5.0kPaとしたとき、洗浄液2を吸引可能な吸引ノズル40の設置高さの最大は、4.3±0.5mmであった。また、吸引圧力を8.8kPaとしたとき、洗浄液2を吸引可能な吸引ノズル40の設置高さの最大は、5.1±0.5mmであった。   As a result of the experiment, when the suction pressure is 1.8 kPa, the maximum installation height of the suction nozzle 40 that can suck the cleaning liquid 2 (height from the liquid surface of the cleaning liquid 2 to the suction port 40c) is 3.5 ±. It was 0.5 mm. When the suction pressure was 5.0 kPa, the maximum installation height of the suction nozzle 40 capable of sucking the cleaning liquid 2 was 4.3 ± 0.5 mm. When the suction pressure was 8.8 kPa, the maximum installation height of the suction nozzle 40 capable of sucking the cleaning liquid 2 was 5.1 ± 0.5 mm.

図3において、吸引ノズル40が洗浄液2を基板1の表面又は裏面から吸引することにより、基板1の表面又は裏面のエアナイフ30からのエアが当たる部分では、洗浄液2の液膜の厚さが薄く制御され、エアナイフ30からのエアによって洗浄液2の液膜が容易に除去される。従って、基板1を乾燥させる能力が向上し、また、吸引ノズル40を、基板1の上方又は下方のエアナイフ30より上流側に設けるので、エアナイフ30の下流側には設備が追加されず、装置の設置面積が増加しない。   In FIG. 3, the suction nozzle 40 sucks the cleaning liquid 2 from the front surface or the back surface of the substrate 1, so that the liquid film thickness of the cleaning liquid 2 is thin at the portion where the air from the air knife 30 on the front surface or the back surface of the substrate 1 hits. The liquid film of the cleaning liquid 2 is easily removed by the air from the air knife 30 under control. Accordingly, the ability to dry the substrate 1 is improved, and the suction nozzle 40 is provided on the upstream side of the air knife 30 above or below the substrate 1, so that no equipment is added downstream of the air knife 30, and the apparatus Installation area does not increase.

基板1の表面側及び裏面側では、エアナイフ30からのエアにより洗浄液2が飛び散り、洗浄液のミストが発生する。エアナイフ30と吸引ノズル40との間に設けられた壁50は、洗浄液のミストを含む空気が吸引ノズル40側からエアナイフ30側へ回り込むのを防止する。吸引ノズル40は、エアナイフ30からのエアにより押し流された洗浄液2を基板1の表面又は裏面から吸引すると共に、エアナイフ30からのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引する。図3では、この洗浄液のミストの流れが矢印で示されている。   On the front side and the back side of the substrate 1, the cleaning liquid 2 is scattered by the air from the air knife 30, and mist of the cleaning liquid is generated. The wall 50 provided between the air knife 30 and the suction nozzle 40 prevents air containing the mist of the cleaning liquid from flowing from the suction nozzle 40 side to the air knife 30 side. The suction nozzle 40 sucks the cleaning liquid 2 swept away by the air from the air knife 30 from the front or back surface of the substrate 1 and sucks the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife 30. In FIG. 3, the flow of mist of this cleaning liquid is indicated by arrows.

基板1を水平に移動しながら基板1の乾燥を行う場合、吸引ノズル40を、基板1の基板移動方向と直交する方向の幅Lに渡って設け、吸引ノズル40により、エアナイフ30からのエアにより押し流された洗浄液2を基板1の表面又は裏面から吸引すると共に、エアナイフ30からのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引するので、エアナイフ30からのエアにより飛び散った洗浄液のミストが基板1の表面又は裏面に再付着して乾燥むらが発生するのが抑制される。   When drying the substrate 1 while moving the substrate 1 horizontally, the suction nozzle 40 is provided over a width L in the direction orthogonal to the substrate movement direction of the substrate 1, and the suction nozzle 40 causes the air from the air knife 30 to be used. Since the washed cleaning liquid 2 is sucked from the front or back surface of the substrate 1 and the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife 30 is sucked, the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife 30 is Generation of uneven drying due to reattachment to the back surface is suppressed.

図4(a)は本発明の他の実施の形態による基板乾燥装置の上面図、図4(b)は同正面図である。本実施の形態は、基板を水平に対して基板移動方向と直交する方向に傾斜した状態で移動しながら基板の乾燥を行う基板乾燥装置の例を示している。基板乾燥装置は、ローラ11、エアナイフ31、及び吸引ノズル41,42を含んで構成されている。なお、図4(b)では、基板1の下方に設けられた洗浄液ノズル21、エアナイフ31、及び吸引ノズル41,42が省略されている。   FIG. 4A is a top view of a substrate drying apparatus according to another embodiment of the present invention, and FIG. 4B is a front view thereof. The present embodiment shows an example of a substrate drying apparatus that dries a substrate while moving the substrate while being inclined in a direction perpendicular to the substrate moving direction with respect to the horizontal. The substrate drying apparatus includes a roller 11, an air knife 31, and suction nozzles 41 and 42. In FIG. 4B, the cleaning liquid nozzle 21, the air knife 31, and the suction nozzles 41 and 42 provided below the substrate 1 are omitted.

図4(a)において、基板1は、複数のローラ11上に搭載され、ローラ11の回転により、矢印で示す基板移動方向へ移動される。図4(b)に示す様に、各ローラ11は、水平に対して基板移動方向と直交する方向に所定の角度αだけ傾けて設置されており、図示しない駆動機構により回転されて、基板1を水平に対して基板移動方向と直交する方向に傾斜した状態で移動する。傾けて設置された一番下側のローラ11には、基板1の側面を案内するためのフランジ12が設けられている。   In FIG. 4A, the substrate 1 is mounted on a plurality of rollers 11 and is moved in the substrate moving direction indicated by the arrow by the rotation of the rollers 11. As shown in FIG. 4B, each roller 11 is installed at a predetermined angle α in a direction perpendicular to the substrate moving direction with respect to the horizontal, and is rotated by a driving mechanism (not shown) so that the substrate 1 Is moved in a state inclined with respect to the horizontal direction perpendicular to the substrate moving direction. A lowermost roller 11 installed at an angle is provided with a flange 12 for guiding the side surface of the substrate 1.

図4(a)において、ローラ11により移動される基板1の上方及び下方の基板乾燥装置より上流側(図4(a)の図面左側)には、洗浄液ノズル21が設置されている。洗浄液ノズル21は、例えば、長尺のケーシングに、ノズル口を長手方向にスリット状に又は所定の間隔で設けて構成され、傾斜した基板1の上側の上方に、基板移動方向に沿って設けられている。図示しない洗浄液供給源から洗浄液ノズル21へ、洗浄液が供給される。洗浄液ノズル21は、ノズル口から、洗浄液を基板1の表面又は裏面の上側へ供給する。基板1の表面及び裏面の上側へ供給された洗浄液は、基板1の傾斜に沿って基板1の表面及び裏面の下側へ流れ落ちる。表面及び裏面に洗浄液が供給された基板1は、ローラ11により、基板乾燥装置へ搬入される。   In FIG. 4A, a cleaning liquid nozzle 21 is installed on the upstream side (the left side of the drawing in FIG. 4A) above and below the substrate drying apparatus moved by the roller 11. The cleaning liquid nozzle 21 is configured, for example, in a long casing, with nozzle openings provided in a slit shape or at predetermined intervals in the longitudinal direction, and is provided above the inclined substrate 1 along the substrate movement direction. ing. A cleaning liquid is supplied from a cleaning liquid supply source (not shown) to the cleaning liquid nozzle 21. The cleaning liquid nozzle 21 supplies the cleaning liquid to the upper side of the front surface or the back surface of the substrate 1 from the nozzle port. The cleaning liquid supplied to the upper side of the front surface and the back surface of the substrate 1 flows down to the lower side of the front surface and the back surface of the substrate 1 along the inclination of the substrate 1. The substrate 1 supplied with the cleaning liquid on the front surface and the back surface is carried into a substrate drying apparatus by a roller 11.

ローラ11により移動される基板1の上方及び下方には、エアナイフ31が、基板1の基板移動方向と直交する方向の幅Lに渡って、基板1と平行に設置されている。エアナイフ31は、基板1の基板移動方向と直交する方向に対して、所定の角度θ2だけ傾けて設けられている。エアナイフ31は、例えば、長尺のケーシングの内部に加圧室を形成し、加圧室に通じるエア通路を長手方向にスリット状に設けて構成されている。図示しないエア供給源からエアナイフ31へ、エアが供給される。エアナイフ31は、エア通路の先端から、エアを基板1の表面又は裏面へ基板移動方向と反対側の向きに所定の入射角度で長手方向に渡って均一に吹き付ける。   Above and below the substrate 1 moved by the roller 11, an air knife 31 is installed in parallel with the substrate 1 over a width L in a direction perpendicular to the substrate moving direction of the substrate 1. The air knife 31 is provided to be inclined by a predetermined angle θ2 with respect to a direction orthogonal to the substrate moving direction of the substrate 1. The air knife 31 is configured, for example, by forming a pressurizing chamber inside a long casing and providing an air passage leading to the pressurizing chamber in a slit shape in the longitudinal direction. Air is supplied from an air supply source (not shown) to the air knife 31. The air knife 31 uniformly blows air over the longitudinal direction at a predetermined incident angle in the direction opposite to the substrate moving direction from the front end of the air passage to the front or back surface of the substrate 1.

さらに、ローラ11により移動される基板1の上方及び下方のエアナイフ31より上流側(図4(a)の図面左側)には、吸引ノズル41,42が、基板1と平行に設置されている。吸引ノズル41は、傾斜した基板1の下側の上方又は下方に、基板移動方向に沿って設けられている。吸引ノズル42は、傾斜した基板1の上側の上方又は下方に、基板移動方向に沿って設けられている。吸引ノズル41,42の構造は、図2に示した吸引ノズル40の構造と同様である。   Furthermore, suction nozzles 41 and 42 are installed in parallel with the substrate 1 on the upstream side (the left side of the drawing in FIG. 4A) above and below the air knife 31 moved by the roller 11. The suction nozzle 41 is provided above or below the inclined substrate 1 along the substrate moving direction. The suction nozzle 42 is provided above or below the inclined substrate 1 along the substrate moving direction. The structure of the suction nozzles 41 and 42 is the same as the structure of the suction nozzle 40 shown in FIG.

図5は、本発明の他の実施の形態による基板乾燥装置の吸引ノズルの動作を説明する図である。洗浄液ノズル21から基板1の表面及び裏面の上側へ供給された洗浄液2は、基板1の傾斜に沿って基板1の下側へ流れ落ちながら、エアナイフ31から吹き付けたエアにより、基板移動方向と反対側へ押し流される。図5(a)において、傾斜した基板1の下側の上方に設置された吸引ノズル41は、エアナイフ31からのエアにより押し流された洗浄液2を基板1の表面から吸引する。吸引ノズル41が洗浄液2を基板1の表面から吸引することにより、基板1の表面のエアナイフ31からのエアが当たる部分では、洗浄液2の液膜の厚さが薄く制御され、エアナイフ31からのエアによって洗浄液2の液膜が容易に除去される。従って、基板1を乾燥させる能力が向上し、また、吸引ノズル41を、基板1の上方のエアナイフ31より上流側に設けるので、エアナイフ31の下流側には設備が追加されず、装置の設置面積が増加しない。   FIG. 5 is a diagram for explaining the operation of the suction nozzle of the substrate drying apparatus according to another embodiment of the present invention. The cleaning liquid 2 supplied from the cleaning liquid nozzle 21 to the upper side of the front and back surfaces of the substrate 1 flows down to the lower side of the substrate 1 along the inclination of the substrate 1, and is opposite to the substrate moving direction by the air blown from the air knife 31. Washed away. In FIG. 5A, the suction nozzle 41 installed above the lower side of the inclined substrate 1 sucks the cleaning liquid 2 washed away by the air from the air knife 31 from the surface of the substrate 1. When the suction nozzle 41 sucks the cleaning liquid 2 from the surface of the substrate 1, the thickness of the liquid film of the cleaning liquid 2 is controlled to be thin at a portion where the air from the air knife 31 hits the surface of the substrate 1. Thus, the liquid film of the cleaning liquid 2 is easily removed. Accordingly, the ability to dry the substrate 1 is improved, and the suction nozzle 41 is provided on the upstream side of the air knife 31 above the substrate 1, so that no equipment is added downstream of the air knife 31 and the installation area of the apparatus is increased. Does not increase.

基板1の表面側及び裏面側では、エアナイフ31からのエアにより洗浄液2が飛び散り、洗浄液のミストが発生する。図5(b)において、傾斜した基板1の上側の上方に設置された吸引ノズル42は、エアナイフ31からのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引する。図5(b)では、この洗浄液のミストの流れが矢印で示されている。   On the front side and the back side of the substrate 1, the cleaning liquid 2 is scattered by the air from the air knife 31, and mist of the cleaning liquid is generated. In FIG. 5B, the suction nozzle 42 installed above the inclined substrate 1 sucks the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife 31. In FIG. 5B, the flow of mist of the cleaning liquid is indicated by an arrow.

基板1を水平に対して基板移動方向と直交する方向に傾斜した状態で移動しながら基板1の乾燥を行う場合、吸引ノズル41を、傾斜した基板の上側の上方又は下方に配置し、吸引ノズル41により、エアナイフ31からのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引するので、エアナイフ31からのエアにより飛び散った洗浄液のミストが基板1の表面に再付着して乾燥むらが発生するのが抑制される。   When drying the substrate 1 while moving the substrate 1 while being inclined in a direction orthogonal to the substrate moving direction with respect to the horizontal, the suction nozzle 41 is disposed above or below the inclined substrate, and the suction nozzle is arranged. 41, the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife 31 is sucked, so that it is suppressed that the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife 31 reattaches to the surface of the substrate 1 and the drying unevenness occurs. .

以上説明した実施の形態によれば、基板1の上方又は下方のエアナイフ30,31より上流側に設けた吸引ノズル40,41により、エアナイフ30,31からのエアにより押し流された洗浄液2を基板1の表面又は裏面から吸引することにより、エアナイフ30,31の下流側に設備を追加することなく、基板1を乾燥させる能力を向上させることができる。   According to the embodiment described above, the cleaning liquid 2 washed away by the air from the air knives 30 and 31 by the suction nozzles 40 and 41 provided upstream of the air knives 30 and 31 above or below the substrate 1 is supplied to the substrate 1. The ability to dry the substrate 1 can be improved without adding equipment on the downstream side of the air knives 30 and 31.

さらに、基板1を水平に移動し、吸引ノズル40を、基板1の基板移動方向と直交する方向の幅Lに渡って設け、吸引ノズル40により、エアナイフ30からのエアにより押し流された洗浄液2を基板1の表面又は裏面から吸引すると共に、エアナイフ30からのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引することにより、エアナイフ30からのエアにより飛び散った洗浄液のミストが基板1の表面又は裏面に再付着して乾燥むらが発生するのを抑制することができる。   Further, the substrate 1 is moved horizontally, the suction nozzle 40 is provided over a width L in the direction orthogonal to the substrate movement direction of the substrate 1, and the cleaning liquid 2 pushed away by the air from the air knife 30 by the suction nozzle 40. While sucking from the front or back surface of the substrate 1 and sucking the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife 30, the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife 30 is reattached to the front or back surface of the substrate 1. Thus, the occurrence of uneven drying can be suppressed.

あるいは、基板1を水平に対して基板移動方向と直交する方向に傾斜した状態で移動し、吸引ノズル41を、傾斜した基板1の下側の上方又は下方に配置し、吸引ノズル41により、エアナイフ31からのエアにより押し流された洗浄液を基板1の表面又は裏面から吸引すると共に、吸引ノズル42を、傾斜した基板1の上側の上方又は下方に配置し、吸引ノズル42により、エアナイフ31からのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引することにより、エアナイフ31からのエアにより飛び散った洗浄液のミストが基板1の表面又は裏面に再付着して乾燥むらが発生するのを抑制することができる。   Alternatively, the substrate 1 is moved in a state inclined with respect to the horizontal direction perpendicular to the substrate moving direction, and the suction nozzle 41 is disposed above or below the inclined substrate 1, and the suction nozzle 41 causes the air knife to move. The cleaning liquid pushed away by the air from 31 is sucked from the front or back surface of the substrate 1, and the suction nozzle 42 is arranged above or below the inclined substrate 1, and the air from the air knife 31 is drawn by the suction nozzle 42. By sucking the mist of the cleaning liquid splattered by the above, it is possible to prevent the mist of the cleaning liquid splattered by the air from the air knife 31 from reattaching to the front surface or the back surface of the substrate 1 and causing uneven drying.

図6は、液晶ディスプレイ装置のTFT基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。薄膜形成工程(ステップ101)では、スパッタ法やプラズマ化学気相成長(CVD)法等により、基板上に液晶駆動用の透明電極となる導電体膜や絶縁体膜等の薄膜を形成する。レジスト塗布工程(ステップ102)では、ロール塗布法等により感光樹脂材料(フォトレジスト)を塗布して、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜上にフォトレジスト膜を形成する。露光工程(ステップ103)では、プロキシミティ露光装置や投影露光装置等を用いて、マスクのパターンをフォトレジスト膜に転写する。現像工程(ステップ104)では、シャワー現像法等により現像液をフォトレジスト膜上に供給して、フォトレジスト膜の不要部分を除去する。エッチング工程(ステップ105)では、ウエットエッチングにより、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜の内、フォトレジスト膜でマスクされていない部分を除去する。剥離工程(ステップ106)では、エッチング工程(ステップ105)でのマスクの役目を終えたフォトレジスト膜を、剥離液によって剥離する。これらの各工程の前又は後には、必要に応じて、基板の洗浄工程及び乾燥工程が実施される。これらの工程を数回繰り返して、基板上にTFTアレイが形成される。   FIG. 6 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the TFT substrate of the liquid crystal display device. In the thin film formation step (step 101), a thin film such as a conductor film or an insulator film, which becomes a transparent electrode for driving liquid crystal, is formed on the substrate by sputtering, plasma chemical vapor deposition (CVD), or the like. In the resist coating process (step 102), a photosensitive resin material (photoresist) is applied by a roll coating method or the like to form a photoresist film on the thin film formed in the thin film forming process (step 101). In the exposure step (step 103), the mask pattern is transferred to the photoresist film using a proximity exposure apparatus, a projection exposure apparatus, or the like. In the development step (step 104), a developer is supplied onto the photoresist film by a shower development method or the like to remove unnecessary portions of the photoresist film. In the etching process (step 105), a portion of the thin film formed in the thin film formation process (step 101) that is not masked by the photoresist film is removed by wet etching. In the stripping step (step 106), the photoresist film that has finished the role of the mask in the etching step (step 105) is stripped with a stripping solution. Before or after each of these steps, a substrate cleaning step and a drying step are performed as necessary. These steps are repeated several times to form a TFT array on the substrate.

また、図7は、液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。ブラックマトリクス形成工程(ステップ201)では、レジスト塗布、露光、現像、エッチング、剥離等の処理により、基板上にブラックマトリクスを形成する。着色パターン形成工程(ステップ202)では、染色法、顔料分散法、印刷法、電着法等により、基板上に着色パターンを形成する。この工程を、R、G、Bの着色パターンについて繰り返す。保護膜形成工程(ステップ203)では、着色パターンの上に保護膜を形成し、透明電極膜形成工程(ステップ204)では、保護膜の上に透明電極膜を形成する。これらの各工程の前、途中又は後には、必要に応じて、基板の洗浄工程及び乾燥工程が実施される。   FIG. 7 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the color filter substrate of the liquid crystal display device. In the black matrix forming step (step 201), a black matrix is formed on the substrate by processing such as resist coating, exposure, development, etching, and peeling. In the colored pattern forming step (step 202), a colored pattern is formed on the substrate by a dyeing method, a pigment dispersion method, a printing method, an electrodeposition method, or the like. This process is repeated for the R, G, and B coloring patterns. In the protective film forming step (step 203), a protective film is formed on the colored pattern, and in the transparent electrode film forming step (step 204), a transparent electrode film is formed on the protective film. Before, during or after each of these steps, a substrate cleaning step and a drying step are performed as necessary.

本発明の基板乾燥装置又は基板乾燥方法を用いて基板の乾燥を行うことにより、基板を乾燥させる能力を向上させることができ、また乾燥むらを抑制することができるので、高品質な表示用パネル基板を効率良く製造することができる。   By drying the substrate using the substrate drying apparatus or the substrate drying method of the present invention, the ability to dry the substrate can be improved and uneven drying can be suppressed. A board | substrate can be manufactured efficiently.

1 基板
2 洗浄液
10,11 ローラ
12 フランジ
20 ノズルヘッダー
21 洗浄液ノズル
30,31 エアナイフ
40,41,42 吸引ノズル
40a ケーシング
40b 継手
40c 吸引口
40d 吸引路
50 壁
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Board | substrate 2 Cleaning liquid 10,11 Roller 12 Flange 20 Nozzle header 21 Cleaning liquid nozzle 30,31 Air knife 40,41,42 Suction nozzle 40a Casing 40b Joint 40c Suction port 40d Suction path 50 Wall

Claims (8)

表面又は裏面に洗浄液が供給された基板を移動する基板移動手段と、
前記基板移動手段により移動される基板の上方又は下方に、基板の基板移動方向と直交する方向の幅に渡って設けられ、基板の表面又は裏面へエアを吹き付けるエアナイフと、
前記基板移動手段により移動される基板の上方又は下方の前記エアナイフより上流側に設けられ、前記エアナイフからのエアにより押し流された洗浄液を基板の表面又は裏面から吸引する第1の吸引ノズルとを備えたことを特徴とする基板乾燥装置。
Substrate moving means for moving the substrate supplied with the cleaning liquid on the front surface or the back surface;
An air knife provided above or below the substrate moved by the substrate moving means over a width in a direction perpendicular to the substrate moving direction of the substrate, and for blowing air to the front or back surface of the substrate;
A first suction nozzle which is provided upstream of the air knife above or below the substrate moved by the substrate moving means and sucks the cleaning liquid swept away by the air from the air knife from the front surface or the back surface of the substrate; A substrate drying apparatus.
前記基板移動手段は、水平に設置された複数のローラを有し、
前記第1の吸引ノズルは、基板の基板移動方向と直交する方向の幅に渡って設けられ、前記エアナイフからのエアにより押し流された洗浄液を基板の表面又は裏面から吸引すると共に、前記エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引することを特徴とする請求項1に記載の基板乾燥装置。
The substrate moving means has a plurality of rollers installed horizontally,
The first suction nozzle is provided over a width in a direction orthogonal to the substrate movement direction of the substrate, sucks the cleaning liquid swept away by the air from the air knife from the front surface or the back surface of the substrate, and from the air knife. 2. The substrate drying apparatus according to claim 1, wherein the mist of the cleaning liquid scattered by the air is sucked.
前記基板移動手段は、水平に対して基板移動方向と直交する方向に傾けて設置された複数のローラを有し、
前記第1の吸引ノズルは、前記複数のローラにより移動される傾斜した基板の下側の上方又は下方に配置され、
前記複数のローラにより移動される傾斜した基板の上側の上方又は下方に配置され、前記エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引する第2の吸引ノズルを備えたことを特徴とする請求項1に記載の基板乾燥装置。
The substrate moving means has a plurality of rollers installed to be inclined in a direction perpendicular to the substrate moving direction with respect to the horizontal,
The first suction nozzle is disposed above or below a tilted substrate moved by the plurality of rollers,
2. A second suction nozzle that is disposed above or below an inclined substrate that is moved by the plurality of rollers and that sucks mist of cleaning liquid scattered by the air from the air knife. 2. The substrate drying apparatus according to 1.
表面又は裏面に洗浄液が供給された基板を移動しながら、
基板の上方又は下方に基板の基板移動方向と直交する方向の幅に渡って設けたエアナイフから、基板の表面又は裏面へエアを吹き付け、
基板の上方又は下方のエアナイフより上流側に設けた第1の吸引ノズルにより、エアナイフからのエアにより押し流された洗浄液を基板の表面又は裏面から吸引することを特徴とする基板乾燥方法。
While moving the substrate supplied with cleaning liquid on the front or back side,
Air is blown onto the front surface or back surface of the substrate from an air knife provided over the substrate in the direction perpendicular to the substrate movement direction above or below the substrate,
A substrate drying method, wherein a cleaning liquid pushed away by air from an air knife is sucked from a front surface or a back surface of a substrate by a first suction nozzle provided upstream of an air knife above or below the substrate.
基板を水平に移動し、
第1の吸引ノズルを、基板の基板移動方向と直交する方向の幅に渡って設け、
第1の吸引ノズルにより、エアナイフからのエアにより押し流された洗浄液を基板の表面又は裏面から吸引すると共に、エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引することを特徴とする請求項4に記載の基板乾燥方法。
Move the board horizontally,
A first suction nozzle is provided across the width of the substrate in a direction orthogonal to the substrate movement direction;
5. The cleaning liquid swept away by the air from the air knife is sucked from the front surface or the back surface of the substrate by the first suction nozzle, and the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife is sucked. Substrate drying method.
基板を水平に対して基板移動方向と直交する方向に傾斜した状態で移動し、
第1の吸引ノズルを、傾斜した基板の下側の上方又は下方に配置し、第1の吸引ノズルにより、エアナイフからのエアにより押し流された洗浄液を基板の表面又は裏面から吸引すると共に、
第2の吸引ノズルを、傾斜した基板の上側の上方又は下方に配置し、第2の吸引ノズルにより、エアナイフからのエアにより飛び散った洗浄液のミストを吸引することを特徴とする請求項4に記載の基板乾燥方法。
Move the substrate in a state tilted in the direction perpendicular to the substrate moving direction with respect to the horizontal,
The first suction nozzle is disposed above or below the inclined substrate, and the first suction nozzle sucks the cleaning liquid swept away by the air from the air knife from the front surface or the back surface of the substrate.
The second suction nozzle is disposed above or below the upper side of the inclined substrate, and the mist of the cleaning liquid scattered by the air from the air knife is sucked by the second suction nozzle. Substrate drying method.
請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の基板乾燥装置を用いて基板の乾燥を行うことを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。   A method of manufacturing a display panel substrate, comprising: drying a substrate using the substrate drying apparatus according to any one of claims 1 to 3. 請求項4乃至請求項6のいずれか一項に記載の基板乾燥方法を用いて基板の乾燥を行うことを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。   A method for manufacturing a display panel substrate, wherein the substrate is dried using the substrate drying method according to claim 4.
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